CN211087195U - 触控母板和触控显示屏 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种触控母板和触控显示屏，触控母板包括衬底基板，其包括多个触控区和无效区，触控区包括多个触控驱动电极、分别连接在多个触控驱动电极两端的多条触控引线以及分别与两端的多条触控引线连接的多个第一触控端子和多个第二触控端子；触控区的第一触控端子、触控驱动电极和第二触控端子通过触控引线连接形成面板测试回路；无效区包括多个第一测试端子、多个第二测试端子和多条测试引线；第一测试端子、多个不同的触控区的面板测试回路和第二测试端子通过测试引线依次串联连接形成大板测试回路。本实施例公开的触控母板和触控显示屏在制作触控驱动电极以后就通过外部的测试设备对其进行测试，具有较高的实用性。

Description

触控母板和触控显示屏

技术领域

本实用新型涉及触控领域，具体涉及一种触控母板和触控显示屏。

背景技术

目前触控显示屏一般分为OGS、On Cell和In Cell三种结构，其中，On Cell结构是指内嵌式触控显示屏。通常，先将彩膜母板的外侧制作触控区形成触控母板，该触控区包括多个彼此独立的触控结构，再和阵列母板组立贴合形成触控显示屏，该触控显示屏包括多个独立的液晶盒，多个该触控结构与多个该液晶盒一一对应；然后对该触控显示屏进行切割，形成多个独立的触控显示面板。

图1是现有的一种On Cell触控显示面板的走线连接示意图。如图1所示，该触控显示面板采用双边走线方式，该触控显示面板的金属网格包括在触控区域沿第一方向的多条触控驱动电极01和沿第二方向的多条触控感应电极02，每一个触控驱动电极01对应一条双边走线03，且该双边走线03分别连接在触控驱动电极01的两端，在该双边走线03的每一边分别设置有一个触控端子04，且两边的触控端子04相互独立，多个该触控端子04分别与柔性电路板(图中未示出)进行绑定电性连接，从而该柔性电路板通过多个该触控端子04以及双边走线03实现与该触控驱动电极01的两端同时电性连接。

现有技术中，上述触控显示面板在触控端子与柔性电路板绑定之前，一般需要测试双边走线是否有断路发生，只有没有发生断路的触控显示面板才进行后续的绑定工艺，虽然有瑕疵的触控显示面板最终可于产品出厂检验时检测出来，但是却已浪费了从瑕疵的触控显示面板产生之后的制造成本，并占用了原可供其他合格的触控显示面板使用的生产线，进而降低了生产线的利用率。

有鉴于此，本实用新型申请人针对上述触控母板设计中未臻完善所导致的诸多缺失及不便，而深入构思，且积极研究改良试做而开发设计出本创作。

实用新型内容

本实用新型旨在解决现有技术在制造触控母板时无法在前段工艺中找出缺陷，导致不良品流入后续工艺徒增制造成本及减少产能利用率的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型的解决方案是公开了一种触控母板，包括衬底基板，该衬底基板包括多个触控区和位于多个该触控区之间的无效区，其中，该触控区包括多个触控驱动电极、分别连接在多个该触控驱动电极两端的多条触控引线以及分别与两端的多条该触控引线连接的多个第一触控端子和多个第二触控端子；该触控区的该第一触控端子、该触控驱动电极和该第二触控端子通过该触控引线连接形成面板测试回路；该无效区包括多个第一测试端子、多个第二测试端子和多条测试引线；该第一测试端子、多个不同的该触控区的面板测试回路和该第二测试端子通过该测试引线依次串联连接形成大板测试回路。

优选地，该无效区还包括多个连接端子，多个该连接端子分别与多个该触控端子一一对应并电性连接，多个不同的该触控区的触控端子通过对应的多个该连接端子和多条该测试引线依次串联连接。

优选地，该触控母板还包括多个导电件，多个该触控端子分别通过多个该导电件与多个该连接端子一一电性连接。

优选地，该导电件为透明导电结构。

优选地，该触控母板的多个触控区的边缘设有第一切割线，该第一切割线用于分离该触控区和该无效区。

优选地，该衬底基板在远离该触控区的一侧设有彩色滤光层和黑矩阵。

优选地，该第一测试端子和第二测试端子同时与外部的测试设备电性连接。

本实用新型实施例还公开了一种触控显示屏，其中，包括阵列母板和如上所述的触控母板，该阵列母板包括多个显示区和将多个显示区间隔开的非显示区，该触控母板与该阵列母板对盒设置，该触控母板的触控区与该阵列母板的显示区一一对应设置。

优选地，该触控区还包括多个触控感应电极，该触控感应电极的延伸方向与该触控驱动电极的延伸方向相垂直。

优选地，该阵列母板的多个显示区的边缘设有第二切割线，该第二切割线用于分离该显示区和该非显示区。

本实施例公开的该触控母板和触控显示屏，在制作触控驱动电极以后就通过外部的测试设备对其进行测试，并可以迅速找到缺陷，根据不良率决定是否继续投产，若检测出该触控母板的不良率超出卡控范围，可拦截该触控母板，避免不良品流入后续工艺徒增制造成本，还可以提高生产效率，具有较高的实用性。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1是现有的一种On Cell触控显示面板的走线连接示意图；

图2是本实用新型实施例一公开的触控母板；

图3是图2中A部分的放大示意思；

图4是图2中B的放大示意图；

图5是图4中D-D’的剖面示意图；

图6是本实用新型实施例二公开的触控母板。

具体实施方式

为了进一步解释本实用新型的技术方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

图2是本实用新型实施例一公开的触控母板；图3是图2中A部分的放大示意思；图4是图2中B的放大示意图；图5是图4中D-D’的剖面示意图。

如图2至图5所示，本实施例公开了一种触控母板10，包括衬底基板100，该衬底基板100包括多个触控区110和位于多个该触控区110之间的无效区120。

其中，该触控区110包括多个触控驱动电极111、分别连接在多个该触控驱动电极111两端的多条触控引线112以及分别与多条该触控引线112连接的多个触控端子；该触控端子包括与该触控驱动电极111一侧的触控引线112连接的第一触控端子113和位于该触控驱动电极111另一侧的触控引线112连接的第二触控端子114，该第一触控端子113和该第二触控端子114彼此相邻设置；该触控区110的该第一触控端子113、该触控驱动电极111和该第二触控端子114通过该触控引线112连接形成面板测试回路。

该无效区120包括多个第一测试端子121、多个第二测试端子122和多条测试引线125，多个该第一测试端子121和第二测试端子122位于该衬底基板100的边缘；其中，该第一测试端子121、多个不同的该触控区的面板测试回路和该第二测试端子122通过该测试引线125依次串联连接形成大板测试回路。

在本实施例中，该无效区120还包括多个连接端子；该连接端子包括多个第一连接端子123和多个第二连接端子124；多个该第一连接端子123分别与多个该第一触控端子113一一对应并电性连接，多个该第二连接端子124分别与多个该第二触控端子114一一对应并电性连接；多个不同的该触控区110的第一触控端子113和第二触控端子114通过对应的多个该第一连接端子123、多个第二连接端子124和多条该测试引线125依次串联连接。

在本实施例中，该第一测试端子121和第二测试端子122与外部的测试设备(图中未示出)电性连接。

本实施例中，该触控母板10的多个触控区110的边缘设有第一切割线CL，该第一切割线CL用于分离该触控区110和该无效区120。

本实施例中，该衬底基板100在远离该触控区110的一侧设有彩色滤光层(图中未示出)和黑矩阵(图中未示出)。此部分现有技术已公开，在此不再赘述。

本实施例中，该触控母板10示例性地标出了8个触控区(C1-C8)，该8个触控区分为两行，每行有4个触控区，第一行的两个触控区C1和C2和第二行的两个触控区C5和C6对应一个第一测试端子121和一个第二测试端子122；第一行的另外两个触控区C3和C4和第二行的另外两个触控区C7和C8对应一个第一测试端子121和一个第二测试端子122。并示例性地在每个触控区110标出了4个触控驱动电极111，4个该触控驱动电极111通过位于该触控驱动电极111两侧的触控引线112分别连接有4个第一触控端子113(T1-T4)和4个第二触控端子114(T4-T1)。其中，第一触控端子113的T1和第二触控端子114的T1连接同一个该触控驱动电极111，以此类推，第一触控端子113的T1-T4和第二触控端子114的T4-T1一一对应。

以上仅示例性的标出的8个触控区，在其它实施例中，还可以根据实际触控母板的尺寸以及要生产的触控显示面板的尺寸进行设置，在此不作限制。

其中，触控区C1的第一触控端子113与无效区120的第一连接端子123通过导电件140一一对应并电性连接。在本实施例中，该导电件140为透明导电结构，比如ITO导电结构。如图5所示，该第一切割线CL的位置与该导电件140的位置相对，用于将该导电件140切开，以分离该触控区110和该无效区120。由于该第一触控端子113和该第一连接端子123为金属结构，其厚度大于ITO导电结构的厚度，通过较薄厚度的ITO导电结构导通该第一触控端子113和该第一连接端子123，既不影响外部的测试设备发出的测试信号的正常输入，还可以避免切割异常产生不良品，进一步提高切割良率。

本实施例中，该第一测试端子121和第二测试端子122为尖端形状。这样设置可以防止该触控区110面板发生静电异常(ESD)。

本实施例中，对该触控母板10进行测试的流程如下：

S1:对该触控母板10进行测试，即通过大板测试回路对该触控母板10进行测试。

当外部的测试设备发送测试信号后，该测试信号依次通过该第一测试端子121、该触控区110C1的第一触控端子113对应的第一连接端子123、该触控区110C1、该触控区110C5、该触控区110C6、该触控区110C2、该触控区110C2的第一触控端子113对应的第一连接端子123、该第二测试端子122，使其形成一大板测试回路。若在该第一测试端子121和该第二测试端子122处测试结果OK，那说明该触控区110C1-C5所有的触控引线112均没有发生断路缺陷。此时，测试结束，该触控母板10可以进入后续制程。

若在该第一测试端子121和该第二测试端子122处测试结果NG，那说明该触控区110C1-C5的触控引线112或者该测试引线125中的一条或者多条出现断路缺陷，为了进一步判断该触控母板10的整体不良率，需进一步通过外部的测试设备对各个该触控区110C1-C5对应的该第一触控端子113和该第二触控端子114处进行面板测试回路。

S2:对该触控母板10的各个该触控区110进行测试，即通过面板测试回路对各个该触控区110进行测试。

具体地，对该触控区110C1进行测试的流程如下，当外部的测试设备发送测试信号后，该测试信号依次通过该第一触控端子113、该触控引线112、该触控驱动电极111、该触控引线112和该第二触控端子114，使其形成一面板测试回路。若测试结果OK，说明该触控区110C1的触控引线112没有发生断路缺陷。可继续对其它触控区110一一进行测试，直至全部测试完成。

其它实施例中，也通过将该测试信号依次通过该第一连接端子123、对应该第一连接端子123的该触控区110C1的第一触控端子113、该触控区110C1、该触控区110C1的第二触控端子114、该触控区110C1的第二触控端子114对应的该第二连接端子124，使其形成一测试回路。这样设置也可以实现单个触控区110测试的目的。

S3:统计该触控母板10整体的不良率，若该触控母板10整体的不良率超出卡控范围，可拦截该触控母板10，并对该触控母板10进行拔膜清洗，重新制作该触控驱动电极111及触控引线112。

若该触控母板10整体的不良率未超出卡控范围，可对NG的该触控区110作标记，当后续切割的制程结束后，挑出该NG的触控区110，尽量减少后续的制造成本。

本实施例公开的该触控母板在制作触控驱动电极以后就通过外部的测试设备对其进行测试，并可以迅速找到缺陷，根据不良率决定是否继续投产，若该触控母板的不良率超出卡控范围，可拦截该触控母板，避免不良品流入后续工艺徒增制造成本，还可以提高生产效率，具有较高的实用性。

实施例二：

图6是本实用新型实施例二公开的触控母板。

如图6所示，本实施例公开的触控母板10’与实施例一公开的触控母板大致相同，区别在于：该触控母板10’的衬底基板100’上示例性地标出了6个触控区110’(C1’-C6’)，该6个触控区110’分为两行，该6个触控区110’(C1’-C6’)对应一个第一测试端子121’和一个第二测试端子122’。

本实施例公开的触控母板10’仅设置一个第一测试端子121’和一个第二测试端子122’，只需要一个大板测试回路就可以实现该触控母板10’的整体测试，进一步提高了触控引线断路的测试效率。

实施例三：

本实施例还公开了一种触控显示屏，包括阵列母板和如上所述的触控母板，该阵列母板包括多个显示区和将多个显示区间隔开的非显示区，该触控母板与该阵列母板对盒设置，该触控母板的触控区与该阵列母板的显示区一一对应设置。

本实施例中，该触控区还包括多个触控感应电极，该触控感应电极的延伸方向与该触控驱动电极的延伸方向相垂直。

本实施例中，该阵列母板的多个显示区的边缘设有第二切割线，该第二切割线用于分离该显示区和该非显示区。

具体地，该触控显示屏的制作过程如下：先在彩膜母板的外侧制作触控区形成触控母板；再将该触控母板与阵列母板组立贴合形成。

最后通过位于触控母板上的第一切割线和位于阵列母板上的第二切割线对该触控显示屏进行切割，形成多个独立的触控显示面板。

在其它实施例中，也先将彩膜母板和阵列母板组立贴合形成液晶面板半成品，该液晶面板半成品包括多个独立的液晶盒；再在彩膜母板的外侧制作触控区形成触控母板，该触控区同样包括多个彼此独立的触控结构，多个该触控结构与多个该液晶盒一一对应；然后对该触控母板进行切割，形成多个独立的触控显示面板。

与现有技术中的触控显示屏相比，本实施例公开的触控显示屏可以在制作触控驱动电极以后就通过外部的测试设备对其进行测试，并可以迅速找到缺陷，根据不良率决定是否继续投产，若该触控母板的不良率超出卡控范围，可拦截该触控母板，避免不良品流入后续工艺徒增制造成本，还可以提高生产效率，具有较高的实用性。

以上是本实用新型的全部内容，在本说明书中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。

在本说明书中，所涉及的前、后、上、下等方位词是以附图中零部件位于图中以及零部件相互之间的位置来定义的，只是为了表达技术方案的清楚及方便。应当理解，所述方位词的使用不应限制本申请请求保护的范围。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种触控母板，包括衬底基板，所述衬底基板包括多个触控区和位于多个所述触控区之间的无效区，其特征在于，所述触控区包括多个触控驱动电极、分别连接在多个所述触控驱动电极两端的多条触控引线以及分别与两端的多条所述触控引线连接的多个第一触控端子和多个第二触控端子；所述触控区的所述第一触控端子、所述触控驱动电极和所述第二触控端子通过所述触控引线连接形成面板测试回路；

所述无效区包括多个第一测试端子、多个第二测试端子和多条测试引线；所述第一测试端子、多个不同的所述触控区的面板测试回路和所述第二测试端子通过所述测试引线依次串联连接形成大板测试回路。

2.根据权利要求1所述的触控母板，其特征在于，所述无效区还包括多个连接端子，多个所述连接端子分别与多个所述触控端子一一对应并电性连接，多个不同的所述触控区的触控端子通过对应的多个所述连接端子和多条所述测试引线依次串联连接。

3.根据权利要求2所述的触控母板，其特征在于，所述触控母板还包括多个导电件，多个所述触控端子分别通过多个所述导电件与多个所述连接端子一一电性连接。

4.根据权利要求3所述的触控母板，其特征在于，所述导电件为透明导电结构。

5.根据权利要求1所述的触控母板，其特征在于，所述触控母板的多个触控区的边缘设有第一切割线，所述第一切割线用于分离所述触控区和所述无效区。

6.根据权利要求1所述的触控母板，其特征在于，所述衬底基板在远离所述触控区的一侧设有彩色滤光层和黑矩阵。

7.根据权利要求1所述的触控母板，其特征在于，所述第一测试端子和第二测试端子同时与外部的测试设备电性连接。

8.一种触控显示屏，其特征在于，包括阵列母板和如权利要求1至7中任意一项所述的触控母板，所述阵列母板包括多个显示区和将多个显示区间隔开的非显示区，所述触控母板与所述阵列母板对盒设置，所述触控母板的触控区与所述阵列母板的显示区一一对应设置。

9.根据权利要求8所述的触控显示屏，其特征在于，所述触控区还包括多个触控感应电极，所述触控感应电极的延伸方向与所述触控驱动电极的延伸方向相垂直。

10.根据权利要求8所述的触控显示屏，其特征在于，所述阵列母板的多个显示区的边缘设有第二切割线，所述第二切割线用于分离所述显示区和所述非显示区。

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