CN100414420C - 电光装置及其检查方法以及电子设备 - Google Patents
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Abstract
在液晶装置等电光装置中,能够容易地进行检查并且实现小型化。电光装置具备多个外部电路连接端子,这些外部电路连接端子在元件基板上的周边区域之中在其一边从对置基板突出的突出区域,沿着其一边排列,并被连接提供用于使多个显示元件进行图像显示的各种信号的外部电路,并且在显示检查时,被一并地提供检查用图像信号。该电光装置进一步具备多个第1检查端子,这些检查端子配置在突出区域的多个外部电路连接端子排列的边缘,并被提供对于显示检查成为在检查用图像信号以外所需要的第1检查信号。第1检查端子,与外部电路连接端子比较,以较宽的间距配置。
Description
技术领域
本发明涉及例如液晶装置等电光装置及其检查方法,以及具备该电光装置而构成的电子设备的技术领域。
背景技术
这种电光装置在一对元件基板与对置基板之间夹持电光物质而构成。在多个像素矩阵状地平面排列而构成的像素区域(或者也称作图像显示区域),在每个像素中形成包含电光物质的显示元件。另外,在元件基板或者对置基板上从平面看,对置基板以比元件基板要小的尺寸形成,在位于像素区域的周边的周边区域,沿着从对置基板突出或者露出的元件基板的一边,配置多个外部电路连接端子。向这多个外部电路连接端子提供用于在电光装置的驱动时分别选择多个显示元件而使其点亮的图像信号、控制信号、电源信号等各种信号。例如,这样的电光装置通过在包含多块元件基板的大型基板上,使对置基板与元件基板每块相对地配置,并在利用密封材料个别地粘合元件基板和对置基板而将其组装之后,将这2块大型基板各自切断成每一对元件基板和对置基板而制造出。
一般地,在这样的元件基板上的周边区域,设置检查端子,其在电光装置的制造过程中、制造后等,在安装前或者产品化前等,对电路、布线等检查断线、短路、工作时,进而检查显示元件的点亮操作时,输入输出检查信号。
在此,在专利文献1或者2中公开了这样一种结构,即在上述那样的电光装置中,为了使用廉价的检查装置而容易地进行点亮显示检查,在周边区域沿着元件基板的一边排列多个外部电路连接端子,并且在这样的外部电路连接端子的边缘配置多个检查端子。如果采用这样的结构,则在电光装置中,在驱动时,显示元件仅根据从安装在多个外部电路连接端子上的外部电路提供的驱动信号进行点亮显示,在检查时,显示元件仅根据被检查端子经由探针提供的检查信号进行点亮显示。更详细地,在驱动时,红色(R)用、蓝色(B)用以及绿色(G)用的3种图像信号被包含在多个驱动信号中进行提供,此外,在检查时,与这些图像信号对应的3种检查用的图像信号也被包含在多个检查信号中进行提供。
另一方面,如果采用专利文献3,则在电光装置中,为了实现周边区域的窄小化,而在元件基板上的周边区域,在像素区域的角部,在为了粘合元件基板和对置基板而设置的密封材料的下层侧,以从平面看与密封材料的一部分重叠的方式配置多个检查端子。该检查端子在电光装置的制造中,在元件基板和对置基板的粘合之前进行的检查时使用。
[专利文献1]特开2004-205852号公报
[专利文献2]特开2004-226931号公报
[专利文献3]特开2004-4993号公报
但是,如果采用在专利文献1或者2中公开的技术,则例如在驱动时,在代替R用、G用、B用这3种信号而将图像信号作为6相、12相...那样经过串-并转换后的信号而进行提供的情况下,与这些图像信号对应的各种检查用的图像信号在检查时被提供。因而,提供检查用的图像信号的检查端子的数量将会增加,并且需要在元件基板上确保宽阔的用于设置检查端子的区域。换句话说,在谋求元件基板的小型化的情况下,存在着将探针触及备检查端子进行检查本身在实践上极其困难的技术问题。
另一方面,如果采用在专利文献3中公开的技术,则在元件基板上的周边区域,需要在能够配置多个检查端子的程度上确保形成密封材料的区域,此外,在形成密封材料的区域的外侧,需要确保设置用于根据驱动信号驱动多个显示元件的驱动电路的区域,进而在电光装置的制造工艺中,需要沿着各元件基板的外周在大型基板上确保用于切断相邻的元件基板的区域。
发明内容
本发明就是鉴于上述问题而提出的,其目的在于提供例如可以比较容易地进行元件基板和对置基板的粘合后的检查,并能够小型化的电光装置及该电光装置的检查方法,以及具备有该电光装置的各种电子设备。
为了解决上述问题,本发明的第1电光装置具备:元件基板;对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;以及多个检查端子,其配置在上述突出区域中上述多个外部电路连接端子排列的边缘,并被提供检查信号;其中,上述多个检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较以较宽的间隔配置。
本发明的第1电光装置,通过使一对元件基板以及对置基板相对配置,并在位于元件基板以及对置基板间的像素区域的周边的周边区域,例如利用在沿着像素区域的外周的密封区域形成的密封材料使之粘合,组装而成。此外,在元件基板以及对置基板之间,在例如由密封区域包围的、多个像素阵列状地平面排列而成的“像素区域”,作为电光物质例如夹持有液晶。在元件基板上的像素区域,在每个像素中,包含例如液晶元件等显示元件而构成的像素部,例如在纵横方向上相互以间隔隔开而矩阵状地排列。各像素部,例如通过在形成于元件基板上每个像素中的像素电极、以与该像素电极相对的方式形成在对置基板上的对置电极之间夹持电光物质而形成。元件基板,以从平面看至少在其一边从对应的对置基板的一边突出或者露出的方式,例如与对置基板相比以较大的平面尺寸形成。在突出区域,沿着一边排列有多个外部电路连接端子。典型地,在以后说明的作为显示检查的粘合后检查之后,例如作为COF(Chip On Flexible printed circuit,片上挠性印刷电路)安装在包括挠性基板的布线基材上而形成的外部电路,经由FPC(Flexible Printed Circuit,挠性印刷电路)或者挠性基板或者挠性连接器等,电连接到多个外部电路连接端子。
如果采用这样构成的第1电光装置,则在其通常驱动时,从外部电路对多个外部电路连接端子提供包括图像信号以及控制信号,进而例如电源信号等的各种信号。此外,多个像素部,根据这各种信号,例如按每一行被选择,进而排列在备行上的像素部按每一列被选择,而被驱动。在这样被驱动的像素部中,例如通过向电光物质施加基于像素电极以及对置电板的各自的电位的电压,而进行图像显示。
第1电光装置,在其制造时,例如在包括多块元件基板的大型基板上,在将通过分割与其不同的大型基板而形成的对置基板对于各元件基板粘合之后,通过将大型基板个别地分割为每一对元件基板以及对置基板而形成。在利用这种制造工艺粘合第1电光装置之后,在将外部电路与多个外部电路连接端子连接之前,进行作为对与各像素部的图像显示有关的操作的检查的、典型地作为显示检查的“粘贴后的检查”。在粘合后的检查中,在电光装置中,通过与通常工作时大致同样地驱动多个像素部,而在元件基板上的像素区域,进行整个画面全面显示,即大致全部地显示以作为特定颜色的例如黑色、白色或者灰色填涂的画面,例如黑色的线条条纹状地被显示在中间色调的背景上的条纹显示。或者,与显示特定的显示画面相比,有时候还驱动各像素部,而单纯地对点缺陷或者线缺陷等进行粘贴后的检查。
在此,在第1电光装置中,特别是在元件基板上的突出区域,在外部电路连接端子的排列的边缘,配置有在这种粘合后的检查中使用的多个检查端子。更具体地,在元件基板上从平面看,在外部电路连接端子的排列的一端或者将该排列夹于中间而在其两端,排列检查端子。此外,与外部电路连接端子之间的间隔比较,多个检查端子以较宽的间隔配置。
即,一方面,多个外部电路连接端子以相对较窄的间隔配置,具有相对的窄间距。然而,在连接外部电路之前且在元件基板以及对置基板的粘合后进行的例如作为显示检查的粘合后检查时,对于在多个外部电路连接端子之中在通常工作时被提供图像信号的端子部分,可以一并地提供检查用图像信号。例如,这种一并的提供,通过跨多个外部电路连接端子的导电性橡胶来简单地进行。因而,即使间距窄到对各外部电路连接端子接触探针困难或者不可能的程度,在进行粘合后检查这方面也没有任何问题。
另一方面,虽然多个检查端子以相对较宽的间隔配置,具有相对较宽的间距,但是例如与个数随串-并转换数相应地增加的外部电路连接端子相比,以少量的个数即可实现。因而,即使以充分宽的间距配置在进行上述那样的粘合后检查时、通过使探针与各个端子接触而取得电导通的检查端子,其所需要的平面空间也不会太大。至少对于检查端子以及外部电路连接端子来说,与能够在各个端子上接触探针所需要的平面空间相比,只要明显窄的平面空间就足够了。进而,除此以外,理想的是,各检查端子以比外部电路连接端子大到能够精度良好地进行与探针的电导通的程度的平面尺寸形成。
此外,在实际的粘合后检查时,对于窄间距的多个外部电路连接端子,可以例如通过利用各向异性的导电性橡胶形成的电导通,而一并地提供检查用图像信号,并且可以向较宽间距的多个检查端子,分别例如通过探针提供检查信号。此时,更详细地,例如对于多个外部电路连接端子之中、在电光装置的驱动时从外部电路被提供图像信号的一部分端子,经由导电性橡胶提供检查用图像信号。在这样被提供信号的状态下,检查在像素部是否进行与检查用图像信号相应的图像显示。
此外,通过边对检查端子提供检查信号,边例如经由导电性橡胶对至少2个或者2个以上的相邻的外部电路连接端子一并地提供一些信号,而进行粘合后检查的方式也包括在本发明内。
另外,不仅在粘合后检查时,而且在元件基板以及对置基板的粘合前对于元件基板进行的以后说明的“粘合前的检查”时对于这样的多个检查端子的使用是任意的。
如上所述,如果采用第1电光装置,则因为无需为了提供检查用图像信号而设置检查端子,所以与在粘合后检查时仅使用检查端子那样的结构相比,可以明显地减少检查端子的数量。因而,在第1电光装置中,能够减少元件基板上的突出区域上用于配置检查端子的区域,从而实现空间节省化。其结果,能够减小元件基板的突出区域,最终可以使第1电光装置小型化。这样,比较容易地进行在连接外部电路之前的元件基板以及对置基板的粘合后的检查,并且实现装置整体的小型化。
在本发明的第1电光装置的一种方式中,在上述多个外部电路连接端子电连接上述外部电路之前且在上述元件基板以及上述对置基板的粘合之后进行的检查时,对于在该电光装置工作时成为被提供上述图像信号的端子部分,一并地提供检查用图像信号;上述多个检查端子,在上述粘合后的检查时,被提供对于上述粘合后的检查成为在上述检查用图像信号以外所需的检查信号。
如果采用该方式,则一方面,即使多个外部电路连接端子具有相对较窄的间距,但通过一并地被提供检查用图像信号,在进行粘贴后检查方面,也没有任何障碍。另一方面,多个第1检查端子,因为用相对较少的个数实现,所以在进行粘合后检查时,即使以充分宽的间距配置利用在各个端子上接触探针而取得电导通的结构,所需要的平面空间也不会太大。因而,因为不需要为了提供检查用图像信号而设置第1检查端子,所以与在粘合后检查时仅使用第1检查端子的结构相比,可以显著并且可靠地减少第1检查端子的数量。
在本发明的第1电光装置的一种方式中,上述多个检查端子,在上述多个外部电路连接端子排列的两端,排列在上述多个外部电路连接端子排列的延长线上。
如果采用该方式,则在元件基板上的突出区域,因为能够一边沿着一条边将外部电路连接端子以及检查端子排列成一列,一边以较窄间距排列前者且以较宽间距排列后者,所以可以避免增大元件基板上的突出区域的突出幅度,并且可以实现进一步的空间节省化。
为了解决上述问题,本发明的第2电光装置具备:元件基板;对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;多个第1检查端子,其配置在上述突出区域的上述多个外部电路连接端子排列的边缘,并被提供对于在上述元件基板以及上述对置基板的粘合后进行的检查成为所需的第1检查信号;以及多个第2检查端子,其至少部分地配置在上述周边区域之中处于沿着除了上述一边之外的其他边的周边部分区域的、在上述元件基板以及上述对置基板粘合后被上述对置基板覆盖的区域,并被提供对于在上述粘合前进行的检查成为所需的第2检查信号。
本发明的第2电光装置,与上述本发明的第1电光装置的结构相比较,除了作为上述多个检查端子的多个第1检查端子之外,在设置多个第2检查端子这一点,和对于外部电路连接端子以及第1检查端子无间隔限制这一点上也是不同的,除了这两点以外,基本与第1电光装置具有相同的结构。另外,本发明的第2电光装置,在通常工作时,与上述的本发明的第1电光装置同样地工作,例如在作为显示检查的粘合后的检查时,也与上述本发明的第1电光装置同样地工作。另一方面,本发明的第2电光装置,也可以实现粘合前的检查的方便性。
即,在第2电光装置中,特别是在周边区域之中沿着除了处于突出区域的一边之外的其他边的周边部分区域,至少部分地配置有多个第2检查端子。多个第2检查端子,在粘合后从平面看被对置基板覆盖,并对于粘合后检查来说不需要。向这样的多个第2检查端子,提供对于粘合前检查成为所需要的第2检查信号。更详细地,各第2检查端子,在元件基板上的周边部分区域,以在对置基板上从平面看完全被遮挡在对置基板之下,或者至少在对置基板之下被遮挡为难以探测的程度的方式被配置。各第2检查端子,因为可以利用在这样粘合后不能用探针接触到的区域并形成在其中,所以不会引起突出区域的面积的增大或者元件基板的面积的增大。
在使用这样的第2检查端子的粘合前检查时,例如在电路、布线等的导通检查、绝缘检查、工作检查等时,分别向多个第2检查端子例如经由探针提供第2检查信号。而后,根据第2检查信号进行检查。另外,例如,也可以通过将对于各像素部的选择等操作进行检查的检查电路内置在元件基板上,并向检查电路输入输出第2检查信号,来进行粘合前检查。
因而,能够避免因第2检查端子的存在而使基板上的空间狭窄的情况,并可以将第2检查端子的间距,具有冗余地扩大到可以用探针在各第2检查端子处精度良好地进行电导通的程度。进而,除此以外,与上述的第1电光装置的第1检查端子的情况同样,理想的是,各第2检查端子以比外部电路连接端子大的平面尺寸形成。
此外,在这样的粘合前的检查时,也可以经由第1检查端子提供检查信号,也可以与已经说明过的粘合后检查的情况同样,经由多个外部电路连接端子,例如通过利用导电性橡胶实现的电导通,一并地提供检查用图像信号或者其他的检查用信号。即,通过在粘合前的检查时,将第1检查端子、外部电路连接端子等与第2检查端子一同使用,换句话说,通过以在多次检查中任意使用第1检查端子、外部电路连接端子等的方式构成,能够减少作为整体在检查中所需要的端子数。
此外,在第2电光装置中,粘合后检查,与第1电光装置的情况同样,通过向第1检查端子提供第1检查信号,并向外部电路连接端子提供检查用图像信号来进行。因而,在粘合后的检查中,不使用多个第2检查端子。
如上所述,如果采用第2电光装置,则在粘合后的检查中不使用的第2检查端子,配置于在粘合后由对置基板所遮挡的周边区域,在粘合后检查中使用的第1检查端子,配置于在粘合后不会由对置基板遮挡的突出区域。这样,不仅对于粘合前的检查,而且对于粘合后的检查来说,也能够比较容易地进行,并可以实现装置整体的小型化。
在本发明的第2电光装置的一种方式中,上述多个第1检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较,以较宽的间隔配置,上述多个第2检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较,以较宽的间隔配置。
如果采用该方式,则在粘合前检查中,对于第2检查端子,能够利用探针精度良好地进行电导通,在粘合后检查中,对于第1检查端子,能够利用探针精度良好地进行电导通。而且,可以有效地避免由于第2检查端子、第1检查端子以及外部电路连接端子的存在,而使基板上的空间狭窄的情况。
在本发明的第2电光装置的另一方式中,上述元件基板,通过在包含多块上述元件基板的大型基板上,在每块上述元件基板上以与上述对置基板相对的方式粘合上述对置基板,并在上述元件基板与对置基板粘合后,将上述大型基板分割成每块上述元件基板而形成;上述多个第2检查端子之中的至少一部分,代替上述周边部分区域或者除了上述周边部分区域之外,与分割上述大型基板时被分割的位置重叠地形成。
如果采用该方式,则在大型基板上,多个第2检查端子的至少一部分至少部分地配置在沿着元件基板的外周形成的切断区域。即,各元件基板的周边部分区域至少部分地与切断区域相邻或者重叠。此外,在粘合前进行检查之后,将各元件基板与对置基板粘合,并对切断区域实施切割或者划线,而分割大型基板。在此,所谓“切割”,指利用锯等对切断区域进行切断的方式,所谓“划线”,指利用刀具等划伤切断区域并沿着该划痕分割大型基板的方式。在此,尤其还要至少部分地切断配置在切断区域的第2检查端子。即,将切断区域作为配置第2检查端子的区域有效利用。这样,在大型基板上,可以有效地利用切断区域,而进行粘合前检查并使元件基板小型化。
在本发明的第2电光装置的另一方式中,进一步具备:在上述元件基板上从平面看,在包围上述像素区域的密封区域,使上述元件基板以及上述对置基板相互粘合的密封材料;其中,上述多个第2检查端子至少部分地配置在上述密封区域内。
如果采用该方式,则多个第2检查端子至少部分地配置在密封区域内。即,周边部分区域至少部分地与密封区域重合。即,通过将密封区域作为配置第2检查端子的区域有效利用,可以进行粘合前检查,并使元件基被小型化。
在本发明的第2电光装置的另一方式中,上述多个第1检查端子,至少部分地,除了在上述粘合后的检查时之外,还在上述粘合前检查时使用;上述多个第2检查端子,是在上述粘合前的检查时被提供与第1检查信号不同的检查信号作为上述第2检查信号的端子,上述第1检查信号被提供给上述第1检查端子。
如果采用该方式,则在粘合前检查时,除了对第2检查端子提供第2检查信号之外,还向第1检查端子提供第1检查信号。另外,例如也可以将对于各像素部的选择等操作进行检查的检查电路内置于元件基板上,代替第2检查信号而用第1检查信号选择各像素部,并通过将第2检查信号输入输出到检查电路,来进行粘合前的检查。因而,在粘合前检查时,与仅向第2检查端子提供第2检查信号的情况相比,能够减少第2检查端子的数量。因此,可以实现元件基板上的进一步的空间节省化。
在本发明的第2电光装置的另一方式中,上述多个第2检查端子包括第2同种类端子,该第2同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述第2检查信号;该第2同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;上述第2检查信号之中的上述同种类的信号,在上述粘合前的检查时,从上述第2同种类端子经由上述电阻元件被提供。
如果采用该方式,则在粘合前检查时,对包含在多个第2检查端子中的第2同种类端子,提供与各种信号的至少一种同种类的信号。而且,第2同种类端子经由电阻元件与被提供同种类的信号的外部电路连接端子电气连接。因而,根据该同种类信号,能够适宜地进行与同种类的信号有关的电路部分、布线部分的导通检查、绝缘检查、工作检查等。而且,通过将电阻元件设置成相对的高电阻,可以防止在粘合前检查之后,例如在制造后、搬运时、驱动时等,从已经结束任务的第2同种类端子浸入静电,从而从第2同种类端子看破坏与电阻元件的相反侧连接的电路的现象。
在本发明的第2电光装置的另一方式中,上述多个第1检查端子包括第1同种类端子,该第1同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述第1检查信号;该第1同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;上述第1检查信号之中的上述同种类的信号,在上述粘合后的检查时,从上述第1同种类端子经由上述电阻元件被提供。
如果采用该方式,则在粘合后的检查时,对包含在多个第1检查端子中的第1同种类端子提供与各种信号的至少一种同种类的信号。而且,第1同种类端子经由电阻元件与被提供同种类的信号的外部电路连接端子电连接。因而,根据该同种类的信号,能够适宜地进行粘合后检查。而且,通过将电阻元件设置成相对的高电阻,可以防止在粘合后检查之后,例如在制造后、搬运时、驱动时等,从已经结束任务的第1同种类端子浸入静电,从而从第1同种类端子看破坏与电阻元件的相反侧连接的电路的现象。
在本发明的第1电光装置的另一方式中,上述多个检查端子包括同种类端子,该同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述检查信号;该同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;上述检查信号之中的上述同种类的信号,在上述粘合后的检查时,从上述同种类端子经由上述电阻元件被提供。
如果采用该方式,则在粘合后检查时,对包含在多个检查端子中的同种类端子提供与各种信号的至少一种同种类的信号。而且,同种类端子经由电阻元件与被提供同种类的信号的外部电路连接端子电连接。因而,根据该同种类的信号,能够适宜地进行粘合后检查。而且,通过将电阻元件设置成相对的高电阻,能够防止在粘合后检查之后,例如在制造后、搬运时、驱动时等,从已经结束任务的同种类端子浸入静电,从而从同种类端子看破坏与电阻元件的相反侧连接的电路的现象。
为了解决上述问题,本发明的电光装置的检查方法,是检查具备以下部件的电光装置的检查方法:元件基板;对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;以及多个检查端子,其配置在上述突出区域的上述多个外部电路连接端子排列的边缘;该检查方法包括:在上述元件基板以及上述对置基板的粘合之后且使上述外部电路与上述外部电路连接端子电连接之前进行的粘合后检查时,对于上述多个外部电路连接端子之中成为被提供上述图像信号的端子,一并地提供检查用图像信号的步骤;对于上述多个检查端子,为了上述粘合后检查而提供上述检查用图像信号以外的检查信号的步骤;以及作为上述粘合后检查,在上述检查用图像信号以及上述检查信号被提供的状态下,检查与上述检查用图像信号对应的图像显示是否在上述多个像素部进行的步骤。
如果采用本发明的电光装置的检查方法,则与上述本发明的第1电光装置的情况同样,在对外部电路连接端子一并地提供检查用图像信号并且对检查端子提供检查信号的状态下,检查与检查用图像信号对应的图像显示是否在多个像素部中进行。因而,即使与多个检查端子的间隔比较以较窄的间隔配置多个外部电路连接端子,也能够进行粘合后检查而没有问题。其结果,与上述的本发明的第1电光装置的情况同样,可以减小元件基板上的突出区域从而实现空间节省化,并且能够比较容易地进行粘合后检查。
在本发明的电光装置的检查方法的一种方式中,上述一并地提供检查用图像信号的步骤,使导电性橡胶与上述多个外部电路连接端子电连接,并经由该导电性橡胶一并地提供上述检查用图像信号;上述提供第1检查信号的步骤,经由探针分别向上述多个第1检查端子提供上述第1检查信号。
如果采用该方式,则在粘合后检查时,向适宜地设置成窄间距的多个外部电路连接端子,例如通过利用各向异性的导电性橡胶实现的电导通,一并地提供检查用图像信号,并例如经由探针向适宜地设置成宽间距的多个检查端子分别提供检查信号。由此,可以实现进一步的空间节省化,并容易地进行粘合后检查。尤其是通过使用比较廉价的导电性橡胶而进行电连接,可以避免对元件基板造成损伤,并且也可以良好地进行电连接。另外,因为导电性橡胶成本低,所以容易更换,从而还可以以低成本进行粘合后检查。
为了解决上述问题,本发明的电子设备具备上述本发明的第1或者第2电光装置(但是,包含其各种方式)。
本发明的电子设备,因为具备上述本发明的第1或者第2电光装置而构成,所以可以实现能够小型化的投影型显示装置、电视机、移动电话、电子记事簿、文字处理机、取景器型或者监视器直视型的摄像机、工作站、电视电话、POS终端、触摸面板等各种电子设备。
本发明的这样的作用以及其他优点可以从以下说明的实施方式中显而易见。
附图说明
图1是示出本实施方式的液晶装置的整体结构的平面图;
图2是图1的H-H’处剖面图;
图3是示出液晶装置的电学结构的方框图;
图4(a)是示出第1检查端子以及第2检查端子的结构的平面图,图4(b)是示出第1检查端子和外部电路连接端子的电学结构的图;
图5是用于说明在母基板上制造本实施方式的液晶装置的局部平面图;
图6是示出图5中由虚线A0包围的一部分的结构的局部放大平面图;
图7是对于本实施方式的比较例,示出与由图5的虚线A0包围的一部分对应的部分的结构的放大平面图;
图8是用于说明显示检查中的第1检查信号等各种信号的提供的图;
图9是示出检查电路的结构的一个例子的电路图;
图10是对于本变形例之一的结构,示出与图6对应的部分的结构的局部放大平面图;
图11是对于本变形例的另一结构,与图4(a)同样,示出第1检查端子以及第2检查端子的结构的平面图;
图12(a)至图12(c)是对于本变形例的另一结构,示出第2检查端子的配置的结构的局部放大平面图;
图13是示出作为应用了液晶装置的电子设备的一个例子的投影机的结构的平面图;
图14是示出作为应用了液晶装置的电子设备的一个例子的个人计算机的结构的透视图;以及
图15是示出作为应用了液晶装置的电子设备的一个例子的移动电话的结构的透视图。
符号说明
10:TFT阵列基板;10a:图像显示区域;20:对置基板;50:液晶层;102:外部电路连接端子;103a:第1检查端子;103b:第2检查端子。
具体实施方式
参照附图说明本发明的实施方式。以下的实施方式是将本发明的电光装置应用到液晶装置中的实施方式。
<1:液晶装置的整体结构>
首先,参照图1至图3说明本实施方式的液晶装置的整体结构。
图1是从对置基板侧看的液晶装置的平面图,图2是图1的H-H’处剖面图。在图1以及图2中,液晶装置由相对配置的、作为本发明的“元件基板”的一个例子的TFT阵列基板10、对置基板20构成。在图1中,用虚线200包围的区域表示对置基板20相对TFT阵列基板10的配置例子。TFT阵列基板10,在将对置基板20以及TFT阵列基板10相对配置的状态下,以从平面看(即,在图1中)TFT阵列基板10的至少一边从对应的对置基板20的一边突出或者露出的方式,以与对置基板20相比较要大的平面尺寸形成。
另外,在TFT基板10和对置基板20之间封入有液晶层50,TFT阵列基板10和对置基板20,利用设置在位于图像显示区域10a的周围的密封区域的密封材料52相互粘接。由此,在TFT阵列基板10以及对置基板20之间,在由密封材料52包围的图像显示区域10a,封入液晶层50。
密封材料52,由用于粘合两个基板的例如紫外线硬化树脂、热硬化树脂等构成,在制造工艺中,在其被涂抹到TFT阵列基板10上之后,通过紫外线照射、加热等使其硬化。另外,在密封材料52中,散布有用于使TFT阵列基板10和对置基板20的间隔(基板间间隙)成为规定值的玻璃纤维或者玻璃珠等间隙材料。
与配置有密封材料52的密封区域的内侧并行地,在对置基板20侧设置有规定图像显示区域10a的边缘区域的遮光性的边缘遮光膜53。但是,这样的边缘遮光膜53的一部分或者全部也可以作为内置遮光膜设置在TFT阵列基板10侧。
在TFT阵列基板10上的位于图像显示区域10a的周边的周边区域,沿着TFT阵列基板10的从对置基板20突出的一边设置有数据线驱动电路101以及多个外部电路连接端子102。另外,沿着这一边,在外部电路连接端子102的排列的边缘,设置有多个第1检查端子103a。即,在图1中,在沿着TFT阵列基板10的下边横向长条状地延伸的突出区域,排列有多个第1检查端子103a。这多个第1检查端子103a,例如如图1所清晰地示出的,将外部电路连接端子102的排列夹于中间而排列在其两端。此外,第1检查端子103a也可以沿着TFT阵列基板10的一边,仅排列在外部电路连接端子102排列的边缘(即,在图1中仅右端或者仅左端)。进而,与多个外部电路连接端子102,电连接安装有例如通过安装在COF上而形成的外部电路。
另外,沿着与排列有外部电路连接端子102等的TFT阵列基板10的一边相邻的2边,以被边缘遮光膜53覆盖的方式设置有扫描线驱动电路104。此外,因为将这样设置在图像显示区域10a的两侧的二个扫描线驱动电路104之间连接起来,所以沿着TFT阵列基板10的剩下的一边,并且以被边缘遮光膜53覆盖的方式设置有多条布线105。
进而,沿着配置有扫描线驱动电路104的TFT阵列基板10的2边之一或者其两边,排列设置多个第2检查端子103b。即,在图1中沿着TFT阵列基板10的右边纵向延伸的、作为本发明的“周边部分区域”的一个例子的带状区域,排列有多个第2检查端子103b。在图1中,示出了将第2检查端子103b设置在TFT阵列基板10的2边中的一边上的结构。多个第2检查端子103b,从平面看(即,在图1中),各自至少一部分配置在TFT阵列基板10上的周边区域中被对置基板20覆盖或者遮挡的带状区域。由此,在TFT阵列基板10上的带状区域,多个第2检查端子103b,在对置基板20上从平面看,分别在对置基板20的下方,以部分被遮挡为在后述那样的检查时探测(probing)困难的程度的方式被配置。
另外,在TFT阵列基板10上,配置有用于确保与对置基板20的电导通的上下导通端子106。
在图2中,在TFT阵列基板10上,在像素开关用TFT、各种布线等的上方形成有像素电极9a,进而在其上方形成有取向膜。另一方面,在对置基板20上的图像显示区域10a,形成有隔着液晶层50与多个像素电极9a相对的对置电极21。此外,在TFT阵列基板10上的图像显示区域10a,在每个像素中,在像素电极9a和对置电极21之间夹持液晶层50而构成显示元件,即,在每个像素中构成像素部。此外,通过在像素电极9a以及对置电极21之间施加电压,而使显示元件进行图像显示。在该对置电极21上,形成有格子状或者条纹状的遮光膜23,进而在其上覆盖有取向膜。液晶层50,例如由一种或者多种向列液晶混合成的液晶构成,并且其在这一对取向膜间形成规定的取向状态。
进而,虽然在图1或者图2中未图示,但在TFT阵列基板10上,除了数据线驱动电路101、扫描线驱动电路104等之外,还如后述那样形成有对图像信号线上的图像信号进行采样而提供给数据线的采样电路、用于检查制造过程中、出厂时的该液晶装置的品质、缺陷等的检查电路。在本实施方式中,除了这样的各种电路之外,还可以进一步形成有在向多条数据线提供图像信号之前分别提供规定电压电平的预充电信号的预充电电路等。
另外,在对置基板20的入射光入射的一侧以及TFT阵列基板10的出射光射出的一侧,例如分别与TN(Twisted Nematic,扭曲向列)模式、STN(supper TN,超扭曲向列)模式、D-STN(Double STN,双层超扭曲向列)模式等动作模式、常白模式/常黑模式等的各个相对应地以规定的方向配置偏振光膜、相位差膜、偏振光板等。
以下,参照图3说明上述的液晶装置的电学结构。图3是示出液晶装置的电学结构的方框图。在图3中,液晶装置的结构是,TFT阵列基板10和对置基板20(在此未图示)隔着液晶层相对配置,并且控制对在图像显示区域10a分区排列的显示元件的像素电极9a施加的电压,针对每个像素调制对液晶层施加的电场。由此,控制两基板间的透过光量,从而对图像进行灰度显示。此外,在本实施方式中,假设该液晶装置采用TFT有源矩阵驱动方式。
在TFT阵列基板10的图像显示区域10a,形成相互交叉地排列的多条扫描线2以及多条数据线3,并与扫描线2以及数据线3的交叉对应地在每个像素中配置显示元件。由此,显示元件的像素电极9a,在TFT阵列基板10上的图像显示区域10a,与相邻的像素电极9a相互以间隔隔开,而矩阵状地排列。
此外,虽然在图3中未图示,但形成有作为像素开关元件的TFT、用于维持对像素电极9a施加的电压的存储电容,其中的像素开关根据经由扫描线2分别提供的扫描信号控制在各像素电极9a和数据线3的电路径上的导通、非导通。像素开关元件,除了TFT外,也可以利用各种晶体管或者TFD等构成。
另外,在图像显示区域10a的周边区域,除了图1所示的数据线驱动电路101等之外,沿着设置有布线105的TFT阵列基板10的一边进一步形成有检查电路201,布线105用于将2个扫描线驱动电路104之间电连接。
在本实施方式中,在液晶装置的驱动时,作为本发明的“各种信号”的一个例子,从外部电路向图1或者图2所示的外部电路连接端子102提供用于驱动数据线驱动电路101以及扫描线驱动电路104的时钟信号CLX、CLY等定时信号、图像信号VID或者对置电极电位LCC。
数据线驱动电路101以根据从外部电路连接端子102提供的、规定周期的X侧时钟信号CLX(及其反相信号CLXinv)、X启始脉冲DX,从各级开始依次生成并输出采样信号Si(i=1,...,n)的方式构成。
另外,采样电路7包含多个设置在数据线3上的采样开关71而形成。各采样开关71例如由P沟道型或者N沟道型的单沟道型TFT或者互补型的TFT形成。另外,各采样开关71,对图3所示的图像信号线6,根据从数据线驱动电路101输出的采样信号Si对从外部电路连接端子102提供的图像信号VID进行采样,并提供给对应的数据线3。由此,矩阵状地配置的多个像素电极9a,通过其每列被提供图像信号VID,而在数据线3的排列方向上被选择而被驱动。
在此,图像信号VID,例如在外部电路中被串-并展开(即,相展开)为6相、12相、...,进一步其电压的极性相对基准电位被反向为正极性(+)或者负极性(-),并被提供给外部电路连接端子102。而后,这样被相展开后的图像信号VID,经由与这些图像信号VID的数量对应地形成的多个图像信号线6,输入到采样电路7。这样,对于多个图像信号线6,如果同时提供对串行的图像信号进行转换而得到的并行的图像信号,则可以按每组来进行对数据线3的图像信号输入,从而能够抑制驱动频率。此外,在图3中,为了简单而将图像信号线6的数量图示为1条,并且对于相展开后的图像信号VID的提供的详细构成,省略了图示。
另外,扫描线驱动电路104,为了根据图像信号以及扫描信号、在扫描线2的排列方向上按每一行垂直扫描矩阵状地配置的多个像素电极9a,以如下所述进行驱动的方式构成。即,从外部电路连接端子102向扫描线驱动电路104提供作为扫描信号施加的基准时钟的Y侧时钟信号CLY及其反相信号CLYinv、2种Y启始脉冲DYL或者DYR,进而还有2种启用信号ENBY1以及ENBY2。而后,扫描线驱动电路104,根据Y侧时钟信号CLY及其反相信号CLYinv、2种Y启始脉冲DYL或者DYR生成扫描信号,并以基于2种启用信号ENBY1以及ENBY2的每一个的定时,向多条扫描线2依次施加扫描信号。此时,在图3中,从两端同时向各扫描线2施加电压。
此外,在本实施方式中,扫描线驱动电路104,以根据2种Y启始脉冲DYL以及DYR,在图3中从上向下的方向以及从下向上的方向这两个方向上对多个像素电极9a按每一行进行垂直扫描的方式构成。另外,扫描线驱动电路104,以被从外部电路经由外部电路连接端子102提供的2种电源VDD以及VSS所驱动的方式构成。
进而,从外部电路连接端子102向从上下导通端子106引出的信号线提供对置电极电位LCC。对置电极电位LCC,从上下导通端子106被提供给对置电极21。对置电极电位LCC适当地保持与像素电极9a的电位差,而处于用于形成液晶保持电容的对置电极21的基准电位。
<2:第1检查端子以及第2检查端子的结构>
以下,除了图1至图3之外,还参照图4至图6进一步详细说明第1检查端子103a以及第2检查端子103b的结构。图4(a)是示出第1检查端子103a以及第2检查端子103b的结构的平面图,图4(b)是示出第1检查端子103a和外部电路连接端子102的电学结构的图。
另外,图5是用于说明在母基板上制造本实施方式的液晶装置的局部平面图,图6是示出图5中由虚线A0包围的一部分的结构的局部放大平面图。
在本实施方式中,在液晶装置的制造工艺中,在通过粘合TFT阵列基板10以及对置基板20等进行组装之后,在外部电路连接或者安装到多个外部电路连接端子102之前,进行对于各显示元件的作为本发明的“粘合后检查”的一个例子的显示检查。另外,在本实施方式中,除了这种显示检查外,在TFT阵列基板10以及对置基板20的粘合前,作为各显示元件的驱动的电学检查,还例如进行扫描线2或者数据线3的有无断线或者短路、用于确认数据线驱动电路101、扫描线驱动电路104等的动作的各种检查。
在本实施方式中,在显示检查时以及粘合前检查时使用多个第1检查端子103a,在粘合前检查时使用多个第2检查端子103b。
图4(a)示出了多个第1检查端子103a和多个第2检查端子103b的结构、这些第1和第2检查端子103a和103b以及对置基板20和形成密封材料52的密封区域52a的配置关系。而且,在图4(a)中,与图1同样,用由虚线200包围的区域表示对置基板20的配置例子。
在图4(a)中,在显示检查时以及粘合前检查时,将用于按每一行或者每一列选择多个显示元件的各种信号,作为第1检查信号,提供给沿着从对置基板20突出的TFT阵列基板10的一边排列的第1检查端子103a。在本实施方式中,将与提供给外部电路连接端子102的信号同种的、用于驱动扫描线驱动电路104的Y侧时钟信号CLY及其反相信号CLYinv、2种Y启始脉冲DYL或者DYR、还有2种启用信号ENBY1以及ENBY22种电源VDD以及VSS的每一个作为第1检查信号提供给多个第1检查端子103a。
在此,在图4(b)中,示出了在多个第1检查端子103a之中被输入Y启始脉冲DYL或者DYR(DY)的第1检查端子103a以及外部电路连接端子102的电学结构。
如图4(b)所示,相互被输入同种Y启始脉冲DY的第1检查端子103a以及外部电路连接端子102,经由电阻元件73电连接。另外,被提供给第1检查端子103a的Y启始脉冲DY,经由电阻元件73被提供给扫描线驱动电路104。此外,电阻元件73,例如由导电性多晶硅等导电材料,以电阻值为例如2kΩ~3kΩ左右的方式形成。
此外,在本实施方式中,对于在多个第1检查端子103a之中,被提供Y侧时钟信号CLY及其反相信号CLYinv、2种启用信号ENBY1以及ENBY2、电源VDD以及VSS的其他第1检查端子103a,也与被输入Y启始脉冲DY的第1检查端子103a同样地构成。由此,在显示检查时或者粘合前检查时,能够利用被提供给第1检查端子103a的各种信号,与产品完成后的通常驱动时同样地驱动扫描线驱动电路104。
因而,在本实施方式中,因为不需要为了对各显示元件的驱动进行检查而与液晶装置的驱动的布线等不同地形成新的布线等,来设置电学电路,所以可以使TFT阵列基板10小型化。另外,对于被提供同种信号的外部电路连接端子102以及第1检查端子103a,通过将电阻元件73与第1检查端子103a电连接,而将第1检查端子103a侧设置成高电阻,可以防止液晶装置的制造后,在运输时、驱动时等,从不使用的第1检查端子103a浸入静电而破坏扫描线驱动电路104的现象。
另外,多个外部电路连接端子102,各自以与相邻的外部电路连接端子102的间隔d0成为在显示检查时或者粘合前检查时、用探针进行电导通困难的程度的值的方式进行排列。例如,多个外部电路连接端子102,各自相邻的外部电路连接端子102的间隔d0为50μm左右,而排列。由此,例如即使在因串-并展开数多等而使外部电路连接端子102的总个数较多的情况下,也可以将外部连接端子102的排列长度抑制在规定值或以下。
另外,各第1检查端子103a,以相邻的第1检查端子103a的间隔d1a,与多个外部电路连接端子102的排列中相邻的外部电路连接端子102的间隔d0相比较,大到能够用探针精度良好地进行电导通的程度的方式进行排列。例如,多个第1检查端子103a,各自相邻的第1检查端子103a的间隔d1a成为100μm左右,而排列。进而,除此之外,各第1检查端子103a,在能够精度良好地进行与探针的电导通的程度上,以比外部电路连接端子102大的尺寸形成。
另外,在粘合前检查时,在驱动了扫描线驱动电路104的情况下,向多个第2检查端子103b,作为第2检查信号输入从扫描线驱动电路104的最后一级输出的结束脉冲YEP、用于驱动图3所示的检查电路201的检查用驱动信号TX1和TX2以及从检查电路201输出的输出信号CX(CX1,CX2,...,CX8)的各个,其中该多个第2检查端子103b,在图4(a)中,在对置基板20上从平面看,配置在TFT阵列基板10上的周边区域中被对置基板20覆盖的带状区域。
此外,多个第2检查端子103b,分别与第1检查端子103a同样地,以相邻的第2检查端子103b的间隔d1b与多个外部电路连接端子102的排列中相邻的外部电路连接端子102的间隔d0相比较、大到能够用探针精度良好地进行电导通的程度的方式进行排列。例如,多个第2检查端子103b,各自相邻的第2检查端子103b的间隔d1b为100μm左右而进行排列。进而,除此之外,与第1检查端子103a同样,各第2检查端子103b以比外部电路连接端子102大的尺寸形成。
在此,假设本实施方式的液晶装置,采取在图5所示的母基板S上一次形成多个的方式。即,在母基板S上,液晶装置以纵横分别矩阵状地排列的方式形成,并且在各液晶装置中,分别形成参照图1至图4说明的那样的各种构成要素(TFT、扫描线2、数据线3等,或者扫描线驱动电路104、数据线驱动电路101等)。
顺便说明,图5中所示的母基板S包含多个图1以及图2所示的TFT阵列基板10。即,在图5所示的母基板S上,形成TFT阵列基板10侧的各种构成要素,与此不同,在图5中未图示的玻璃基板上,形成对置电极21、取向膜等等,从而形成多个对置基板20,并个别地分割各对置基板20。而后,使形成于母基板S上的各TFT阵列基板10各自与对置基板20相对,并对于一对TFT阵列基板10以及对置基板20,在个别地用密封材料52使之粘合之后,在TFT阵列基板10以及对置基板20之间封入液晶。其后,通过分割母基板S,而制造出图1以及图2所示那样的各单独的液晶装置。
在此,如图6所示,沿着母基板S上的各TFT阵列基板10的外周设置切断区域Ct。而后,通过对切断区域Ct实施切割或者划线来分割母基板S。
另外,如图4或者图6所示,在TFT阵列基板10上的带状区域,多个第2检查端子103b,在TFT阵列基板10上从平面看,分别配置在与密封材料52所形成的密封区域52a分离的位置。或者,多个第2检查端子103b,从TFT阵列基板10上从平面看,也可以分别以至少部分地与密封区域52a分离的方式配置。
因而,在母基板S上,在各TFT阵列基板10上,可以相对于在相邻的TFT阵列基板10上形成的密封材料52,以间隔隔开而配置密封材料52。
在此,图7是对于本实施方式的比较例,示出与图5的由虚线A0包围的一部分对应的部分的放大平面图。在图7中,在TFT阵列基板10上的带状区域,多个第2检查端子103b,在TFT阵列基板10上从平面看,分别配置在与密封材料52所形成的密封区域52a重叠的位置。
在母基板S上,在粘合TFT阵列基板10以及对置基板20时,会对TFT阵列基板10以及对置基板20的各自的与相对面相反侧的面施加规定的压力,而将间隙维持在规定值。此时,如果采用图7所示的结构,则在相邻的TFT阵列基板10上,有可能会分别从密封区域52a流出密封材料52而接触,并在这样的接触的状态下硬化。因而,在图7的比较例中,理想的是,将相互相邻的密封材料52隔开到即使二者流出也不会接触的程度。
在本实施方式中,在母基板S上,在相邻的TFT阵列基板10上,因为能够分别相互以间隔隔开而形成密封材料52,所以可以防止在这些TFT阵列基板10之间密封材料52接触而硬化的情况。
此外,除了向多个第1检查端子103a提供用于驱动扫描线驱动电路104的信号作为第1检查信号之外,或者代之,还可以提供用于驱动数据线驱动电路101的信号。
另外,除了向多个第2检查端子103b提供上述各种信号作为第2检查信号之外,或者代之,还可以分别提供用于驱动扫描线驱动电路104的信号、用于驱动数据线驱动电路101的信号等。此外,粘合前检查,也可以不使用第1检查端子103a,而使用第2检查端子103b来进行。
<3:液晶装置的检查>
以下,除了图1至图4之外,还参照图8和图9,说明液晶装置中的显示检查以及粘合前检查。图8是用于说明显示检查中的第1检查信号等各种信号的供给的图,图9是示出检查电路201的结构的一个例子的电路图。
首先,说明在液晶装置中进行的显示检查。在本实施方式中,在显示检查时,在液晶装置的图像显示区域10a,通过作为特定的图像显示,例如进行整个画面固定亮度显示、条纹显示等,对点缺陷、线缺陷等进行检查。在此,与显示特定的显示画面相比,有时候也可以单纯地驱动各显示元件而对点缺陷、线缺陷等进行检查。
在本实施方式中,使用多个外部电路连接端子102以及多个第1检查端子103a来进行显示检查。此外,在显示检查时,如图8所示,对于多个外部电路连接端子102,例如电连接各向异性的导电性橡胶Gm,从而一并地进行电导通。另外,对于多个第1检查端子103a,分别例如利用探针Pr进行电导通。这样,通过使用比较廉价的导电性橡胶进行电连接,而避免对TFT阵列基板造成损伤,并且可以良好地进行电连接。另外,因为导电性橡胶成本低,所以也容易更换,从而能够以低成本进行检查。
此时,经由导电性橡胶Gm,向多个外部电路连接端子102一并地提供检查用图像信号。另外,通过利用导电性橡胶Gm进行的电导通,来驱动数据线驱动电路101,并提供对置电极电位LCC。
另外,在显示检查时,分别经由探针Pr向多个第1检查端子103a提供用于驱动扫描线驱动电路104的各种信号,作为第1检查信号。由此,驱动扫描线驱动电路104,并向各扫描线2提供扫描信号。
因而,在显示检查时,多个显示元件,根据扫描信号,按每一行被选择出,并根据经由数据线3提供的检查用图像信号,按每一列进行图像显示。
接着,说明粘合前检查。此外,在粘合前,在TFT阵列基板10上,处于各显示元件的像素电极9a被形成于图像显示区域10a,并且还未形成显示元件的状态。
以下,作为粘合前检查例子,说明与扫描线驱动电路104的动作的确认有关的检查,和与数据线3的断线的有无有关的检查。
首先,在确认扫描线驱动电路104的动作的检查中,分别经由探针向多个第1检查端子103a提供用于驱动扫描线驱动电路104的各种信号,作为第1检查信号。由此,驱动扫描线驱动电路104,并输出结束脉冲YEP,作为第2检查信号提供给第2检查端子103b。
另外,与数据线3的断线的有无有关的检查,利用检查电路201来进行。在此,参照图9说明检查电路201的结构的一个例子。
在图9中,在检查电路201中,形成有与多个数据线3对应地、例如利用单沟道型TFT分别形成的多个开关元件75。各开关元件75,其源电连接到数据线3,其栅电连接到被提供检查用驱动信号TX1的信号线210a以及被提供检查用驱动信号TX2的信号线210b之一。另外,各开关元件75的漏电连接到8条输出信号线212-1、212-2、...、212-8(212)之一。
在此,在本实施方式中,当在图3中与采样信号Si的输出顺序对应地依次数多个数据线3的情况下,向与位于偶数号的数据线3电连接的开关元件75分别经由信号线210a提供检查用驱动信号TX1,并向与位于奇数号的数据线3电连接的开关元件75分别经由信号线210b提供检查用驱动信号TX2。
另外,多个开关元件75,以每8个地与8条输出信号线212-1、212-2、...、212-8电连接的方式构成。
此外,在检查时,对信号线210a以及210b之一,经由第2检查端子103b,通过利用探针进行的电导通,提供检查用驱动信号TX1以及TX2之一。由此,与奇数号以及偶数号之一的数据线3对应的开关元件75成为导通(ON)状态。
另外,与显示检查同样,向多个外部电路连接端子102,例如经由导电性橡胶Gm一并地提供检查用图像信号,并驱动数据线驱动电路101。另外,与显示检查同样,向多个第1检查端子103a提供用于驱动扫描线驱动电路104的各种信号,作为第1检查信号,从而驱动扫描线驱动电路104。
其结果,各数据线3,通过被驱动而成为与检查用图像信号相应的电位。此外,具有该数据线3的电位的检查信号,被输入到成为导通状态的开关元件75的源,进而,输出信号CX从开关元件75输出到对应的输出信号线212。
此外,在以上说明的显示检查或者粘合前检查中,也可以向多个外部电路连接端子102之中、在液晶装置的驱动时被提供图像信号VID的一部分,经由导电性橡胶提供检查用图像信号,并向第1检查端子103a,除了用于驱动扫描线驱动电路104的信号之外或者代之,还提供用于驱动数据线驱动电路101的信号,作为第1检查信号,从而除了扫描线驱动电路104之外或者代之,还驱动数据线驱动电路101。
另外,在粘合前检查中,也可以根据被提供给第2检查端子103b的第2检查信号,驱动扫描线驱动电路104或者数据线驱动电路101。
因而,在以上说明的本实施方式中,因为不需要为了提供检查用图像信号而设置第1检查端子103a,所以与在显示检查时仅使用第1检查端子103a的结构相比,可以减少第1检查端子103a的数量。
另外,在对置基板20上从平面看,在作为粘合后的检查的显示检查中未使用的第2检查端子103b,配置在TFT阵列基板10上的带状区域,且在作为粘合后的检查的显示检查中使用的第1检查端子103a,配置在从对置基板20突出的TFT阵列基板10上的周边区域的一部分。进而,除此之外,在粘合前检查时,通过使用第1检查端子103a以及第2检查端子103b,而与仅使用第2检查端子103b的情况相比,能够减少第2检查端子103b的数量。因而,在TFT阵列基板10的周边区域,能够减小用于配置第2检查端子103b的区域。
因而,在本实施方式中,在液晶装置中,在从TFT阵列基板10上的从对置基板20突出的部分,减少了用于配置第1检查端子103a的区域,并且如上所述,通过使用第1检查端子103a以及第2检查端子103b,而在带状区域,也能够实现空间节省化。其结果,能够使液晶装置小型化。
<4:变形例>
除了图1至图9之外,还参照图10至图12说明以上说明的本实施方式的变形例。
首先,参照图10说明本变形例之一的结构。图10是对于本变形例之一的结构,示出与图6对应的部分的结构的局部放大平面图。
多个第2检查端子103b,在图6的TFT阵列基板10上的带状区域,在TFT阵列基板10上从平面看,分别配置在至少部分与密封区域52a分离的位置。在这样构成的情况下,也与图6所示的结构同样,在母基板S上,因为能够在相邻的TFT阵列基板10上分别相互以间隔隔开而形成密封材料52,所以可以防止在这些TFT阵列基板10之间因密封材料52接触而硬化的现象。
以下,参照图11以及图12说明本变形例的另一结构。图11是对于本变形例的另一结构,与图4(a)同样,示出第1检查端子以及第2检查端子的结构的平面图,图12(a)到图12(c)是对于本变形例的另一结构,示出与图6对应的部分的与第2检查端子的配置有关的结构的局部放大平面图。进而,在图12(a)至图12(c)中,对于在母基板S上相邻的TFT阵列基板10,分别示出与第2检查端子的配置有关的结构。
首先,如图11所示,在TFT阵列基板10上的带状区域,多个第2检查端子103b,也可以沿着与排列有外部电路连接端子102等的TFT阵列基板10的一边相邻的2边而排列。
在此,在如参照图1或者图4(a)说明的那样、多个第2检查端子103b沿着与排列有外部电路连接端子102等的TFT阵列基板10的一边相邻的2边之一而排列的情况下,在母基板S上相邻的TFT阵列基板10L以及10R之中,在图12(a)中,形成在配置于左侧的TFT阵列基板10L上的多个第2检查端子103bl的至少一部分,在母基板S上至少部分地配置在切断区域Ct。此外,虽然在图12(a)中未图示,但在该图中,理想的是对形成在配置于右侧的TFT阵列基板10R上的第2检查端子103b,也与配置于左侧的TFT阵列基板10L的第2检查端子103bl同样地配置。
或者,在如图11所示、多个第2检查端子103b将图像显示区域10a夹于中间而沿着位于其两侧的TFT阵列基板10的2边而排列的情况下,在图12(b)中,在母基板S上相邻的TFT阵列基板10L以及10R之中,形成在配置于左侧的TFT阵列基板10L的一边的第2检查端子103bl之中的至少一部分配置在切断区域Ct,并且与这些第2检查端子103bl一同排列、形成在配置于右侧的TFT阵列基板10R的一边的第2检查端子103br之中的至少一部分配置在切断区域Ct。
进而,在多个第2检查端子103b将图像显示区域10a夹于中间而沿着TFT阵列基板10的2边而排列的情况下,在图12(c)中,在母基板S上相邻的TFT阵列基板10L以及10R之中,形成在配置于左侧的TFT阵列基板10L的一边的第2检查端子103bl之中的至少一部分配置在切断区域Ct,并且形成在配置于右侧的TFT阵列基板10R的一边的第2检查端子103br之中的至少一部分配置在切断区域Ct。此外,配置在切断区域Ct的、左侧的TFT阵列基板10L的第2连接端子103bl以及右侧的TFT阵列基板10R的第2连接端子103br分别每1个交错地排列。
如上所述,如果采用图12(a)至图12(c)所示的结构,则分别配置在切断区域Ct的第2检查端子103bl以及103br的每一个,在分割母基板S时,其至少一部分被切断。由此,在液晶装置中,多个第2检查端子103b之中的至少一部分,在排列有第2检查端子103b的TFT阵列基板10的一边被切断而形成。因而,如果采用这样的结构,则通过在母基板S上有效地利用切断区域Ct,可以使TFT阵列基板10小型化。
<5:电子设备>
以下,说明上述的液晶装置被应用于各种电子设备的情况。
<5-1:投影机>
首先,说明将该液晶装置作为光阀使用的投影机。图13是示出投影机的结构例子的平面图。如该图所示,在投影机1100内部,设置有由卤素灯等白色光源构成的灯单元1102。从该灯单元1102射出的投射光被设置在光导向体1104内的4块反射镜1106以及2块分色镜1108分离成RGB 3原色,并入射到作为与各原色对应的光阀的液晶面板1110R、1110B以及1110G。
液晶面板1110R、1110B以及1110G的结构与上述的液晶装置相同,分别用从外部电路(省略图示)提供给外部电路连接端子102的R、G、B的原色信号驱动。此外,由这些液晶面板调制过的光从3个方向入射到分色棱镜1112。在该分色棱镜1112中,R以及B光折射90度,另一方面G光则直线前进。因而,各颜色的图像被合成的结果,经由投影透镜1114将彩色图像投影到屏幕上。
在此,如果着眼于由各液晶面板1110R、1110B以及1110G形成的显示像,则由液晶面板1110G形成的显示像需要相对于由液晶面板1110R、1110B形成的显示像左右反转。
此外,因为与R、G、B各原色对应的光通过分色镜1108入射到液晶面板1110R、1110B以及1110G,所以不需要设置滤色器。
<5-2:便携式计算机>
以下,说明将液晶装置应用于便携式个人计算机中的例子。图14是示出该个人计算机的结构的透视图。
在图14中,计算机1200由具备有键盘1202的主体部1204、液晶显示单元1206构成。该液晶显示单元1206,通过在上述的液晶装置1005的背面附加背光源而构成。
<5-3:移动电话>
进一步说明将该液晶面板应用于移动电话的例子。图15是示出该移动电话的结构的透视图。
在图15中,移动电话1300具有多个操作控钮1302以及半透过反射型的液晶装置1005。在该半透过反射型的液晶装置1005中,根据需要在其背面设置背光源。
此外,除了参照图13至图15说明的电子设备之外,还可以列举出液晶电视、取景器型或监视器直视型的摄像机、汽车导航装置、寻呼机、电子记事簿、电子计算器、文字处理机、工作站、可视电话、POS终端、具备有触摸面板的装置等。此外,当然也可以应用于这各种电子设备。
本发明并不限于上述的实施方式,在不违背从权利要求的范围以及说明书整体获得的本发明的主旨或者思想的范围内可以适宜地变更,伴随着这种变更的电光装置及其检查方法,以及具备这种电光装置的电子设备也包括在本发明的技术范围内。
此外,作为应用本发明的电光装置,除了上述的实施方式的液晶装置以外,还可以列举出LCOS等反射型液晶装置、等离子显示器、电子发射显示器、电泳显示器等。
Claims (13)
1. 一种电光装置,其特征在于,具备:
元件基板;
对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;
多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;
多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;以及
多个检查端子,其配置在上述突出区域的上述多个外部电路连接端子排列的边缘,并被提供检查信号;
其中,上述多个检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较以更宽的间隔配置;
在上述多个外部电路连接端子电连接上述外部电路之前且在上述元件基板以及上述对置基板的粘合之后进行的检查时,对于在该电光装置工作时成为被提供上述图像信号的端子部分,一并地提供检查用图像信号;
上述多个检查端子,在上述粘合后的检查时,被提供对于上述粘合后的检查成为在上述检查用图像信号以外所需的检查信号。
2. 如权利要求1所述的电光装置,其特征在于:上述多个检查端子,在上述多个外部电路连接端子排列的两端,排列在上述多个外部电路连接端子排列的延长线上。
3. 如权利要求1或2所述的电光装置,其特征在于:
上述多个检查端子包括同种类端子,该同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述检查信号;
该同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;
上述检查信号之中的上述同种类的信号,在上述元件基板以及上述对置基板的粘合后进行的粘合后的检查时,从上述同种类端子经由上述电阻元件被提供。
4. 一种电光装置,其特征在于,具备:
元件基板;
对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;
多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;
多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;
多个第1检查端子,其配置在上述突出区域的上述多个外部电路连接端子排列的边缘,并被提供对于在上述元件基板以及上述对置基板的粘合后进行的检查成为所需的第1检查信号;以及
多个第2检查端子,其至少部分地配置在上述周边区域之中处于沿着除了排列有上述多个外部电路连接端子的一边之外的其他边的周边部分区域的、在上述元件基板以及上述对置基板粘合后被上述对置基板覆盖的区域,并被提供对于在上述粘合前进行的检查成为所需的第2检查信号。
5. 如权利要求4所述的电光装置,其特征在于:
上述多个第1检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较,以较宽的间隔配置;
上述多个第2检查端子,与上述多个外部电路连接端子之间的间隔比较,以较宽的间隔配置。
6. 如权利要求4或者5所述的电光装置,其特征在于:
上述元件基板,通过在包含多块上述元件基板的大型基板上,在每块上述元件基板上以与上述对置基板相对的方式粘合上述对置基板,并在上述元件基板与对置基板粘合后,将上述大型基板分割成每块上述元件基板而形成;
上述多个第2检查端子之中的至少一部分,代替上述周边部分区域或者除了上述周边部分区域之外,与分割上述大型基板时被分割的位置重叠地形成。
7. 如权利要求4或5所述的电光装置,其特征在于,进一步具备:
在上述元件基板上从平面看,在包围上述像素区域的密封区域,使上述元件基板以及上述对置基板相互粘合的密封材料;
其中,上述多个第2检查端子至少部分地配置在上述密封区域内。
8. 如权利要求4或5所述的电光装置,其特征在于:
上述多个第1检查端子,至少部分地,除了在上述粘合后的检查时之外,还在上述粘合前的检查时使用;
上述多个第2检查端子,是被提供与第1检查信号不同的检查信号作为上述第2检查信号的端子,上述第1检查信号在上述粘合前的检查时被提供给上述第1检查端子。
9. 如权利要求4或5所述的电光装置,其特征在于:
上述多个第2检查端子包括第2同种类端子,该第2同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述第2检查信号;
该第2同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;
上述第2检查信号之中的上述同种类的信号,在上述粘合前的检查时,从上述第2同种类端子经由上述电阻元件被提供。
10. 如权利要求4或5所述的电光装置,其特征在于:
上述多个第1检查端子包括第1同种类端子,该第1同种类端子被提供与上述各种信号的至少一种同种类的信号作为上述第1检查信号;
该第1同种类端子,经由电阻元件与上述多个外部电路连接端子之中被提供上述各种信号的至少一种的上述外部电路连接端子电连接;
上述第1检查信号之中的上述同种类的信号,在上述粘合后的检查时,从上述第1同种类端子经由上述电阻元件被提供。
11. 一种电光装置的检查方法,是检查具备以下部件的电光装置的检查方法:元件基板;对置基板,其以上述元件基板的一部分在突出区域突出的方式与上述元件基板粘合;多个像素部,其排列在上述元件基板上的像素区域;多个外部电路连接端子,其排列在位于上述元件基板上的上述像素区域的周边的周边区域之中的上述突出区域,并从外部电路被提供包括用于使上述多个像素部进行图像显示的图像信号以及控制信号的各种信号;以及多个检查端子,其配置在上述突出区域的上述多个外部电路连接端子排列的边缘;其特征在于,该检查方法包括:
在上述元件基板以及上述对置基板的粘合之后且使上述外部电路与上述外部电路连接端子电连接之前进行的粘合后检查时,对于上述多个外部电路连接端子之中成为被提供上述图像信号的端子,一并地提供检查用图像信号的步骤;
对于上述多个检查端子,为了上述粘合后检查而提供上述检查用图像信号以外的检查信号的步骤;以及
作为上述粘合后检查,在上述检查用图像信号以及上述检查信号被提供的状态下,检查与上述检查用图像信号对应的图像显示是否在上述多个像素部进行的步骤。
12. 如权利要求11所述的电光装置的检查方法,其特征在于:
上述一并地提供检查用图像信号的步骤,使导电性橡胶与上述多个外部电路连接端子电连接,并经由该导电性橡胶一并地提供上述检查用图像信号;
上述提供检查信号的步骤,经由探针分别向上述多个检查端子提供上述检查信号。
13. 一种电子设备,其特征在于,具备权利要求1至10的任意一项所述的电光装置。
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