CN112485940B - 触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置，包括：显示区和非显示区；显示区设置有至少一个触控区组和多条触控走线；每个触控区组包括四行N列触控电极；各触控走线与各触控电极一一对应电连接；非显示区设置有至少一个信号传输线组；每个信号传输线组包括四条信号传输线；每条信号传输线分别与同一触控区组中位于同一列的两个触控电极对应的触控走线电连接，且每个触控电极对应的触控走线分别与同一信号传输线组中的两条信号传输线电连接；同一触控区组中位于同一列的各触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同；在触控电极的测试阶段，同一信号传输线组的各条信号传输线分时传输测试电压。

Description

触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置。
背景技术
当前，具有触控功能的显示面板被广泛应用于手机、可穿戴设备等显示设备中，以使显示设备能够通过简单便利的方式实现人机交互功能。具有触控功能的显示面板中通常设置有触控电极，并通过检测触控电极上的信号变化量实现相应的触摸操作。
通常在显示面板的制作过程，会先制作显示基板，再将用于驱动显示面板的驱动芯片绑定至显示基板上。在显示基板的制作过程中或显示基板制备完成后，会对显示基板进行点屏测试，以判断该显示基板中所制备的显示单元是否能够正常显示；与此同时，也需要对显示基板上形成的触控电极以及触控走线进行测试，否则如果在绑定驱动芯片后才检测出触控不良，已绑定的芯片等物料则被浪费掉，增加不必要的生产成本。因此，如何实现对显示基板上的触控电极和触控走线进行准确测试，成为当前亟待解决的技术问题。
发明内容
针对上述存在问题，本发明实施例提供一种触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置，以对触控显示基板上的触控电极及触控走线进行检测，能够及时检测出触控显示基板上的触控电极的不良情况，从而有利于降低液晶显示面板的生产成本。
第一方面，本发明实施例提供了一种触控显示基板，包括：显示区和非显示区；
所述显示区设置有至少一个触控区组和多条触控走线；每个所述触控区组包括四行N列触控电极；各所述触控走线与各所述触控电极一一对应电连接；其中，N≥1，且N为正整数；
所述非显示区设置有至少一个信号传输线组；每个所述信号传输线组包括四条信号传输线；每条所述信号传输线分别与同一所述触控区组中位于同一列的两个所述触控电极对应的触控走线电连接，且每个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的两条所述信号传输线电连接；同一所述触控区组中位于同一列的各所述触控电极对应的触控走线电连接的所述信号传输线不完全相同；
在触控电极的测试阶段，同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线分时传输测试电压。
第二方面，本发明实施例还提供了一种触控显示基板的测试方法，用于测试上述触控显示基板，所述测试方法包括：
分时向同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线提供测试电压，并分别获取向各所述信号传输线提供测试电压时各所述触控电极的产生的测试信号；
根据所述测试信号，确定同一所述触控区组中位于同一列的各所述触控电极之间的短路情况。
第三方面，本发明实施例还提供一种液晶显示面板，包括：上述触控显示基板。
第四方面，本发明实施例还提供一种显示装置，包括：上述液晶显示面板。
本发明实施例提供的触控显示基板及其测试方法、液晶显示面板和显示装置，将非显示区设置的每条信号传输线分别与显示区中同一触控区组中位于同一列的两个触控电极对应的触控走线电连接，以及每个触控电极对应的触控走线分别与同一信号传输线组中的两条信号传输线电连接，且同一触控区组中位于同一列的各触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同，以在触控电极的测试阶段，通过使同一信号传输线组的各条信号传输线分时传输测试电压，并根据各条信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号，能够检测出各触控电极与其对应的触控走线之间的断路情况，以及属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的短路情况，从而能够及时检测出触控电极及触控走线的不良情况，以防在绑定驱动芯片后再检测出触控电极及触控走线的不良情况，而使驱动芯片等物料产生浪费，进而有利于降低液晶显示面板的生产成本。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图6是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图7是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图8是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图9是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图10是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图11是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图12是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图13是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图14是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图15是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图16是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图17是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图18是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图19是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图20是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图21是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图22是本发明实施例提供的一种开关模块的结构示意图；
图23是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图24是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图；
图25是本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图；
图26是本发明实施例提供的一种触控显示基板的膜层结构示意图；
图27是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的膜层结构示意图；
图28是本发明实施例提供的一种触控显示基板的测试方法的流程图；
图29是本发明实施例提供又一种触控显示基板的测试方法的流程图；
图30是本发明实施例提供的一种液晶显示面板的膜层结构示意图；
图31是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
正如背景技术所述，现有的技术在触控显示基板的制作过程中或触控显示基板制备完成后，会对触控显示基板进行点屏测试，能够判断该触控显示基板中所制备的显示单元的不良情况，而该触控显示基板中的触控电极及其触控走线的不良情况也需要在此时进行测试，否则如果在绑定驱动芯片后才检测出触控不良，已绑定的芯片等物料则被浪费掉，增加不必要的生产成本。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种触控显示基板，该触控显示基板包括显示区和非显示区；显示区设置有至少一个触控区组和多条触控走线；每个触控区组包括四行N列触控电极；各触控走线与各触控电极一一对应电连接；其中，N≥1，且N为正整数；非显示区设置有至少一个信号传输线组；每个信号传输线组包括四条信号传输线；每条信号传输线分别与同一所述触控区组中位于同一列的两个触控电极对应的触控走线电连接，且每个触控电极对应的触控走线分别与同一信号传输线组中的两条信号传输线电连接；同一触控区组中位于同一列的各触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同；在触控电极的测试阶段，同一信号传输线组的各条信号传输线分时传输测试电压。
采用上述技术方法，通过将同一触控区组中位于同一列的各触控电极对应的触控走线电连接不完全相同的信号传输线，能够在触控电极的测试阶段，当同一信号传输线组的各条信号传输线分时传输测试电压时，每次至少能够检测出同一触控区组中位于同一列的其中两个触控电极与其触控走线之间的断路情况，及其与另外两个触控电极的短路情况，从而能够及时检测出触控电极及触控走线的不良情况，以防在绑定驱动芯片后再检测出触控电极及触控走线的不良情况，而使驱动芯片等物料产生浪费，进而有利于降低液晶显示面板的生产成本。
以上是本发明的核心思想，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。以下将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
图1是本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图。如图1所示，触控显示基板100的显示区101设置有至少一个触控区组10和多条触控走线20，每个触控区组10包括四行N列触控电极11；其中，N≥1，且N为正整数；各触控走线20与各触控电极11一一对应电连接，各触控走线20能够传输触控驱动信号至触控电极11，或者传输触控电极11生成的触控检测信号。
触控显示基板100的非显示区102设置有至少一个信号传输线组30，每个信号传输线组30包括四条信号传输线31、32、33和34；每条信号传输线分别与同一触控区组10中位于同一列的两个触控电极对应的触控走线20电连接，且每个触控电极对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的两条信号传输线电连接；同一触控区组10中位于同一列的各触控电极11对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同。在触控电极11的测试阶段，同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)分时传输测试电压。
示例性的，属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极11中，位于第一行的触控电极111对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的信号传输线31和32电连接，位于第二行的触控电极112对应的触控走线分别与同一信号传输线组30中的信号传输线31和33电连接，位于第三行的触控电极113对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的信号传输线33和34电连接，位于第四行的触控电极114分别与同一信号传输线组30中的信号传输线32和34电连接；相应的，信号传输线31分别与属于同一触控区组且位于同一列的第一行的触控电极111和第二行的触控电极112对应的触控走线20电连接，信号传输线32分别与属于同一触控区组且位于同一列的第一行的触控电极111和第四行的触控电极114对应的触控走线20电连接，信号传输线33分别与属于同一触控区组且位于同一列的第三行的触控电极113和第四行的触控电极114对应的触控走线20电连接，信号传输线34分别与属于同一触控区组且位于同一列的第二行的触控电极112和第四行的触控电极114对应的触控走线20电连接。
其中，在触控电极的测试阶段，当信号传输线31传输测试电压时，属于同一触控区组10且位于同一列各触控电极(111、112、113、114)中的触控电极111和触控电极112应接收到测试电压，而触控电极113和触控电极114不应接收到测试电压，通过分别获取同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，即可检测出触控电极111与其对应的触控走线20之间的断路情况，触控电极112与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极111和/或触控电极112与触控电极113和/或触控电极114之间的短路情况。
当信号传输线32传输测试电压时，属于同一触控区组10且位于同一列各触控电极(111、112、113、114)中的触控电极111和触控电极114应接收到该测试电压，而触控电极112和触控电极113不应接收到测试电压，通过分别获取同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，即可检测出触控电极111与其对应的触控走线20之间的断路情况，触控电极114与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极111和/或触控电极114与触控电极112和/或触控电极113之间的短路情况。
当信号传输线33传输测试电压时，属于同一触控区组10且位于同一列各触控电极(111、112、113、114)中的触控电极112和触控电极113应接收到该测试电压，而触控电极111和触控电极114不应接收到测试电压，通过分别获取同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，即可检测出触控电极112与其对应的触控走线20之间的断路情况，触控电极113与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极112和/或触控电极113与触控电极111和/或触控电极114之间的短路情况。
当信号传输线34传输测试电压时，属于同一触控区组10且位于同一列各触控电极(111、112、113、114)中的触控电极113和触控电极114应接收到该测试电压，而触控电极111和触控电极112不应接收到测试电压，通过分别获取同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，即可检测出触控电极113与其对应的触控走线20之间的断路情况，触控电极114与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极113和/或触控电极114与触控电极111和/或触控电极112之间的短路情况。
将信号传输线31传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)上的测试信号与信号传输线32传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)上的测试信号相结合，可以进一步确定短路的两个触控电极的具体位置。例如，当信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，且在信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113未接收到测试电压，则可以认为触控电极113与触控电极112发生短路；或者，若信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，且在信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可以认为触控电极114与触控电极112发生短路；或者，信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113未接收到测试电压，以及触控电极114的测试信号能显示该触控电极114未接收到测试电压，而在信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可认为触控电极111与触控电极112发生短路。
将信号传输线31传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号与信号传输线33传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号相结合，同样可以进一步确定短路的两个触控电极11的具体位置。例如，当信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，且在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极113与触控电极111发生短路；或者，当信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，且在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114未接收到测试电压，则可以认为触控电极114与触控电极111发生短路；或者，信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113未接收到测试电压，以及触控电极114的测试信号能显示该触控电极114未接收到测试电压，而在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可认为触控电极111与触控电极112发生短路。
将信号传输线31传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号与信号传输线34传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号相结合，也可以进一步确定短路的两个触控电极11的具体位置。例如，当信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极113与触控电极111发生短路；或者，当信号传输线31传输测试电压时，触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极114与触控电极111发生短路；或者，信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，而在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可认为触控电极113与触控电极112发生短路；或者，信号传输线31传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，而在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可认为触控电极114与触控电极112发生短路。
将信号传输线32传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号与信号传输线33传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号相结合，也可以进一步确定短路的两个触控电极11的具体位置。例如，当信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，且在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极111与触控电极112发生短路；或者，当信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，且在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极111与触控电极113发生短路；或者，信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，而在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，则可认为触控电极112与触控电极114发生短路；或者，信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，而在信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，则可认为触控电极114与触控电极113发生短路。
将信号传输线32传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号与信号传输线34传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号相结合，也可以进一步确定短路的两个触控电极11的具体位置。例如，当信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112未接收到测试电压，以及触控电极113的测试信号能显示该触控电极113未接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可以认为触控电极112与触控电极113发生短路；或者，当信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极111与触控电极113发生短路；或者，信号传输线32传输测试电压时，假若触控电极113的测试信号能显示该触控电极113接收到测试电压，而在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111未接收到测试电压，以及触控电极112的测试信号能显示该触控电极112未接收到测试电压，则可认为触控电极113与触控电极114发生短路。
将信号传输线33传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号与信号传输线34传输测试电压时属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极111、112、113、114上的测试信号相结合，也可以进一步确定短路的两个触控电极11的具体位置。例如，当信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111未接收到测试电压，以及触控电极114的测试信号能显示该触控电极114未接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极111与触控电极114发生短路；或者，当信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，且在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极112的测试信号能显示该触控电极112接收到测试电压，则可以认为触控电极112与触控电极114发生短路；或者，信号传输线33传输测试电压时，假若触控电极114的测试信号能显示该触控电极114接收到测试电压，而在信号传输线34传输测试电压时，假若触控电极111的测试信号能显示该触控电极111未接收到测试电压，以及触控电极112的测试信号能显示该触控电极112未接收到测试电压，则可认为触控电极114与触控电极113发生短路。
如此，在同一信号传输线组的各信号线传输线分时传输的测试电压时，能够检测出属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极之间的短路情况以及各触控电极与其对应的触控走线的断路情况；同时，通过将同一信号传输线组中任意两个信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号结合，能够准确地检测出属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的具体短路情况，从而能够及时检测出触控显示基板中各触控电极的不良情况，以防在绑定驱动芯片后检测出触控电极不良，而造成驱动芯片等物料浪费的情况产生，进而能够降低液晶显示面板的生产成本。
需要说明的是，图1仅为本发明实施例示例性的附图，图1以及本发明实施例的其它附图中的“…”为省略的触控区组、触控电极、触控走线、信号传输线组等；在本发明实施例中，触控显示基板的显示区设置有至少一个触控区组，即显示面板的显示区可以设置有一个触控区组、两个触控区组或多个触控区组，且每个触控区组可以包括一列触控电极、两列触控电极或多列触控电极，本发明实施例对此不做具体限定。
相应的，在本发明实施例中，触控显示基板的非显示区设置有至少一个信号传输线组，即触控显示基板的非显示区可以设置有一个信号传输线、两个信号传输线组或多个信号传输线组，本发明实施例对此也不做具体限定。
此外，图1中同一触控区组中同一列的各触控电极与同一信号传输线组中各条信号传输线的对应关系仅为本发明实施例示例性的对应关系，在满足“每条信号传输线分别与同一触控区组中位于同一列的两个触控电极对应的触控走线电连接，且每个触控电极对应的触控走线分别与同一信号传输线组中的两条信号传输线电连接；同一触控区组中位于同一列的各触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同”的条件的前提下，本发明实施例对同一触控区组中同一列的各触控电极与同一信号传输线组中各条信号传输线的对应关系不做具体限定。
示例性的，图2是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图2所示，属于同一触控区组10且位于同一列的各触控电极(111、112、113、114)中，位于第一行的触控电极111对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的信号传输线31和34电连接，位于第二行的触控电极112对应的触控走线分别与同一信号传输线组30中的信号传输线31和32电连接，位于第三行的触控电极113对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的信号传输线32和33电连接，位于第四行的触控电极113分别与同一信号传输线组30中的信号传输线33和34电连接。如此，当在触控电极11的测试阶段，同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)分时传输测试电压时，同样能够准确地确定出属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的具体短路情况，以及各触控电极与其对应的触控走线的断路情况，其技术原理与上述图1中所示的情况的技术原理类似，在此不再赘述。
可选的，当每个信号传输线组的四条信号传输线分别为第一信号传输线、第二信号传输线、第三信号传输线和第四信号传输线时，同一触控区组中位于同一列的任意相邻的两个触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的所述第一信号传输线和第二信号传输线电连接；同一触控区组中位于同一列的四个触控电极中两个相邻的触控电极对应的触控走线均与第三信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的触控电极对应的触控走线均与第四信号传输线电连接；或者，同一触控区组中位于同一列的四个触控电极中两个相邻的触控电极对应的触控走线均与第四信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线电连接。
示例性的，图3是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图3所示，触控显示基板100的显示区101设置的触控区组10包括位于同一列的四个触控电极11，位于同一列的四个触控电极11分别为触控电极111、触控电极112、触控电极113和触控电极114；触控显示基板100的非显示区102设置的信号传输线组30包括第一信号传输线31、第二信号传输线32、第三信号传输线33和第四信号传输线34。由于触控电极111与触控电极112相邻，触控电极113与触控电极114相邻，因此第一信号传输线31分别与触控电极111和触控电极113对应的触控走线电连接，第二信号传输线32分别与触控电极112和触控电极114对应的触控走线电连接；相应的，由于触控电极111为触控区组10的首行触控电极，触控电极114为触控区组尾行的触控电极，而位于同一列的其余两个触控电极112和触控电极113为相邻的两个触控电极，因此第三信号传输线33可分别与触控电极111和触控电极114对应的触控走线20电连接，第四信号传输线34可分别与触控电极112和触控电极113对应的触控走线电连接。
其中，当第一信号传输线31传输测试电压时，触控电极111和触控电极113应能够分别接收到测试电压，而触控电极112和触控电极114则不应接收到测试电压，因此可通过触控电极111和触控电极113上的测试信号，检测触控电极111与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极113与其对应的触控走线之间的断路情况；若触控电极111和触控电极113与其对应的触控走线未出现断路，可分别通过触控电极112和触控电极114上的测试信号，检测触控电极111和/或触控电极113与触控电极112和/或触控电极114是否可能发生短路；例如当触控电极112上的测试信号显示该触控电极112接收到测试电压时，则可能触控电极111和/或触控电极113与触控电极112出现短路；此时，可通过第二信号传输线32传输测试电压，使得触控电极112和触控电极114应接收到测试电压，而触控电极111和触控电极113不应接收到测试电压信号，因此可通过触控电极112和触控电极114上的测试信号，检测触控电极112与其对应的触控走线20之间的断路情况，以及触控电极114与其对应的触控走线之20间的断路情况，且在触控电极112和触控电极114与其对应的触控走线之间均未发生断路时，继续通过触控电极111和触控电极113上的测试信号，检测触控电极112具体是与触控电极111短路，还是与触控电极113短路，若触控电极113的测试信号显示该触控电极113接收到测试电压，而触控电极111上的测试信号显示该触控电极111未接收到测试电压，则可认为触控电极112与触控电极113发生短路。此外，对于触控电极111与触控电极112发生短路、触控电极113与触控电极114发生短路或触控电极111与触控电极114发生短路时，检测原理与上述触控电极112和触控电极113发生短路时的检测原理相同，在此不再赘述。
当第三信号传输线33传输测试电压时，触控电极111和触控电极114应接收到测试电压，而触控电极112和触控电极113不应接收到测试电压，因此可通过触控电极112和触控电极113的测试信号，确定触控电极111和/或触控电极114与触控电极112和/或触控电极113的短路情况；若触控电极112的测试信号显示该触控电极112接收到测试电压，则可继续通过第四信号传输线34传输测试电压；此时，触控电极112和触控电极113应接收到测试电压，而触控电极111和触控电极114不应接收到测试电压，若此时触控电极114的测试信号显示该触控电极114接收到测试电压，则可认为触控电极114与触控电极112发生短路；相应的，当触控电极111与触控电极113发生短路时，其技术原理与触控电极114和触控电极112发生短路时的技术原理类似，在此不再赘述。
如此，第一信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号与第二信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号结合，可以检测出各触控电极与其对应的触控走线之间的断路情况，以及至少能够检测出相邻两个触控电极之间的短路情况；而结合第三信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号与第四信号传输线传输测试电压时属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的测试信号，可以检测位于同一列且间隔设置的两个触控电极之间的短路情况。
需要说明的是，图3仅为本发明实施例示例性的说明，图3中仅示例性的示出了属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极与各条信号传输线之间的对应关系，在本发明实施例中各触控电极与各条信号传输线之间的对应关系还可以为其它情况。
示例性的，图4是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图4中与图3中相同之处可参照上述对图3的描述，在此不再赘述，此处仅对图4中与图3中不同之处进行示例性的说明。如图4所示，第一信号传输线31可分别与触控电极112和触控电极114对应的触控走线20电连接，第二信号传输线32分别与触控电极111和触控电极113对应的触控走线电连接。如此，同样能够通过结合第一信号传输线31传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号和第二信号传输线32传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，检测出各触控电极(111、112、113、114)与其对应的触控走线之间的断路情况，以及相邻两个触控电极(111和112、113和114、112和113)之间的短路情况以及位于首行的触控电极111和位于尾行的触控电极114之间的短路情况。
示例性的，图5是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图5中与图3中相同之处可参照上述对图3的描述，在此不再赘述，此处仅对图5中与图3中不同之处进行示例性的说明。如图5所示，第三信号传输线33可分别与触控电极112和触控电极113对应的触控走线20电连接，第四信号传输线34分别与触控电极111和触控电极114对应的触控走线电连接。如此，同样能够通结合第三信号传输线33传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号和第四信号传输线34传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，检测出间隔设置的两个触控电极(111和113、112和114)之间的短路情况。
示例性的，图6是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图6中与图5中相同之处可参照上述对图5的描述，在此不再赘述，此处仅对图6中与图5中不同之处进行示例性的说明。如图6所示，第一信号传输线31可分别与触控电极112和触控电极114对应的触控走线20电连接，第二信号传输线32分别与触控电极111和触控电极113对应的触控走线20电连接。如此，同样能够通结合第一信号传输线31传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号和第二信号传输线32传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，检测出相邻两个触控电极(111和112、112和113、113和114)以及位于首行和尾行的两个触控电极111和114之间的短路情况。
示例性的，图7是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图7中与图3中相同之处可参照上述对图3的描述，在此不再赘述，此处仅对图7中与图3中不同之处进行示例性的说明。如图7所示，第三信号传输线33可分别与触控电极111和触控电极112对应的触控走线20电连接，第四信号传输线34分别与触控电极113和触控电极114对应的触控走线电连接。此时，当第三信号传输线33传输测试电压时，触控电极111和触控电极112应接收到测试电压，而触控电极113和触控电极114不应接收到测试电压，因此可检测触控电极111和/或触控电极112与触控电极113和/或触控电极114的短路情况；例如，若触控电极113的测试信号显示触控电极113接收到测试电压，则可继续通过第四信号传输线34传输测试电压；此时，触控电极113和触控电极114应接收到测试电压，而触控电极111和触控电极112不应接收到测试电压，若触控电极111的测试信号显示该触控电极111接收到测试电压，则可以认为触控电极111与触控电极113短路。相应的，当触控电极112和触控电极114发生短路时其技术原理与触控电极111和触控电极113短路时的技术原理类似，在此不再赘述。如此，同样能够通结合第三信号传输线33传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号和第四信号传输线34传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，检测出间隔设置的两个触控电极(111和113、112和114)之间的短路情况。
示例性的，图8是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图8中与图7中相同之处可参照上述对图7的描述，在此不再赘述，此处仅对图8中与图7中不同之处进行示例性的说明。如图8所示，第三信号传输线33可分别与触控电极113和触控电极114对应的触控走线20电连接，第四信号传输线34分别与触控电极111和触控电极112对应的触控走线电连接。如此，同样能够通结合第三信号传输线33传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号和第四信号传输线34传输测试电压时各触控电极(111、112、113、114)的测试信号，检测出间隔设置的两个触控电极(111和113、112和114)之间的短路情况。
需要说明的是图1-图8仅示例性的对属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极与同一信号传输线组的各条信号传输线之间的对应关系，以对同一列的各触控电极的短路情况进行检测，而在本发明实施例中还可以对位于同一行的各触控电极的短路情况进行检测。
可选的，位于同一行任意相邻的两个触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同。
示例性的，图9是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图9所示，以每个触控区组10包括四列触控电极为例。属于同一触控区组且位于第一行的各触控电极(111、121、131、141)与各条信号传输线(31、32、33、34)之间的对应关系为：触控电极111对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线32电连接，触控电极121对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线33电连接，触控电极131对应的触控走线20分别与信号传输线33和信号传输线34电连接，触控电极141对应的触控走线20分别与信号传输线32和信号传输线34电连接；属于同一触控区组且位于第二行的各触控电极(112、122、132、142)与各条信号传输线之间的(31、32、33、34)对应关系为：触控电极112对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线33电连接，触控电极122对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线32电连接，触控电极132对应的触控走线20分别与信号传输线32和信号传输线34电连接，触控电极142对应的触控走线20分别与信号传输线33和信号传输线34电连接；属于同一触控区组且位于第三行的各触控电极(113、123、133、143)与各条信号传输线之间的(31、32、33、34)对应关系为：触控电极113对应的触控走线20分别与信号传输线33和信号传输线34电连接，触控电极123对应的触控走线20分别与信号传输线32和信号传输线34电连接，触控电极133对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线32电连接，触控电极143对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线33电连接；属于同一触控区组且位于第四行的各触控电极(114、124、134、144)与各条信号传输线之间的(31、32、33、34)对应关系为：触控电极114对应的触控走线20分别与信号传输线32和信号传输线34电连接，触控电极124对应的触控走线20分别与信号传输线33和信号传输线34电连接，触控电极134对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线33电连接，触控电极144对应的触控走线20分别与信号传输线31和信号传输线32电连接。
如此，在同一信号传输线组的各信号线传输线分时传输的测试电压时，不仅能够检测出属于同一触控区组位于同一列的各触控电极之间的短路情况，还能够检测出位于同一行的各触控电极之间的短路情况，其具体检测方式与上述图1中所示出的位于同一列的各触控电极之间的短路情况的检测原理类似，相同之处可参照上述对图1中同一列的各触控电极之间的短路情况的检测原理，在此不再赘述。
需要说明的是，图9中同一行的各触控电极与各条信号传输线的对应关系仅为本发明实施例示例性的对应关系，在满足“位于同一行的任意相邻两个触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同”的条件的前提下，本发明实施例对位于同一行的各触控电极与各条信号传输线的对应关系不做具体限定。
为便于描述，在没有特别说明的前提下，本发明实施例均以每个触控区组包括四列触控电极为例，对本发明实施例的技术方案进行示例性的说明。
可选的，图10是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图10所示，每个信号传输线组30的四条信号传输线中的其中两条信号传输线分别为第一信号传输线31和第二信号传输线32；位于同一行的任意相邻的两个触控电极(例如111和121、131和141)对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的第一信号传输线31和第二信号传输线32电连接。即第一信号传输线31分别与位于第一行的触控电极111和触控电极131电连接，第二信号传输线32分别与位于第一行的触控电极121和触控电极141电连接；第一信号传输线31分别与位于第二行的触控电极122和触控电极142电连接，第二信号传输线32分别与位于第二行的触控电极112和触控电极132电连接；第一信号传输线31分别与位于第三行的触控电极113和触控电极133电连接，第二信号传输线32分别与位于第三行的触控电极123和触控电极143电连接，第一信号传输线31分别与位于第四行的触控电极124和触控电极144电连接，第二信号传输线32分别与位于第四行的触控电极114和触控电极134电连接。
如此，结合第一信号传输线传输测试电压时位于同一行的四个触控电极的测试信号与第二信号传输线传输测试电压时位于同一行的四个触控电极的测试信号，可以检测出位于同一行的任意相邻的两个触控电极之间的短路情况，其技术原理与图3中所示的位于属于同一触控区组且同一列的四个触控电极之间的短路情况的检测原理类似，相同之处可参照上述对图3的描述，在此不再赘述。
需要说明的是，图10仅为本发明实施例示例性的说明，图10中仅示例性的示出了位于各行的触控电极与第一信号传输线和第二信号传输线的对应关系；在本发明实施例中第一行的触控电极和第三行的触控电极与第一信号传输线和第二信号传输线之间的对应关系能够与第二行触控电极和第四行的触控电极与第一信号传输线和第二信号传输线之间的对应关系互换(如11所示)，本发明实施例对此不做具体限定。
上述仅示例性的对位于同一行的相邻两个触控电极与第一信号传输线和第二信号传输线之间的对应关系进行了示例性的说明，以下将结合附图对位于同一行的各触控电极与同一信号传输线组中的另外两条信号传输线之间的对应关系进行示例性的说明。
可选的，继续参考图10，每个信号传输线组30的四条信号传输线中的另外两条信号传输线分别为第三信号传输线33和第四信号传输线34；位于同一行的任意相邻的两个触控电极111和121(131和141)对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的第三信号传输线33和第四信号传输线34电连接。即第三信号传输线33分别与位于第一行的触控电极111和触控电极131电连接，第四信号传输线34分别与位于第一行的触控电极121和触控电极141电连接；第三信号传输线33分别与位于第二行的触控电极122和触控电极142电连接，第四信号传输线34分别与位于第二行的触控电极112和触控电极132电连接；第三信号传输线33分别与位于第三行的触控电极123和触控电极143电连接，第四信号传输线34分别与位于第三行的触控电极113和触控电极133电连接；第三信号传输线33分别与位于第四行的触控电极114和触控电极134电连接，第四信号传输线34分别与位于第四行的触控电极124和触控电极144电连接。
如此，结合第三信号传输线传输测试电压时位于同一行的四个触控电极的测试信号与第四信号传输线传输测试电压时位于同一行的四个触控电极的测试信号，同样可以检测出位于同一行的任意相邻的两个触控电极之间的短路情况。
需要说明的是，图10仅为本发明实施例示例性的说明，图10中仅示例性的示出了位于各行的触控电极与第三信号传输线和第四信号传输线的对应关系；在本发明实施例中第一行的触控电极和第三行的触控电极与第三信号传输线和第四信号传输线之间的对应关系能够与第二行触控电极和第四行的触控电极与第三信号传输线和第四之间的对应关系互换(如11所示)，本发明实施例对此不做具体限定。
可选的，每个信号传输线组的四条信号传输线中的另外两条信号传输线分别为第三信号传输线和第四信号传输线；当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于4的偶数时，位于同一行的每相邻两个触控电极为一个触控电极组；同一触控电极组中的两个触控电极对应的触控走线均与第三信号传输线或第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个触控电极组中的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接。
示例性的，图12是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图12所示，以触控显示基板中每一行设置有一个触控区组，且每个触控区组包括四列触控电极为例，第一列和第二列的触控电极中位于同一行的两个触控电极为一个第一触控电极组，第三列和第四列的触控电极中位于同一行的两个触控电极为一个第二触控电极组。其中，位于第一行第一触控电极组的两个触控电极111和121、位于第二行的第二触控电极组的两个触控电极132和142、位于第三行的第二触控电极组的两个触控电极133和143以及位于第四行的第一触控电极组的两个触控电极114和124对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接，位于第一行的第二触控电极组的两个触控电极131和141、位于第二行的第一触控电极组的两个触控电极112和122、位于第三行的第一触控电极组的两个触控电极113和123以及位于第四行的第二触控电极组的两个触控电极134和144对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接。
如此，当第三信号传输线和第四信号传输线分时传输测试电压时，可以对位于同一行且相邻的两个触控电极组中间隔设置的触控电极之间的短路情况进行检测，其技术原理与图7中所示的位于属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极之间的短路情况的检测原理类似，在此不再赘述。
需要说明是，图12仅为本发明实施例示例性的附图，图12中仅示例性的示出了位于同一行的相邻两个触控电极组中的各触控电极与第三信号传输线和第四信号传输线之间的对应关系，在本发明实施例中位于同一行的各触控电极与第三信号传输线和第四信号传输线之间的对应关系还可以为其它情况。
示例性的，图13是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。图13与图12中相同之处，可参照上述对图12的描述，此处仅对图13中与图12中不同之处进行示例性的说明。如图13所示，位于第一行的第一触控电极组的两个触控电极111和121、位于第二行的第一触控电极组的两个触控电极112和122、位于第三行的第二触控电极组的两个触控电极133和143以及位于第四行的第二触控电极组的两个触控电极134和144对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接，位于第一行的第二触控电极组的两个触控电极131和141、位于第二行的第二触控电极组的两个触控电极132和14、位于第三行的第一触控电极组的两个触控电极113和123以及位于第四行的第一触控电极组的两个触控电极114和124对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接。
或者，当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于4的偶数时，位于第一列的触控电极为第一触控电极，位于第P×N列的触控电极为第P×N触控电极；同一行触控电极中，位于第一触控电极与第P×N触控电极之间的各触控电极中每相邻两个触控电极为一个触控电极组；同一触控电极组中的两个触控电极对应的触控走线与第三信号传输线或第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个触控电极组中的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接；第一触控电极对应的触控走线和该第一触控电极相邻且位于同一行的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接；第P×N触控电极对应的触控走线和该第P×N触控电极相邻且位于同一行的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接。
示例性的，图14是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图14所示，以触控显示基板中每一行设置有两个触控区组，该两个触控区组分别为第一触控区组1001和第二触控区组1002，且每个触控区组(1001、1002)包括四列触控电极，即共设置有8列触控电极为例，第一触控区组1001中第一列中的各触控电极(1111、1121、1131、1141)为第一触控电极1011，第二触控区组1002中第四列的各触控电极(1412、1422、1432、1442)为第八触控电极1018；第一触控区组1001的第二列触控电极和第三列触控电极中位于同一行的两个触控电极(1211和1311、1221和1321、1231和1331、1241和1341)为一个第一触控电极组1012，第一触控区组1001的第四列触控电极和第二触控区组1002的第一列触控电极中位于同一行的两个触控电极(1411和1112、1421和1122、1431和1132、1441和1142)为一个第二触控电极组1013，第二触控区组1002的第二列触控电极和第三列触控电极中位于同一行的两个触控电极(1212和1312、1222和1322、1232和1332、1242和1342)为一个第三触控电极组1014。其中，位于第一行和第四行的第一触控电极1011(1111、1141)、位于第二行和第三行的第一触控电极组1012的各触控电极(1221和1321、1231和1331)、位于第一行和第四行的第二触控电极组1013的各触控电极(1411和1112、1441和1142)、位于第二行和第三行的第三触控电极组1014的各触控电极(1222和1322、1232和1332)以及位于第一行和第四行的第八触控电极1018(1412、1442)对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接；位于第二行和第三行的第一触控电极1011(1121、1131)、位于第一行和第四行的第一触控电极组1012的各触控电极(1211和1311、1241和1341)、位于第二行和第三行的第二触控电极组1013的各触控电极(1421和1122、1431和1132)、位于第一行和第四行的第三触控电极组1014的各触控电极(1212和1312、1242和1342)以及位于第二行和第三行的第八触控电极1018(1422、1432)对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接。如此，同样可以对位于同一行且间隔设置的两个触控电极之间的短路情况进行检测。
或者，当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于3的奇数时，除位于第一列的触控电极外的其它触控电极中，位于同一行的每相邻两个触控电极为一个触控电极组；同一触控电极组中的两个触控电极对应的触控走线均与第三信号传输线或第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个触控电极组中的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接；位于第一列的各触控电极对应的触控走线和该触控电极相邻且位于同一行的触控电极对应的触控走线分别与第三信号传输线和第四信号传输线电连接。
示例性的，图15是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图15所示，以触控显示基板中每一行设置有5个触控区组，且每个触控区组包括一列触控电极为例，第一触控区组1001中的触控电极(111、112、113、114)作为第一列的触控电极，且第一列的触控电极为第一触控电极；第二触控区组1002和第二触控区组1003中位于同一行的两个触控电极(121和131、122和132、123和133、124和134)为一个第一触控电极组；第四触控区组1004和第五触控区组1005中位于同一行的两个触控电极(141和151、142和152、143和153、144和154)为一个第二触控电极组。其中，位于第一行和第二行的第一触控电极(111、112)、位于第一行和第二行的第二触控电极中的各触控电极(141和151、142和152)对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接；位于第三行和第四行的第一触控电极(113和114)、位于第一行和第二行的第一触控电极组的各触控电极(121和131、122和132)以及位于第三行和第四行的第二触控电极组的各触控电极(143和153、144和154)对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接。如此，同样可以对位于同一行且间隔设置的两个触控电极之间的短路情况进行检测。
需要说明的是，图15仅示例性的以最左侧的一列触控电极为第一列触控电极，而在本发明实施例中第一列触控电极也可以为最右侧的一列触控电极，本发明实施例对此不做具体限定。
为便于描述，以下均以图12中各触控电极与各信号传输线的对应关系为例，对本发明实施例的技术方案进行实例性的说明。
可选的，继续参考图12，触控显示基板100中还可以设置有至少一个检测电极组40；且每个检测电极组40包括四个检测电极(41、42、43、44)；同一检测电极组40的四个检测电极(41、42、43、44)分别与同一信号传输线组30的各信号传输线(31、32、33、34)一一对应电连接。如此，可通过同一检测电极组40的各检测电极(41、42、43、44)分别向同一信号传输线组30的各信号传输线(31、32、33、34)一一对应地提供测试电压。
可选的，图16是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图16所示，触控显示基板100中设置有至少一个检测电极组40和至少一个选通电路组50；每个检测电极组40包括两个检测电极41和42，每个选通电路组包括两个选通电路51和52；每个选通电路(51、52)包括一个选通输入端和两个选通输出端；同一选通电路组50的两个选通输入端(选通电极51的选通输入端和选通电极52的选通输入端)分别与同一检测电极组40的两个检测电极41和42电连接；同一选通电路组50的各选通输出端(选通电路51的两个选通输出端和选通电路52的两个选通输出端)与同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)一一对应电连接；同一选通电路组50的各选通电路(51和52)分时选通，且同一选通电路51(52)的选通输入端与各所选通输出端分时导通。如此，触控显示基板100中的每个检测电极组40仅需设置两个检测电极(41和42)，即可分时向同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)分时提供测试电压，从而能够减少触控显示基板100中所设置的检测电极的数量。当采用测试装置对该触控显示基板100进行测试时，该测试装置中可设置有与触控显示基板中的检测电极的数量相当的测试端子，从而能够减少用于测试该触控显示基板100的测试装置中测试端子的数量，进而有利于降低触控显示基板100的测试成本。
需要说明的是，图16仅为本发明实施例示例性的附图，在选通电路组中的各选通电路分时导通，以及各选通电极中的选通输入端和各选通输出端分时导通的前提下，本发明实施例对选通电路组中各选通电路的结构不做具体限定。
示例性的，图17是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图17所示，触控显示基板100中每个选通电路51(52)可以包括两个晶体管M11和M12(M21和M22)，通过控制同一选通电路组中的晶体管M11、M12、M21和M22分时导通，即可实现分时向同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)分时提供测试电压。
可选的，图18是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图18所示，触控显示基板100中设置有至少一个检测电极401和至少一个选通电路501；每个选通电路501包括一个选通输入端和四个选通输出端；每个选通输入端与一个检测电极401电连接；同一选通电路501的各选通输出端与同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)一一对应电连接；同一选通电路的选通输入端与各选通输出端分时导通。如此，触控显示基板100中的同一信号传输线组30的四条信号传输线(31、32、33、34)可与一个检测电极401对应，即可分时向同一信号传输线组30的各条信号传输线分时提供测试电压，从而能够减少触控显示基板100中所设置的检测电极的数量，进而降低触控显示基板100的测试成本。
需要说明的是，图18仅为本发明实施例示例性的附图，在各选通电路的选通输入端和各选通输出端分时导通的前提下，本发明实施例对各选通电路的结构不做具体限定。
示例性的，图19是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图19所示，触控显示基板100中每个选通电路501可以包括四个晶体管M1、M2、M3和M4，通过控制同一选通电路501中的各晶体管M1、M2、M3和M4分时导通，即可实现分时向同一信号传输线组30的各条信号传输线(31、32、33、34)分时提供测试电压。
可选的，图20是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图20所示，触控显示基板100的非显示区102还设置有多个开关模块60；每条触控走线20通过一个开关模块60分别与同一信号传输线组30的两条信号传输线电连接。
如此，在触控显示基板中各触控电极的测试阶段，可以控制该开关模块导通，以能够使各条信号传输线传输的测试电压能够通过相应的触控走线传输至相应的触控电极；而在非触控电极的测试阶段，可以控制该开关模块关闭，以能够结合相应的驱动方式，实现触控位置的触控检测，从而在触控显示基板的其它测试或后续使用时，能够避免对触控电极进行测试时的测试电压对触控显示基板的其它测试和正常使用产生影响。
需要说明的，在本发明实施例中开关模块可以由相应的有源器件和/或无源器件组成，本发明实施例对此不做具体限定。
可选的，图21是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图21所示，每个开关模块60包括至少一个开关晶体管T；同一开关模块60中，开关晶体管T的第一极与同一条触控走线20电连接，开关晶体管T的第二极均和与该触控走线20对应的两条信号传输线电连接；各开关晶体管的栅极接收检测时钟信号SW；在触控电极的测试阶段，检测时钟信号SW控制各开关晶体管T导通。如此，在触控电极的测试阶段，能够使相应的信号传输线传输的测试电压通过导通的开关晶体管T和触控走线20传输至相应的触控电极。
需要说明的是，图21仅为本发明实施例示例性的附图，图21中示例性的示出了每个开关模块60包括一个开关晶体管T，而在本发明实施例中每个开关模块60可以包括一个、两个或多个开关晶体管，本发明实施例对此不作具体限定。
示例性的，图22是本发明实施例提供的一种开关模块的结构示意图。如图22所示，每个开关模块60包括两个开关晶体管T11和T12，该两个开关晶体管T11和T12分别为N型晶体管和P型晶体管，使得每个开关模块60的两个开关晶体管T11和T12构成一个传输门，以能够在传输测试电压时，能够降低有信号传输线传输至触控走线20的测试电压的损耗，从而能够提高触控显示基板中各触控电极的检测准确性。
可选的，图23是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图23所示，触控显示基板100中每个开关模块包括两个开关晶体管T1和T2；同一开关模块中，各开关晶体管的第一极与同一条触控走线20电连接，各开关晶体管T1和T2第二极分别和与该条触控走线20对应的两条信号传输线电连接。此时，同一开关模块的各开关晶体管T1和T2的栅极接收相同的检测时钟信号(即SW1和SW2为相同的检测时钟信号)，且在触控电极的测试阶段，检测时钟信号(SW1和SW2)控制各开关晶体管T1和T2导通；或者，同一开关模块的不同开关晶体管T1和T2接收不同的检测时钟信号(即SW1和SW2为不同的检测时钟信号)，且在触控电极的测试阶段，各检测时钟信号(SW1、SW2)控制同一开关模块的各开关晶体管(T1、T2)分时导通。
其中，当同一开关模块的两个晶体管T1和T2接收相同的检测时钟信号时，可通过使同一信号传输线组30的各信号传输线(31、32、33、34)分时传输测试电压的方式，检测各触控电极之间的短路情况。
当同一开关模块的两个晶体管T1和T2分时导通，以及同一信号传输线组30的各信号传输线31、32、33和34分时传输测试电压时，每次可以将一条信号传输线传输的测试电压传输至属于同一触控区组10且位于同一列的一个触控电极对应的触控走线20，从而能够准确检测出该触控电极与其它各触控电极之间的短路情况，进而在对触控显示基板100中各触控电极进行测试时，能够提高测试准确性。
可选的，触控显示基板中可以包括多行和多列触控区组，且位于不同行的触控区组与不同的信号传输线组电连接；同时，位于不同列的触控区组也可以与不同的信号传输线组电连接。
示例性的，图24是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的结构示意图。如图24所示，该触控显示基板100的显示区101设置有两行两列触控区组，即四个触控区组(1001、1002、1003和1004)；该触控显示基板100的非显示区102设置有两个信号传输线组301和302；其中，位于第一行第一列的触控区组1001的各触控电极对应的触控走线20分别与信号传输线组301中的各条信号传输线电连接；位于第二行第一列的触控区组1002的各触控电极对应的触控走线20分别与信号传输线组302中的各条信号传输线电连接；位于第一行第二列的触控区组1003的各触控电极对应的触控走线20分别与信号传输线组302中的各条信号传输线电连接；位于第二行第二列的触控区组1004的触控电极对应的触控走线20分别与信号传输线组301中的各条信号传输线电连接。如此，当不同信号传输线组(301、302)的各条信号传输线均分时传输测试电压时，能够准确检测出位于同一列的各触控电极之间的短路情况，以及位于同一行的各触控电极之间的短路情况。
可选的，图25是本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图，图26是本发明实施例提供的一种触控显示基板的膜层结构示意图。结合图25和图26所示，触控显示基板100的显示区101还设置有多个显示单元70；每个显示单元70包括一公共电极71；每条触控走线20与至少一个公共电极71电连接。如此，触控走线20能够在触控电极11的测试阶段以及触控显示基板后续应用过程中的触控阶段，为触控电极11提供相应的信号，以及在显示单元70的测试阶段以及触控显示基板100后续应用过程中的显示阶段，为公共电极71提供相应的信号，从而分别设置触控电极11和公共电极71的走线，能够简化触控显示基板100的结构，进而有利于提高触控显示基板100的开口率；同时，在触控电极的测试阶段，当触控走线20还与相应的公共电极71电连接时，触控走线20能够将测试电压分别传输至对应的触控电极11和相应的公共电极71，使得该公共电极71对应的显示单元70能够进行显示，从而可由各显示单元70的显示情况，直观地确定出各触控电极11之间的短路情况。
此外，每个显示单元70中还包括薄膜晶体管Tf和像素电极72，并由薄膜晶体管Tf传输相应的数据信号至像素电极72，使得像素电极72与公共电极71之间存在电压差，从而控制显示单元70进行显示。
需要说明的是，图25和图26仅为本发明实施例示例性的附图，图25中仅示例性的示出了每个触控电极11对应多个显示单元70，以及图26中仅示例性的示出了各个膜层的相对关系；而在本发明实施例中，对于每个触控电极对应的显示单元的数量，以及各个膜层之间的相对关系，本发明实施例不做具体限定。
可选的，图27是本发明实施例提供的又一种触控显示基板的膜层结构示意图。如图27所示，显示单元70中的公共电极71复用为触控电极11，即触控电极11与公共电极71同层设置。此时，无需单独设置触控电极的膜层，从而能够简化触控显示基板的工艺制程，以及有利于触控显示基板的轻薄化，进而能够使包括该触控显示基板的液晶显示面板能够具有较薄的厚度。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种触控显示基板的测试方法，该触控显示基板的测试方法能够用于测试本发明实施例提供的触控显示基板。图28是本发明实施例提供的一种触控显示基板的测试方法的流程图。如图28所示，该触控显示基板的测试方法包括：
S110、分时向同一信号传输线组的各条信号传输线提供测试电压，并分别获取向各信号传输线提供测试电压时各触控电极的产生的测试信号。
其中，如图1所示，向信号传输线31提供测试电压，该信号传输线31应将测试电压通过相应的触控走线20传输至对应的触控电极111和112，此时可获取各触控电极111、112、113、114的一组测试信号；向信号传输线32提供测试电压，该信号传输线32应将测试电压通过相应的触控走线20传输至对应的触控电极111和114，此时可获取各触控电极111、112、113、114的一组测试信号；向信号传输线33提供测试电压，该信号传输线33应将测试电压通过相应的触控走线20传输至对应的触控电极112和113，此时可获取各触控电极111、112、113、114的一组测试信号；向信号传输线34提供测试电压，该信号传输线34应将测试电压通过相应的触控走线20传输至对应的触控电极113和114，此时可获取各触控电极111、112、113、114的一组测试信号。
S120、根据测试信号，确定同一触控区组中位于同一列的各触控电极之间的短路情况。
其中，根据上一步骤中所获取的四组测试信号，分析各触控电极的测试信号与所提供的测试电压之间关系，即可确定出各触控电极与其对应的触控走线之间的断路情况，例如当向信号传输线31提供测试电压，该信号传输线31应将测试电压通过相应的触控走线20传输至对应的触控电极111和112，但所接收到的一组测试信号中触控电极111的测试信号显示该触控电极111未接收到测试电压，则可认为触控电极111与其对应的触控走线20发生断路。同时，可结合各组测试信号，至少可以检测出位于同一列的各触控电极之间短路情况。
可选的，如图7所示，当每个信号传输线组30的四条所述信号传输线分别为第一信号传输线31、第二信号传输线32、第三信号传输线33和第四信号传输线34；同一触控区组10中位于同一列的任意相邻的两个触控电极111和112(113和114)对应的触控走线20分别与同一信号传输线组30中的第一信号传输线31和第二信号传输线32电连接；同一触控区组10中位于同一列的四个触控电极中两个相邻的触控电极111和112对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接，另外两个相邻的触控电极113和114对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接。此时，图29是本发明实施例提供又一种触控显示基板的测试方法的流程图。如图29所示，触控显示基板的测试方法包括：
S210、向第一信号传输线提供测试电压，并获取向第一信号传输线提供测试电压时各触控电极产生的第一测试信号；
S220、向第二信号传输线提供测试电路，并获取向第二信号传输线提供测试电压时各触控电极产生的第二测试信号；
S230、向第三信号传输线提供测试电压，并获取向第三信号传输线提供测试电压时各触控电极产生的第三测试信号；
S240、向第四信号传输线提供测试电路，并获取向第四信号传输线提供测试电压时各触控电极产生的第四测试信号；
S250、根据第一测试信号和第二测试信号，确定同一触控区组中位于同一列的相邻两个触控电极的短路情况；
S260、根据第三测试信号和第四测试信号，确定同一触控区组中位于同一列且间隔设置的两个触控电极的短路情况。
如此，结合向第一信号传输线提供测试电压时获取的属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的第一测试信号和向第二信号传输线提供测试电压时获取的属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的第二测试信号，可以检测出各触控电极与其对应的触控走线之间的断路情况，以及至少能够检测出相邻两个触控电极之间的短路情况；而结合向第三信号传输线提供测试电压时获取的属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的第三测试信号和向第四信号传输线提供测试电压时获取的属于同一触控区组且位于同一列的各触控电极的第四测试信号，可以检测位于同一列且间隔设置的两个触控电极之间的短路情况。
需要说明的是，上述测试方法对于图5和图6所示的连接方式也适用，即同一触控区组10中位于同一列的四个触控电极中两个相邻的触控电极112和113对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接，另外两个分别位于首行和尾行的触控电极111和114对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接；或者，对于图8所示的连接方式也适用，即同一触控区组10中位于同一列的四个触控电极中两个相邻的触控电极111和112对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接，另外两个相邻触控电极113和114对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接。或者，对于图3和图4所示的连接方式也适用，即同一触控区组10中位于同一列的的四个触控电极中两个相邻的触控电极112和113对应的触控走线20均与第四信号传输线34电连接，另外两个分别位于首行和尾行的触控电极111和114对应的触控走线20均与第三信号传输线33电连接。
可选的，当位于同一行的任意相邻的两个触控电极对应的触控走线电连接的信号传输线不完全相同时，还可以根据向各条信号传输线提供测试电压时所获取的各触控电极的测试信号，确定位于同一行的各触控电极之间的短路情况。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种液晶显示面板，包括本发明实施例提供的触控显示基板。因此，该液晶显示面板具备本发明实施例提供的触控显示基板的部分或全部特征，以及能够达到本发明实施例提供的触控显示基板的部分或全部有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的触控显示基板的描述，在此不再赘述。
示例性的，图30是本发明实施例提供的一种液晶显示面板的膜层结构示意图。如图30所示，该液晶显示面板200可以包括阵列基板210、对置基板220以及位于阵列基板210和对置基板220之间的液晶层230。其中，液晶显示面板200的触控显示基板可以为位于对置基板220背离阵列基板210一侧的结构(图中未示出)，或者该触控显示基板可以为包括阵列基板210、对置基板220以及液晶层230的结构；或者触控显示基板可以为仅包括阵列基板210的结构，本发明实施例对此不做具体限定。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种显示装置，该显示装置包括本发明实施例提供的液晶显示面板。因此，该显示装置包括本发明实施例提供的液晶显示面板的技术特征，以及具备本发明实施例提供的液晶显示面板的有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的液晶显示面板的描述，在此不再赘述。
示例性的，图31是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图31所示，显示装置300包括液晶显示面板200，该显示装置可以包括但不限于车载显示屏、手机、计算机的显示屏等。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (20)

1.一种触控显示基板，其特征在于，包括：显示区和非显示区；
所述显示区设置有至少一个触控区组和多条触控走线；每个所述触控区组包括四行N列触控电极；各所述触控走线与各所述触控电极一一对应电连接；其中，N≥1，且N为正整数；
所述非显示区设置有至少一个信号传输线组；每个所述信号传输线组包括四条信号传输线；每条所述信号传输线分别与同一所述触控区组中位于同一列的两个所述触控电极对应的触控走线电连接，且每个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的两条所述信号传输线电连接；同一所述触控区组中位于同一列的各所述触控电极对应的触控走线电连接的所述信号传输线不完全相同；
在触控电极的测试阶段，同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线分时传输测试电压。
2.根据权利要求1所述的触控显示基板，其特征在于，每个所述信号传输线组的四条所述信号传输线分别为第一信号传输线、第二信号传输线、第三信号传输线和第四信号传输线；
同一所述触控区组中位于同一列的任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的所述第一信号传输线和所述第二信号传输线电连接；
同一所述触控区组中位于同一列的四个所述触控电极中两个相邻的所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的所述触控电极对应的触控走线均与所述第四信号传输线电连接；或者，同一所述触控区组中位于同一列的四个所述触控电极中两个相邻的所述触控电极对应的触控走线均与所述第四信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线电连接。
3.根据权利要求1所述的触控显示基板，其特征在于，位于同一行任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线电连接的所述信号传输线不完全相同。
4.根据权利要求3所述的触控显示基板，其特征在于，每个所述信号传输线组的四条所述信号传输线中的其中两条信号传输线分别为第一信号传输线和第二信号传输线；
位于同一行的任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的所述第一信号传输线和所述第二信号传输线电连接。
5.根据权利要求4所述的触控显示基板，其特征在于，每个所述信号传输线组的四条所述信号传输线中的另外两条信号传输线分别为第三信号传输线和第四信号传输线；
位于同一行的任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接。
6.根据权利要求4所述的触控显示基板，其特征在于，每个所述信号传输线组的四条所述信号传输线中的另外两条信号传输线分别为第三信号传输线和第四信号传输线；
当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于4的偶数时，位于同一行的每相邻两个所述触控电极为一个触控电极组；同一所述触控电极组中的两个所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线或所述第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个所述触控电极组中的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接；
或者，当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于4的偶数时，位于第一列的所述触控电极为第一触控电极，位于第P×N列的所述触控电极为第P×N触控电极；同一行所述触控电极中，位于第一触控电极与第P×N触控电极之间的各所述触控电极中每相邻两个所述触控电极为一个触控电极组；同一所述触控电极组中的两个所述触控电极对应的触控走线与所述第三信号传输线或所述第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个所述触控电极组中的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接；所述第一触控电极对应的触控走线和该所述第一触控电极相邻且位于同一行的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接；所述第P×N触控电极对应的触控走线和该所述第P×N触控电极相邻且位于同一行的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接；
或者，当位于同一行的触控区组为P个且P×N为大于或等于3的奇数时，除位于第一列的所述触控电极外的其它所述触控电极中，位于同一行的每相邻两个所述触控电极为一个触控电极组；同一所述触控电极组中的两个所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线或所述第四信号传输线电连接，且位于同一行任意相邻的两个所述触控电极组中的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接；位于第一列的各所述触控电极对应的触控走线和该所述触控电极相邻且位于同一行的所述触控电极对应的触控走线分别与所述第三信号传输线和所述第四信号传输线电连接。
7.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，还包括至少一个检测电极组；每个所述检测电极组包括四个检测电极；
同一所述检测电极组的四个所述检测电极分别与同一所述信号传输线组的各所述信号传输线一一对应电连接。
8.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，还包括：至少一个检测电极组和至少一个选通电路组；每个所述检测电极组包括两个检测电极，每个所述选通电路组包括两个选通电路；
每个所述选通电路包括一个选通输入端和两个选通输出端；同一所述选通电路组的两个所述选通输入端分别与同一所述检测电极组的两个所述检测电极电连接；同一所述选通电路组的各所述选通输出端与同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线一一对应电连接；
同一所述选通电路组的各所述选通电路分时选通，且同一所述选通电路的所述选通输入端与各所述选通输出端分时导通。
9.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，还包括：至少一个检测电极和至少一个选通电路；
每个所述选通电路包括一个选通输入端和四个选通输出端；每个所述选通输入端与一个所述检测电极电连接；同一所述选通电路的各所述选通输出端与同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线一一对应电连接；
同一所述选通电路的所述选通输入端与各所述选通输出端分时导通。
10.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，所述非显示区还设置有多个开关模块；
每条所述触控走线通过一个所述开关模块分别与同一所述信号传输线组的两条所述信号传输线电连接。
11.根据权利要求10所述的触控显示基板，其特征在于，每个所述开关模块包括至少一个开关晶体管；
同一所述开关模块中，所述开关晶体管的第一极与同一条所述触控走线电连接，所述开关晶体管的第二极均和与该所述触控走线对应的两条所述信号传输线电连接；
各所述开关晶体管的栅极接收检测时钟信号；在所述触控电极的测试阶段，所述检测时钟信号控制各所述开关晶体管导通。
12.根据权利要求10所述的触控显示基板，其特征在于，每个开关模块包括两个开关晶体管；
同一所述开关模块中，各所述开关晶体管的第一极与同一条所述触控走线电连接，各所述开关晶体管第二极分别和与该条所述触控走线对应的两条所述信号传输线电连接；
同一所述开关模块的各所述开关晶体管的栅极接收相同的检测时钟信号；在所述触控电极的测试阶段，所述检测时钟信号控制各所述开关晶体管导通；
或者，同一所述开关模块的不同所述开关晶体管接收不同的检测时钟信号；在所述触控电极的测试阶段，各所述检测时钟信号控制同一所述开关模块的各所述开关晶体管分时导通。
13.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，位于同一列不同行的各所述触控区组与不同的所述信号传输线组电连接。
14.根据权利要求1～6任一项所述的触控显示基板，其特征在于，所述显示区还设置有多个显示单元；每个所述显示单元包括一公共电极；
每条所述触控走线与至少一个所述公共电极电连接。
15.根据权利要求14所述的触控显示基板，其特征在于，所述公共电极复用为所述触控电极。
16.一种触控显示基板的测试方法，其特征在于，用于测试权利要求1～15任一项所述的触控显示基板，所述测试方法包括：
分时向同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线提供测试电压，并分别获取向各所述信号传输线提供测试电压时各所述触控电极的产生的测试信号；
根据所述测试信号，确定同一所述触控区组中位于同一列的各所述触控电极之间的短路情况。
17.根据权利要求16所述的测试方法，其特征在于，每个所述信号传输线组的四条所述信号传输线分别为第一信号传输线、第二信号传输线、第三信号传输线和第四信号传输线；同一所述触控区组中位于同一列的任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线分别与同一所述信号传输线组中的所述第一信号传输线和第二信号传输线电连接；同一所述触控区组中位于同一列的四个所述触控电极中两个相邻的所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的所述触控电极对应的触控走线均与所述第四信号传输线电连接；或者，同一所述触控区组中位于同一列的四个所述触控电极中两个相邻的所述触控电极对应的触控走线均与所述第四信号传输线电连接，另外两个相邻或分别位于首行和尾行的所述触控电极对应的触控走线均与所述第三信号传输线电连接；
分时向同一所述信号传输线组的各条所述信号传输线提供测试电压，并分别获取向各所述信号传输线提供测试电压时各所述触控电极的产生的测试信号，包括：
向所述第一信号传输线提供测试电压，并获取向所述第一信号传输线提供测试电压时各所述触控电极产生的第一测试信号；
向所述第二信号传输线提供测试电路，并获取向所述第二信号传输线提供测试电压时各所述触控电极产生的第二测试信号；
向所述第三信号传输线提供测试电压，并获取向所述第三信号传输线提供测试电压时各所述触控电极产生的第三测试信号；
向所述第四信号传输线提供测试电路，并获取向所述第四信号传输线提供测试电压时各所述触控电极产生的第四测试信号；
根据所述测试信号，确定同一所述触控区组中位于同一列的各所述触控电极之间的短路情况，包括：
根据所述第一测试信号和所述第二测试信号，确定同一所述触控区组中位于同一列的相邻两个所述触控电极的短路情况；
根据所述第三测试信号和所述第四测试信号，确定同一所述触控区组中位于同一列且间隔设置的两个所述触控电极的短路情况。
18.根据权利要求16所述的测试方法，其特征在于，位于同一行任意相邻的两个所述触控电极对应的触控走线电连接的所述信号传输线不完全相同；
所述测试方法还包括：
根据所述测试信号，确定位于同一行的各所述触控电极之间的短路情况。
19.一种液晶显示面板，其特征在于，包括：权利要求1～15任一项所述的触控显示基板。
20.一种显示装置，其特征在于，包括：权利要求19所述的液晶显示面板。
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