JP4566677B2

JP4566677B2 - 液晶パネル

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Publication number: JP4566677B2
Application number: JP2004290273A
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Inventors: 綾田中; 洋二長瀬
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Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2004-10-01
Filing date: 2004-10-01
Publication date: 2010-10-20
Anticipated expiration: 2024-10-01
Also published as: JP2006106187A

Description

本発明は、一対の基板間に液晶を封入して構成された液晶パネルに関し、特にトランスファーを介して一方の基板から他方の基板にコモン電圧を伝達する構造を有する液晶パネルに関する。

液晶パネルは薄くて軽量であるとともに低電圧で駆動できて消費電力が少ないという長所があり、各種電子機器に広く利用されている。特に、画素毎にスイッチング素子としてＴＦＴ(Thin Film Transistor ：薄膜トランジスタ）を設けたアクティブマトリクス方式の液晶表示装置は、表示品質の点でもＣＲＴ(Cathode-Ray Tube)に匹敵するほど優れているため、テレビやパーソナルコンピュータ等のディスプレイに広く使用されている。

一般的な液晶パネルは、相互に対向して配置された２枚の基板の間に液晶を封入した構造を有している。一方の基板にはＴＦＴ及び画素電極等が形成され、他方の基板にはカラーフィルタ及びコモン（共通）電極等が形成されている。以下、ＴＦＴ及び画素電極等が形成された基板をＴＦＴ基板と呼び、ＴＦＴ基板に対向して配置される基板を対向基板と呼ぶ。

ＴＦＴ基板と対向基板とは、表示領域の外側に配置されたシール材により接合されている。ＴＦＴ基板のシール材よりも外側の部分には多数の入力端子が配置されており、これらの入力端子を介して駆動回路から駆動信号及びコモン電圧が供給される。シール材には、ＴＦＴ基板側のコモン電圧入力端子と対向基板側のコモン電極とを電気的に接続するトランスファーが一定の間隔で配置されている。これらのトランスファーは、ディスペンサからトランスファーパッド（ＴＦＴ基板又は／及び対向基板のトランスファー部の接続パッド）上に導電粒子を含む樹脂を注入することにより形成される。

ところで、コモン電極はＩＴＯ（Indium-Tin Oxide）等の透明導電体により形成されている。ＩＴＯ等の透明導電体は単位体積当たりの電気抵抗が比較的大きいので、トランスファーに欠陥があるとコモン電極のうち欠陥のあるトランスファーの近傍の部分とその周囲との間でわずかな電位差が発生する。これにより、画素電極とコモン電極との間の電位差が所望の値から変化してしまうため、フリッカーや輝度むら等の表示障害が発生することがある。また、長期的には画面に焼きつきが発生する要因となることもある。

近年、ＴＶ（テレビ）やコンピュータのディスプレイに使用される液晶パネルは大型化及び高精細化が進んでいる。特にこのような大型且つ高精細の液晶パネルにおいて、トランスファーに欠陥があるとフリッカーや表示むら等の表示障害が発生しやすい。

従来、トランスファーの良否を検査する方法には、（１）トランスファー形成時に表示領域の外側にダミーのトランスファーを形成しておき、液晶パネル形成後にダミーのトランスファーをレーザで走査して導電粒子の有無を確認する方法、（２）カメラにより液晶パネルのトランスファー形成部の画像を取り込み、画像処理をして導電粒子の有無を検査する方法、（３）トランスファー間の抵抗を測定し、その測定結果に基づいてトランスファーの良否を判定する方法などがある。
特開２００１−２８１６８９号公報

しかしながら、（１）の方法では、レーザ走査に時間がかかるので、液晶パネルを全数検査することは難しい。また、実際のトランスファーを検査しているのではないので、検査に確実性があるとはいえない。（２）の方法でも、画像処理をするのに時間がかかるので、液晶パネルを全数検査することは難しい。（３）の方法においては、液晶パネル内の各トランスファー間の抵抗を全て測定するとなると、極めて時間がかかってしまう。

なお、特開２００１−２８１６８９号公報には、ＴＦＴ基板にスリット（光透過部）を備えた導電性の接続パッドを形成し、この接続パッドの上にトランスファーを形成することが提案されている。この液晶パネルでは、ＴＦＴ基板側から接続パッドのスリットを観察することにより、トランスファーが接続パッドの上に形成されているか否かを確認することができる。しかし、この方法では、トランスファーが所定の位置に形成されているか否かはわかるものの、トランスファーの導電性が確保されているか否かを知ることはできない。

以上から、本発明の目的は、トランスファーの良否を簡単且つ確実に検査することができる液晶パネルを提供することである。

上記した課題は、第１及び第２の入力端子を含む複数の端子と複数の画素電極とが形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向する１つのコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１及び第２の基板間に配置され、且つ前記第１の入力端子及び前記コモン電極に電気的に接続されて前記第１の入力端子に供給された第１の電圧を前記コモン電極に伝達する第１のトランスファーと、前記第１及び第２の基板間に配置され、且つ前記第２の入力端子及び前記コモン電極に電気的に接続されて前記第２の入力端子に供給された前記第１の電圧と異なる第２の電圧を前記コモン電極に伝達する第２のトランスファーとを有することを特徴とする液晶パネルにより解決する。

本発明においては、第１及び第２の基板間に第１及び第２のトランスファーが配置されており、これらの第１及び第２のトランスファーを介してコモン電極に相互に異なる第１及び第２の電圧を供給する。通常、コモン電極はＩＴＯ等の透明導電体により形成されており、単位体積当たりの抵抗値が比較的高いので、例えば第２のトランスファーに第１のトランスファーよりも高い電圧を印加すると、コモン電極の面内で電圧降下を発生する。このため、複数の画素電極に同じ電圧を印加していても、透過率の高いところと透過率の低いところが発生し、特定の表示パターンとなる。第１トランスファー又は第２のトランスファーに欠陥があると、その欠陥のあるトランスファーの近傍の透過率が変化し、前記特定の表示パターンと異なるパターンとなる。

このように、トランスファーに欠陥があるときには表示パターンが正常なときの表示パターンと異なるので、トランスファーの欠陥の有無を迅速且つ確実に検査することができる。

上記した課題に関し、複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有する液晶パネルの検査方法において、前記複数のトランスファーを第１及び第２のトランスファーに区分けし、前記第１のトランスファーに第１の電圧を供給するとともに、前記第２のトランスファーに前記第１の電圧と異なる第２の電圧を供給し、前記画素電極に所定の信号を供給して、前記液晶パネルに表示されるパターンに基づき前記トランスファーの良否を判定することを特徴とする液晶パネルの検査方法がある。

本液晶パネルの検査方法においては、複数のトランスファーを第１及び第２のトランスファーに区分けし、第１及び第２のトランスファーにそれぞれ異なる電圧を供給し、且つ画素電極に所定の信号を供給するので、トランスファーの欠陥の有無により液晶パネルに表示されるパターンが変化する。これにより、トランスファーの欠陥の有無を迅速且つ確実に検査することができる。

上記した課題に関し、複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有し、前記トランスファーが導電粒子を含有する樹脂からなり、前記樹脂が着色されていることを特徴とする液晶パネルがある。

通常、トランスファーの母材となる樹脂は半透明の乳白色をしており、導電粒子は金属色であるため、樹脂中に導電粒子があるか否かを目視で確認することは困難である。しかし、本液晶パネルのようにトランスファーの母材となる樹脂を着色することにより、樹脂中に導電粒子があるか否かを目視で確認することができるようになる。なお、トランスファーの母材となる樹脂を着色する替わりに、導電粒子を着色してもよい。

上記した課題に関し、複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１及び第２の基板間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続された第１及び第２のトランスファーとを有する液晶表示装置の検査装置において、前記画素電極に供給するデータ信号を発生する制御部と、第１の電圧を出力する第１の電圧供給源と、前記第１の電圧と異なる第２の電圧を出力する第２の電圧供給源と、前記第１の電圧を前記第１のトランスファーに伝達し、前記第２の電圧を前記第２のトランスファーに伝達するコモン電圧伝達部とを有することを特徴とする液晶パネルの検査装置がある。

本液晶パネルの検査装置においては、コモン電極に電気的に接続された第１及び第２のトランスファーを有する液晶パネルを検査する際に、第１の電圧供給源から出力される第１の電圧をコモン電圧伝達部を介して第１のトランスファーに供給し、第２の電圧供給源から出力される第２の電圧をコモン電圧伝達部を介して第２のトランスファーに供給する。そして、制御部から所定のデータ信号を画素電極に供給する。第１及び第２のトランスファーにいずれも欠陥がないときには液晶パネルに特定の表示パターンが表示されるが、第１のトランスファー又は第２のトランスファーに欠陥がある場合は、液晶パネルに正常時と異なるパターンが表示される。これにより、トランスファーの欠陥の有無を迅速且つ確実に検査することができる。

以下、本発明の実施形態について、添付の図面を参照して説明する。

１．第１の実施形態
（液晶パネル）
図１は本発明の第１の実施の形態の液晶パネルを示す平面図である。

本実施形態の液晶パネル１００は、ＴＦＴ基板１１０と、ＴＦＴ基板１１０に対向して配置された対向基板１２０と、これらの基板１１０, １２０の表示領域の外側に配置されて基板１１０，１２０を接合するシール材１３０と、基板１１０，１２０及びシール材１３０により囲まれた空間内に封入された液晶とにより構成されている。この図１に示すように、シール材１３０は対向基板１２０の縁部に沿って配置されている。また、ＴＦＴ基板１１０は、対向基板１２０よりも若干大きく形成されている。

シール材１３０には、所定の間隔で第１のトランスファー１５０ａ及び第２のトランスファー１５０ｂが交互に形成されている。後述するように、液晶パネル１００の検査時には、第１のトランスフォー１５０ａには第１の電圧が印加され、第２のトランスファー１５０ｂには第１の電圧よりも若干高い第２の電圧が印加される。

ＴＦＴ基板１１０のシール材１３０が配置された領域の外側には、複数の入力端子の集合からなる入力端子群１４０ａ，１４０ｂが設けられている。入力端子群１４０ａは垂直方向の辺に沿って一定の間隔で並んで配置されており、入力端子群１４０ｂは水平方向の辺に沿って一定の間隔で並んで配置されている。これらの入力端子群１４０ａ，１４０ｂ内の入力端子を介して、液晶パネル１００に後述する駆動信号（ゲート信号及びデータ号等）及びコモン電圧が供給される。

なお、液晶パネル１００の両側にはそれぞれ偏光板（図示せず）が貼付される。これらの偏光板は、例えば吸収軸を直交させて配置される。また、液晶パネルの背面側には、バックライトユニット（図示せず）が配置される。

図２は本実施形態の液晶パネルの表示領域に設けられた画素を示す平面図、図３は同じくその模式断面図である。なお、図３は図２のＩ−Ｉ線による断面を示している。また、図２は３画素分の領域を示している。

ＴＦＴ基板１１０の表示領域には、図２に示すように、水平方向に延びる複数のゲートバスライン１１２ａと、垂直方向に延びる複数のデータバスライン１１４とが形成されている。ゲートバスライン１１２ａとデータバスライン１１４とにより区画される矩形の領域がそれぞれ画素領域である。また、ＴＦＴ基板１１０には、ゲートバスライン１１２ａに平行に形成されて画素領域を横断する補助容量バスライン１１２ｂが形成されている。ゲートバスライン１１２ａは入力端子群１４０ａ内のゲート信号入力端子に接続され、データバスライン１１４は入力端子群１４０ｂ内のデータ信号入力端子に接続されている。また、補助容量バスライン１１２ｂは、入力端子群１４０ａ，１４０ｂ内のコモン電圧入力端子に接続されている。

各画素領域には、ＴＦＴ１１５と、画素電極１１７と、補助容量電極１１６とが形成されている。この例では、ＴＦＴ１１５はゲートバスライン１１２ａの一部をゲート電極としている。ＴＦＴ１１５のドレイン電極１１５ｄ及びソース電極１１５ｓはゲートバスライン１１２ａを挟んで相互に対向して配置されており、ドレイン電極１１５ｄはデータバスライン１１４に接続され、ソース電極１１５ｓはコンタクトホールＣ１を介して画素電極１１７に電気的に接続されている。

また、補助容量電極１１６は、絶縁膜を挟んで補助容量バスライン１１２ｂに対向する位置に形成されている。この補助容量電極１１６は、コンタクトホールＣ２を介して画素電極に接続されている。

以下、図３を参照して、ＴＦＴ基板１１０及び対向基板１２０の層構造を説明する。

図３に示すように、ゲートバスライン１１２ａ及び補助容量バスライン１１２ｂはＴＦＴ基板１１０のベースとなるガラス基板１１１の上に形成されており、これらのゲートバスライン１１２ａ及び補助容量バスライン１１２ｂはＳｉＯ₂又はＳｉＮ等の絶縁物からなる第１の絶縁膜１１３ａに覆われている。

この第１の絶縁膜１１３ａの所定の領域上には、ＴＦＴ１１５の活性層となるシリコン膜１１５ａが形成されており、このシリコン膜１１５ａのチャネルとなる領域の上にはＳｉＮ等の絶縁物からなるチャネル保護膜１１５ｂが形成されている。このチャネル保護膜１１５ｂを挟んでドレイン電極１１５ｄ及びソース電極１１５ｓが相互に対向して配置されている。ドレイン電極１１５ｄは、第１の絶縁膜１１３ａ上に形成されたデータバスライン１１４に接続されている。

また、第１の絶縁膜１１３ａの上には補助容量電極１１６が形成されている。この補助容量電極１１６は補助容量バスライン１１２ｂに対向する位置に配置されており、補助容量バスライン１１２ｂ及び第１の絶縁膜１１３ａとともに補助容量を構成している。

データバスライン１１４、ＴＦＴ１１５及び補助容量電極１１６は、ＳｉＯ₂又はＳｉＮ等の絶縁物からなる第２の絶縁膜１１３ｂに覆われている。この第２の絶縁膜１１３ｂの上に、ＩＴＯ等の透明絶縁体からなる画素電極１１７が形成されている。この画素電極１１７は、第２の絶縁膜１１３ｂに形成されたコンタクトホールＣ１，Ｃ２を介してソース電極１１５ｓ及び補助容量電極１１６に電気的に接続されている。画素電極１１７の上にはポリイミド等からなる配向膜１１８が形成されている。

一方、対向基板１２０のベースとなるガラス基板１２１の上（図３では下側）には、カラーフィルタ１２２、コモン電極１２３及び配向膜１２４が積層されて形成されている。カラーフィルタには赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）及び青色（Ｂ）の３種類があり、画素毎にいずれか１色のカラーフィルタが配置されている。本実施形態の液晶パネルにおいては、図２に示すように、水平方向に隣接する赤色画素（Ｒ）、緑色画素（Ｇ）及び青色画素（Ｂ）の３つの画素により１つのピクセルＰが構成され、種々の色の表示を可能としている。

コモン電極１２３はＩＴＯ等の透明導電体からなり、前述したようにトランスファー１５０ａ、１５０ｂを介してＴＦＴ基板１１０側の入力端子群１４０ａ，１４０ｂ内のコモン電圧入力端子に電気的に接続されている。コモン電極１２３の上には、ポリイミド等からなる配向膜１２４が形成されている。なお、図３において、１２９はＴＦＴ基板１１０と対向基板１２０との間に封入された液晶からなる液晶層を示している。

図４は、入力端子群１４０ａ，１４０ｂ内のコモン電圧入力端子と第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂとの接続を示す模式図である。この図４に示すように、入力端子群１４０ａ，１４０ｂには、それぞれ第１のコモン電圧入力端子１４２ａと第２のコモン電圧入力端子１４２ｂとが設けられている。第１のコモン電圧入力端子１４２ａは、ＴＦＴ基板１１０に設けられた第１の配線１４３ａを介して相互に電気的に接続され、且つ全ての第１のトランスファー１５０ａに電気的に接続されている。これと同様に、第２のコモン電圧入力端子１４２ｂは、ＴＦＴ基板１１０に設けられた第２の配線１４３ｂを介して相互に電気的に接続され、且つ全ての第２のトランスファー１５０ｂに電気的に接続されている。第１及び第２の配線１４３ａ，１４３ｂは異なる配線層に形成されている。ここでは、第１の配線１４３ａはゲートバスライン１１２ａと同じ配線層に形成され、第２の配線１４３ｂはデータバスライン１１４と同じ配線層に形成されているものとする。

第１及び第２の配線１４３ａ，１４３ｂのいずれか一方は、表示領域の補助容量バスラインを一括接続する配線を兼用していてもよい。図５の模式図は、第２の配線１４３ｂが補助容量バスライン１１２ｂを一括接続する配線を兼ねている例を示している。

図６は、トランスファー１５０ａを示す断面図である。この図６に示すように、ＴＦＴ基板１１０のベースとなるガラス基板１１１の上には、第１の配線１４３ａに接続されたトランスファー電極１４１が形成されている。第１及び第２の絶縁膜１１３ａ，１１３ｂにはトランスファー電極１４１に通じる開口部が形成されており、この開口部を介してトランスファー電極１５０ａに電気的に接続したＩＴＯ電極１５１が形成されている。このＩＴＯ電極１５１は、画素電極１１７と同時に形成される。

このＩＴＯ電極１５１と対向基板１２０側のコモン電極１２３との間には、シール材１３０に導電粒子１５２を注入して形成されたトランスファー１５０ａが設けられている。すなわち、トランスファー電極１４１とコモン電極１２３との間は、導電粒子１５２を介して電気的に接続されている。

これと同様に、トランスファー１５０ｂも、トランスファー電極及びＩＴＯ電極上のシール材に導電粒子を注入することにより形成されている。

（液晶パネルの検査方法）
以下、本発明の実施形態に係る液晶パネルの検査方法について説明する。ここでは、液晶パネルが実際に使用されるときにはトランスファー１５０ａ，１５０ｂにいずれも５Ｖの電圧（コモン電圧）が印加されるものとする。また、トランスファー１５０ａ，１５０ｂの良否を検査するときには、第１のトランスファー１５０ａに５Ｖの電圧を印加し、第２のトランスファー１５０ｂに６Ｖの電圧を印加するものとする。

例えば、図７に示すようにスイッチ１６１ａ，１６１ｂにより構成される切替え回路１６０を設けておき、トランスファー検査時にはスイッチ１６１ａをオフ、スイッチ１６１ｂをオンにして第１のトランスファー１５０ａに５Ｖ、第２のトランスファー１５０ｂに６Ｖの電圧が印加されるようにする。また、通常使用時にはスイッチ１６１ａをオン、スイッチ１６１ｂをオフにして、第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂにいずれも５Ｖの電圧が印加されるようにする。

図８（ａ）は、コモン電極に５Ｖの電圧が印加されたときの液晶パネルの動作を示す信号波形図である。通常、画素電極には、焼きつき等の発生を防止するために、コモン電圧に対し正極性となるデータ信号（コモン電圧よりも高い電圧のデータ信号）と、コモン電圧に対し負極性となるデータ信号（コモン電圧よりも低い電圧のデータ信号）とが１フレーム毎に交互に供給される。また、ゲート信号が“Ｈ”レベルの間にＴＦＴがオンになってデータ信号が画素電極及び補助容量に書き込まれるが、ゲート信号が“Ｌ”レベルになってＴＦＴがオフになると、寄生容量のために画素電極の電圧（ソース電圧）が若干低下する。ここでは、ＴＦＴがオンからオフになったときに、画素電極の電圧がデータ信号の電圧よりも１Ｖ低下するものとする。この場合、例えば正極性フレームのときのデータ信号の電圧を８．５Ｖ、負極性フレームのときのデータ信号の電圧を３．５Ｖとすると、画素電極とコモン電極との間の電位差は、正極性フレーム及び負極性フレームのいずれにおいても２．５Ｖとなる。

図９は、横軸に印加電圧（画素電極とコモン電極との電位差）をとり、縦軸に透過率をとって透過率−印加電圧特性（Ｔ−Ｖ特性）の一例を示す図である。この図９に示すように、画素電極とコモン電極との電位差が２．５Ｖのとき（図９中Ａで示す）は透過率が殆ど０である。従って、全ての画素において、画素電極とコモン電極との間の電圧差が２．５Ｖであるとすると、図１０（ａ）に示すように全面黒の表示パターンとなる。

図８（ｂ）に示すように、コモン電圧を６Ｖとすると、正極性フレームのときの画素電極とコモン電極との間の電位差は１．５Ｖとなり、負極性フレームのときの画素電極とコモン電極との間の電位差は３．５Ｖとなる。

図９に示すように、画素電極とコモン電極との電位差が１．５Ｖのとき（図９中Ｂ１で示す）は黒表示となるが、画素電極とコモン電極との電位差が３．５Ｖのとき（図９中Ｂ２で示す）は比較的明るい表示となり、平均透過率は図９中にＢ３で示すように、Ｂ１とＢ２との中間値となる。従って、液晶パネルに表示されるパターンは、低輝度ではあるものの黒ではなく、黒表示との差が目視でわかるようになる。

前述したように、第１のトランスファー１５０ａに５Ｖの電圧を供給し、第２のトランスファー１５０ｂに６Ｖの電圧を印加した場合、トランスファー１５０ａ，１５０ｂにいずれも欠陥がないとすると、図１０（ｂ）に示すように、第２のトランスファー１５０ｂの周囲がその他の部分に比べて明るい表示パターンとなる。

図１１（ａ）は、パネル上部の中央の第２のトランスファー１５０ｂに欠陥がある場合の表示パターンの例を示す図である。第１のトランスファー１５０ａと第２のトランスファー１５０ｂとが液晶パネルの辺に沿って交互に配置されているため、第２のトランスファー１５０ｂの一部に欠陥があると、その周囲のコモン電極の電位が第１のトランスファー１５０ａの電位に近づく。そのため、欠陥がない第２のトランスファー１５０ｂの周囲が明るく見えるのに対し、欠陥がある第２のトランスファー１５０ｂの周囲は暗くなり、第２のトランスファー１５０ｂの欠陥の有無が目視でわかる。

図１１（ｂ）はパネル右上の角部に配置された第１のトランスファー１５０ａに欠陥がある場合の表示パターンの例を示す図である。第１のトランスファー１５０ａと第２のトランスファー１５０ｂとが液晶パネルの辺に沿って交互に配置されているため、第１のトランスファー１５０ａの一部に欠陥があると、その周囲のコモン電極の電位が第２のトランスファー１５０ｂの電位に近づく。そのため、欠陥がない第１のトランスファー１５０ａの周囲が暗く見えるのに対し、欠陥がある第１のトランスファー１５０ａの周囲は明るくなり、第１のトランスファー１５０ａの欠陥の有無が目視でわかる。

このように、本実施形態の液晶パネルの検査方法によれば、液晶パネルに表示されるパターンによりトランスファーの良否が容易にわかるので、液晶パネルの検査時間が大幅に短縮されるとともに、検査の信頼性も向上する。

なお、上記実施形態では第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂに印加する電圧の差を１Ｖとしているが、これに限定されないことは勿論である。しかし、第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂの間の電圧差が極端に小さいときは欠陥があっても目視で判定することが難しくなり、逆に第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂの間の電圧差が極端に大きくなると、コモン電極が発熱して損傷することが考えられる。このため、第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂの間の電圧差は１Ｖ程度とすることが好ましい。

また、第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂに印加する電圧は、上記実施形態で示した電圧に限定されないことは勿論である。但し、上述した実施形態のようにＴ−Ｖ特性のしきい値近傍の電圧を使用することにより、液晶パネルの表示されるパターンの明暗の差を顕著に認識することができる。

更に、上記実施形態ではコモン電圧が一定の場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、ＰＤＡ（Personal Digital Assistant）等のように低電圧で駆動する電子機器の液晶パネルでは、コモン電極に矩形波の交流電圧を供給することもある。このような液晶パネルにおいても、本実施形態の検査方法を適用することができる。また、第１及び第２のトランスファー１５０ａ，１５０ｂには、位相又は周波数が異なる電圧を印加しても、上記実施形態と同様に表示パターンによりトランスファーの良否を検出することができる。

２．第２の実施形態
以下、本発明の第２の実施形態について説明する。

前述の第１の実施形態では液晶パネルに駆動回路及びバックライト等を取り付けてモジュールとした状態でのいわゆるモジュール点灯検査を想定しているが、モジュールに組み立てる前のパネル点灯試験にてトランスファー欠陥を検出してもよい。本実施形態は、パネル点灯検査時にトランスファー欠陥を検査する検査装置について説明する。

図１２は、本発明の第２の実施形態に係る液晶パネル検査装置の構成を示す模式図である。なお、液晶パネル１００の構造は基本的に第１の実施形態と同様であるので、図１２において、図４と同一物には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。

本実施形態に係る液晶パネル検査装置２００は、制御部２１０と、コモン電圧発生部２２０と、プリント基板２３０ａ，２３０ｂと、コンタクト部２４０ａ，２４０ｂとにより構成されている。コンタクト部２４０ａ，２４０ｂには液晶パネル１００の入力端子群１４０ａ，１４０ｂ内の各入力端子に接触する接触子が設けられている。接触子としては、例えば針状のもの、ワイヤ状のもの、又は可撓性を有する絶縁性のベースフィルム上に設けた端子等を使用することができる。

コモン電圧発生部２２０には、配線２２５に第１のコモン電圧Ｖ１（５Ｖ）を出力する第１のコモン電圧供給源２２１と、配線２２６ａに第２のコモン電圧Ｖ２（６Ｖ）を出力する第２のコモン電圧供給源２２２と、スイッチ２２３，２２４とが設けられている。スイッチ２２３は配線２２５と配線２２６ｂとの間に接続されており、スイッチ２２４は配線２２６ａと配線２２６ｂとの間に接続されている。これらのスイッチ２２３，２２４は、制御部２１０からの信号によりオン−オフする。なお、配線２２５はプリント基板２３０ａ，２３０ｂ及びコンタクト部２４０ａ，２４０ｂを介して液晶パネル１００の配線２４３ａ及びトランスファー１５０ａに電気的に接続され、配線２２６ｂはプリント基板２３０ａ，２３０ｂ及びコンタクト部２４０ａ，２４０ｂを介して液晶パネル１００の配線２４３ｂ及びトランスファー１５０ｂに電気的に接続される。

ドット抜けや常時点灯等の欠陥の有無を検出するときには、制御部２１０からの信号により、スイッチ２２３がオン、スイッチ２２４はオフとなり、トランスファー１５０ａ，１５０ｂにはいずれも５Ｖの電圧が印加される。そして、制御部２１０からコモン電圧発生部２１０、プリント基板２３０ａ，２３０ｂ及びコンタクト部２４０ａ，２４０ｂを介して液晶パネル１００に、例えば全面黒表示、全面白表示及び市松模様等の表示パターンの信号が出力される。なお、偏光板を貼付する前の液晶パネルを検査する場合は、予め２枚の偏光板を用意しておき、これらの偏光板の間に検査すべき液晶パネル１００を配置することが必要である。

トランスファーの検査を行う場合は、制御部２１０からの信号により、スイッチ２２３がオフ、スイッチ２２４がオンになる。これにより、トランスファー１５０ａには５Ｖの電圧が印加され、トランスファー１５０ｂには６Ｖの電圧が印加される。また、制御部２１０から液晶パネル１００に、例えば図８（ｂ）に示すようなゲート信号及びデータ信号が供給される。作業者は、第１の実施形態で説明したように、液晶パネル１００に表示されるパターンによりトランスファー１５０ａ，１５０ｂの良否を判定する。

本実施形態の液晶パネル検査装置によれば、トランスファーの良否を表示パターンの観察により迅速且つ確実に判定することができる。また、本実施形態の液晶パネル検査装置によれば、トランスファーの検査を点灯試験と同時に行うので、検査工程の効率化を図ることができる。

３．第３の実施形態
図１３は、本発明の第３の実施形態に係る液晶パネルを示す平面図である。

本実施形態の液晶パネルは、ＴＦＴ基板３１０と、ＴＦＴ基板３１０に対向して配置された対向基板３２０と、それらのＴＦＴ基板３１０及び対向基板３２０の間に封入された液晶とにより構成される。ＴＦＴ基板３１０の表示部には、第１の実施形態と同様に、ゲートバスライン、補助容量バスライン、データバスライン、ＴＦＴ、補助容量電極及び画素電極等が形成されている（図２参照）。また、対向基板３２０には、カラーフィルタ及びコモン電極等が形成されている（図３参照）。

ＴＦＴ基板３１０と対向基板３２０とは、表示領域の外側に配置されたシール材３３０により接合されている。このシール材３３０には所定の間隔でトランスファー３５０が形成されている。また、ＴＦＴ基板３１０縁部には、複数の入力端子の集合からなる入力端子群３４０ａ，３４０ｂが所定の間隔で配置されている。これらの入力端子群３４０ａ，３４０ｂ内の入力端子を介して、駆動回路からゲート信号、データ信号及びコモン電圧等が供給される。

図１４はトランスファー３５０を示す模式図である。ＴＦＴ基板３１０のベースとなるガラス基板３１１の上には、トランスファー電極３１２が形成されている。ガラス基板３１１の上には絶縁膜３１３が形成されており、この絶縁膜３１３にはトランスファー電極３１２が露出する開口部が設けられている。この開口部の内側及び開口部周囲の絶縁膜３１３の上には、ＩＴＯ電極３１４が形成されている。

一方、対向基板３２０のベースとなるガラス基板３２１の表面上にはコモン電極３２３が形成されている。上述したように、ＴＦＴ基板３１０と対向基板３２０とはシール材３３０により接合されているが、ＩＴＯ電極３１４とコモン電極３２３との間は導電粒子３５２を含有する樹脂３５３からなるトランスファー３５０により接合されている。

本実施形態においては、トランスファー３５０の母材となる樹脂３５３を着色することにより、導電粒子３５２の有無を容易に識別できるようにしている。従来、トランスファ−の形成に使用される導電粒子は、アクリル系樹脂粒子にＡｕ（金）又はＮｉ（ニッケル）をコーティングしたものが使用されている。一方、トランスファーの母材となる樹脂には、半透明の乳白色のものが使用されている。このような導電粒子と樹脂との組み合わせでは、パネル完成後に顕微鏡等でトランスファーを観察しても、樹脂と導電粒子とを識別することが困難である。

そこで、本実施形態では、上述したように、トランスファー３５０の母材となる樹脂３５３を着色し、導電粒子３５２と樹脂３５３との識別を容易にしている。例えば、カラーフィルタに使用される赤色、緑色又は青色のレジストをトランスファーの母材となる樹脂に添加してトランスファー３５０を形成する。本願発明者等は、トランスファーの母材となる樹脂に、緑色レジストに含有される顔料を重量比で０．０１％添加してトランスファーを形成し、トランスファー部樹脂の有無を確認できるか否かを調べた。その結果、シール上とトランスファー上での樹脂色彩が容易に確認でき、トランスファー打点がされたか否かの確認が可能となった。

トランスファーの母材となる樹脂を着色するのには、上述したようにカラーフィルタに使用されているレジストを使用することが好ましい。なぜならば、カラーフィルタに使用されているレジストは液晶を汚染するおそれがないためである。しかし、液晶を汚染するおそれがないものであれば、カラーフィルタ用レジスト以外のものを使用してもよい。また、トランスファーの母材となる樹脂に顔料を直接添加してもよい。但し、カラーフィルタ用レジスト又は顔料の添加量が多すぎるとシール材としての効果が妨げられることがあるので、導電粒子の識別が可能な範囲で、添加量はできるだけ少なくすることが好ましい。

本実施形態ではトランスファーの母材となる樹脂を着色した例について説明したが、導電粒子を着色してもよい。導電粒子を着色する方法には、例えば静電気により導電粒子に着色微粉体を付着させる方法がある。着色微粉体としては、例えばカラーコピー機のトナーに使用される有機顔料を使用することができる。

このように、トランスファーの母材となる樹脂又は導電粒子を着色することにより、例えばパネルの割れや欠けの有無、シール材の細りの有無及び偏光板の位置確認等を行うパネル最終検査工程で、トランスファーの良否を確認することができる。

なお、本実施形態で示したトランスファーの構造を、第１の実施形態で説明した液晶パネルに適用してもよい。

以下、本発明の諸態様を、付記としてまとめて記載する。

（付記１）第１及び第２の入力端子を含む複数の端子と複数の画素電極とが形成された第１の基板と、
前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、
前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、
前記第１及び第２の基板間に配置されて前記第１の入力端子に供給された第１の電圧を前記コモン電極に伝達する第１のトランスファーと、
前記第１及び第２の基板間に配置されて前記第２の入力端子に供給された第２の電圧を前記コモン電極に伝達する第２のトランスファーと
を有することを特徴とする液晶パネル。

（付記２）前記第１及び第２のトランスファーが、表示領域の縁に沿って交互に配置されていることを特徴とする付記１に記載の液晶パネル。

（付記３）前記第１の入力端子と前記第１のトランスファーとを接続する配線と、前記第２の入力端子と前記第２のトランスファーとを接続する配線とのいずれか一方が、前記画素電極に接続された補助容量を構成する補助容量バスラインを一括接続する配線を兼ねることを特徴とする付記１に記載の液晶パネル。

（付記４）複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有する液晶パネルの検査方法において、
前記複数のトランスファーを第１及び第２のトランスファーに区分けし、前記第１のトランスファーに第１の電圧を供給するとともに、前記第２のトランスファーに前記第１の電圧と異なる第２の電圧を供給し、前記画素電極に所定の信号を供給して、
前記液晶パネルに表示されるパターンに基づき前記トランスファーの良否を判定することを特徴とする液晶パネルの検査方法。

（付記５）前記画素電極に供給する信号が前記第１及び第２の電圧に対し極性が変化する交流信号であり、その電圧値が、前記液晶パネルの透過率−印加電圧特性のしきい値近傍の電圧であることを特徴とする付記４に記載の液晶パネルの検査方法。

（付記６）複数の画素電極が形成された第１の基板と、
前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、
前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、
前記第１基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有し、
前記トランスファーが導電粒子を含有する樹脂からなり、前記樹脂が着色されていることを特徴とする液晶パネル。

（付記７）前記樹脂を着色する着色剤が、顔料であることを特徴とする付記６に記載の液晶パネル。

（付記８）複数の画素電極が形成された第１の基板と、
前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、
前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、
前記第１基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有し、
前記トランスファーが導電粒子を含有する樹脂からなり、前記導電粒子が着色されていることを特徴とする液晶パネル。

（付記９）複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、導電粒子を含有する樹脂からなり、前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続する複数のトランスファーとを有する液晶パネルの検査方法において、
前記導電粒子及び前記樹脂のいずれか一方を着色しておき、液晶パネル形成後に前記トランスファーを観察して前記トランスファーの良否を判定することを特徴とする液晶パネルの検査方法。

（付記１０）複数の画素電極が形成された第１の基板と、前記複数の画素電極に対向するコモン電極が形成された第２の基板と、前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、前記第１及び第２の基板間に配置されて前記コモン電極に電気的に接続された第１及び第２のトランスファーとを有する液晶表示装置の検査装置において、
前記画素電極に供給するデータ信号を発生する制御部と、
第１の電圧を出力する第１の電圧供給源と、
前記第１の電圧と異なる第２の電圧を出力する第２の電圧供給源と、
前記第１の電圧を前記第１のトランスファーに伝達し、前記第２の電圧を前記第２のトランスファーに伝達するコモン電圧伝達部と
を有することを特徴とする液晶パネルの検査装置。

（付記１１）前記第１及び第２の電圧供給源と前記電圧伝達部との間に介在し、前記第１及び第２の電圧のいずれか一方を前記第１及び第２のトランスファーに同時に供給可能とする切替え部を有することを特徴とする付記１０に記載の液晶パネルの検査装置。

図１は、本発明の第１の実施の形態の液晶パネルを示す平面図である。図２は、第１の実施形態の液晶パネルの表示領域に設けられた画素を示す平面図である。図３は、同じくその模式断面図である。図４は、入力端子群内のコモン電圧入力端子と第１及び第２のトランスファーとの接続を示す模式図である。図５は、第２の配線が補助容量バスラインを一括接続する配線を兼ねている例を示す模式図である。図６は、トランスファーを示す断面図である。図７は、第１及び第２のトランスファーに供給する電圧を切替える切替え回路の例を示す回路図である。図８（ａ）はコモン電極に５Ｖの電圧が印加されたときの液晶パネルの動作を示す信号波形図、図８（ｂ）はコモン電極に６Ｖの電圧が印加されたときの液晶パネルの動作を示す信号波形図である。図９は、液晶パネルの透過率−印加電圧特性の一例を示す図である。図１０（ａ）は第１及び第２のトランスファーにいずれも５Ｖの電圧を印加したときの表示パターンの例を示す図、図１０（ｂ）は第１のトランスファーに５Ｖの電圧を印加し第２のトランスファーに６Ｖの電圧を印加したときの表示パターンの例を示す図である。図１１（ａ）はパネル上部の中央の第２のトランスファーに欠陥がある場合の表示パターンの例を示す図、図１１（ｂ）はパネル右上の角部に配置された第１のトランスファーに欠陥がある場合の表示パターンの例を示す図である。図１２は、本発明の第２の実施形態に係る液晶パネル検査装置の構成を示す模式図である。図１３は、本発明の第３の実施形態に係る液晶パネルを示す平面図である。図１４は、同じくそのトランスファーを示す模式図である。

符号の説明

１００…液晶パネル、
１１０，３１０…ＴＦＴ基板、
１１１，１２１，３１１，３２１…ガラス基板、
１１２ａ…ゲートバスライン、
１１２ｂ…補助容量バスライン、
１１４…データバスライン、
１１５…ＴＦＴ、
１１６…補助容量電極、
１１７…画素電極、
１１８，１２４…配向膜、
１２０，３２０…対向基板、
１２２…カラーフィルタ、
１２３…コモン電極、
１３０，３３０…シール材、
１４０ａ，１４０ｂ，３４０ａ，３４０ｂ…入力端子群、
１５０ａ，１５０ｂ，３５０…トランスファー、
１５２，３５２…導電粒子、
１６０…切替え回路、
１６１ａ，１６１ｂ，２２３，２２４…スイッチ、
２００…液晶パネル検査装置、
２１０…制御部、
２２０…コモン電圧発生部、
２２１，２２２…コモン電圧供給源、
２３０ａ，２３０ｂ…プリント基板、
２４０ａ，２４０ｂ…コンタクト部、
３５３…樹脂。

Claims

第１及び第２の入力端子を含む複数の端子と複数の画素電極とが形成された第１の基板と、
前記複数の画素電極に対向する１つのコモン電極が形成された第２の基板と、
前記第１及び第２の基板間に封入された液晶と、
前記第１及び第２の基板間に配置され、且つ前記第１の入力端子及び前記コモン電極に電気的に接続されて前記第１の入力端子に供給された第１の電圧を前記コモン電極に伝達する第１のトランスファーと、
前記第１及び第２の基板間に配置され、且つ前記第２の入力端子及び前記コモン電極に電気的に接続されて前記第２の入力端子に供給された前記第１の電圧と異なる第２の電圧を前記コモン電極に伝達する第２のトランスファーと
を有することを特徴とする液晶パネル。