JP2003215625A - 液晶セルユニット、液晶装置、液晶装置の製造方法、並びに電子機器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な
手段を提供する。 【解決手段】 本発明の液晶セルユニットは、上側透明
電極１３が形成された上側基板形成領域１１を有する上
側基板母材と、下側透明電極２３が形成された下側基板
形成領域２１を有する下側基板母材とが貼着されてな
り、下側透明電極２３の延在方向の一方側と他方側に、
上側基板母材と下側基板母材との間で下側透明電極２３
と電気的な接続を行う検査用上下導通部７１、９１が設
けられ、下側透明電極２３は１本毎に交互に検査用上下
導通部７１と９１にそれぞれ接続されるとともに、検査
用上下導通部７１、９１を介して下側透明電極２３と電
気的に接続された検査用引き廻し配線７２、９２が検査
用上下導通部７１、９１から各々導出して形成され、更
に複数の検査用引き廻し配線７２、９２を結合して配線
した検査用導電部８０、１００が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶セルユニッ
ト、液晶装置、液晶装置の製造方法、並びに電子機器に
係り、特に、液晶装置を製造する際の検査工程を簡略化
する技術に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】携帯電話等の電子機器に搭載される直視
型表示装置等として用いられる液晶装置は、液晶層を挟
持して対向配置された第１の基板と第２の基板とがシー
ル材を介して貼着されて概略構成されている。一般に、
複数の液晶装置を同時に製造し、製造プロセスの簡略化
を図るために、液晶装置は、第１の基板を複数切り出す
ことが可能な第１の基板母材と、第２の基板を複数切り
出すことが可能な第２の基板母材を用いて製造されてい
る。本明細書では、第１の基板母材において、最終的に
第１の基板が形成される領域のことを「第１の基板形成
領域」、第２の基板母材において、最終的に第２の基板
が形成される領域のことを「第２の基板形成領域」と称
す。

【０００３】以下、従来の液晶装置の製造方法の一例と
して、第１の基板と第２の基板の双方が、ストライプ状
に形成された複数の電極を具備するパッシブマトリクス
型液晶装置の製造方法について簡単に説明する。はじめ
に、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、第２の
基板母材の各第２の基板形成領域に、電極や配向膜等の
必要な要素を形成する。次に、第１の基板母材の各第１
の基板形成領域と、第２の基板母材の各第２の基板形成
領域とを未硬化のシール材を介して貼着した後、シール
材を硬化することにより、複数の液晶セルが一体化され
た液晶セルユニットを製造する。なお、この工程におい
て、シール材の一部には、液晶を注入するための液晶注
入部が形成される。

【０００４】次に、液晶セルユニットを、すべての液晶
注入部が最端部に位置するように切断し、複数の液晶セ
ルが一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割
する。次いで、短冊状の液晶セルユニットの各液晶セル
に、真空注入法等により、液晶を注入し、液晶層を形成
した後、液晶注入部を封止材により封止する。次に、短
冊状の液晶セルユニットを切断し、複数の液晶セルに分
割した後、各液晶セルについて、電極の欠陥、必要とさ
れる電極間での電気的接続不良（導通不良）、表示上の
欠陥の有無を検査する。最後に、各液晶セルの外側に偏
光子、位相差板等の光学素子を貼着することにより、複
数のパッシブマトリクス型液晶装置を同時に製造するこ
とができる。

【０００５】このように、従来のパッシブマトリクス型
液晶装置の製造方法においては、個々の液晶セルに分割
した後、各液晶セルについて電極の欠陥、導通不良、表
示上の欠陥の有無を検査している。ここで、これらの電
極の欠陥検査方法としては、例えば、複数本の検査用プ
ローブを、隣接する複数本の電極に接触させ、電気的特
性を計測することにより、電極のパターン欠陥や導通不
良を検出する方法や、第１の基板に形成されたすべての
電極、第２の基板に形成されたすべての電極に、それぞ
れ幅広の電極を接触させ、電圧を印加することにより、
すべてのドットが正常に点灯するか否かを検査する点灯
検査を行うことにより、電極のパターン欠陥や導通不良
を検出する方法が知られている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のパッシブマトリクス型液晶装置の製造方法において
は、個々の液晶セルに分割した後、各液晶セルについて
電極の欠陥検査を行っているため、複数の液晶セルの電
極の欠陥検査を一括して行うことができず、検査工程で
多くの時間を必要とする上、検査工程が複雑化するとい
う問題点を有している。なお、第１の基板母材と第２の
基板母材に、各々電極を形成した後、第１の基板母材と
第２の基板母材とを貼着する前に、各基板母材に対し
て、電極の欠陥検査を一括して行う場合があるが、この
場合にも、その後の工程において、異物等により生じた
電極のパターン欠陥を検出するために、第１の基板母材
と第２の基板母材とを貼着した後に、再度、電極の欠陥
検査を行うことが好ましい。したがって、本明細書にお
いて、「検査」とは、第１の基板母材と第２の基板母材
とを貼着した後の検査のことを意味しているものとす
る。

【０００７】また、近年、液晶装置の高精細化に伴っ
て、電極のピッチの微細化が進められているが、微細な
ピッチで形成された電極の欠陥検査を正確かつ迅速に行
うことは難しく、検査工程が一層複雑化するという問題
点を有している。特に検査用プローブを用いて電極の欠
陥検査を行う場合には、微細なピッチで形成された隣接
する複数本の電極毎に正確に検査用プローブを接触さ
せ、すべての電極の欠陥検査を行う必要があるため、電
極の欠陥検査を正確かつ迅速に行うことは極めて難しく
なっている。

【０００８】以上の問題は、パッシブマトリクス型液晶
装置に限らず、スイッチング素子としてＴＦＤ（薄膜ダ
イオード）を用いたアクティブマトリクス型液晶装置に
おいても同様に生じる問題である。なお、スイッチング
素子としてＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液晶
装置では、第１の基板、第２の基板が、各々ストライプ
状に形成されたデータ線（若しくは走査線）、走査線
（若しくはデータ線）を具備して概略構成されており、
データ線及び走査線に対して同様の欠陥検査を行ってい
る。

【０００９】そこで、本発明は上記事情に鑑みてなされ
たものであり、電極等の欠陥、表示上の欠陥等の検査を
合理的に短時間で行うことができ簡略化が可能な手段を
提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題を解
決するべく検討を行った結果、以下の液晶セルユニット
を発明するに到った。本発明の第１の液晶セルユニット
は、表示用の電極が形成された複数の第１の基板形成領
域を有する第１の基板母材と、表示用の電極が形成され
た複数の第２の基板形成領域を有する第２の基板母材と
を具備すると共に、前記第１の基板母材の各第１の基板
形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域
とをそれぞれシール材を介して貼着される液晶セルユニ
ットであって、前記第１の基板母材と前記第２の基板母
材との間で前記表示用の電極と電気的な接続を行う検査
用上下導通部が前記表示用の電極の延在方向の一方側と
他方側とにそれぞれ設けられ、前記表示用の電極は１本
毎に交互に前記一方側に設けられた前記検査用上下導通
部と前記他方側に設けられた前記検査用上下導通部にそ
れぞれ接続されるとともに、該検査用上下導通部を介し
て前記表示用の電極と電気的に接続された検査用引き廻
し配線が前記検査用上下導通部から各々導出して形成さ
れ、更に複数の前記検査用引き廻し配線を結合して配線
した検査用導電部が設けられていることを特徴とする。

【００１１】なお、本明細書において、「液晶セル」
は、液晶層を具備する液晶セルと、液晶層を具備しない
空の液晶セルの双方を含んでいるものとする。また、
「液晶セルユニット」は、複数の液晶セルが一体化され
たものであり、液晶セルユニットから複数の液晶装置を
製造することが可能な構造のものを意味しているものと
する。

【００１２】本発明の液晶セルユニットによれば、少な
くとも一方の基板母材に形成された表示用の電極に対し
て、検査用上下導通部、検査用引き廻し配線、検査用導
電部を順次電気的に接続する構成としているので、検査
用導電部に対して欠陥検査を行うことにより、検査用導
電部に電気的に接続された表示用の電極の欠陥検査を行
うことができる。さらに、複数の検査用引き廻し配線を
束ねて検査用導電部に結合する構成としているので、１
本の検査用導電部に対して欠陥検査を行うことにより、
同時に複数の表示用の電極の欠陥検査を行うことができ
る。

【００１３】したがって、本発明の液晶セルユニットを
用いて液晶装置を製造することにより、液晶セルユニッ
ト、若しくは液晶セルユニットを分割して得られる液晶
セルユニットを構成するすべての液晶セルの、少なくと
も一方の基板母材に形成された表示用の電極の欠陥検査
を一括して行うことができるので、検査工程を大幅に簡
略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ること
ができる。

【００１４】また、本発明の液晶セルユニットでは、表
示用の電極は一本毎に交互に一方側に設けられた検査用
上下導通部と他方側に設けられた検査用上下導通部にそ
れぞれ接続されているとともに、該検査用上下導通部を
介して、検査用引き廻し配線、検査用導電部に接続され
ており、隣接する表示用の電極は異なる検査用導電部に
電気的に接続されているので、検査用導電部の欠陥検査
を行う際に、表示用の電極の全体的なパターン欠陥の他
に、隣接する表示用の電極の短絡についても検出するこ
とができ、好適である。

【００１５】また、本発明の液晶セルユニットでは、複
数の検査用引き廻し配線を束ねて検査用導電部に接続す
る構成を採用しているので、検査用導電部の数を表示用
の電極の数に比較して大幅に低減することができる。し
たがって、表示用の電極のピッチが非常に微細な高精細
な液晶装置を製造することが可能な液晶セルユニットに
対して、検査プローブを用いて検査する場合において
も、検査する検査用導電部の数が少ないことに加えて、
検査用プローブを接触させる検査用導電部のピッチを大
きく確保することができるので、正確かつ迅速に検査を
行うことができる。

【００１６】また、本発明の液晶セルユニットが、前記
第１の基板母材の前記第１の基板形成領域に形成された
前記表示用の電極と前記第２の基板母材上に形成された
前記検査用引き廻し配線との間で電気的に接続する前記
検査用上下導通部と、前記第２の基板母材の前記第２の
基板形成領域に形成された前記表示用の電極と前記第１
の基板母材上に形成された前記検査用引き廻し配線との
間で電気的に接続する前記検査用上下導通部とを有する
とともに、前記第１の基板母材、及び前記第２の基板母
材のそれぞれにおいて複数の前記検査用引き廻し配線を
結合して各基板母材の端部まで延在して配線形成された
前記検査用導電部を有することが好ましい。

【００１７】このように、両基板母材に形成された表示
用の電極に対して、検査用上下導通部、検査用引き廻し
配線、検査用導電部を順次電気的に接続すると共に、他
方の基板母材に検査用導電部を形成することにより、本
発明の液晶セルユニットを構成する液晶セルのピッチを
小さくすることができ、１個の液晶セルユニットに、よ
り多くの液晶セルを形成することができるので、好適で
ある。なお、かかる効果が得られる理由については、
「発明の実施の形態」の項において詳述する。また、検
査用導電部を基板母材の端部まで延設する構成としてい
るので、検査用導電部に検査用プローブや電極を簡易に
接触させることができ、検査工程の簡略化を一層図るこ
とができる。

【００１８】また、本発明の液晶セルユニットにおい
て、前記第１の基板母材、及び／又は前記第２の基板母
材に形成された前記検査用引き廻し配線の一部と前記検
査用導電部は前記第１の基板形成領域の外側、及び／又
は前記第２の基板形成領域の外側に形成されていること
が好ましい。すなわち、前記検査用引き廻し配線の一
部、及び前記検査用導電部が、複数の液晶セルに分割す
る際に切り落とされる端材部分に形成されていることが
好ましい。かかる構成とすることにより、本発明の液晶
セルユニットから液晶装置を製造する際には検査用引き
廻し配線の一部及び検査用導電部が切り落とされるた
め、得られる液晶装置において、複数の表示用の電極
が、検査用導電部の存在によって短絡する恐れがないと
共に、得られる液晶装置の非表示領域（額縁領域）が、
検査用引き廻し配線や検査用導電部の存在によって大き
くなる恐れもない。

【００１９】また、前記検査用上下導通部としては、前
記第１、及び前記第２の基板形成領域内に設けられた前
記シール材に混在される導電材によって前記第１の基板
母材と前記第２の基板母材との間を電気的に接続するも
のが好適である。かかる構成とすることにより、シール
材の内部に検査用上下導通部を形成することができるの
で、検査用上下導通部をシール材と独立して別途設ける
場合に比較して、構造の簡略化と製造プロセスの簡略化
を図ることができる。

【００２０】また、前記シール材によって貼着された前
記第１の基板形成領域と前記第２の基板形成領域におい
て、前記第１の基板形成領域の前記第２の基板形成領域
から張出した領域に前記表示用の電極と電気的に接続さ
れて導出された外部接続用端子が形成されている場合に
は、前記外部接続用端子が形成される前記領域と対向す
る前記第２の基板母材上に前記検査用引き廻し配線の一
部と前記検査用導電部が形成されていることが好まし
い。第１の基板母材の各第１の基板形成領域に、外部接
続用端子が形成されている場合、第２の基板母材の外部
接続用端子と対向する部分は、複数の液晶セルに分割す
る際に切り落とされる端材部分となる。この端材部分は
従来から存在するため、この端材部分に、第１の基板母
材に形成された表示用の電極と電気的に接続された検査
用引き廻し配線の一部と検査用導電部を形成することに
より、新たな端材部分を設ける必要がなくなるので、本
発明の液晶セルユニットを構成する液晶セルのピッチを
従来と同程度とすることができるので、１個の液晶セル
ユニットに、より多くの液晶セルを形成することがで
き、好適である。

【００２１】また、前記シール材によって貼着された前
記第１の基板形成領域と前記第２の基板形成領域におい
て、互いに他方の基板形成領域から張出した領域が存在
し、該領域には前記表示用の電極と電気的に接続されて
導出された外部接続用端子がそれぞれ設けられている場
合、前記外部接続用端子が形成される前記領域と対向す
る他方の基板母材上に前記検査用引き廻し配線の一部と
前記検査用導電部がそれぞれ形成されていることが好ま
しい。第１、第２の基板母材の基板形成領域の双方に、
外部接続用端子が形成されている場合、従来から存在す
る外部接続用端子と対向する端材部分に、第１、第２の
基板母材に形成された表示用の電極と電気的に接続され
た検査用引き廻し配線の一部と検査用導電部を形成する
ことにより、新たな端材部分を設ける必要がなくなるの
で、本発明の液晶セルユニットを構成する液晶セルのピ
ッチを従来と同程度とすることができ、１個の液晶セル
ユニットに、より多くの液晶セルを形成することがで
き、好適である。

【００２２】なお、本発明の液晶セルユニットでは、各
液晶セルに液晶層が形成されている場合と、そうでない
場合とが存在する。具体的には、各シール材が、液晶を
注入するための液晶注入部を有しない場合には、一方の
基板母材に未硬化のシール材を印刷し、該基板母材の未
硬化のシール材で囲まれた領域に液晶を滴下し、液晶層
を形成した後、未硬化のシール材を介して他方の基板母
材と貼着して本発明の液晶セルユニットを製造するた
め、本発明の液晶セルユニットにおいて、第１の基板母
材の各第１の基板形成領域と、第２の基板母材の各第２
の基板形成領域との間には、液晶層が形成されている。

【００２３】また、各シール材が、液晶を注入するため
の液晶注入部を有すると共に、複数の液晶セルが、液晶
注入部が液晶セルユニットの最端部に位置するように、
一方向に配列している場合には、本発明の液晶セルユニ
ットを製造する際に、すべての液晶セルに液晶を注入す
ることができるので、本発明の液晶セルユニットにおい
て、第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、第２の
基板母材の各第２の基板形成領域との間には、液晶層が
形成されている。

【００２４】これに対して、各シール材が、液晶を注入
するための液晶注入部を有すると共に、複数の液晶注入
部が、液晶セルユニットの最端部に位置していない場合
には、本発明の液晶セルユニットを製造する際に、液晶
セルに液晶を注入することができないので、本発明の液
晶セルユニットにおいて、第１の基板母材の各第１の基
板形成領域と、第２の基板母材の各第２の基板形成領域
との間に、液晶層が形成されていない。

【００２５】ここで、検査用プローブを用いた検査は液
晶層の有無に関係なく行うことができるのに対して、点
灯検査については液晶層を形成してからでなければ行う
ことができない。すなわち、本発明の液晶セルユニット
の各シール材が液晶注入部を有していない場合、若しく
は、本発明の液晶セルユニットの各シール材が、液晶注
入部を有していても、複数の液晶セルが、液晶注入部が
液晶セルユニットの最端部に位置するように、一方向に
配列している場合には、本発明の液晶セルユニットに液
晶層が形成されているので、本発明の液晶セルユニット
に対して検査用プローブを用いた検査と点灯検査の双方
が可能である。

【００２６】これに対して、本発明の液晶セルユニット
の各シール材が液晶注入部を有すると共に、複数の液晶
注入部が、液晶セルユニットの最端部に位置していない
場合には、本発明の液晶セルユニットに液晶層が形成さ
れていないので、本発明の液晶セルユニットに対して点
灯検査を行うことはできず、検査用プローブを用いた検
査のみが可能である。したがって、かかる構成の液晶セ
ルユニットの各液晶セルに対して点灯検査を行う場合に
は、短冊状の液晶セルユニットに分割し、液晶層を形成
した後、分割された短冊状の液晶セルユニットに対して
点灯検査を行えば良い。また、検査用プローブを用いた
検査を行う場合についても、液晶層を形成し、液晶セル
を完成させてから、検査を行うことが好ましいため、こ
の場合にも、短冊状の液晶セルユニットに分割し、液晶
層を形成した後、分割された短冊状の液晶セルユニット
に対して、検査を行うことが好ましい。

【００２７】以上の本発明の液晶セルユニットから、以
下の本発明の液晶装置を製造することができる。本発明
の液晶装置は、以上の本発明の液晶セルユニットから製
造された液晶装置であって、前記第１の基板母材の前記
第１の基板形成領域から得られた第１の基板と、前記第
２の基板母材の前記第２の基板形成領域から得られた第
２の基板とを具備し、前記第１の基板と前記第２の基板
との間に液晶層が挟持されていると共に、前記検査用上
下導通部と、前記検査用引き廻し配線のうち前記検査用
上下導通部から当検査用引き廻し配線が形成される基板
形成領域の端部まで延在して形成された部分を具備する
ことを特徴とする。本発明の液晶装置は、本発明の液晶
セルユニットを用いて製造されたものであるので、液晶
装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化することが
でき、製造プロセスの簡略化を図ることができるものと
なる。

【００２８】次に、本発明の液晶セルユニットから本発
明の液晶装置を製造することが可能な本発明の液晶装置
の製造方法について説明する。本発明の第１の液晶装置
の製造方法は、各シール材が前記液晶注入部を有しない
と共に、前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域
と、前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域との間
に、前記液晶層が挟持されている本発明の液晶セルユニ
ット、若しくは、各シール材が前記液晶注入部を有する
と共に、前記複数の液晶セルが、前記液晶注入部が前記
液晶セルユニットの最端部に位置するように、一方向に
配列しており、前記第１の基板母材の各第１の基板形成
領域と、前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域と
の間に、前記液晶層が挟持されている本発明の液晶セル
ユニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方法で
あって、前記液晶セルユニットの両基板形成領域に形成
された前記表示用の電極の欠陥検査を行う検査工程と、
欠陥検査後の前記液晶セルユニットの前記第１の基板母
材を各第１の基板形成領域の外周に沿って切断し、前記
第２の基板母材を各第２の基板形成領域の外周に沿って
切断することにより、複数の液晶セルに分割する切断工
程とを有することを特徴とする。すなわち、本発明の液
晶セルユニットの各液晶セルに液晶層が形成されている
場合には、本発明の液晶セルユニットに対して欠陥検査
を行った後、個々の液晶セルに分割して、本発明の液晶
装置を製造すれば良い。

【００２９】また、本発明の第２の液晶装置の製造方法
は、各シール材が前記液晶注入部を有すると共に、複数
の前記液晶注入部が、前記液晶セルユニットの最端部に
位置しておらず、前記第１の基板母材の各第１の基板形
成領域と、前記第２の基板母材の各第２の基板形成領域
との間に、前記液晶層が挟持されていない本発明の液晶
セルユニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方
法であって、前記液晶セルユニットを、すべての前記液
晶注入部が最端部に位置するように切断し、複数の液晶
セルが一方向に配列した短冊状の液晶セルユニットに分
割する第１の切断工程と、前記短冊状の液晶セルユニッ
トの各液晶セルに、前記液晶注入部から液晶を注入し、
液晶層を形成する液晶注入工程と、前記短冊状の液晶セ
ルユニットの前記液晶注入部を封止する封止工程と、前
記短冊状の液晶セルユニットの両基板形成領域に形成さ
れた前記表示用の電極の欠陥検査を行う検査工程と、欠
陥検査後の前記短冊状の液晶セルユニットを切断し、複
数の液晶セルに分割する第２の切断工程とを有すること
を特徴とする。

【００３０】すなわち、本発明の液晶セルユニットの各
液晶セルに液晶層が形成されていない場合には、本発明
の液晶セルユニットを、複数の液晶セルが一方向に配列
した短冊状の液晶セルユニットに分割し、分割して得ら
れた短冊状の液晶セルユニットの各液晶セルに液晶を注
入し、液晶層を形成した後、短冊状の液晶セルユニット
に対して欠陥検査を行い、その後、個々の液晶セルに分
割して、本発明の液晶装置を製造することが好ましい。

【００３１】なお、本発明の第１、第２の液晶装置の製
造方法では、前記検査工程において、前記第１の基板母
材上に形成された複数の前記検査用導電部、前記第２の
基板母材上に形成された複数の前記検査用導電部に、各
々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測するこ
とにより、前記液晶セルユニットの両基板形成領域に形
成された前記表示用の電極の欠陥検査を行うことができ
る。このように検査用プローブを用いて、表示用の電極
の欠陥検査を行う場合には、上述したように、表示用の
電極の全体的なパターン欠陥の他に、隣接する表示用の
電極の短絡についても検出することができ、好適であ
る。また、前記検査工程において、少なくとも１個の前
記第１の基板母材上に形成された前記検査用導電部、少
なくとも１個の前記第２の基板母材上に形成された前記
検査用導電部に、各々電圧を印加することによっても、
前記液晶セルユニットの両基板形成領域に形成された前
記表示用の電極の欠陥検査を行うことができる。

【００３２】以上の第１、第２の本発明の液晶装置の製
造方法によれば、個々の液晶セルに分割する前に、複数
の液晶セルの欠陥検査を一括して行うことができるの
で、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロ
セスの簡略化を図ることができる。

【００３３】また、上記の本発明の液晶装置を備えるこ
とにより、本発明の電子機器を提供することができる。
本発明の電子機器は、本発明の液晶装置を備えたもので
あるので、製造プロセスの簡略化を図ることができるも
のとなる。

【００３４】

【発明の実施の形態】次に、本発明に係る実施形態につ
いて詳細に説明する。なお、各実施形態においては、図
面を参照しながら説明するが、各図において、各層や各
部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各
層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。

【００３５】［第１実施形態］（液晶セルユニットの概
略構造）図１〜図６に基づいて、本発明に係る第１実施
形態の液晶セルユニットの構造について説明する。本実
施形態では、パッシブマトリクス型の透過型液晶装置を
製造することが可能な液晶セルユニットを取り上げて説
明する。なお、本実施形態では、表示や接続配線に用い
られる電極を検査するための検査用引き廻し配線や検査
用導電部を形成した点が特徴的なものとなっている。図
１は、本実施形態の液晶セルユニットを上側基板母材側
から見た時の概略平面図である。図２は、図１に示す液
晶セルユニットのうち、上側基板母材とシール材のみを
取り出して示す図である。図３は、図１に示す液晶セル
ユニットのうち、下側基板母材とシール材のみを取り出
して示す図である。図４は、本実施形態の液晶セルユニ
ットを構成する１個の液晶セル及びその近傍部分を拡大
して示す概略平面図である。図５は、本実施形態の液晶
セルユニットを、図４に示すＡ−Ａ’線に沿って切断し
た時の部分概略断面図である。図６（ａ）、（ｂ）は、
各々、本実施形態の液晶セルユニットを、図４に示すＢ
−Ｂ’線、Ｃ−Ｃ’線に沿って切断した時の部分概略断
面図である。

【００３６】図１〜図３に示すように、本実施形態の液
晶セルユニット１は、複数の上側基板形成領域（第１の
基板形成領域）１１を有し、各上側基板形成領域１１の
外周に沿って切断することにより、複数の上側基板（第
１の基板）を切り出すことが可能な、ガラス、透明樹脂
等からなる上側基板母材（第１の基板母材）１０と、複
数の下側基板形成領域（第２の基板形成領域）２１を有
し、各下側基板形成領域２１の外周に沿って切断するこ
とにより、複数の下側基板を切り出すことが可能な、ガ
ラス、透明樹脂等からなる下側基板母材（第２の基板母
材）２０とを具備し、上側基板母材１０の各上側基板形
成領域１１と、下側基板母材２０の各下側基板形成領域
２１とがシール材３０を介して貼着されて概略構成され
ている。

【００３７】そして、本実施形態の液晶セルユニット１
において、シール材３０を介して貼着された各上側基板
形成領域１１と各下側基板形成領域２１により、１個の
液晶セル１Ａが構成されており、本実施形態の液晶セル
ユニット１を、各上側基板形成領域１１と各下側基板形
成領域２１の外周に沿って切断することにより、複数の
液晶セル１Ａに分割することができ、各液晶セル１Ａか
ら液晶装置を製造することが可能な構成になっている。
なお、本実施形態では、液晶セルユニット１が６個の液
晶セル１Ａを有する場合について説明するが、形成する
液晶セル１Ａの個数については適宜設計することが可能
である。

【００３８】また、本実施形態では、各液晶セル１Ａに
おいて、シール材３０は、上側基板形成領域１１、下側
基板形成領域２１の周縁部に沿って環状に形成されてお
り、シール材３０には液晶を注入するための液晶注入部
が形成されていないと共に、各液晶セル１Ａにおいて、
上側基板形成領域１１と下側基板形成領域２１との間で
あって、シール材３０に囲まれた領域には、液晶が充填
され、液晶層４０が形成されている。また、図５、図６
に示すように、各液晶セル１Ａの液晶層４０内（上側基
板形成領域１１と下側基板形成領域２１との間）には、
セルギャップを均一化するために、多数の球状のスペー
サ３１が配置されている。

【００３９】また、本実施形態の液晶セルユニット１に
おいては、図１、図４に示すように、各液晶セル１Ａを
構成する上側基板形成領域１１と下側基板形成領域２１
とは、異なる形状と大きさで形成されている。すなわ
ち、図４に示すように、各液晶セル１Ａにおいて、上側
基板形成領域１１の図示下端部、下側基板形成領域２１
の図示右端部の内面には、各々外部接続用端子１２、２
２が形成されており、上側基板形成領域１１の外部接続
用端子１２と下側基板形成領域２１の外部接続用端子２
２の形成されている部分は、上側基板形成領域１１と下
側基板形成領域２１が互いに対向して重なる領域よりも
外側に張出して位置するように構成されている。つま
り、上側基板形成領域１１と下側基板形成領域２１には
それぞれ互いに他方の基板形成領域から張出した領域１
５、２５が存在し、この領域１５、２５に外部接続用端
子１２、２２が形成されている。

【００４０】具体的には、上側基板形成領域１１で下側
基板形成領域２１から張出した領域１５と対向する下側
基板母材２０の部分（外部接続用端子１２と対向する下
側基板母材２０の部分）と、下側基板形成領域２１で上
側基板形成領域１１から張出した領域２５と対向する上
側基板母材１０の部分（外部接続用端子２２と対向する
上側基板母材１０の部分）は、各々、本実施形態の液晶
セルユニット１を複数の液晶セル１Ａに分割する際に切
り落とされる端材部分２４、１４（図２、図３参照）と
なっている。

【００４１】また、図１に示すように、本実施形態の液
晶セルユニット１において、上側基板母材１０に配置形
成（パターン形成）された各々の上側基板形成領域１１
は、図示上下方向（外部接続用端子１２が延在する方
向、或いは領域１５が配置される方向）には連続して隙
間なく形成されていると共に、下側基板母材２０に配置
形成（パターン形成）されたの各々の下側基板形成領域
２１は、図示左右方向（外部接続用端子２２が延在する
方向、或いは領域２５が配置される方向）には隙間なく
形成されており、本実施形態の液晶セルユニット１を構
成する複数の液晶セル１Ａは、隣接する液晶セル１Ａ間
に隙間が形成されないように、最密に配置されている。
なお、液晶セルユニット１において、液晶セル１Ａが形
成されていない周縁部は、複数の液晶セル１Ａに分割す
る際に切り落とされる端材部分になっている。

【００４２】また、図４に示すように、各液晶セル１Ａ
において、上側基板形成領域１１、下側基板形成領域２
１の内面には、各々、インジウム錫酸化物等の透明導電
性材料からなる多数の上側透明電極１３、下側透明電極
２３が、ストライプ状に形成されている。また、上側基
板形成領域１１に形成された各上側透明電極１３と、下
側基板形成領域２１に形成された各下側透明電極２３と
は互い交差する方向に形成されている。具体的には、上
側基板形成領域１１に形成された各上側透明電極１３は
図示上下方向（外部接続用端子１２が延在する方向、或
いは領域１５が配置される方向）、下側基板形成領域２
１に形成された各下側透明電極２３は図示左右方向（外
部接続用端子２２が延在する方向、或いは領域２５が配
置される方向）に延在している。そして、各液晶セル１
Ａにおいて、各上側透明電極１３と各下側透明電極２３
とが交差する部分が１ドットになっており、多数のドッ
トがマトリクス状に配置された領域が表示領域となって
いる。

【００４３】また、上側基板形成領域１１に形成された
表示用の各上側透明電極１３の一方の端部は、図示下端
部の下側基板形成領域２１から張出した領域１５に向け
て延在して引き廻され外部接続用端子１２に電気的に接
続されている。同様に、下側基板形成領域２１に形成さ
れた表示用の各下側透明電極２３の一方の端部は、図示
右端部の上側基板形成領域１１から張出した領域２５に
向けて延在して引き廻され外部接続用端子２２に電気的
に接続されている。そして、本実施形態の液晶セルユニ
ット１を個々の液晶セル１Ａに分割し、各液晶セル１Ａ
から液晶装置を製造する際に、外部接続用端子１２、２
２が形成される領域１５、２５には、各々、駆動用ＩＣ
（integrated circuit）が直接搭載されるか、駆動用Ｉ
Ｃを搭載したフレキシブルプリント基板が接合されて、
表示用の電極とされる透明電極１３、２３を外部接続用
端子１２、２２を介して駆動用ＩＣにより駆動すること
が可能な構成になっている。

【００４４】また、各液晶セル１Ａにおいて、上側基板
形成領域１１、下側基板形成領域２１の内面であって、
透明電極１３、２３の液晶層４０側には、各々、液晶層
４０内の液晶分子の配向を規制するための配向膜が形成
されているが、図示を省略している。

【００４５】さらに、本実施形態の液晶セルユニット１
では、図４に示すように、１個の液晶セル１Ａに着目し
た場合、上側基板形成領域１１に形成された各上側透明
電極１３はそれぞれ図示上方向（外部接続用端子１２及
び領域１５が配置される方向とは反対の方向）に延在形
成され、導電粒子等の導電材が混入されたシール材３０
の形成部において個々に上下導通が図られて、その検査
用上下導通部５１を介して下側基板形成領域２１に形成
された各検査用引き廻し配線５２にそれぞれ電気的に接
続されている。各検査用引き廻し配線５２は検査用上下
導通部５１から上側透明電極１３の延在方向に合わせて
延在形成されていると共に、下側基板形成領域２１から
外側にそれぞれ導出され、その全てが下側基板母材２０
上に形成された検査用導電部６０に電気的に接続されて
いる。

【００４６】また、下側基板形成領域２１に形成された
下側透明電極２３のうち、半数の下側透明電極２３（図
示上側から奇数本目の下側透明電極２３）はそれぞれ図
示左方向（外部接続用端子２２及び領域２５が配置され
る方向とは反対の方向）に延在形成され、導電粒子等の
導電材が混入されたシール材３０の形成部において個々
に上下導通が図られて、その検査用上下導通部７１を介
して上側基板形成領域１１に形成された各検査用引き廻
し配線７２にそれぞれ電気的に接続されている。各検査
用引き廻し配線７２は検査用上下導通部７１から下側透
明電極２３の延在方向に合わせて延在形成されていると
共に、上側基板形成領域１１から外側にそれぞれ導出さ
れ、その全てが上側基板母材１０上に形成された検査用
導電部８０に電気的に接続されている。

【００４７】また、下側基板形成領域２１に形成された
下側透明電極２３のうち、残りの半数の下側透明電極２
３（図示上側から偶数本目の下側透明電極２３）はそれ
ぞれ図示右方向（外部接続用端子２２及び領域２５が配
置される方向）に延在形成され、導電粒子等の導電材が
混入されたシール材３０の形成部において個々に上下導
通が図られて、その検査用上下導通部９１を介して上側
基板形成領域１１に形成された各検査用引き廻し配線９
２にそれぞれ電気的に接続されている。各検査用引き廻
し配線９２は検査用上下導通部９１から下側透明電極２
３の延在方向に合わせて延在形成されていると共に、上
側基板形成領域１１から外側にそれぞれ導出され、その
全てが上側基板母材１０上に形成された検査用導電部１
００に電気的に接続されている。

【００４８】つまり、本実施形態では、下側透明電極２
３を１本毎に交互に、異なる側に設けられた検査用上下
導通部７１、９１、検査用引き廻し配線７２、９２、検
査用導電部８０、１００に電気的に接続する構成として
いる。

【００４９】また、下側基板母材２０において、検査用
上下導通部５１の図示上方（外部接続用端子１２と反対
側）に、図示左右方向（下側透明電極２３の延在方向に
対して平行方向）に延在する検査用導電部６０が形成さ
れており、すべての検査用引き廻し配線５２の図示上端
部がこの検査用導電部６０に電気的に接続されている。
なお、検査用引き廻し配線５２と検査用導電部６０とが
一体形成されていない場合について図示しているが、こ
れらを一体的にパターン形成することも可能である。

【００５０】また、上側基板母材１０において、検査用
上下導通部７１の図示左方（外部接続用端子２２と反対
側）には、図示上下方向（上側透明電極１３の延在方向
に対して平行方向）に延在する検査用導電部８０が形成
されており、すべての検査用引き廻し配線７２の図示左
端部がこの検査用導電部８０に電気的に接続されてい
る。同様に、上側基板母材１０において、検査用上下導
通部９１の図示右方（外部接続用端子２２側）には、図
示上下方向（上側透明電極１３の延在方向に対して平行
方向）に延在する検査用導電部１００が形成されてお
り、すべての検査用引き廻し配線９２の図示右端部がこ
の検査用導電部１００に電気的に接続されている。な
お、検査用引き廻し配線７２と検査用導電部８０、検査
用引き廻し配線９２と検査用導電部１００が一体形成さ
れていない場合について図示しているが、これらを一体
的にパターン形成することも可能である。

【００５１】また、各液晶セル１Ａを構成する各上側透
明電極１３と、検査用導電部６０との接続構造の断面構
造は、図５に示す通りである。

【００５２】すなわち、各液晶セル１Ａを構成する上側
基板形成領域１１の各上側透明電極１３は、図示上方向
（外部接続用端子１２及び領域１５が配置される方向と
は反対の方向）のシール材３０の形成部上まで延在して
形成され、シール材３０の形成部において下側基板形成
領域２１上の検査用引き廻し配線５２との間で上下導通
が図られている。その検査用上下導通部５１を介して上
側基板形成領域１１の各上側透明電極１３は下側基板形
成領域２１の各検査用引き廻し配線５２にそれぞれ電気
的に接続されている。検査用引き廻し配線５２は検査用
上下導通部５１から上側透明電極１３の延在方向に合わ
せて延在形成されていると共に、下側基板形成領域２１
から外側にそれぞれ導出されている。下側基板形成領域
２１から外側に導出された検査用引き廻し配線５２は、
下側基板母材２０上で図の紙面に垂直な方向（下側透明
電極２３と平行な方向）に延在して形成された検査用導
電部６０に電気的に接続されている。

【００５３】このように、本実施形態では、各液晶セル
１Ａを構成する各上側透明電極１３は、上側基板母材１
０から下側基板母材２０に跨って電気的な導通が図ら
れ、検査用上下導通部５１を介して、下側基板母材２０
に形成された検査用導電部６０に電気的に接続されてい
る。また、本実施形態では、同液晶セル１Ａの一つに着
目すると、各上側透明電極１３に電気的に接続された検
査用導電部６０は、外部接続用端子１２と反対側に形成
されてなり、上下貼り合わされた基板母材（液晶セルユ
ニット）として着目すると、下側基板形成領域２１の外
側に導出された検査用引き廻し配線５２の導出部（検査
用引き廻し配線５２の一部）と検査用導電部６０は、隣
接する他の液晶セル１Ａの外部接続用端子１２と対向す
る領域、即ち上側基板形成領域１１の上述した張出した
領域１５に対向する下側基板母材２０上に配置して形成
されている。

【００５４】すなわち、本実施形態では、図１〜図５に
示すように、下側基板母材２０に形成された、検査用引
き廻し配線５２の一部、及び検査用導電部６０は、隣接
する他の液晶セル１Ａ（図１、図４においては、図示上
側に隣接する液晶セル１Ａ）の外部接続用端子１２と対
向する端材部分２４（図３、図５参照）に形成されてい
る。そして、本実施形態の液晶セルユニット１を個々の
液晶セル１Ａに分割する際には、検査用引き廻し配線５
２の一部、及び検査用導電部６０が、切り落とされるよ
うになっている。また、図１において、図示上側に隣接
する液晶セル１Ａが存在しない液晶セル１Ａについて
も、図示上側に隣接する液晶セル１Ａが存在する場合と
同じ位置に、検査用引き廻し配線５２の一部、及び検査
用導電部６０が形成されている。なお、検査用引き廻し
配線５２、及び検査用導電部６０の形成位置は、液晶セ
ルユニット１に形成する液晶セル１Ａの個数に限らず、
同様である。

【００５５】また、本実施形態では、図１、図３に示す
ように、図示左右方向に隣接する２個の液晶セル１Ａを
構成する各上側透明電極１３に検査用上下導通部５１を
介して電気的に接続された検査用導電部６０が一体化さ
れており、計３本の検査用導電部６０が形成されてい
る。なお、本実施形態では、計３本の検査用導電部６０
が形成されているが、これらが液晶セルユニット１の周
縁部で電気的に接続されていても構わない。このように
複数本の検査用導電部６０をまとめて接続した場合に
は、液晶セルユニットに形成される複数の液晶セルを同
時に検査することができ検査工程をより簡素化すること
ができる。

【００５６】さらに、各検査用導電部６０の少なくとも
一端が、下側基板母材２０の最端部にまで延設されてい
る。本実施形態では、図１に示すように、各検査用導電
部６０の図示右端が、下側基板母材２０の図示右側の最
端部にまで延設されている場合について説明するが、各
検査用導電部６０の図示左端を、下側基板母材２０の図
示左側の最端部にまで延設しても良いし、各検査用導電
部６０の両端を、下側基板母材２０の最端部にまで延設
しても良い。

【００５７】また、各液晶セル１Ａを構成する各下側透
明電極２３と、検査用導電部８０、１００との接続構造
の断面構造は、図６（ａ）、（ｂ）に示す通りである。

【００５８】すなわち、各液晶セル１Ａを構成する下側
基板形成領域２１に形成された下側透明電極２３のう
ち、図示上側から奇数本目の下側透明電極２３は、それ
ぞれ図示左方向（外部接続用端子２２及び領域２５が配
置される方向とは反対の方向）のシール材３０の形成部
上まで延在して形成され、シール材３０の形成部におい
て上側基板形成領域１１上の検査用引き廻し配線７２と
の間で上下導通が図られている。その検査用上下導通部
７１を介して下側基板形成領域２１の各下側透明電極２
３は上側基板形成領域１１の各検査用引き廻し配線７２
にそれぞれ電気的に接続されている。検査用引き廻し配
線７２は検査用上下導通部７１から下側透明電極２３の
延在方向に合わせて延在形成されていると共に、上側基
板形成領域１１から外側にそれぞれ導出されている。上
側基板形成領域１１から外側に導出された検査用引き廻
し配線７２は、上側基板母材１０上で図の紙面に垂直な
方向（上側透明電極１３と平行な方向）に延在して形成
された検査用導電部８０に電気的に接続されている。

【００５９】このように、本実施形態では、各液晶セル
１Ａを構成する下側透明電極２３のうち、図示上側から
奇数本目の下側透明電極２３は、下側基板母材２０から
上側基板母材１０に跨って電気的な導通が図られ、検査
用上下導通部７１を介して、上側基板母材１０に形成さ
れた検査用導電部８０に電気的に接続されている。ま
た、本実施形態では、同液晶セル１Ａの一つに着目する
と、図示上側から奇数本目の下側透明電極２３に電気的
に接続された検査用導電部８０は、外部接続用端子２２
と反対側に形成されてなり、上下貼り合わされた基板母
材（液晶セルユニット）として着目すると、上側基板形
成領域１１の外側に導出された検査用引き廻し配線７２
の導出部（検査用引き廻し配線７２の一部）と検査用導
電部８０は、隣接する他の液晶セル１Ａの外部接続用端
子２２と対向する領域、即ち下側基板形成領域２１の上
述した張出した領域２５に対向する上側基板母材１０上
に配置して形成されている。

【００６０】すなわち、本実施形態では、図１〜図４、
図６に示すように、上側基板母材１０に形成された、検
査用引き廻し配線７２の一部、及び検査用導電部８０
が、隣接する他の液晶セル１Ａ（図１、図４において
は、図示左側に隣接する液晶セル１Ａ）の外部接続用端
子２２と対向する端材部分１４（図２、図６（ａ）参
照）に形成されている。そして、本実施形態の液晶セル
ユニット１を個々の液晶セル１Ａに分割する際には、検
査用引き廻し配線７２の一部、及び検査用導電部８０
が、切り落とされるようになっている。また、図１にお
いて、図示左側に隣接する液晶セル１Ａが存在しない液
晶セル１Ａについても、図示左側に隣接する液晶セル１
Ａが存在する場合と同じ位置に、検査用引き廻し配線７
２の一部、及び検査用導電部８０が形成されている。な
お、検査用引き廻し配線７２、及び検査用導電部８０の
形成位置は、液晶セルユニット１に形成する液晶セル１
Ａの個数に限らず、同様である。

【００６１】一方、図示上側から偶数本目の各下側透明
電極２３と検査用導電部１００との接続構造は、図示上
側から奇数本目の各下側透明電極２３と検査用導電部８
０との接続構造とほぼ同様であるが、検査用上下導通
部、検査用引き廻し配線、検査用導電部を形成する側が
異なっている。

【００６２】すなわち、各液晶セル１Ａを構成する下側
基板形成領域２１に形成された下側透明電極２３のう
ち、図示上側から偶数本目の下側透明電極２３は、それ
ぞれ図示右方向（外部接続用端子２２及び領域２５が配
置される方向）のシール材３０の形成部上まで延在して
形成され、シール材３０の形成部において上側基板形成
領域１１上の検査用引き廻し配線９２との間で上下導通
が図られている。その検査用上下導通部９１を介して下
側基板形成領域２１の各下側透明電極２３は上側基板形
成領域１１の各検査用引き廻し配線９２にそれぞれ電気
的に接続されている。検査用引き廻し配線９２は検査用
上下導通部９１から下側透明電極２３の延在方向に合わ
せて延在形成されていると共に、上側基板形成領域１１
から外側にそれぞれ導出されている。上側基板形成領域
１１から外側に導出された検査用引き廻し配線９２は、
上側基板母材１０上で図の紙面に垂直な方向（上側透明
電極１３と平行な方向）に延在して形成された検査用導
電部１００に電気的に接続されている。

【００６３】このように、本実施形態では、各液晶セル
１Ａを構成する下側透明電極２３のうち、図示上側から
偶数本目の下側透明電極２３は、下側基板母材２０から
上側基板母材１０に跨って電気的な導通が図られ、検査
用上下導通部９１を介して、上側基板母材１０に形成さ
れた検査用導電部１００に電気的に接続されている。ま
た、本実施形態では、同液晶セル１Ａの一つに着目する
と、図示上側から偶数本目の下側透明電極２３に電気的
に接続された検査用導電部１００は、外部接続用端子２
２側に形成されてなり、上側基板形成領域１１の外側に
導出された検査用引き廻し配線９２の導出部（検査用引
き廻し配線９２の一部）と検査用導電部１００は、同じ
液晶セル１Ａの外部接続用端子２２と対向する領域、即
ち下側基板形成領域２１の上述した張出した領域２５に
対向する上側基板母材１０上に配置して形成されてい
る。

【００６４】すなわち、本実施形態では、図１〜図４、
図６に示すように、上側基板母材１０に形成された、検
査用引き廻し配線９２の一部、及び検査用導電部１００
が、同じ液晶セル１Ａの外部接続用端子２２と対向する
端材部分１４（図２、図６（ｂ）参照）に形成されてい
る。そして、本実施形態の液晶セルユニット１を個々の
液晶セル１Ａに分割する際には、検査用引き廻し配線９
２の一部、及び検査用導電部１００が、切り落とされる
ようになっている。

【００６５】また、本実施形態では、図１、図２に示す
ように、図示上下方向に隣接する３個の液晶セル１Ａを
構成する下側透明電極２３に検査用上下導通部７１を介
して電気的に接続された検査用導電部８０、検査用上下
導通部９１を介して電気的に接続された検査用導電部１
００が一体化されており、計２本の検査用導電部８０、
計２本の検査用導電部１００が形成されている。なお、
本実施形態では、計２本の検査用導電部８０、１００が
形成されているが、これらが液晶セルユニット１の周縁
部で電気的に接続されていても構わない。このように複
数本の検査用導電部８０、１００をまとめて接続した場
合は、液晶セルユニットに形成される複数の液晶セルを
同時に検査することができ検査工程をより簡素化するこ
とができる。

【００６６】さらに、各検査用導電部８０、１００の少
なくとも一端が、上側基板母材１０の最端部にまで延設
されている。本実施形態では、図１に示すように、各検
査用導電部８０、１００の図示上端が、上側基板母材１
０の図示上側の最端部にまで延設されている場合につい
て説明するが、各検査用導電部８０、１００の図示下端
を、上側基板母材１０の図示下側の最端部にまで延設し
ても良いし、各検査用導電部８０、１００の両端を、上
側基板母材１０の最端部にまで延設しても良い。但し、
検査用導電部８０と検査用導電部１００とを、第１の基
板母材１０の同じ側の最端部にまで延設することが好ま
しい。

【００６７】本実施形態の液晶セルユニット１は以上の
ように構成されており、本実施形態の液晶セルユニット
１では、上側基板母材１０の各上側基板形成領域１１に
形成された各上側透明電極１３が、下側基板母材２０と
の両基板母材間での電気的な接続を行う検査用上下導通
部５１を介して下側基板母材２０上の検査用引き廻し配
線５２に各々電気的に接続され、各検査用引き廻し配線
５２が検査用導電部６０に電気的に接続される構成とし
ている。

【００６８】また、下側基板母材２０の各下側基板形成
領域２１に形成された下側透明電極２３のうち、半数の
下側透明電極２３が、それぞれ上側基板母材１０との両
基板母材間での電気的な接続を行う検査用上下導通部７
１を介して上側基板母材１０上の検査用引き廻し配線７
２に電気的に接続され、各検査用引き廻し配線７２が検
査用導電部８０に電気的に接続される構成としている。
また、下側基板母材２０の各下側基板形成領域２１に形
成された下側透明電極２３のうち、残りの半数の下側透
明電極２３が、それぞれ上側基板母材１０との両基板母
材間での電気的な接続を行う検査用上下導通部９１を介
して上側基板母材１０上の検査用引き廻し配線９２に電
気的に接続され、各検査用引き廻し配線９２が検査用導
電部１００に電気的に接続される構成としている。

【００６９】つまり、上側基板形成領域に形成された表
示用の電極と下側基板形成領域に形成された表示用の電
極の各々は検査用上下導通部を介して他方の基板母材に
形成された各検査用引き廻し配線及びこれらをまとめた
検査用導電部にそれぞれ電気的に接続された構成となっ
ている。また、検査用導電部６０を、下側基板母材２０
の最端部にまで延設すると共に、検査用導電部８０、１
００を、上側基板母材１０の最端部にまで延設する構成
としている。

【００７０】このように、本実施形態の液晶セルユニッ
ト１では、上側基板母材１０に形成され、各液晶セル１
Ａを構成する上側透明電極１３が、下側基板母材２０の
最端部にまで延設された検査用導電部６０に電気的に接
続されており、下側基板母材２０に形成され、各液晶セ
ル１Ａを構成する下側透明電極２３が、上側基板母材１
０の最端部にまで延設された検査用導電部８０、１００
のうちいずれかに電気的に接続されているので、一方の
基板母材の最端部にまで延設された検査用導電部６０、
検査用導電部８０、１００に対して欠陥検査を行うこと
により、液晶セルユニット１を構成するすべての液晶セ
ル１Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して行う
ことができる。

【００７１】また、検査用導電部６０、検査用導電部８
０、１００の少なくとも一端が、最端部に位置するよう
に、本実施形態の液晶セルユニット１を複数の液晶セル
ユニットに分割することができるので、本実施形態の液
晶セルユニット１を分割して得られる液晶セルユニット
についても同様に、すべての液晶セル１Ａの透明電極１
３、２３の欠陥検査を一括して行うことができる。

【００７２】よって、本実施形態の液晶セルユニット１
を用いて液晶装置を製造することにより、本実施形態の
液晶セルユニット１、若しくは本実施形態の液晶セルユ
ニットを分割して得られる液晶セルユニットに対して、
透明電極１３、２３の欠陥検査を行うことができるの
で、個々の液晶セル１Ａに分割する前に、複数の液晶セ
ル１Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して行う
ことができる。その結果、検査工程を大幅に簡略化する
ことができ、製造プロセスの簡略化を図ることができ
る。

【００７３】本実施形態の液晶セルユニット１、あるい
は、本実施形態の液晶セルユニット１を分割して得られ
る液晶セルユニットの電極の欠陥検査方法の詳細につい
ては後述するが、複数の検査用導電部６０、複数の検査
用導電部８０、１００に、各々検査用プローブを接触さ
せ、電気的特性を計測することにより、透明電極１３、
２３の欠陥検査を行うことができる。また、少なくとも
１個の検査用導電部６０、少なくとも１個の検査用導電
部８０、１００に、各々電圧を印加し、少なくとも１個
の液晶セル１Ａを点灯することによっても、透明電極１
３、２３の欠陥検査を行うことができる。このように透
明電極１３、２３の欠陥検査を行うことができるが、本
実施形態の液晶セルユニット１では、下側透明電極２３
を１本毎に交互に、異なる側に設けられた検査用導電部
８０、１００に電気的に電気的に接続する構成としてい
るので、透明電極１３、２３の欠陥検査を行う際に、透
明電極１３、２３の全体的なパターン欠陥の他に、隣接
する下側透明電極２３の短絡についても検出することが
でき、好適である。

【００７４】また、本実施形態の液晶セルユニット１で
は、各上側透明電極１３がシール材３０の配置形成部ま
で延在して形成され、検査用上下導通部５１を介して各
検査用引き廻し配線５２に電気的に接続され、この複数
の検査用引き廻し配線５２が検査用導通部６０に束ねら
れて接続されているので、検査用導電部６０の本数を上
側透明電極１３の本数に比較して大幅に低減することが
できる。また、同様に、半数の下側透明電極２３がシー
ル材３０の配置形成部まで延在して形成され、検査用上
下導通部７１を介して各検査用引き廻し配線７２に電気
的に接続され、この複数の検査用引き廻し配線７２が検
査用導通部８０に束ねられて接続されており、残りの半
数の下側透明電極２３がシール材３０の配置形成部まで
延在して形成され、検査用上下導通部９１を介して各検
査用引き廻し配線９２に電気的に接続され、この複数の
検査用引き廻し配線９２が検査用導通部１００に束ねら
れて接続されているので、検査用導電部８０、１００の
合計本数を下側透明電極２３の本数に比較して大幅に低
減することができる。具体的には、本実施形態の液晶セ
ルユニット１には液晶セル１Ａが６個形成され、各液晶
セル１Ａには多数の透明電極１３、２３が形成されてい
るにもかかわらず、図１に基づいて説明したように、検
査用導電部６０の本数は、僅か３本となっており、検査
用導電部８０、１００の本数は、いずれも僅か２本とな
っている。

【００７５】したがって、透明電極１３、２３のピッチ
が非常に微細な高精細な液晶装置を製造することが可能
な液晶セルユニット１に対して、検査用プローブを用い
て検査を行う場合においても、検査する検査用導電部６
０及び検査用導電部８０、１００の本数が少ないことに
加えて、検査用プローブを接触させる検査用導電部６０
及び検査用導電部８０、１００のピッチを大きく確保す
ることができるので、正確かつ迅速に検査を行うことが
できる。

【００７６】さらに、本実施形態の液晶セルユニット１
では、各液晶セル１Ａを構成する各上側透明電極１３に
電気的に接続された検査用導電部６０を、複数の液晶セ
ル１Ａに分割する際に基板母材で切り落とされる端材部
分２４に形成する構成としていると共に、各液晶セル１
Ａを構成する各下側透明電極２３に電気的に接続された
検査用導電部８０、１００を、複数の液晶セル１Ａに分
割する際に基板母材で切り落とされる端材部分１４に形
成する構成としている。

【００７７】したがって、本実施形態の液晶セルユニッ
ト１に、検査用上下導通部５１、７１、９１から検査用
引き廻し配線５２、７２、９２を基板形成領域内からそ
の外側に向けて跨いで導出して形成しても、また検査用
導電部６０、８０、１００を形成しても、本実施形態の
液晶セルユニット１から得られる液晶装置には、基板形
成領域毎に分割する際に同時に検査用引き廻し配線が切
断されることになる。よって、検査用導電部６０、及び
検査用導電部８０、１００が残らなく電気的に接続され
ていることは無いため、得られる液晶装置において、複
数の上側透明電極１３、あるいは複数の下側透明電極２
３が、検査用導電部６０、検査用導電部８０、１００の
存在によって短絡する恐れがないと共に、分断後の得ら
れる液晶装置の非表示領域（額縁領域）が、検査用導電
部６０、検査用導電部８０、１００の存在によって大き
くなる恐れもない。

【００７８】また、本実施形態の液晶セルユニット１で
は、さらに、検査用引き廻し配線５２の下側基板形成領
域２１の外側に導出されている一部分、及び検査用引き
廻し配線７２、９２の上側基板形成領域１１の外側に導
出されている一部分についても、複数の液晶セル１Ａに
分割する際に切り落とされる端材部分２４、１４に形成
する構成としているので、本実施形態の液晶セルユニッ
ト１から得られる液晶装置の非表示領域（額縁領域）を
より小さくすることができ、好適である。

【００７９】また、かかる構成を採用することにより、
上述したように、検査用引き廻し配線５２の一部、及び
検査用導電部６０を、隣接する液晶セル１Ａ（図１、図
４においては、図示上側に隣接する他の液晶セル１Ａ）
の外部接続用端子１２と対向する端材部分２４に形成す
ることができる。この隣接する液晶セル１Ａの外部接続
用端子１２と対向する端材部分２４は、従来から存在す
るため、この端材部分２４に、検査用引き廻し配線５２
の一部、及び検査用導電部６０を形成することにより、
新たな端材部分を設けることなく、検査用引き廻し配線
５２の一部、及び検査用導電部６０を配設することがで
きる。その結果、上述したように、図１、図４において
図示上下方向（外部接続用端子１２が延在する方向、或
いは領域１５が配置される方向）に隣接する液晶セル１
Ａを隙間なく配置させることができ、１個の液晶セルユ
ニット１に、より多くの液晶セル１Ａを形成することが
でき、好適である。

【００８０】また、上述したように、検査用引き廻し配
線７２の一部、及び検査用導電部８０を、隣接する他の
液晶セル１Ａ（図１、図４においては、図示左側に隣接
する液晶セル１Ａ）の外部接続用端子２２と対向する端
材部分１４に形成することができる。また、検査用引き
廻し配線９２の一部、及び検査用導電部１００を、同じ
液晶セル１Ａの外部接続用端子２２と対向する端材部分
１４に形成することができる。この外部接続用端子２２
と対向する端材部分１４は、従来から存在するため、こ
の端材部分１４に、検査用引き廻し配線７２、９２の一
部、及び検査用導電部８０、１００を形成することによ
り、新たな端材部分を設けることなく、検査用引き廻し
配線７２、９２の一部、及び検査用導電部８０、１００
を配設することができる。その結果、上述したように、
図１、図４において図示左右方向（外部接続用端子２２
が延在する方向、或いは領域２５が配置される方向）に
隣接する液晶セル１Ａを隙間なく配置させることがで
き、１個の液晶セルユニット１に、より多くの液晶セル
１Ａを形成することができ、好適である。

【００８１】なお、本発明は、検査用引き廻し配線５２
の一部、検査用導電部６０、検査用引き廻し配線７２の
一部、検査用導電部８０、検査用引き廻し配線９２の一
部、検査用導電部１００を、外部接続用端子と対向する
端材部分に形成する場合に限定されるものではなく、検
査用上下導通部、検査用引き廻し配線、検査用導通部の
うち、少なくとも検査用導電部６０、８０、１００を、
外部接続用端子と対向する端材部分に形成することによ
り、同様の効果を得ることができる。また、本実施形態
では、シール材３０中の導電粒子等の混入により上下導
通の作用を持たせて上下導通部としたが、シール材３０
と個別に設けられても構わないものである。

【００８２】また、本実施形態では、図１に示すよう
に、図示左側の液晶セル１Ａを構成する下側透明電極２
３に電気的に接続された検査用導電部８０と、図示右側
の液晶セル１Ａを構成する下側透明電極２３に電気的に
接続された検査用導電部１００とが独立に形成されてい
る場合について説明したが、これらを図７に示すように
一体形成することも可能であり、かかる構成としても同
様の効果を得ることができる。

【００８３】（液晶セルユニットの製造方法、及び液晶
装置の製造方法）次に、図８〜図１１に基づいて、本実
施形態の液晶セルユニットの製造方法、及び本実施形態
の液晶セルユニットから液晶装置を製造する方法につい
て説明する。図８、図９は、製造途中の液晶セルユニッ
ト１の概略平面図であり、図１０、図１１は、液晶セル
ユニット１から液晶装置を製造する際の、液晶セルユニ
ット１の切断箇所を示す概略平面図である。なお、図８
〜図１１は、図１に対応した図である。

【００８４】はじめに、図８に示すように、上側基板母
材１０を用意し、上側基板母材１０の内面に必要な要素
を形成する。すなわち、上側基板母材１０に、フォトリ
ソグラフィー法等により、所定のパターンの上側透明電
極１３、外部接続用端子１２や、下側透明電極２３に電
気的に接続される、検査用引き廻し配線７２、９２及び
検査用導電部８０、１００を形成し、次いで、上側透明
電極１３上に配向膜（図示略）を形成する。次に、必要
な要素を形成した上側基板母材１０の各上側基板形成領
域１１の周縁部に未硬化のシール材３０を印刷した後、
未硬化のシール材３０により囲まれた領域にディスペン
ス法等によって液晶の液滴を滴下する。

【００８５】一方、図９に示すように、下側基板母材２
０を用意し、下側基板母材２０の内面に必要な要素を形
成する。すなわち、下側基板母材２０に、フォトリソグ
ラフィー法等により、所定のパターンの下側透明電極２
３、外部接続用端子２２や、上側透明電極１３に電気的
に接続される、検査用引き廻し配線５２及び検査用導電
部６０を形成し、次いで、下側透明電極２３上に配向膜
（図示略）を形成する。次に、必要な要素を形成した下
側基板母材２０の各下側基板形成領域２１にスペーサ３
１を散布する。

【００８６】次に、液晶を滴下した上側基板母材１０
と、スペーサ３１を散布した下側基板母材２０とを、真
空雰囲気中で、未硬化のシール材３０を介して貼着す
る。この工程において、各上側基板形成領域１１と各下
側基板形成領域２１とを未硬化のシール材３０を介して
貼着する。次に、常圧に戻すことにより、液晶セル１Ａ
の内部と外部の圧力差を利用して、上側基板母材１０と
下側基板母材２０とを外部から加圧した後、未硬化のシ
ール材３０を硬化することにより、図１〜図６に示した
構造の本実施形態の液晶セルユニット１を簡易に製造す
ることができる。なお、未硬化のシール材３０を塗布
し、液晶層４０を形成する基板母材と、スペーサを散布
する基板母材とは、適宜選択することが可能である。

【００８７】次に、以上のように製造した本実施形態の
液晶セルユニット１の透明電極１３、２３の欠陥検査を
行う。本実施形態の液晶セルユニット１に対して、複数
の検査用導電部６０、複数の検査用導電部８０、１００
に、各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測
することにより、液晶セルユニット１の透明電極１３、
２３の欠陥検査を行うことができる。

【００８８】例えば、２本の検査用プローブに異なる電
圧を印加した状態で、各検査用プローブを、液晶セルユ
ニット１の最端部にまで延設された隣接する２本の検査
用導電部６０にそれぞれ接触させ、２本の検査用プロー
ブ間の電圧変化を検出することにより、隣接する２本の
検査用導電部６０に電気的に接続された、複数の液晶セ
ル１Ａの上側透明電極１３のパターン欠陥を一括検出す
ることが可能である。また、３本以上の検査用導電部６
０を有する場合においても、２本の検査用プローブを接
触させる検査用導電部６０を１本ずつずらして、順次検
査を行うことにより、すべての検査用導電部６０につい
て一括して検査を行うことができる。

【００８９】同様に、２本の検査用プローブに異なる電
圧を印加した状態で、各検査用プローブを、液晶セルユ
ニット１の最端部にまで延設された隣接する検査用導電
部８０、１００にそれぞれ接触させ、２本の検査用プロ
ーブ間の電圧変化を検出することにより、隣接する検査
用導電部８０、１００に電気的に接続された、複数の液
晶セル１Ａの下側透明電極２３のパターン欠陥を一括検
出することができる。このとき、各液晶セル１Ａを構成
する隣接する下側透明電極２３は、異なる検査用導電部
８０、１００に電気的に接続されているので、全体的な
パターン欠陥の他に、隣接する下側透明電極２３の短絡
についても検出することができる。また、複数組の検査
用導電部８０、１００を有する場合においても、２本の
検査用プローブを接触させる１組の検査用導電部８０、
１００毎に、順次検査を行うことにより、すべての組の
検査用導電部８０、１００について検査を行うことがで
きる。

【００９０】また、隣接する検査用導電部６０若しくは
隣接する検査用導電部８０、１００に接触させた２本の
検査用プローブの電圧変化を検出する代わりに、電流変
化を検出することによっても、透明電極１３、２３のパ
ターン欠陥を一括検出することができる。また、３本以
上の検査用プローブを用いても、同様に検査を行うこと
が可能である。

【００９１】また、検査用プローブを用いる代わりに、
以下のようにしても、配線に用いられる電極や表示用の
電極のパターン欠陥を一括検出することができる。すな
わち、液晶セルユニット１の最端部にまで延設されたす
べての検査用導電部６０と、液晶セルユニット１の最端
部にまで延設されたすべての検査用導電部８０、１００
に、各々電極を接触させ、検査用導電部６０、検査用導
電部８０、１００に各々異なる電圧を印加することによ
り、電圧を印加した検査用導電部６０、検査用導電部８
０、１００に電気的に接続された透明電極１３、２３に
異なる電圧を印加することができ、すべての液晶セル１
Ａを点灯させることができるので、各液晶セル１Ａにつ
いてすべてのドットが正常に点灯するか否かを検査する
点灯検査を行うことができ、すべての液晶セル１Ａの透
明電極１３、２３のパターン欠陥を一度に検出すること
ができる。

【００９２】このように、すべての検査用導電部６０、
すべての検査用導電部８０、１００に電圧を印加して検
査を行う場合には、すべての液晶セル１Ａの透明電極１
３、２３のパターン欠陥を一度に検出することができる
ので、好適である。しかしながら、本発明はこれに限定
されるものではなく、下側基板母材２０に形成された少
なくとも１本の検査用導電部６０、上側基板母材１０に
形成された少なくとも１本の検査用導電部８０に対し
て、各々異なる電圧を印加することにより、少なくとも
１個の液晶セル１Ａの、すべての上側透明電極１３と、
検査用導電部８０に電気的に接続された半数の下側透明
電極２３とが交差する半数のドットの点灯検査を行うこ
とができる。同様に、下側基板母材２０に形成された少
なくとも１本の検査用導電部６０、上側基板母材１０に
形成された少なくとも１本の検査用導電部１００に対し
て、各々異なる電圧を印加することにより、少なくとも
１個の液晶セル１Ａの、すべての上側透明電極１３と、
検査用導電部１００に電気的に接続された半数の下側透
明電極２３とが交差する半数のドットの点灯検査を行う
ことができる。したがって、１個若しくは複数の液晶セ
ル１Ａ毎に順次点灯検査を行うことも可能であり、この
場合にも、すべての液晶セル１Ａの透明電極１３、２３
のパターン欠陥を一括検出することができる。

【００９３】なお、検査用導電部６０、検査用導電部８
０、１００は、下側基板母材２０、上側基板母材１０の
内面に形成されているので、検査用導電部６０、検査用
導電部８０、１００に検査用プローブあるいは電極を接
触させる際には、検査用プローブあるいは電極を上側基
板母材１０と下側基板母材２０との間に挿入する必要が
ある。ここで、液晶セル１Ａのセルギャップは、数〜１
０μｍ程度と微小であるので、検査用プローブあるいは
電極を上側基板母材１０と下側基板母材２０との間に挿
入することが難しい場合には、上側基板母材１０と下側
基板母材２０とを１〜２ｍｍ程度ずらして液晶セルユニ
ット１を構成することが好ましい。

【００９４】具体的には、図１に示した液晶セルユニッ
ト１において、下側基板母材２０の図示右側の最端部
が、上側基板母材１０の図示右側の最端部より１〜２ｍ
ｍ程度外側に位置するように、上側基板母材１０と下側
基板母材２０とをずらして液晶セルユニット１を構成す
ることにより、下側基板母材２０に形成する検査用導電
部６０の最端部を上側基板母材１０より外側に位置させ
ることができるので、検査用導電部６０に対して、検査
用プローブ若しくは電極を簡易に接触させることができ
る。

【００９５】同様に、図１に示した液晶セルユニット１
において、上側基板母材１０の図示上側の最端部が、下
側基板母材２０の図示上側の最端部より１〜２ｍｍ程度
外側に位置するように、上側基板母材１０と下側基板母
材２０とをずらして液晶セルユニット１を構成すること
により、上側基板母材１０に形成する検査用導電部８
０、１００の最端部を下側基板母材２０より外側に位置
させることができるので、検査用導電部８０、１００に
対して、検査用プローブ若しくは電極を簡易に接触させ
ることができる。

【００９６】以上のようにして、液晶セルユニット１に
対して、透明電極１３、２３の欠陥検査を行った後、図
１０に示すように、切断線Ｄ１〜Ｄ３に沿って上側基板
母材１０を切断することにより、上側基板母材１０を各
上側基板形成領域１１の外周に沿って切断する。このと
き、上側基板母材１０の端材部分１４に形成され、下側
透明電極２３に電気的に接続された検査用引き廻し配線
７２、９２（図示略）の一部及び検査用導電部８０、１
００が切り落とされる。

【００９７】次に、図１１に示すように、切断線Ｅ１〜
Ｅ３に沿って下側基板母材２０を切断することにより、
下側基板母材２０を各下側基板形成領域２１の外周に沿
って切断する。このとき、下側基板母材２０の端材部分
２４に形成され、上側透明電極１３に電気的に接続され
た検査用引き廻し配線５２（図示略）の一部及び検査用
導電部６０が切り落とされる。以上のようにして、液晶
セルユニット１を６個の液晶セル１Ａに分割し、最後
に、各液晶セル１Ａの外側に偏光子、位相差板等の光学
素子を貼着することにより、６個のパッシブマトリクス
型液晶装置を同時に製造することができる。

【００９８】以上の液晶装置の製造方法によれば、個々
の液晶セル１Ａに分割する前に、複数の液晶セル１Ａの
電極の欠陥検査を一括して行うことができるので、検査
工程を大幅に簡略化することができ、液晶装置の製造プ
ロセスの簡略化を図ることができる。

【００９９】なお、液晶セルユニット１を個々の液晶セ
ル１Ａに分割する際に、液晶セルユニット１をより小さ
い液晶セルユニットに分割してから、個々の液晶セル１
Ａに分割しても良い。例えば、上側基板母材１０を図１
０に示した切断線Ｄ１〜Ｄ３に沿って切断する代わり
に、切断線Ｄ１に沿ってのみ切断し、下側基板母材２０
を図１１に示した切断線Ｅ１〜Ｅ３に沿って切断する代
わりに、切断線Ｅ２に沿ってのみ切断し、短冊状の液晶
セルユニットに分割してから、複数の液晶セル１Ａに分
割しても良い

【０１００】このように、液晶セルユニット１から直接
個々の液晶セル１Ａに分割する代わりに、いったん短冊
状の液晶セルユニットに分割してから、個々の液晶セル
１Ａに分割する場合には、液晶セルユニット１に対し
て、透明電極１３、２３の欠陥検査を行う代わりに、液
晶セルユニット１を分割して得られた短冊状の液晶セル
ユニットに対して、透明電極１３、２３の欠陥検査を行
うこともできる。すなわち、液晶セルユニット１を切断
して得られた短冊状の液晶セルユニットにおいても、検
査用導電部６０、検査用導電部８０、１００の最端部
が、各々、下側基板母材２０、上側基板母材１０の最端
部に位置するので、検査用導電部６０、検査用導電部８
０、１００に対して欠陥検査を行うことにより、短冊状
の液晶セルユニットを構成するすべての液晶セル１Ａの
電極の欠陥検査を一括して行うことができる。

【０１０１】（液晶装置の構造）次に、図１２に基づい
て、以上のように製造された本実施形態の液晶装置の構
造について簡単に説明する。図１２は、本実施形態の液
晶装置の概略平面図であり、図４に対応する図である。
本実施形態の液晶装置１Ｂの基本構成は、液晶セルユニ
ット１を構成していた液晶セル１Ａとほぼ同様である
が、本実施形態の液晶装置１Ｂは、上側基板母材１０の
上側基板形成領域１１から得られた上側基板（第１の基
板）１１Ａと、下側基板母材２０の下側基板形成領域２
１から得られた下側基板（第２の基板）２１Ａとを具備
して構成されている。また、上側基板１１Ａ、下側基板
２１Ａの外側には、偏光子、位相差板等の光学素子（図
示略）が貼着されている。

【０１０２】また、液晶セルユニット１の検査用引き廻
し配線５２の一部、検査用導電部６０、検査用引き廻し
配線７２、９２の一部、検査用導電部８０、１００につ
いては、液晶装置１Ｂを製造する際に切り落とされるの
で、液晶装置１Ｂには、検査用に設けられた構成要素の
うち、検査用上下導通部５１から下側基板形成領域２１
の外側に向けて導出された検査用引き廻し配線５２の一
部、検査用上下導通部７１から上側基板形成領域１１の
外側に向けて導出された検査用引き廻し配線７２の一
部、検査用上下導通部９１から上側基板形成領域１１の
外側に向けて導出された検査用引き廻し配線９２の一部
のみが残されている。

【０１０３】本実施形態の液晶装置１Ｂは以上のように
構成されており、本実施形態の液晶装置１Ｂは本実施形
態の液晶セルユニット１を用いて製造されたものである
ので、液晶装置１Ｂを製造する際の検査工程を大幅に簡
略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ること
ができるものとなる。

【０１０４】［第２実施形態］ （液晶セルユニットの構造）次に、図１３、図１４に基
づいて、本発明に係る第２実施形態の液晶セルユニット
の構造について説明する。本実施形態の液晶セルユニッ
トの基本構造は、第１実施形態と同様であり、上側透明
電極、下側透明電極に、検査用引き廻し配線及び検査用
導電部が電気的に接続されているが、上側透明電極に電
気的に接続された検査用引き廻し配線及び検査用導電部
の形成箇所のみが異なっている。したがって、第１実施
形態と同じ構成要素については同じ参照符号を付し、説
明は省略する。図１３は、本実施形態の液晶セルユニッ
トを構成する１個の液晶セル及びその近傍部分を拡大し
て示す概略平面図であり、第１実施形態の図４に相当す
る図である。図１４は、本実施形態の液晶セルユニット
を、図１３に示すＦ−Ｆ’線に沿って切断した時の部分
概略断面図である。

【０１０５】本実施形態の液晶セルユニット２は、第１
実施形態と同様、複数の上側基板形成領域１１を有する
上側基板母材１０と、複数の下側基板形成領域２１を有
する下側基板母材２０とを具備して概略構成され、複数
の液晶セル２Ａが一体化されたものである。

【０１０６】上述したように、本実施形態では、上側透
明電極１３に電気的に接続された検査用引き廻し配線及
び検査用導電部の形成箇所のみが異なっているので、上
側透明電極１３と検査用引き廻し配線及び検査用導電部
との接続構造についてのみ説明する。１個の液晶セルに
着目した場合、第１実施形態では、各上側透明電極に電
気的に接続された検査用引き廻し配線、検査用導電部
が、上側透明電極に電気的に接続された外部接続用端子
と反対側に形成されていたのに対して、本実施形態で
は、図１３に示すように、各上側透明電極１３に電気的
に接続された検査用引き廻し配線１５２、検査用導電部
１６０が、上側透明電極１３に電気的に接続された外部
接続用端子１２と同じ側に形成されている。

【０１０７】詳細には、図１３に示すように、１個の液
晶セル２Ａに着目した場合、上側基板形成領域１１に形
成された各上側透明電極１３はそれぞれ図示下方向（外
部接続用端子１２及び領域１５が配置される方向）に延
在形成され、導電粒子等の導電材が混入されたシール材
３０の形成部において個々に上下導通が図られて、その
検査用上下導通部１５１を介して下側基板形成領域２１
に形成された各検査用引き廻し配線１５２にそれぞれ電
気的に接続されている。各検査用引き廻し配線１５２は
検査用上下導通部１５１から上側透明電極１３の延在方
向に合わせて延在形成されていると共に、下側基板形成
領域２１から外側にそれぞれ導出され、その全てが下側
基板母材２０上に形成された検査用導電部１６０に電気
的に接続されている。また、下側基板母材２０におい
て、検査用上下導通部１５１の図示下方には、図示左右
方向（下側透明電極２３の延在方向に対して平行方向）
に延在する検査用導電部１６０が形成されており、すべ
ての検査用引き廻し配線１５２の図示下端部がこの検査
用導電部１６０に電気的に接続されている。

【０１０８】また、各液晶セル２Ａを構成する各上側透
明電極１３と、検査用導電部１６０との接続構造の断面
構造は、図１４に示す通りである。

【０１０９】すなわち、各液晶セル２Ａを構成する上側
基板形成領域１１の各上側透明電極１３は、図示下方向
（外部接続用端子１２及び領域１５が配置される方向）
のシール材３０の形成部上まで延在して形成され、シー
ル材３０の形成部において下側基板形成領域２１上の検
査用引き廻し配線１５２との間で上下導通が図られてい
る。その検査用上下導通部１５１を介して上側基板形成
領域１１の各上側透明電極１３は下側基板形成領域２１
の各検査用引き廻し配線１５２にそれぞれ電気的に接続
されている。検査用引き廻し配線１５２は検査用上下導
通部１５１から上側透明電極１３の延在方向に合わせて
延在形成されていると共に、下側基板形成領域２１から
外側にそれぞれ導出されている。下側基板形成領域２１
から外側に導出された検査用引き廻し配線１５２は、下
側基板母材２０上で図の紙面に垂直な方向（下側透明電
極２３と平行な方向）に延在して形成された検査用導電
部１６０に電気的に接続されている。

【０１１０】このように、本実施形態では、各液晶セル
２Ａを構成する各上側透明電極１３は、上側基板母材１
０から下側基板母材２０に跨って電気的な導通が図られ
検査用上下導通部１５１を介して、下側基板母材２０に
形成された検査用導電部１６０に電気的に接続されてい
る。また、本実施形態では、同液晶セル２Ａの一つに着
目すると、各上側透明電極１３に電気的に接続された検
査用導電部１６０は、外部接続用端子１２側に形成され
てなり、下側基板形成領域２１の外側に導出された検査
用引き廻し配線１５２の導出部（検査用引き廻し配線１
５２の一部）と検査用導電部１６０は、同じ液晶セルの
外部接続用端子１２と対向する領域、即ち上側基板形成
領域１１の張出した領域１５に対向する下側基板母材２
０上に配置して形成されている。

【０１１１】すなわち、第１実施形態では、上側透明電
極に電気的に接続され、下側基板母材に形成された、検
査用引き廻し配線の一部、及び検査用導電部が、隣接す
る他の液晶セルの外部接続用端子と対向する端材部分に
形成されていたのに対して、本実施形態では、図１３、
図１４に示すように、下側基板母材２０に形成された、
検査用引き廻し配線１５２の一部、及び検査用導電部１
６０は、同じ液晶セル２Ａの外部接続用端子１２と対向
する端材部分２４（図１４参照）に形成されている。そ
して、本実施形態の液晶セルユニット２を個々の液晶セ
ル２Ａに分割する際には、検査用引き廻し配線１５２の
一部、及び検査用導電部１６０が、切り落とされるよう
になっている。また、本実施形態においても、第１実施
形態と同様、各検査用導電部１６０の一端が、下側基板
母材２０の最端部にまで延設されている。

【０１１２】本実施形態の液晶セルユニット２は以上の
ように構成されており、上側透明電極１３に電気的に接
続された検査用引き廻し配線１５２、検査用導電部１６
０を外部接続用端子部１２と同じ側に形成しても、第１
実施形態の液晶セルユニットと同様の効果を得ることが
できる。すなわち、本実施形態の液晶セルユニット２に
おいても、第１実施形態と同様、上側基板母材１０に形
成され、各液晶セル２Ａを構成する上側透明電極１３
が、下側基板母材２０の最端部にまで延設された検査用
導電部１６０に電気的に接続されており、下側基板母材
２０に形成され、各液晶セル２Ａを構成する下側透明電
極２３が、上側基板母材１０の最端部にまで延設された
検査用導電部８０、１００に電気的に接続されているの
で、本実施形態の液晶セルユニット２を用いて液晶装置
を製造することにより、個々の液晶セル２Ａに分割する
前に、複数の液晶セル２Ａの透明電極１３、２３の欠陥
検査を一括して行うことができるので、検査工程を大幅
に簡略化することができ、製造プロセスの簡略化を図る
ことができる。

【０１１３】また、第１実施形態と同様、各液晶セル２
Ａを構成する各上側透明電極１３に電気的に接続された
検査用導電部１６０を、複数の液晶セル２Ａに分割する
際に基板母材で切り落とされる端材部分２４に形成する
構成としているので、本実施形態の液晶セルユニット２
から得られる液晶装置には、検査用導電部１６０が残ら
なく電気的に接続されていることは無いため、得られる
液晶装置において、隣接する上側透明電極１３が、検査
用導電部１６０の存在によって短絡する恐れがないと共
に、分断後の得られる液晶装置の非表示領域（額縁領
域）が、検査用導電部１６０の存在によって大きくなる
恐れもない。また、隣接する液晶セル２Ａを隙間なく配
置させることができ、１個の液晶セルユニット２に、よ
り多くの液晶セル２Ａを形成することができ、好適であ
る。

【０１１４】なお、本実施形態の液晶セルユニット２の
製造方法、液晶セルユニット２の検査方法、及び液晶セ
ルユニット２から液晶装置を製造する方法については、
第１実施形態と同様であるので、説明は省略する。ま
た、本実施形態の液晶セルユニット２から得られる液晶
装置の構造は、上側透明電極１３に電気的に接続された
検査用引き廻し配線１５１、検査用導電部１６０のう
ち、切り落とされずに残る検査用引き廻し配線１５１の
一部の形成箇所が異なっている点を除けば、第１実施形
態と同様であるので、説明は省略する。

【０１１５】［第３実施形態］ （液晶セルユニットの構造）次に、図１５に基づいて、
本発明に係る第３実施形態の液晶セルユニットの構造に
ついて説明する。以上の第１、第２実施形態において
は、シール材が液晶注入部を有しない場合について説明
したが、本実施形態ではシール材が液晶注入部を有する
場合について説明する。なお、本実施形態の液晶セルユ
ニットの基本構造は、第２実施形態と同様であるので、
第２実施形態と同じ構成要素については同じ参照符号を
付し、説明は省略する。図１５は、本実施形態の液晶セ
ルユニットを上側基板母材側から見た時の概略平面図で
あり、第１実施形態の図１に相当する図である。

【０１１６】図１５に示すように、本実施形態の液晶セ
ルユニット３は、第２実施形態と同様、複数の上側基板
形成領域１１を有する上側基板母材１０と、複数の下側
基板形成領域２１を有する下側基板母材２０とを具備し
て概略構成され、複数の液晶セル３Ａが一体化されたも
のである。そして、本実施形態では、各液晶セル３Ａの
シール材３０の一部に、液晶を注入するための液晶注入
部３２が形成されていると共に、各液晶セル３Ａ内には
液晶層が形成されていない点のみが第２実施形態と異な
っている。すなわち、本実施形態では、シール材３０が
液晶注入部３２を有しているが、すべての液晶注入部３
２が、液晶セルユニット３の最端部に位置していないの
で、液晶セルユニット３を短冊状の液晶セルユニットに
分割しなければ、各液晶セル３Ａ内に液晶を注入するこ
とができない。そのため、本実施形態の液晶セルユニッ
ト３には、液晶層が未形成の状態になっている。

【０１１７】このように、本発明は、シール材が液晶注
入部を有する場合にも適用することができ、本実施形態
の液晶セルユニット３によっても、第２実施形態と同様
の効果を得ることができる。すなわち、本実施形態の液
晶セルユニット３を用いて液晶装置を製造することによ
り、個々の液晶セル３Ａに分割する前に、複数の液晶セ
ル３Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して行う
ことができるので、検査工程を大幅に簡略化することが
でき、製造プロセスの簡略化を図ることができる。な
お、本実施形態の液晶セルユニット３を用いて液晶装置
を製造することにより、個々の液晶セル３Ａに分割する
前に、複数の液晶セル３Ａの電極の欠陥検査を一括して
行うことができる理由については後述する。

【０１１８】また、本実施形態の液晶セルユニット３
は、液晶層を形成する工程を除けば、第１実施形態の液
晶セルユニットと同様に製造することができるので、本
実施形態の液晶セルユニット３の製造方法については、
説明を省略する。

【０１１９】（液晶装置の製造方法）次に、図１６、図
１７に基づいて、本実施形態の液晶セルユニットから液
晶装置を製造する方法について説明する。図１６は、液
晶セルユニット３から液晶装置を製造する際の、液晶セ
ルユニット３の切断箇所を示す概略平面図であり、図１
７は、液晶セルユニット３を分割して得られる短冊状の
液晶セルユニットの概略平面図である。

【０１２０】上述したように、第２実施形態と異なり、
本実施形態の液晶セルユニット３の各液晶セル３Ａ内に
は液晶層が形成されていないので、本実施形態の液晶セ
ルユニット３に対して、点灯検査を行うことはできない
が、検査用プローブを用いた検査を行うことは可能であ
る。なお、本実施形態の液晶セルユニット３に対して、
検査用プローブを用いて検査を行う方法は、第１実施形
態と同様であるので、説明は省略する。但し、液晶層を
形成した後、電極の欠陥検査を行うことが好ましいた
め、以下、液晶層を形成した後、電極の欠陥検査を行う
場合について説明する。

【０１２１】はじめに、図１６に示すように、本実施形
態の液晶セルユニット３の上側基板母材１０、下側基板
母材２０の双方を、切断線Ｇに沿って切断することによ
り、すべての液晶注入部３２が最端部に位置するよう
に、図１７に示す、複数の液晶セル３Ａが一方向に配列
した短冊状の液晶セルユニット３Ｂに分割する。次に、
液晶セルユニット３Ｂの各液晶セル３Ａ内に、液晶注入
部３２から真空注入法等により液晶を注入し、液晶層を
形成した後、液晶注入部３２を封止材により封止する。

【０１２２】次に、短冊状の液晶セルユニット３Ｂに対
して、透明電極１３、２３の欠陥検査を行う。この短冊
状の液晶セルユニット３Ｂにおいても、検査用導電部１
６０、検査用導電部８０、１００の最端部が、各々、下
側基板母材２０、上側基板母材１０の最端部に位置して
いるので、検査用導電部１６０、検査用導電部８０、１
００に対して欠陥検査を行うことにより、複数の液晶セ
ル３Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して行う
ことができる。

【０１２３】なお、図１５において図示左右方向に隣接
する液晶セル３Ａの各上側透明電極１３に電気的に接続
された検査用導電部１６０を一体化しているため、短冊
状の液晶セルユニット３Ｂには、検査用導電部１６０が
１本しか存在しない。したがって、検査用導電部１６０
については、検査用プローブを用いた検査を行うことは
できないが、検査用導電部８０、１００については、第
１実施形態の液晶セルユニットと同様に、検査用プロー
ブを用いた検査を行うことができ、隣接する下側透明電
極２３の短絡を検出することができる。また、検査用導
電部１６０、検査用導電部８０、１００に、各々電極を
接触させて異なる電圧を印加する点灯検査を行うことも
可能である。

【０１２４】なお、短冊状の液晶セルユニット３Ｂの検
査用導電部１６０に対して、検査用プローブを用いた検
査を行う場合には、図１５において図示左右方向に隣接
する液晶セル３Ａの各上側透明電極１３に電気的に接続
された検査用導電部１６０を一体化せずに、それぞれ下
側基板母材２０の最端部にまで延設すれば良く、かかる
構成とすれば、短冊状の液晶セルユニット３Ｂに、検査
用導電部１６０が形成されるため、検査用プローブを用
いた検査が可能となる。

【０１２５】以上のように電極の欠陥検査を行った後、
短冊状の液晶セルユニット３Ｂを個々の液晶セル３Ａに
分割し、各液晶セル３Ａから液晶装置を製造することが
できる。

【０１２６】以上説明したように、本実施形態の液晶セ
ルユニット３を用いて液晶装置を製造することによって
も、個々の液晶セル３Ａに分割する前に、複数の液晶セ
ル３Ａの電極の欠陥検査を一括して行うことができるの
で、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロ
セスの簡略化を図ることができる。なお、本実施形態の
液晶セルユニット３から得られる液晶装置の構造は、シ
ール材が液晶注入部を有し、液晶注入部が封止材により
封止されている以外は、第２実施形態と同様であるの
で、説明は省略する。

【０１２７】［第４実施形態］ （液晶セルユニットの構造）次に、図１８に基づいて、
本発明に係る第４実施形態の液晶セルユニットの構造に
ついて説明する。本実施形態の液晶セルユニットの基本
構造は、第１、第２の実施形態と同様であり、上側透明
電極と検査用引き廻し配線及び検査用導電部との接続構
造のみが異なっている。したがって、第１、第２実施形
態と同じ構成要素については同じ参照符号を付し、説明
は省略する。図１８は、本実施形態の液晶セルユニット
を構成する１個の液晶セル及びその近傍部分を拡大して
示す概略平面図であり、第１、第２実施形態の図４、図
１３に相当する図である。

【０１２８】図１８に示すように、本実施形態の液晶セ
ルユニット４は、第１実施形態と同様、複数の上側基板
形成領域１１を有する上側基板母材１０と、複数の下側
基板形成領域２１を有する下側基板母材２０とを具備し
て概略構成され、複数の液晶セル４Ａが一体化されたも
のである。

【０１２９】第１、第２実施形態では、１個の液晶セル
に着目した場合、すべての上側透明電極１３が、同じ検
査用導電部に電気的に接続されていたのに対し、本実施
形態では、隣接する上側透明電極１３が異なる検査用導
電部に電気的に接続されている。

【０１３０】すなわち、図示右側から奇数本目の各上側
透明電極１３は、検査用上下導通部５１を介して、下側
基板母材２０に形成された検査用引き廻し配線５２に電
気的に接続されており、すべての検査用引き廻し配線５
２が、同じ基板母材上の検査用導電部６０に電気的に接
続されている。なお、図示右側から奇数本目の各上側透
明電極１３と、検査用引き廻し配線５２、検査用導電部
６０との接続構造については、第１実施形態と同様であ
るので、詳細な説明については省略する。

【０１３１】これに対して、図示右側から偶数本目の各
上側透明電極１３は、検査用上下導通部１５１を介し
て、下側基板母材２０に形成された検査用引き廻し配線
１５２に電気的に接続されており、すべての検査用引き
廻し配線１５２が、同じ基板母材上の検査用導電部１６
０に電気的に接続されている。なお、図示右側から偶数
本目の各上側透明電極１３と、検査用引き廻し配線１５
２、検査用導電部１６０との接続構造については、第２
実施形態と同様であるので、詳細な説明については省略
する。

【０１３２】このように、上側透明電極１３を１本毎に
交互に、異なる側に設けた検査用引き廻し配線及び検査
用導電部に電気的に接続することも可能であり、かかる
構成としても、第１、第２実施形態と同様、本実施形態
の液晶セルユニット４を用いて液晶装置を製造すること
により、個々の液晶セル４Ａに分割する前に、複数の液
晶セル４Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して
行うことができるので、検査工程を大幅に簡略化するこ
とができ、製造プロセスの簡略化を図ることができる。
さらに、本実施形態によれば、透明電極１３、２３の欠
陥検査を行う際に、透明電極１３、２３の全体的なパタ
ーン欠陥の他に、隣接する上側透明電極１３及び隣接す
る下側透明電極２３の短絡についても検出することがで
き、好適である。

【０１３３】なお、本実施形態の液晶セルユニット４の
製造方法、液晶セルユニット４の検査方法、及び液晶セ
ルユニット４から液晶装置を製造する方法については、
第１実施形態と同様であるので、説明は省略する。ま
た、本実施形態の液晶セルユニット４から得られる液晶
装置の構造は、第１、第２実施形態と同様であるので、
説明は省略する。

【０１３４】［第５実施形態］ （液晶セルユニットの構造）次に、図１９〜図２３に基
づいて、本発明に係る第５実施形態の液晶セルユニット
の構造について説明する。第１〜第４実施形態において
は、一対の基板の双方が同じ基板母材に形成された表示
用の電極につながる外部接続用端子を個別に具備する液
晶装置を製造することが可能な液晶セルユニットについ
てのみ説明したが、本実施形態では、一方の基板母材の
みに外部接続用端子がまとめて集められている液晶装置
を製造することが可能な液晶セルユニットへの適用例に
ついて説明する。本実施形態の液晶セルユニットの基本
構造は、第１〜第４実施形態と同様であるので、同じ構
成要素については同じ参照符号を付し、説明は省略す
る。

【０１３５】図１９は、本実施形態の液晶セルユニット
を上側基板母材側から見た時の概略平面図であり、第１
実施形態の図１に相当する図である。図２０は、本実施
形態の液晶セルユニットを構成する１個の液晶セル及び
その近傍部分を拡大して示す概略平面図であり、電極と
外部接続用端子部との接続構造を示す図である。図２１
は、本実施形態の液晶セルユニットを構成する１個の液
晶セル及びその近傍部分を拡大して示す概略平面図であ
り、電極と検査用導電部との接続構造を示す図である。
なお、図２０、図２１は、第１実施形態の図４に相当す
る図である。図２２は、本実施形態の液晶セルユニット
を、図２１に示すＨ−Ｈ’線に沿って切断した時の部分
概略断面図である。図２３（ａ）、（ｂ）は、各々、本
実施形態の液晶セルユニットを、図２１に示すＩ−Ｉ’
線、Ｊ−Ｊ’線に沿って切断した時の部分概略断面図で
ある。

【０１３６】図１９に示すように、本実施形態の液晶セ
ルユニット５は、第１実施形態と同様、複数の上側基板
形成領域（第１の基板形成領域）１１１を有する上側基
板母材（第１の基板母材）１１０と、複数の下側基板形
成領域（第２の基板形成領域）１２１を有する下側基板
母材（第２の基板母材）１２０とを具備して概略構成さ
れ、６個の液晶セル５Ａが一体化されたものである。

【０１３７】第１実施形態では、各液晶セルにおいて、
上側基板形成領域、下側基板形成領域の双方に、外部接
続用端子部が形成されており、上側基板形成領域、下側
基板形成領域は、外部接続用端子部が形成された部分
が、対向する基板形成領域よりも外側に位置するように
構成されていた。これに対して、本実施形態では、図２
０に示すように、各液晶セル５Ａにおいて、上側基板形
成領域１１１の図示下端部（上側基板形成領域１１１と
対向する下側基板形成領域１２１から外側に張出した領
域３５）に、上側電極用外部接続用端子部１１２と、下
側電極用外部接続用端子部１２２とが共に形成されてお
り、下側基板形成領域１２１には外部接続用端子部は形
成されていない構成とされている。そして、下側基板母
材１２０において、外部接続用端子部１１２、１２２と
対向する部分は、本実施形態の液晶セルユニット５を複
数の液晶セル５Ａに分割する際に切り落とされる端材部
分１２４（図１９参照）となっている。なお、図２０に
示すように、上側基板形成領域１１１の図示下端部の略
中央部に上側電極用外部接続用端子部１１２が形成さ
れ、その両側に下側電極用外部接続用端子部１２２が形
成されている。

【０１３８】また、第１〜第４実施形態においては、隣
接する液晶セルが隙間なく連続して形成されていたのに
対し、本実施形態では、図１９に示すように、図示左右
方向に隣接する液晶セル５Ａは離間配置されており、図
示左右方向に隣接する液晶セル５Ａの間が、複数の液晶
セル５Ａに分割する際に、上側基板母材１１０、下側基
板母材１２０の双方が切り落とされる端材部分１２５と
なっている。

【０１３９】以下、本実施形態の液晶セルユニット５に
おける電極と外部接続用端子部との接続構造について説
明する。図２０に示すように、第２実施形態と同様、上
側基板形成領域１１１に形成された各上側透明電極１３
は、下側基板形成領域１２１から上側基板形成領域１１
１が張出した領域３５に向けてシール材３０の形成部を
貫通して導出され、該領域３５の端部に配列して形成さ
れた上側電極用外部接続用端子部１１２に電気的に接続
されている。

【０１４０】これに対して、下側基板形成領域１２１に
形成された下側透明電極２３のうち、図示上側から奇数
本目の下側透明電極２３の図示右端部は、そのままシー
ル材３０の形成部まで延在して形成され、シール材３０
内の上下導通部２７１に電気的に接続されている。ま
た、下側基板形成領域１２１に形成された下側透明電極
２３のうち、図示上側から偶数本目の下側透明電極２３
の図示左端部は、そのままシール材３０の形成部まで延
在して形成され、シール材３０内の上下導通部２９１に
電気的に接続されている。つまり、四方に設けられたシ
ール材３０のうち、図示右側、左側（下側透明電極の延
在方向であって基板形成領域の対向２辺に位置する側）
のシール材３０内に、各々、導通粒子等の導電材を混在
させてなる上下導通部２７１、２９１が存在し、下側透
明電極２３は１本毎に交互に異なる上下導通部２７１、
２９１に電気的に接続されている。

【０１４１】また、上側基板形成領域１１１には、各上
下導通部２７１と下側電極用外部接続用端子部１２２の
それぞれとを電気的に接続するための引き廻し配線２３
Ｄが形成されており、図示上側から奇数本目の下側透明
電極２３の延在して形成された部分と各引き廻し配線２
３Ｄとが上下導通部２７１を介して電気的に接続されて
いる。また、上側基板形成領域１１１には、各上下導通
部２９１と下側電極用外部接続用端子部１２２のそれぞ
れとを電気的に接続するための引き廻し配線２３Ｆが形
成されており、図示上側から偶数本目の下側透明電極２
３の延在して形成された部分と各引き廻し配線２３Ｆと
が上下導通部２９１を介して電気的に接続されている。

【０１４２】なお、図示するように、上側基板形成領域
１１１に形成された引き廻し配線２３Ｄ、２３Ｆは、各
々、上下導通部２７１、２９１から下側透明電極２３の
延在された部分に沿って、シール材３０より内側に向け
て配設された後、上側透明電極１３の延在方向に対して
平行方向に折り曲げられ、図示下側に位置するシール材
３０の形成領域を通って、下側電極用外部接続用端子部
１２２にまで配設されている。そして、各下側透明電極
２３が、上下導通部２７１又は２９１、引き廻し配線２
３Ｄ又は２３Ｆを介して、下側電極用外部接続用端子部
１２２に電気的に接続されている。

【０１４３】次に、本実施形態の液晶セルユニット５に
おける電極と検査用引き廻し配線及び検査用導電部との
接続構造について説明する。図２１に示すように、１個
の液晶セル５Ａに着目した場合、上側基板形成領域１１
１に形成された各上側透明電極１３は、下側基板形成領
域１２１より張出した領域３５に導出されて上側電極用
外部接続用端子部１１２に電気的に接続される際に貫通
するシール材３０の形成部において、該シール材３０内
の導通粒子等の導電材の作用によって存在する検査用上
下導通部２５１を介して、該検査用上下導通部２５１に
対応して下側基板形成領域１２１上に設けられた各検査
用引き廻し配線２５２に電気的に接続されている。各検
査用引き廻し配線２５２は検査用上下導通部２５１から
下側基板形成領域１２１の外側に向けて延在して導出さ
れている。また、各検査用引き廻し配線２５２のすべて
は下側基板母材１２０の下側基板形成領域１２１の外側
で検査用導電部２６０に電気的に接続されてまとめて束
ねられている。従って、各液晶セル５Ａにおいて、各上
側透明電極１３に電気的に接続された下側基板母材１２
０上の検査用引き廻し配線２５２及び検査用導電部２６
０が、上側基板形成領域１１１上の外部接続用端子部と
対向する領域（上側基板形成領域１１１の下側基板形成
領域１２１から張出した領域３５に対向する下側基板母
材１２０）に配置されている。

【０１４４】すなわち、１個の液晶セル５Ａに着目した
場合、上側基板形成領域１１１上の各上側透明電極１３
は上側電極用外部接続用端子部１１２に向けて導出して
引き廻される間（経路の間）に検査用上下導通部２５１
によって下側基板母材１２０に形成された検査用引き廻
し配線２５２に電気的に接続される構成とされ、すべて
の検査用引き廻し配線２５２が下側基板母材１２０に形
成された検査用導電部２６０に電気的に接続されてい
る。

【０１４５】また、下側基板母材１２０には、延在する
各上側透明電極１３にそれぞれ電気的に接続される検査
用上下導通部２５１に対応して、図示上下方向（上側透
明電極の延在方向に対して平行方向）に延在する検査用
引き廻し配線２５２が形成されている。さらに、下側基
板母材１２０において、検査用上下導通部２５１の図示
下方には、図示左右方向（下側透明電極の延在方向に対
して平行方向）に延在する検査用導電部２６０が形成さ
れており、すべての検査用引き廻し配線２５２の図示下
端部がこの検査用導電部２６０に電気的に接続されてい
る。また、下側基板母材１２０に形成された、検査用引
き廻し配線２５２の一部、及び検査用導電部２６０は、
同じ液晶セル５Ａの外部接続用端子部１１２、１２２と
対向する端材部分１２４（図１９、図２２参照）に形成
されている。

【０１４６】また、各液晶セル５Ａを構成する各上側透
明電極１３と、検査用引き廻し配線２５２、検査用導電
部２６０との接続構造の断面構造は、図２２に示す通り
である。

【０１４７】このように、本実施形態においても、第１
〜第４実施形態と同様、表示用の電極と電気的に接続さ
れるとともに上側基板母材１１０と下側基板母材１２０
との間に跨って電気的な接続を図る検査用の導通経路を
有する構成としている。また、図１９に示すように、各
検査用導電部２６０の図示右端が、下側基板母材１２０
の最端部にまで延設されている。

【０１４８】一方、図２１に示すように、１個の液晶セ
ル５Ａに着目した場合、下側基板形成領域１２１に形成
された下側透明電極２３のうち、図示上側から奇数本目
の下側透明電極２３の図示右端部は、シール材３０の形
成部まで延在され、シール材３０内の上下導通部２７１
を介して上側基板形成領域１１１の各引き廻し配線２３
Ｄに電気的に接続されている。更に、この引き回し配線
２３Ｄには、上下導通部２７１から上側基板形成領域１
１１の外側に向けて形成された検査用引き廻し配線２７
２がそれぞれ電気的に接続されている。そして、すべて
の検査用引き廻し配線２７２が検査用導電部２８０に電
気的に接続されている構造となっている。従って、下側
基板形成領域１２１に形成された下側透明電極２３のう
ち、図示上側から奇数本目の下側透明電極２３は、上下
導通部２７１を介して引き廻し配線２３Ｄ及び下側電極
用外部接続用端子部１２２に電気的に接続される経路
と、上下導通部２７１を介して検査用引き廻し配線２７
２及び検査用導電部２８０に電気的に接続される検査用
の経路が存在する。

【０１４９】同様に、下側基板形成領域１２１に形成さ
れた下側透明電極２３のうち、図示上側から偶数本目の
下側透明電極２３の図示左端部は、シール材３０の形成
部まで延在され、シール材３０内の上下導通部２９１を
介して上側基板形成領域１１１の各引き廻し配線２３Ｆ
に電気的に接続されている。更に、この引き廻し配線２
３Ｆには、上下導通部２９１から上側基板形成領域１１
１の外側に向けて形成された検査用引き廻し配線２９２
がそれぞれ電気的に接続されている。そして、すべての
検査用引き廻し配線２９２が検査用導電部３００に電気
的に接続されている構造となっている。従って、下側基
板形成領域１２１に形成された下側透明電極２３のう
ち、図示上側から偶数本目の下側透明電極２３は、上下
導通部２９１を介して引き廻し配線２３Ｆ及び下側電極
用外部接続用端子部１２２に電気的に接続される経路
と、上下導通部２９１を介して検査用引き廻し配線２９
２及び検査用導電部３００に電気的に接続される検査用
の経路が存在する。

【０１５０】このように、本実施形態では、各下側透明
電極２３を下側電極用外部接続用端子部１２２に電気的
に接続するための上下導通部２７１、２９１が、検査用
上下導通部を兼ねた構造になっている。

【０１５１】より詳細には、各下側透明電極２３には、
下側透明電極２３の延在方向の一方の側で検査用導電部
２８０に繋がる検査用引き廻し配線２７２、及び下側電
極用外部接続用端子部１２２に繋がる引き廻し配線２３
Ｄと上下導通部２７１を介して電気的に接続される下側
透明電極２３と、下側透明電極２３の延在方向の他方の
側で検査用導電部３００に繋がる検査用引き廻し配線２
９２、及び下側電極用外部接続用端子部１２２に繋がる
引き廻し配線２３Fと上下導通部２９１を介して電気的
に接続される下側透明電極２３とが存在している。

【０１５２】また、各下側透明電極２３の延在方向の一
方（図示右側）に位置する検査用引き廻し配線２７２に
ついては、図示左端部が上下導通部２９１に電気的に接
続され、各下側透明電極２３の延在方向の他方（図示左
側）に位置する検査用引き廻し配線２９２については、
図示右端部が上下導通部２９１に電気的に接続されてい
る。そして、各引き廻し配線２３Ｄ、２３Ｆと、各検査
用引き廻し配線２７２、２９２とが上下導通部２７１、
２９１において電気的に接続されている。

【０１５３】なお、上側基板母材１１０において、シー
ル材３０（上下導通部２７１、２９１）の形成領域に
は、各下側透明電極２３を下側電極用外部接続用端子部
１２２に電気的に接続するための引き廻し配線２３Ｄ、
２３Ｆと、検査用引き廻し配線２７２、２９２とが重な
って形成され、引き廻し配線２３Ｄ、２３Ｆは上下導通
部２７１、２９１からシール材３０の内側に向けて形成
され、検査用引き廻し配線２７２、２９２は上下導通部
２７１、２９１からシール材３０の外側に向けて形成さ
れているが、これら引き廻し配線２３Ｄ、２３Ｆと検査
用引き廻し配線２７２、２９２とは、一体的に同材質で
形成することも可能である。さらに、上側基板母材１１
０において、基板形成領域の外側には、図示上下方向
（上側透明電極の延在方向に対して平行方向）に延在す
る検査用導電部２８０、３００が形成されており、すべ
ての検査用引き廻し配線２７２、２９２が、各々、検査
用導電部２８０、３００に電気的に接続されている。

【０１５４】また、各液晶セル５Ａを構成する下側透明
電極２３と、検査用引き廻し配線２７２、２９２、検査
用導電部２８０、３００との接続構造の断面構造は、図
２３（ａ）、（ｂ）に示す通りである。

【０１５５】このように、本実施形態においても、第１
〜第４実施形態と同様、表示用の電極と電気的に接続さ
れるとともに下側基板母材１２０と上側基板母材１１０
との間に跨って電気的な接続を図る検査用の導通経路を
有する構成としている。また、図１９に示すように、各
検査用導電部２８０、３００の図示上端が、上側基板母
材１１０の最端部にまで延設されている。また、上側基
板母材１１０に形成された、検査用引き廻し配線２７２
の一部（上側基板形成領域外の検査用引き廻し配線）、
検査用導電部２８０、検査用引き廻し配線２９２の一部
（上側基板形成領域外の検査用引き廻し配線）、検査用
導電部３００は、図２５において、図示左右方向に隣接
する他の液晶セル５Ａ間に形成された端材部分１２５に
形成されている。

【０１５６】本実施形態の液晶セルユニット５は以上の
ように構成されており、本実施形態の液晶セルユニット
５においても、第１〜第４実施形態の液晶セルユニット
と同様の効果を得ることができる。すなわち、本実施形
態の液晶セルユニット５においても、第１〜第４実施形
態と同様、上側基板母材１１０の上側基板形成領域１１
１に形成された表示用の電極である上側透明電極１３
が、検査用上下導通部２５１を介して検査用引き廻し配
線２５２、及び検査用導電部２６０に電気的に接続され
ている。また、下側基板母材１２０の各下側基板形成領
域１２１に形成された下側透明電極２３のうち、半数の
下側透明電極２３が、それぞれ上側基板母材１１０との
両基板母材間での電気的な接続を行う検査用上下導通部
２７１を介して上側基板母材１１０上の検査用引き廻し
配線２７２に電気的に接続され、各検査用引き廻し配線
２７２が検査用導電部２８０に電気的に接続されてい
る。また、下側基板母材１２０の各下側基板形成領域１
２１に形成された下側透明電極２３のうち、残りの半数
の下側透明電極２３が、それぞれ上側基板母材１１０と
の両基板母材間での電気的な接続を行う検査用上下導通
部２９１を介して上側基板母材１１０上の検査用引き廻
し配線２９２に電気的に接続され、各検査用引き廻し配
線２９２が検査用導電部３００に電気的に接続されてい
る。

【０１５７】したがって、下側基板母材１２０の最端部
にまで延設された検査用導電部２６０、上側基板母材１
１０の最端部にまで延設された検査用導電部２８０、３
００に対して欠陥検査を行うことにより、液晶セルユニ
ット５を構成するすべての液晶セル５Ａの透明電極１
３、２３の欠陥検査を一括して行うことができる。ま
た、本実施形態の液晶セルユニット５を分割して得られ
る液晶セルユニットについても同様、すべての液晶セル
５Ａの透明電極１３、２３の欠陥検査を一括して行うこ
とができる。

【０１５８】よって、本実施形態の液晶セルユニット５
を用いて液晶装置を製造することにより、個々の液晶セ
ル５Ａに分割する前に、複数の液晶セル５Ａの透明電極
１３、２３の欠陥検査を一括して行うことができるの
で、検査工程を大幅に簡略化することができ、製造プロ
セスの簡略化を図ることができる。また、本実施形態に
おいても、隣接する下側透明電極１３を１本毎に交互
に、異なる側に設けられた検査用導電部２８０、３００
に電気的に接続する構成としているので、透明電極１
３、２３の欠陥検査を行う際に、透明電極１３、２３の
全体的なパターン欠陥の他に、隣接する下側透明電極２
３の短絡についても検出することができ、好適である。
なお、本実施形態では、図１９において図示左右方向に
隣接する液晶セル５Ａ間に新たな端材部分が必要となる
ので、第１〜第４実施形態と比較して、液晶セルユニッ
ト５に形成できる液晶セルの個数が低減する場合があ
る。

【０１５９】また、本実施形態では、第１〜第３実施形
態と同様、各液晶セル５Ａにおいて、すべての上側透明
電極１３を、同じ検査用導電部２６０に電気的に接続す
る構成としたが、第４実施形態において説明したよう
に、隣接する上側透明電極１３を１本毎に交互に、異な
る側に設けられた検査用導電部に電気的に接続すること
も可能である。かかる構成とした場合には、透明電極１
３、２３の欠陥検査を行う際に、隣接する上側透明電極
１３の短絡についても検出することができ、好適であ
る。

【０１６０】また、本実施形態では、図１９において、
図示左側の液晶セル５Ａを構成する下側透明電極２３に
電気的に接続された検査用導電部２８０と、図示右側の
液晶セル５Ａを構成する下側透明電極２３に電気的に接
続された検査用導電部３００とが独立に形成されている
場合について説明したが、これらを一体形成することも
可能であり、かかる構成としても、本実施形態と同様の
効果を得ることができる。

【０１６１】なお、本実施形態の液晶セルユニット５の
製造方法、液晶セルユニット５の検査方法、液晶セルユ
ニット５から液晶装置を製造する方法については、第１
実施形態と同様であるので、説明は省略する。

【０１６２】（液晶装置の構造）次に、図２１に基づい
て、本実施形態の液晶セルユニットから製造される本実
施形態の液晶装置の構造について簡単に説明する。本実
施形態の液晶装置は、上側基板母材１１０の上側基板形
成領域１１１から得られた上側基板と、下側基板母材１
２０の下側基板形成領域１２１から得られた下側基板と
を具備して構成される。また、本実施形態においても、
第１実施形態と同様、液晶セルユニット５の検査用引き
廻し配線２５２の一部（下側基板形成領域１２１の外側
に導出された延在部）、検査用導電部２６０、検査用引
き廻し配線２７２の一部（上側基板形成領域１１１の外
側に導出された延在部）、検査用導電部２８０、検査用
引き廻し配線２９２の一部（上側基板形成領域１１１の
外側に導出された延在部）、検査用導電部３００につい
ては、液晶装置を製造する際に切り落とされるので、本
実施形態の液晶装置には、検査用のみに設けられた構成
要素のうち、検査用引き廻し配線２５２の一部（検査用
上下導通部２５１からシール材３０の外側、又は検査用
上下導通部２５１から下側基板形成領域１２１の端部に
延びた部分）、検査用引き廻し配線２７２の一部（上下
導通部２７１からシール材３０の外側、又は上下導通部
２７１から基板形成領域の端部に延びた部分）、検査用
引き廻し配線２９２の一部（上下導通部２９１からシー
ル材３０の外側、又は上下導通部２９１から基板形成領
域の端部に延びた部分）、検査用上下導通部２５１、２
７１、２９１のみが残されている。

【０１６３】本実施形態の液晶装置は、本実施形態の液
晶セルユニット５を用いて製造されたものであるので、
液晶装置を製造する際の検査工程を大幅に簡略化するこ
とができ、製造プロセスの簡略化を図ることができるも
のとなる。

【０１６４】［アクティブマトリクス型液晶装置への適
用例］第１〜第５実施形態においては、パッシブマトリ
クス型液晶装置を製造することが可能な液晶セルユニッ
トを取り上げて説明したが、本発明は、スイッチング素
子としてＴＦＤ（薄膜ダイオード）を用いたアクティブ
マトリクス型液晶装置を製造することが可能な液晶セル
ユニットにも適用可能である。以下、図２４に基づい
て、スイッチング素子としてＴＦＤを用いたアクティブ
マトリクス型の透過型液晶装置の構造について簡単に説
明した後、本発明への適用例に簡単に説明する。なお、
図２４は、後述する素子基板側から見た時の概略斜視図
である。

【０１６５】図２４に示す液晶装置６は、液晶層（図示
略）を挟持して対向配置された素子基板（第１の基板）
２１０と対向基板（第２の基板）２２０とが、シール材
（図示略）を介して貼着されて概略構成されている。

【０１６６】素子基板２１０の液晶層側表面には、ＴＦ
Ｄ２１４、画素電極２１３等が形成され、これらの液晶
層側に配向膜（図示略）が形成されている。より詳細に
は、素子基板２１０において、多数のデータ線２１２が
ストライプ状に設けられており、各データ線２１２に対
して多数の画素電極２１３がＴＦＤ２１４を介して接続
されている。素子基板２１０の液晶層側表面全体を見れ
ば、多数の画素電極２１３がマトリクス状に配列されて
いる。また、対向基板２２０の液晶層側表面には、素子
基板２１０のデータ線２１２の延在方向に対して交差す
る方向に形成された複数の短冊状の走査線２２１が形成
され、この液晶層側に配向膜（図示略）が形成されてい
る。

【０１６７】ＴＦＤを用いたアクティブマトリクス型液
晶装置６は、以上のように概略構成され、液晶装置６に
は、第１〜第５実施形態の透明電極に相当するストライ
プ状に形成されたデータ線２１２、走査線２２１が形成
されているので、液晶装置６を製造することが可能な液
晶セルユニットにおいて、各液晶セルを構成する各デー
タ線２１２、各走査線２２１に対して、第１〜第５実施
形態で説明した検査用上下導通部、検査用引き廻し配
線、検査用導電部を電気的に接続することにより、ＴＦ
Ｄを用いたアクティブマトリクス型液晶装置を製造する
ことが可能な本発明の液晶セルユニットを提供すること
ができ、第１〜第５実施形態と同様の効果を得ることが
できる。

【０１６８】［電子機器］次に、本発明の上記実施形態
の液晶装置のいずれかを備えた電子機器の具体例につい
て説明する。図２５（ａ）は、携帯電話の一例を示した
斜視図である。図２５（ａ）において、５００は携帯電
話本体を示し、５０１は前記の液晶装置のいずれかを備
えた液晶表示部を示している。図２５（ｂ）は、ワープ
ロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した
斜視図である。図２５（ｂ）において、６００は情報処
理装置、６０１はキーボードなどの入力部、６０３は情
報処理本体、６０２は前記の液晶装置のいずれかを備え
た液晶表示部を示している。図２５（ｃ）は、腕時計型
電子機器の一例を示した斜視図である。図２５（ｃ）に
おいて、７００は時計本体を示し、７０１は前記の液晶
装置のいずれかを備えた液晶表示部を示している。図２
５（ａ）〜（ｃ）に示す電子機器は、上記実施形態の液
晶装置のいずれかを備えたものであるので、製造プロセ
スの簡略化を図ることができるものとなる。

【０１６９】

【発明の効果】 以上、詳細に説明したように、本発明
によれば、液晶装置を製造する際の検査工程を大幅に簡
略化することができ、製造プロセスの簡略化を図ること
ができる手段を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 図１は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットの概略平面図である。

【図２】 図２は、図１に示す液晶セルユニットのう
ち、上側基板母材とシール材のみを取り出して示す図で
ある。

【図３】 図３は、図１に示す液晶セルユニットのう
ち、下側基板母材とシール材のみを取り出して示す図で
ある。

【図４】 図４は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットを構成する１個の液晶セル及びその近傍部分
を拡大して示す概略平面図である。

【図５】 図５は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットを、図４に示すＡ−Ａ’線に沿って切断した
時の部分概略断面図である。

【図６】 図６（ａ）、（ｂ）は、各々、本発明に係る
第１実施形態の液晶セルユニットを、図４に示すＢ−
Ｂ’線、Ｃ−Ｃ’線に沿って切断した時の部分概略断面
図である。

【図７】 図７は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットのその他の構造を示す拡大概略平面図であ
る。

【図８】 図８は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットの製造方法を示す概略平面図である。

【図９】 図９は、本発明に係る第１実施形態の液晶セ
ルユニットの製造方法を示す概略平面図である。

【図１０】 図１０は、本発明に係る第１実施形態の液
晶セルユニットから液晶装置を製造する際の、液晶セル
ユニットの切断箇所を示す概略平面図である。

【図１１】 図１１は、本発明に係る第１実施形態の液
晶セルユニットから液晶装置を製造する際の、液晶セル
ユニットの切断箇所を示す概略平面図である。

【図１２】 図１２は、本発明に係る第１実施形態の液
晶装置の概略平面図である。

【図１３】 図１３は、本発明に係る第２実施形態の液
晶セルユニットを構成する１個の液晶セル及びその近傍
部分を拡大して示す概略平面図である。

【図１４】 図１４は、本発明に係る第２実施形態の液
晶セルユニットを、図１３に示すＦ−Ｆ’線に沿って切
断した時の部分概略断面図である。

【図１５】 図１５は、本発明に係る第３実施形態の液
晶セルユニットの概略平面図である。

【図１６】 図１６は、本発明に係る第３実施形態の液
晶セルユニットから液晶装置を製造する際の、液晶セル
ユニットの切断箇所を示す概略平面図である。

【図１７】 図１７は、本発明に係る第３実施形態の液
晶セルユニットを分割して得られた短冊状の液晶セルユ
ニットの概略平面図である。

【図１８】 図１８は、本発明に係る第４実施形態の液
晶セルユニットを構成する１個の液晶セル及びその近傍
部分を拡大して示す概略平面図である。

【図１９】 図１９は、本発明に係る第５実施形態の液
晶セルユニットの概略平面図である。

【図２０】 図２０は、本発明に係る第５実施形態の液
晶セルユニットを構成する１個の液晶セル及びその近傍
部分を拡大して示す概略平面図であり、電極と外部接続
用端子部との接続構造を示す図である。

【図２１】 図２１は、本発明に係る第５実施形態の液
晶セルユニットを構成する１個の液晶セル及びその近傍
部分を拡大して示す概略平面図であり、電極と検査用導
電部との接続構造を示す図である。

【図２２】 図２２は、本発明に係る第５実施形態の液
晶セルユニットを、図２１に示すＨ−Ｈ’線線に沿って
切断した時の部分概略断面図である。

【図２３】 図２３（ａ）、（ｂ）は、各々、本発明に
係る第５実施形態の液晶セルユニットを、図２１に示す
Ｉ−Ｉ’線、J−J’線に沿って切断した時の部分概略断
面図である。

【図２４】 図２４は、スイッチング素子としてＴＦＤ
を用いたアクティブマトリクス型の透過型液晶装置の概
略斜視図である。

【図２５】 図２５（ａ）は、上記実施形態の液晶装置
を備えた携帯電話の一例を示す図、図２５（ｂ）は、上
記実施形態の液晶装置を備えた携帯型情報処理装置の一
例を示す図、図２５（ｃ）は、上記実施形態の液晶装置
を備えた腕時計型電子機器の一例を示す図である。

【符号の説明】

１、２、３、４、５ 液晶セルユニット ３Ｂ 短冊状の液晶セルユニット １Ｂ 液晶装置 １Ａ、２Ａ、３Ａ、４Ａ、５Ａ 液晶セル １０、１１０ 上側基板母材（第１の基板母材） ２０、１２０ 下側基板母材（第２の基板母材） １１、１１１ 上側基板形成領域（第１の基板形成領
域） ２１、１２１ 下側基板形成領域（第２の基板形成領
域） １１Ａ 上側基板（第１の基板） ２１Ａ 下側基板（第２の基板） １３ 上側透明電極 ２３ 下側透明電極 ５１、１５１、２５１ 検査用上下導通部 ５２、１５２、２５２ 検査用引き廻し配線 ６０、１６０、２６０ 検査用導電部 ７１、９１、２７１、２９１ 検査用上下導通部 ７２、９２、２７２、２９２ 検査用引き廻し配線 ８０、１００、２８０、３００ 検査用導電部 ３０ シール材 ４０ 液晶層 ３２ 液晶注入部 １４、２４、１２４ 外部接続用端子と対向する端材部
分 １２５ 端材部分 １２、２２ 外部接続用端子 １１２、１２２ 外部接続用端子部 ２１２ データ線 ２２１ 走査線

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｆ 9/00 ３３８ Ｇ０９Ｆ 9/00 ３３８ ５Ｇ４３５ 9/30 ３３０ 9/30 ３３０Ｚ ３４３ ３４３Ｚ 9/35 9/35 Ｆターム(参考） 2G014 AA08 AB21 2H088 EA22 FA04 FA06 FA09 FA10 FA13 FA26 FA28 HA01 HA02 MA20 2H089 LA22 NA22 NA24 NA55 PA17 QA12 TA01 TA03 UA09 2H092 GA32 GA38 GA44 JA24 JB77 MA57 NA27 PA01 PA04 RA10 5C094 AA43 AA46 BA04 BA43 CA19 DA07 EA01 EA02 EA03 EC01 FB12 GB10 HA08 5G435 AA17 BB12 CC09 HH12 KK05 LL06 LL07 LL08

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示用の電極が形成された複数の第１の
   基板形成領域を有する第１の基板母材と、表示用の電極
   が形成された複数の第２の基板形成領域を有する第２の
   基板母材とを具備すると共に、前記第１の基板母材の各
   第１の基板形成領域と前記第２の基板母材の各第２の基
   板形成領域とをそれぞれシール材を介して貼着される液
   晶セルユニットであって、 前記第１の基板母材と前記第２の基板母材との間で前記
   表示用の電極と電気的な接続を行う検査用上下導通部が
   前記表示用の電極の延在方向の一方側と他方側とにそれ
   ぞれ設けられ、前記表示用の電極は１本毎に交互に前記
   一方側に設けられた前記検査用上下導通部と前記他方側
   に設けられた前記検査用上下導通部にそれぞれ接続され
   るとともに、該検査用上下導通部を介して前記表示用の
   電極と電気的に接続された検査用引き廻し配線が前記検
   査用上下導通部から各々導出して形成され、更に複数の
   前記検査用引き廻し配線を結合して配線した検査用導電
   部が設けられていることを特徴とする液晶セルユニッ
   ト。
2. 【請求項２】 前記第１の基板母材の前記第１の基板形
   成領域に形成された前記表示用の電極と前記第２の基板
   母材上に形成された前記検査用引き廻し配線との間で電
   気的に接続する前記検査用上下導通部と、前記第２の基
   板母材の前記第２の基板形成領域に形成された前記表示
   用の電極と前記第１の基板母材上に形成された前記検査
   用引き廻し配線との間で電気的に接続する前記検査用上
   下導通部とを有するとともに、前記第１の基板母材、及
   び前記第２の基板母材のそれぞれにおいて複数の前記検
   査用引き廻し配線を結合して各基板母材の端部まで延在
   して配線形成された前記検査用導電部を有することを特
   徴とする請求項１に記載の液晶セルユニット。
3. 【請求項３】 前記第１の基板母材、及び／又は前記第
   ２の基板母材に形成された前記検査用引き廻し配線の一
   部と前記検査用導電部は前記第１の基板形成領域の外
   側、及び／又は前記第２の基板形成領域の外側に形成さ
   れていることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載
   の液晶セルユニット。
4. 【請求項４】 前記検査用引き廻し配線の一部、及び前
   記検査用導電部が、複数の液晶セルに分割する際に切り
   落とされる端材部分に形成されていることを特徴とする
   請求項３に記載の液晶セルユニット。
5. 【請求項５】 前記検査用上下導通部は前記第１、及び
   前記第２の基板形成領域内に設けられた前記シール材に
   混在される導電材によって前記第１の基板母材と前記第
   ２の基板母材との間で電気的に接続されていることを特
   徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の
   液晶セルユニット。
6. 【請求項６】 前記シール材によって貼着された前記第
   １の基板形成領域と前記第２の基板形成領域において、
   前記第１の基板形成領域の前記第２の基板形成領域から
   張出した領域には前記表示用の電極と電気的に接続され
   て導出された外部接続用端子が形成され、前記外部接続
   用端子が形成される前記領域と対向する前記第２の基板
   母材上に前記検査用引き廻し配線の一部と前記検査用導
   電部が形成されていることを特徴とする請求項１又は請
   求項２記載の液晶セルユニット。
7. 【請求項７】 前記シール材によって貼着された前記第
   １の基板形成領域と前記第２の基板形成領域において、
   互いに他方の基板形成領域から張出した領域が存在し、
   該領域には前記表示用の電極と電気的に接続されて導出
   された外部接続用端子がそれぞれ設けられ、前記外部接
   続用端子が形成される前記領域と対向する他方の基板母
   材上に前記検査用引き廻し配線の一部と前記検査用導電
   部がそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項１
   又は請求項２記載の液晶セルユニット。
8. 【請求項８】 各シール材が、液晶を注入するための液
   晶注入部を有しないと共に、 前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、前記第
   ２の基板母材の各第２の基板形成領域との間に、液晶層
   が挟持されていることを特徴とする請求項１から請求項
   ７までのいずれか１項に記載の液晶セルユニット。
9. 【請求項９】 各シール材が、液晶を注入するための液
   晶注入部を有すると共に、前記複数の液晶セルが、前記
   液晶注入部が前記液晶セルユニットの最端部に位置する
   ように、一方向に配列しており、 前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、前記第
   ２の基板母材の各第２の基板形成領域との間に、液晶層
   が挟持されていることを特徴とする請求項１から請求項
   ７までのいずれか１項に記載の液晶セルユニット。
10. 【請求項１０】 各シール材が、液晶を注入するための
    液晶注入部を有すると共に、複数の前記液晶注入部が、
    前記液晶セルユニットの最端部に位置しておらず、 前記第１の基板母材の各第１の基板形成領域と、前記第
    ２の基板母材の各第２の基板形成領域との間に、液晶層
    が挟持されていないことを特徴とする請求項１から請求
    項７までのいずれか１項に記載の液晶セルユニット。
11. 【請求項１１】 請求項１から請求項１０までのいずれ
    か１項に記載の液晶セルユニットから製造された液晶装
    置であって、 前記第１の基板母材の前記第１の基板形成領域から得ら
    れた第１の基板と、前記第２の基板母材の前記第２の基
    板形成領域から得られた第２の基板とを具備し、前記第
    １の基板と前記第２の基板との間に液晶層が挟持されて
    いると共に、前記検査用上下導通部と、 前記検査用引き廻し配線のうち前記検査用上下導通部か
    ら当検査用引き廻し配線が形成される基板形成領域の端
    部まで延在して形成された部分を具備することを特徴と
    する液晶装置。
12. 【請求項１２】 請求項８又は請求項９に記載の液晶セ
    ルユニットから液晶装置を製造する液晶装置の製造方法
    であって、 前記液晶セルユニットの両基板形成領域に形成された前
    記表示用の電極の欠陥検査を行う検査工程と、 欠陥検査後の前記液晶セルユニットの前記第１の基板母
    材を各第１の基板形成領域の外周に沿って切断し、前記
    第２の基板母材を各第２の基板形成領域の外周に沿って
    切断することにより、複数の液晶セルに分割する切断工
    程とを有することを特徴とする液晶装置の製造方法。
13. 【請求項１３】 請求項１０に記載の液晶セルユニット
    から液晶装置を製造する液晶装置の製造方法であって、 前記液晶セルユニットを、すべての前記液晶注入部が最
    端部に位置するように切断し、複数の液晶セルが一方向
    に配列した短冊状の液晶セルユニットに分割する第１の
    切断工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの各液晶セルに、前記液
    晶注入部から液晶を注入し、液晶層を形成する液晶注入
    工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの前記液晶注入部を封止
    する封止工程と、 前記短冊状の液晶セルユニットの両基板形成領域に形成
    された前記表示用の電極の欠陥検査を行う検査工程と、
    欠陥検査後の前記短冊状の液晶セルユニットを切断し、
    複数の液晶セルに分割する第２の切断工程とを有するこ
    とを特徴とする液晶装置の製造方法。
14. 【請求項１４】 前記検査工程において、前記第１の基
    板母材上に形成された複数の前記検査用導電部、前記第
    ２の基板母材上に形成された複数の前記検査用導電部
    に、各々検査用プローブを接触させ、電気的特性を計測
    することにより、前記液晶セルユニットの両基板形成領
    域に形成された前記表示用の電極の欠陥検査を行うこと
    を特徴とする請求項１２又は請求項１３に記載の液晶装
    置の製造方法。
15. 【請求項１５】 前記検査工程において、少なくとも１
    個の前記第１の基板母材上に形成された前記検査用導電
    部、少なくとも１個の前記第２の基板母材上に形成され
    た前記検査用導電部に、各々電圧を印加することによ
    り、前記液晶セルユニットの両基板形成領域に形成され
    た前記表示用の電極の欠陥検査を行うことを特徴とする
    請求項１２又は請求項１３に記載の液晶装置の製造方
    法。
16. 【請求項１６】 請求項１１に記載の液晶装置を備えた
    ことを特徴とする電子機器。