JP2007079541A - 電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - Google Patents
電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007079541A JP2007079541A JP2006140015A JP2006140015A JP2007079541A JP 2007079541 A JP2007079541 A JP 2007079541A JP 2006140015 A JP2006140015 A JP 2006140015A JP 2006140015 A JP2006140015 A JP 2006140015A JP 2007079541 A JP2007079541 A JP 2007079541A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- terminals
- external circuit
- signal
- supplied
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
【解決手段】電気光学装置は、素子基板上における周辺領域のうちその一辺において対向基板から張り出している張出領域に、その一辺に沿って配列され、複数の表示素子に画像表示させるための各種信号を供給する外部回路が接続されると共に、表示検査の際に、一括して検査用画像信号が供給される複数の外部回路接続端子を備える。更に、張出領域において複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、表示検査のために検査用画像信号以外に必要となる第1検査信号が供給される複数の第1検査端子を備える。第1検査端子は、外部回路接続端子と比較して広いピッチで配置されている。
【選択図】図4
Description
先ず、本実施形態における液晶装置の全体構成について、図1から図3を参照して説明する。
以下に、第1検査端子103a及び第2検査端子103bの構成について、図1から図3に加えて、図4から図6を参照して、より詳細に説明する。図4(a)は、第1検査端子103a及び第2検査端子103bの構成について示す平面図であって、図4(b)は、第1検査端子103aと外部回路接続端子102の電気的な構成を示す図である。
次に、図1から図4に加えて、図8及び図9を参照して、液晶装置における表示検査及び貼合前検査について説明する。図8は、表示検査における第1検査信号等の各種信号の供給について説明するための図であって、図9は、検査回路201の構成の一例を示す回路図である。
以上説明した本実施形態の変形例について、図1から図9に加えて、図10から図12を参照して説明する。
次に、上述した液晶装置が各種の電子機器に適用される場合について説明する。
まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図13は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。この図に示されるように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106および2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110Bおよび1110Gに入射される。
次に、液晶装置を、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図14は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
さらに、この液晶パネルを、携帯電話に適用した例について説明する。図15は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。
Claims (14)
- 素子基板と、
前記素子基板の一部が張出領域において張り出すように前記素子基板と貼り合わせられる対向基板と、
前記素子基板上の画素領域に配列された複数の画素部と、
前記素子基板上における前記画素領域の周辺に位置する周辺領域のうち前記張出領域に配列され、前記複数の画素部に画像表示させるための画像信号及び制御信号を含む各種信号が外部回路から供給される複数の外部回路接続端子と、
前記張出領域において、前記複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、検査信号が供給される複数の検査端子と
を備えており、
前記複数の検査端子は、前記複数の外部回路接続端子同士の間隔と比較して広い間隔で配置されていることを特徴とする電気光学装置。 - 前記複数の外部回路接続端子は、前記外部回路を電気的に接続する前であって前記素子基板及び前記対向基板の貼り合せ後に行われる検査の際に、当該電気光学装置の動作時に前記画像信号が供給されることになる端子部分に対して、一括して検査用画像信号が供給され、
前記複数の検査端子は、前記貼合後の検査の際に、前記貼合後の検査のために前記検査用画像信号以外に必要となる検査信号が供給される
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。 - 前記複数の検査端子は、前記複数の外部回路接続端子の配列の両端において、前記複数の外部回路接続端子の配列の延長線上に配列されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
- 素子基板と、
前記素子基板の一部が張出領域において張り出すように前記素子基板と貼り合わせられる対向基板と、
前記素子基板上の画素領域に配列された複数の画素部と、
前記素子基板上における前記画素領域の周辺に位置する周辺領域のうち前記張出領域に配列され、前記複数の画素部に画像表示させるための画像信号及び制御信号を含む各種信号が外部回路から供給される複数の外部回路接続端子と、
前記張出領域において、前記複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、前記素子基板及び前記対向基板の貼り合わせ後に行われる検査のために必要となる第1検査信号が供給される複数の第1検査端子と、
前記周辺領域のうち前記一辺を除く他の辺に沿った周辺部分領域であって前記素子基板及び前記対向基板が貼り合せられた後には前記対向基板により覆われる領域に、少なくとも部分的に配置されており、前記貼り合わせ前に行われる検査のために必要となる第2検査信号が供給される複数の第2検査端子と
を備えたことを特徴とする電気光学装置。 - 前記複数の第1検査端子は、前記複数の外部回路接続端子同士の間隔と比較して広い間隔で配置されており、
前記複数の第2検査端子は、前記複数の外部回路接続端子同士の間隔と比較して広い間隔で配置されていることを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。 - 前記素子基板は、前記素子基板を複数含む大型基板において、前記素子基板毎に前記対向基板と対向するように貼り合わせられ、前記素子基板と対向基板とが貼り合せられた後に、前記大型基板を前記素子基板毎に分断することにより形成され、
前記複数の第2検査端子のうち少なくとも一部は、前記周辺部分領域に代えて又は加えて、前記大型基板が分断される際に分断される箇所に重なって形成されていることを特徴とする請求項4又は5に記載の電気光学装置。 - 前記素子基板上で平面的に見て前記画素領域を囲むシール領域において、前記素子基板及び前記対向基板を相互に貼り合わせるシール材を更に備え、
前記複数の第2検査端子は、前記シール領域内に少なくとも部分的に配置されていること
を特徴とする請求項4から6のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記複数の第1検査端子は、少なくとも部分的に、前記貼合後の検査の際に加えて前記貼合前の検査の際にも用いられ、
前記複数の第2検査端子は、前記貼合前の検査の際に前記第1検査端子に供給される第1検査信号とは異なる検査信号が前記第2検査信号として供給される端子であることを特徴とする請求項4から7のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記複数の第2検査端子は、前記第2検査信号として、前記各種信号の少なくとも一つと同種類の信号が供給される第2同種類端子を含み、
該第2同種類端子は、前記複数の外部回路接続端子のうち前記各種信号の少なくとも一つが供給される前記外部回路接続端子と抵抗素子を介して電気的に接続されており、
前記第2検査信号のうち前記同種類の信号は、前記貼合前の検査の際に、前記第2同種類端子から前記抵抗素子を介して供給されること
を特徴とする請求項4から8のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記複数の第1検査端子は、前記第1検査信号として、前記各種信号の少なくとも一つと同種類の信号が供給される第1同種類端子を含み、
該第1同種類端子は、前記複数の外部回路接続端子のうち前記各種信号の少なくとも一つが供給される前記外部回路接続端子と抵抗素子を介して電気的に接続されており、
前記第1検査信号のうち前記同種類の信号は、前記貼合後の検査の際に、前記第1同種類端子から前記抵抗素子を介して供給されること
を特徴とする請求項4から9のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 前記複数の検査端子は、前記検査信号として、前記各種信号の少なくとも一つと同種類の信号が供給される同種類端子を含み、
該同種類端子は、前記複数の外部回路接続端子のうち前記各種信号の少なくとも一つが供給される前記外部回路接続端子と抵抗素子を介して電気的に接続されており、
前記検査信号のうち前記同種類の信号は、前記素子基板及び前記対向基板の貼り合わせ後に行われる貼合後の検査の際に、前記同種類端子から前記抵抗素子を介して供給されること
を特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 素子基板と、前記素子基板の一部が張出領域において張り出すように前記素子基板と貼り合せられる対向基板と、前記素子基板上の画素領域に配列された複数の画素部と、前記素子基板上における前記画素領域の周辺に位置する周辺領域のうち前記張出領域に配列され、前記複数の画素部に画像表示させるための画像信号及び制御信号を含む各種信号が外部回路から供給される複数の外部回路接続端子と、前記張出領域において、前記複数の外部回路接続端子の配列の端に配置された複数の検査端子とを備えた電気光学装置を検査する検査方法であって、
前記素子基板及び前記対向基板の貼り合せ後であって前記外部回路を前記外部回路接続端子に電気的に接続する前に行われる貼合後検査の際に、前記複数の外部回路接続端子のうち前記画像信号が供給されることになる端子に対して、一括して検査用画像信号を供給する工程と、
前記複数の検査端子に対して、前記貼合後検査のために前記検査用画像信号以外の検査信号を供給する工程と、
前記貼合後検査として、前記検査用画像信号及び前記検査信号が供給された状態で、前記検査用画像信号に応じた画像表示が、前記複数の画素部で行われるか否かを検査する工程と
を備えたことを特徴とする電気光学装置の検査方法。 - 前記一括して検査用画像信号を供給する工程は、前記複数の外部回路接続端子に導電性ゴムを電気的に接続して、該導電性ゴムを介して前記検査用画像信号を一括して供給し、
前記検査信号を供給する工程は、前記複数の検査端子に夫々、プローブを介して前記検査信号を供給する
ことを特徴とする請求項12に記載の電気光学装置の検査方法。 - 請求項1から10のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006140015A JP5194382B2 (ja) | 2005-08-18 | 2006-05-19 | 電気光学装置及び電子機器 |
TW095128360A TWI305270B (en) | 2005-08-18 | 2006-08-02 | Electro-optical device, method of testing the same, and electronic apparatus |
US11/464,652 US7884892B2 (en) | 2005-08-18 | 2006-08-15 | Electro-optical device, method of testing the same, and electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005237188 | 2005-08-18 | ||
JP2005237188 | 2005-08-18 | ||
JP2006140015A JP5194382B2 (ja) | 2005-08-18 | 2006-05-19 | 電気光学装置及び電子機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007079541A true JP2007079541A (ja) | 2007-03-29 |
JP5194382B2 JP5194382B2 (ja) | 2013-05-08 |
Family
ID=37767035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006140015A Active JP5194382B2 (ja) | 2005-08-18 | 2006-05-19 | 電気光学装置及び電子機器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7884892B2 (ja) |
JP (1) | JP5194382B2 (ja) |
TW (1) | TWI305270B (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100902600B1 (ko) | 2008-05-06 | 2009-06-11 | (주)유비프리시젼 | 컨택 블록 |
JP2009198807A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
US7750662B2 (en) | 2007-09-25 | 2010-07-06 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and electronic apparatus |
US8542028B2 (en) | 2008-03-18 | 2013-09-24 | Seiko Epson Corporation | Inspection circuit, electro-optic device, and electronic apparatus |
JP2015169760A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法、表示装置および表示装置形成基板 |
US9261742B2 (en) | 2012-01-03 | 2016-02-16 | Samsung Display Co., Ltd. | Display substrate, mother substrate for manufacturing the same and method of manufacturing the display substrate |
US10877334B2 (en) | 2018-06-27 | 2020-12-29 | Seiko Epson Corporation | Substrate for electro-optical device, electro- optical device, and electronic apparatus |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007184467A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子 |
TWI360683B (en) * | 2007-09-14 | 2012-03-21 | Chimei Innolux Corp | Display module |
CN101965606B (zh) * | 2008-03-14 | 2012-12-05 | 夏普株式会社 | 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 |
JP5433309B2 (ja) | 2009-06-03 | 2014-03-05 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP5685898B2 (ja) * | 2010-01-08 | 2015-03-18 | ソニー株式会社 | 半導体装置、固体撮像装置、およびカメラシステム |
TW201134317A (en) * | 2010-03-29 | 2011-10-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Pins assignment for circuit board |
US20130168147A1 (en) * | 2010-10-08 | 2013-07-04 | Yasuhiro Kohara | Electronic device |
JP2012208301A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Seiko Epson Corp | 液晶装置および投射型表示装置 |
JP2013235128A (ja) * | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法、及び電気光学装置用基板 |
JP2018018006A (ja) * | 2016-07-29 | 2018-02-01 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
CN109188743A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-01-11 | 惠科股份有限公司 | 显示面板的制作方法及显示装置 |
JP7370182B2 (ja) * | 2019-07-08 | 2023-10-27 | エイブリック株式会社 | 半導体装置およびその検査方法 |
CN112068338B (zh) * | 2020-09-01 | 2021-11-02 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板 |
CN113986036B (zh) * | 2021-10-12 | 2024-02-23 | 昆山国显光电有限公司 | 触控面板母板及其检测方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07333275A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
JP2004271847A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Mitsubishi Electric Corp | 画像表示装置 |
JP2005092185A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-04-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器 |
JP2005181705A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3785821B2 (ja) * | 1998-08-12 | 2006-06-14 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示パネルの検査装置および検査方法 |
JP2004205852A (ja) | 2002-12-25 | 2004-07-22 | Kyocera Corp | 液晶表示装置 |
JP2004226931A (ja) | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Kyocera Corp | 液晶表示装置 |
JP4483224B2 (ja) | 2003-08-08 | 2010-06-16 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学パネル、電気光学装置、及び電子機器 |
JP3603902B2 (ja) | 2003-09-16 | 2004-12-22 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置 |
US6940301B2 (en) * | 2003-12-12 | 2005-09-06 | Au Optronics Corporation | Test pad array for contact resistance measuring of ACF bonds on a liquid crystal display panel |
-
2006
- 2006-05-19 JP JP2006140015A patent/JP5194382B2/ja active Active
- 2006-08-02 TW TW095128360A patent/TWI305270B/zh active
- 2006-08-15 US US11/464,652 patent/US7884892B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07333275A (ja) * | 1994-06-09 | 1995-12-22 | Sharp Corp | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
JP2004271847A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Mitsubishi Electric Corp | 画像表示装置 |
JP2005092185A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-04-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器 |
JP2005181705A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7750662B2 (en) | 2007-09-25 | 2010-07-06 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and electronic apparatus |
JP2009198807A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
US7710139B2 (en) | 2008-02-21 | 2010-05-04 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and electronic apparatus |
KR101532438B1 (ko) * | 2008-02-21 | 2015-06-29 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전기 광학 장치 및 전자 기기 |
US8542028B2 (en) | 2008-03-18 | 2013-09-24 | Seiko Epson Corporation | Inspection circuit, electro-optic device, and electronic apparatus |
KR100902600B1 (ko) | 2008-05-06 | 2009-06-11 | (주)유비프리시젼 | 컨택 블록 |
US9261742B2 (en) | 2012-01-03 | 2016-02-16 | Samsung Display Co., Ltd. | Display substrate, mother substrate for manufacturing the same and method of manufacturing the display substrate |
JP2015169760A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置の製造方法、表示装置および表示装置形成基板 |
US10877334B2 (en) | 2018-06-27 | 2020-12-29 | Seiko Epson Corporation | Substrate for electro-optical device, electro- optical device, and electronic apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070040983A1 (en) | 2007-02-22 |
JP5194382B2 (ja) | 2013-05-08 |
US7884892B2 (en) | 2011-02-08 |
TW200728739A (en) | 2007-08-01 |
TWI305270B (en) | 2009-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5194382B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4211808B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP5286818B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2010223690A (ja) | フレキシブル基板、並びに電気光学装置及び電子機器 | |
JPH11202366A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
CN100414420C (zh) | 电光装置及其检查方法以及电子设备 | |
JP5104176B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2011186301A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4131283B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4945930B2 (ja) | マザー基板、電気光学装置用基板及びその製造方法、並びに電気光学装置及び電子機器 | |
JP2007041346A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4285524B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2004341216A (ja) | 電気光学装置用基板及びその製造方法、並びに該電気光学装置用基板を備えた電気光学装置及び電子機器 | |
JP4483224B2 (ja) | 電気光学パネル、電気光学装置、及び電子機器 | |
JP4207768B2 (ja) | 電気光学装置並びに電子機器 | |
JP2008058864A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
KR100830383B1 (ko) | 전기 광학 장치, 그 검사 방법, 및 전자기기 | |
JP3578165B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP4501376B2 (ja) | 電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器 | |
JP5104156B2 (ja) | 電気光学装置及びこれを備えた電子機器 | |
JP2008040290A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
KR20070023577A (ko) | 전기 광학 장치, 및 이것을 구비한 전자 기기 | |
JP5050891B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2008026771A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2012118556A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20070406 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080201 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110614 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110811 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120710 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120713 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130121 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5194382 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |