CN114255683B - 显示面板 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种显示面板，该显示面板包括显示区和位于显示区一侧的非显示区，非显示区内设置有至少一个测试区，每个测试区包括多个沿第一方向阵列排布在非显示区的测试端子，每个测试端子包括第一测试部以及与第一测试部电连接的第二测试部，第一测试部沿第一方向的宽度大于第二测试部沿第一方向的宽度，其中第一测试部作为测试接触点，如此在保证测试端子上测试接触点宽度的前提下，减小测试端子上其他位置的宽度，以增大相邻测试端子之间的间隔，进而降低相邻测试端子之间发生短路的几率，以缓解现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的问题。

Description

显示面板
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板。
背景技术
随着显示技术的发展，高屏占比的显示产品已经成为市场主流，而实现高屏占比的一个有效办法即是采用窄边框技术缩小显示产品的边框。但窄边框设计势必会使得边框上的一些功能区空间受到压缩，比如Cell Test测试区(即CT测试区)。CT测试区设计有测试接垫(CT pad)，主要用于在显示产品的显示面板制作完成后，通过治具给测试接垫提供信号，测试接垫将信号传送给显示面板内的信号线路，以此来检测显示面板是够存在画面缺陷，以便及时检出不良。然而窄边框设计使得CT测试区的测试接垫之间的间距变小，当有异物(如切割碎屑或者金属碎屑等)附着在测试接垫表面时易造成相邻的测试接垫之间短路，进而造成显示产品功能不良，影响显示产品信赖性。
发明内容
本申请提供一种显示面板，以缓解现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的技术问题。
为解决上述问题，本申请提供的技术方案如下：
本申请实施例提供一种显示面板，其包括显示区和位于所述显示区一侧的非显示区，所述非显示区内设置有至少一个测试区，每个所述测试区包括：
多个测试端子，沿第一方向阵列排布在所述非显示区，每个所述测试端子包括第一测试部以及与所述第一测试部电连接的第二测试部；
其中，所述第一测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度。
在本申请实施例提供的显示面板中，所述第一测试部沿垂直于所述第一方向的长度小于所述第二测试部沿垂直于所述第一方向的长度。
在本申请实施例提供的显示面板中，所述第二测试部沿所述第一方向的宽度范围为20微米至30微米。
在本申请实施例提供的显示面板中，相邻两个所述第二测试部之间的间隔距离小于或等于300微米。
在本申请实施例提供的显示面板中，每相邻的两个所述测试端子，所述第一测试部之间的间隔小于所述第二测试部之间的间隔。
在本申请实施例提供的显示面板中，每个所述测试端子还包括位于所述第二测试部远离所述第一测试部一侧的第三测试部，所述第三测试部也与所述第二测试部电连接，且所述第三测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度。
在本申请实施例提供的显示面板中，所述第三测试部沿垂直于所述第一方向的长度小于所述第二测试部沿垂直于所述第一方向的长度。
在本申请实施例提供的显示面板中，所述第一测试部和所述第三测试部的表面形状均包括三角形、方形或圆形中的至少一种。
在本申请实施例提供的显示面板中，所述第三测试部和所述第一测试部关于所述第二测试部对称。
在本申请实施例提供的显示面板中，每相邻的两个所述测试端子，所述第三测试部之间的间隔小于所述第二测试部之间的间隔。
本申请的有益效果为：本申请提供的显示面板中，显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的非显示区，所述非显示区内设置有至少一个测试区，每个所述测试区包括多个沿第一方向阵列排布在所述非显示区的测试端子，每个所述测试端子包括第一测试部以及与所述第一测试部电连接的第二测试部，所述第一测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度，其中所述第一测试部作为测试接触点，如此在保证测试端子上测试接触点宽度的前提下，减小测试端子上其他位置的宽度，以增大相邻测试端子之间的间隔，进而降低相邻测试端子之间发生短路的几率，解决了现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的问题。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的显示面板的一种俯视结构示意图。
图2为图1中测试区的细节结构示意图。
图3为本申请实施例提供的显示面板的另一种俯视结构示意图。
图4为图3中测试区的细节结构示意图。
图5为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视结构示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。在附图中，为了清晰理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。即附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本申请不限于此。
针对现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的问题，发明人在研究中发现：该问题主要是由窄边框设计需求使CT测试区测试接垫之间间距减小所导致。而在现有显示面板的制作过程中，不可避免的会产生一些异物，比如切割玻璃时产生的碎屑，亦或者为消除现有显示面板上静电而设置导电胶时残留的金属碎屑，亦或者其他可以导电的碎屑粒子(particle)，当这些导电碎屑附着在相邻测试接垫之间较小的间隙内时，极易导致该相邻的测试接垫之间短路。
为此本申请的发明人提出了一种显示面板，以解决上述的短路问题：
请结合参照图1和图2，图1为本申请实施例提供的显示面板的一种俯视结构示意图，图2为图1中测试区的细节结构示意图。本申请的所述显示面板100为液晶显示(LiquidCrystal Display，LCD)面板或有机发光二极管显示(Organic Light emitting Display，OLED)面板等类型的显示面板。所述显示面板100包括显示区AA和位于所述显示区AA一侧的非显示区NA，所述非显示区NA内设置有至少一个测试区CA，所述测试区CA用于检测所述显示面板100的缺陷。当然地，所述非显示区NA还可设置常规的扇出区、弯折区以及绑定区等，在此不再赘述。
每个所述测试区CA包括多个沿第一方向X阵列排布在所述非显示区NA的测试端子10，本实施例图示中以每个所述测试区CA包括四个所述测试端子10为例说明，四个所述测试端子10沿所述第一方向X间隔排布。所述测试端子10主要用于在所述显示面板100制作完成后，通过治具给测试端子10提供信号，测试端子10将信号传送给所述显示面板100内的信号线路，以此来检测所述显示面板100是够存在缺陷，以便及时检出不良并返修。
每个所述测试端子10包括第一测试部11以及与所述第一测试部11电连接的第二测试部12，所述第一测试部11和所述第二测试部12一体式设计，即所述第一测试部11和所述第二测试部12在同一道黄光工艺下形成。在使用治具对所述显示面板100进行测试时，可通过治具的探针与所述第一测试部11接触进行检测，也即所述第一测试部11作为所述测试端子10上的一个检测接触点。
所述第一测试部11沿所述第一方向X的宽度S1大于所述第二测试部12沿所述第一方向X的宽度S2，且所述第一测试部11沿垂直于所述第一方向X的长度L1小于所述第二测试部12沿垂直于所述第一方向X的长度L2。其中本申请定义各部件(如第一测试部11、第二测试部12等)的宽度是指各部件沿所述第一方向X的距离，各部件的长度是指沿垂直于所述第一方向X的距离。
可选地，所述第一测试部11的表面形状为方形，所述第二测试部12的表面形状也为方形，通过使所述第一测试部11沿所述第一方向X的宽度S1大于所述第二测试部12沿所述第一方向X的宽度S2，可使得每相邻的两个所述测试端子10中，所述第一测试部11之间的间隔D1小于所述第二测试部12之间的间隔D2，其中相邻两个所述第二测试部12之间的间隔D2小于或等于300微米。
如此在不增加所述测试区CA在整个所述非显示区NA占空比的前提下，通过增大相邻的两个所述第二测试部12之间的间隔D2，相当于增大了对应的两个所述测试端子10之间的间隔。因为所述第二测试部12的长度L2大于所述第一测试部11的长度L1，而所述第一测试部11作为测试接触点，只需要满足与测试治具的探针保证足够的接触面积即可，可设置较小的长度L1，这样所述第二测试部12的长度L2是远大于所述第一测试部11的长度L1，使得相邻两个所述测试端子10之间的间隔主要取决于相邻两个所述第二测试部12之间的间隔L2，也即可用相邻的两个所述第二测试部12之间的间隔L2表征对应的相邻的两个所述测试端子10之间的间隔。
可以理解的，当有异物附着在所述测试端子10之间的间隔内时，由于相邻的两个所述测试端子10之间的间隔能够达到300微米，而附着的异物的尺寸远小于300微米，如此能够大大降低相邻的两个所述测试端子10之间短路的风险，以解决现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的问题。
同时为了避免所述第二测试部12的宽度S2过小出现断线或阻抗增加等问题，所述第二测试部12沿所述第一方向X的宽度S2范围优先为20微米至30微米。
在一种实施例中，请结合参照图1至图4，图3为本申请实施例提供的显示面板的另一种俯视结构示意图，图4为图3中测试区的细节结构示意图。与上述实施例不同的是，本实施例的所述显示面板101中，所述测试区CA的数量为两个，且所述测试区CA内的每个所述测试端子10还包括第三测试部13，以提高检测效率。
具体地，所述非显示区NA设置有两个测试区CA，两个所述测试区CA位于所述非显示区NA的相对两侧。每个所述测试区CA均包括多个沿第一方向X阵列排布在所述非显示区NA的测试端子10。每个所述测试端子10包括第一测试部11、与所述第一测试部11电连接的第二测试部12以及位于所述第二测试部12远离所述第一测试部11一侧的第三测试部13，所述第三测试部13也与所述第二测试部12电连接。所述第一测试部11、所述第二测试部12以及所述第三测试部13一体式设计，即所述第一测试部11、所述第二测试部12以及所述第三测试部13在同一道黄光工艺下形成。
所述第三测试部13和所述第一测试部11功能相同，也作为测试接触点，通过在每个所述测试端子10上设置多个测试接触点，能够提高所述显示面板101的检测效率。而且随着显示屏幕往高清显示方向发展，相应地功能会增强，进而所需要检测的项目也会相应增加，而在每个所述测试端子10上设置多个测试接触点能够很好的满足高清显示的显示面板的检测需求。
进一步地，所述第三测试部13作为测试接触点，则所述第三测试部13沿所述第一方向X的宽度S3大于所述第二测试部12沿所述第一方向X的宽度S2，且所述第三测试部13沿垂直于所述第一方向X的长度L3小于所述第二测试部12沿垂直于所述第一方向X的长度L2，以使得每相邻的两个所述测试端子10中，所述第三测试部13之间的间隔D3小于所述第二测试部12之间的间隔D2。其中相邻两个所述第二测试部12之间的间隔D2小于或等于300微米，如此能够大大降低相邻的两个所述测试端子10之间短路的风险。
可选地，所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状均包括三角形，当然地，本申请不限于此，本申请的所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状也可不同，比如所述第一测试部11和所述第三测试部13中一个的表面形状为方形，另外一个的表面形状为三角形。
进一步可选地，所述第三测试部13和所述第一测试部11关于所述第二测试部12对称，则所述第一测试部11和所述第三测试部13的结构相同，比如所述第一测试部11的宽度S1等于所述第三测试部13的宽度S3，所述第一测试部11的长度L1等于所述第三测试部13的长度L3，相邻的两个所述第一测试部1之间的间隔D1等于相邻的两个所述第三测试部13之间的间隔D3。故下面将以所述第一测试部11和所述第三测试部13的其中之一为例说明其结构特征，比如以所述第三测试部13为例：
所述第三测试部13的表面形状为三角形，优选地，可以为等边三角形，所述第二测试部12与所述第三测试部13的三边中的一边接触，比如可以使所述第二测试部12垂直平分所述第三测试部13的其中一边。这样在沿着垂直所述第一方向X并远离所述第二测试部12的方向，相邻的两个所述第三测试部13之间的间隔距离逐渐增大，如此可进一步降低相邻的两个所述测试端子10之间的短路风险。
另外需要说明的是，所述第三测试部13的表面形状为三角形时，所述第三测试部13的宽度S3用所述第三测试部13沿所述第一方向X宽度最大处的宽度表征，或者也可用所述第三测试部13的平均宽度来表征。相对应地，所述第三测试部13的长度L3用所述第三测试部13沿垂直于所述第一方向X的最大长度表征，或者也可用所述第三测试部13的平均长度来表征。其他说明请参照上述实施例，在此不再赘述。
在一种实施例中，请结合参照图1至图5，图5为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视结构示意图。与上述实施例不同的是，本实施例的显示面板102中，所述测试区CA的所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状均为圆形，其中所述第一测试部11的长度和宽度以及所述第三测试部13的长度和宽度均可用圆的直径表征。把所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状设计为圆形，并使所述第一测试部11的宽度和所述第三测试部13的宽度均大于所述第二测试部12的宽度，除了能够降低相邻的两个所述测试端子10之间的短路风险，还能够增加所述第一测试部11和所述第三测试部13与所述测试探针之间的匹配度。其他说明请参照上述实施例，在此不再赘述。
另外，本申请的所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状不限于上述实施例中所列举的，上述实施例中所列举的表面形状仅为示意，所述第一测试部11和所述第三测试部13的表面形状可根据实际需求具体设置。
根据上述实施例可知：
本申请提供一种显示面板，该显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的非显示区，所述非显示区内设置有至少一个测试区，每个所述测试区包括多个沿第一方向阵列排布在所述非显示区的测试端子，每个所述测试端子包括第一测试部以及与所述第一测试部电连接的第二测试部，所述第一测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度，其中所述第一测试部作为测试接触点，如此在保证测试端子上测试接触点宽度的前提下，减小测试端子上其他位置的宽度，以增大相邻测试端子之间的间隔，进而降低相邻测试端子之间发生短路的几率，解决了现有显示面板存在的CT测试区测试接垫之间短路的问题。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (9)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和位于所述显示区一侧的非显示区，所述非显示区内设置有至少一个测试区，每个所述测试区包括：
多个测试端子，沿第一方向阵列排布在所述非显示区，每个所述测试端子包括第一测试部、与所述第一测试部电连接的第二测试部以及位于所述第二测试部远离所述第一测试部一侧的第三测试部，所述第三测试部也与所述第二测试部电连接；
其中，所述第一测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度，所述第三测试部沿所述第一方向的宽度大于所述第二测试部沿所述第一方向的宽度，且在沿着垂直所述第一方向并远离所述第二测试部的方向上，相邻的两个所述第三测试部之间的间隔距离逐渐增大。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试部沿垂直于所述第一方向的长度小于所述第二测试部沿垂直于所述第一方向的长度。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第二测试部沿所述第一方向的宽度范围为20微米至30微米。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，相邻两个所述第二测试部之间的间隔距离小于或等于300微米。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每相邻的两个所述测试端子，所述第一测试部之间的间隔小于所述第二测试部之间的间隔。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述第三测试部沿垂直于所述第一方向的长度小于所述第二测试部沿垂直于所述第一方向的长度。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试部和所述第三测试部的表面形状均包括三角形。
8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第三测试部和所述第一测试部关于所述第二测试部对称。
9.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，每相邻的两个所述测试端子，所述第三测试部之间的间隔小于所述第二测试部之间的间隔。
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