CN109031723B - 阵列基板、液晶模组及液晶显示设备 - Google Patents
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Abstract
本公开提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备。该阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；非显示区域环绕包围显示区域且与显示区域邻接；测试垫位于非显示区域内且远离显示区域设置，每一个测试垫组对应一个显示区域，测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；数据线测试垫用于连接液晶模组的数据线，扫描线测试垫用于连接液晶模组的扫描线，第一公共电极测试垫用于连接液晶模组的第一公共电极，第二公共电极测试垫用于连接液晶模组的第二公共电极。本公开实施例提供的阵列基板能够提高点灯测试效率。
Description
技术领域
本公开涉及液晶设备制造领域，尤其涉及一种阵列基板、液晶模组及液晶显示设备。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)作为一种平面超薄的显示设备，具备功耗低、高画质、体积小、重量轻的特点，成为显示器的主流。液晶显示器的类型大多是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，而一般薄膜晶体管液晶显示器的制作可大致分为三部分:薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程以及彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程、液晶显示模块(Liquid CrystalModule，LCM)制备过程。
液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。在范例性的技术中，点灯测试一般采用以2条数据线(Data Line)和1条栅极线(Gate Line)组成的若干单元的连接方式(2D1G方式)，或者以3条数据线和2条栅极组成的若干单元的连接方式(3D2G方式)，再将数据信号和扫描信号分别接入到液晶面板的像素单元中，以检测液晶面板的像素点是否存在不良。然而，上述方式将导致相邻的两数据线之间存在同种极性的现象，增加误判几率且连接方式复杂，从而影响了测试效率。
发明内容
本公开的实施例提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备，以解决影响液晶面板测试效率较低的问题。
本公开提供了一种阵列基板，包括：
显示区域，所述显示区域包括多条数据线、多条扫描线和一个第二公共电极；
非显示区域，环绕所述显示区域且与所述显示区域邻接；
测试垫组，位于所述非显示区域内且与所述显示区域间隔设置，所述测试垫组包括多个数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；
其中，所述数据线测试垫电性连接所述阵列基板上的数据线，所述扫描线测试垫电性连接所述阵列基板上的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于电性连接第一公共电极，所述第二公共电极测试垫电性连接所述第二公共电极。
在本公开的一个实施例中，所述第一公共电极位于所述显示区域，且与所述第一公共电极测试垫电性连接。
在本公开的一个实施例中，所述扫描线测试垫的数量为四个，分别对应连接四条扫描线。
在本公开的一个实施例中，所述数据线测试垫包括奇数测试垫和偶数测试垫，所述奇数测试垫用于连接所述显示区域内的奇数列数据线，所述偶数测试垫用于连接所述显示区域内的偶数列数据线。
本公开提供了一种液晶模组，包括：
彩膜基板；
阵列基板，与所述彩膜基板相对设置；
液晶层，设置在所述彩膜基板与所述阵列基板之间；
其中，所述阵列基板包括：
显示区域；
非显示区域，环绕包围所述显示区域且与所述显示区域邻接；
测试垫组，位于所述非显示区域内且远离所述显示区域设置，
所述测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极
测试垫和第二公共电极测试垫；
所述数据线测试垫用于连接所述液晶模组的数据线，所述扫描线测试垫用于连接所述液晶模组的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于与第一公共电极电性连接，所述第二公共电极测试垫用于连接所述第二公共电极。
在本公开的一个实施例中，所述第一公共电极设置在所述彩膜基板上。
在本公开的一个实施例中，所述第一公共电极设置在所述阵列基板的显示区域。
在本公开的一个实施例中，所述扫描线测试垫的数量为四个，分别对应连接四条扫描线。
在本公开的一个实施例中，所述数据线测试垫包括奇数测试垫和偶数测试垫，所述奇数测试垫用于连接所述显示区域内的奇数列数据线，所述偶数测试垫用于连接所述显示区域内的偶数列数据线。
在本公开的一个实施例中，所述阵列基板包括多个第一精度校准图案，所述彩膜基板包括多个第二精度校准图案，第二精度校准图案在阵列基板上的投影与第一精度校准图案重合；至少一个第一精度校准图案靠近阵列基板的侧边；所述第一公共电极测试垫位于第一公共电极和一个靠近阵列基板侧边的第一精度校准图案之间。
本公开提供了一种液晶显示设备，包括：
背光模组；
液晶模组，与所述背光模组对应设置；
其中，所述液晶模组包括：
彩膜基板；
阵列基板，与所述彩膜基板相对设置；
液晶层，设置在所述彩膜基板与所述阵列基板之间；
其中，所述阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；
所述非显示区域环绕包围所述显示区域且与所述显示区域邻接；所述测试垫位于所述非显示区域内且远离所述显示区域设置，每一个所述测试垫组对应一个所述显示区域，所述测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；所述数据线测试垫用于连接所述液晶模组的数据线，所述扫描线测试垫用于连接所述液晶模组的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于连接所述液晶模组的第一公共电极，所述第二公共电极测试垫用于连接所述液晶模组的第二公共电极。
在本公开的一个实施例中，所述液晶模组还包括上偏光板和下偏光板，所述上偏光板设置于所述彩膜基板远离所述阵列基板一侧，所述下偏光板设置于所述阵列基板远离所述彩膜基板一侧。
本公开实施例提供的单元阵列基板通过在非显示区域的边缘设置测试垫组，可以让使用者非常快捷地对液晶模组进行点灯测试，操作工序简单，提高液晶面板的生产效率和良品率。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本公开一实施例中的阵列基板的示意图。
图2为本公开一实施例中的第一单元基底的示意图。
图3为本公开另一实施例中的阵列基板的示意图；
图4为本公开另一实施例中的第一单元基底的示意图；
图5为本公开再一实施例中的液晶模组的结构示意图；
图6为本公开再一实施例中的第二单元基底的示意图；
图7为本公开再又一实施例中的液晶显示设备的结构示意图；
图8为本公开又一实施例中的单元阵列基板的结构示意图；
图9为本公开又一实施例中的测试垫组的结构示意图；
图10为本公开另又一实施例中的阵列基板的结构示意图；
图11为图10中A部分的放大示意图；
图12为图10中B部分的放大示意图；
图13为本公开其它一实施例中的液晶模组的的结构示意图。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本公开可用以实施的特定实施例。本公开所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本公开，而非用以限制本公开。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本公开不限于此。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
为更进一步阐述本公开为达成预定公开目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本公开提出的一种阵列基板及液晶模组，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
如图1、图2所示，本公开一实施例中提供的一种阵列基板100，包括第一玻璃基底110和设置在其上的多个第一精度校准图案120。第一玻璃基底110由至少一个第一单元基底111构成，而第一精度校准图案120位于该第一单元基底111的顶角上。所述第一单元基底111一般为矩形，包括四个顶角。当然，本领域技术人员可以理解，第一单元基底111不限于此。其中，第一精度校准图案120包括互相垂直的第一校准标记121和第二校准标记122，且每一个所述第一精度校准图案120的第一校准标记121均位于同一条直线上，每一个第一精度校准图案120的第二校准标记122均位于同一条直线上。
具体地，如图1中所示，本阵列基板100在液晶面板制程中，需要将一块大的玻璃基底裁切出例如八块较小的单元基底，然后在这些单元基底上进行液晶注入等工序后再进一步裁切出成品的液晶面板所需要的尺寸。例如图1中所示的玻璃基底尺寸为2600×2250mm，需要沿着切割线(图1中的虚线)进行对刀、切割，经过12次裁切后形成了八块单元基底。该单元基底如图2所示，由四块小基底构成，再经过液晶注入等工序后可进一步裁切成应用于市售的液晶显示器的显示屏。
因为上述切割过程需要非常精细的操作，一旦出现切割后基底尺寸过大或过小，则会造成产品不良而影响生产效率。因此，本公开在阵列基板100的单元基底的顶角上设置了若干个精度校准图案。具体地，如图2所示，该精度校准图案由两条互相垂直的第一校准标记121和第二校准标记122组成，结合图1，例如其中的八块单元基底，在每个单元基底的四个顶角上设有一个精度校准图案，因此在每一行上有四个精度校准图案，在每一列上有八个精度校准图案，这些同行或同列的精度校准图案的第一校准标记121和第二校准标记122都位于同一条直线上，当然也与切割线(图1中的虚线)平行。
再者，为了确保裁切后的单元基底与第一玻璃基底110的尺寸相适应，以实现玻璃基底的最大化利用，第一校准标记121的长度方向与玻璃基板的长度方向平行，而第二校准标记122的长度方向与玻璃基板的长度方向垂直。同时在每个单元基底上，其四个顶角上的精度校准图案为两两沿着其对角线(图2中的虚线)方向而相对设置。
此外，如图2所示，本实施例的精度校准图案中，第一校准标记121的长度与第二校准标记122的长度相等，且第一校准标记121的中点位置与第二校准标记122的中点位置重合，例如图2中所示类似“十”字形的结构。
综上，本实施例公开的阵列基板通过在单元基底上设置有多个精度校准图案，可以让使用者在每一次裁切前能够迅速对刀具进行精确校准，能够有效降低切割工序中的累积误差，提高液晶面板的生产效率和良品率。
如图3、4所示，本公开另一实施例中提供的一种阵列基板200，包括第一玻璃基底210和设置在其上的多个第一精度校准图案220。第一玻璃基底210由至少一个第一单元基底211构成，而第一精度校准图案220位于该第一单元基底211的顶角上。其中，第一精度校准图案220包括互相垂直的第一校准标记221和第二校准标记222，且每一个所述第一精度校准图案220的第一校准标记221均位于同一条直线上，每一个第一精度校准图案220的第二校准标记222均位于同一条直线上。
具体地，如3中所示，本阵列基板200在液晶面板制程中，需要将一块大的玻璃基底裁切出例如八块较小的单元基底，然后在这些单元基底上进行液晶注入等工序后再进一步裁切出成品的液晶面板说需要的尺寸。例如图1中所示的玻璃基底尺寸为2600×2250mm，需要沿着切割线(图3中的虚线)进行对刀、切割，经过12次裁切后形成了八块单元基底。该单元基底如图4所示，由四块的小基底构成，再经过液晶注入等工序后可进一步裁切成应用于市售的液晶显示器的显示屏。
因为上述切割过程需要非常精细的操作，一旦出现切割后基底尺寸过大或过小，则会造成产品不良而影响生产效率。因此，本公开在阵列基板200的单元基底的顶角上设置了若干个精度校准图案。具体地，如图4所示，该精度校准图案由两条互相垂直的第一校准标记221和第二校准标记222组成，结合图1，例如其中的八块单元基底，在每个单元基底的四个顶角上设有一个精度校准图案，因此在每一行上有四个精度校准图案，在每一列上有八个精度校准图案，这些同行或同列的精度校准图案的第一校准标记221和第二校准标记222都位于同一条直线上，当然也与切割线(图3中的虚线)平行。
再者，为了确保裁切后的单元基底与第一玻璃基底210的尺寸相适应，以实现玻璃基底的最大化利用，第一校准标记221的长度方向与玻璃基板的长度方向平行，而第二校准标记222的长度方向与玻璃基板的长度方向垂直。同时在每个单元基底上，其四个顶角上的精度校准图案为两两沿着其对角线(图4中的虚线)方向而相对设置。
此外，如图4所示，本实施例的精度校准图案中，第一校准标记221的长度与第二校准标记222的长度相等，且第一校准标记221的一端与第二校准标记222的一端重合，例如图3中所示的类似“L”形的结构。
如图8所示，本公开又一实施例中提供的一种阵列基板500，包括至少一个显示区域510、非显示区域520和至少一个测试垫组530。非显示区域520环绕显示区域510且与显示区域510邻接；测试垫组530位于非显示区域520内且与显示区域510存在间距，测试垫组530包括数据线测试垫D-ODD和D-EVEN、扫描线测试垫(G1、G2、G3、G4)、第一公共电极测试垫A-COM和第二公共电极测试垫CF-COM。如图9所示，数据线测试垫用于连接阵列基板500上的数据线(Data Line)，扫描线测试垫用于连接阵列基板500上的扫描线(Gate Line)，第一公共电极测试垫用于连接第一公共电极，第二公共电极测试垫用于连接第二公共电极。
具体地，本实施例中的阵列基板500的可参考前述实施例的附图1至图4，在基板按照上电时的可视发光区域，分为显示区域510和非显示区域520。显示区域510主要包括多条纵横相交的扫描线、数据线，以及由数据线和扫描线围成的多个像素电极区域；而非显示区域520通常包括位于由显示区域510延伸出的走线区域和位于非显示区域520边缘的测试垫区域。如图9所示，测试垫组530例如有八个测试垫，包括四个扫描线测试垫、数据线奇数测试垫、数据线偶数测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫。其中四个扫描线测试垫例如分别连接四条扫描线(Gate Line)G1、G2、G3、G4；而扫描线测试垫数据线奇数测试垫(D-ODD)连接该单元阵列基板500的所有奇数列(行)数据线(Data Line)，数据线偶数测试垫(D-EVEN)连接该单元阵列基板500的所有偶数列(行)数据线；第一公共电极测试垫用于连接第一公共电极；第二公共电极测试垫用于连接第二公共电极。需要指出的是，在VA(Vertical Alignment，多区域垂直排列)类型的液晶模组中，第一公共电极例如为彩膜基板侧公共电极(CF-COM)，第二公共电极例如为阵列基板侧公共电极(A-COM)；而在IPS(In-Plane Switching，平面转换)类型的液晶模组中，第一公共电极和第二公共电极均位于阵列基板侧。
如图10所示，本公开另又一实施例中提供的一种阵列基板600，包括多个单元显示区域610、非显示区域620、多个第一测试垫组630和多个第二测试垫组640。这些单元显示区域610在阵列基板600上呈阵列设置，即排列成多行、多列；非显示区域620环绕单元显示区域610且与单元显示区域610邻接；多个第一测试垫组630，位于非显示区域620内、且每个第一测试垫组630对应邻接一个单元显示区域610；多个第二测试垫组640，位于非显示区域620内、且每个第二测试垫组640对应邻接一个单元显示区域610。本实施例中的第一测试垫组630和第二测试垫组640中包含的测试垫类型和数量均相互对应，都包含了十五个空接测试垫(Dummy)、四个扫描线测试垫(G1、G2、G3、G4)、两个数据线测试垫(D-ODD、D-EVEN)和一个公共电极测试垫(A-COM)。这些测试垫的连接方式和结构可参考图9，四个扫描线测试垫分别连接单元显示区域610内的四条扫描线；公共电极测试垫用于连接单元显示区域610内的公共电极；数据线测试垫(D-ODD、D-EVEN)分别用于连接单元显示区域610内的偶数行(列)数据线和奇数行(列)数据线；而十五个空接测试垫(Dummy)例如用于防呆设计或者预留测试位。
具体地，在阵列基板600的列方向上，第一测试垫组630和第二测试垫组640隔行交错设置。例如，在第一行单元显示区域610均设置第一测试垫组630与其邻接，在第二行单元显示区域610均设置第二测试垫组640与其邻接，在第三行单元显示区域610均设置第一测试垫组630与其邻接，在第四行单元显示区域610均设置第二测试垫组640与其邻接，如此等等按照规律依次交错排列。
同时，在阵列基板600的列方向上，第一测试垫组630在行方向上的投影与第二测试垫组640在行方向上的投影位于单元显示区域610的中轴线S的相对两侧。对于每一列单元显示区域610来说，与其相邻接的多个第一测试垫组630和多个第二测试垫组640分别位于该列单元显示区域610的相对两侧。如图10所示，以左边第一列单元显示区域610为例，第一测试垫组630位于第一行单元显示区域610的左上角，第二测试垫组640位于第二单元显示区域610的右下角；又或者第一测试垫组630位于第一行单元显示区域610的右上角，第二测试垫组640位于第二单元显示区域610的左下角。
此外，如图10至图12所示，本实施例中第一或第二测试垫组总共包括二十二个测试垫，在阵列基板600的列方向上，第一测试垫组630的排列顺序自上而下为：两个第一空接测试垫、第一数据线偶数测试垫、第一数据线奇数测试垫、第一公共电极测试垫、四个第一扫描线测试垫和十三个第一空接测试垫。与之相对应的，第二测试垫组640的排列顺序自上而下为：十三个第二空接测试垫、四个第二扫描线测试垫、第二公共电极测试垫、第二数据线奇数测试垫、第二数据线偶数测试垫和两个第二空接测试垫。第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫均可以为阵列基板侧公共电极测试垫(A-COM)。本实施例中，可以同时对至少两行单元显示区域610进行阵列综合检测，大大节约了测试时间、提高了检测效率。
如图5所示，本公开再一实施例中提供的一种液晶模组300，包括相对设置的阵列基板310和彩膜基板320，以及设置在两者之间的液晶层330。其中阵列基板310包括第一玻璃基底311和多个第一精度校准图案312，该阵列基板310的具体结构可参考上述实施例中的阵列基板100、200，在此不一一赘述。
此外，本实施例中的阵列基板310还包括至少一个单元阵列基板3101，该单元阵列基板3101的具体结构可具体参考前述实施例及附图8所示的阵列基板500。阵列基板310包括多个单元阵列基板3101时，多个单元阵列基板3101呈阵列排布。需要指出的是，测试垫组的第一公共电极测试垫313所连接的第一公共电极3102可以设置在彩膜基板320上，例如适用于VA(Vertical Alignment，多区域垂直排列)类型的液晶模组；第一公共电极3102也可以如图5所示设置在阵列基板310上，适用于IPS(In-Plane Switching，平面转换)类型的液晶模组。
具体的，如图5所示，本实施例中的彩膜基板320具有对应于阵列基板310的结构，该彩膜基板320包括第二玻璃基底321和设置在第二玻璃基底321上的多个第二精度校准图案322。结合图6，第二玻璃基底321包括至少一个第二单元基底3210，第二精度校准图案322包括互相垂直的第三校准标记3221和第四校准标记3222，且每一个第二精度校准图案322的第三校准标记3221均位于同一条直线上，每一个第二精度校准图案322的第四校准标记3222均位于同一条直线上。通过在彩膜基板320上设置第二精度校准图案322，可以让使用者在每一次裁切前能够迅速对刀具进行精确校准，能够有效降低切割工序中的累积误差，提高液晶面板的生产效率和良品率。
本实施例中的第二精度校准图案322在阵列基板310上的投影与第一精度校准图案312重合，可以在阵列基板310与彩膜基板320贴合时作为参照物，因而可以提升生成效率，也可以进一步提高液晶面板的良品率。
此外，本实施例中的第一精度校准图案312的具体结构例如前述实施例的类似“十”字形或“L”形结构，因此第二精度校准图案322为了与之对应，也采用了相应的结构。
如图5所示，至少两个第一精度校准图案312分别靠近阵列基板310的相对两侧边。所述第一公共电极测试垫313位于第一公共电极3102和一个靠近阵列基板310侧边的第一精度校准图案312之间。所述第二公共电极测试垫位于第二公共电极和另一个靠近阵列基板310另一侧边的第一精度校准图案312之间。所述第一公共电极3102、第一公共电极测试垫313、第二公共电极、第二公共电极测试垫及第一精度校准图案312均位于阵列基板310，如此在制程中便于对位及两侧同时检测的进行。
如图13所示，在其它实施例中，液晶模组300的阵列基板310例如为前述实施例中阵列基板600的结构，在其侧视角度上，第一、第二测试垫组314、315分别位于两个单元显示区域340的相对远离的两侧边，即分别靠近阵列基板310的相对两侧，如此便于阵列测试时的两侧同时操作，提高测试效率。本领域技术人员可以理解，略过不提的是，彩膜基板320的多个第二精度校准图案在阵列310上的投影与多个第一精度校准图案一一对应重合，以便于实现对位。
如图7所示，本公开再又一实施例中提供的一种液晶显示设备400，包括液晶模组410和背光模组420，液晶模组410包括上偏光板411、下偏光板412、阵列基板413、彩膜基板414和液晶层415。其中，液晶层415、阵列基板413和彩膜基板414的具体结构可参照前述实施例中液晶层330、阵列基板310和彩膜基板320的结构，在此不一一赘述。具体地，上偏光板411位于彩膜基板414远离阵列基板413的一侧，而下偏光片412位于阵列基板413远离彩膜基板414的一侧。该液晶显示设备400在工作时，由背光模组420发出光依次经过下偏光板412、阵列基板413、液晶层415、彩膜基板414和上偏光片411，最终显示成像。
“在一些实施例中”及“在各种实施例中”等用语被重复地使用。所述用语通常不是指相同的实施例；但它也可以是指相同的实施例。“包含”、“具有”及“包括”等用词是同义词，除非其前后文意显示出其它意思。
以上所述，仅是本公开的较佳实施例而已，并非对本公开作任何形式上的限制，虽然本公开已以具体的实施例揭露如上，然而并非用以限定本公开，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本公开技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本公开技术方案的内容，依据本公开的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本公开技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
显示区域，所述显示区域包括多条数据线、多条扫描线和一个第二公共电
极，其中，所述显示区域包括多个单元显示区域；
非显示区域，环绕所述单元显示区域且与所述单元显示区域邻接；
测试垫组，位于所述非显示区域内且与所述单元显示区域间隔设置，所述测试垫组包括多个数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；
其中，所述数据线测试垫电性连接所述阵列基板上的数据线，所述扫描线测试垫电性连接所述阵列基板上的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于与第一公共电极电性连接，所述第二公共电极测试垫电性连接所述第二公共电极；
其中，所述测试垫组包括多个第一测试垫组和多个第二测试垫组，每个所述第一测试垫组对应邻接一个所述单元显示区域，每个所述第二测试垫组对应邻接另一个所述单元显示区域，其中，在所述阵列基板的列方向上，所述第一测试垫组和所述第二测试垫组隔行交错设置，同时所述第一测试垫组在行方向上的投影与所述第二测试垫组在行方向上的投影位于所述单元显示区域的中轴线的相对两侧。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一公共电极设置于所述显示区域，且与所述第一公共电极测试垫电性连接。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述扫描线测试垫的数量为四个，分别对应连接四条扫描线。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多个数据线测试垫包括数据线奇数测试垫和数据线偶数测试垫，所述数据线奇数测试垫用于连接所述显示区域内的奇数列数据线，所述数据线偶数测试垫用于连接所述显示区域内的偶数列数据线。
5.一种液晶模组，其特征在于，包括：
彩膜基板；
阵列基板，与所述彩膜基板相对设置；
液晶层，设置在所述彩膜基板与所述阵列基板之间；
其中，所述阵列基板包括：
显示区域，包括多条数据线、多条扫描线和一个第二公共电极，其中，所述显示区域包括多个单元显示区域；
非显示区域，环绕包围所述单元显示区域且与所述单元显示区域邻接；
测试垫组，位于所述非显示区域内且与所述单元显示区域间隔设置，所述测试垫组包括多个数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫，所述数据线测试垫电性连接所述显示区域的数据线，所述扫描线测试垫电性连接所述显示区域的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于与第一公共电极电性连接，所述第二公共电极测试垫电性连接所述显示区域的第二公共电极；
其中，所述测试垫组包括多个第一测试垫组和多个第二测试垫组，每个所述第一测试垫组对应邻接一个所述单元显示区域，每个所述第二测试垫组对应邻接另一个所述单元显示区域，其中，在所述阵列基板的列方向上，所述第一测试垫组和所述第二测试垫组隔行交错设置，同时所述第一测试垫组在行方向上的投影与所述第二测试垫组在行方向上的投影位于所述单元显示区域的中轴线的相对两侧。
6.根据权利要求5所述的液晶模组，其特征在于，所述第一公共电极设置在所述彩膜基板上。
7.根据权利要求5所述的液晶模组，其特征在于，所述第一公共电极位于所述阵列基板的显示区域。
8.根据权利要求7所述的液晶模组，其特征在于，所述阵列基板包括多个第一精度校准图案，所述彩膜基板包括多个第二精度校准图案，第二精度校准图案在阵列基板上的投影与第一精度校准图案重合；至少一个第一精度校准图案靠近阵列基板的侧边；所述第一公共电极测试垫位于第一公共电极和一个靠近阵列基板侧边的第一精度校准图案之间。
9.一种液晶显示设备，其特征在于，包括：
背光模组；
液晶模组，与所述背光模组对应设置；
其中，所述液晶模组包括：
彩膜基板；
阵列基板，与所述彩膜基板相对设置；
液晶层，设置在所述彩膜基板与所述阵列基板之间；
其中，所述阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；所述显示区域包括多条数据线、多条扫描线、一个第一公共电极和一个第二公共电极，其中，所述显示区域包括多个单元显示区域；所述非显示区域环绕包围所述单元显示区域且与所述单元显示区域邻接；所述测试垫组位于所述非显示区域内且远离所述单元显示区域设置，所述测试垫组包括多个数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；所述数据线测试垫电性连接所述显示区域的数据线，所述扫描线测试垫电性连接所述显示区域的扫描线，所述第一公共电极测试垫电性连接所述第一公共电极，所述第二公共电极测试垫电性连接所述第二公共电极；其中，所述测试垫组包括多个第一测试垫组和多个第二测试垫组，每个所述第一测试垫组对应邻接一个所述单元显示区域，每个所述第二测试垫组对应邻接另一个所述单元显示区域，其中，在所述阵列基板的列方向上，所述第一测试垫组和所述第二测试垫组隔行交错设置，同时所述第一测试垫组在行方向上的投影与所述第二测试垫组在行方向上的投影位于所述单元显示区域的中轴线的相对两侧。
10.根据权利要求9所述的液晶显示设备，其特征在于，所述液晶模组还包括上偏光板和下偏光板，所述上偏光板设置于所述彩膜基板远离所述阵列基板一侧，所述下偏光板设置于所述阵列基板远离所述彩膜基板一侧。
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