CN113986036B - 触控面板母板及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种触控面板母板及其检测方法。触控面板母板包括多个触控区和围绕各触控区的非触控区；触控通道，各触控区设置有多个触控通道；测试电路，位于非触控区，测试电路包括开关元件组、控制信号端及测试信号端，多个开关元件组与多个触控区一一对应，各开关元件组包括多个开关元件，开关元件的控制端与控制信号端连接，开关元件的第一极与触控通道连接，开关元件的第二极与测试信号端连接。根据本申请实施例，能够提高检测效率。

Description

触控面板母板及其检测方法

技术领域

本申请涉及电子产品技术领域，具体涉及一种触控面板母板及其检测方法。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板的应用范围越来越广泛，具有触控功能的触控显示面板也得到了广泛的应用。根据触控原理的不同，触控显示面板通常可以分为电阻式触控显示面板、电容式触控显示面板和红外线式触控显示面板等，电容式触控显示面板又可以分为自电容触控显示面板和互电容触控显示面板。

由于触控面板容易出现搭接不良或其他电路异常问题，所以为了保证触控面板能够符合设计要求，通常需要对触控面板进行检测。而相关技术中，是在触控面板母板被切割成单个触控面板(也称为cell)后，然后对每个cell进行检测，影响检测效率。

发明内容

本申请提供一种触控面板母板及其检测方法，能够提高检测效率。

第一方面，本申请实施例提供一种触控面板母板，其包括多个触控区和围绕各触控区的非触控区；

触控通道，各触控区设置有多个触控通道；

测试电路，位于非触控区，测试电路包括开关元件组、控制信号端及测试信号端，多个开关元件组与多个触控区一一对应，各开关元件组包括多个开关元件，开关元件的控制端与控制信号端连接，开关元件的第一极与触控通道连接，开关元件的第二极与测试信号端连接。

在第一方面一种可能的实施方式中，同一开关元件组中的多个开关元件的控制端与同一个控制信号端连接，同一开关元件组中的不同开关元件的第二极与不同测试信号端连接。

在第一方面一种可能的实施方式中，至少两个不同开关元件组的各一个开关元件的第二极与同一个测试信号端连接。

在第一方面一种可能的实施方式中，多个触控区呈阵列分布，各触控区均设置有n个触控通道，各开关元件组中开关元件的数量为n，同一行或者同一列的多个触控区对应设置有n个测试信号端，同一行或者同一列的多个触控区的第i个触控通道与第i个开关元件的第一极连接，同一行或者同一列的多个触控区对应的多个第i个开关元件的第二极均与第i个测试信号端连接，n为大于或等于2的正整数，1≤i≤n。

在第一方面一种可能的实施方式中，触控面板母板还包括触控引线和焊盘，触控引线连接在触控通道与焊盘之间，开关元件的第一极与焊盘连接。

在第一方面一种可能的实施方式中，非触控区包括第一子区和第二子区，第一子区位于触控区与第二子区之间，测试电路设置于第二子区，焊盘设置于第一子区。

在第一方面一种可能的实施方式中，开关元件为薄膜晶体管；

优选的，测试电路中各薄膜晶体管均为P型晶体管或者均为N型晶体管。

在第一方面一种可能的实施方式中，多个触控区呈阵列分布，同一行或者同一列触控区对应的多个开关元件组位于同一行或者同一列触控区的同一侧。

第二方面，基于同一发明构思，本申请实施例提供一种触控面板母板的检测方法，触控面板母板包括如第一方面任一项实施例的触控面板母板，方法包括：

针对任意一个开关元件组，通过控制信号端发送导通信号，导通多个开关元件；

通过测试信号端向触控通道发送检测信号并接收反馈信号；

在反馈信号与基准信号之间的差值超过预设范围的情况下，确定触控通道异常。

在第二方面一种可能的实施方式中，检测方法还包括：

去除触控面板母板上的测试电路；

将触控面板母板切割为多个触控面板，每个触控面板包括至少一个触控区。

根据本申请实施例提供的触控面板母板及其检测方法，通过在触控面板母板上设置测试电路，可以实现在触控面板母板被切割前就能对触控面板母板进行检测，相对于触控面板母板被切割后进行检测，可提高检测效率，提前发现触控面板母板上的触控通道是否存在异常。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1示出本申请实施例提供的一种触控面板母板的结构示意图；

图2示出图1中Q区域的一种放大示意图；

图3示出图1中Q区域的另一种放大示意图；

图4示出本申请实施例提供的另一种触控面板母板的结构示意图；

图5示出本申请实施例提供的又一种触控面板母板的结构示意图；

图6示出本申请实施例提供的又一种触控面板母板的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的触控面板母板的检测方法的一种流程示意图；

图8为本申请实施例提供的触控面板母板的检测方法的另一种流程示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本申请，并不被配置为限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在 A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

需要说明的是，本申请实施例所提供的实施方式，在不矛盾的情况下可以相互组合。

本申请实施例提供一种触控面板母板及其检测方法，为了更好地理解本申请，以下将结合附图本申请实施例提供的触控面板母板及其检测方法进行介绍。

可选的，触控面板母板可以是触控显示面板母板，也就是说，触控面板母板可以不仅具有触控功能，也可以具有显示功能。

触控显示面板母板可以为外挂式触控显示面板母板，也可以为内嵌式触控显示面板母板。内嵌式触控显示面板母板可以包括将触摸面板功能嵌入到像素内部的In-cell触控显示面板母板，相比于外挂式触控显示面板(即触控面板与显示面板独立设置且触控面板贴附于显示面板的封装层上)，内嵌式触控显示面板母板具有厚度较薄的优点。本申请对触控显示面板母板的具体结构不做限定。

可选的，触控面板母板可以为自电容式触控面板母板，也可以为互电容式触控面板母板。本申请对此不作限定。

如图1所示，触控面板母板100可以包括多个触控区TA和围绕各触控区TA的非触控区NA。各触控区TA可设置有多个触控通道10，非触控区NA可设置有测试电路20。示例性的，触控面板母板可以称为block，一个block可以切割为多个触控面板，切割后的触控面板可以称为cell。

可理解的是，触控通道10为触控信号通道。若触控通道有异常，例如断路或者短路，则通过触控通道10接收的触控信号会异常，将无法识别触控位置，因此检测触控通道10是否存在异常至关重要。需要说明的是，为了清楚的示出测试电路20，图1以及图4至图6对触控通道10的具体结构进行了隐藏绘示，仅示意出了触控通道10与开关元件连接的一端。

触控通道10包括触控电极。以互电容式触控面板母板为例，如图2所示，各触控通道10可以包括沿第一方向X延伸的第一触控通道11和沿第二方向Y延伸的第二触控通道12，第一方向X和第二方向Y相交，第一触控通道11和第二触控通道12相互绝缘。示例性的，第一方向X和第二方向Y可以垂直，第一方向X可以是行方向，第二方向Y可以是列方向。各第一触控通道11包括相互连接的多个第一触控电极11a，各第二触控通道12包括相互连接的多个第二触控电极12a。触控面板母板100还可以包括触控引线10b。触控引线10b可包括第一触控引线11b和第二触控引线 12b，第一触控引线11b与第一触控电极11a连接，第二触控引线12b和第二触控电极12a连接。第一触控引线11b和第二触控引线12b的另一端可与焊盘30连接。

或者，以自电容式触控面板母板为例，如图3所示，各触控通道10可以包括触控电极10a，各触控电极10a相互独立且绝缘。各触控电极10a与触控引线10b连接，触控引线10b的另一端可与焊盘30连接。

测试电路20可以包括开关元件组21、控制信号端SW及测试信号端 SC。多个开关元件组21与多个触控区TA一一对应。图1示出了触控面板母板100包括沿第一方向X排布的三个触控区TA，对应的，测试电路20 可以包括三个开关元件组21。各开关元件组21包括多个开关元件T，开关元件T的控制端与控制信号端SW连接，开关元件T的第一极与触控通道10连接，开关元件T的第二极与测试信号端SC连接。

可以通过控制信号端SW向开关元件T的控制端发送使开关元件T导通或者截止的控制信号，并通过测试信号端SC向触控通道10发送检测信号，并接收反馈信号。例如，在检测阶段，控制信号端SW、测试信号端 SC可以通过探针与检测模块连接。检测模块可以为测试用驱动芯片。检测模块也可以称为治具控制板。

以开关元件T在低电平下导通为例，可以通过控制信号端SW向开关元件T的控制端发送低电平(VGL)，使开关元件导通，然后通过测试信号端SC向触控通道10发送检测信号，并通过测试信号端SC接收反馈信号，将接收的反馈信号与基准信号进行比较，在反馈信号与基准信号之间的差值超过预设范围的情况下，可以确定触控通道存在异常，可以理解的是，在反馈信号与基准信号之间的差值在预设范围的情况下，可以确定触控通道无异常。

根据本申请实施例，通过在触控面板母板上设置测试电路，可以实现在触控面板母板被切割前就能对触控面板母板进行检测，相对于触控面板母板被切割后进行检测，可提高检测效率，提前发现触控面板母板上的触控通道是否存在异常。

示例性的，各触控区TA内设置的触控通道10的数量可以和其对应的开关元件组21中开关元件T的数量相同。也就是说，一个开关元件T与一个触控通道10连接，从而实现对每个触控通道10的检测。

在一些可选的实施例中，如图4所示，同一开关元件组21中的多个开关元件T的控制端与同一个控制信号端SW连接。例如，开关元件组21的数量为三个，则只需设置三个控制信号端SW即可实现对三个开关元件组 21中开关元件T的控制，一方面，能够大大节省控制信号端SW的数量，降低工艺成本；另一方面，可以在有限的空间内设置更大尺寸的控制信号端SW，使得在检测阶段探针与控制信号端SW更容易接触。

在同一开关元件组21中的多个开关元件T的控制端与同一个控制信号端SW连接的情况下，为了实现对每个触控通道10的检测，同一开关元件组10中的不同开关元件的第二极与不同测试信号端SC连接，从而能够通过每个测试信号端SC向其对应的触控通道10发送检测信号或者通过每个测试信号端SC接收其对应的触控通道反馈的信号，从而能够实现判断每个触控通道10是否存在异常。

在一些可选的实施例中，如图5所示，同一个测试信号端SC可以供不同触控区TA中的触控通道共用。例如，至少两个不同开关元件组21的各一个开关元件T的第二极与同一个测试信号端SC连接。仍以触控区TA以及开关元件组21的数量均为三个为例，以各触控区TA中触控通道10的数量以及各开关元件组21中开关元件T的数量均为四个为例。为了更方便的说明连接关系，开关元件组21中的四个开关元件T分别标记为T1、T2、 T3、T4，四个测试信号端SC标记为SC1、SC2、SC3、SC4，四个触控通道10分别标记为10-1、10-2、10-3、10-4。四个开关元件T1的第一极分别与四个触控通道10-1连接，四个开关元件T1的第二极均与测试信号端SC1 连接；四个开关元件T2的第一极分别与四个触控通道10-2连接，四个开关元件T2的第二极均与测试信号端SC2连接；四个开关元件T3的第一极分别与四个触控通道10-3连接，四个开关元件T3的第二极均与测试信号端SC3连接；四个开关元件T4的第一极分别与四个触控通道10-4连接，四个开关元件T4的第二极均与测试信号端SC4连接。

可以理解的是，四个触控通道10-1共用一个测试信号端SC1，四个触控通道10-2共用一个测试信号端SC2，四个触控通道10-3共用一个测试信号端SC3，四个触控通道10-4共用一个测试信号端SC4。

同理，通过使不同触控区TA中的触控通道共用测试信号端，一方面，能够大大节省测试信号端的数量，降低工艺成本；另一方面，可以在有限的空间内设置更大尺寸的测试信号端，使得在检测阶段探针与测试信号端更容易接触。

在一些可选的实施例中，控制信号端和测试信号端可以都被共用。如图6所示，多个触控区TA可以呈阵列分布。图6示出一行三列共计三个触控区TA，图6仅仅是一种示例，多个触控区TA也可以分布呈多行多列。

各触控区TA均设置有n个触控通道，各开关元件组21中开关元件T 的数量为n，同一行或者同一列的多个触控区TA对应设置有n个测试信号端，同一行或者同一列的多个触控区TA的第i个触控通道与第i个开关元件T的第一极连接，同一行或者同一列的多个触控区对应的多个第i个开关元件的第二极均与第i个测试信号端连接，n为大于或等于2的正整数， 1≤i≤n。

图6与图5的相同之处不再赘述，不同之处在于，同一个开关元件组 21中的多个开关元件T的控制端与同一个控制信号端SW连接。为了更方便的说明连接关系，三个开关元件组21分别标记为21-1、21-2、21-3，三个控制信号端分别标记为SW1、SW2、SW3。开关元件组21-1中的开关元件T的控制端均与控制信号端SW1连接，开关元件组21-2中的开关元件T 的控制端均与控制信号端SW2连接，开关元件组21-3中的开关元件T的控制端均与控制信号端SW3连接。

根据本申请实施例，通过使不同触控区TA中的触控通道共用测试信号端，同一开关元件组中的多个开关元件共用控制信号端，能够最大限度的节省控制信号端以及测试信号端的数量，降低工艺成本；另一方面，可以最大限度的在有限的空间内设置更大尺寸的控制信号端以及测试信号端，使得在检测阶段探针与控制信号端以及测试信号端更容易接触。

应当理解的是，本申请的附图中触控区的数量、触控区中触控通道的数量、开关元件组的数量等仅仅是一些示例，并不用于限度本申请。

另外，在不同触控区TA中的触控通道共用测试信号端的情况下，在检测时，应当使被共用的测试信号端所连接的不同开关元件在不同时刻导通，从而避免共用测试信号端的不同触控通道的信号相互干扰。

如上文中所述，参考图2或图3，触控面板母板100还可以包括触控引线10b和焊盘30。触控引线10b连接在触控通道10与焊盘30之间，开关元件T的第一极与焊盘30连接。可以理解为，触控通道10通过触控引线 10b以及焊盘30与开关元件T连接。在触控面板母板的制备过程中，触控引线10b也存在断裂或者短路的风险，本申请实施例中，也能够检测触控引线是否存在异常。

在一些可选的实施例中，请继续参考图2或图3，非触控区NA可以包括第一子区NA1和第二子区NA2，第一子区NA1位于触控区TA与第二子区NA2之间，测试电路20设置于第二子区NA2，焊盘30设置于第一子区NA1。在测试完成之后，可以沿切割线L1进行切割，从而去除第二子区NA2。参考图1，可以沿切割线L2进行切割，从而将触控面板母板切割为多个触控面板，每个触控面板可包括至少一个触控区TA。

根据本申请实施例，通过将测试电路20设置于远离触控区TA的第二子区NA2，能够方便去除测试电路20。

在一些可选的实施例中，开关元件T可以为薄膜晶体管。可以理解的是，开关元件T的控制端即为薄膜晶体管的栅极。

示例性的，测试电路10中各薄膜晶体管的类型可以相同。例如，测试电路10中各薄膜晶体管均为P型晶体管，或者测试电路10中各薄膜晶体管均为N型晶体管。通过将测试电路10中各薄膜晶体管设置为同一类型，可以通过相同的工艺步骤制备各薄膜晶体管，能够降低工艺难度。

示例性的，对于位于同一行或者同一列的多个触控区TA可以称为一个触控区组，一个触控区组对应的多个开关元件组21可以位于该触控区组的同一侧，从而在完成检测后，可以方便的将触控区组对应的多个开关元件组21从触控面板母板上切割掉。例如，图1中沿第一方向X排布的三个触控区TA为一个触控区组，该触控区组对应的三个开关元件组21均位于触控区组在第二方向Y上的一侧，从而可以仅切割一次就可以将三个开关元件组21从触控面板母板上去除。

本申请还提供一种触控面板母板的检测方法，可用于对上述任一项实施例提供的触控面板母板进行检测。如图7所示，本申请实施例提供的触控面板母板的检测方法包括步骤110至步骤130。

步骤110，针对任意一个开关元件组，通过控制信号端发送导通信号，导通多个开关元件；

步骤120，通过测试信号端向触控通道发送检测信号并接收反馈信号；

步骤130，在反馈信号与基准信号之间的差值超过预设范围的情况下，确定触控通道异常。

在步骤110之前，可以通过探针将检测模块与控制信号端以及测试信号端连接。检测模块可以是驱动芯片。

在一些可选的实施例中，可以依次检测各个触控区的触控通道，也就是说，在检测过程中，可以依次导通各个开关元件组。

检测信号可以为电压信号，反馈信号可以为电容信号，基准信号可以为电容信号。

在触控面板母板为自电容式的情况下，可以通过测试信号端向触控通道发送电压信号，并通过同一个测试信号端接收的触控通道反馈的电容信号，将反馈的电容信号与基准电容信号进行比较，在反馈的电容信号与基准电容信号之间的差值超过预设范围的情况下，确定该触控通道存在异常。例如，在接收不到反馈信号的情况下，可认为反馈的电容信号为0，说明该触控通道存在断路。在能接收到反馈信号，且反馈的电容信号与基准电容信号之间的差值超过预设范围的情况下，可确定该触控通道存在短路。

在触控面板母板为互电容式的情况下，可以通过一个测试信号端向第一触控通道发送电压信号，并通过另一个测试信号端接收的第二触控通道反馈的电容信号，可以理解的是，第一触控通道与第二触控通道需要相交，将反馈的电容信号与基准电容信号进行比较，在反馈的电容信号与基准电容信号之间的差值超过预设范围的情况下，确定该触控通道存在异常。例如，在接收不到反馈信号的情况下，可认为反馈的电容信号为0，说明该第一触控通道和第二触控通道中的至少一者存在断路。在能接收到反馈信号，且反馈的电容信号与基准电容信号之间的差值超过预设范围的情况下，可确定该第一触控通道和第二触控通道中的至少一者存在短路。

预设范围可以根据实际情况进行选择，具体可以是某一电压值范围或者电容值范围等。

根据本申请实施例，可以实现在触控面板母板被切割前就能对触控面板母板进行检测，相对于触控面板母板被切割后进行检测，可提高检测效率，提前发现触控面板母板上的触控通道是否存在异常。

在一些可选的实施例中，如图8所示，本申请实施例提供的触控面板母板的检测方法还可以包括步骤140和步骤150。

步骤140，去除触控面板母板上的测试电路；

步骤150，将触控面板母板切割为多个触控面板，每个触控面板包括至少一个触控区。

例如，在测试完成之后，如图2或图3所示，可以沿切割线L1进行切割，从而去除测试电路。参考图1，可以沿切割线L2进行切割，从而将触控面板母板切割为多个触控面板，每个触控面板可包括至少一个触控区。

示例性的，在确定触控通道存在异常的情况下，可输出报警信号，以提示工作人员进行进一步的检测或进行修复。

需要说明的是，本申请中提及的示例性实施例，基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是，本申请不局限于上述步骤的顺序，也就是说，可以按照实施例中提及的顺序执行步骤，也可以不同于实施例中的顺序，或者若干步骤同时执行。

依照本申请如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该申请仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本申请的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本申请以及在本申请基础上的修改使用。本申请仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种触控面板母板，其特征在于，包括多个触控区和围绕各所述触控区的非触控区；

触控通道，各所述触控区设置有多个所述触控通道；

测试电路，位于所述非触控区，所述测试电路包括开关元件组、控制信号端及测试信号端，多个所述开关元件组与多个所述触控区一一对应，各所述开关元件组包括多个开关元件，所述开关元件的控制端与所述控制信号端连接，所述开关元件的第一极与所述触控通道连接，所述开关元件的第二极与所述测试信号端连接；

同一所述开关元件组中的多个所述开关元件的控制端与同一个所述控制信号端连接，同一所述开关元件组中的不同所述开关元件的第二极与不同所述测试信号端连接，不同所述开关元件组与不同所述控制信号端连接；

所述测试信号端用于发送检测信号并接收反馈信号。

2.根据权利要求1所述的触控面板母板，其特征在于，至少两个不同所述开关元件组的各一个所述开关元件的第二极与同一个所述测试信号端连接。

3.根据权利要求2所述的触控面板母板，其特征在于，多个所述触控区呈阵列分布，各所述触控区均设置有n个所述触控通道，各所述开关元件组中开关元件的数量为n，同一行或者同一列的多个所述触控区对应设置有n个所述测试信号端，同一行或者同一列的多个所述触控区的第i个所述触控通道与第i个所述开关元件的第一极连接，同一行或者同一列的多个所述触控区对应的多个第i个所述开关元件的第二极均与第i个所述测试信号端连接，n为大于或等于2的正整数，1≤i≤n。

4.根据权利要求1所述的触控面板母板，其特征在于，所述的触控面板母板还包括触控引线和焊盘，所述触控引线连接在所述触控通道与所述焊盘之间，所述开关元件的第一极与所述焊盘连接。

5.根据权利要求4所述的触控面板母板，其特征在于，所述非触控区包括第一子区和第二子区，所述第一子区位于所述触控区与所述第二子区之间，所述测试电路设置于所述第二子区，所述焊盘设置于所述第一子区。

6.根据权利要求1所述的触控面板母板，其特征在于，所述开关元件为薄膜晶体管。

7.根据权利要求6所述的触控面板母板，其特征在于，所述测试电路中各所述薄膜晶体管均为P型晶体管或者均为N型晶体管。

8.根据权利要求1所述的触控面板母板，其特征在于，多个所述触控区呈阵列分布，同一行或者同一列所述触控区对应的多个所述开关元件组位于同一行或者同一列所述触控区的同一侧。

9.一种触控面板母板的检测方法，其特征在于，所述触控面板母板包括如权利要求1至8任一项所述的触控面板母板，所述方法包括：

针对任意一个所述开关元件组，通过所述控制信号端发送导通信号，导通所述多个开关元件；

通过所述测试信号端向所述触控通道发送检测信号并接收反馈信号；

在所述反馈信号与基准信号之间的差值超过预设范围的情况下，确定所述触控通道异常。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

去除所述触控面板母板上的所述测试电路；

将所述触控面板母板切割为多个触控面板，每个所述触控面板包括至少一个所述触控区。