CN104808371A - 电光装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供电光装置以及电子设备。在电光装置的检查时进行可靠的检查。在电光装置中，在基板10上的多个检查端子103中，关于输出检查信号Cx1～Cx8、YEPR及YEPL的一部分检查端子103o及103y，以下述方式进行排列，该方式为：分别与分别被输入预定频率的时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB以及传送开始脉冲DX的其他检查端子103i的各自相互不相邻。

Description

电光装置及电子设备

本申请是申请日为2009年2月19日、申请号为200910008038.2、名称为“电光装置及电子设备”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及如液晶装置等的电光装置及具备该电光装置的如液晶投影机等电子设备的技术领域。

背景技术

就这种电光装置而言，在基板上形成多个像素部，并且设置用来驱动多个像素部的驱动电路以及该电光装置的检查所使用的检查电路等。再者，在基板上，还设置用来输入输出驱动电路等中的各种信号的多个端子(例如参见专利文献1)。在多个端子中，包括电光装置的检查时输入输出驱动电路、检查电路中的输入输出信号的检查端子，根据从检查端子输出的输出信号进行检查。

专利文献1:特开2007-79541号公报

在上述那种电光装置中，若伴随小型化，多个端子，特别是检查端子的排列间距进行了窄间距化，则存在用来在检查时将输入输出信号对检查端子输入输出的探针针头在相互相邻的检查端子处接近或者接近而接触的不良状况。这种情况下，若相对于将输出信号输出的一个检查端子，相邻配置了输入输出比较高频的输入输出信号的其他检查端子，则因上述针头的接触或者接近，而产生高频信号的波形被混入输出信号的波形中的不佳状况，导致发生难以可靠地进行检查的问题。

发明内容

本发明例如是鉴于上述问题而做出的，其目的为，提供能够在检查时进行可靠的检查并且易于小型化的电光装置及具备那种电光装置的电子设备。

本发明的电光装置为了解决上述问题，其特征为，具备：基板；多个像素部，排列于该基板上；驱动电路，驱动上述多个像素部；检查电路，设置于上述基板上，执行与由上述驱动电路做出的上述多个像素部驱动相关的检查；以及多个检查端子，设置于上述基板上，当进行上述检查时，分别输入输出上述检查电路及上述驱动电路的输入输出信号；上述多个检查端子以下述方式进行排列，该方式为：使作为上述输入输出信号输出上述检查所需的输出信号的一部分检查端子与作为上述输入输出信号输入输出预定频率的输入输出信号的其他检查端子相互不相邻。

根据本发明的电光装置，由于在其驱动时由驱动电路来驱动多个像素部，因而图像显示工作典型的是以有源矩阵驱动方式进行。

本发明的电光装置设置有用来对于由这种驱动电路做出的像素部的驱动进行检查的检查电路，对多个检查端子输入输出用来进行该检查的各种输入输出信号。例如，对多个检查端子，作为输入信号输入用来使之驱动检查电路的信号(下述的时钟信号、起动信号等)，作为输出信号从检查电路、驱动电路输出为了检查所生成的信号。根据从检查电路、驱动电路输出给检查端子的信号，执行与由驱动电路做出的像素部的驱动有关的检查。还有，检查电路及多个检查端子与多个像素部设置于相同的基板上，并且在和它们相同的基板上，驱动电路至少被部分设置。

多个检查端子在基板上沿着基板的至少一边进行排列。在本发明中，多个检查端子之中，如上所述输出检查所需的输出信号的一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为：分别与输入输出预定频率的输入输出信号的其他检查端子不相邻。这里，所谓“预定频率的输入输出信号”指的是，对检查端子输入的输入信号及输出信号，并且是取高电位电平(“H电平”)及比高电位电平低的低电位电平(“L电平”)的2值电平，也就是说按H电平及L电平的任一个、电位周期性变动的信号。

具体而言，将输出信号输出的一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为：分别与输入预定频率的输入信号的其他检查端子不相邻。因而，可以使一部分检查端子分别与其他的检查端子离开，进行配置。

这里，在“预定频率的输入信号”例如是用来驱动检查电路的时钟信号等的高频信号时，若相对于一部分检查端子而言，输入该时钟信号的其他检查端子相邻，则存在因端子间或者检查探针间电或电磁的相互作用等，而在一部分检查端子中由检查探针进行检测的信号中，高频的时钟信号等的波形易于作为噪声混入的趋势。

根据本发明，可以使一部分的检查端子与其他的检查端子离开，进行配置，防止用来检测来自一部分检查端子的输出信号的检查探针和用来给其他检查端子输入预定频率的输入信号的检查探针接近或者接近而接触。从而，能够防止在一部分检查端子中所检测的输出信号中，对其他检查端子输入的预定频率的输入信号的波形作为噪声被混入。

同样，将输出信号输出的一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为：分别与输出预定频率的输出信号的其他检查端子不相邻。这种情况下，可以对于一部分检查端子，防止用来分别检测一个检查端子的输出信号和其他检查端子的预定频率的输出信号的检查探针相互接近或者接近而接触。从而，能够对于一部分检查端子的各自，防止在被检测的输出信号中，从其他检查端子输出的预定频率的输出信号的波形作为噪声被混入。

从而，根据上面所说明的电光装置，即便伴随小型化，多个检查端子的排列间距被窄间距化，也可以根据来自一部分检查端子的输出信号，可靠地进行检查。

在本发明的电光装置的一个方式中，上述一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为：分别与作为上述输入输出信号被输入时钟信号的上述其他检查端子相互不相邻。

根据该方式，时钟信号规定检查电路、驱动电路中检查时的驱动频率，作为比较高频的信号对其他的检查端子进行输入。

在该方式中，可以使输出检查所需的输出信号的一部分检查端子和被输入时钟信号的其他检查端子离开，进行配置，防止一部分检查端子的检查探针和其他检查端子的检查探针接近或者接近而接触。从而，能够防止在一部分检查端子所检测的输出信号中，对其他检查端子输入的比较高频的时钟信号的波形作为噪声被混入。

在该对其他检查端子输入时钟信号的方式中，进而，上述检查电路根据上述时钟信号依次传送作为上述输入输出信号被输入的起动信号，上述一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为：分别与被输入上述起动信号的上述其他检查端子相互不相邻。

根据该方式，作为用来驱动检查电路的信号，对其他的检查端子输入时钟信号及起动信号。起动信号是电位周期性(例如下面详细所述按1水平期间)从L电平变动为H电平的信号，作为比时钟信号低频的信号进行输入。

在该方式中，除了时钟信号之外，对于被输入起动信号的其他检查端子，也可以使之相对于输出检查所需的输出信号的一部分检查端子离开，进行配置。从而，与关于上述的时钟信号的情况相同地，能够防止在一部分检查端子所检测的输出信号中，起动信号的波形作为噪声被混入。

在本发明的电光装置的其他方式中，上述一部分检查端子分别在其和上述其他检查端子之间，夹着上述多个检查端子之中的输入输出预定电位的上述输入输出信号的上述检查端子，进行排列。

根据该方式，作为预定电位的输入输出信号，例如用来驱动检查电路、驱动电路的电源等在检查时对检查端子进行输入。由于夹着这种检查端子，输出检查所需的输出信号的一部分检查端子分别相对于输入输出预定频率的信号的其他检查端子进行排列，因而能够对于一部分检查端子的各自，利用该检查端子(也就是供给电源等的检查端子)屏蔽其和其他检查端子之间电磁或电的相互作用。

从而，根据该方式，能够更为可靠地防止在一部分的检查端子所检测的输出信号中，对其他检查端子输入输出的预定频率的信号的波形作为噪声被混入。

在本发明的电光装置的其他方式中，在通过将包括多个上述基板的大型基板截断来进行制造、并且在上述大型基板上相互相邻的上述基板中配置为，一方的上述一部分检查端子各自与另一方的上述其他检查端子相互不相邻。

根据该方式，当制造电光装置时，在大型基板的各基板上形成多个像素部、驱动电路的至少一部分以及检查电路和检查端子，在进行过检查之后，截断各个基板。

从而，即便在大型基板上的检查中，也和上述电光装置的检查相同，能够在大型基板上相邻的基板内，防止在一方基板上的一部分检查端子所检测的输出信号中，对另一方基板上的其他检查端子输入输出的预定频率的信号的波形作为噪声被混入。

在本发明的电光装置的其他方式中，电光装置具备：

基板；

多个像素部，其排列于该基板上；

驱动电路，其驱动上述多个像素部；

检查电路，其设置于上述基板上，执行与由上述驱动电路进行的上述多个像素部的驱动相关的检查；以及

多个检查端子，其设置于上述基板上，当进行上述检查时，分别被输入输出上述检查电路及上述驱动电路的输入输出信号；

上述多个检查端子包括：第1检查端子，沿着上述基板的一边排列并输出上述检查电路的输出信号；第2检查端子，被供给时钟信号；第3检查端子，配置在上述第1及第2检查端子之间；并且，包括：第4检查端子，沿着与上述基板的一边相对的边排列并输出上述检查电路的输出信号；第5检查端子，被供给起动信号；第6检查端子，配置在上述第4及第5检查端子之间，

上述第1检查端子、上述第2检查端子以及上述第3检查端子，沿着上述基板的一边排列，并且上述第4检查端子、上述第5检查端子以及上述第6检查端子，沿着与上述基板的一边相对的边排列。

本发明的电子设备为了解决上述问题，具备上述本发明的电光装置(其中，也包括其各种方式)。

根据本发明的电子设备，因为能可靠地进行电光装置的检查，所以可以实现能进行高品质显示并且使可靠性得到提高，更加易于小型化的各种电子设备，包括投影型显示装置、电视机、便携电话机、电子记事本、文字处理机、取景器式或监视直观式的磁带录像机、工作站、电视电话机、POS终端及触摸面板等。另外，作为本发明的电子设备，例如还能够实现电子纸张等的电泳装置等。

本发明的作用及其他优势将通过下面说明的用来实施的最佳方式得以明确。

附图说明

图1是表示本实施方式所涉及的液晶装置整体构成的俯视图。

图2是图1的H-H'线剖面图。

图3是表示本实施方式所涉及的液晶装置的电构成的框图。

图4是本实施方式所涉及的液晶装置的像素部的等效电路图。

图5是说明在母基板上制造本实施方式所涉及的液晶装置所用的部分俯视图。

图6是表示由图6的虚线A0包围的一部分的构成的部分放大俯视图。

图7是表示作为使用电光装置的电子设备一例的投影机的构成的俯视图。

符号说明

7…解复用器，10…元件基板，103、103i、103o、103y、103nc…检查端子，104…扫描线驱动电路，160…检查电路，400…图像信号供给电路，600…像素部

具体实施方式

下面，对于本发明的实施方式，一面参照附图一面进行说明。在下面的实施方式中，将以作为本发明的电光装置一例的有源矩阵驱动方式的液晶装置为例。

首先，对于本实施方式所涉及的液晶装置整体构成，参照图1及图2进行说明。这里，图1是从对向基板侧看到的液晶装置的俯视图，图2是图1的H-H'剖面图。

在图1及图2中，本实施方式所涉及的液晶装置100具备相对配置的元件基板10和对向基板20。元件基板10按和对向基板20相比较大的平面尺寸来形成，以在将对向基板20及元件基板10相对配置的状态下，俯视时(也就是，在图1中)元件基板10的至少一边从对应的对向基板20的一边伸出或者露出。

在元件基板10和对向基板20之间封入液晶层50，元件基板10和对向基板20通过设置于下述密封区域52a的密封件52相互粘接，该密封区域位于图像显示区域10a的周围。借此，在元件基板10和对向基板20间，在由密封件52包围的图像显示区域10a内封入液晶层50。

密封件52由用来粘合两个基板的例如紫外线固化树脂、热固化树脂等形成，在制造过程中涂敷于元件基板10上之后，通过紫外线照射、加热等使之固化。另外，在密封件52中，散布有用来使元件基板10和对向基板20之间的间隔(基板间间隙)成为预定值的玻璃纤维或玻璃珠粒等间隙件。

在图1中，与配置有密封件52的密封区域52a内侧并行，规定图像显示区域10a边框区域的遮光性边框遮光膜53设置在对向基板20侧。但是，这种边框遮光膜53的一部分或全部也可以作为内置遮光膜设置于元件基板10侧。还有，在本实施方式中，存在规定图像显示区域10a周边的周边区域。换言之，在本实施方式中，从元件基板10的中心看上去，从边框遮光膜53往外的区域作为周边区域被规定。

在周边区域之中的位于配置有密封件52的密封区域52a的外侧的区域内，包括被供给图像信号的图像信号端子等在内的外部电路连接端子102沿着元件基板10的从对向基板20伸出的一边进行设置。也就是说，在图1中沿着元件基板10的下边缘横向延伸为长条状的伸出区域，排列着多个外部电路连接端子102。

在沿着该一边(也就是，元件基板10上排列有多个外部电路连接端子102的一边)的比密封区域52a靠内侧，被边框遮光膜53所覆盖地设置解复用器7。另外，扫描线驱动电路104在沿着与该一边相邻的2条边的密封区域52a内侧，被边框遮光膜53所覆盖进行设置。再者，检查电路160在沿着与该一边相对的边的比密封区域52a靠内侧，被边框遮光膜53所覆盖进行设置。除此之外，和检查电路160电连接的检查端子103沿着配置有扫描线驱动电路104的元件基板10的2条边双方，设置在沿着该2条边各自的比密封区域52a靠外侧的区域。也就是说，在图1中在沿着元件基板10的右边缘及左边缘各自纵向延伸的带状区域内，排列着多个检查端子103。

在元件基板10上，在与对向基板20的4个角部相对的区域，配置用来由上下导通件107连接两个基板间的上下导通端子106。借此，可以在元件基板10和对向基板20之间取得电导通。在元件基板10上，形成：引绕布线90，用来电连接外部电路连接端子102与解复用器7、扫描线驱动电路104、上下导通端子106等；和引绕布线91，用来电连接检查端子103与检查电路160、扫描线驱动电路104等。

在图2中，在元件基板10上，形成装入有作为驱动元件的像素开关用TFT、扫描线、数据线等布线的叠层结构。在图像显示区域10a，在像素开关用TFT、扫描线、数据线等布线的上层设置像素电极9a。在像素电极9a上形成取向膜。另一方面，在对向基板20的与元件基板10对向的对向面上，形成遮光膜23。在遮光膜23上，与多个像素电极9a相对，形成由ITO(Indium Tin Oxide，氧化铟锡)等透明材料形成的对向电极21。在对向电极21上形成取向膜。液晶层50例如由一种或将数种向列型液晶混合所得的液晶形成，并且在这一对取向膜间取预定的取向状态。

还有，在对向基板20的投影光入射的一侧及元件基板10的出射光出射的一侧，各自例如相应于TN(扭曲向列)模式、STN(超TN)模式、D-STN(双STN)模式等的工作模式、常时亮态模式/常时暗态模式的不同，按预定的方向配置偏振膜、相位差膜、偏振板等。

下面，对于本实施方式所涉及的液晶装置的电构成，参照图3及图4进行说明。这里，图3是表示本实施方式所涉及的液晶装置的电构成的框图。图4是本实施方式所涉及的液晶装置的像素部的等效电路图。

在图3中，液晶装置100在元件基板10上，具备解复用器7、扫描线驱动电路104及检查电路160。在元件基板10上的外部电路连接端子102之中的图像信号端子102v上，电连接作为外部电路的图像信号供给电路400。还有，本发明所涉及的“驱动电路”作为一例包括解复用器7、扫描线驱动电路104以及图像信号供给电路400。

在元件基板10上的图像显示区域10a内，1088行扫描线11a按行方向(也就是，X方向)延伸来设置，另外按每8根分组后的1984(＝248×8)列数据线6a按列方向(也就是，Y方向)延伸，且和各扫描线11a相互保持电绝缘地来设置。还有，扫描线11a及数据线6a的根数并不分别限定为1088根及1984根。构成1组的数据线根数虽然在本实施方式中设定为“8”，但是只要大于等于“2”就可以。

像素部600对应于1088根扫描线11a和1984根数据线6a的交叉处，分别进行排列。从而，在本实施方式中，像素部600按纵向1088行×横向1984列，以预定的像素间距排列为矩阵状。

如图4所示，像素部600具备像素开关用TFT30、液晶元件72及存储电容70。

像素开关用TFT30其源电连接到数据线6a，栅电连接到扫描线11a，漏电连接到下述液晶元件72的像素电极9a。像素开关用TFT30根据从扫描线驱动电路104供给的扫描信号来转换导通截止。

液晶元件72由像素电极9a、对向电极21以及夹持于像素电极9a和对向电极21间的液晶构成。在液晶元件72中，通过数据线6a及像素电极9a对液晶所写入的预定电平的数据信号在其和对向电极21之间被保持一定期间。液晶通过按照所施加的电压电平使分子集合的取向、秩序产生变化，就能够调制光，进行灰度等级显示。如果是常时亮态模式，则按照以各像素为单位所施加的电压减少对入射光的透射率，如果是常时暗态模式，则按照以各像素为单位所施加的电压增加对入射光的透射率，并且整体上从液晶装置100出射具有与图像信号相对应的对比度的光。

存储电容70为了防止所保持的图像信号出现泄漏，和形成于像素电极9a及对向电极之间的液晶电容并联，进行了附加。

如上的像素部600由于在图像显示区域10a内排列成矩阵状，因而能够进行有源矩阵驱动。

还是在图3中，在本实施方式中，为了区分构成1组的8列数据线6a，有时从右按顺序分别称为a、b、c、d、e、f、g、h序列。详细而言，a序列指的是第1、9、17、…、1977列的数据线6a，b序列指的是第2、10、18、…、1978列的数据线6a，c序列指的是第3、11、19、…、1979列的数据线6a，d序列指的是第4、12、20、…、1980列的数据线6a，e序列指的是第5、13、21、…、1981列的数据线6a，f序列指的是第6、14、22、…、1982列的数据线6a，g序列指的是第7、15、23、…、1983列的数据线6a，h序列指的是第8、16、24、…、1984列的数据线6a。

扫描线驱动电路104具有移位寄存器，给第1、2、3、…、1088行的扫描线11a，供给扫描信号G1、G2、G3、…、G1088。详细而言，扫描线驱动电路104在1帧期间的范围内按顺序选择第1、2、3、…、1088行的扫描线11a，并且使向所选择的扫描线供给的扫描信号为与选择电压相当的H电平，使向除此以外的扫描线供给的扫描信号为与非选择电压相当的L电平。

图像信号供给电路400和元件基板10分体来构成，当进行显示工作时，通过图像信号端子102v，与元件基板10进行连接。图像信号供给电路400对下述像素电极9a，输出与包括该像素电极9a的像素之灰度等级相对应的电压的图像信号，该像素电极9a对应于由扫描线驱动电路104选择出的扫描线11a和属于各组的8列数据线6a之中的由解复用器7选择的数据线6a。从图像信号供给电路400供给图像信号端子102v的图像信号通过引绕布线90(参见图1)中所包括的图像信号线300供给解复用器7。在本实施方式中优选的是，图像信号线300具有低电阻部310和电阻比低电阻部310高的高电阻部320，可以减少或者防止解复用器7被静电破坏。

另一方面，在检查时，对图像信号端子102v，不连接图像信号供给电路400，而连接检查用图像信号供给电路，供给与检查工作相符的检查用图像信号。

还有，在本实施方式中如上所述，由于数据线6a的列数是“1984”，它们按每8列进行了分组，因而图像信号端子102v的个数是“248”。

解复用器7包括为每根数据线6a所设置的晶体管71，来构成。这里，晶体管71是n沟道型，各漏电连接到数据线6a的一端。与属于同一组的数据线6a对应的8个晶体管71的源与对应于该组的图像信号线300进行电共用连接。

也就是说，由于第m(其中，m是大于等于1且小于等于248的整数)组由a序列的第(8m-7)列、b序列的第(8m-6)列、c序列的第(8m-5)列、d序列的第(8m-4)列、e序列的第(8m-3)列、f序列的第(8m-2)列、g序列的第(8m-1)列及h序列的第(8m)列的数据线6a构成，因而与它们8列数据线6a对应的晶体管71的源进行电共用连接，被供给图像信号VID(m)。对与第(8m-7)列数据线6a对应的晶体管71的栅，通过控制信号线700供给控制信号Sel1，同样对与第(8m-6)列、第(8m-5)列、第(8m-4)列、第(8m-3)列、第(8m-2)列、第(8m-1)列及第(8m)列数据线6a对应的晶体管71的栅，通过引绕布线90(参见图1)中包括的控制信号线700供给控制信号Sel2、Sel3、Sel4、Sel5、Sel6、Sel7及Sel8。控制信号Sel1、Sel2、…、Sel8从未图示的作为外部电路的定时控制电路通过外部电路连接端子102之中的控制信号端子102s，供给控制信号线700。在本实施方式中，控制信号线700优选的是，和图像信号线300大致相同，具有低电阻部710和电阻比低电阻部710高的高电阻部720，可以减少或防止解复用器7被静电破坏。

在图3中，检查电路160包括控制电路162及按每根数据线6a所设置的作为晶体管的TFT164，来构成。

控制电路162包括移位寄存器来构成。对控制电路162，在检查时从外部所设置的检查控制电路(图示略)通过检查端子103(参见图1)之中的检查端子103i以及引绕布线91(参见图1)中包括的检查用信号线810，供给本发明所涉及的作为“起动信号”一例的传送开始脉冲DX、本发明所涉及的作为“时钟信号”一例的时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB、传送方向控制信号DIRX、电源电位VDDX。控制电路162在检查时，使传送开始脉冲DX按照传送方向控制信号DIRX以及时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB依次产生移位，将传送脉冲X1、X2、…、X248对应于下述的TFT164的各组进行输出。在本实施方式中，检查用信号线810优选的是，具有低电阻部811和电阻比低电阻部811高的高电阻部812，可以减少或者防止检查电路160(更为具体而言，是控制电路162中所包括的TFT)被静电破坏。

TFT164是n沟道型的TFT，各源电连接到数据线6a的另一端(也就是，数据线6a的、与电连接有解复用器7的一端相反侧的另一端)上。与属于同一组的数据线6a对应的8个TFT164的栅进行电共用连接，从控制电路162供给与该组对应的传送脉冲Xm。

也就是说，对与构成第m组的第(8m-7)列、第(8m-6)列、第(8m-5)列、第(8m-4)列、第(8m-3)列、第(8m-2)列、第(8m-1)列及第(8m)列的数据线6a对应的TFT164的栅，共同供给由控制电路162而来的传送脉冲Xm。

在从第1到第248组中，与a序列的数据线6a对应的TFT164的漏与下述8根检查信号线820之中的作为检查信号Cx1读取的检查用信号线820进行电共用连接，该8根检查用信号线820其根数和构成组的数据线6a的根数相同。同样，在各组中与b、c、d、e、f、g及h序列的数据线6a对应的TFT164的漏与8根检查用信号线820之中的作为检查信号Cx2、Cx3、Cx4、Cx5、Cx6、Cx7及Cx8读取的检查用信号线820进行电共用连接。检查用信号线820包括于引绕布线91(参见图1)中，电连接到检查端子103(参见图1)之中的检查端子103o。在本实施方式中，检查用信号线820优选的是，和检查用信号线810大致相同，具有低电阻部821和电阻比低电阻部821高的高电阻部822，可以减少或防止检查电路160(更为具体而言，是TFT164)被静电破坏。

利用上述的检查电路160，在检查时，例如按数据线6a的每组从控制电路162输出传送脉冲X1、X2、…、X248，使与各组对应的TFT164变为导通状态，以此将预先被供给预定电压的检查用图像信号的数据线6a的电位，通过8根检查用信号线820输出给8个检查端子103o。然后，通过与8个检查端子103o电连接的外部判定机构来判定8根检查用信号线820是否是预定电位，由此实施判定解复用器7、各数据线6a是否良好的检查。还有，这种检查将在下面说明，要在母基板上形成有元件基板10侧的各种构成要件的状态(也就是，母基板按每个液晶装置100被截断之前)下进行。

检查用端子103(参见图1)之中的检查端子103y用来在检查时，读取从扫描线驱动电路104输出的检查用输出信号来作为检查信号YEPL或者YEPR，通过引绕布线91(参见图1)中包括的检查用信号线830，与扫描线驱动电路104(更为具体而言，是扫描线驱动电路104具有的移位寄存器的最末级的输出线)进行电连接。在检查时，可以通过对检查端子103y进行检测，来检查扫描线驱动电路104。在本实施方式中，检查用信号线830优选的是，具有低电阻部831和电阻比低电阻部831高的高电阻部832，可以减少或防止扫描线驱动电路104(更为具体而言，是扫描线驱动电路104中包括的TFT)被静电破坏。

还有，检查端子103(参见图1)之中的检查端子103nc是未使用端子。检查端子103nc和检查端子103i相同，通过检查用信号线810，与控制电路162进行电连接。

这里，对于如上所构成的液晶装置的工作，参照图3进行说明。

扫描线驱动电路104在某1帧(第n帧)期间的范围内使扫描信号G1、G2、…、G1088按每1水平期间，依次以排他的形式成为H电平(也就是选择电压)。

这里，在1水平期间，从定时控制电路供给的控制信号Sel1、Sel2、…、Sel8按该顺序以排他的形式变为H电平，与该供给相应，图像信号供给电路400供给图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248。

详细而言，图像信号供给电路400在第i行的扫描信号Gi变为H电平的期间，在控制信号Sel1变为H电平时，使下述图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248与第1、2、3、…、248组相对应同时进行输出，上述图像信号只按与对应于第i行扫描线11a与a序列的数据线6a的交叉处的像素之灰度等级相应的电压，相对于对向电极电位LCCOM为高位或者低位。此时，由于只有控制信号Sel1是H电平，因而a序列的数据线6a被选择(也就是说，只有与a序列的数据线6a对应的晶体管71导通)，其结果为，图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248分别被供给a序列(第1、9、17、…、1977列)的数据线6a。另一方面，由于若扫描信号Gi是H电平，则在位于第i行的像素的全部中，像素开关用TFT30变为接通(导通)状态，因而致使供给到a序列的数据线6a的图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248分别对i行1列、i行9列、i行17列、…、i行1977列的像素电极9a施加。

接着，图像信号供给电路400在控制信号Sel2变为H电平时，此次使与对应于第i行扫描线11a与b序列的数据线6a的交叉处的像素之灰度等级相应的电压的图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248，与第1、2、3、…、248组相对应，同时进行输出。此时，因为只有控制信号Sel2是H电平，所以b序列的数据线6a被选择，其结果为，致使图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248分别被供给b序列(第2、10、18、…、1978列)的数据线6a，分别对i行2列、i行10列、i行18列、…、i行1978列的像素电极9a施加。

同样，图像信号供给电路400在第i行的扫描信号Gi变为H电平的期间，分别在控制信号Sel3变为H电平时、控制信号Sel4变为H电平时、控制信号Sel5变为H电平时、控制信号Sel6变为H电平时、控制信号Sel7变为H电平时和控制信号Sel8变为H电平时，使对应于与第i行扫描线11a和c序列的数据线6a的交叉处对应的像素、与第i行扫描线11a和d序列的数据线6a的交叉处对应的像素、与第i行扫描线11a和e序列的数据线6a的交叉处对应的像素、与第i行扫描线11a和f序列的数据线6a的交叉处对应的像素、与第i行扫描线11a和g序列的数据线6a的交叉处对应的像素和与第i行扫描线11a和h序列的数据线6a的交叉处对应的像素之灰度等级的电压的图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248，分别与第1、2、3、…、248组相对应，同时进行输出。因此，与第i行的各像素的灰度等级相应的图像信号VID1、VID2、VID3、…、VID248分别被供给c序列(第3、11、19、…、1979列)的数据线6a，分别对i行3列、i行11列、i行19列、…、i行1979列的像素电极9a施加，接着，被供给d序列(第4、12、20、…、1980列)的数据线6a，分别对i行4列、i行12列、i行20列、…、i行1980列的像素电极9a施加，接着，被供给e序列(第5、13、21、…、1981列)的数据线6a，分别对i行5列、i行13列、i行21列、…、i行1981列的像素电极9a施加，接着，被供给f序列(第6、14、22、…、1982列)的数据线6a，分别对i行6列、i行14列、i行22列、…、i行1982列的像素电极9a施加，接着，被供给g序列(第7、15、23、…、1983列)的数据线6a，分别对i行7列、i行15列、i行23列、…、i行1983列的像素电极9a施加，接着，被供给h序列(第8、16、24、…、1984列)的数据线6a，分别对i行8列、i行16列、i行24列、…、i行1984列的像素电极9a施加。

因此，对于第i行的像素，写入与灰度等级相对应的图像信号的电压的工作完成。还有，对像素电极9a所施加的电压，即便扫描信号Gi成为L电平，也要利用液晶电容在直到接下来的第(n+1)帧的写入为止加以保持。

下面，对于图1或图3中的检查端子103的配置，参照图5及图6进行说明。这里，图5是说明在母基板上制造本实施方式所涉及的液晶装置所用的部分俯视图。图6是表示由图5的虚线A0包围的一部分构成的部分放大俯视图。

如图5所示，本实施方式所涉及的液晶装置100在制造过程中，采取在本发明所涉及的作为“大型基板”一例的母基板S上同时形成多个的方式。也就是说，在母基板S之上，以按纵横分别排列为矩阵状的方式形成液晶装置100，在各液晶装置100上分别形成参照图1到图4所说明那样的各种构成要件(像素开关用TFT30、扫描线11a、数据线6a等，或者扫描线驱动电路104、解复用器7、检查电路160等)。

此外，图5所示的母基板S包括多个图1及图2所示的元件基板10。也就是说，在图5所示的母基板S上，形成元件基板10一侧的各种构成要件，与之不同，在图5未图示的石英基板或玻璃基板之上形成对向电极21、取向膜等，形成多个对向基板20，各对向基板20被分别截断。然后，相对于在母基板S上所形成的元件基板10各自，使对向基板20分别相对，对于一对元件基板10及对向基板20，分别利用密封件52进行粘贴，并且在粘贴之后，在元件基板10及对向基板20间封入液晶。随后，通过截断母基板S，来制造图1及图2所示的那种各个单个的液晶装置100。

这里，如图5及图6所示，在母基板S上沿着各元件基板10的外周设置截断区域Ct。然后，母基板S通过对截断区域Ct实施切割或划割，而被截断。

在图6中，多个检查端子103(也就是，检查端子103i、103o、103nc及103y)在元件基板10上的周边区域之中的比密封区域52a靠外侧，沿着元件基板10的一边进行排列。检查端子103由于如同作为一例参照图1在上面所述的那样，配置于元件基板10的图像显示区域10a两侧的各自，因而在母基板S上相互相邻的元件基板10各自上所形成的检查端子103夹着截断区域Ct相互相邻。

还有，在图6中，在左侧元件基板10的图像显示区域10a侧所配置的8个检查端子103和在右侧元件基板10的图像显示区域10a左侧所配置的8个检查端子103，夹着截断区域Ct相互相邻。

在本实施方式中，特别是如图3或图6所示，在元件基板10上，多个检查端子103以下述方式进行排列，该方式为：如同已经说明的那样，输出检查所需的输出信号的一部分检查端子103o分别与下述其他检查端子103i的各自不相邻，该其他检查端子103i被输入预定频率的信号，在本实施方式中是控制电路162的时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB以及传送开始脉冲DX。

例如在图1或图3中，对于沿着元件基板10的2条边之中的一方所排列的检查端子103(在图6中是左侧元件基板10的8个检查端子103)其配置为，如上所述在检查时，下述4个检查端子103o及被从扫描线驱动电路104输出检查信号YEPR的检查端子103y分别与被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i不相邻，该4个检查端子103o作为检查信号Cx1～Cx4通过检查用信号线820输出a序列、b序列、c序列及d序列的数据线6a的电位。也就是说，其配置为，4个检查端子103o及检查端子103i的任一个都不与时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB相邻。

因而，可以使输出检查信号Cx1～Cx4的4个检查端子103o及输出检查信号YEPR的检查端子103y的5个检查端子，分别与被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i相离开，进行排列。

这里，时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB规定检查电路160中控制电路162的驱动频率，作为比较高频的信号(也就是，周期性变动为H电平及L电平任一个的电位)输入检查端子103i。从而，在输出检查信号Cx1～Cx4的4个检查端子103o及输出检查信号YEPR的检查端子103y的各自和被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i相邻时，存在因端子间或检查探针间电或者电磁的相互作用等，而在5个检查端子103o及103y，在由检查探针进行检测的信号中，高频的时钟信号CLX或者反相时钟信号CLXB的波形易于作为噪声混入的趋势。

因而，如上所述，可以使5个检查端子103o及103y，与被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i的各自相离开，防止用来检测检查信号Cx1～Cx4及YEPR的检查探针与用来输入时钟信号CLX或反相时钟信号CLXB的检查探针接近或者接近而接触。

另外，5个检查端子103o及103y在其与被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i之间，夹着被输入控制电路162中的传送方向控制信号DIRX的检查端子103i，进行排列。因此，对于5个检查端子103o及103y，分别能够利用被输入控制信号DIRX的检查端子103i屏蔽其和被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i的各自之间的电磁或者电的相互作用。

从而，根据如上的构成，能够进一步可靠地防止：在要被检测的检查信号Cx1～Cx4及YEPR中，时钟信号CLX或反相时钟信号CLXB的波形作为噪声被混入。

接着，在图1或图3中，对于沿着元件基板10的2条边之中的另一方所排列的检查端子103(在图6中是右侧元件基板10的8个检查端子103)配置为，如上所述在检查时，下述4个检查端子103o及被从扫描线驱动电路104输出检查信号YEPL的检查端子103y分别与被输入传送开始脉冲DX的检查端子103i不相邻，该4个检查端子103o作为检查信号Cx5～Cx8通过检查用信号线820输出e序列、f序列、g序列及h序列的数据线6a的电位。

另外，它们5个检查端子103o及103y在其与被输入传送开始脉冲DX的检查端子103i之间，夹着未使用的检查端子103nc，进行排列。

这里，在图3所示的检查电路160中，控制电路162，与对夹着图像显示区域10a为相反一侧的图像信号端子102v的检查用的图像信号的供给同步，进行传送开始脉冲DX的传送。从而，传送开始脉冲DX是周期性(按每1水平期间)电位从L电平变动为H电平的信号，作为与时钟信号CLX或反相时钟信号CLXB相比低频率的信号被进行输入。

因而，和如上所述沿着元件基板10的2条边之中的一方所排列的5个检查端子103o及103y相同，输出检查信号Cx5～Cx8的4个检查端子103o及输出检查信号YEPL的检查端子103y分别和被输入传送开始脉冲DX的检查端子103i相离开，可以防止用来检测检查信号Cx5～Cx8及YEPL的检查探针和用来输入传送开始脉冲DX的检查探针接近或者接近而接触。

另外，对于它们5个检查端子103o及103y，分别能够利用未使用的检查端子103nc屏蔽其和被输入传送开始脉冲DX的检查端子103i之间的电磁或电的相互作用。还有，在图3或图6中被输入电源电位VDDX的检查端子103i在和未使用的检查端子103nc同样进行配置时，也可以获得同样的效果。

从而，能够进一步可靠地防止在要被检测的检查信号Cx5～Cx8及YEPL中，传送开始脉冲DX的波形作为噪声被混入。

另一方面，在图6中，着眼于母基板S的左侧的元件基板10时，就是输出检查信号Cx1～Cx4及YEPR的5个检查端子103o及103y以下述方式进行配置，该方式为：分别与右侧元件基板10的被输入传送开始脉冲DX的检查端子103i不相邻。

另一方面，在图6中，着眼于母基板S的右侧的元件基板10时，就是输出检查信号Cx5～Cx8及YEPL的5个检查端子103o及103y以下述方式进行配置，该方式为：分别与左侧元件基板10的被输入时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的检查端子103i各自不相邻。

从而，在本实施方式中，一方面可以防止：在从母基板S的左侧元件基板10上的5个检查端子103o及103y输出的检查信号Cx1～Cx4及YEPR中，对右侧元件基板10上的检查端子103i输入的传送开始脉冲DX的波形作为噪声被混入。另外一方面，对于右侧的元件基板10也相同，可以防止在从5个检查端子103o及103y输出的检查信号Cx5～Cx8及YEPL中，对左侧元件基板10上的检查端子103i输入的时钟信号CLX及反相时钟信号CLXB的波形作为噪声被混入。

因而，在上面所说明的那种本实施方式的液晶装置中，即便伴随小型化，多个检查端子103的排列间距被窄间距化，也能够根据检查信号Cx1～Cx8、YEPR及YEPL的各自，可靠地进行检查。从而，可以在液晶装置中更为可靠地进行高品质的显示，并且使可靠性得到提高，更加易于进行小型化。

还有，在本实施方式中，即使在检查端子103输出预定频率的信号来作为检查信号时，也可以在输出检查信号的检查端子(上述的检查端子103o等)，和上述的说明相同，对输出预定频率的检查信号的检查端子配置各个检查端子。这种情况下，也和上述的本实施方式相同，能够根据检查信号进行可靠的检查。

下面，对于将上述作为电光装置的液晶装置使用于各种电子设备中的情形，进行说明。这里，对于使用该液晶装置来作为光阀的投影机，进行说明。这里，图7是表示投影机构成例的俯视图。

如图7所示，在投影机1100内部，设置包括卤素灯等白色光源的灯组件1102。从该灯组件1102所射出的投影光通过在光导向装置1104内所配置的4片反射镜1106及2片分色镜1108，分离成RGB的3原色，入射于与各原色对应的作为光阀的液晶面板1110R、1110B及1110G。

液晶面板1110R、1110B及1110G的构成和上述的液晶装置相同，由从图像信号处理电路供给的R、G、B原色信号分别进行驱动。然后，由这些液晶面板调制后的光从3个方向入射于分色棱镜1112。在该分色棱镜1112，R及B的光折射90度，另一方面G的光直行。从而，各色的图像被合成的结果，通过投影透镜1114，向屏幕等投影彩色图像。

这里，着眼于由各液晶面板1110R、1110B及1110G得到的显示像的话，就是由液晶面板1110G得到的显示像需要相对由液晶面板1110R、1110B得到的显示像进行左右翻转。

还有，在液晶面板1110R、1110B及1110G，由于通过分色镜1108，入射与R、G、B各原色对应的光，因而不需要设置滤色器。

还有，除了参照图7所说明的电子设备之外，还能举出便携式个人计算机、便携电话机、液晶电视机、取景器式、监视直观式的磁带录像器、汽车导航装置、寻呼机、电子记事本、台式电子计算器、文字处理机、工作站、电视电话机、POS终端及具备触摸面板的装置等。而且，不言而喻，可以使用于这些各种电子设备中。

另外，本发明除了上述实施方式中所说明的液晶装置之外，还可以用于在硅基板上形成元件的反射型液晶装置(LCOS)、等离子体显示器(PDP)、场致放射型显示器(FED、SED)、有机EL显示器、数字微镜器件(DMD)及电泳装置等中。

本发明并不限于上述实施方式，而可以在不违反从技术方案的范围及说明书总体领会的发明宗旨或构思的范围内适当进行变更，并且伴随那种变更的电光装置及具备该电光装置的电子设备也仍然包括在本发明的技术范围内。

Claims (4)

1.一种电光装置，其特征为，具备：

基板；

多个像素部，其排列于该基板上；

驱动电路，其驱动上述多个像素部；

检查电路，其设置于上述基板上，执行与由上述驱动电路进行的上述多个像素部的驱动相关的检查；以及

多个检查端子，其设置于上述基板上，当进行上述检查时，分别被输入输出上述检查电路及上述驱动电路的输入输出信号；

上述多个检查端子包括：第1检查端子，沿着上述基板的一边排列并输出上述检查电路的输出信号；第2检查端子，被供给时钟信号；第3检查端子，配置在上述第1及第2检查端子之间；并且，包括：第4检查端子，沿着与上述基板的一边相对的边排列并输出上述检查电路的输出信号；第5检查端子，被供给起动信号；第6检查端子，配置在上述第4及第5检查端子之间，

上述第1检查端子、上述第2检查端子以及上述第3检查端子，沿着上述基板的一边排列，并且上述第4检查端子、上述第5检查端子以及上述第6检查端子，沿着与上述基板的一边相对的边排列。

2.根据权利要求1所述的电光装置，其特征为，

上述第1检查端子分别在与上述第2检查端子之间，夹着上述多个检查端子之中的输入输出预定电位的上述输入输出信号的上述检查端子而排列。

3.根据权利要求1或2所述的电光装置，其特征为，

在通过将包括多个上述基板的大型基板截断来进行制造并且在上述大型基板相互相邻的上述基板，一方的上述第1检查端子各自与另一方的上述第2检查端子，相互不相邻地配置。

4.一种电子设备，其特征为，

具备权利要求1到3中任一项所述的电光装置。