KR101305379B1 - 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법 - Google Patents

씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101305379B1
KR101305379B1 KR1020090066213A KR20090066213A KR101305379B1 KR 101305379 B1 KR101305379 B1 KR 101305379B1 KR 1020090066213 A KR1020090066213 A KR 1020090066213A KR 20090066213 A KR20090066213 A KR 20090066213A KR 101305379 B1 KR101305379 B1 KR 101305379B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gate
lighting
data
thin film
wirings
Prior art date
Application number
KR1020090066213A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20110008725A (ko
Inventor
김병구
김가경
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020090066213A priority Critical patent/KR101305379B1/ko
Priority to TW098142608A priority patent/TWI396029B/zh
Priority to US12/640,557 priority patent/US9188822B2/en
Priority to CN2009102606528A priority patent/CN101963709B/zh
Publication of KR20110008725A publication Critical patent/KR20110008725A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101305379B1 publication Critical patent/KR101305379B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13454—Drivers integrated on the active matrix substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은, 표시영역과 그 하부, 상부, 좌측 및 우측으로 각각 제 1, 2, 3 및 4 비표시영역이 정의(定義)된 제 1 기판과; 상기 제 1 기판 상의 상기 표시영역에 서로 교차하여 화소영역을 정의하며 형성된 다수의 게이트 및 데이터 배선과; 상기 각 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 연결되며 형성된 스위칭 박막트랜지스터와; 상기 각 화소영역에 상기 스위칭 박막트랜지스터의 일전극과 연결되며 형성된 화소전극과; 상기 제 2 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 일끝단과 각각과 연결되며 동일한 간격으로 이격하며 형성된 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 데이터 배선 중 3n-2, 3n-1, 3n(n은 자연수)을 만족하는 배선과 각각 연결된 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 각각 구비된 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드와; 상기 제 1 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 타 끝단과 각각 연결되며 형성된 데이터 링크 배선과; 상기 제 1 비표시영역에 데이터 링크 배선의 일끝단과 연결된 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 게이트 배선과 각각 연결된 게이트 링크배선과 상기 게이트 링크 배선의 일끝단에 각각 구비된 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 게이트 배선과 연결되는 게이트 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 구비된 게이트 점등 패드와; 상기 제 1 기판과 마주하는 제 2 기판과; 상기 제 2 기판의 내측면에 순차적으로 구성된 컬러필터층 및 공통전극과; 상기 제 1 및 제 2 기판 사이에 개재된 액정 층을 포함하며, 상기 제 1 기판의 제 1 비표시영역에 구동 IC가 부착되는 것을 특징으로 하는 COG 타입 액정표시장치를 제공한다.
액정표시장치, 어레이기판, COG, 블록딤, 점등검사

Description

씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법{Chip on glass type liquid crystal display device and inspecting method for the same}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 휴대폰 또는 PDA 등에 이용되는 소형 모델용 COG(chip on glass) 타입 소형 액정표시장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.
최근 정보화 사회로 시대가 급발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 디스플레이 장치의 필요성이 대두되었고, 이에 따라 평판표시장치(flat panel display)에 대한 개발이 활발히 이루어지고 있으며, 특히 액정표시장치(liquid crystal display)가 해상도, 컬러표시, 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 컴퓨터의 모니터에 활발하게 적용되고 있다.
일반적으로 액정표시장치는 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다.
좀 더 자세히, 일반적인 액정표시장치의 분해사시도인 도 1을 참조하여 그 구조에 대해 설명하면, 도시한 바와 같이, 액정표시장치는 액정층(30)을 사이에 두고 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(20)이 대면 합착된 구성을 갖는데, 이중 하부의 어레이 기판(10)은 투명한 기판(12)의 상면으로 종횡 교차 배열되어 다수의 화소영역(P)을 정의하는 복수개의 게이트 배선(14)과 데이터 배선(16)을 포함하며, 이들 두 배선(14, 16)의 교차지점에는 박막트랜지스터(Tr)가 구비되어 각 화소영역(P)에 마련된 화소전극(18)과 일대일 대응 접속되어 있다.
또한, 상기 어레이 기판(10)과 마주보는 상부의 컬러필터 기판(20)은 투명기판(22)의 배면으로 상기 게이트 배선(14)과 데이터 배선(16) 그리고 박막트랜지스터(T) 등의 비표시영역을 가리도록 각 화소영역(P)을 테두리하는 격자 형상의 블랙매트릭스(25)가 형성되어 있으며, 이들 격자 내부에서 각 화소영역(P)에 대응되게 순차적으로 반복 배열된 적(R), 녹(G), 청(B)색의 컬러필터 패턴(26a, 26b, 26c)을 포함하는 컬러필터층(26)이 형성되어 있으며, 상기 블랙매트릭스(25)와 컬러필터층(26)의 전면에 걸쳐 투명한 공통전극(28)이 구비되어 있다.
그리고, 도면상에 도시되지는 않았지만, 이들 두 기판(10, 20)은 그 사이로 개재된 액정층(30)의 누설을 방지하기 위하여 가장자리 따라 실링제(sealant) 등으로 봉함된 상태에서 각 기판(10, 20)과 액정층(30)의 경계부분에는 액정의 분자배열 방향에 신뢰성을 부여하는 상, 하부 배향막이 개재되며, 각 기판(10, 20)의 적어도 하나의 외측면에는 편광판이 구비되어 있다.
또한, 어레이 기판(10)의 외측면으로는 백라이트(미도시)가 구비되어 빛을 공급하는 바, 게이트 배선(14)으로 박막트랜지스터(T)의 온(on)/오프(off) 신호가 순차적으로 스캔 인가되어 선택된 화소영역(P)의 화소전극(18)에 데이터배선(16)의 화상신호가 전달되면 이들 사이의 수직전계에 의해 그 사이의 액정분자가 구동되고, 이에 따른 빛의 투과율 변화로 여러 가지 화상을 표시할 수 있다
이러한 구조를 갖는 액정표시장치에서, 상기 어레이 기판 및 컬러필터 기판과, 이들 두 기판 사이에 개재된 액정층은 액정패널로 정의되며, 액정패널의 외곽에는 이를 구동하기 위한 구동부가 구성된다. 구동부는 여러 가지 제어 신호, 데이터 신호 등을 생성하는 부품들이 실장되는 인쇄회로기판(PCB : Printed Circuit Board)과, 액정패널 및 인쇄회로기판에 연결되고 액정 패널의 배선에 신호를 인가하기 위한 구동 집적회로(Driving Integrated Circuit, 이하 구동 IC라 칭함)를 포함하는데, 구동 IC를 상기 액정패널에 실장(packaging)시키는 방법에 따라, 칩 온 글래스(COG : Chip On Glass) 방식, 테이프 캐리어 패키지(TCP : Tape Carrier Package) 방식, 칩 온 필름(COF : Chip On Film) 방식 등으로 나누어진다.
이중 COG 방식은, TCP 방식 및 COF 방식에 비해 구조가 간단하고 액정표시장치에서 액정패널이 차지하는 비율을 높일 수 있기 때문에 최근에 소형 액정표시장치에 널리 적용되고 있다.
한편, 이러한 COG 타입 액정표시장치용 어레이 기판에는 비표시영역에 구동 IC 등을 부착해야 하며, 이러한 구동 IC 등을 부착 전에 상기 어레이 기판이 잘 작동하는지 점등 검사를 실시해야한다.
따라서, 이러한 점등 검사를 실시하기 위한 별도의 배선 및 패드를 상기 비표시영역에 별도로 구성하고 있다.
도 2는 종래의 소형 COG타입 액정표시장치에 있어 점등 검사실시를 위해 구성된 점등 검사용 배선과, 패드 및 박막트랜지스터를 간략히 도시한 도면으로서, 설명의 편의를 위해 어레이 기판의 위주로 도시하였다.
종래의 소형 COG타입 액정표시장치용 어레이 기판의 경우, 표시영역(DA)을 기준으로 그 좌측 및 우측의 비표시영역에 주로 표시영역(DA)에 구비된 게이트 배선(GL)과 연결된 게이트 링크 배선(GLL1,GLL2,GLL3,GLL4)이 구비되고 있으며, 상기 표시영역(DA)을 기준으로 하측에 위치하는 비표시영역에 주로 표시영역(DA)에 구비된 데이터 배선(DL)과 연결된 데이터 링크 배선(LL)이 구비되고 있으며, 상기 게이트 링크배선(IGL1,IGL2,IGL3,IGL4) 및 상기 데이터 링크 배선(LL) 각각과 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1, ITr2, ITr3)를 개재하여 연결되며 다수의 점등 검사용 패드(IP1 내지 IP11)가 구비되고 있다. 이때, 도면에 있어서는 상기 표시영역(DA) 하측의 비표시영역에 구비되는 점등 검사용 패드(IP1 내지 IP12)는 총 12개 정도가 형성됨을 보이고 있다.
한편, 표시영역(DA)에 형성된 게이트 배선(GL)은 홀수번 게이트 배선(GL1, GL3)과 짝수번 게이트 배선(GL2, GL4)으로 나뉘어지고 있으며, 상기 홀수의 게이트 배선(GL1, GL3)과는 표시영역(DA)의 좌측방향으로 제 1 및 제 2 게이트 링크배선(GLL1, GLL2)이 교대하며 연결되고 있으며, 상기 짝수의 게이트 배선(GL2, GL4)은 표시영역(DA)의 우측방향으로 제 3 및 제 4 게이트 링크배선(GLL3, GLL4)이 교 대하며 연결되고 있다. 이때 상기 제 1 및 제 2 게이트 링크배선(IGL1, IGL2) 각각과 연결된 각 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1) 모두의 게이트 전극과 연결되며 상기 각 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)의 온(on)/오프(off)를 콘트롤하기 위한 제 1 게이트 인에이블 배선(60) 및 이와 연결된 제 1 게이트 인에이블 패드(IP1)가 구비되고 있으며, 상기 제 3 및 제 4 게이트 링크배선(GLL3, GLL4) 각각과 연결된 각 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 게이트 전극 모두와 연결되며, 상기 각 제 2 박막트랜지스터(ITr2)의 온(on)/오프(off)를 콘트롤하기 위한 제 2 게이트 인에이블 배선(62) 및 이와 연결된 제 2 게이트 인에이블 패드(IP4)가 구비되고 있다.
또한 상기 제 1 및 2 게이트 링크 배선(GLL1, GLL2)과 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)를 개재하여 제 1 및 2 게이트 점등 검사용 배선(51, 52)이 구비되고 있으며, 상기 제 3 및 4 게이트 링크 배선(GLL3, GLL2)과 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)를 개재하여 제 3 및 4 게이트 점등 검사용 배선(53, 54)이 구비되고 있으며, 상기 제 1 내지 제 4 게이트 링크 배선(GLL1 내지 GLL4) 끝단에는 제 1 내지 제 4 게이트 점등 패드(IP1, IP2, IP5, IP6)가 각각 구비되고 있다.
또한, 상기 표시영역(DA) 하측에 위치하는 비표시영역에는 상기 각 데이터 배선(FL) 중 적색 화소영역(R)과 연결된 모든 제 1 데이터 배선(DL1)의 일끝단과 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)를 개재하여 연결되며 제 1 데이터 점등 검사용 배선(64) 및 이와 연결된 제 1 데이터 점등 패드(IP8)와, 녹색 화소영역(G)과 연결된 모든 제 2 데이터 배선(DL2)의 일끝단과 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)를 개재하여 연결되며 제 2 데이터 점등 검사용 배선(66) 및 이와 연결된 제 2 데이터 점등 패드(IP9)와, 청색 화소영역(B)과 연결된 모든 제 3 데이터 배선(DL3)의 일끝단과 제 3 박막트랜지스터(ITr3)를 개재하여 연결되며 제 3 데이터 점등 검사용 배선(68) 및 이와 연결된 제 3 데이터 점등 패드(IP10)가 구비되고 있다.
또한, 상기 제 1, 2, 3 데이터 배선(DL1, DL2, DL3) 각각의 끝단에 구비된 제 3 박막트랜지스터(ITr3) 모두와 연결되며 이들 제 3 박막트랜지스터(ITr3)를 온(on)/오프(off) 콘트롤하기 위한 데이터 인에이블 배선(70) 및 이와 연결된 데이터 인에이블 패드(IP11)가 구비되고 있다.
또한, 컬러필터 기판(미도시)에 구비된 공통전극(미도시)에 공통전압 인가를 위한 제 1 및 제 2 공통 링크 배선(71, 72)과 이의 각각의 끝단에 제 1 및 제 2 공통 패드(IP7, IP12)가 구비되고 있다.
이때, 상기 데이터 링크 배선(LL)과 연결된 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)는 실질적으로는 구동 IC가 부착되는 영역에 구성되고 있는 것이 특징이다.
따라서, 전술한 각 점등 검사용 패드(IP1 내지 IP12)를 통해 소정의 전압을 인가하여 각 제 1, 2, 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1, ITr2, ITr3)의 온(on)/오프(off)를 조절을 통하여 동시에 표시영역(DA) 내에 구비된 모든 화소영역(R, G,B)의 불량 여부를 판단하는 점등 검사를 실시할 수 있다.
하지만, 전술한 구성을 갖는 종래의 소형 COG 타입 액정표시장치(50)는 구동 IC 내의 범프 패드 배열 방식에 따라 점등 검사 시 블록 딤(Block Dim : 표시영역(DA) 내의 부분적인 휘도 차이) 현상이 지속적으로 발생하고 있다.
특히 도 3(종래의 소형 COG 타입 액정표시장치용 어레이 기판의 구동 IC가 부착되는 부분에 대한 확대도)에 도시한 바와 같이, 범프 패드가 이격하며 형성된 부분 중 그 중앙부가 타 영역대비 넓은 이격 간격을 갖는 구동 IC를 구비하도록 설계된 COG 타입 소형 액정표시장치의 경우, 점등 검사 시 상기 블록 딤 현상이 심하게 나타나고 있다. 도면에 있어서 다수의 범프 패드가 형성된 중앙부에 약 2mm 정도의 빈 공간이 형성되어 타 영역 대비 그 이격간격이 달리하는 곳이 있음을 알 수 있다.
전술한 구성을 갖는 종래의 COG 타입 소형 액정표시장치의 점등 검사 시 블록 딤(Block Dim)이 발생하는 이유는 이격부의 로딩 이펙트(Loading Effect)에 의해 드라이 에칭 불균일에 의해 점등 검사를 실시하게 위해 점등 검사용 배선과 점등 검사용 패드 사이에 형성하는 상기 제 1, 2, 3 점등 검사용 박막트랜지스터의 채널비가 달리짐으로써 상기 제 1, 2, 3 점등 검사용 박막트랜지스터의 특성 차이에 의한 것이다.
조금 더 상세히 설명하면, 점등 검사 실시를 위해서는 표시영역에 구비된 게이트 및 데이터 배선과 연결되어야 하는데, 이러한 게이트 및 데이터 배선은 최종적으로는 구동 IC와 연결을 위해 상기 구동 IC가 부착되는 부분에 출력 범프 패드와 연결되고 있으며, 점등 검사용 배선 및 점등 검사용 패드와 상기 점등 검사용 배선에 전압 온(on)/오프(off) 콘트롤을 위한 상기 제 1, 2, 3 점등 검사용 박막트랜지스터는 출력 범프 패드와 연결되어 상기 출력 범프 패드와 입력 범프 패드 사이에 형성하고 있다. 이러한 과정에서 범프 패드간 이격간격이 넓어지는 부분에서는 상기 제 1, 2, 3 박막트랜지스터 간의 이격간격도 달라지게 되므로 전술한 드라이 에칭 불균일 등이 발생하여 박막트랜지스터의 특성 차이가 발생하는 것이다.
따라서, 점등 검사 시 발생하는 블록 딤 불량이 실제 구동 IC를 부착한 상태에서도 발생하는 하는 것인지 아니면 상기 구동 IC 부착 전 액정표시장치의 점등 검사시에만 발생하는 것인지 확인 할 수가 없는 상태가 되므로 점등 검사를 통해 블록 딤 불량의 판정을 실시할 수 없는 실정이다.
즉, 전술한 바와 같은 구성을 갖는 종래의 소형 COG 타입 액정표시장치는 블록 딤 불량에 대해서는 점등 검사 시 양불 판정이 불가능함으로써 점등 검사 시 블록 딤 현상이 발생하더라도 양품 판정을 내리고 있으며, 이 경우 구동 IC를 부착한 상태에서 블록 딤 현상이 발생하면 불량처리되어 폐기됨으로써 제조 비용을 증가시키는 요인으로 작용하고 있는 실정이다.
본 발명은 소형 COG 타입 액정표시장치용 어레이 기판에 있어 부착될 구동 IC의 종류에 관계없이 이를 부착하기 전 점등 검사 실시 시 블록 딤 불량 여부를 확실히 판별할 수 있는 점등 검사용 배선 및 패드를 구비한 어레이 기판을 제공하 는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 COG 타입 액정표시장치는, 표시영역과 그 하부, 상부, 좌측 및 우측으로 각각 제 1, 2, 3 및 4 비표시영역이 정의(定義)된 제 1 기판과; 상기 제 1 기판 상의 상기 표시영역에 서로 교차하여 화소영역을 정의하며 형성된 다수의 게이트 및 데이터 배선과; 상기 각 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 연결되며 형성된 스위칭 박막트랜지스터와; 상기 각 화소영역에 상기 스위칭 박막트랜지스터의 일전극과 연결되며 형성된 화소전극과; 상기 제 2 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 일끝단과 각각과 연결되며 동일한 간격으로 이격하며 형성된 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 데이터 배선 중 3n-2, 3n-1, 3n(n은 자연수)을 만족하는 배선과 각각 연결된 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 각각 구비된 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드와; 상기 제 1 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 타 끝단과 각각 연결되며 형성된 데이터 링크 배선과; 상기 제 1 비표시영역에 데이터 링크 배선의 일끝단과 연결된 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 게이트 배선과 각각 연결된 게이트 링크배선과 상기 게이트 링크 배선의 일끝단에 각각 구비된 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터와; 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 게이트 배선과 연결되는 게이트 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 구비된 게이트 점등 패드와; 제 1 및 제 2 공통 점등용 배선 및 이의 끝단에 각각 구비된 제 1 및 제 2 공통 패드와; 상기 제 1 기판과 마주하는 제 2 기판과; 상기 제 2 기판의 내측면에 구성된 컬러필터층과; 상기 컬러필터층을 덮으며 상기 제 1 및 제 2 공통 점등용 배선과 연결되며 구성된 공통전극과; 상기 제 1 및 제 2 기판 사이에 개재된 액정층을 포함하며, 상기 제 1 기판의 제 1 비표시영역에 구동 IC가 부착되는 것을 특징으로 하며, 상기 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터의 게이트 전극을 모두 연결시키는 제 1 데이터 인에이블 배선과 이의 끝단에 형성된 제 1 데이터 인에이블 패드와; 상기 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터의 게이트 전극을 모두 연결시키는 제 2 데이터 인에이블 배선과 이의 끝단에 형성된 제 2 데이터 인에이블 패드와; 상기 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터의 일전극을 모두 연결시키는 제 4 데이터 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 4 데이터 점등 패드를 포함으로 한다.
삭제
또한, 상기 게이트 배선은 4m-3, 4m-1, 4m-2, 4m(m은 자연수)을 만족하는 제 1 , 2 홀수 게이트 배선과, 제 1, 2 짝수 게이트 배선으로 나뉘어지며, 상기 게이트 링크 배선은 상기 제 1, 2 홀수 게이트 배선과 각각 연결된 제 1, 2 게이트 링크배선과 상기 제 1, 2 짝수 게이트 배선과 각각 연결된 제 3, 4 게이트 링크배선으로 나뉘어지며, 상기 게이트 점등 검사용 배선은 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 검사용 배선으로 나뉘어져 각각 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터를 개재하여 상기 1, 2, 3, 4 게이트 링크 배선과 각각 연결되며, 상기 게이트 점등 패드도 상기 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 검사용 배선과 각각 연결되는 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드로 나뉘어지는 것이 특징이다.
또한, 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터 중 상기 제 1, 2 게이트 링크배선과 연결된 박막트랜지스터의 게이트 전극 모두를 연결시키는 제 1 게이트 인에이블 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 1 게이트 인에이블 패드와; 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터 중 상기 제 3, 4 게이트 링크배선과 연결된 박막트랜지스터의 게이트 전극 모두를 연결시키는 제 2 게이트 인에이블 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 2 게이트 인에이블 패드를 포함한다.
또한, 상기 제 1, 2, 3, 4 데이터 점등 패드와, 상기 제 1, 2 데이터 인에이블 패드, 상기 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드와, 상기 제 1, 2 게이트 인에이블 패드와, 제 1, 2 공통 패드는 모두 상기 제 1 비표시영역에 형성된 것이 특징이며, 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터는 상기 IC 구동회로가 부착되는 영역중 입력 범프와 출력 범프 사이의 이격영역에 형성되는 것이 특징이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 COG 타입 액정표시장치의 검사 방법은, 제 1 항 기재에 따른 COG 타입 액정표시장치의 검사 방법에 있어서, 상기 게이트 점등 패드를 통해 전압을 인가함으로써 상기 게이트 배선과 연결된 화소영역 내의 스위칭 박막트랜지스터를 온(on) 상태를 이루도록 하는 단계와; 상기 제 1, 2 공통 패드 중 어느 하나의 공통패드를 통해 공통전압을 상기 공통전극에 인가하는 단계와; 상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드에 순차적으로 화소전압을 인가함으로서 상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선을 통해 순차적으로 상기 제 1, 2, 3 데이터 배선에 상기 전압이 인가되며 최종적으로 상기 각 화소영역 내의 화소전극에 사이 화소전압이 인가되도록 하여, 상기 공통전극과 수직 전계가 발생하도록 하는 단계와; 상기 액정층이 상기 수직 전계에 반응하여 상기 액정표시장치 배면으로부터 나온 빛을 투과시키도록 하여, 상기 빛의 투과여부를 이용하여 상기 각 화소영역의 불량 여부를 판단하는 단계와; 상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드에 전압 인가를 중단한 후, 상기 제 4 데이터 점등 패드에 전압을 인가하여 기 제 4 데이터 점등 패드로 인가된 전압이 모든 데이터 배선을 통해 모든 화소영역 내의 화소전극에 인가되도록 하여 상기 공통전극과 수직 전계가 발생하도록 하는 단계와; 상기 액정층이 상기 수직 전계에 반응하여 상기 액정표시장치 배면으로부터 나온 빛을 투과시키도록 하여, 상기 빛의 투과여부를 이용하여 상기 데이터 링크 배선의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치는, 표시영역의 데이터 배선과 연결되는 점등 검사용 데이터 연결배선 및 패드 사이에 개재되는 상기 데이터 연결배선의 온(on)/오프(off) 콘트롤를 위한 검사용 박막트랜지스터를 구동 IC가 부착되는 영역 내의 입력 및 출력 범프 패드 사이에 형성하지 않고, 구동 IC 내부의 설계 특성 차이에 상관없이 일정한 이격간격이 유지될 수 있도록 표시영역의 상측에 위치하는 비표시영역에 형성함으로써 구동 IC를 부착시에는 실제 발생하지 않았음에도 점등 검사 시에 빈번히 발생하는 블록 딤 현상을 방지하는 효과가 있다.
나아가 점등 검사 시 블록 딤 불량 유무를 정확히 판별할 수 있으므로 불량 판정 오류에 의한 제조 비용 상승을 억제하는 효과가 있다.
또한, 데이터 링크 배선 오픈 불량 검출이 가능하도록 새로운 검등 검사용 배선 및 패드를 구비함으로써 점등 검사 시 어레이 기판의 더욱 상세한 불량 유무 판정을 실시할 수 있는 장점이 있다.
구동 IC가 부착되는 부분의 입력 및 출력 범프 사이의 이격간격을 줄일 수 있으므로 구동 IC의 크기를 줄일 수 있으므로 제조비용을 더욱 낮추는 효과가 있다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치의 개략적인 평면도이다. 이때 설명의 편의를 위해 어레이 기판을 위주로 도시하였다.
도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치용 어레이 기판은 그 중앙부에 표시영역(DA)과, 상기 표시영역(DA) 그 외측으로 제 1, 2, 3, 및 4비표시영역이 정의되고 있다.
한편, 상기 표시영역(DA)에는 다수의 게이트 및 데이터 배선(GL, DL)이 서로 교차하여 다수의 화소영역(P)을 정의하며 형성되어 있으며, 상기 각 화소영역(P)에는 상기 게이트 및 데이터 배선(GL, DL)과 연결되며 스위칭 소자로서 게이트 전극(미도시)과 게이트 절연막(미도시)과 반도체층(미도시)과 소스 및 드레인 전극(미도시)으로 구성된 스위칭 박막트랜지스터(DTr)가 형성되어 있으며, 상기 스위칭 박 막트랜지스터(STr)의 드레인 전극(미도시)과 연결되며 화소전극(120)이 형성되어 있다.
또한, 전술한 구성을 갖는 표시영역(DA)의 외측에 형성된 상기 비표시영역 중 상기 표시영역(DA)의 하측에 위치한 제 1 비표시영역에는 구동 IC(190)가 구비되고 있다. 이때 상기 구동 IC(190)가 부착된 부분에는 입력 및 출력 범프(193a, 193b)가 구비되고 있으며, 상기 출력 범프(193b)는 상기 표시영역(DA)에 구비된 다수의 게이트 및 데이터 배선(GL, DL)과 각각 연결된 게이트 및 데이터 링크 배선(GLL, DLL)을 통해 연결되고 있다.
이때, 도면에 나타나지 않았지만, 상기 구동 IC(190)가 부착된 부분에는 상기 입력 및 출력 범프(193a, 193b) 사이의 영역에는 점등 검사를 실시 시 점등 검사용 배선의 온(on)/오프(off) 콘트롤을 위한 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(미도시)가 형성되고 있다. 이때 상기 제 1 검사용 박막트랜지스터(미도시)와 연결된 다수의 점등 검사용 패드(미도시)는 상기 구동 IC(190)가 부착되는 영역에 구비될 수도 있고, 또는 상기 제 1 비표시영역의 상기 구동 IC(190) 부착 영역 외측으로 형성될 수 도 있다.
이때 본 발명의 특징적인 것으로 상기 표시영역(DA) 상측의 제 2 비표시영역에는 상기 표시영역(DA)내에 구비된 다수의 데이터 배선(DL) 및 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선(미도시)과 연결되며 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(미도시)가 형성되고 있는 것이 특징이다.
한편, 비표시영역 중 표시영역(DA) 좌측 및 우측에 위치한 제 3 및 제 4 비 표시영역에는 상기 표시영역(DA)의 게이트 배선(GL)과 연결된 게이트 링크배선(GLL)과 상기 점등 검사용 배선(미도시)이 구비되고 있다.
조금 더 구체적으로 본 발명의 특징적인 구성인 점등 검사용 배선 및 패드와 점등 검사 배선 온(on)/오프(of) 콘트롤을 위한 박막트랜지스터의 형성 구조에 대해 도면을 참조하여 설명한다.
도 5는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치에 있어 점등 검사실시를 위해 구성된 전등 검사용 배선과, 패드 및 박막트랜지스터를 간략히 도시한 도면이다. 이때 설명의 편의를 위해 표시영역(DA) 외측의 비표시영역을 확대 도시하였으며, 표시영역(DA)을 기준으로 그 하측 및 상측에 위치한 비표시영역을 각각 제 1 및 제 2 비표시영역, 상기 표시영역(DA)을 기준으로 그 좌측 및 우측에 위치한 비표시영역을 제 3 및 제 4 비표시영역이라 정의하였다.
도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치용 어레이 기판의 경우, 표시영역(DA)을 기준으로 그 좌측 및 우측에 위치하는 제 3 및 제 4 비표시영역에는 상기 표시영역(DA)에 구비된 게이트 배선(GL)과 연결된 게이트 링크 배선(GL)과, 데이터 배선(DL)과 연결된 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선(IDL1, IDL2, IDL3)과, 제 1 데이터 인에이블 배선(DEL1)이 구비되고 있다.
또한, 상기 제 1 비표시영역에 전술한 게이트 링크배선(GLL)과 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선(IDL1, IDL2, IDL3)과 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2, ITr3, ITr4)를 개재하여 연결된 다수의 패드(IP1 내지 IP14)가 구비되고 있으며, 더불어, 상기 데이터 배선(GL)과 연결된 데이터 링크 배선(FLL)과, 상기 점등 검사 용 박막트랜지스터(ITr1, ITr2, ITr3, ITr4) 중 상기 데이터 링크 배선(DLL)과 연결된 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 게이트 전극 모드와 연결된 제 2 데이터 인에이블 배선(DEL1)과, 상기 데이터 링크 배선(DLL)과 연결된 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 소스 전극 모두와 연결되며 제 4 점등 검사용 데이터 배선(IDL4)이 구비되고 있다. 이때, 도면에 있어서 상기 제 1 비표시영역에 구비되는 점등 검사용 패드(IP1 내지 IP14)는 종래 대비 2개 정도 더 늘어난 14개 정도가 됨을 보이고 있다.
우선, 점등 검사용 패드(IP1 내지 IP14)를 살펴보면, 적, 녹, 청색 화소영역(R, G, B)과 연결된 데이터 배선(GL)과 각각 연결된 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드(IP1, IP2, IP3)와, 제 1 및 제 2 데이터 인에이블 패드(IP4, IP5)와 제 1 및 제 2 게이트 인에이블 패드(IP6, IP7)와, 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드(IP8, IP9, IP10, IP11)와, 제 1 및 제 2 공통 패드(IP12, IP13)와, 모든 데이터 링크 배선(DLL)과 연결된 것을 특징으로 하는 제 4 데이터 점등 패드(IP14)가 구비되고 있다.
이때, 본 발명의 가장 특징적인 구성으로써 제 2 비표시영역에 상기 데이터 배선(DL) 각각과 연결되며 동일한 이격간격을 가지며 다수의 점등용 제 1 박막트랜지스터(ITr1)가 구비되고 있으며, 이러한 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1) 각각은 상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드(IP1, IP2, IP3) 중 어느 하나와 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선(IDL1, IDL2, IDL3)을 통해 연결되고 있는 것이 특징이다. 도면에서는 상기 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)는 2열 구조로 일정간격을 가지며 형성된 것을 보이고 있다.
한편, 상기 제 1 데이터 점등 패드(IP1)는 상기 다수의 데이터 배선(DL) 중 적색 화소영역(R)과 연결된 제 1 데이터 배선(DL1) 모두와 연결되고 있으며, 상기 제 2 데이터 점등 패드(IP2)는 녹색 화소영역(G)과 연결된 제 2 데이터 배선(DL2) 모두와 연결되고 있으며, 상기 제 3 데이터 점등 패드(IP3)는 청색 화소영역(B)과 연결된 제 3 데이터 배선(DL3) 모두와 연결되고 있는 것이 특징이다. 이때, 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr) 중 상기 제 1 데이터 배선(DL1)과 연결된 제 1 박막트랜지스터(ITr1)는 제 1 점등용 데이터 패드와 연결된 제 1 데이터 점등 검사용 배선(IDL1)에 의해 모두 연결된 상태를 이루며, 상기 제 2 데이터 배선(DL2)과 연결된 제 1 박막트랜지스터(ITr1)는 제 2 점등용 데이터 패드(IP2)와 연결된 제 2 데이터 점등 검사용 배선(IDL2)에 의해 모두 연결된 상태를 이루며, 상기 제 3 데이터 배선(DL3)과 연결된 제 1 박막트랜지스터(ITr1)는 제 3 점등용 데이터 패드(IP3)와 연결된 제 3 데이터 점등 검사용 배선(IDL3)에 의해 모두 연결된 상태를 이루는 것이 특징이다.
또한, 모든 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)의 게이트 전극은 제 1 데이터 인에이블 배선(DEL1)과 연결되고 있으며, 상기 제 1 데이터 인에이블 배선(DEL1)은 제 1 데이터 인에이블 패드(IP4)와 연결되고 있다.
표시영역(DA) 내에서 데이터 배선(DL)간의 이격간격은 동일하므로 제 2 비표시영역에 구비된 상기 데이터 배선(DL)의 일끝단과 각각 연결되며 형성되는 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)는 종래의 구동 IC 내부에 형성되는 것과는 달리 모두 동일한 이격간격을 가지며 충분한 크기로 형성될 수 있다. 따라서, 드라이 에칭 진행시 로딩 이펙트(Loading effect)에 의한 드라이 에칭의 불균일이 발생하지 않으므로, 균일한 특성을 갖는 박막트랜지스터가 형성될 수 있으며, 이에 의해 점등 검사 시에 블록 딤(Block Dim) 현상은 발생하지 않는 것이 특징이다. 박막트랜지스터의 특성을 채널비(채널 너비 W/ 채널 길이 L)에 의해 큰 영향을 받는데, 종래의 경우 모든 점등 검사용 박막트랜지스터는 구동 IC가 부착되는 영역내에 한정적으로 형성되어야 하기 때문에 이격 간격 이외에 그 크기에 있어서도 많은 제한이 있었지만, 본 발명의 경우 제 2 비표시영역 전체를 이용하여 형성할 수 있으므로 상대적으로 큰 여유 공간이 확보되므로 박막트랜지스터의 크기를 종래보다 크게 형성할 수 있으므로 더욱 박막트랜지스터의 특성 차이가 없도록 안정적으로 형성할 수 있다.
한편, 본 발명의 또 다른 특징적인 구성으로서 상기 제 1 비표시영역에는 상기 표시영역(DA)에 구비된 모든 데이터 배선(GL)의 타끝과 연결되며 데이터 링크 배선(GLL)이 구비되고 있으며, 상기 데이터 링크배선(GLL) 각각은 구동 IC(미도시)가 부착되는 영역에 구비된 출력 범프(미도시)와 연결되며 동시에 상기 출력 범프(미도시)와 입력 범프(미도시) 사이의 이격공간에 구비된 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)와 각각 연결되고 있다.
또한 상기 제 2 비표시영역에는 이러한 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2) 모두와 연결되며 제 4 데이터 점등 검사용 배선(IDL4)이 구비되고 있으며, 상기 제 4 데이터 점등 검사용 배선(IDL4)은 상기 제 4 데이터 점등 패 드(IP14)와 연결되고 있다.
또한, 상기 제 1 비표시영역에는 상기 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 게이트 전극과 연결되며 제 2 데이터 인에이블 배선(DEL2)이 구비되고 있으며, 상기 제 2 데이터 인에이블 배선(DEL2)은 상기 제 2 데이터 인에이블 패드(IP5)와 연결되고 있다.
한편, 상가 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)는 도면에서는 제 2 비표시영역에 구비된 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)와 같이 일정 간격을 가지며 형성됨을 보이고 있지만, 그 형성 영역이 구동 IC(미도시)가 부착되는 영역이 되므로 구동 IC(미도시)의 설계 특성상 출력 범프(미도시)가 형성된 부분 중 그 중앙부에 빈 공간이 형성되는 경우 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)는 특정 영역에서 그 이격간격이 달라질 수 있다.
이 경우, 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)와 연결된 것은 적, 녹, 청색 화소영역(R, G, B)별 점등 검사가 진행되는 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선(IDL1, IDL2, IDL3)이 아니며, 모든 데이터 배선(DL)과 연결되는 것을 특징으로 한 제 4 데이터 점등 검사용 배선(IDL4) 및 이의 끝단에 구비된 제 4 데이터 점등 패드(IP14)가 되고 있으며, 이러한 제 4 데이터 점등 검사용 배선(IDL4) 및 이의 끝단에 구비된 제 4 데이터 점등 패드(IP14)는 각 화소영역(R, G, B)의 점등 검사를 실시하기 위한 것이 아니라 구동 IC(미도시)와 접촉하는 출력 범프(미도시)와 각 데이터 배선(DL)을 연결시키는 데이터 링크 배선(DLL)의 오픈 유무를 검사하기 위한 것이다.
따라서, 상기 제 4 데이터 점등 패드(IP14)를 통해 점등 검사 실시 시, 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 특성 변화가 발생하여 블록 딤(Block Dim) 현상이 발생한다 하더라도 실질적인 블록 딤 현상 발생 유무에 대해서는 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드(IP1, IP2, IP3)를 이용하여 통해 판정한 상태가 되므로 문제되지 않는다.
이때, 상기 제 4 데이터 점등 패드(IP14)를 통해 점등 검사를 실시하는 이유는 구동 IC(미도시)와 접촉하는 출력 범프(미도시)와 각 데이터 배선(DL)을 연결시키는 데이터 링크 배선(DLL)의 불량 유무를 판단하기 위해서이다.
종래의 경우, 데이터 배선과 연결된 상기 데이터 링크 배선을 이용하여 적, 녹, 청색 화소영역별 불량 유무 판별을 위한 점등 검사가 실시되었으므로 블록 딤 현상을 제외하면 데이터 배선과 데이터 링크 배선의 불량 유무에 대해서는 자동적으로 불량 유무를 알 수 있다.
하지만, 본 발명의 경우 적, 녹 ,청색 화소영역(R, G,B)별 불량 유무는 데이터 링크배선(DLL)을 통해 이루어지지 않고, 제 2 비표시영역에 데이터 배선(DL) 자체의 일 끝단이 연장하여 형성된 부분을 이용하여 이루어지고 있으므로, 실질적으로 데이터 배선(DL)의 오픈 불량에 대해서는 판별이 가능하지만, 구동 IC(미도시)와 연결되는 출력 범프(미도시)와 상기 데이터 배선(DL)을 연결시키는 데이터 링크 배선(DLL)의 불량 유무에 대해서는 판별이 불가능 하다. 따라서 데이터 링크 배선(DLL) 자체의 오픈 불량 유무를 판별하기 위해 제 4 데이터 점등 패드(IP14)와 제 2 데이터 인에이블 패드(IP5)를 별도로 구성한 것이다.
이 경우 상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)는 그 특성 차이가 발생하여도 무방하므로 상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)와는 달리 채널비가 비교적 큰 값을 갖도록 형성하지 않아도 되므로 박막트랜지스터 자체의 크기를 종래보다는 작게 형성할 수 있다. 따라서 상기 입력 범프(미도시)와 출력 범프(미도시) 사이의 이격 폭을 종래대비 작게 형성할 수 있으므로 구동 IC(미도시)의 크기를 줄일 수 있는 장점이 있다.
한편, 상기 제 1 비표시영역에는 그 중앙부를 기준을 좌측으로 제 1 게이트 인에이블 패드(IP6)와, 제 1 및 제 2 게이트 점등 패드(IP8, IP9)가 구비되어 있으며, 상기 중앙부를 기준으로 그 우측에는 제 2 게이트 인에이블 패드(IP7)와, 제 3 및 제 4 게이트 점등 패드(IP10, IP11)가 구비되어 있다. 이때, 상기 제 1 및 제 2 게이트 점등 패드(IP8, IP9)는 이들과 연결된 제 1 및 제 2 점등용 게이트 링크 배선(GLL1, GLL2)을 통해 상기 표시영역(DA)의 좌측으로 홀수번 게이트 배선(GL1, Gl3)과 연결되고 있으며, 상기 제 3 및 제 4 게이트 점등 패드(IP10, IP11)는 이들과 연결된 제 3 및 제 4 점등용 게이트 링크 배선(GLL3, GLL4)을 통해 상기 표시영역(DA)의 우측으로 짝수번 게이트 배선(GL2, GL4)과 연결되고 있다.
이때 상기 제 1 점등용 게이트 링크배선(GLL1)은 상기 게이트 배선(GL) 중 4n-3(n은 자연수)을 만족하는 제 1 홀수번째 게이트 배선(GL1) 모두와 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)를 개재하여 연결되고 있으며, 상기 제 2 점등용 게이트 링크배선(GLL2)은 상기 게이트 배선(GL) 중 4n-1(n은 자연수)을 만족하는 제 2 홀수번째 게이트 배선(GL3) 모두와 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)를 개재하여 연결되고 있다.
또한, 상기 제 3 점등용 게이트 링크배선(GLL3)은 상기 게이트 배선(GL) 중 4n-2(n은 자연수)를 만족하는 제 1 짝수번째 게이트 배선(GL2) 모두와 제 4 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr4)를 개재하여 연결되고 있으며, 상기 제 4 점등용 게이트 링크배선(GLL4)은 상기 게이트 배선 중 4n(n은 자연수)을 만족하는 제 2 짝수번째 게이트 배선(GL4) 모두와 제 4 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr4)를 개재하여 연결되고 있다.
또한, 상기 제 1 및 제 2 점등용 게이트 링크배선(GLL1, GLL2)과 연결된 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3)의 모든 게이트 전극과 연결되며 제 1 게이트 인에이블 배선(GEL1)과 이의 끝단에 제 1 게이트 인에이블 패드(IP6)가 구비되고 있으며, 상기 제 3 및 제 4 점등용 게이트 링크 배선(GLL3, GLL4)과 연결된 상기 제 4 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr4)의 모든 게이트 전극과 연결되며 제 2 게이트 인에이블 배선(GEL2)과 이의 끝단에 제 2 게이트 인에이블 패드(IP7)가 구비되고 있다.
또한, 상기 제 1 비표시영역에는 어레이 기판에 공통전압을 인가하기 위한 제 1 및 제 2 공통 패드(IP12, IP13)가 구비되고 있다. 이때 상기 제 1 및 제 2 공통 패드(IP12, IP13)는 기준이 되는 공통전압을 상기 어레이 기판에 대향하여 위치하는 컬러필터 기판에 구비된 공통전극에 인가하기 위한 것이다.
한편, 전술한 구조를 갖는 어레이 기판과 액정층(미도시)을 개재하여 마주하며 이웃하는 3개의 화소영역(R, G, B)에 각각 적, 녹, 청색 컬러필터 패턴이 순차 반복적으로 배치되는 컬러필터층(미도시)과 표시영역(DA) 전면에 대해 공통전극(미도시)이 구비된 컬러필터 기판이 구비됨으로서 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치(100)를 이루고 있다.
전술한 구성을 갖는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치는 표시영역(DA) 외측의 비표시영역 중 구동 IC(미도시)가 부착되는 제 1 비표시영역과 상기 표시영역(DA)을 두고 마주하는 제 2 비표시영역에 데이터 배선(DL)의 일끝단과 연결되며 일정한 간격으로 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)가 구성됨으로써 종래의 상기 데이터 배선(DL)과 연결된 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr1)가 구동 IC(미도시)가 부착되는 곳에 형성되어 상기 구동 IC(미도시)의 설계 특성에 의해 이격간격 차이로 인해 발생하는 박막트랜지스터 특성 차에 의한 점등 검사 시의 블록 딤 현상을 방지할 수 있는 것이 특징이다.
나아가, 상기 구동 IC 부착(미도시) 영역에 있어 입력 범프(미도시)와 출력 범프(미도시) 사이의 이격영역에 구비되는 박막트랜지스터의 크기를 종래대비 작게 형성해도 무방하므로 상기 입력 범프(미도시)와 출력 범프(미도시) 사이의 이격영역의 폭을 줄임으로써 보다 컴팩트한 구동 IC(미도시)를 사용함으로써 제조 비용을 저감시킬 수 있는 장점이 있다.
이후에는 전술한 구성을 갖는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치의 점등검사를 실시하는 방법에 대해 간단히 설명한다.
우선, 제 1 게이트 인에이블 패드(IP6)를 통해 소정의 전압(제 3 및 제 4 점 등 검사용 박막트랜지스터(ITr3, ITr4)의 문턱전압 보다 큰 전압)을 인가함으로써 제 3 및 제 4 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3, ITr4)를 온(on) 상태로 한 후, 제 1 게이트 점등 패드(IP8)에 소정의 전압(각 화소영역(R, G, B) 내의 스위칭 박막트랜지스터의 문턱전압보다 큰 전압)을 인가하여 상기 제 1 점등 검사용 게이트 링크 배선(GLL1)과 연결된 4n-3(n은 자연수)의 게이트 배선(GL1)과 연결된 모든 스위칭 박막트랜지스터(미도시)를 온(on) 상태로 한다. 이후, 제 1 데이터 인에이블 패드(IP4)를 통해 소정의 전압(제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)의 문턱전압 보다 큰 전압)제 2 비표시영역에 데이터 배선(DL) 일끝단과 연결되며 구비된 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr2)를 온(on) 상태로 한다. 이후, 제 1 공통 패드(IP12)를 통해 컬러필터 기판(미도시)에 구비된 공통전극(미도시)에 공통전압을 인가하고, 연속하여 순차적으로 제 1, 2, 3 점등용 데이터 패드(IP1, IP2, IP3)를 통해 소정의 전압을 인가하여 4n-3(n은 자연수)을 만족하는 제 1 홀수번 게이트 배선(GL1)과 연결된 모든 화소영역(R, G, B) 내의 화소전극(미도시)에 상기 제 1, 2, 3 데이터 배선(DL1, DL2, DL3)을 통해 소정의 화소전압이 인가되도록 한다.
이러한 과정에 의해 이때 상기 컬러필터 기판(미도시)에 구비된 공통전극(미도시)과 상기 화소전극(미도시)간의 전계가 발생하게 되며, 상기 어레이 기판(미도시)과 컬러필터 기판(미도시) 사이에 개재된 액정층(미도시) 내의 액정분자가 반응하여 점등 검사 장치의 발광수단(미도시)으로 나오는 빛을 투과시킴으로써 적, 녹, 청색의 빛을 발광하게 된다. 이 경우 불량이 발생한 화소영역에 대해서는 빛이 나오지 않게 되므로 화소 단위로 불량 여부를 판단할 수 있다. 또한, 데이터 배선의 오픈 또는 게이트 배선의 오픈이 발생하는 경우, 라인 단위로 화소영역이 빛이 나오지 않게 되므로 이 역시 불량 여부를 판단할 수 있다.
이후 동일한 과정을 반복하여 제 2 홀수번 게이트 배선(GL3)과 연결된 모든 화소영역(R, G, B), 제 1 및 제 2 짝수번 게이트 배선(GL2, GL4)과 연결된 모든 화소영역(R, G, B)의 불량 유무 및 배선 오픈 불량을 판단함으로서 1차 점등 검사를 완료한다.
이러한 각 화소영역(R, G,B)의 불량 유무를 판단하는 1차 점등 검사를 마친 후, 최종적으로 제 1 및 제 2 게이트 인에이블 패드(IP6, IP7)를 통해 소정의 전압을 인가함으로써 제 3 및 제 4 점등 검사용 박막트랜지스터(ITr3, ITr4)를 온(on) 상태로 하고, 제 2 데이터 인에이블 패드(IP5)를 통해 소정의 전압을 인가함으로써 제 2 점등용 박막트랜지스터(ITr2)를 온(on) 상태로 한 후, 제 4 데이터 점등 패드(IP14)를 통해 소정의 전압을 인가함으로써 모든 데이트 배선(DL)과 연결된 데이터 링크 배선(DLL)의 오픈 불량 유무를 판단하는 2차 점등 검사를 실시한다. 이 경우 표시영역(DA) 내의 모든 화소영역(R, G, B)에 대해 빛이 나와야 하며 그렇지 않은 경우, 즉 라인 단위로 빛이 나오지 않는 부분이 발생하는 경우 데이터 링크 배선(DLL)에 오픈이 발생한 것이다.
전술한 바와같은 1, 2차 점등 검사를 실시함으로써 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치는 구동 IC를 부착 전에 상기 구동 IC의 설계 특성에 의한 블록 딤 현상의 발생없이 액정표시장치의 불량 여부를 정확히 알 수 있다.
한편, 본 발명은 상기 전술한 실시예 및 그 변형예에 한정되지 않고 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한도 내에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.
도 1은 일반적인 액정표시장치에 대한 분해사시도.
도 2는 종래의 소형 COG타입 액정표시장치에 있어 점등 검사실시를 위해 구성된 점등 검사용 배선과, 점등 검사용패드 및 박막트랜지스터를 간략히 도시한 도면.
도 3은 종래의 소형 COG 타입 액정표시장치용 어레이 기판의 구동 IC가 부착되는 부분에 대한 확대도.
도 4는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치의 개략적인 평면도.
도 5는 본 발명에 따른 COG 타입 소형 액정표시장치에 있어 점등 검사실시를 위해 구성된 전등 검사용 배선과, 패드 및 박막트랜지스터를 간략히 도시한 도면.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100 : COG 타입 소형 액정표시장치
DL : 데이터 배선 DL1, DL2, DL3 : 제 1, 2, 3 데이터 배선
DLL : 데이터 링크배선
DEL1, DEL2 : 제 1, 2 데이터 인에이블 배선
GEL1, GEL2 : 제 1, 2 게이트 인에이블 배선
GL : 게이트 배선
GL1 : 4n-3(n은 자연수)의 게이트 배선
GL2 : 4n-2(n은 자연수)의 게이트 배선
GL3 : 4n-1(n은 자연수)의 게이트 배선
GL4 : 4n(n은 자연수)의 게이트 배선
GLL : 게이트 링크 배선
GLL1 : GL1과 연결된 게이트 링크 배선
GLL2 : GL2와 연결된 게이트 링크 배선
GLL3 : GL3과 연결된 게이트 링크 배선
GLL4 : GL4와 연결된 게이트 링크 배선
IDL1, IDL2, IDL3, IDL4 : 제 1, 2, 3, 4 데이터 점등 검사용 배선
IP1, IP2, IP3 : 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드
IP4, IP5 : 제 1, 2 데이터 인에이블 패드
IP6, IP7 : 제 1, 2 게이트 인에이블 패드
IP8, IP9, IP10, IP11 : 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드
IP12, IP13 : 제 1, 2 게이트 공통 패드
IP14 : 제 3 데이터 점등 패드
ITr1, ITr2, ITr3, ITr4 : 제 1, 2, 3, 4 점등 검사용 박막트랜지스터
R, G, B : 적, 녹, 청색 화소영역

Claims (7)

  1. 표시영역과 그 하부, 상부, 좌측 및 우측으로 각각 제 1, 2, 3 및 4 비표시영역이 정의(定義)된 제 1 기판과;
    상기 제 1 기판 상의 상기 표시영역에 서로 교차하여 화소영역을 정의하며 형성된 다수의 게이트 및 데이터 배선과;
    상기 각 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 연결되며 형성된 스위칭 박막트랜지스터와;
    상기 각 화소영역에 상기 스위칭 박막트랜지스터의 일전극과 연결되며 형성된 화소전극과;
    상기 제 2 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 일끝단과 각각과 연결되며 동일한 간격으로 이격하며 형성된 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터와;
    상기 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 데이터 배선 중 3n-2, 3n-1, 3n(n은 자연수)을 만족하는 배선과 각각 연결된 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 각각 구비된 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드와;
    상기 제 1 비표시영역에 상기 다수의 데이터 배선의 타 끝단과 각각 연결되며 형성된 데이터 링크 배선과;
    상기 제 1 비표시영역에 데이터 링크 배선의 일끝단과 연결된 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터와;
    상기 게이트 배선과 각각 연결된 게이트 링크배선과 상기 게이트 링크 배선의 일끝단에 각각 구비된 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터와;
    상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터를 통해 상기 게이트 배선과 연결되는 게이트 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 구비된 게이트 점등 패드와;
    제 1 및 제 2 공통 점등용 배선 및 이의 끝단에 각각 구비된 제 1 및 제 2 공통 패드와;
    상기 제 1 기판과 마주하는 제 2 기판과;
    상기 제 2 기판의 내측면에 구성된 컬러필터층과;
    상기 컬러필터층을 덮으며 상기 제 1 및 제 2 공통 점등용 배선과 연결되며 구성된 공통전극과;
    상기 제 1 및 제 2 기판 사이에 개재된 액정층
    을 포함하며, 상기 제 1 기판의 제 1 비표시영역에 구동 IC가 부착되는 것을 특징으로 하며, 상기 다수의 제 1 점등 검사용 박막트랜지스터의 게이트 전극을 모두 연결시키는 제 1 데이터 인에이블 배선과 이의 끝단에 형성된 제 1 데이터 인에이블 패드와; 상기 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터의 게이트 전극을 모두 연결시키는 제 2 데이터 인에이블 배선과 이의 끝단에 형성된 제 2 데이터 인에이블 패드와; 상기 다수의 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터의 일전극을 모두 연결시키는 제 4 데이터 점등 검사용 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 4 데이터 점등 패드를 포함하는 COG 타입 액정표시장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 배선은 4m-3, 4m-1, 4m-2, 4m(m은 자연수)을 만족하는 제 1 , 2 홀수 게이트 배선과, 제 1, 2 짝수 게이트 배선으로 나뉘어지며, 상기 게이트 링크 배선은 상기 제 1, 2 홀수 게이트 배선과 각각 연결된 제 1, 2 게이트 링크배선과 상기 제 1, 2 짝수 게이트 배선과 각각 연결된 제 3, 4 게이트 링크배선으로 나뉘어지며, 상기 게이트 점등 검사용 배선은 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 검사용 배선으로 나뉘어져 각각 상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터를 개재하여 상기 1, 2, 3, 4 게이트 링크 배선과 각각 연결되며, 상기 게이트 점등 패드도 상기 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 검사용 배선과 각각 연결되는 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드로 나뉘어지는 것이 특징인 COG 타입 액정표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터 중 상기 제 1, 2 게이트 링크배선과 연결된 박막트랜지스터의 게이트 전극 모두를 연결시키는 제 1 게이트 인에이블 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 1 게이트 인에이블 패드와;
    상기 제 3 점등 검사용 박막트랜지스터 중 상기 제 3, 4 게이트 링크배선과 연결된 박막트랜지스터의 게이트 전극 모두를 연결시키는 제 2 게이트 인에이블 배선 및 이의 끝단에 형성된 제 2 게이트 인에이블 패드
    를 포함하는 COG 타입 액정표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1, 2, 3, 4 데이터 점등 패드와, 상기 제 1, 2 데이터 인에이블 패드, 상기 제 1, 2, 3, 4 게이트 점등 패드와, 상기 제 1, 2 게이트 인에이블 패드와, 제 1, 2 공통 패드는 모두 상기 제 1 비표시영역에 형성된 것이 특징인 COG 타입 액정표시장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 2 점등 검사용 박막트랜지스터는 상기 IC 구동회로가 부착되는 영역중 입력 범프와 출력 범프 사이의 이격영역에 형성되는 것이 특징인 COG 타입 액정표시장치.
  7. 제 1 항 기재에 따른 COG 타입 액정표시장치의 검사 방법에 있어서, 상기 게이트 점등 패드를 통해 전압을 인가함으로써 상기 게이트 배선과 연결된 화소영역 내의 스위칭 박막트랜지스터를 온(on) 상태를 이루도록 하는 단계와;
    상기 제 1, 2 공통 패드 중 어느 하나의 공통패드를 통해 공통전압을 상기 공통전극에 인가하는 단계와;
    상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드에 순차적으로 화소전압을 인가함으로서 상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 검사용 배선을 통해 순차적으로 상기 제 1, 2, 3 데이터 배선에 상기 전압이 인가되며 최종적으로 상기 각 화소영역 내의 화소전극에 사이 화소전압이 인가되도록 하여, 상기 공통전극과 수직 전계가 발생하도록 하는 단계와;
    상기 액정층이 상기 수직 전계에 반응하여 상기 액정표시장치 배면으로부터 나온 빛을 투과시키도록 하여, 상기 빛의 투과여부를 이용하여 상기 각 화소영역의 불량 여부를 판단하는 단계와;
    상기 제 1, 2, 3 데이터 점등 패드에 전압 인가를 중단한 후, 상기 제 4 데이터 점등 패드에 전압을 인가하여 기 제 4 데이터 점등 패드로 인가된 전압이 모든 데이터 배선을 통해 모든 화소영역 내의 화소전극에 인가되도록 하여 상기 공통전극과 수직 전계가 발생하도록 하는 단계와;
    상기 액정층이 상기 수직 전계에 반응하여 상기 액정표시장치 배면으로부터 나온 빛을 투과시키도록 하여, 상기 빛의 투과여부를 이용하여 상기 데이터 링크 배선의 불량 여부를 판단하는 단계
    를 포함하는 COG 타입 액정표시장치의 검사 방법.
KR1020090066213A 2009-07-21 2009-07-21 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법 KR101305379B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090066213A KR101305379B1 (ko) 2009-07-21 2009-07-21 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
TW098142608A TWI396029B (zh) 2009-07-21 2009-12-11 玻璃覆晶型液晶顯示裝置及檢測方法
US12/640,557 US9188822B2 (en) 2009-07-21 2009-12-17 Chip on glass type LCD device including testing thin film transistors, testing lines and testing pads and inspecting method of the same
CN2009102606528A CN101963709B (zh) 2009-07-21 2009-12-18 玻璃上芯片型液晶显示器及其检查方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090066213A KR101305379B1 (ko) 2009-07-21 2009-07-21 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110008725A KR20110008725A (ko) 2011-01-27
KR101305379B1 true KR101305379B1 (ko) 2013-09-06

Family

ID=43496741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090066213A KR101305379B1 (ko) 2009-07-21 2009-07-21 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9188822B2 (ko)
KR (1) KR101305379B1 (ko)
CN (1) CN101963709B (ko)
TW (1) TWI396029B (ko)

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101765656B1 (ko) * 2010-12-23 2017-08-08 삼성디스플레이 주식회사 구동 집적회로 및 이를 포함하는 표시장치
KR101783953B1 (ko) * 2010-12-27 2017-10-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
TWI480655B (zh) * 2011-04-14 2015-04-11 Au Optronics Corp 顯示面板及其測試方法
TWI444959B (zh) * 2011-10-05 2014-07-11 Hannstar Display Corp 用於三閘型畫素結構之面板測試方法
KR101943069B1 (ko) * 2011-12-01 2019-04-18 삼성디스플레이 주식회사 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널
KR101924180B1 (ko) * 2012-03-09 2019-02-25 엘지디스플레이 주식회사 횡전계방식 액정표시장치용 어레이기판
JP6051011B2 (ja) * 2012-10-22 2016-12-21 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置およびその製造方法
US9448454B2 (en) * 2012-11-08 2016-09-20 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device
US9536905B2 (en) * 2012-11-08 2017-01-03 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device using same
US9599866B2 (en) * 2012-11-08 2017-03-21 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device
KR102002495B1 (ko) * 2013-02-28 2019-07-23 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102047005B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
CN104238152A (zh) * 2013-06-17 2014-12-24 北京京东方光电科技有限公司 一种cog测试方法
CN103345079B (zh) * 2013-07-09 2016-05-04 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶面板及其制造方法
KR102174368B1 (ko) * 2014-02-25 2020-11-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법
KR102246365B1 (ko) * 2014-08-06 2021-04-30 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
CN104183225B (zh) * 2014-08-15 2017-08-15 上海天马微电子有限公司 一种驱动装置、阵列基板和显示装置
TWI552320B (zh) * 2014-08-18 2016-10-01 群創光電股份有限公司 低色偏之顯示面板
CN104407456A (zh) * 2014-12-18 2015-03-11 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及显示装置
KR102270632B1 (ko) * 2015-03-04 2021-06-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널, 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법
JP2016218216A (ja) * 2015-05-19 2016-12-22 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示パネル
JP2016218243A (ja) * 2015-05-20 2016-12-22 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示装置
CN104898342A (zh) * 2015-06-16 2015-09-09 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板母板及其制作方法
KR102316101B1 (ko) * 2015-06-24 2021-10-26 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 그 검사 방법
KR102379775B1 (ko) * 2015-08-31 2022-03-29 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
KR102494779B1 (ko) * 2015-12-22 2023-02-02 엘지디스플레이 주식회사 터치 겸용 액정 표시 장치
JP2017138393A (ja) * 2016-02-02 2017-08-10 株式会社 オルタステクノロジー 液晶表示装置及びその検査方法
WO2017168530A1 (ja) * 2016-03-28 2017-10-05 堺ディスプレイプロダクト株式会社 基板の配線経路の検査方法及び検査システム
CN106200055A (zh) * 2016-07-25 2016-12-07 武汉华星光电技术有限公司 阵列测试电路以及液晶显示基板
CN106444189A (zh) * 2016-10-13 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、其检测方法及显示装置
KR102628756B1 (ko) * 2016-12-27 2024-01-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 표시 패널 크랙 검출 방법
CN106773372B (zh) * 2016-12-30 2019-12-31 深圳市华星光电技术有限公司 共电极结构、液晶显示面板及制作方法
CN107274820B (zh) * 2017-07-24 2020-11-27 京东方科技集团股份有限公司 一种测试电路及其测试方法、显示面板
KR102484450B1 (ko) * 2018-03-19 2023-01-05 삼성디스플레이 주식회사 평판표시장치
KR102499175B1 (ko) * 2018-04-06 2023-02-13 티씨엘 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 표시장치
CN108766373B (zh) * 2018-05-08 2020-11-24 昆山龙腾光电股份有限公司 一种检测电路和液晶显示装置
CN109166504B (zh) * 2018-10-17 2021-10-01 惠科股份有限公司 测试电路及显示装置
TWI680305B (zh) * 2018-11-06 2019-12-21 凌巨科技股份有限公司 異型顯示面板及其製造方法
TWI683114B (zh) * 2018-11-28 2020-01-21 友達光電股份有限公司 顯示面板
US10643529B1 (en) * 2018-12-18 2020-05-05 Himax Technologies Limited Method for compensation brightness non-uniformity of a display panel, and associated display device
CN109584762B (zh) * 2018-12-25 2022-04-01 惠科股份有限公司 显示面板的测试方法、测试电路及显示装置
JP7217650B2 (ja) * 2019-03-18 2023-02-03 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
TWI712836B (zh) * 2019-05-30 2020-12-11 友達光電股份有限公司 顯示面板
KR102666425B1 (ko) * 2019-07-05 2024-05-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN112201155A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 瀚宇彩晶股份有限公司 显示面板
CN110827728B (zh) * 2019-11-22 2022-08-23 昆山国显光电有限公司 显示面板和显示装置
TWI754348B (zh) * 2019-12-06 2022-02-01 群創光電股份有限公司 電子裝置的製造方法以及電子裝置
US11417257B2 (en) * 2019-12-26 2022-08-16 Lg Display Co., Ltd. Display device
CN111179794B (zh) * 2020-01-06 2022-04-19 京东方科技集团股份有限公司 检测电路、阵列基板、显示面板
CN111261055B (zh) * 2020-01-21 2022-02-22 京东方科技集团股份有限公司 Oled显示屏及oled显示装置
CN111696460B (zh) * 2020-06-30 2022-07-22 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及其测试方法、显示装置
CN111798795A (zh) * 2020-06-30 2020-10-20 云谷（固安）科技有限公司 一种显示装置
US20230148233A1 (en) * 2020-08-07 2023-05-11 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display substrate and display device
CN112526791A (zh) * 2020-11-09 2021-03-19 信利（惠州）智能显示有限公司 显示面板及显示装置
GB2614817B (en) * 2021-10-14 2024-02-14 Hkc Corp Ltd Test circuit of display panel and display device
CN113643636B (zh) * 2021-10-14 2022-01-07 惠科股份有限公司 显示面板的测试电路和显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040207772A1 (en) 2001-07-17 2004-10-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Array substrate, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display
JP2005266529A (ja) 2004-03-19 2005-09-29 Sharp Corp 表示装置の製造方法及び表示装置
JP2007206440A (ja) 2006-02-02 2007-08-16 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法
JP2008009246A (ja) 2006-06-30 2008-01-17 Hitachi Displays Ltd 表示装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100431149B1 (ko) * 2001-08-20 2004-05-22 (주)반도체엔지니어링 액정표시장치에 있어서 칩 온 글래스의 본딩기
KR100900537B1 (ko) * 2002-08-23 2009-06-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
JP4662339B2 (ja) * 2005-02-04 2011-03-30 エプソンイメージングデバイス株式会社 液晶表示パネル
KR101137885B1 (ko) * 2005-06-15 2012-04-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치와 그 검사방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040207772A1 (en) 2001-07-17 2004-10-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Array substrate, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display
JP2005266529A (ja) 2004-03-19 2005-09-29 Sharp Corp 表示装置の製造方法及び表示装置
JP2007206440A (ja) 2006-02-02 2007-08-16 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法
JP2008009246A (ja) 2006-06-30 2008-01-17 Hitachi Displays Ltd 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20110018571A1 (en) 2011-01-27
TW201104326A (en) 2011-02-01
KR20110008725A (ko) 2011-01-27
US9188822B2 (en) 2015-11-17
CN101963709A (zh) 2011-02-02
CN101963709B (zh) 2012-08-29
TWI396029B (zh) 2013-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101305379B1 (ko) 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
US6833888B2 (en) Liquid crystal display device including sub-pixels corresponding to red, green, blue and white color filters
KR100392575B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
US8013832B2 (en) Liquid crystal display
TWI444735B (zh) 液晶顯示面板及其製造方法
KR100235477B1 (ko) 표시장치 및 그 검사 방법
US7768291B2 (en) Display device
KR101238337B1 (ko) 어레이 기판 및 이를 갖는 액정표시장치
US7701542B2 (en) Liquid crystal display device with data switching thin film transistor for inspection and inspection method thereof
US20010017607A1 (en) Liquid crystal display device having quad type color filters
JP2016218216A (ja) 表示パネル
US7948459B2 (en) Display device and inspection method for display device
JP4106193B2 (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
US5852305A (en) Liquid crystal display apparatus with repair structure
US7692753B2 (en) Flat panel display device
KR101181244B1 (ko) 액정표시장치
KR20120075096A (ko) 액정표시장치 및 그의 검사 방법
KR101427135B1 (ko) 씨오지 타입 액정표시장치용 어레이 기판
JP5138999B2 (ja) 表示装置
KR20070076843A (ko) 박막 트랜지스터 기판 및 그 검사 방법
KR101192050B1 (ko) 평판표시장치의 검사방법 및 장치
KR102675921B1 (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 데이터 링크 라인 결함 검출 방법
KR100904264B1 (ko) 액정표시장치
KR100937863B1 (ko) 액정 디스플레이용 단자부
KR20210055375A (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 데이터 링크 라인 결함 검출 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160816

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170816

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180816

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190814

Year of fee payment: 7