JP2001183614A - 表示素子およびその検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 階調信号線間リークおよび画素間リークを容
易かつ早期に発見する。 【解決手段】 対向ソース構造のＬＣＤ４０の製造工程
において、階調信号線４９の形成時から媒体層４１形成
完了までの間、奇数ライン群の全階調信号線４９同士が
奇数群接続部材５１によって相互接続されて奇数群配線
５３を形成し、偶数ライン群の全階調信号線４９同士が
偶数群接続部材５２によって相互接続されて偶数群配線
５４を形成している。奇数群配線５３および偶数群配線
５４は、相互に絶縁されつつ櫛形に引回されている。階
調信号線形成直後の導通検査時には、２系統の配線５
３，５４の一方配線に検査信号が入力され、他方配線か
らの該検査信号の検出の有無に基づいて、導通状態が判
断される。媒体層完成後の簡易点灯検査時には、２系統
の配線５３，５４のいずれか一方だけに検査信号が入力
されるか、または、２系統の配線５３，５４に相互に逆
極性の検査信号がそれぞれ入力される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、表示素子の製造工
程において、階調信号線間の導通状態と画素間の導通状
態とを検査するための表示素子の検査方法、ならびに該
検査方法に適した構成の表示素子に関する。

【０００２】

【従来の技術】ネマティック液晶材料は、時計および電
卓に利用されているセグメント型の液晶表示素子（以後
「ＬＣＤ」と略称する）に、広く用いられている。最近
においては、画素をマトリクス状に配したマトリクス型
のＬＣＤが、薄型、軽量、および低消費電力等の特徴を
活かし、ワードプロセッサ、コンピュータおよびナビゲ
ーション装置をはじめとする各種の電子機器の表示素子
（Display）として、市場をより広く拡大している。マ
トリクス型ＬＣＤは、１９８７年にＳＴＮ（Super Twis
ted Nematic）型のＬＣＤとして実用化された後、白黒
表示が可能なＤＳＴＮ（Double STN）、ＦＳＴＮ（Film
STN）、ＴＳＴＮ（Triple STN）、ＮＴＳＴＮ（New TS
TN）へと改良が進んでいる。現在、マトリクス型ＬＣＤ
は、カラー表示にも充分対応できる表示品位のより良い
ものへと発展してきている。そして現在に至っては、マ
トリクス型のＬＣＤは、薄膜トランジスタ（以下「ＴＦ
Ｔ」と略称する）等の能動素子をスイッチング素子とし
て用いるアクティブマトリクス型のＬＣＤに発展し、表
示素子の多くのシェアを占めている。

【０００３】このようなＬＣＤを陰極線管（ＣＲＴ）と
比較すると、陰極線管よりもＬＣＤのほうが、厚み（奥
行き）を格段に薄くすることができること、消費電力が
小さいこと、フルカラー化が容易なことなどの利点を有
する。このためマトリクス型の液晶表示素子は、パーソ
ナルコンピュータ、各種モニタ、携帯テレビ、およびカ
メラの表示器等、さらに広い分野で需要が広がってい
る。

【０００４】図２９は、従来技術の透過型のアクティブ
マトリクス（以後「ＡＭ」と略称する）型ＬＣＤの等価
回路図である。従来からある透過型のＡＭ型ＬＣＤにお
いて、透光性を有する基板であるＡＭ基板および対向基
板が、液晶層を介して対向配置されている。前記ＡＭ基
板上には、液晶層に電圧を印加するための複数の画素電
極１１が、マトリクス状に形成されている。画素電極１
１を選択駆動するためのスイッチング手段である能動素
子として、ＴＦＴ１２が前記ＡＭ基板に形成されてい
る。前記ＡＭ基板上には、さらに、走査線１３と階調信
号線１４と付加容量１５と基準信号線１６とが配置され
ている。前記対向基板上には、全画素電極と対向する共
通電極が配置されている。前記共通電極は、全ての各画
素電極１１に液晶層を介してそれぞれ対向する対向電極
と、該対向電極に接続された信号線とを一体化したもの
である。

【０００５】ＴＦＴ１２のゲート電極には走査線１３が
接続されている。またＴＦＴ１２のソース電極には、階
調信号線１４が接続されている。走査線１３と階調信号
線１４とは、マトリクス状に配列された画素電極１１の
周囲をそれぞれ通り、かつ互いに直交するように、ＡＭ
基板上に配置されている。走査線１３を介してゲート信
号がＴＦＴ１２に入力されることによって、ＴＦＴ１２
が駆動制御される。またデータ信号（表示信号）が、階
調信号線１４を介し、さらにＴＦＴ１２の駆動時にＴＦ
Ｔ１２を介して、画素電極１１に入力される。各ＴＦＴ
１２のドレイン電極には、画素電極１１および付加容量
１５の一方電極が接続されている。全付加容量１５にお
いて、一方電極に絶縁層を介して対向する他方電極は、
基準信号線１６にそれぞれ接続されている。付加容量１
５は液晶層に印加される電圧を保持する役割を持つ。付
加容量１５は、画素電極１１と並列接続されている。

【０００６】図２９のＡＭ型ＬＣＤがカラー表示が可能
な構成の場合、前記ＡＭ基板または対向基板上の、基板
の法線方向から見て各画素電極１１と重なる位置に、赤
緑青のカラーフィルタがそれぞれ設けられている。ＡＭ
型のＬＣＤでは、前記ＡＭ基板と対向基板との間に、通
常４．３μｍ以上４．５μｍ以下の厚みで液晶材料が挟
持されて、液晶容量を形成している。図２９で説明した
構造（以後「一般構造」と称する）を有する従来技術の
ＬＣＤでは、ＡＭ基板上の構成内に走査線と階調信号線
の交差部が存在するので、欠陥が生じ易い。このために
一般構造のＬＣＤは、歩留りが低下し易く、製造コスト
が高くなり易い問題点がある。

【０００７】一般構造の問題点の解決策として、米国特
許ＵＳＰ４６９４２８７号公報において、図３０のよう
な構造、所謂対向ソース構造を有するＬＣＤが提案され
ている。図３０を参照して、対向ソース構造のＡＭ型Ｌ
ＣＤの構成を説明する。なお図３０のＬＣＤの分解斜視
図では、液晶層が省略されている。対向ソース構造のＡ
Ｍ型ＬＣＤにおいて、透光性を有する基板である画素基
板２０および対向基板２５が、液晶層を介して対向配置
されている。画素基板２０上には、スイッチング素子２
１、走査線２２、基準信号線２３、および画素電極２４
が配置されている。対向基板２５上には、対向電極を兼
ねた複数本の階調信号線２６が配置されている。スイッ
チング素子２１は、アモルファスシリコン半導体等を用
いた３端子素子で実現される。

【０００８】複数のスイッチング素子２１は、画素基板
２０上に、マトリクス状に配設されている。行毎に、行
内の全スイッチング素子２１の第１端子が、走査線２２
に接続される。行毎に、行内の全スイッチング素子の第
２端子が、基準信号線２３に接続される。各スイッチン
グ素子２１の第３端子は、画素電極２４に個別に接続さ
れている。対向電極を兼ねた複数本の階調信号線２６
は、対向基板２５上に、長手方向が走査線２２に直交す
るように配置される。対向電極兼用の階調信号線２６
は、１列分の画素電極に液晶層を介してそれぞれ対向す
る対向電極と該１列分の対向電極に接続されるべき階調
信号線とを一体化したものであり、幅広の帯状電極にな
っている。図３０のＬＣＤでは、階調信号線２６内の画
素電極２４に対向する部分が、対向電極を兼ねている。
対向ソース構造のＬＣＤは、単一の基板上に形成される
構成内において走査線２２と階調信号線２６とが交差す
ることがなく、走査線２２と階調信号線２６とはそれぞ
れ個別の基板上に形成されるので、ライン欠陥の発生率
が低下し、歩留りが向上し、製造コストが低減される。

【０００９】多面付け技術を用いた対向ソース構造のＬ
ＣＤを含む液晶表示装置の製造工程においては、２枚の
各マザーガラス上への上述したＬＣＤの部品の形成工
程、２枚のマザーガラスの貼合わせ工程、貼合わされた
マザーガラスの分断工程、および液晶材料の注入工程を
経て、ＬＣＤが形成される。部品形成工程から液晶注入
工程までの間、静電気対策のために、一般的に、図３１
（Ａ）に示すように、全ての階調信号線２６は、ショー
トリング２７によって電気的に相互接続されている。液
晶注入後、形成されたＬＣＤからショートリング２７が
取除かれる。これによってＬＣＤが完成する。完成した
ＬＣＤには、ＴＡＢ（Tape AutomatedBonding）等の印
刷回路基板が接続実装される。

【００１０】図３１（Ａ）は、ショートリング２７除去
前のＬＣＤにおいて、階調信号線２６および走査線２２
とショートリング２７との引回し状態を説明するための
ＬＣＤの模式図である。図３２（Ａ）は、図３１（Ａ）
のＬＣＤの階調信号線２６とショートリング２７との引
回し状態を説明するための、ＬＣＤの対向基板側の部分
の平面模式図である。なお本明細書添付の信号線の引回
し状態説明用のＬＣＤの模式図においては、ＬＣＤの全
部品のうち、階調信号線と走査線と対向基板と画素基板
とショートリングとだけを記しており、かつ図面手前側
の基板は仮想的に記している。同様に、本明細書添付の
信号線の引回し状態説明用のＬＣＤの対向基板側部分の
模式図においては、対向基板と階調信号線とショートリ
ングとだけを記している。

【００１１】従来技術のＬＣＤ製造工程では、ＬＣＤ形
成後、印刷回路基板の接続実装工程を行う前に、ＬＣＤ
の不良品を振るい落とすために、全面点灯による簡易点
灯検査が行われている。簡易点灯検査では、たとえば、
−１５Ｖ以上＋１５Ｖ以下の範囲内でかつ図３３（Ａ）
に示すような波形で電圧が変化する信号が、走査線２２
２２に印加され、さらに、−５Ｖ以上＋５Ｖ以下の範囲
内でかつ図３３（Ｂ）に示すような波形で電圧が印加す
る信号が、階調信号線２６に入力される。基準信号線２
３には、図３３（Ｃ）に示す０Ｖの定常信号が入力され
る。信号入力時のＬＣＤの画素の表示状態に応じて、Ｌ
ＣＤの良不良が判断される。

【００１２】図３４（Ａ）および図３４（Ｂ）は、ノー
マリホワイトかつ対向ソース構造のＬＣＤへの信号入力
前後の表示状態を示す模式図である。図３５（Ａ）およ
び図３５（Ｂ）は、ノーマリブラックかつ対向ソース構
造のＬＣＤの信号入力前後の表示状態を示す模式図であ
る。なお本明細書添付のＬＣＤの表示状態を示す模式図
では、「Ｒ」「Ｇ」「Ｂ」が内部に記載された矩形が画
素（dot）に相当し、画素の矩形が白抜きの場合、該画
素が点灯しており、画素の矩形に斜線が付されている場
合、該画素が消灯、すなわち黒表示になっている。かつ
本明細書添付のＬＣＤの表示状態を示す模式図では、リ
ーク箇所ＬＰが１カ所ある場合の例になっている。本発
明の「リーク箇所」とは、隣合う２つの画素内の部品同
士の導通に起因する漏電（Leak）が発生している箇所、
または隣合う階調信号線２６同士の導通に起因する漏電
が発生している箇所を指す。

【００１３】従来の簡易点灯検査において、一般的に、
図３１（Ａ）に示すように、全ての階調信号線２６は、
検査時にショートリング２７によって電気的に相互接続
されている。このため、点灯検査時に、個々の隣合う階
調信号線２６に相互に異なる電圧をかけることが困難な
ので、一般的に、全階調信号線２６に相互に同一の階調
電圧をかけて検査する方法が採用されている。隣合う階
調信号線２６に同一の信号が入力されるため、画素間の
導通（Ｐ−Ｐリーク）または階調信号線間の導通（Ｓ−
Ｓリーク）が有るにも関わらず、ノーマリホワイトおよ
びノーマリブラックのどちらのＬＣＤであっても、図３
４および図３５に示すように、簡易点灯検査時の信号印
加前後の表示状態に違いがない。このように従来技術の
簡易点灯検査の方法では、画素間導通および階調信号線
間導通に係る良不良の判断が困難である。このため、印
刷回路基板の実装後の実駆動での検査を行わないと、導
通（リーク）の有無の確認は難しい。簡易点灯検査に関
わる問題点は、先に述べた図２９の一般構造のＡＭ型Ｌ
ＣＤにおいても、同様である。

【００１４】上述した問題点を改善した点灯検査とし
て、図３２（Ｂ）に示すようにショートリング２７を取
除いた状態のＬＣＤに対して、各階調信号線２６の入力
端子２８にプローブ接続端子（ピン）２９をそれぞれ接
続して、各階調信号線２６に個別に電圧をかける方法、
所謂実駆動方法がある。このような実駆動方法を採る
と、点灯検査の際に、図３１（Ｂ）に示すように、階調
信号線２６の本数だけプローブ接続端子２９が必要とな
るので、検査に要するコストが非常に高くなってしま
う。さらに、検査装置にＬＣＤを設置する際、ＬＣＤの
階調信号線２６の入力端子２８と検査用のプローブ接続
端子２９とのアライメントをとる必要がある。このた
め、精度の高い高価な装置を使う必要があるとともに、
そのアライメントに要する時間が長くかかるので、処理
能力低下の原因ともなる。さらに、微妙なアライメント
のずれに伴う誤動作および誤認識の原因ともなる。

【００１５】特開平２−２２２９２５号公報は、セグメ
ント型および単純マトリクス型の液晶パネル、すなわち
ＬＣＤの検査方法を含む液晶パネルの製造方法を開示し
ている。特開平２−２２２９２５号公報の製造方法にお
いては、プローブ等の検査治具との位置合わせを容易に
するために、液晶パネル内の表示電極に接続された引出
し電極と、引出し電極同士を相互接続する引回し電極と
が、ＬＣＤ内にさらに形成されている。検査治具を共用
するために、引回し電極の先端部の形状はＬＣＤ品種に
関わらず統一されている。基板間への液晶の封入後、引
回し電極と引出し電極とを介して、点灯検査のために、
表示電極に電圧が印加される。

【００１６】特開平７−５４８１号公報は、一般構造の
ＡＭ型のカラーの液晶表示パネルの検査方法を開示して
いる。特開平７−５４８１号公報の検査方法において、
隣合う赤緑青の画素のＴＦＴにそれぞれ接続される３本
のデータ電極、すなわち階調信号線２６に、色毎のデー
タ信号がそれぞれ入力される。液晶表示パネル内におい
て、３本のデータ電極のうちのいずれか１本に入力され
るデータ信号は０Ｖの定常信号であり、３本のデータ電
極のうちの残余の２本に入力されるデータ信号は交流信
号である。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来技術のＬＣＤの簡易点灯検査および導通検査は、静
電気対策のためのショートリング２７を利用して行われ
ている。図３１（Ａ）に示したように、全階調信号線２
６が１本のショートリング２７によって相互接続されて
いる場合、印刷回路基板実装前の簡易点灯検査では、画
素間導通および階調信号線間導通に起因する欠陥画素の
検出が難しい。

【００１８】特開平２−２２２９２５号公報のＬＣＤの
製法は点灯検査だけを考慮しているので、液晶層形成前
の段階において不良確認を行うことが難しい。また特開
平２−２２２９２５号公報の製法では、引出し配線およ
び引回し配線の形状が複雑であるので、これら配線形成
に必要な基板面積が拡大しやすい。このために特開平２
−２２２９２５号の検査方法は、狭額縁化されたＬＣＤ
には適用しにくい。

【００１９】特開平７−５４８１号公報の検査方法で
は、データ電極が３系統に分離されており、３つの各系
統のデータ電極に個別に検査信号を入力する必要がある
ので、検査信号の組合わせが複雑になる。赤緑青のいず
れかの単色表示時において、他の色の輝点として欠陥箇
所が表示されるので、欠陥箇所が目立ちにくい。さらに
赤緑青の各色の画素毎に欠陥の有無が検査されるので、
全画素の欠陥の有無を検査するには３通りの組合わせの
信号を順次入力する必要があるため、検査手順が複雑に
なる。

【００２０】本発明の目的は、信号線間リークおよび画
素間リークのうちの少なくとも一方の検出のための表示
素子の検査方法であって、容易に実行可能な検査方法を
提供することである。また本発明の目的は、上記検査方
法に適した構成の表示素子を提供することである。

【００２１】

【課題を解決するための手段】本発明は、表示に関わる
状態が電界に応じて局所的に変化可能な媒体層と、媒体
層を挟んで相互に対向配置される第１基板および第２基
板と、第１基板上にマトリクス状に配置される複数の第
１電極と、媒体層を介して第１電極に対向する第２電極
と、第１電極の列毎に、列内の全第１電極が接続される
信号線とを含む構成を有するマトリクス型かつ平面型の
表示素子の検査方法において、全信号線を、奇数番目の
列の第１電極に接続された信号線から成る奇数ライン群
と、偶数番目の列の第１電極に接続された信号線から成
る偶数ライン群との２系統に分離して、奇数ライン群の
信号線への信号入力状態と偶数ライン群の信号線への信
号入力状態とが相互に異なるように、奇数ライン群およ
び偶数ライン群のうちの少なくとも一方のライン群の全
信号線に、媒体層の表示に関わる状態を変化させ得る電
界を第１電極と第２電極との間に発生させるための検査
信号を入力し、表示素子内の各画素の点灯状態に基づ
き、信号線間の導通状態を検査することを特徴とする表
示素子の検査方法である。

【００２２】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子の検査方法において、奇数ライン群の信号線
への信号入力状態と偶数ライン群の信号線への信号入力
状態とが相互に異なるように、検査信号が入力されてい
る。これによって、少なくとも一方のライン群の全信号
線に一括して検査信号を入力する検査方法を用いて、信
号線間リークおよび画素間リークを、目視確認によって
容易に検出することが可能になる。このように本発明の
検査方法は、コストの増加、誤動作の増加、誤認識の増
加、および処理能力の低下を生じる事なく、階調信号線
間の導通の有無および画素間の導通の有無のうちの少な
くとも一方を、媒体層形成後の時点で検査することが可
能になる。本発明の検査方法が用いられる場合、表示素
子完成直後に不良発見が可能になるので、表示素子への
実装部品取付け工程への不良な表示素子の流出を、減ら
すことが可能になる。したがって、表示素子の不良の早
期発見が可能となるので、表示素子の製造コストの低減
を図ることができる。

【００２３】また本発明の表示素子の検査方法は、前記
奇数ライン群および偶数ライン群のうちのいずれか一方
群の信号線だけに、前記検査信号が入力されることを特
徴とする。

【００２４】本発明に従えば、表示素子の検査方法にお
いて、１種類の検査信号だけが用意され、かつ奇数ライ
ン群および偶数ライン群のうちのいずれか一方群の信号
線だけに該検査信号が入力される。このように全信号線
のうちの１本おきの信号線だけに検査信号が入力される
ため、信号線間リークまたは画素間リークが全く生じて
いなければ、隣合う２つの画素の表示状態が常に異な
り、表示素子全体は中間調表示になる。信号線間のリー
ク箇所または画素間のリーク箇所にある画素の表示状態
は、リーク箇所がない場合の表示状態と逆の状態になる
ので、リーク箇所において同じ表示状態の画素が２つ隣
合うため、リーク箇所は輝点または黒点として表示され
る。したがって、１種類の検査信号だけを用いて、リー
ク箇所を明示することが可能になる。

【００２５】また本発明の表示素子の検査方法は、前記
奇数ライン群の信号線および偶数ライン群の信号線に
は、前記検査信号がそれぞれ入力され、前記奇数ライン
群の信号線に入力される第１の検査信号が、前記偶数ラ
イン群の信号線に入力される第２の検査信号の逆極性の
信号であることを特徴とする。

【００２６】本発明に従えば、表示素子の検査方法にお
いて、相互に逆極性の２種類の検査信号が用意され、か
つ奇数ライン群の信号線と偶数ライン群の信号線とに、
各検査信号がそれぞれ入力される。このように、極性だ
けが異なる検査信号が全信号線に入力されるため、信号
線間リークまたは画素間リークが全く生じていなけれ
ば、全画素の表示状態は相互に等しくなる。信号線間の
リーク箇所または画素間のリーク箇所にある画素の表示
状態は、リーク箇所がない場合の表示状態と逆の状態に
なるので、リーク箇所は輝点または黒点として表示され
る。したがって、２種類の検査信号だけを用いて、リー
ク箇所をより分かりやすく明示することが可能になる。

【００２７】本発明は、表示に関わる状態が電界に応じ
て局所的に変化可能な媒体層と、媒体層を挟んで相互に
対向配置される第１基板および第２基板と、第１基板上
にマトリクス状に配置される複数の第１電極と、媒体層
を介して第１電極に対向する第２電極と、第１電極の列
毎に、列内の全第１電極が接続される信号線とを含む構
成を有するマトリクス型かつ平面型の表示素子の検査方
法において、全信号線を、奇数番目の列の第１電極に接
続された信号線から成る奇数ライン群と、偶数番目の列
の第１電極に接続された信号線から成る偶数ライン群と
の２系統に分離して、奇数ライン群の全信号線同士を相
互接続する奇数群接続部材と偶数ライン群の全信号線同
士を相互接続する偶数群接続部材とを、第１基板上にさ
らに形成し、奇数群配線および偶数群配線のうちのいず
れか一方配線に、予め定める検査信号を入力し、奇数群
配線および偶数群配線のうちのいずれか他方配線から検
査信号が検出されるか否かに基づき、奇数ライン群の信
号線と偶数ライン群の信号線との導通状態を検査するこ
とを特徴とする表示素子の検査方法である。

【００２８】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子の検査方法において、全信号線が２つのライ
ン群に分離され、ライン群毎に接続部材によって信号線
が相互接続されている状況下で、各ライン群の信号線と
接続部材とから成る配線間の導通状態に基づき、信号線
間リークの有無が検査される。これによって、信号線間
の導通を、表示素子の製造工程内の途中において、第１
基板上の部品が完成した時点で、静電気対策用の接続部
材を利用して確認することが可能になる。したがって上
記の検査方法が用いられる場合、信号線間リークを、容
易かつ安価に検査することが可能になる。さらにこの場
合、表示素子製造工程内の第１基板上部品の形成工程の
後工程への、不良部品が形成された第１基板の流出を、
減らすことが可能になる。

【００２９】本発明は、表示に関わる状態が電界に応じ
て局所的に変化可能な媒体層と、媒体層を挟んで相互に
対向配置される第１基板および第２基板と、第１基板上
にマトリクス状に配置される複数の第１電極と、媒体層
を介して第１電極に対向する第２電極と、第１電極の列
毎に、列内の全第１電極が接続される信号線とを含み、
媒体層形成に先立って、全第１電極と全信号線とが第１
基板上に形成される構成を有するマトリクス型かつ平面
型の表示素子において、全信号線のうちの奇数番目の列
の第１電極に接続された信号線から成る奇数ライン群の
全信号線同士を相互接続する奇数群接続部材と、全信号
線のうちの偶数番目の列の第１電極に接続された信号線
から成る偶数ライン群の全信号線同士を相互接続する偶
数群接続部材とが、第１電極および信号線の形成時から
媒体層形成完了までの間、第１基板上にさらに配置され
ており、奇数群接続部材および奇数ライン群の信号線か
ら成る奇数群配線と、偶数群接続部材および偶数ライン
群の信号線から成る偶数群配線とは、相互絶縁されつつ
櫛形に引回され、奇数群配線および偶数群配線のうちの
少なくとも一方配線が、絶縁膜を挟んで一部分が重なり
合う２種類の導電パターンを該絶縁膜に設けられたコン
タクトホールを介して導通接続した構造を有することを
特徴とする表示素子である。

【００３０】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子において、第１電極と信号線との形成工程か
ら媒体層形成工程完了後までの間、静電気対策として、
全信号線同士を電気的に導通するための奇数群接続部材
および偶数群接続部材が設けられている。全信号線は、
奇数ライン群と偶数ライン群との２系統に分離されて、
ライン群毎に相互短絡されている。この結果形成される
奇数群配線と偶数群配線とは、それぞれ櫛形に引回され
ている。このように奇数群配線および偶数群配線の形状
が簡単であるので、各接続部材の形成に必要な基板面積
が従来よりも減少する。また櫛形の各配線の背の部分に
ある接続部材を除くだけで、各ライン群の全信号線を分
離可能なので、信号線の分離が容易である。

【００３１】また上記奇数群配線および偶数群配線のう
ちの少なくとも一方が、絶縁膜に設けられたコンタクト
ホールを介して接続された２種類の導電パターンから構
成されている、この結果、奇数群接続部材および偶数群
接続部材が第１基板の一端部にどちらも配置されるよう
に、奇数群配線および偶数群配線を相互絶縁しつつ引回
すことが可能になる。これによって本発明は、狭額縁化
に伴って印刷回路基板が基板の片側に実装される構成の
表示素子にも対応可能になる。さらに、２つの接続部材
が第１基板の一端部にどちらも配置されているならば、
接続部材を取除くための面取り工程において、基板の片
側端部だけを加工すればよいので、面取り工程の処理能
力の向上につながる。以上の理由に基づき本発明の奇数
群および偶数群配線の構成は、表示素子の狭額縁化およ
び低コスト化に伴って信号線の片側から信号が入力され
る構成になっている表示素子の場合にも、コストを上げ
ることなく、点灯検査および導通検査への対応が可能に
なっている。

【００３２】上記の櫛形の２系統の配線内の信号線は第
１基板上で相互に隣合っているので、２系統の配線への
信号入力状態が相互に異なるように点灯検査用の検査信
号を各配線に入力したならば、信号線間リークおよび画
素間リーク発見のための簡易の点灯検査を行うことがで
きる。このように上記構成の表示素子において、媒体層
形成後かつ接続部材除去前の時点で、静電気対策用の２
つの接続部材を利用した点灯検査が行われる場合、図３
１（Ｂ）に示すような従来技術の実駆動方法と比較し
て、プローブ数の増加に伴うコストの増加および厳しい
アライメント精度の要求がないので、安価かつ容易に導
通の有無を検査することが可能となる。

【００３３】また上記の櫛形の２系統の配線内の信号線
は第１基板上で相互に隣合っているので、配線間の導通
状態を確認すれば、信号線間リークの有無が検査可能で
ある。このように上記構成の表示素子は、第１基板に信
号線および２つの接続部材を形成した時点で、静電気対
策用の２つの接続部材を利用して信号線間リークの有無
が確認可能なので、信号線間リークの検査が容易にな
る。

【００３４】本発明の表示素子は、前記奇数群接続部材
および偶数群接続部材は、前記絶縁膜を挟んで一部分が
重なり合う２種類の導電パターンを該絶縁膜に設けられ
たコンタクトホールを介して導通接続した構造にそれぞ
れなっており、前記奇数群接続部材の導電パターンと前
記偶数群接続部材の導電パターンとの交差部において、
導電パターン間に前記絶縁膜が介在されていることを特
徴とする。

【００３５】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子において、前記奇数群接続部材および偶数群
接続部材は、２種類の導電パターンを該絶縁膜に設けら
れたコンタクトホールを介して導通接続した構造になっ
ており、各接続部材の導電パターンの交差部間には絶縁
膜が介在される。これによって、奇数ライン群の信号線
と偶数ライン群の信号線とを絶縁膜の同じ面側に配置し
つつ、櫛形に引き回された各配線の接続部材を第１基板
の片側端部にそれぞれ配置し、かつ奇数群配線と偶数群
配線とを相互に絶縁することができる。

【００３６】本発明の表示素子は、前記奇数群接続部材
および偶数群接続部材のうちのいずれか一方配線は、前
記絶縁膜を挟んで一部分が重なり合う２種類の導電パタ
ーンを該絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介して
導通接続した構造になっており、前記奇数群接続部材お
よび偶数群接続部材のうちのいずれか他方配線は、単一
の導電パターンから形成されており、前記奇数群接続部
材の導電パターンと前記偶数群接続部材の導電パターン
との交差部において、導電パターン間に前記絶縁膜が介
在されていることを特徴とする。

【００３７】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子において、前記奇数群配線および偶数群接続
部材のいずれか一方接続部材が、２種類の導電パターン
を該絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介して導通
接続した構造になっており、いずれか他方接続部材が単
一導電パターンだけで形成されており、各接続部材の導
電パターンの交差部間には絶縁膜が介在される。これに
よって、奇数ライン群の信号線と偶数ライン群の信号線
とを絶縁膜の同じ面側に配置しつつ、櫛形に引回された
各配線の接続部材を第１基板の片側端部にそれぞれ配置
し、かつ奇数群配線と偶数群配線とを相互に絶縁するこ
とができ、さらに前記他方接続部材の構成を簡略化する
ことができる。

【００３８】本発明の表示素子は、前記奇数群接続部材
は、前記奇数ライン群の信号線の一部分と、前記絶縁膜
を挟んで重なり、かつ該絶縁膜に設けられたコンタクト
ホールを介して導通接続されており、前記偶数群接続部
材は、前記偶数ライン群の信号線の一部分と、前記絶縁
膜を挟んで重なり、かつ該絶縁膜に設けられたコンタク
トホールを介して導通接続されていることを特徴とす
る。

【００３９】本発明に従えば、マトリクス型かつ平面型
の表示素子において、前記奇数群接続部材および偶数群
接続部材が、奇数ライン群および偶数ライン群の信号線
と、絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介して導通
接続されている。これによって、奇数ライン群の信号線
と偶数ライン群の信号線とを絶縁膜の同じ面側に配置し
つつ、櫛形に引回された各配線の接続部材を第１基板の
片側端部にそれぞれ配置し、かつ奇数群配線と偶数群配
線とを相互に絶縁することができ、さらに奇数群および
偶数群接続部材の構成を簡略化することができる。

【００４０】

【発明の実施の形態】図１は、本発明の第１の実施の形
態の検査方法を含む製造方法で製造されたマトリクス型
のＬＣＤ４０の概略構成を示す分解斜視図である。第１
の実施の形態のＬＣＤ４０は、対向ソース構造を有する
透過型のＬＣＤになっている。ＬＣＤ４０は、媒体層４
１、画素基板４２、対向基板４３、３端子のスイッチン
グ素子４４、複数本の走査線４５、基準信号線４６、複
数の画素電極４７、複数の対向電極４８、複数本の階調
信号線４９、および２枚の配向膜とを少なくとも含む。
なお図１では、２個以上ある部品には、１画素分だけに
参照符を付している。

【００４１】媒体層４１は、液晶材料から形成されてい
る。本実施の形態では、液晶材料として、ネマティック
液晶が用いられている。画素基板４２および対向基板４
３は、媒体層４１を挟んで相互に対向配置される。複数
のスイッチング素子４４は、画素基板４２上に、マトリ
クス状に配置される。行毎に、行内の全スイッチング素
子４４の第１端子が、１本の走査線４５に接続される。
基準信号線４６は、全スイッチング素子４４の第２端子
に接続される。各スイッチング素子４４の第３端子は、
画素電極４７に個別に接続される。この結果、画素電極
４７もマトリクス状に配置される。対向電極４８は、媒
体層４１を介して、画素電極４７と個別に対向してい
る。ゆえに、対向電極４８もマトリクス状に配置され
る。列毎に、列内の全対向電極４８が、１本の階調信号
線４９に接続されている。各階調信号線４９の長手方向
は、走査線４５の長手方向と直交している。２枚の各配
向膜は、ＬＣＤ４０の全部品のうち、媒体層４１に最近
接している。

【００４２】図１のＬＣＤ４０は、列毎に、１本の階調
信号線４９が該階調信号線４９に接続された全対向電極
４８と一体化されている場合の例になっている。階調信
号線４９が対向電極４８と一体化されているので、階調
信号線４９は幅広の帯状の電極になっている。幅広の階
調信号線４９内の画素電極４７と対向する部分が対向電
極４８を兼ねる。図１において、媒体層４１および配向
膜の記載は省略しており、かつ対向電極兼用の階調信号
線内の対向電極となる部分を、１画素分だけ記載してい
る。

【００４３】図１のＬＣＤ４０は、視聴者から見て、対
向基板４３が手前になるように設置された状態で用いら
れる。対向基板４３の法線方向から見て、画素電極４７
と対向電極４８とが重なる部分が、画素として機能す
る。対向基板４３と対向電極４８と対向基板４３上の配
向膜とは、透光性を有する。ＬＣＤ４０が透過型である
場合、画素基板４２と画素電極４７と画素基板４２上の
配向膜とが、さらに透光性を有する。ＬＣＤ４０が内部
反射型である場合、画素基板４２上の配向膜がさらに透
光性を有し、画素電極４７が光反射性を有する。スイッ
チング素子４４の第１端子は、第２端子と第３端子との
導通状態を切換え制御するための信号の入力端子であ
る。スイッチング素子４４は、３端子の能動素子、たと
えばＴＦＴ（Thin Lyer Transister）で実現される。

【００４４】透過型ＬＣＤ４０を含む液晶表示装置は、
透過型ＬＣＤ４０の他に、第１偏光板と第２偏光板と光
源と駆動回路とを含む。光源は、ＬＣＤ４０の画素基板
４２側に配置される。第１偏光板は、ＬＣＤ４０の対向
基板４３側に配置される。第２偏光板は、ＬＣＤ４０の
画素基板４２と光源との間に配置される。駆動回路は、
ＬＣＤ４０の各画素において、画素電極４７と対向電極
４８との間の電位差を制御するために、走査線４５と階
調信号線４９と基準信号線４６とに信号を供給する。ま
た透過型ＬＣＤ４０を含む液晶表示装置は、光源の代わ
りに反射板を備えていてもよい。内部反射型ＬＣＤ４０
を含む液晶表示装置は、内部反射型のＬＣＤ４０の他
に、ＬＣＤ４０の対向基板４３側に配置される第１偏光
板、および走査線４５と階調信号線４９と基準信号線４
６とに信号を供給するための駆動回路を含む。

【００４５】図１のＬＣＤ４０の製造工程においては、
概略的には、媒体層形成に先立って、全対向電極４８と
全階調信号線４９とが対向基板４３上に形成される。本
発明のＬＣＤ４０の製造方法は、製造工程中のＬＣＤ構
成部品の静電気対策に関する構成、および画素間リーク
および階調信号線間リークのうちの少なくとも一方の発
見のための検査方法に特徴がある。リーク発見のための
検査として、簡易点灯検査および階調信号線４９の導通
検査が行われる。

【００４６】ＬＣＤ製造工程において、静電気対策のた
めに、対向電極４８および階調信号線４９と共に、奇数
群接続部材５１および偶数群接続部材５２が、対向基板
４３上にさらに形成される。奇数群接続部材５１は、奇
数ライン群の全階調信号線４９同士を相互に接続するシ
ョートリングである。偶数群接続部材５２は、偶数ライ
ン群の全階調信号線４９同士を相互に接続するショート
リングである。奇数ライン群は、全階調信号線４９のう
ち、奇数番目の列の対向電極４８に接続された階調信号
線４９から成る。偶数ライン群は、全階調信号線４９の
うち、偶数番目の列の対向電極４８に接続された階調信
号線４９から成る。奇数群接続部材５１および偶数群接
続部材５２は、媒体層形成後に取除かれる。奇数群接続
部材５１および奇数ライン群の階調信号線４９から成る
奇数群配線５３と、偶数群接続部材５２および偶数ライ
ン群の階調信号線４９から成る偶数群配線５４とは、対
向基板４３の法線方向５５から見て、櫛形にそれぞれ引
回されている。

【００４７】ＬＣＤ４０の階調信号線４９の導通検査の
ためには、奇数群接続部材５１および偶数群接続部材５
２のうちのいずれか一方接続部材を介して、該一方接続
部材に接続される階調信号線４９に、予め定める検査信
号が入力される。検査信号入力時に、奇数群接続部材５
１および偶数群接続部材５２のうちのいずれか他方接続
部材から検査信号が検出されるか否かに基づき、奇数ラ
イン群の階調信号線４９と偶数ライン群の階調信号線４
９との導通状態が検査される。

【００４８】ＬＣＤ４０の簡易点灯検査のためには、奇
数ライン群の全階調信号線４９への信号入力状態と偶数
ライン群の全階調信号線４９への信号入力状態とが相互
に異なるように、奇数ライン群および偶数ライン群のう
ちの少なくとも一方ライン群の全階調信号線４９に、検
査信号が入力される。検査信号は、媒体層４１の表示に
係わる状態を変化させる電界、ＬＣＤであれば液晶の旋
光性を変化させる電界を、対向電極４８と画素電極４７
との間に発生させ得る信号である。検査信号入力に応答
したＬＣＤ４０内の各画素の点灯状態に基づき、階調信
号線４９間の導通状態が判定される。

【００４９】ＬＣＤ簡易点灯検査は、好ましくは、奇数
群接続部材５１および偶数群接続部材５２が取除かれる
前に、該接続部材５１，５２を利用して行われる。この
場合、ＬＣＤ簡易点灯検査の検査信号が、奇数ライン群
および偶数ライン群のうちの少なくとも一方ライン群の
全階調信号線４９に接続された接続部材に与えられ、該
接続部材から該一方ライン群の全階調信号線４９に伝達
される。

【００５０】第１の実施の形態において、奇数群接続部
材５１および偶数群接続部材５２が、対向基板４３の両
側端部にそれぞれ配置されており、かつ奇数群配線５３
および偶数群配線５４の相互の重なりがない。図２は、
第１の実施の形態における奇数群配線５３および偶数群
配線５４の引回し状態を具体的構成を説明するための、
ＬＣＤ４０内の媒体層４１よりも対向基板４３側の部分
の模式平面図である。なお配線の引回し状態説明用のＬ
ＣＤの対向基板側部分の本明細書添付模式図には、対向
基板４３と奇数群配線５３と偶数群配線５４とだけを記
している。

【００５１】図２の例では、奇数群接続部材５１は対向
基板４３の一方端部に配置され、偶数群接続部材５２
は、対向基板４３の一方端部とは反対側の端部に配置さ
れている。奇数群接続部材５１および偶数群接続部材５
２の長手方向は、階調信号線４９の長手方向とそれぞれ
略直交している。ライン群毎に、階調信号線４９の接続
部材５１，５２に近いほうの一端部がＬＣＤ４０完成時
に必要な長さよりも伸延されており、伸延された一端部
が接続部材５１，５２に接続されている。この結果奇数
群配線５３および偶数群配線５４は、相互の重なりがな
く、かつ櫛の歯が入違いに噛合わされたような状態に配
置される。図２の引回し状態であれば、奇数ライン群お
よび偶数ライン群の全階調信号線４９が同じ面内に形成
され、かつ奇数群接続部材５１と偶数群接続部材５２と
が全階調信号線４９と同じ面内に形成される。図２の引
回し状態の奇数群配線５３および偶数群配線５４を形成
するには、たとえば、ＩＴＯ（インジウム−錫酸化物）
の薄膜が平滑膜に重ねて成膜され、櫛型の２つの膜片が
残るように該薄膜がパターニングされる。このように図
２の引回し状態の配線は、極めて容易に形成することが
可能である。

【００５２】図２に示すように、好ましくは、奇数群配
線５３および偶数群配線５４内部において、後述する検
査装置のプローブ端子６３が接触すべき箇所である接続
用パッドとして用いられる一部分は、残余の部分よりも
幅広に形成されている。各配線内の接続用パッドは、た
とえば各配線内の接続部材の端部である。接続用パッド
が予め大きめに形成されている場合、導通検査時および
簡易点灯検査時に、対向基板４３とプローブ端子６３と
のアライメントをより容易にとることが可能となる。

【００５３】図３は、上記の導通検査および簡易点灯検
査を含む図１のＬＣＤ４０の製造方法を説明するための
工程図である。なお図３の製造方法は、ＬＣＤ４０がカ
ラー表示が可能な構成であり、かつ列毎に、１本の階調
信号線４９が該階調信号線４９に接続された全対向電極
４８と一体化されている場合の例になっている。カラー
表示のために、ＬＣＤ４０がカラーフィルタをさらに含
む。各カラーフィルタは、各対向電極４８と対向基板４
３との間にそれぞれ配置される。

【００５４】第１工程Ｓ１においては、対向基板４３上
に、カラーフィルタと、対向電極４８兼用の階調信号線
４９とが形成される。具体的には、まず、対向基板４３
上において、ＬＣＤ４０の全画素のうちの３分の１の画
素の対向電極４８を形成すべき位置に、赤のカラーフィ
ルタが形成される。その後、残余の全画素のうちの半分
の画素の対向電極４８を形成すべき位置に、緑のカラー
フィルタが形成され、残りの半分の画素の対向電極４８
を形成すべき位置に、青のカラーフィルタが形成され
る。また必要に応じて、対向基板４３上の対向電極４８
を形成すべき位置以外の位置に、黒のフィルタが形成さ
れる。各色のカラーフィルタは、カラーフィルタの材料
から成る薄膜のラミネートと、該薄膜に対する露光と、
露光後の薄膜の現像と、および現像後の薄膜に対する熱
処理（ベーク）との工程を経て、該薄膜内の上記の対向
電極４８を形成すべき位置にある部分だけが残るように
形成される。全フィルタ形成後、耐アルカリ性および平
坦性を確保するための平滑膜形成のために、対向基板４
３上に、全フィルタを覆うように、透明なアクリル系樹
脂が塗布され、熱処理が施される。

【００５５】次いで、対向電極４８兼用の階調信号線４
９が、熱処理後の平滑膜の上に形成される。階調信号線
４９形成と同時に、奇数群接続部材５１および偶数群接
続部材５２が、奇数ライン群および偶数ライン群の階調
信号線４９とそれぞれ接続された状態で、平滑膜上に形
成される。この結果、各接続部材５１，５２によって階
調信号線４９が１本おきに相互に短絡接続されるので、
奇数群配線５３および偶数群配線５４の２系統が、それ
ぞれ櫛形に引回される。奇数群配線５３および偶数群配
線５４の形成のためには、たとえばＩＴＯ（インジウム
−錫酸化物）に代表される透明導電性材料のの薄膜が平
滑膜に重ねて成膜され、該薄膜がパターニングされる。

【００５６】第２工程Ｓ２として、対向基板４３上の階
調信号線４９の導通検査が行われる。導通検査は、図４
に示すように、奇数群配線５３内のプローブ端子接続用
パッド５５および偶数群配線５４内のプローブ端子接続
用パッド５６に、導通検査装置のプローブ端子を落とし
て行われる。第２工程Ｓ２の導通検査によって、階調信
号線形成直後に、隣合う階調信号線４９間のリークの有
無を確認することができる。図３の例では階調信号線４
９が対向電極４８を兼ねているので、階調信号線４９間
のリークの有無が確認されれば、２列の対向電極４８間
のリークの有無および階調信号線４９と隣列の対向電極
４８との間のリークの有無も確認されたことになる。

【００５７】第２工程Ｓ２の時点で階調信号線間リーク
が無いことが確認された対向基板４３は、次の第３工程
Ｓ３に払出される。第２工程Ｓ２の時点で階調信号線間
リークが有ると確認された対向基板４３は、配線不良が
有るとして、製造工程から除去される。または、階調信
号線間リークが確認された対向基板４３に対して、該対
向基板４３上の階調信号線間リーク箇所ＬＰを修正する
処理が施されてもよい。リーク箇所ＬＰの修正のために
は、リーク有りが確認された対向基板４３において、階
調信号線４９同士を導通させている導電性の膜片が、赤
外レーザ等を用いて切断される。切断後、修正済の対向
基板４３に対して、階調信号線４９の導通検査が再び行
われる。導通検査によってリーク等の問題が無いことが
確認されたならば、対向基板４３は、次の第３工程Ｓ３
に払出される。

【００５８】第３工程Ｓ３において、払出された対向基
板４３上に、全階調信号線４９を覆うように、配向膜が
形成される。第１工程Ｓ１〜第３工程Ｓ３の前後、また
は第１工程Ｓ１〜第３工程Ｓ３と並行して、画素基板４
２に関する第４工程Ｓ４が行われる。第４工程Ｓ４にお
いては、スイッチング素子４４と画素電極４７と走査線
４５と基準信号線４６とが、画素基板４２上に形成さ
れ、さらにこれらの全部品を覆うように、配向膜が形成
される。第５工程Ｓ５において、配向膜形成済の対向基
板４３および配向膜形成済の画素基板４２が、予め定め
るセルギャップだけ相互に離れた状態で、貼合わされ
る。この結果、ＬＣＤ４０のセル部材が形成される。セ
ルギャップは、たとえば４．５μｍである。第６工程Ｓ
６において、ＬＣＤ４０のセル部材内部の対向基板４３
および画素基板４２間の空間に、液晶材料が封入され
る。

【００５９】ＬＣＤ製造工程に多面付け技術が用いられ
ている場合、２枚以上の画素基板４２から成る画素基板
側のマザーガラス上に画素電極４７等の部品が形成さ
れ、画素基板４２と同数の対向基板４３から成る対向基
板側のマザーガラス上に階調信号線４９等の部品が形成
され、かつ２枚の該マザーガラス同士が貼合わされてい
る。この場合、マザーガラスの貼合わせ後、貼合わされ
たマザーガラスから成る部材が、ＬＣＤ４０のセル部材
単位で分断され、分断後の各セル部材に、液晶材料が封
入される。

【００６０】第７工程Ｓ７において、液晶封入後のセル
部材（以後「未完ＬＣＤ」と称する）の簡易点灯検査が
行われる。奇数群配線５３および偶数群配線５４が図２
の引回し状態で引回されている場合、図４に示すよう
に、簡易点灯検査は、検査装置の検査信号入力用のプロ
ーブ端子が未完ＬＣＤの両側端部にそれぞれある接続部
材に接触した状態で、行われる。第７工程Ｓ７の簡易点
灯検査によって良品と判断された未完ＬＣＤだけが 次
の第８工程Ｓ８に払出される。

【００６１】第８工程Ｓ８である面取り工程において、
奇数群接続部材５１および偶数群接続部材５２が未完Ｌ
ＣＤから取除かれる。これによって全階調信号線４９が
電気的に分離される。また走査線４５がショートリング
によって相互接続されている場合、走査線４５のショー
トリングも取除かれる。この結果全走査線４５が電気的
に分離される。以上の工程Ｓ１〜Ｓ８を経て、ＬＣＤ４
０は完成する。完成したＬＣＤ４０には、印刷回路基板
で実現される駆動回路、光源および偏光板等の部品が実
装される。これによってＬＣＤ４０を用いた液晶表示装
置が完成する。

【００６２】以上説明したように、第１の実施の形態の
ＬＣＤ製造方法では、ＬＣＤ４０に印刷回路基板等の部
品が実装される前に、簡易的な点灯検査が予め行われ
る。この結果、不良のあるＬＣＤ４０の後工程への流出
を減らすことができる。また第１の実施の形態のＬＣＤ
製造方法では、対向電極兼用の階調信号線形成直後に、
階調信号線の導通検査が予め行われる。この結果、不良
のある階調信号線が形成された対向基板の後工程への流
出を減らすことができる。以上の理由に基づき、第１の
実施の形態のＬＣＤ製造方法は、ＬＣＤ４０の製造コス
トを低減することができ、かつ製造能率を向上すること
ができる。

【００６３】図５は、階調信号線４９の導通検査の検査
装置７１の模式図である。導通検査装置７１は、信号源
７２と判定部７５と２つのプローブ端子７３，７４とを
少なくとも含む。信号源７２は、奇数群配線５３および
偶数群配線５４のうちのいずれか一方配線に与えるべき
検査信号を生成する。２つの各プローブ端子７３，７４
は、奇数群および偶数群配線５４内の接続部材５１，５
２の１端部にそれぞれ接触している。導通検査の検査信
号は、信号源７２から、一方のプローブ端子７３を経由
して、前記一方配線に入力される。検査信号入力と並行
して、奇数群配線５３および偶数群配線５４のうちのい
ずれか他方配線内を流れる信号が、該他方配線内の接続
部材の１端部に接触している他方のプローブ端子７４を
介して検出される。判定部７５は、他方のプローブ端子
７４によって検出された信号と入力された検査信号とを
比較する。検査信号入力時に、前記他方配線から検査信
号が検出されるか否かに基づき、奇数ライン群の階調信
号線４９と偶数ライン群の階調信号線４９との導通状態
が検査される。一方接続部材に入力された検査信号が他
方接続部材から検出された場合、奇数ライン群の階調信
号線４９と偶数ライン群の階調信号線４９とが導通して
いると判定される。

【００６４】図５で説明したように、導通検査装置７１
は、２系統の各配線５３，５４の１箇所にプローブ端子
７３，７４を接触させている。この結果、各ライン群の
全階調信号線４９の端子に個別にプローブ端子を接触さ
せる従来技術の導通検査装置よりも図５の導通検査装置
７１のほうが、プローブ端子数が少なくなるので、検査
装置自体のコストが安くなる。また従来技術の導通検査
装置よりも図５の導通検査装置７１のほうがプローブ端
子のアライメントが容易になるので、図５の導通検査装
置７１のほうがアライメントに要する時間を短縮可能に
なっている。したがって従来技術の導通検査よりも本発
明の導通検査のほうが容易に実行可能である。特開平２
−２２２９２５号公報と本発明とを比較すると、公報は
点灯検査だけを考慮しているので媒体層形成前の導通検
査が困難であるが、本発明は媒体層形成前であって２系
統の各配線が形成された段階で導通検査が可能である。
これによって、特開平２−２２２９２５号公報の技術よ
りも本発明の技術のほうが、コスト面等で有効である。

【００６５】第１の実施の形態における簡易点灯検査方
法では、奇数ライン群および偶数ライン群のうちのいず
れか一方ライン群の階調信号線４９だけに、検査信号が
供給される。上記の信号電圧が各配線に印加された状況
下で、未完ＬＣＤ６０および１対の偏光板から成る検査
対象の表示装置７０を、検査官が目視検査する。信号電
圧印加時の前記表示装置７０の表示状態に基づいて、リ
ーク箇所の有無が確認される。リーク箇所の無いＬＣＤ
４０が良品と判定される。

【００６６】図６は、第１の実施の形態の簡易点灯検査
の検査装置６１の構成を概略的に示す模式図である。簡
易点灯検査装置６１は、信号源６２とプローブ端子６３
とを少なくとも含む。信号源６２は、奇数ライン群およ
び偶数ライン群のいずれか一方群の階調信号線４９に与
えるべき検査信号を少なくとも生成する。プローブ端子
６３は、前記いずれか一方群の階調信号線４９を含む配
線に接触している。いずれか一方群の階調信号線４９を
含む配線に与えられるべき検査信号は、信号源６２から
プローブ端子６３を経由して該配線にそれぞれ供給され
る。図６の簡易点灯検査装置６１の信号源６２は、基準
信号線４６に与えるべき基準信号と、走査線４５に与え
るべき走査信号とをさらに生成している。図６の簡易点
灯検査装置６１は、各走査線４５の端部または全走査線
４５を相互接続している接続部材の端部に接触して走査
信号を伝達するプローブ端子６５と、基準信号線４６の
１端部に接触して基準信号を伝達するプローブ端子６６
とをさらに有する。

【００６７】検査対象の未完ＬＣＤ６０がＴＮ型または
ＳＴＮ型であり、かつ画素電極４７が透光性を有する場
合、簡易点灯検査装置６１は、１対の偏光板６７，６８
と光源６９とをさらに含む。光源６９は、未完ＬＣＤ６
０の画素基板４２側に配置される。第１偏光板６７は、
未完ＬＣＤ６０の対向基板４３側に配置される。第２偏
光板６８は、未完ＬＣＤ６０の画素基板４２と光源６９
との間に配置される。２枚の偏光板６７，６８のうちの
一方偏光板の偏光軸方向は、未完ＬＣＤ６０内部の該一
方偏光板に近いほうの配向膜の配向方向と平行になるよ
うに、調整されている。簡易点灯検査装置６０の２枚の
偏光板６７，６８と検査対象の未完ＬＣＤ６０とから仮
に構成される検査対象の表示装置７０をノーマリホワイ
トにする場合、２枚の偏光板６７，６８のうちの他方偏
光板の偏光軸方向は、未完ＬＣＤ６０内部の該他方偏光
板に近いほうの配向膜の配向方向と平行になるように、
調整されている。検査対象の表示装置７０をノーマリブ
ラックにする場合、他方偏光板の偏光軸方向は、未完Ｌ
ＣＤ６０内部の該偏光板に近いほうの配向膜の配向方向
と直交するように、調整されている。

【００６８】全階調信号線４９に検査信号が入力されて
いない電圧無印加状態において、ノーマリホワイトの検
査対象の表示装置７０は、図７（Ａ）に示すように、表
示装置７０内の未完ＬＣＤ６０の全画素が点灯してい
る。点灯状態の画素によって、該画素の対向電極４８に
重なるカラーフィルタと同色の輝点が表示される。電圧
無印加状態において、ノーマリブラックの検査対象の表
示装置７０は、図８（Ａ）に示すように、表示装置７０
内の未完ＬＣＤ６０の全画素が消灯している。消灯状態
の画素によって、黒点が表示される。なお表示装置の表
示状態を示す本明細書添付模式図では、「Ｒ」「Ｇ」
「Ｂ」が内部に記載された矩形が画素（dot）に相当
し、画素の矩形が白抜きの場合、該画素が点灯してお
り、画素の矩形に斜線が付されている場合、該画素が消
灯、すなわち黒表示になっている。かつ表示装置の表示
状態を示す本明細書添付模式図では、リーク箇所ＬＰ、
すなわち隣合う２つの画素内の部品同士の導通または隣
合う階調信号線２６同士の導通に起因する漏電（Leak）
が発生している箇所が、１カ所ある場合の例になってい
る。

【００６９】第１の簡易検査方法は、具体的には以下の
通りである。脈動信号である走査信号は、画素基板４２
上の走査線４５に入力される。奇数ライン群および偶数
ライン群のうちのいずれか一方ライン群の階調信号線４
９だけに、走査信号に同期している脈動信号である検査
信号が入力される。階調信号の極性反転の基準となる基
準信号は、定常信号であって、基準信号線４６に入力さ
れる。

【００７０】画素電極４７の電位と対向電極４８の電位
との電位差が５Ｖ以上になる状況下で、媒体層４１内の
該画素電極４７と該対向電極４８とに挟持された部分の
該旋光性が消失する場合、各信号の具体的パターンは以
下のとおりである。走査信号は、たとえば図９（Ａ）に
示すように、＋１５Ｖ以上−１５Ｖ以下の範囲内で電圧
が変化する矩形波で実現される。検査信号は、たとえば
図９（Ｂ）に示すように、＋５Ｖ以上−５Ｖ以下の範囲
内で電圧が変化する矩形波で実現される。図９（Ｂ）の
検査信号の周期は図９（Ａ）走査信号の周期の２倍であ
り、かつ該検査信号のデューティ比は５０％である。基
準信号は、たとえば図９（Ｃ）に示すように、±０Ｖの
直流電圧で実現される。

【００７１】階調信号線間導通が無ければ、上述したよ
うな各信号電圧が各配線に印加されることによって、媒
体層４１内において奇数ライン群および偶数ライン群の
うちのいずれか一方ライン群の階調信号線４９に接続さ
れた対向電極４８と重なる部分にだけ、すなわち画素行
列内の奇数列および偶数列のうちのいずれか一方列の画
素だけに、液晶の旋光性を消失させ得る５Ｖの電位差が
発生する。走査信号がスイッチング素子を導通状態にし
ている間、すなわち走査信号がＯＮ（電圧印加）の間だ
け、画素に対して電圧が印加される。

【００７２】図７（Ｂ）は、検査対象の表示装置７０が
ノーマリホワイトである場合、図９（Ａ）〜図９（Ｃ）
に示すような信号電圧が各配線に印加されている第１の
検査電圧印加状態における、該表示装置７０の表示状態
を示す模式図である。第１の検査電圧印加状態におい
て、ノーマリホワイトの表示装置７０は、階調信号線間
リークが無ければ、画素行列内において液晶に電圧が印
加されている前記いずれか一方列の画素だけが光学的に
は光遮断状態になるので、黒表示となる。かつ、画素行
列内の奇数列および偶数列のうちのいずれか他方列の画
素は、液晶に電圧が印加されないので、点灯状態を保
つ。このように１本おきの階調信号線４９だけに検査信
号電圧が印加された図７（Ｂ）の状態では、赤の画素
Ｒ、緑の画素Ｇ、および青の画素Ｂは、いずれも、各色
の全画素のうちの２分の１の画素だけが点灯する。この
結果、検査対象の表示装置７０の検査官の目視時におい
て、階調信号線間リークが無ければ、表示装置７０全体
では、表示面全体が一様に灰色になっている中間調表示
に見える。

【００７３】隣合う或る２本の列の階調信号線４９が導
通しているならば、少なくとも該２本の各列内のリーク
箇所ＬＰにあり隣合う２つの画素内の液晶に、相互に同
じ電圧が印加されるので、リーク箇所ＬＰの画素がどち
らも黒表示になる。この結果、リーク箇所ＬＰが黒点と
して検査官に認識される。第１検査電圧印加状態では表
示面全体が灰色になっているので、リーク箇所ＬＰの黒
点は、点灯検査時に目視確認によって充分に確認可能な
ものである。

【００７４】図８（Ｂ）は、検査対象の表示装置７０が
ノーマリブラックである場合、第１の検査電圧印加状態
における表示装置７０の表示状態を示す模式図である。
第１の検査電圧印加状態において、ノーマリブラックの
表示装置７０は、階調信号線間リークが無ければ、ノー
マリーホワイトの場合とは逆に、画素行列内において液
晶に電圧が印加されている前記いずれか一方列の画素だ
けが、光学的には光透過状態になり、赤緑青の各色表示
を行う。画素行列内の奇数列および偶数列のうちのいず
れか他方列の画素は、液晶に電圧が印加されないので、
黒表示を保つ。このように１本おきの階調信号線４９だ
けに検査信号電圧が印加された図８（Ｂ）の状態では、
ＬＣＤ４０の全画素のうちの２分の１の画素だけが点灯
する。この結果、検査対象の表示装置７０の目視時に
は、検査官から見て階調信号線間リークが無ければ、表
示装置７０全体では、表示面全体が中間調表示に見え
る。隣合う或る２本の列の階調信号線４９が導通してい
るならば、少なくとも該２本の各列内のリーク箇所ＬＰ
にあり隣合う２つの画素内の液晶に相互に同じ電圧が印
加されるので、リーク箇所ＬＰの画素がどちらも点灯す
る。この結果、リーク箇所ＬＰが赤緑青のうちの少なく
とも１色の輝点として検査官に認識される。第１検査電
圧印加状態では表示面全体が灰色になっているので、リ
ーク箇所ＬＰの輝点は、点灯検査時に目視確認によって
充分に確認可能である。

【００７５】本発明の第２の実施の形態であるＬＣＤ４
０の製造方法について、以下に説明する。第２の実施の
形態のＬＣＤ製造方法によって製造されるＬＣＤ４０の
構成は、図１で説明したＬＣＤ４０の構成と等しい。第
２の実施の形態のＬＣＤ製造方法は、第１の実施の形態
のＬＣＤ製造方法と比較して、簡易点灯検査方法だけが
異なり、他は等しい。第２の実施の形態の説明のうち、
第１の実施の形態の説明と等しい部分は、説明を省略す
る。また第１の実施の形態で説明した部品と効果が同じ
部品には、同じ参照符を付す。

【００７６】第２の実施の形態の簡易点灯検査方法で
は、相互に極性が異なる２つの検査信号が用意され、１
つ目の検査信号が奇数ライン群の階調信号線４９に供給
され、２つ目の検査信号が偶数ライン群の階調信号線４
９に供給される。上記の信号電圧が各配線に印加された
状況下で、未完ＬＣＤ６０および１対の偏光板から成る
検査対象の表示装置７０を、検査官が目視検査する。信
号電圧印加時の表示装置７０の表示状態に基づいて、リ
ーク箇所のの有無が確認される。リーク箇所のない無い
ＬＣＤ４０が良品と判定される。

【００７７】第２の実施の形態の簡易点灯検査方法（以
後「第２簡易点灯検査方法」と称する）を行う検査装置
は、第１の実施の形態の簡易点灯検査方法（以後「第１
簡易点灯検査方法」と称する）の検査装置と比較して、
検査信号入力用のプローブ端子が１本追加されて２本あ
る構成と、信号源６２が生成する信号構成とが異なる。
奇数群配線５３に与えられるべき検査信号および偶数群
配線５４に与えられるべき検査信号は、信号源６２から
個別のプローブ端子６３，６４を経由して奇数群配線５
３および偶数群配線５４にそれぞれ供給される。

【００７８】第２の簡易信号検査方法は、具体的には以
下の通りである。走査信号は、画素基板４２上の走査線
４５に入力される。第１の検査信号が、奇数ライン群の
階調信号線４９に、入力される。第２検査信号が、偶数
ライン群の階調信号線４９だけに、入力される。第１検
査信号は、第２検査信号の逆極性の信号である。第１検
査信号および第２検査信号は、走査信号にそれぞれ同期
している。階調信号の極性反転の基準となる基準信号
は、基準信号線４６に入力される。

【００７９】画素電極４７の電位と対向電極４８の電位
との電位差が５Ｖ以上になる状況下で、媒体層４１内の
該画素電極４７と該対向電極４８とに挟持された部分の
該旋光性が消失する場合、上記の各信号の具体的電圧変
化は以下のとおりである。図１０（Ａ）に示す走査信
号、図１０（Ｄ）に示す基準信号は、図９で説明した走
査信号および基準信号とそれぞれ等しい。図１０（Ｂ）
で示す第１検査信号は、図９（Ｂ）で説明した検査信号
と等しい。第２検査信号は、図１０（Ｃ）に示すよう
に、第１検査信号と極性だけが逆転しており、他は等し
い。

【００８０】図１１（Ａ）は、検査対象の未完ＬＣＤ６
０と簡易点灯検査装置６１の２枚の偏光板６７，６８と
からなる表示装置７０がノーマリホワイトである場合、
図１０に示すような信号電圧が各配線に印加されている
第２の検査電圧印加状態における、該表示装置７０の表
示状態を示す模式図である。第２の検査電圧印加状態に
おいて、ノーマリホワイトの表示装置７０は、階調信号
線間リークが無ければ、全画素が光学的には光遮断状態
になるので、黒表示となる。隣合う或る２本の列の階調
信号線４９が導通しているならば、該２本の列の階調信
号線４９には極性が相反する検査信号がそれぞれ入力さ
れているので、該２本の各列内のリーク箇所ＬＰを挟ん
で隣合う２つの画素の対向電極４８に印加される電圧が
相殺される。この結果、リーク箇所ＬＰを挟んで隣合う
２つの画素内の液晶に電圧が印加されなくなるので、リ
ーク箇所ＬＰの画素がどちらも点灯状態になる。この結
果、リーク箇所ＬＰに輝点が表示される。第２検査電圧
印加状態では表示面全体が黒色になっているので、リー
ク箇所ＬＰの輝点は、点灯検査時に目視確認によって充
分に確認可能である。

【００８１】図１１（Ｂ）は、検査対象の表示装置７０
がノーマリブラックである場合、第２の検査電圧印加状
態における、該表示装置７０の表示状態を示す模式図で
ある。第２の検査電圧印加状態において、ノーマリブラ
ックの表示装置７０は、階調信号線間リークが無けれ
ば、全画素が光学的には点灯状態になる。隣合う或る２
本の列の階調信号線４９が導通しているならば、該２本
の各列内のリーク箇所ＬＰを挟んで隣合う２つの画素の
対向電極４８に印加される電圧が相殺される。この結
果、リーク箇所ＬＰを挟んで隣合う２つの画素内の液晶
に電圧が印加されなくなるので、リーク箇所ＬＰの画素
がどちらも光遮断状態になる。この結果、リーク箇所Ｌ
Ｐに黒点が表示される。第２検査電圧印加状態では表示
面全体が白色になっているので、リーク箇所ＬＰの黒点
は、点灯検査時に目視確認によって充分に確認可能であ
る。

【００８２】第１および第２の実施の形態で説明した簡
易点灯検査において、目視確認時にリーク箇所ＬＰの画
素だけが黒点または輝点として認識されるのは、２本の
列の階調信号線４９のリーク箇所ＬＰにおける信号リー
クの度合いが微小である場合である。２本の列の階調信
号線４９のリーク箇所ＬＰにおける信号リークの度合い
がひどい場合、２本の列内のリーク箇所ＬＰよりも信号
伝達方向下流側の画素の色がグラデーション状に変化す
る。これらは、走査信号がＯＮの間だけ画素に検査信号
電圧が印加されるためである。簡易点灯検査時の目視確
認は、人の目によらず、センサ等を用いて行われてもよ
い。

【００８３】第１および第２の実施の形態の簡易点灯検
査に用いられる簡易点灯検査装置６１は、好ましくは、
奇数ライン群および偶数ライン群の両方の階調信号線４
９に、相互に等しい検査信号を入力可能な構成になって
いる。たとえば、奇数群配線５３への検査信号入力用プ
ローブ端子６３と偶数群配線５４への検査信号入力用プ
ローブ端子６４とを常に備え、かつ信号源６２が、単一
の検査信号を２つのプローブ端子を介して奇数群配線５
３および偶数群配線の両方に供給する。これによって、
上述した本発明特有の簡易検査方法だけでなく、従来行
われているその他の点灯検査も同時に行うことが可能に
なる。

【００８４】図３１（Ａ）に示す従来技術の簡易点灯検
査方法と第１および第２の実施の形態で説明した本発明
の簡易点灯検査方法とを比較すると、従来技術の簡易点
灯検査方法では不可能だった画素間リークの検出および
階調信号線間リークの検出が、本発明の簡易点灯検査方
法では可能になる。これによって、図６の簡易点灯検査
装置６１を用いれば、偏光板および駆動回路等の実装部
材のＬＣＤ４０への実装前に、不良のあるＬＣＤ４０を
選別することが可能になるので、実装部材のコスト低減
およびランニングコストの低減が可能になる。図３１
（Ｂ）で説明した従来技術の簡易点灯検査装置よりも図
６の簡易点灯検査装置６１のほうが、プローブ端子数が
少ないので、検査装置自体のコストが安くなる。また従
来技術の簡易点灯検査装置よりも図６の簡易点灯検査装
置６１のほうがプローブ端子のアライメントが容易にな
るので、図６の簡易点灯検査装置６１のほうがアライメ
ントに要する時間を短縮可能になっている。したがって
従来技術の簡易点灯検査よりも本発明の簡易点灯検査の
ほうが容易に実行可能である。

【００８５】特開平７−５４８１号公報のＬＣＤ４０の
検査方法と第１および第２の実施の形態で説明した本発
明の簡易点灯検査方法とを比較すると、公報の検査方法
では赤緑青の３種類の信号が必要であるのに対し、本発
明の簡易点灯検査方法は奇数ライン群用の検査信号およ
び偶数ライン群用の検査信号のうちの少なくとも１種類
があれば足りるので、信号構成が簡単になっている。ま
た公報の検査方法では赤緑青の各単色表示時に導通によ
る欠陥箇所が外の色の輝点として表示されるのに対し、
本発明の簡易点灯検査方法では中間調表示時点に欠陥箇
所が黒点または輝点として表示されるので、欠陥箇所が
認識されやすい。さらに公報の検査方法では単一ＬＣＤ
当たり３回の信号入力および目視確認が必要だが、本発
明の簡易点灯検査方法では単一ＬＣＤ当たり１回の信号
入力および目視確認を行うだけでよいので、検査手順が
簡略化される。

【００８６】本発明の第３の実施の形態であるＬＣＤ４
０の製造方法について、以下に説明する。第３の実施の
形態のＬＣＤ製造方法によって製造されるＬＣＤ４０
は、図１で説明したＬＣＤ４０と等しい。第３の実施の
形態のＬＣＤ製造方法は、第１および第２の実施の形態
のＬＣＤ製造方法と比較して、奇数群配線５３および偶
数群配線５４の引回し状態だけが異なり、他は等しい。
第３の実施の形態の説明のうち、第１および第２の実施
の形態の説明と等しい部分は、説明を省略する。また第
１および第２の実施の形態で説明した部品と効果が同じ
部品には、同じ参照符を付す。

【００８７】図１２は、第３の実施の形態における奇数
群配線５３および偶数群配線５４の引回し状態（以後
「第２引回し状態」と称する）を示す模式図である。第
２引回し状態では、奇数群接続部材５１および偶数群接
続部材５２の両方が対向基板４３部の片側端部に配置さ
れており、かつ奇数群配線５３および偶数群配線５４と
が、相互に絶縁されつつ引回される。配線５３，５４間
絶縁のために、奇数群配線５３および偶数群配線５４と
は、絶縁膜を介して一部重なっている。

【００８８】これによって、奇数群配線５３および偶数
群配線５４の引回しが、狭額縁化に伴って印刷回路基板
が基板の片側に実装される構成のＬＣＤ４０にも対応可
能になる。さらに、２つの接続部材５３，５４が対向基
板４３の一端部にどちらも配置されているならば、両接
続部材５３，５４を取除くための面取り工程において、
対向基板４３の片側端部だけを加工すればよいので、面
取り工程の処理能力の向上につながる。これによって、
ＬＣＤ４０の狭額縁化および低コスト化に伴って階調信
号線４９の片側から信号が入力される構成になっている
ＬＣＤにおいてもコストを上げることなく、対応が可能
である。

【００８９】また第２引回し状態で各配線５３，５４が
引回される場合、検査時に、奇数群配線５３と偶数群配
線５４とを対向基板４３の片側からどちらも取出すこと
が可能になる。たとえば図１３に示すように、簡易点灯
検査時に、簡易点灯検査装置６１の検査信号入力用のプ
ローブ端子６３，６４が、未完ＬＣＤ６０の片側端部に
ある接続部材５３，５４端部に接触する。導通検査でも
同様である。これによって、検査時におけるプローブ端
子と未定ＬＣＤ６０との位置合わせがさらに容易にな
る。

【００９０】第２引回し状態で両配線５３，配線５４が
引回される場合、奇数群配線５３と偶数群配線５４とが
一部重なり合うので、両配線５３，５４を相互絶縁する
必要がある。このための各配線５３，５４の構成は３パ
ターンある。

【００９１】第１のパターンとしては、奇数群接続部材
５１および偶数群接続部材５２が、絶縁膜を挟んで一部
分が重なり合う２種類の導電パターンを該絶縁膜に設け
られたコンタクトホールを介して導通接続した構造にそ
れぞれなっている。奇数群接続部材５１の導電パターン
と前記偶数群接続部材５２の導電パターンとの交差部に
おいて、導電パターン間に前記絶縁膜が介在されてい
る。これによって、奇数ライン群の階調信号線４９と偶
数ライン群の階調信号線４９とを絶縁膜の同じ面側に配
置しつつ、櫛形に引回された各配線の接続部材を対向基
板４３の片側端部にそれぞれ配置し、かつ奇数群配線５
３と偶数群配線５４とを相互に絶縁することができる。

【００９２】図１４〜図１７を用いて、奇数群配線５３
と偶数群配線５４とが第１パターンで引回されている場
合のＬＣＤ４０の製造方法を以下に説明する。なお両配
線５３，５４に第１パターンを採用したＬＣＤ４０にお
いては、階調信号線４９と対向電極４８とが一体化され
ずに分離されている。なお本明細書の添付の製造工程説
明用の図面においては、複数ある部品の参照符は、１列
分だけ記載している。

【００９３】まず図１４に示すように、階調信号線４９
を電気的に束ねるための奇数群接続部材５１および偶数
群接続部材５２のそれぞれ一部分となる２本の第１導電
パターン９１，９２と、全階調信号線４９とが、対向基
板４３上に形成される。２本の各第１導電パターン９
１，９２と階調信号線４９とは、相互絶縁のために離さ
れている。２本の各第１導電パターン９１，９２の長手
方向は、階調信号線４９の長手方向と略直交している。
階調信号線４９および第１導電パターン９１，９２形成
のためには、たとえば、タンタル〔Ｔａ〕に代表される
導電性材料の薄膜が対向基板４３上に成膜され、成膜さ
れた薄膜に対してフォトリソ・エッチング工程が施され
る。次に図１５に示すように、赤緑青の各カラーフィル
タ９３が順次的に形成される。必要に応じて、黒フィル
タがさらに形成される。各フィルタの形成手順は、図３
で説明した手順と等しい。

【００９４】全フィルタ形成後、耐アルカリ性および平
坦性を確保するための平滑膜９４が、対向基板４３上
に、全フィルタと全階調信号線４９と第１導電パターン
９１，９２とを覆うように、形成される。平滑膜９４
は、絶縁材料から形成されており、絶縁膜を兼ねる。平
滑膜９４の成膜手順は、図３で説明した手順と等しい。
成膜された平滑膜９４に対して、コンタクトホール形成
のために、フォトリソ・エッチング処理が施される。図
１６に示すように、コンタクトホール９５は、階調信号
線４９毎に、平滑膜９４内の階調信号線４９と重なる位
置に、列内の全画素数よりも１多い数だけ形成される。
またコンタクトホール９５は、平滑膜９４内において奇
数群および偶数群接続部材５３，５４の第１導電パター
ン９１，９２に重なる位置にも形成される。

【００９５】次に図１７に示すようにと、奇数群および
偶数群接続部材５２のそれぞれ一部分となる第２導電パ
ターン９７，９８と、全対向電極４８が、平滑膜９４上
に形成される。第２導電パターン９７，９８と対向電極
４８とは、相互絶縁のために離されている。対向電極４
８および第２導電パターン９７，９８形成のためには、
たとえば、ＩＴＯに代表される透明導電性材料の薄膜
が、平滑膜９４に重ねて成膜され、成膜された薄膜に対
してパターニング処理が施される。対向電極４８は、カ
ラーフィルタ９３と重なる位置に配置されており、か
つ、コンタクトホール９５を介して階調信号線４９に電
気的に接続される。奇数群接続部材５１の第２導電パタ
ーン９７は、コンタクトホール９５をそれぞれ介して、
奇数番目の列の階調信号線４９と奇数群接続部材５１の
第１導電パターン９１とに電気的に接続される。偶数群
接続部材５２の第２導電パターン９８は、コンタクトホ
ール９５を介して、偶数番目の階調信号線４９と偶数群
接続部材５２の第１導電パターン９２とに電気的に接続
される。この結果、各第１導電パターン９１，９２に、
階調信号線４９が１本おきに接続される。奇数群配線５
３および偶数群配線５４形成後のＬＣＤ製造工程は、図
３の第２工程〜第８工程と等しい。

【００９６】図１８（Ａ）は、図１７の状態の対向基板
４３のＡ−Ａ拡大断面図である。Ａ−Ａ断面は、偶数番
目の列の階調信号線４９と略平行であって、該階調信号
線４９上にある対向電極４８およびコンタクトホール９
５と、奇数群および偶数群接続部材５１，５２の第１導
電パターン９１，９２とを通っている。図１８（Ｂ）
は、図１７の状態の対向基板４３のＢ−Ｂ拡大断面図で
ある。Ｂ−Ｂ断面は、奇数番目の列の階調信号線４９と
略平行であって、該階調信号線４９上にある対向電極４
８およびコンタクトホール９５と、奇数群および偶数群
接続部材５１，５２の第１導電パターン９１，９２とを
通っている。奇数群および偶数群接続部材５１，５２の
第１導電パターン９１，９２同士には相互の重なりが無
く、奇数群および偶数群接続部材５１，５２の第２導電
パターン９７，９８同士にも相互の重なりが無い。奇数
群接続部材５１の第１導電パターン９１と偶数群接続部
材５２の第２導電パターン９８との交差部および奇数群
接続部材５１の第２導電パターン９７と偶数群接続部材
５２の第１導電パターン９２との交差部においては、該
第１導電パターン９１，９２と該第２導電パターン９
７，９８との間に、絶縁膜を兼ねる平滑膜９４が介在さ
れている。このように第１パターンの櫛形の奇数用接続
部材５１および偶数用接続部材５２は、一部分を相互に
重ねつつ相互絶縁が可能になっている。

【００９７】第２のパターンとしては、奇数群接続部材
５１および偶数群接続部材５２のうちのいずれか一方接
続部材が、絶縁膜を挟んで一部分が重なり合う２種類の
導電パターンを該絶縁膜に設けられたコンタクトホール
を介して導通接続した構造になっており、奇数群接続部
材５１および偶数群接続部材５２のうちのいずれか他方
接続部材が、単一の導電パターンから形成されている。
奇数群接続部材５１の導電パターンと偶数群接続部材５
２の導電パターンとの交差部において、導電パターン間
に前記絶縁膜が介在されている。これによって、奇数ラ
イン群の階調信号線４９と偶数ライン群の階調信号線４
９とを絶縁膜の同じ面側に配置しつつ、櫛形に引回され
た各配線の接続部材を第１基板の片側端部にそれぞれ配
置し、かつ奇数群配線５３と偶数群配線５４とを相互に
絶縁することができ、さらに前記他方接続部材の構成を
簡略化することができる。

【００９８】図１９〜図２２を用いて、奇数群配線５３
と偶数群配線５４とが第２パターンで引回されている場
合のＬＣＤ４０の製造方法を以下に説明する。図１９〜
図２２は、偶数群接続部材５２が単一の導電パターンか
ら構成されている場合の例になっている。なお両接続部
材５１，５２に第２パターンを採用したＬＣＤ４０にお
いては、階調信号線４９と対向電極４８とが一体化され
ずに分離されている。図１９〜図２２の製造工程の説明
のうち、図１４〜図１７で説明した製造工程において形
成された部品と同じ部品には同じ参照符を付し、詳細説
明は省略する。

【００９９】まず図１９に示すように、全階調信号線４
９および奇数群接続部材５１の第１導電パターン９１
が、対向基板４３上に形成される。階調信号線４９およ
び第１導電パターン９１形成のためには、たとえば、タ
ンタル〔Ｔａ〕に代表される導電性材料の薄膜が対向基
板４３上に成膜され、成膜された薄膜に対してフォトリ
ソ・エッチング工程が施される。次に図２０に示すよう
に、赤緑青の各カラーフィルタ９３が順次的に形成され
る。必要に応じて、黒フィルタがさらに形成される。各
フィルタの形成手順は、図３で説明した手順と等しい。

【０１００】全フィルタ形成後、耐アルカリ性および平
坦性の確保かつ絶縁のための平滑膜９４が、対向基板４
３上に、全フィルタと全階調信号線４９と奇数群接続部
材５１の第１導電パターン９１とを覆うように、形成さ
れる。次いで、平滑膜９４に対して、コンタクトホール
９５形成のために、フォトリソ・エッチング処理が施さ
れる。図２１に示すように、コンタクトホール９５は、
階調信号線４９毎に、平滑膜９４内の階調信号線４９と
重なる位置に、列内の全画素数よりも１多い数だけ形成
される。またコンタクトホール９５は、平滑膜９４内に
おいて奇数群接続部材５１の第１導電パターン９１に重
なる位置にも形成される。

【０１０１】次に図２２に示すように、奇数群接続部材
５１の一部分となる第２導電パターン９７と、櫛形の偶
数群接続部材５２とが、平滑膜９４上に形成される。こ
れら部材形成のためには、たとえば、ＩＴＯに代表され
る透明導電性材料の薄膜が、平滑膜９４に重ねて成膜さ
れ、成膜された薄膜に対してパターニング処理が施され
る。単一の対向電極４８は、カラーフィルタ９３と重な
る位置に配置されており、コンタクトホール９５を介し
て該階調信号線４９に電気的に接続される。奇数群接続
部材５１の第２導電パターン９７は、コンタクトホール
９５をそれぞれ介して、奇数番目の列の階調信号線４９
と奇数群接続部材５１の第１導電パターン９１とに電気
的に接続される。櫛形の偶数群接続部材５２は、コンタ
クトホール９５を介して、偶数番目の全階調信号線４９
にそれぞれ電気的に接続される。この結果、１本おきの
階調信号線４９が奇数群接続部材５１の第１導電パター
ン９１に接続され、かつ残りの１本おきの階調信号線４
９が偶数群接続部材５２に接続される。対向基板４３上
の各配線形成後のＬＣＤ４０の製造工程は、図３の第２
工程〜第８工程と等しい。

【０１０２】図２３（Ａ）は、図２２の状態の対向基板
４３のＣ−Ｃ拡大断面図である。図２３（Ａ）のＣ−Ｃ
断面は、対向基板４３内において、図１８（Ａ）のＡ−
Ａ断面と同じ位置にある。図２３（Ｂ）は、図２２の状
態の対向基板４３のＤ−Ｄ拡大断面図である。図２３
（Ｂ）のＤ−Ｄ断面は、対向基板４３内において、図１
８（Ｂ）のＢ−Ｂ断面と同じ位置にある。奇数群接続部
材５１の第１導電パターン９１と偶数群接続部材５２と
には相互の重なりが無い。奇数群接続部材５１の第１導
電パターン９１と偶数群接続部材５２との交差部におい
ては、該第１導電パターン９１と偶数群接続部材５２と
の間に、絶縁膜を兼ねる平滑膜９４が介在されている。
このように、第２パターンの櫛形の奇数用および偶数用
接続部材５１，５２は、一部分を相互に重ねつつ相互絶
縁が可能になっている。

【０１０３】第３のパターンとしては、奇数群接続部材
５１は、奇数ライン群の階調信号線４９の一部分と、絶
縁膜を挟んで重なり、かつ該絶縁膜に設けられたコンタ
クトホールを介して導通接続されている。偶数群接続部
材５２は、偶数ライン群の信号線４９の一部分と、絶縁
膜を挟んで重なり、かつ該絶縁膜に設けられたコンタク
トホールを介して導通接続されている。これによって、
奇数ライン群の階調信号線４９と偶数ライン群の階調信
号線４９とを絶縁膜の同じ面側に配置しつつ、各接続部
材５１，５２を対向基板４３の片側端部にそれぞれ配置
し、かつ奇数群配線５３と偶数群配線５４とを相互に絶
縁することができ、さらに奇数群および偶数群接続部材
５１，５２の構成を簡略化することができる。

【０１０４】図２４〜図２７を用いて、奇数群配線５３
と偶数群配線５４とが第３パターンで引回されている場
合のＬＣＤ４０の製造方法を以下に説明する。図２４〜
図２７は、階調信号線４９が対向電極４８と一体化され
ている場合の例になっている。図２４〜図２７の製造工
程説明のうち、図１４〜図１７で説明した製造工程にお
いて形成された部品と同じ部品には同じ参照符を付し、
詳細説明は省略する。

【０１０５】まず図２４に示すように、階調信号線４９
を電気的に束ねるための奇数用および偶数用接続部材５
１，５２のそれぞれ一部分となる２本の第１導電パター
ン９１，９２が、対向基板４３上に形成される。階調信
号線４９および第１導電パターン９１，９２形成のため
には、たとえば、タンタル〔Ｔａ〕に代表される導電性
材料の薄膜が対向基板４３上に成膜され、薄膜内の第１
導電パターンとなるべき部分だけが残るように、成膜さ
れた薄膜に対してフォトリソ・エッチング工程を施す。
次に図２５に示すように、赤緑青の各カラーフィルタ９
３が順次的に形成される。必要に応じて、黒フィルタが
さらに形成される。各フィルタの形成手順は、図３で説
明した手順と等しい。

【０１０６】全フィルタ形成後、耐アルカリ性および平
坦性を確保しかつ絶縁性を有する平滑膜９４が、対向基
板４３上に、全フィルタと第１導電パターン９１，９２
とを覆うように、形成される。平滑膜９４形成のために
は、フィルタ形成後の対向基板４３上に、透明なアクリ
ル系樹脂が塗布され、熱処理（ベーク）が施される。熱
処理後の平滑膜９４に対して、コンタクトホール９５形
成のために、フォトリソ・エッチング処理が施される。
図２６に示すように、コンタクトホール９５は、コンタ
クトホール９５は、平滑膜９４内において各接続部材５
１，５２の第１導電パターン９１，９２に重なる位置に
形成される。

【０１０７】次に図２７に示すように、対向電極４８兼
用の全階調信号線４９が、平滑膜９４上に形成される。
階調信号線４９形成のためには、たとえば、ＩＴＯに代
表される透明導電性材料の薄膜が、平滑膜９４に重ねて
成膜され、成膜された薄膜に対してパターニング処理が
施される。列毎に、１列分のカラーフィルタ９３は、対
向電極４８兼用の１本の階調信号線４９と対向してい
る。各階調信号線４９の１端部は、ＬＣＤ４０に必要な
長さよりも伸延された状態に形成されている。奇数番目
の列の対向電極４８兼用の階調信号線４９の伸延された
１端部は、コンタクトホール９５を介して、奇数群接続
部材５１の第１導電パターン９１に電気的に接続され
る。偶数番目の列の対向電極４８兼用の階調信号線４９
の伸延された１端部は、コンタクトホール９５を介し
て、偶数群接続部材５２の第１導電パターン９２に電気
的に接続される。この結果、１本おきの階調信号線４９
が接続部材５１，５２の第１導電パターン９１，９２に
それぞれ接続される。

【０１０８】図２８（Ａ）は、図２７の状態の対向基板
４３のＥ−Ｅ拡大断面図である。図２８（Ａ）のＥ−Ｅ
断面は、対向基板４３内において、図１８（Ａ）のＡ−
Ａ断面と同じ位置にある。図２８（Ｂ）は、図２７の状
態の対向基板４３のＦ−Ｆ拡大断面図である。図２８
（Ｂ）のＦ−Ｆ断面は、対向基板４３内において、図１
８（Ｂ）のＢ−Ｂ断面と同じ位置にある。奇数群接続部
材５１の第１導電パターン９１と偶数群接続部材５２の
第１導電パターン９２とには相互の重なりが無い。奇数
群接続部材５１の第１導電パターン９１と偶数ライン群
の階調信号線４９との交差部、および奇数ライン群の階
調信号線４９と偶数用接続部材５２の第１導電パターン
９２との交差部においては、該第１導電パターン９１，
９２と階調信号線４９との間に、絶縁膜を兼ねる平滑膜
９４が介在されている。このように、第３パターンの櫛
形の奇数群および偶数群配線５３，５４は、一部分を相
互に重ねつつ相互絶縁が可能になっている。

【０１０９】以上説明した第１〜第３パターンで引回さ
れた配線において、検査装置６１，７１のプローブ端子
６３，６４，７３，７４が接触すべき部分は、大きめに
形成されていることが好ましい。これによって、各配線
５３，５４とプローブ端子６３，６４，７３，７４との
アライメントをより容易にとることが可能となる。

【０１１０】第１〜第３の実施の形態のＬＣＤ４０の簡
易点灯検査方法および導通検査方法、ならびにＬＣＤ製
造工程途中に用いられる接続部材構造は、本発明のマト
リクス型かつ平面型表示素子の簡易点灯検査方法および
導通検査方法、ならびに該表示素子製造工程途中の信号
線に関する構造の例示であり、主要な構成が等しけれ
ば、他の様々な形で実施することができる。特に各検査
方法およびＬＣＤ製造工程途中の配線構造の詳細構成
は、同じ効果が得られるならば、上述の詳細構成に限ら
ず他の構成によって実現されてもよい。

【０１１１】上記の簡易点灯検査方法は対向ソース構造
のＬＣＤ４０に限らず、図２９で説明した一般構造のマ
トリクス型ＬＣＤに対しても適用可能である。この場
合、対向電極の代わりに画素電極が階調信号線に接続さ
れているので、画素電極を対向電極と同様に取扱って、
階調信号線および画素電極に検査信号を供給すればよ
い。この場合、対向ソース型のマトリクス型ＬＣＤ４０
と同様に、リーク箇所ＬＰが黒点また輝点として目視確
認される。上記の簡易点灯検査方法は、単純マトリクス
型ＬＣＤに代表されるような、スイッチング素子の無い
マトリクス型ＬＣＤに対しても適用可能である。この場
合、相互に平行に配置される複数本の信号線または帯状
電極を、階調信号線と同様に取扱えばよい。スイッチン
グ素子がなく画素へ常時電圧を印加する構成のＬＣＤに
上記の簡易点灯検査方法を適用した場合、リーク箇所Ｌ
Ｐがリーク箇所ＬＰのある２本の列の全画素が黒表示さ
れ、全体としてライン欠陥として認識される。

【０１１２】上記の導通検査方法は、図２９で説明した
一般構造のマトリクス型ＬＣＤに対しても適用可能であ
る。この場合、対向電極の代わりに画素電極が階調信号
線に接続されているので、画素電極を対向電極と同様に
取扱えばよい。この場合、階調信号線と画素電極とはス
イッチング素子を介して接続されているので、階調信号
線同士のリーク箇所ＬＰの有無だけが確認される。また
上記の導通検査方法は、単純マトリクス型ＬＣＤに代表
されるような、スイッチング素子の無いマトリクス型Ｌ
ＣＤであっても、階調信号線と画素電極または対向電極
とが電気的に接続可能、たとえば階調信号線が表示用の
電極を兼ねていれば、適用可能である。この場合、相互
に平行に配置される複数本の信号線または帯状電極を、
階調信号線と同様に取扱えばよい。

【０１１３】さらに本発明の導通検査方法は、階調信号
線の代わりに走査線を階調信号線と同様に取扱えば、走
査線間の導通の有無の検査に適用可能である。また走査
線に対して、ＬＣＤ製造工程途中に用いられる接続部材
構造を適用してもよい。この場合、全走査線が奇数ライ
ン群と偶数ライン群との２系統に分離されて、奇数群お
よび偶数群接続部材５１，５２を用いて各系統のライン
群の走査線が相互接続される。奇数ライン群の全走査線
と奇数群接続部材５１からなる配線と、偶数ライン群の
全走査線と偶数群接続部材５１からなる配線とを用い
て、導通検査が行われる。

【０１１４】またＬＣＤ製造工程途中に用いられる接続
部材構造は、図２９で説明した一般構造のＬＣＤにおけ
る階調信号線の導通確認のための点灯検査および導通検
査に適用されてもよく、単純マトリクス構造のＬＣＤに
おける信号線の導通確認のための点灯検査および導通検
査に適用されてもよく、ＬＣＤ以外のマトリクス型の平
板型表示素子の信号線の導通確認に適用されてもよい。
上記したマトリクス型かつ平面型の表示素子は、表示に
関わる状態が電界に応じて変化可能な表示媒体から成る
媒体層と、媒体層を挟んで相互に対向配置される第１基
板および第２基板と、第１基板上にマトリクス状に配置
される複数の第１電極と、媒体層を介して第１電極に対
向配置される第２電極と、第１電極の列毎に、列内の全
第１電極が接続される信号線とを最低減含む。第１電極
は信号線に直結されていてもよく、スイッチング素子を
介して接続されていてもよい。

【０１１５】上記の構成の表示素子に第１〜第３の実施
の形態が適用される場合、該表示素子の簡易の点灯検査
方法および該表示素子内の信号線の導通検査方法は、第
１〜第３の実施の形態の実施の形態で説明した簡易点灯
検査方法において、階調信号線４９を上記信号線に置換
えた方法で実現される。また上記の表示素子の製造工程
途中における静電気対策用の接続部材の構造は、第１〜
第３の実施の形態の実施の形態で説明した接続部材の構
造と等しく、かつ、階調信号線４９を上記信号線に置換
えて実現される。このような場合、上記表示素子の媒体
層、第１基板、第１電極、第２電極が、図１のＬＣＤの
媒体層、対向基板、対向電極、画素電極にそれぞれ相当
する。マトリクス型かつ平面型の表示素子は、ＬＣＤ４
０の他には、たとえば、プラズマディスプレイおよびＥ
Ｌ（Electoluminescence）素子を用いたＥＬパネルで実
現される。勿論上記の表示素子が、アクティブマトリク
ス型になっていてもよい。

【０１１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、マ
トリクス型および平面型の表示素子の検査方法におい
て、階調信号線を奇数ライン群と偶数ライン群との２系
統に分離し、奇数ライン群の信号線への信号入力状態と
偶数ライン群の信号線への信号入力状態とが相互に異な
るように、奇数ライン群および偶数ライン群のうちの少
なくとも一方ライン群に点灯検査用の検査信号が入力さ
れている。この結果、画素間および階調信号線間のリー
ク箇所が、輝点または黒点として現れるので、複雑な検
査装置を使うことなく、リーク箇所を容易に検出するこ
とが可能になる。したがって表示素子の製造コストの低
減を図ることができる。また本発明によれば、点灯検査
用の検査信号は１種類だけ用意され、かつ奇数ライン群
および偶数ライン群のうちのいずれか一方群の信号線だ
けに該検査信号が入力される。この場合、表示素子の点
灯検査がより容易になる。さらにまた本発明によれば、
点灯検査用の信号として相互に逆極性の２種類の検査信
号が用意され、かつ奇数ライン群の信号線と偶数ライン
群の信号線とに、各検査信号がそれぞれ入力される。こ
の場合、リーク箇所をより分かりやすく明示することが
可能になる。

【０１１７】また以上のように本発明によれば、マトリ
クス型かつ平面型の表示素子の検査方法において、全信
号線が２つのライン群に分離され、ライン群毎に接続部
材によって信号線が相互接続されている状況下で、各ラ
イン群の信号線と接続部材とから成る２系統の配線間の
導通状態に基づき、信号線間リークの有無が検査され
る。これによって、信号線間の導通を、表示素子の製造
工程内の途中において、第１基板上の部品が完成した時
点で、静電気対策用の接続部材を利用して確認すること
が可能になる。この場合、第１基板上部品の形成工程の
後工程へ、不良部品が形成された第１基板の流出するこ
とが、防止される。

【０１１８】さらにまた以上のように本発明によれば、
マトリクス型かつ平面型の表示素子において、信号線形
成工程から媒体層形成工程完了後までの間、静電気対策
として、全信号線が２系統のライン群に分離されて、ラ
イン群毎に相互短絡されている。この結果形成される奇
数群配線と偶数群配線のうちの少なくとも一方が、絶縁
膜に設けられたコンタクトホールを介して接続された２
種類の導電パターンから構成される。これによって、奇
数群接続部材および偶数群接続部材を第１基板の一端部
に配置可能になるので、狭額縁化された表示素子にも対
応可能になる。また上記の奇数群および偶数群接続部材
は、上述した検査方法を用いた簡易点灯検査および導通
検査に利用可能であり、これによって安価かつ容易に信
号線間リークの有無を検査することが可能となる。

【０１１９】また本発明によれば、奇数群接続部材およ
び偶数群接続部材のうちの少なくとも一方が、２種類の
導電パターンを該絶縁膜に設けられたコンタクトホール
を介して導通接続した構造になっている。さらにまた本
発明によれば、マトリクス型かつ平面型の表示素子にお
いて、奇数群接続部材および偶数群接続部材が、奇数ラ
イン群および偶数ライン群の信号線と、絶縁膜に設けら
れたコンタクトホールを介して導通接続されている。こ
れらの理由に基づき、奇数ライン群の信号線と偶数ライ
ン群の信号線とを絶縁膜の同じ面側に配置しつつ、櫛形
に引回された各配線の接続部材を第１基板の片側端部に
それぞれ配置し、かつ奇数群配線と偶数群配線とを相互
に絶縁することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の製造方法によって
製造される対向ソース構造のＬＣＤの概略構成を示す分
解斜視図である。

【図２】本発明の第１の実施の形態のＬＣＤ製造方法を
用いた製造工程途中における、階調信号線を一部とする
配線の引回し状態を示す模式図である。

【図３】本発明の第１の実施の形態のＬＣＤ製造方法を
用いた製造工程を説明するための工程図である。

【図４】図３のＬＣＤ製造工程において、階調信号線を
一部とする配線および走査線を一部とする配線の引回し
状態を示す模式図である。

【図５】図３の製造工程で用いられる導通検査装置の模
式図である。

【図６】図３の製造工程で用いられる簡易点灯検査装置
の模式図である。

【図７】第１の実施の形態の簡易点灯検査時の電圧無印
加状態および検査電圧印加状態におけるノーマリーホワ
イトＬＣＤの表示状態の模式図である。

【図８】第１の実施の形態の簡易点灯検査時の電圧無印
加状態および検査電圧印加状態におけるノーマリーブラ
ックＬＣＤの表示状態の模式図である。

【図９】第１の実施の形態のＬＣＤ製造方法内の簡易点
灯検査時において、検査対象の未完のＬＣＤに入力され
る信号の波形図である。

【図１０】第２の実施の形態の簡易点灯検査時におい
て、検査対象の未完のＬＣＤに入力される信号の波形図
である。

【図１１】第２の実施の形態の簡易点灯検査時の検査電
圧印加状態におけるノーマリーホワイトＬＣＤおよびノ
ーマリーブラックＬＣＤの表示状態の模式図である。

【図１２】本発明の第３の実施の形態のＬＣＤ製造方法
を用いた製造工程途中における、階調信号線を一部とす
る配線の引回し状態を示す模式図である。

【図１３】第２の実施の形態の製造方法を用いたＬＣＤ
製造工程において、階調信号線および走査線の引回し状
態を示す模式図である。

【図１４】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第１パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図１５】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第１パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図１６】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第１パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図１７】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第１パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図１８】図１４〜図１７の工程で部品が製造された対
向基板のＡ−Ａ断面図およびＢ−Ｂ断面図である。

【図１９】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第２パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２０】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第２パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２１】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第２パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２２】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第２パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２３】図１９〜図２２の工程で部品が製造された対
向基板のＣ−Ｃ断面図およびＤ−Ｄ断面図である。

【図２４】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第３パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２５】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第３パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２６】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第３パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２７】第２の実施の形態のＬＣＤ製造方法におい
て、第３パターンの配線引回しが採用された場合の製造
工程内の１工程を示す図である。

【図２８】図２４〜図２７の工程で部品が製造された対
向基板のＥ−Ｅ断面図およびＦ−Ｆ断面図である。

【図２９】ＡＭ基板を備えた従来技術のＬＣＤの等価回
路図である。

【図３０】対向ソース構造を有する従来技術のＬＣＤの
概略的な構成を示す分解斜視図である。

【図３１】従来技術のＬＣＤの製造方法を用いた製造工
程途中における階調信号線を一部とする配線および走査
線を一部とする配線の引回し状態を示す模式図である。

【図３２】従来技術のＬＣＤの製造方法を用いた製造工
程途中における階調信号線を一部とする配線の引回し状
態、および階調信号線だけの引回し状態を示す模式図で
ある。

【図３３】従来技術の簡易点灯検査時において、検査対
象のＬＣＤに入力される信号の波形図である。

【図３４】従来技術の簡易点灯検査時の電圧無印加状態
および電圧印加状態におけるノーマリーホワイトＬＣＤ
の表示状態の模式図である。

【図３５】従来技術の簡易点灯検査時の電圧無印加状態
および電圧印加状態におけるノーマリーブラックＬＣＤ
の表示状態の模式図である。

【符号の説明】

４０ 液晶表示素子（ＬＣＤ） ４３ 対向基板 ４８ 対向電極 ４９ 階調信号線 ５１ 奇数群接続部材 ５２ 偶数群接続部材 ５３ 奇数群配線 ５４ 偶数群配線 ６１ 簡易点灯検査装置 ７１ 導通検査装置 ９１，９２ 第１導電パターン ９４ 平滑層 ９５ コンタクトホール ９７，９８ 第２導電パターン ＬＰ リーク箇所

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 恵一 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 井上 尚人 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 藤原 晃史 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 Ｆターム(参考） 2G014 AA13 AA16 AB21 AC15 2H088 FA12 FA16 HA04 HA08 HA12 JA13 MA20 2H092 GA51 JA24 JA46 KA05 MA13 MA17 MA56 NA14 NA27 NA29 NA30 PA08 5G435 AA00 AA17 BB12 BB15 EE33 EE37 FF03 FF05 HH12 KK05

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示に関わる状態が電界に応じて局所的
   に変化可能な媒体層と、媒体層を挟んで相互に対向配置
   される第１基板および第２基板と、第１基板上にマトリ
   クス状に配置される複数の第１電極と、媒体層を介して
   第１電極に対向する第２電極と、第１電極の列毎に、列
   内の全第１電極が接続される信号線とを含む構成を有す
   るマトリクス型かつ平面型の表示素子の検査方法におい
   て、 全信号線を、奇数番目の列の第１電極に接続された信号
   線から成る奇数ライン群と、偶数番目の列の第１電極に
   接続された信号線から成る偶数ライン群との２系統に分
   離して、 奇数ライン群の信号線への信号入力状態と偶数ライン群
   の信号線への信号入力状態とが相互に異なるように、奇
   数ライン群および偶数ライン群のうちの少なくとも一方
   のライン群の全信号線に、媒体層の表示に関わる状態を
   変化させ得る電界を第１電極と第２電極との間に発生さ
   せるための検査信号を入力し、 表示素子内の各画素の点灯状態に基づき、信号線間の導
   通状態を検査することを特徴とする表示素子の検査方
   法。
2. 【請求項２】 前記奇数ライン群および偶数ライン群の
   うちのいずれか一方群の信号線だけに、前記検査信号が
   入力されることを特徴とする請求項１記載の表示素子の
   検査方法。
3. 【請求項３】 前記奇数ライン群の信号線および偶数ラ
   イン群の信号線には、前記検査信号がそれぞれ入力さ
   れ、 前記奇数ライン群の信号線に入力される第１の検査信号
   が、前記偶数ライン群の信号線に入力される第２の検査
   信号の逆極性の信号であることを特徴とする請求項１記
   載の表示素子の検査方法。
4. 【請求項４】 表示に関わる状態が電界に応じて局所的
   に変化可能な媒体層と、媒体層を挟んで相互に対向配置
   される第１基板および第２基板と、第１基板上にマトリ
   クス状に配置される複数の第１電極と、媒体層を介して
   第１電極に対向する第２電極と、第１電極の列毎に、列
   内の全第１電極が接続される信号線とを含む構成を有す
   るマトリクス型かつ平面型の表示素子の検査方法におい
   て、 全信号線を、奇数番目の列の第１電極に接続された信号
   線から成る奇数ライン群と、偶数番目の列の第１電極に
   接続された信号線から成る偶数ライン群との２系統に分
   離して、奇数ライン群の全信号線同士を相互接続する奇
   数群接続部材と偶数ライン群の全信号線同士を相互接続
   する偶数群接続部材とを、第１基板上にさらに形成し、
   奇数群配線および偶数群配線のうちのいずれか一方配線
   に、予め定める検査信号を入力し、 奇数群配線および偶数群配線のうちのいずれか他方配線
   から検査信号が検出されるか否かに基づき、奇数ライン
   群の信号線と偶数ライン群の信号線との導通状態を検査
   することを特徴とする表示素子の検査方法。
5. 【請求項５】 表示に関わる状態が電界に応じて局所的
   に変化可能な媒体層と、媒体層を挟んで相互に対向配置
   される第１基板および第２基板と、第１基板上にマトリ
   クス状に配置される複数の第１電極と、媒体層を介して
   第１電極に対向する第２電極と、第１電極の列毎に、列
   内の全第１電極が接続される信号線とを含み、媒体層形
   成に先立って、全第１電極と全信号線とが第１基板上に
   形成される構成を有するマトリクス型かつ平面型の表示
   素子において、 全信号線のうちの奇数番目の列の第１電極に接続された
   信号線から成る奇数ライン群の全信号線同士を相互接続
   する奇数群接続部材と、全信号線のうちの偶数番目の列
   の第１電極に接続された信号線から成る偶数ライン群の
   全信号線同士を相互接続する偶数群接続部材とが、第１
   電極および信号線の形成時から媒体層形成完了までの
   間、第１基板上にさらに配置されており、 奇数群接続部材および奇数ライン群の信号線から成る奇
   数群配線と、偶数群接続部材および偶数ライン群の信号
   線から成る偶数群配線とは、相互絶縁されつつ櫛形に引
   回され、 奇数群配線および偶数群配線のうちの少なくとも一方配
   線が、絶縁膜を挟んで一部分が重なり合う２種類の導電
   パターンを該絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介
   して導通接続した構造を有することを特徴とする表示素
   子。
6. 【請求項６】 前記奇数群接続部材および偶数群接続部
   材は、前記絶縁膜を挟んで一部分が重なり合う２種類の
   導電パターンを該絶縁膜に設けられたコンタクトホール
   を介して導通接続した構造にそれぞれなっており、 前記奇数群接続部材の導電パターンと前記偶数群接続部
   材の導電パターンとの交差部において、導電パターン間
   に前記絶縁膜が介在されていることを特徴とする請求項
   ５記載の表示素子。
7. 【請求項７】 前記奇数群接続部材および偶数群接続部
   材のうちのいずれか一方配線は、前記絶縁膜を挟んで一
   部分が重なり合う２種類の導電パターンを該絶縁膜に設
   けられたコンタクトホールを介して導通接続した構造に
   なっており、前記奇数群接続部材および偶数群接続部材
   のうちのいずれか他方配線は、単一の導電パターンから
   形成されており、 前記奇数群接続部材の導電パターンと前記偶数群接続部
   材の導電パターンとの交差部において、導電パターン間
   に前記絶縁膜が介在されていることを特徴とする請求項
   ５記載の表示素子。
8. 【請求項８】 前記奇数群接続部材は、前記奇数ライン
   群の信号線の一部分と、前記絶縁膜を挟んで重なり、か
   つ該絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介して導通
   接続されており、 前記偶数群接続部材は、前記偶数ライン群の信号線の一
   部分と、前記絶縁膜を挟んで重なり、かつ該絶縁膜に設
   けられたコンタクトホールを介して導通接続されている
   ことを特徴とする請求項５記載の表示素子。