KR101407299B1 - 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 정전기 발생을 방지함과 아울러 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정 표시 장치 및 그 검사 방법에 관한 것이다.

본 발명에 따른 액정 표시 장치는 기판 상에 형성된 게이트 라인과; 상기 게이트 라인과 교차되게 형성되는 데이터 라인과; 상기 데이터 라인 및 게이트 라인 중 적어도 어느 한 신호 라인에 구동 신호를 공급하며 캐스케이드 방식으로 상기 기판 상에 실장된 구동 집적 회로들과; 상기 구동 집적 회로들이 실장된 실장 영역 각각에 형성되어 서로 연결된 공용 라인을 구비하며, 상기 공용 라인은 정상 동작시 상기 구동 집적 회로에 전원 신호를 공급하며, 검사시 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하는 것을 특징으로 한다.

COG, 검사, 공용 라인

Description

액정 표시 장치 및 그 검사 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND TESTING METHOD OF THEREOF}

본 발명은 액정 표시 장치 및 그 검사 방법에 관한 것으로, 특히 정전기 발생을 방지함과 아울러 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정 표시 장치 및 그 검사 방법에 관한 것이다.

액정 표시 장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여 액정 표시 장치는 도 1에 도시된 바와 같이 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정 표시 패널(40)과, 액정 표시 패널을 구동하기 위한 구동 집적 회로를 구비한다.

특히, 칩 온 글래스(Chip On Glss : COG)형 액정 표시 장치의 액정 표시 패널(40)은 도 1에 도시된 바와 같이 서로 대향하는 박막 트랜지스터 기판(42) 및 칼러 필터 기판(44)과, 두 기판(42,44) 사이에 주입된 액정과, 구동 집적 회로가 실장될 영역에 형성되는 다수의 패드들을 구비한다.

칼라 필터 기판(44)은 액정셀 단위로 형성된 칼라 필터들과, 칼러 필터들간의 구분 및 외부광 반사를 위한 블랙 매트릭스와, 액정셀들에 공통적으로 기준 전 압을 공급하는 공통 전극과, 그들 위에 도포되는 배향막으로 구성된다.

박막 트랜지스터 기판(42)은 게이트 라인들(GL) 및 데이터 라인들(DL)과, 그 게이트 라인들(GL)과 데이터 라인들(DL)의 교차부마다 스위치 소자로 형성된 박막 트랜지스터와, 액정셀 단위로 형성되어 박막 트랜지스터에 접속된 화소 전극과, 그들 위에 도포된 배향막으로 구성된다. 또한, 박막트랜지스터 기판은 게이트 구동 집적 회로의 입력 단자와 접속되는 게이트 입력 패드(32)와, 게이트 구동 집적 회로의 출력 단자와 접속되는 게이트 출력 패드(34)와, 데이터 구동 집적 회로의 입력 단자와 접속되는 데이터 입력 패드(12)와, 데이터 구동 집적 회로의 출력 단자와 접속되는 데이터 출력 패드(14,16)로 구성된다.

이러한 액정 표시 패널(40)은 박막 트랜지스터 기판(42)과 칼라 필터 기판(44)을 별도로 제작하여 합착한 다음 액정을 주입하고 봉입함으로써 완성하게 된다.

특히 박막 트랜지스터 기판(44)은 제조 공정 후에 신호 라인들(GL,DL)의 쇼트(Short), 오픈(Open) 등과 같은 신호 라인(GL,DL) 및 박막 트랜지스터 불량과 포인트 디펙트(point defect) 등을 검출하기 위한 신호 검사 과정을 거치게 된다. 구체적으로, 기수 데이터 라인(DL)과 접속된 기수 데이터 출력 패드(14)에는 기수 데이터 검사 패드(24) 및 기수 데이터 검사 라인(20)을 통해 검사 신호가 공급되며, 우수 데이터 라인(DL)과 접속된 우수 데이터 출력 패드(16)는 우수 데이터 검사 패드(26) 및 우수 데이터 검사 라인(22)을 통해 검사 신호가 공급된다.

여기서, 기수/우수 데이터 검사 라인(20,22)은 게이트 라인 온 글래스(Line On Glass : 이하 "LOG"라 함) 라인과 교차하게 형성된다. 게이트 LOG라인(18)은 기판 상에 실장된 게이트 구동 집적 회로의 입력 단자와 접속되는 게이트 입력 패드(32)에 게이트 신호 패드(10)로부터의 전원 신호 및 제어 신호를 공급한다.

이 경우, 데이터 검사 라인(20,22)과 게이트 LOG라인(18)의 교차부에서 정전기 등의 불량 현상이 빈번하게 발생하는 문제점이 있다.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 정전기 발생을 방지함과 아울러 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 액정 표시 장치 및 그 검사 방법을 제공하는 것이다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 기판 상에 형성된 게이트 라인과; 상기 게이트 라인과 교차되게 형성되는 데이터 라인과; 상기 데이터 라인 및 게이트 라인 중 적어도 어느 한 신호 라인에 구동 신호를 공급하며 캐스케이드 방식으로 상기 기판 상에 실장된 구동 집적 회로들과; 상기 구동 집적 회로들이 실장된 실장 영역 각각에 형성되어 서로 연결된 공용 라인을 구비하며, 상기 공용 라인은 정상 동작시 상기 구동 집적 회로에 전원 신호를 공급하며, 검사시 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 공용 라인은 상기 검사시 상기 신호 라인과 접속되며, 상기 정상 동작시 상기 신호 라인과 분리되어 상기 구동 집적 회로에 전원 신호를 공급하 는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 액정 표시 장치는 상기 기판 상에 부착되어 상기 구동 집적 회로에 상기 전원 신호 및 제어 신호를 공급하는 신호 전송 필름과; 상기 신호 전송 필름 및 상기 공용 라인과 접속된 신호 공용 패드를 추가로 구비하며, 상기 신호 공용 패드는 정상 동작시 상기 공용 라인에 전원 신호를 공급하며, 검사시 상기 공용 라인에 검사 신호를 공급하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 액정 표시 장치는 상기 신호 공용 패드 및 상기 공용 라인 사이에 형성되어 이들을 연결시키는 제1 라인 온 글래스형 라인과; 상기 구동 집적 회로들이 실장된 실장 영역 각각에 형성된 공용 라인들 사이에 형성되어 이들을 연결시키는 제2 라인 온 글래스형 라인을 추가로 구비하며, 상기 제1 라인 온 글래스형 라인은 상기 신호 전송 필름을 기준으로 양측에 위치하는 실장 영역에 형성된 공용 라인과 접속되는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 제1 라인 온 글래스형 라인은 상기 신호 전송 필름을 기준으로 좌우측에 위치하는 상기 실장 영역에 형성된 상기 공용 라인과 연결되는 것을 특징으로 한다.

한편, 상기 공용 라인은 상기 데이터 라인 중 기수번째 데이터 라인과 접속된 기수 데이터 공용 라인과; 상기 데이터 라인 중 우수번째 데이터 라인과 접속된 우수 데이터 공용 라인을 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 기판 상에 형성된 게이트 라인, 상기 게이트 라인과 교차되게 형성되는 데이터 라인, 상기 데이터 라인 및 게이트 라인 중 적어도 어느 한 신호 라인에 구동 신호를 공급하는 구동 집적 회로들이 캐스케이드 방식으로 실장될 실장 영역 각각에 형성되어 서로 연결된 공용 라인을 구비하는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 검사 방법은 상기 공용 라인을 통해 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하여 불량 유무를 검출하는 단계와; 상기 공용 라인과 상기 신호 라인을 분리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 불량 유무를 검출하는 단계는 상기 공용 라인과 접속된 신호 공용 패드, 공용 라인 및 상기 신호 라인과 접속된 출력 패드를 통해 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하는 단계인 것을 특징으로 한다.

구체적으로, 상기 불량 유무를 검출하는 단계는 상기 데이터 라인 중 기수번째 데이터 라인과 접속된 기수 데이터 공용 라인을 통해 상기 기수번째 데이터 라인에 데이터 검사 신호를 공급하는 단계와; 상기 데이터 라인 중 우수번째 데이터 라인과 접속된 우수 데이터 공용 라인을 통해 상기 우수번째 데이터 라인에 데이터 검사 신호를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따른 액정 표시 장치 및 그 검사 방법은 기수/우수 데이터 공용 라인이 데이터 구동 집적 회로가 실장된 실장 영역 내에 형성되어 기수/우수 데이터 공용 패드와 제1 데이터 LOG 라인을 통해 검사 신호가 공급된다. 이에 따라, 기수/우수 데이터 공용 라인은 제1 게이트 LOG 라인과 교차되지 않게 형성되므로 정전기 발생 현상이 방지된다. 또한, 본 발명에 따른 액정 표시 장치 및 그 검사 방법은 기수/우수 데이터 공용 패드로부터 기수/우수 데이터 출력 패드까지의 라인 길이를 최소화할 수 있어 라인 저항에 의한 검사 신호의 불균일 현상이 방지되므로 검사 신뢰성이 향상된다.

이하, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.

도 2는 본 발명에 따른 액정 표시 장치를 나타내는 도면이다.

도 2에 도시된 액정 표시 장치는 액정 표시 패널(106)과, 액정 표시 패널(106)의 게이트 라인(GL)을 구동하기 위한 게이트 구동 집적 회로(120)와, 액정 패널(106)의 데이터 라인(DL)을 구동하기 위한 데이터 구동 집적 회로(110)와, 게이트 구동 집적 회로(120) 및 데이터 구동 집적 회로(110)에 구동 신호를 공급하는 신호 전송 필름(108)을 구비한다.

신호 전송 필름(108)은 타이밍 제어부(도시하지 않음)와 전원부(도시하지 않음) 등이 실장된 인쇄 회로 기판(도시하지 않음)과 액정 표시 패널(106)의 박막트랜지스터 기판(102)에 부착된다. 이에 따라, 신호 전송 필름(108)은 타이밍 제어부의 제어 신호 및 전원부의 전원 신호를 게이트 구동 집적 회로(120) 및 데이터 구동 집적 회로(110)에 공급한다. 이러한 신호 전송 필름(108)은 예를 들어 가요성 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit : FPC) 등으로 형성된다.

게이트 구동 집적 회로(120)는 신호 전송 필름(108)를 통해 공급되는 타이밍 제어부로부터의 제어 신호에 응답하여 게이트 온 전압을 게이트 라인(GL)에 순차적으로 공급하고, 그 외의 기간에는 게이트 오프 전압을 공급한다. 이러한 게이트 구동 집적 회로들(120)에는 캐스케이드 방식으로 제1 및 제2 게이트 LOG라인(128,122)을 통해 제어 신호 및 전원 신호가 공급된다. 구체적으로, 제1 게이트 LOG라인(128)은 첫번째 게이트 구동 집적 회로(120)와 신호 전송 필름(108) 사이에 형성되어 첫번째 게이트 구동 집적 회로(120)에 제어 신호 및 전원 신호를 공급한다. 제2 게이트 LOG라인(122)은 나머지 게이트 구동 집적 회로들(120) 사이에 형성되어 첫번째 게이트 구동 집적 회로(120)에 공급되는 제어 신호 및 전원 신호를 다음 게이트 구동 집적 회로(120)에 차례대로 공급한다.

데이터 구동 집적 회로(110)는 신호 전송 필름(108)를 통해 공급되는 타이밍 제어부로부터의 제어 신호 및 감마 전압을 이용하여 디지털 데이터 신호를 아날로그 전압으로 변환하고, 변화된 아날로그 전압을 데이터 라인(DL)에 공급한다. 이러한 데이터 구동 집적 회로들(110)에는 캐스케이드 방식으로 제1 및 제2 데이터 LOG라인(132,112)을 통해 제어 신호 및 디지털 데이터 신호가 공급된다. 구체적으로, 제1 데이터 LOG라인(132)은 신호 전송 필름(108)과, 그 신호 전송 필름(108)을 기준으로 좌우로 인접한 데이터 구동 집적 회로(110)들 사이에 형성된다. 이러한 제1 데이터 LOG라인(132)은 신호 전송 필름(108)과 좌우로 인접한 데이터 구동 집적 회로(110)에 제어 신호 및 전원 신호와 디지털 데이터 신호를 공급한다. 제2 데이터 LOG라인(112)은 나머지 데이터 구동 집적 회로들(110) 사이에 형성되어 신호 전송 필름(108)과 인접한 데이터 구동 집적 회로(110)에 공급되는 제어 신호 및 전원 신호를 다음 데이터 구동 집적 회로(110)에 차례대로 공급한다.

액정 표시 패널(106)은 박막트랜지스터 기판(102)과 칼라 필터 기판(104)이 액정층을 사이에 두고 합착함으로써 형성된다.

이러한 액정 표시 패널(106)에는 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차점에 접속된 박막트랜지스터(TFT)와, 박막트랜지스터(TFT)와 접속된 액정셀(Clc)이 형성된다. 게이트 라인(GL)들은 게이트 구동 집적 회로(120)를 통해 스캔 펄스를 공급받는다. 데이터 라인(DL)들은 데이터 구동 집적 회로(110)를 통해 아날로그 형태의 화소 전압 신호를 공급받는다. 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)에 공급되는 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)에 공급되는 화소 전압 신호를 액정셀(Clc)에 공급한다.

한편, 칼라 필터 기판(104)에 의해 노출된 박막트랜지스터 기판(102)에는 게이트 라인(GL)을 구동하기 위한 게이트 구동 집적 회로(120)와 데이터 라인(DL)을 구동하기 위한 데이터 구동 집적 회로(110)가 실장되며, 게이트 구동 집적 회로(120) 및 데이터 구동 집적 회로(110)에 구동 신호를 공급하는 신호 전송 필름(108)이 부착된다. 이러한 데이터 구동 집적 회로(110)가 실장되는 제1 실장 영역(130)과, 게이트 구동 집적 회로(120)가 실장되는 제2 실장 영역(140)과, 신호 전송 필름(108)이 부착되는 부착 영역(150)에는 도 3에 도시된 바와 같이 다수의 패드들이 위치하게 된다.

부착 영역(150)에는 게이트 신호 패드(152)와, 데이터 신호 패드(154)와, 데이터 공용 패드(160)와, 게이트 공용 패드(170)가 위치한다.

게이트 신호 패드(152)는 제1 게이트 LOG라인(128)과 접속되어 타이밍 제어부로부터의 제어 신호 및 전원 신호를 제1 게이트 LOG라인(128)을 통해 게이트 입 력 패드(124)에 공급한다.

데이터 신호 패드(154)는 제1 데이터 LOG라인(132)과 접속되어 타이밍 제어부로부터의 제어 신호, 전원 신호 및 디지털 데이터 신호를 제1 데이터 LOG라인(132)을 통해 데이터 입력 패드(114)에 공급한다.

데이터 공용 패드(160)는 기수 데이터 공용 패드(158)와 우수 데이터 공용 패드(156)를 포함한다. 기수 데이터 공용 패드(158)는 기수 데이터 공용 라인(136)을 통해 기수번째 데이터 라인(DL)과 접속된 기수 데이터 출력 패드(116)와 접속된다. 우수 데이터 공용 패드(156)는 우수 데이터 공용 라인(138)을 통해 우수번째 데이터 라인(DL)과 접속된 우수 데이터 출력 패드(118)와 접속된다.

게이트 공용 패드(170)는 기수 게이트 공용 패드(166)와 우수 게이트 공용 패드(168)를 포함한다. 기수 게이트 공용 패드(166)는 기수 게이트 공용 라인(148)을 통해 기수번째 게이트 라인(GL)과 접속된 기수 게이트 출력 패드(142)와 접속된다. 우수 게이트 공용 패드(168)는 우수 게이트 공용 라인(146)을 통해 우수번째 게이트 라인(GL)과 접속된 우수 게이트 출력 패드(126)와 접속된다.

제1 실장 영역(130)에는 데이터 입력 패드(114)와, 데이터 출력 패드(116,118)와, 기수/우수 데이터 공용 라인(136,138)을 구비한다.

데이터 입력 패드(114)는 데이터 구동 집적 회로(110)의 입력단자와 접속되어 데이터 구동 집적 회로(110)에 데이터 신호 패드(154)로부터의 제어 신호 및 디지털 데이터 신호를 공급한다.

데이터 출력 패드(116,118)는 데이터 구동 집적 회로(110)의 출력 단자와 접 속되어 데이터 구동 집적 회로(110)에서 생성된 아날로그 데이터 신호를 데이터 라인(DL)에 공급한다.

기수 데이터 공용 라인(136)은 기수번째 데이터 출력 패드(116)와 접속되어 기수 데이터 공용 패드(158)로부터의 데이터 검사 신호를 기수번째 데이터 출력 패드(116)에 공급한다. 이러한 기수 데이터 공용 라인(136)은 제2 데이터 LOG라인(112)을 통해 인접한 제1 실장 영역(130)에 형성된 기수 데이터 공용 라인(136)과 연결된다.

우수 데이터 공용 라인(138)은 우수번째 데이터 출력 패드(118)와 접속되어 우수 데이터 공용 패드(156)로부터의 데이터 검사 신호를 우수번째 데이터 출력 패드(118)에 공급한다. 이러한 우수 데이터 공용 라인(138)은 제2 데이터 LOG라인(112)을 통해 인접한 제1 실장 영역(130)에 형성된 우수 데이터 공용 라인(138)과 연결된다.

제2 실장 영역(140)에는 게이트 입력 패드(124)와, 게이트 출력 패드(126,142)와, 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)을 구비한다.

게이트 입력 패드(124)는 게이트 구동 집적 회로(120)의 입력단자와 접속되어 게이트 구동 집적 회로(120)에 게이트 신호 패드(152)로부터의 제어 신호 및 전원 신호를 공급한다.

게이트 출력 패드(126,142)는 게이트 구동 집적 회로(120)의 출력 단자와 접속되어 게이트 구동 집적 회로(120)에서 생성된 스캔 신호를 게이트 라인(GL)에 공급한다.

기수 게이트 공용 라인(148)은 기수번째 게이트 출력 패드(142)와 접속되어 기수 게이트 공용 패드(166)로부터의 검사 신호를 기수번째 게이트 출력 패드(142)에 공급한다. 이러한 기수 게이트 공용 라인(148)은 제2 게이트 LOG라인(122)을 통해 인접한 게이트 구동 집적 회로(120)의 제2 실장 영역(140)에 형성된 기수 게이트 공용 라인(148)과 연결된다.

우수 게이트 공용 라인(146)은 우수번째 게이트 출력 패드(126)와 접속되어 우수 게이트 공용 패드(168)로부터의 검사 신호를 우수번째 게이트 출력 패드(126)에 공급한다. 이러한 우수 게이트 공용 라인(146)은 제2 게이트 LOG라인(122)을 통해 인접한 게이트 구동 집적 회로(120)의 제2 실장 영역(140)에 형성된 우수 게이트 공용 라인(146)과 연결된다.

이와 같이, 본 발명에 따른 액정 패널의 기수/우수 데이터 공용 라인(136,138)은 제1 실장 영역(130) 내에 형성되어 기수/우수 데이터 공용 패드(156,158)와 제1 데이터 LOG 라인(132)을 통해 검사 신호가 공급된다. 이러한 기수/우수 데이터 공용 라인(136,138)은 제1 게이트 LOG 라인(128)과 교차되지 않게 형성되므로 정전기 발생 현상이 방지된다.

또한, 신호 전송 필름(108)은 그 신호 전송 필름(108)을 기준으로 좌우에 위치하는 데이터 구동 집적 회로들(110)과 연결되어 있기 때문에 기수/우수 데이터 공용 패드(168,166)로부터 기수/우수 데이터 출력 패드(116,118)까지의 라인 길이를 최소화할 수 있다. 즉, 기수/우수 데이터 공용 라인(136,138)은 최소 라인 저항을 가지게 된다. 따라서, 라인 저항에 의한 검사 신호의 불균일 현상이 방지되어 약 1KΩ이내의 저항 범위내에서 검사 가능하므로 검사 신뢰성이 향상된다.

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 액정 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.

매스 프로덕션 시스템(Mass Production System : MPS)검사시 게이트 공용 패드(170)에 게이트 검사 신호가 공급되면, 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)과 기수/우수 게이트 출력 패드(142,126)를 통해 기수/우수 게이트 라인(GL)에 게이트 검사 신호가 공급된다. 그리고, 기수 데이터 공용 패드(158)에 데이터 검사 신호가 공급되면, 기수 데이터 공용 라인(136) 및 기수 데이터 출력 패드(116)를 통해 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))에 데이터 검사 신호가 공급된다. 기수/우수 게이트 라인(GL)에 공급된 게이트 검사 신호에 의해 박막트랜지스터(TFT)는 턴온된다. 턴온된 박막트랜지스터(TFT)를 통해 도 4a에 도시된 바와 같이 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))에 접속된 액정셀(Clc)에 데이터 검사 신호가 공급된다. 작업자는 육안 검사 또는 광학 기구에 의한 자동 검사를 통해 화상 표시부에 표시된 화상에 따라 화상 표시부의 불량을 판별하게 된다. 이 때, 화상 표시부에 불량이 발생되는 경우, 불량 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))과 접속된 액정셀(Clc)은 정상 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))과 접속된 액정셀(Clc)과 다른 화상을 구현되므로 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))과 접속된 액정셀(Clc)의 불량 상태를 확인할 수 있다. 즉, 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n- 1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))의 단선 및 단락 여부 및 그 기수 데이터 라인(DL11,DL13,...DL1(n-1),DL21,DL23,...,DL2(n-1))과 접속된 액정셀 결함 등이 검사된다.

이후, 게이트 공용 패드(170)에 게이트 검사 신호가 공급되면, 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)과 기수/우수 게이트 출력 패드(142,126)를 통해 기수/우수 게이트 라인(GL)에 게이트 검사 신호가 공급된다. 그리고, 우수 데이터 공용 패드(156)에 데이터 검사 신호가 공급되면, 우수 데이터 공용 라인(138) 및 우수 데이터 출력 패드(118)를 통해 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)에 데이터 검사 신호가 공급된다. 기수/우수 게이트 라인(GL)에 공급된 게이트 검사 신호에 의해 박막트랜지스터(TFT)는 턴온된다. 턴온된 박막트랜지스터(TFT)를 통해 도 4b에 도시된 바와 같이 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)에 접속된 액정셀(Clc)에 데이터 검사 신호가 공급된다. 작업자는 육안 검사 또는 광학 기구에 의한 자동 검사를 통해 화상 표시부에 표시된 화상에 따라 화상 표시부의 불량을 판별하게 된다. 이 때, 화상 표시부에 불량이 발생되는 경우, 불량 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)과 접속된 액정셀(Clc)은 정상 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)과 접속된 액정셀(Clc)과 다른 화상을 구현되므로 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)과 접속된 액정셀(Clc)의 불량 상태를 확인할 수 있다. 즉, 우수 데이터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)의 단선 및 단락 여부 및 그 우수 데이 터 라인(DL12,DL14,...DL1n,DL22,DL24,...,DL2n)과 접속된 액정셀(Clc) 결함 등이 검사된다.

이외에도 기수 게이트 라인(GL1,GL3,...,GLm-1)에 게이트 검사 신호를 공급한 후 기수/우수 데이터 라인(DL)에 데이터 검사 신호를 공급하여 기수 게이트 라인(GL1,GL3,...,GLm-1)의 단선 및 단락 여부 및 그 기수 게이트 라인(GL1,GL3,...,GLm-1)과 접속된 액정셀(Clc) 결함 등이 검사된 후, 상술한 방법과 동일한 우수 게이트 라인(GL2,GL4,...,GLm)에 검사 신호를 공급하여 우수 게이트 라인(GL2,GL4,...,GLm)의 단선 및 단락 여부 및 그 우수 게이트 라인(GL2,GL4,...,GLm)과 접속된 액정셀(Clc) 결함 등이 검사될 수도 있다.

전술한 바와 같은 검사 공정이 완료된 후, 레이저 트리밍 공정을 통해 기수/우수 데이터 공용 라인(136,138)과 데이터 출력 패드(116,118)는 도 5에 도시된 바와 같이 절단선(L)을 따라 분리되며, 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)과 게이트 출력 패드(142,126)는 절단선(L)을 따라 분리된다.

이 후, 기수/우수 데이터 공용 라인(116,118)과 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)은 해당 구동 집적 회로(110,120)에 전원 신호 등을 공급하는 전송 라인으로 이용된다. 또한, 기수/우수 데이터 공용 라인(116,118)과 접속된 데이터 공용 패드(160)와, 기수/우수 게이트 공용 라인(148,146)과 접속된 게이트 공용 패드(170)는 전원 신호가 공급되는 게이트 신호 패드(152) 및 데이터 신호 패드(154)로 이용된다.

이와 같이, 검사 공정시 검사 신호가 공급되는 공용 라인(116,118,148,146) 및 공용 패드(160,170)는 정상 동작시 전원 신호 등이 공급되는 전송 라인으로 공용화하여 사용한다.

이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

도 1은 종래 액정 표시 장치를 나타내는 평면도이다.

도 2는 본 발명에 따른 액정 표시 장치를 나타내는 평면도이다.

도 3은 도 2에 도시된 구동 집적 회로의 실장 영역에 형성되는 다수의 패드들을 나타내는 평면도이다.

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 평면도이다.

도 5는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 검사 후 실시되는 레이저 트리밍 공정을 설명하기 위한 평면도이다.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

102 : 박막트랜지스터 기판 104 : 컬러 필터 기판

106 : 액정 표시 패널 108 : 신호 전송 필름

110 : 데이터 구동 집적 회로 112,132 : 데이터 LOG라인

114 : 데이터 입력 패드 116,118 : 데이터 출력 패드

120 : 게이트 구동 집적 회로 122,128 : 게이트 LOG라인

124 : 게이트 입력 패드 126,142 : 게이트 출력 패드

130,140 : 실장영역 136,138 : 데이터 공용 라인

146,148 : 게이트 공용 라인 150 : 부착 영역

152 : 게이트 신호 패드 154 : 데이터 신호 패드

156,158,160 : 데이터 공용 패드 166,168,170 : 게이트 공용 패드

Claims (9)

1. 기판 상에 형성된 게이트 라인과;

   상기 게이트 라인과 교차되게 형성되는 데이터 라인과;

   상기 데이터 라인 및 게이트 라인 중 적어도 어느 한 신호 라인에 구동 신호를 공급하며 캐스케이드 방식으로 상기 기판 상에 실장된 구동 집적 회로들과;

   상기 구동 집적 회로들이 실장된 실장 영역 각각에 형성되어 서로 연결된 공용 라인을 구비하며,

   상기 공용 라인은 정상 동작시 상기 구동 집적 회로에 전원 신호를 공급하며, 검사시 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 공용 라인은 상기 검사시 상기 신호 라인과 접속되며, 상기 정상 동작시 상기 신호 라인과 분리되어 상기 구동 집적 회로에 전원 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
3. 제 2 항에 있어서,

   상기 기판 상에 부착되어 상기 구동 집적 회로에 상기 전원 신호 및 제어 신호를 공급하는 신호 전송 필름과;

   상기 신호 전송 필름 및 상기 공용 라인과 접속된 신호 공용 패드를 추가로 구비하며,

   상기 신호 공용 패드는 정상 동작시 상기 공용 라인에 전원 신호를 공급하며, 검사시 상기 공용 라인에 검사 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 신호 공용 패드 및 상기 공용 라인 사이에 형성되어 이들을 연결시키는 제1 라인 온 글래스형 라인과;

   상기 구동 집적 회로들이 실장된 실장 영역 각각에 형성된 공용 라인들 사이에 형성되어 이들을 연결시키는 제2 라인 온 글래스형 라인을 추가로 구비하며,

   상기 제1 라인 온 글래스형 라인은 상기 신호 전송 필름을 기준으로 양측에 위치하는 실장 영역에 형성된 공용 라인과 접속되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
5. 제 4 항에 있어서,

   상기 제1 라인 온 글래스형 라인은 상기 신호 전송 필름을 기준으로 좌우측에 위치하는 상기 실장 영역에 형성된 상기 공용 라인과 연결되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
6. 제 1 항에 있어서,

   상기 공용 라인은

   상기 데이터 라인 중 기수번째 데이터 라인과 접속된 기수 데이터 공용 라인과;

   상기 데이터 라인 중 우수번째 데이터 라인과 접속된 우수 데이터 공용 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
7. 기판 상에 형성된 게이트 라인, 상기 게이트 라인과 교차되게 형성되는 데이터 라인, 상기 데이터 라인 및 게이트 라인 중 적어도 어느 한 신호 라인에 구동 신호를 공급하는 구동 집적 회로들이 캐스케이드 방식으로 실장될 실장 영역 각각에 형성되어 서로 연결된 공용 라인을 구비하는 액정 표시 장치의 검사 방법에 있어서,

   상기 공용 라인을 통해 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하여 불량 유무를 검출하는 단계와;

   상기 불량 유무 검사 후 상기 공용 라인과 상기 신호 라인을 분리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 방법.
8. 제 7 항에 있어서,

   상기 불량 유무를 검출하는 단계는

   상기 공용 라인과 접속된 신호 공용 패드, 공용 라인 및 상기 신호 라인과 접속된 출력 패드를 통해 상기 신호 라인에 검사 신호를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 방법.
9. 제 7 항에 있어서,

   상기 불량 유무를 검출하는 단계는

   상기 데이터 라인 중 기수번째 데이터 라인과 접속된 기수 데이터 공용 라인을 통해 상기 기수번째 데이터 라인에 데이터 검사 신호를 공급하는 단계와;

   상기 데이터 라인 중 우수번째 데이터 라인과 접속된 우수 데이터 공용 라인을 통해 상기 우수번째 데이터 라인에 데이터 검사 신호를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 검사 방법.

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