CN111696460B - 一种显示面板及其测试方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及其测试方法、显示装置，其中显示面板包括：老化测试电路；老化测试电路包括测试开关单元和测试线；测试开关单元的输入端与对应测试线连接；测试开关单元的控制端与对应控制线连接；老化测试电路还包括多个焊盘组；每个焊盘组包括与测试线一一对应的第一焊盘和与控制线一一对应的第二焊盘；焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组；每条测试线的第一端连接第一端部焊盘组中的一个第一焊盘；每条测试线的第二端连接第二端部焊盘组中的一个第一焊盘；每条测试线的第三端连接中间焊盘组中的一个第一焊盘。本发明提供的技术方案，以解决老化测试后显示面板不同区域显示亮度不均的问题。

Description

一种显示面板及其测试方法、显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法、显示装置。

背景技术

有机发光显示(Organic Light-Emitting Diode，OLED)装置，是显示器研究领域的热点之一。与液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)装置相比，有机发光显示装置更轻薄，具有更好的视角和对比度等，因此受到了人们的广泛关注。

但是，OLED装置的发光材料存在一定的衰减性，因此在OLED面板出厂之前一般会进行老化测试，在老化测试过程中向OLED面板输入较大的发光信号，加速发光材料的衰减过程。但是由于传输发光信号的导线上的电阻会造成发光信号的电压降，造成显示区不同区域接收到的发光信号不同，显示区不同区域发光材料的衰减程度不同，造成显示器后续的显示阶段不同区域的显示亮度不同，影响显示装置显示均一性。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示面板及其测试方法、显示装置，以解决老化测试后显示面板不同区域显示亮度不均的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向依次排布的数据线；

所述非显示区包括老化测试电路；所述老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线；所述测试开关单元与所述数据线一一对应设置；所述测试开关单元的输出端与对应所述数据线连接，用于为对应所述数据线输入测试信号；所述测试开关单元的输入端与对应测试线连接，用于获取对应测试信号；所述测试开关单元的控制端与对应控制线连接，用于获取对应开关信号；

所述老化测试电路还包括多个焊盘组；每个焊盘组包括与各所述测试线一一对应连接的第一焊盘和与各所述控制线一一对应连接的第二焊盘；所述第一焊盘用于输入所述测试信号至对应的所述测试线，所述第二焊盘用于输入所述开关信号至对应的所述控制线；所述焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组；每条所述测试线的第一端连接所述第一端部焊盘组中的一个所述第一焊盘；每条所述测试线的第二端连接所述第二端部焊盘组中的一个所述第一焊盘；每条所述测试线的第三端连接所述中间焊盘组中的一个所述第一焊盘。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板，显示面板的测试方法包括：

在与任一控制线相连的第一端部焊盘组中的第二焊盘上、第二端部焊盘组中的第二焊盘上和中间焊盘组中的第二焊盘上同时输入所述开关信号，使各所述测试开关单元打开，同时在与任一测试线相连的第一端部焊盘组中的第一焊盘上、第二端部焊盘组中的第一焊盘上和中间焊盘组中的第一焊盘上同时输入所述测试信号，使同时来自于所述第一端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号、第二端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号和中间焊盘组中的第一焊盘上的测试信号输入到每条所述数据线上。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示面板。

本发明中，显示面板的非显示区包括老化测试电路，老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线，测试开关单元与显示区的数据线一一设置，并且测试开关单元的输入端连接测试线，输出端与对应的数据线连接，用于将测试信号输至对应数据线，并且测试开关单元的控制端与控制线连接，从而获取控制测试开关单元的开关信号。其中，老化测试电路还包括多个焊盘组，每个焊盘组包括与测试线一一对应的第一焊盘和与控制线一一对应的第二焊盘，焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组，第一端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线第一端，第二端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的第二端，中间焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的中间位置，也即第三端，则每条测试线的至少三个不同位置点连接有可接收测试信号的焊盘，在老化测试过程中，采用多段式测试焊盘，使得测试线上不同位置的充电电位较为均匀，防止因为测试线电阻负载造成的测试线不同位置测试信号不一致的情况，进而防止显示区边缘区域像素单元亮度下降比中间区域像素单元快的情况，从而有效改善老化测试后显示区边缘区域显示发黄的问题，提高显示面板寿命。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板的对比例的结构示意图；

图3是图2中对比例中显示面板的显示效果示意图；

图4是本发明实施例提供的一种显示面板的非显示区的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图10是图9中老化测试电路的驱动时序图；

图11是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图12是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

本发明实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多条沿第一方向依次排布的数据线；

非显示区包括老化测试电路；老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线；测试开关单元与数据线一一对应设置；测试开关单元的输出端与对应数据线连接，用于为对应数据线输入测试信号；测试开关单元的输入端与对应测试线连接，用于获取对应测试信号；测试开关单元的控制端与对应控制线连接，用于获取对应开关信号；

老化测试电路还包括多个焊盘组；每个焊盘组包括与各测试线一一对应连接的第一焊盘和与各控制线一一对应连接的第二焊盘；第一焊盘用于输入测试信号至对应的测试线，第二焊盘用于输入开关信号至对应的控制线；焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组；每条测试线的第一端连接第一端部焊盘组中的一个第一焊盘；每条测试线的第二端连接第二端部焊盘组中的一个第一焊盘；每条测试线的第三端连接中间焊盘组中的一个第一焊盘。

本发明实施例中，显示面板的非显示区包括老化测试电路，老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线，测试开关单元与显示区的数据线一一设置，并且测试开关单元的输入端连接测试线，输出端与对应的数据线连接，用于将测试信号输至对应数据线，并且测试开关单元的控制端与控制线连接，从而获取控制测试开关单元的开关信号。其中，老化测试电路还包括多个焊盘组，每个焊盘组包括与测试线一一对应的第一焊盘和与控制线一一对应的第二焊盘，焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组，第一端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线第一端，第二端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的第二端，中间焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的中间位置，也即第三端，则每条测试线的至少三个不同位置点连接有可接收测试信号的焊盘，在老化测试过程中，采用多段式测试焊盘，使得测试线上不同位置的充电电位较为均匀，防止因为测试线电阻负载造成的测试线不同位置测试信号不一致的情况，进而防止显示区边缘区域像素单元亮度下降比中间区域像素单元快的情况，从而有效改善老化测试后显示区边缘区域显示发黄的问题，提高显示面板寿命。

以上是本发明的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图1所示，显示面板包括显示区AA和围绕显示区AA设置的非显示区NA，显示区AA包括多条沿第一方向X依次排布的数据线11。数据线11分别连接有像素单元13，以通过对像素单元的控制实现显示区显示画面。非显示区NA包括老化测试电路12，老化测试电路12用于模拟显示面板在实际使用条件中涉及到的显示信号对显示面板产生老化的情况进行相应条件的加强试验，当显示面板老化测试完成后，显示面板度过了衰减较快的初始阶段，在后续实际使用过程中显示面板则可处于稳定发光状态。

继续参考图1，老化测试电路12包括多个测试开关单元121和至少一条测试线124。测试开关单元121与数据线11一一对应设置，测试开关单元121包括输入端、输出端和控制端，测试开关单元121的控制端与对应控制线123连接，能够获取对应开关信号，测试开关单元121的输入端与对应测试线124连接，能够获取外界输入的测试信号，测试开关单元121的输出端与对应的数据线11连接，能够将测试信号输送至数据线11以使像素单元13显示。

继续参考图1，老化测试电路12还包括多个焊盘组122，每个焊盘组122均包括与测试线124一一对应连接的第一焊盘1221和与控制线123一一对应连接的第二焊盘1222。其中，第一焊盘1221用于输入对应的测试信号至对应的测试线124，第二焊盘1222用于输入对应的控制信号至对应的控制线123。测试线124和控制线123的条数决定每个焊盘组122的焊盘个数，示例性的，如图1所示，可设置两条控制线123和三条测试线124，对应的，每个焊盘组122包括焊盘组122可以包括第一端部焊盘组122a、第二端部焊盘组122b和至少一个中间焊盘组122c，每条测试线124的第一端连接第一端部焊盘组122a中的对应的第一焊盘1221，每条测试线124的第二端连接第二端部焊盘组122b中的对应的第一焊盘1221，每条测试线124的第三端连接中间焊盘组122c中对应的第一焊盘1221。需要注意的是，焊盘组122包括至少一个中间焊盘组122c，对应的每条测试线124可以包括与中间焊盘组122c数量相同的第三端，每个第三端均连接对应中间焊盘组122c中的一个第一焊盘1221。中间焊盘组122c的个数可以为1个或者多个，当中间焊盘组122c的个数为1时，如图1所示，焊盘组122包括三组，当中间焊盘组122c的个数为多个(例如2个)时，焊盘组122的组数大于3。则本实施例中，焊盘组122的组数至少为3，则每条测试线124的至少3个端子均能同时通过对应的第一焊盘1221获取测试信号。本实施例中每条测试线124不同位置处可通过不同端子同时获取测试信号，降低了测试信号在测试线124上的衰减。

参考图2，图2是本发明实施例提供的一种显示面板的对比例的结构示意图，在对比例中，显示面板包括显示区AA’和非显示区NA’，老化测试电路12’内的每条测试线124’仅在第一端和第二端分别连接对应的第一焊盘1221’，并未设置第三端连接其他焊盘。则在测试线124’的第一端和第二端之间必然存在电压降，测试线124’上测试信号损耗导致的不同位置处连接的数据线11’可获取不同的电位，从而使得像素单元13’获取不同的充电电压，导致老化测试中不同区域的像素单元13’亮度差异较大，并且，不同区域的像素单元衰减速度不一样，导致后续显示过程中，显示面板显示不均匀。如图3所示，图3是图2中对比例中显示面板的显示效果示意图，沿第一方向X上，可将显示区AA’分为中间区域11b’和中间区域11b’两侧的边缘区域11a’，沿测试线124’由边缘区域11a’指向中间区域11b’的方向上，电压降逐渐增大，则中间区域11b’的像素单元13’的获取的测试信号较弱，在老化测试完成后，靠近测试线124’的第一端和第二端的边缘区域11a’的像素单元13’老化程度较高，靠近测试线124’的中点位置的中间区域11b’的像素单元老化程度较低，使得后续显示面板显示不均，寿命降低。而本实施例通过同时在多个不同位置同时输入测试信号，从而降低测试线124因电阻而产生的电压降，有效提高测试信号的稳定性。

可选的，继续参考图1，同理，每条控制线123的第一端可以连接第一端部焊盘组122a中的一个第二焊盘1222；每条控制线123的第二端可以连接第二端部焊盘组122中的一个第二焊盘1222。每条控制线123的第三端可以连接中间焊盘组122c中的一个第二焊盘1222，实现每条控制线123的至少3个端子均能同时通过对应的第二焊盘1222获取测试信号。避免了控制线123上开关信号损耗导致的不同位置处连接的测试开关单元121开启程度不同的问题，实现不同区域的测试开关单元121的开关程度和时序延时趋于一致，提高显示稳定性。

继续参考图1，可选的，数据线11可以沿第二方向Y延伸，第二方向Y与第一方向X相交，中间焊盘组122c位于显示区AA在第二方向Y上的延伸区域内。一般情况下，中间焊盘组122c需要与测试线124或控制线123的第一端和第二端之间的中间区域连接，为了节约布线设置并能够快速将信号导入对应的测试线124或控制线123，可将中间焊盘组122c位于显示区AA在第二方向Y上的延伸区域内，便于通过较短路径与对应第三端连接。

参考图4，图4是本发明实施例提供的一种显示面板的非显示区的结构示意图，可选的，非显示区NA可以包括扇出区15和薄膜绑定区14；薄膜绑定区14设置有多个绑定焊盘141；扇出区15设置于显示区AA和薄膜绑定区14之间；扇出区15设置有多条扇出线151；扇出线151的第一端与显示区AA的数据线一一对应连接；扇出线151的第二端与绑定焊盘141一一对应连接；中间焊盘组122c设置于扇出区15；中间焊盘组122c中的每个第一焊盘1221和每个第二焊盘1222均设置于相邻两条扇出线151之间形成的避让区域152；且每个避让区域152仅设置一个第一焊盘1221或一个第二焊盘1222。

本实施中，显示面板可以覆晶薄膜(Chip On Flex，COF)的绑定形式将驱动芯片固定在柔性电路板上，并将柔性电路板绑定于显示面板上，有利于实现显示装置的窄边框设置。本实施例中非显示区NA可以包括扇出区15和薄膜绑定区14，扇出区15设置于显示区AA和薄膜绑定区14之间，用于设置多条扇出线151。扇出线151的第一端与显示区AA的数据线一一对应并连接，第二端与绑定焊盘141一一对应并连接。中间焊盘组122c可设置于扇出区15，并且中间焊盘组122c中的每个焊盘均设置于相邻两条扇出线151之间形成的避让区域152内，示例性的，如图4所示，中间焊盘组122c中的第一焊盘1221或第二焊盘1222均设置于相邻两条扇出线151之间形成的避让区域152，并且各个焊盘与避让区域152一一对应，每个焊盘均位于其对应的避让区域152内，也即，每个避让区域152仅对应一个第一焊盘1221或一个第二焊盘1222。本实施例中，中间焊盘组122c设置于扇出区15内，并且每个焊盘均设置于相邻两条扇出线151之间形成的避让区域152内，并未占用非显示区NA在第二方向Y上的空间，有利于在第二方向Y上实现窄边框设计，提升用户体验。

可选的，继续参考图4，本实施例中沿第一方向X上，第一端部焊盘组122a可以设置于薄膜绑定区14的左侧，第二端部焊盘组122b设置于与薄膜绑定区14的左侧相对的右侧，可进一步减少非显示区NA在第二方向Y上的空间设置，并且薄膜绑定区14两侧的非显示区空间较大，可设置尺寸较大或者焊盘分布范围较大的第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b，便于测试信号和开关信号的输入，减少信号串扰误差。需要注意的是，图4中为了清楚表示中间焊盘组122c中焊盘在避让区域152的设置情况，将示出的中间焊盘组122c内的焊盘尺寸大于第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b内的焊盘，但是本实施中，中间焊盘组122c、第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b中焊盘尺寸趋于一致。

可选的，如图4所示，每个焊盘组内的焊盘均可通过焊盘引线125与对应测试线连接，同理，每个焊盘组内的焊盘均可通过焊盘引线125与对应控制线连接。如图4所示，为了展示焊盘引线125的布线结构，将第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b中焊盘对应的焊盘引线125超出非显示区NA进行展示，但需要注意的是，中间焊盘组122c、第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b中焊盘以及所连接的焊盘引线125均位于非显示区NA。

可选的，参考图5，图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图，非显示区NA可以包括芯片绑定区16；芯片绑定区16包括输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162；输入引脚绑定焊盘161设置于芯片绑定区16远离显示区AA的一侧；输出引脚绑定焊盘162设置于芯片绑定区16靠近显示区AA的一侧；中间焊盘组122c设置于输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162之间的区域；沿第一方向X上，第一端部焊盘组122a设置于芯片绑定区16的左侧，第二端部焊盘组122b设置于与芯片绑定区16的左侧相对的右侧。

本实施中，显示面板可通过玻璃上芯片(Chip On Glass，COG)的绑定形式将驱动芯片直接绑定在显面板的基板上。该绑定方式能够减小模组体积。具体的，如图5所示，非显示区NA可以包括芯片绑定区16，芯片绑定区16包括输入引脚绑定焊盘161，输入引脚绑定焊盘161设置于芯片绑定区16远离显示区AA的一侧，用于接收外部输入的控制信号并输入值至驱动芯片，输出引脚绑定焊盘162设置于芯片绑定区16靠近显示区AA的一侧，芯片绑定区16还包括输出引脚绑定焊盘162，用于将驱动芯片输出的驱动信号输出。中间焊盘组122c可以c设置于输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162之间的区域，以减少非显示区NA在沿第二方向Y上的空间设置，沿第一方向X上，第一端部焊盘组122a设置于芯片绑定区16的左侧，第二端部焊盘组122b设置于与芯片绑定区16的左侧相对的右侧，或者，沿第一方向X上，第一端部焊盘组122a设置于芯片绑定区16的右侧，第二端部焊盘组122b设置于与芯片绑定区16的右侧相对的左侧，本实施例中第一端部焊盘组122a和第二端部焊盘组122b分别设置于芯片绑定区16左右相对两侧即可，以进一步减少非显示区NA在第二方向Y上的空间设置。

可选的，继续参考图5，非显示区NA可以包括芯片绑定区16；芯片绑定区16包括输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162；输入引脚绑定焊盘161设置于芯片绑定区16远离显示区AA的一侧；输出引脚绑定焊盘162设置于芯片绑定区16靠近显示区AA的一侧；测试开关单元和测试线设置于输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162之间。

本实施例中测试开关单元、测试线和控制线均可设置于输入引脚绑定焊盘161和输出引脚绑定焊盘162之间的区域，实现老化测试电路的合理布局，节省布局空间。

可选的，参考图6，图6是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图，非显示区NA可以包括扇出区15和芯片绑定区16；扇出区15设置于显示区和芯片绑定区16之间；显示区包括至少两个子显示区AA1；扇出区15包括与子显示区AA1一一对应的子扇出区153；子扇出区153设置有与对应子显示区AA1的数据线一一对应的扇出线151；每相邻两个子扇出区153之间设置有空隙区域154；扇出线151避开空隙区域154设置；中间焊盘组122c设置于空隙区域154内；沿第一方向X上，第一端部焊盘组122a设置于芯片绑定区16的左侧，第二端部焊盘组122b设置于与芯片绑定区16的左侧相对的右侧。

如图6所示，本实施例中显示区包括至少两个子显示区AA1，相应的，每个子显示区AA1均包括一一对应设置的子扇出区153，非显示区NA还包括芯片绑定区16，在沿第二方向Y上，扇出区15设置于显示区和芯片绑定区16之间。可选的，在沿第一方向X上，多个子扇出区153可依次排布。每相邻两个子扇出区153可形成有空隙区域154，扇出线151避开空隙区域154设置，则空隙区域154可用于设置中间焊盘组122c，以节省老化测试电路的布局空间，并能够通过中间焊盘组122c平衡测试线的时序延时，提高显示面板显示均匀性。

参考图7，图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的非显示区的结构示意图，可选的，非显示区NA可以包括n个子扇出区153；n为大于或等于2的整数；老化测试电路包括n-1个中间焊盘组122c；中间焊盘组122c与空隙区域154一一对应设置；中间焊盘组122c设置于对应空隙区域154内。

本实施中子扇出区153可包括n个子扇出区153，n为大于或等于2的整数，在沿第一方向X上，若每相邻两个子扇出区153均设置一个空隙区域154，则老化测试电路可设置n-1个中间焊盘组122c，分别设置于一一对应的空隙区域154内，便于空间布局和焊盘引线的设置，示例性的，如图6所示，当显示面板设置有两个子扇出区153时，形成一个空隙区域154，老化测试电路可设置一个中间焊盘组122c设置于上述唯一的一个空隙区域154。在另一示例中，当显示面板设置有3个子扇出区153，可形成两个空隙区域154，老化测试电路可设置两个中间焊盘组122c与上述空隙区域154一一对应设置，中间焊盘组122c设置于对应空隙区域154内。

可选的，继续参考图1，老化测试电路可以包括一个中间焊盘组122c；每条测试线124的第一端和第二端之间的线段包括中心区段D1；中心区段D1的中点与第一端之间的距离，与中点与第二端之间的距离相等；中心区段D1的长度在线段上的占比小于或等于30％；每条测试线的中心区段D1内设置一个第三端。

当老化测试电路可以包括一个中间焊盘组122c，可将老化测试电路的中间焊盘组122c中的焊盘连接的第三端设置于靠近每条测试线124的中点位置。但是每个中间焊盘组122c内均包括多个焊盘，不能保证每条测试线124和控制线123的第三端均为与其所处线段的中点，本实施可定义中心区段D1来设置第三端，本实施例对每条测试线124或控制线123设置中心区段D1，并且中心区段D1的中点即为每条测试线124或控制线123的第一端和第二端之间的中点。可选的，中间区段D1的长度在每条测试线124或控制线123的线段上的占比不超过30％，从而保证每条测试线124或控制线123的第三端均位于上述中间区段D1，靠近中点设置，提高每条测试线124或控制线123上信号的均匀性。

参考图8，图8是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，可选的，老化测试电路可以包括多个中间焊盘组122c；每条测试线124的第一端和第二端之间的线段设置有多个与中间焊盘组122c一一对应的中间区段D2；每条测试线124的第一端和相邻中间区段D2的中点，相邻两个中间区段D2的中点，以及第二端和相邻中间区段D2的中点之间的距离相等；中间区段D2的长度在线段上的占比小于或等于30％；每条测试线124的每个中间区段D2设置有一个第三端；中间区段D2的第三端与对应中间焊盘组122c中的一个第一焊盘1221连接。

当老化测试电路可以多个中间焊盘组122c，则每条测试线124可以设置与中间焊盘组122c数量相同的第三端，并且每条测试线124上，多个第三端优选为等间距设置。为了保证每条测试线124上的多个第三端分散设置，提高测试线124上接收的测试信号的均匀性。可对每条测试线124定义多个中间区段D2，则本实施例中，每条测试线124上第一端、多个中间区段D2和第二端依次设置，本实施例限制第一端和相邻的中间区段D2的中点，相邻两个中间区段D2的中点，以及第二端和相邻中间区段D2的中点之间的距离相等。每条测试线124的每个中间区段D2均设置有一个第三端，与对应中间焊盘组122c中对应的第一焊盘1221连接，从而实现每条测试线124的多个第三端近似等间距设置。可选的，中间区段D2的长度在线段(第一端和第二端之间的线段)上的占比小于或等于30％，以近一步提高测试线124上接收的测试信号的均匀性。

同理，每条控制线123的第一端和第二端之间的线段设置有多个与中间焊盘组122c一一对应的中间区段D2；每条控制线123的第一端和相邻中间区段D2的中点，相邻两个中间区段D2的中点，以及第二端和相邻中间区段D2的中点之间的距离相等；中间区段D2的长度在线段上的占比小于或等于30％；每条控制线123的每个中间区段D2设置有一个第三端；中间区段D2的第三端与对应中间焊盘组122c中的一个第二焊盘1222连接。

参考图9，图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，可选的，显示区AA可以包括阵列排布的多个像素单元13；像素单元13包括沿第二方向Y延伸的多个像素单元列；像素单元列沿第一方向X依次排布；像素单元列包括第一像素单元列131和第二像素单元列132；第一像素单元列131和第二像素单元列132沿第一方向X交替设置；第一像素单元列131包括沿第二方向Y交替设置的第一颜色像素单元和第二颜色像素单元；第二像素单元列132包括第三颜色像素单元；像素单元列与数据线11一一对应连接。

本实施显示区AA设置有沿第二方向Y延伸，并沿第一方向X依次排布的多个像素单元列，像素单元列包括交替设置的第一像素单元列131和第二像素单元列132，第一像素单元列131包括沿第二方向Y交替设置的第一颜色像素单元和第二颜色像素单元，第二像素单元列132包括第三颜色像素单元。图9仅示出了一种显示单元的排列形式，本实施例中，阵列排布的多个像素单元13可以为其他排列形式，本实施例对此不进行限定。

可选的，第一颜色可以为红色，第二颜色可以为蓝色，第三颜色可以为绿色。则第一像素单元列131包括沿第二方向Y交替设置的红色像素单元和蓝色像素单元，第二像素单元列132仅包括绿色像素单元。此外，第一颜色、第二颜色和第三颜色可以为其他颜色的组合，本实施例对此不进行限定。

继续参考图9，可选的，测试开关单元可以包括第一测试开关单元121a和第二测试开关单元121b；第一测试开关单元121a与第一像素单元列对应的数据线11连接；第二测试开关单元121b与第二像素单元列对应的数据线11连接；测试开关单元包括第一晶体管T1和第二晶体管T2；第一晶体管T1的第二端与第二晶体管T2的第二端连接作为测试开关单元的输出端；第一测试开关单元121a的第一晶体管T1的控制端连接第一控制线SW1，用于获取第一开关信号；第一测试开关单元121a的第一晶体管T1的第一端连接第一颜色测试线R，用于获取第一颜色测试信号；第一测试开关单元121a的第二晶体管T2的控制端连接第二控制线SW2，用于获取第二开关信号；第一测试开关单元121的第二晶体管T2的第一端连接第二颜色测试线B，用于获取第二颜色测试信号；第二测试开关单元121b的第一晶体管T1的控制端连接第一控制线SW1，用于获取第一开关信号；第二测试开关单元121的第二晶体管T2的控制端连接第二控制线SW2，用于获取第二开关信号；第二测试开关单元121的第一晶体管T1和第二晶体管T2的第一端均连接第三颜色测试线G，用于获取第三颜色测试信号。第一测试开关单元121a与第一像素单元列对应的数据线11连接，第二测试开关单元121b与第二像素单元列对应的数据线11连接，每个测试开关均包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，且第一晶体管T1的第二端与第二晶体管T2的第二端连接作为测试开关单元的输出端。对于第一测试开关单元121a，第一晶体管T1的控制端通过第一控制线SW1获取第一开关信号，第一端连接第一颜色测试线R以获取第一颜色测试信号；第二晶体管T2的控制端通过第二控制线SW2获取第二开关信号，第一端连接第二颜色测试线B以获取第二颜色测试信号，则第一测试开关单元121a的第一晶体管T1用于导入第一颜色测试信号至第一像素单元列，使得第一颜色像素单元发光，第一测试开关单元121a的第二晶体管T2用于导入第二颜色测试信号至第一像素单元列，使得第二颜色像素单元发光。同一时刻，第一晶体管T1和第二晶体管T2中仅存在一者的控制端被打开，可选的，第一控制线SW1输出的第一开关信号和第二控制线SW2输出的第二开关信号为互补信号。如图10所示，图10是图9中老化测试电路的驱动时序图。第一控制线SW1输出的第一开关信号与第二控制线SW2输出的第二开关信号时序相同，电位相反。

对于第二测试开关单元121b，第一晶体管T1的控制端连接第一控制线SW1以获取第一开关信号，第二晶体管T2的控制端连接第二控制线SW2以获取第二开关信号，第一晶体管T1和第二晶体管T2的第一端均连接第三颜色测试线G，用于获取第三颜色测试信号。

参考图9和图10，在显示面板进行老化测试的过程中，当数据线接收的为高电平时像素单元为低灰阶(未点亮)，当数据线接收的为低电平时像素单元为高灰阶(点亮)。在第一阶段S1，第二控制线SW2输出高电平，测试开关单元的第二晶体管T2导通，第一测试开关单元121a的第二晶体管T2将第二颜色测试信号(低电平)输送至第一像素单元列，第二颜色像素单元点亮，第二测试开关单元121b的第二晶体管T2将第三颜色测试信号(高电平)输送至第二像素单元列，第三颜色像素单元未点亮。在第二阶段S2，第二控制线SW1输出高电平，测试开关单元的第一晶体管T1导通，第一测试开关单元121a的第一晶体管T1将第一颜色测试信号(高电平)输送至第一像素单元列，第一颜色像素单元未点亮，第二测试开关单元121b的第一晶体管T1将第三颜色测试信号(高电平)输送至第二像素单元列，第三颜色像素单元关断。上述过程即为控制第二颜色像素单元单独点亮以进行老化测试的过程，示例性的，若第二颜色像素单元为蓝色像素单元，本实施例通过至少一组中间焊盘组的设置，避免了测试信号在测试线上的电压降，避免了中间区域和边缘区域中间蓝色像素单元衰减程度不一的情况，从而避免显示面板的颜色配比失衡导致白画面下边缘区域显示发黄的问题。

基于同一构思，本发明实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板，图11是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图，如图11所示，本实施例的方法包括如下步骤：

步骤S110、可在与任一控制线相连的第一端部焊盘组中的第二焊盘上、第二端部焊盘组中的第二焊盘上和中间焊盘组中的第二焊盘上同时输入开关信号，使各测试开关单元打开，同时在与任一测试线相连的第一端部焊盘组中的第一焊盘上、第二端部焊盘组中的第一焊盘上和中间焊盘组中的第一焊盘上同时输入测试信号，使同时来自于第一端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号、第二端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号和中间焊盘组中的第一焊盘上的测试信号输入到每条数据线上。

本实施例中，在对某一控制线输入控制信号以驱动测试开关单元时，可同时控制第一端部焊盘组、第二端部焊盘组以及中间焊盘组中对应的第二焊盘输入开关信号；与此同时，在对某一测试线输入测试信号以对像素单元进行老化测试时，同时控制第一端部焊盘组、第二端部焊盘组以及中间焊盘组中对应的第一焊盘输入测试信号，从而使得测试信号经过测试开关单元输入至数据线上，本实施例对某一控制线不同位置处同时输入开关信号，或者对某一测试线不同位置处同时输入测试信号，有效降低控制线或者测试线上不同位置的电压降，提高老化测试过程中，每列像素单元的亮度均匀性，避免因电阻负载引起的时序延时不同，有效改善显示面板边缘区域像素单元发黄的问题。

本发明实施例中，显示面板的非显示区包括老化测试电路，老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线，测试开关单元与显示区的数据线一一设置，并且测试开关单元的输入端连接测试线，输出端与对应的数据线连接，用于将测试信号输至对应数据线，并且测试开关单元的控制端与控制线连接，从而获取控制测试开关单元的开关信号。其中，老化测试电路还包括多个焊盘组，每个焊盘组包括与测试线一一对应的第一焊盘和与控制线一一对应的第二焊盘，焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组，第一端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线第一端，第二端部焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的第二端，中间焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的中间位置，也即第三端，则每条测试线的至少三个不同位置点可同时接收对应焊盘输入的测试信号，在老化测试过程中，采用多段式测试焊盘，使得测试线上不同位置的充电电位较为均匀，防止因为测试线电阻负载造成的测试线不同位置测试信号不一致的情况，进而防止显示区边缘区域像素单元亮度下降比中间区域像素单元快的情况，从而有效改善老化测试后显示区边缘区域显示发黄的问题，提高显示面板寿命。

本发明实施例还提供一种显示装置。图12是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，如图12所示，本发明实施例提供的显示装置包括本发明任意实施例的显示面板1。电子设备可以为如图12中所示的手机，也可以为电脑、电视机、智能穿戴设备等，本实施例对此不作特殊限定。本实施例中显示装置包括本发明任意实施例中显示面板的技术特征，具备本发明任意实施例中显示面板的有益效果。

可选的，显示装置可以为曲面显示装置。对于相同尺寸的显示装置，曲面显示装置的曲面显示面板的展开尺寸要大于平面显示面板，本实施例中的显示面板采用的老化测试电路包括多个焊盘组能够分段对一条测试线输入测试信号，有效平衡测试线的电压降，防止边缘区域像素单元接收的测试信号大于中间区域像素单元接收的测试信号，从而避免边缘区域像素单元的衰减大于中间区域像素单元的衰减，防止白画面下边缘区域像素单元发黄的现象。此外，本实施例中显示面板可以为尺寸较大的显示面板，多段式输入测试信号的老化测试方式有效降低了时序延时，在保证较佳显示效果的同时，可实现更大的显示面板尺寸。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (17)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：显示区和围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向依次排布的数据线；

所述非显示区包括老化测试电路；所述老化测试电路包括多个测试开关单元和至少一条测试线；所述测试开关单元与所述数据线一一对应设置；所述测试开关单元的输出端与对应所述数据线连接，用于为对应所述数据线输入测试信号；所述测试开关单元的输入端与对应测试线连接，用于获取对应测试信号；所述测试开关单元的控制端与对应控制线连接，用于获取对应开关信号；

所述老化测试电路还包括多个焊盘组；每个焊盘组包括与各所述测试线一一对应连接的第一焊盘和与各所述控制线一一对应连接的第二焊盘；所述第一焊盘用于输入所述测试信号至对应的所述测试线，所述第二焊盘用于输入所述开关信号至对应的所述控制线；所述焊盘组包括第一端部焊盘组、第二端部焊盘组和至少一个中间焊盘组；每条所述测试线的第一端连接所述第一端部焊盘组中的一个所述第一焊盘；每条所述测试线的第二端连接所述第二端部焊盘组中的一个所述第一焊盘；每条所述测试线的第三端连接所述中间焊盘组中的一个所述第一焊盘；所述测试线的第三端为中间焊盘组内的第一焊盘能够连接测试线的中间位置。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每条所述控制线的第一端连接所述第一端部焊盘组中的一个所述第二焊盘；每条所述控制线的第二端连接所述第二端部焊盘组中的一个所述第二焊盘；每条所述控制线的第三端连接所述中间焊盘组中的一个所述第二焊盘。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述数据线沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交，所述中间焊盘组位于所述显示区在所述第二方向上的延伸区域内。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括扇出区和薄膜绑定区；所述薄膜绑定区设置有多个绑定焊盘；所述扇出区设置于所述显示区和所述薄膜绑定区之间；所述扇出区设置有多条扇出线；所述扇出线的第一端与所述显示区的所述数据线一一对应连接；所述扇出线的第二端与所述绑定焊盘一一对应连接；

所述中间焊盘组设置于所述扇出区；所述中间焊盘组中的每个第一焊盘和每个第二焊盘均设置于相邻两条扇出线之间形成的避让区域；且每个所述避让区域仅设置一个所述第一焊盘或一个所述第二焊盘。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括芯片绑定区；所述芯片绑定区包括输入引脚绑定焊盘和输出引脚绑定焊盘；所述输入引脚绑定焊盘设置于所述芯片绑定区远离所述显示区的一侧；所述输出引脚绑定焊盘设置于所述芯片绑定区靠近所述显示区的一侧；

所述中间焊盘组设置于所述输入引脚绑定焊盘和输出引脚绑定焊盘之间的区域；沿所述第一方向上，所述第一端部焊盘组设置于所述芯片绑定区的左侧，所述第二端部焊盘组设置于与所述芯片绑定区的左侧相对的右侧。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括扇出区和芯片绑定区；所述扇出区设置于所述显示区和所述芯片绑定区之间；

所述显示区包括至少两个子显示区；所述扇出区包括与所述子显示区一一对应的子扇出区；所述子扇出区设置有与对应子显示区的所述数据线一一对应的扇出线；每相邻两个子扇出区之间设置有空隙区域；所述扇出线避开所述空隙区域设置；

所述中间焊盘组设置于所述空隙区域内；沿所述第一方向上，所述第一端部焊盘组设置于所述芯片绑定区的左侧，所述第二端部焊盘组设置于与所述芯片绑定区的左侧相对的右侧。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括n个子扇出区；n为大于或等于2的整数；

所述老化测试电路包括n-1个中间焊盘组；所述中间焊盘组与所述空隙区域一一对应设置；所述中间焊盘组设置于对应所述空隙区域内。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述老化测试电路包括一个中间焊盘组；

每条所述测试线的第一端和第二端之间的线段包括中心区段；所述中心区段的中点与所述第一端之间的距离，与所述中点与所述第二端之间的距离相等；所述中心区段的长度在所述线段上的占比小于或等于30％；

每条所述测试线的中心区段内设置一个所述第三端。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述老化测试电路包括多个中间焊盘组；每条所述测试线的第一端和第二端之间的线段设置有多个与所述中间焊盘组一一对应的中间区段；每条所述测试线的第一端和相邻中间区段的中点，相邻两个中间区段的中点，以及第二端和相邻中间区段的中点之间的距离相等；所述中间区段的长度在所述线段上的占比小于或等于30％；

每条所述测试线的每个中间区段设置有一个所述第三端；所述中间区段的第三端与对应中间焊盘组中的一个所述第一焊盘连接。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括芯片绑定区；所述芯片绑定区包括输入引脚绑定焊盘和输出引脚绑定焊盘；所述输入引脚绑定焊盘设置于所述芯片绑定区远离所述显示区的一侧；所述输出引脚绑定焊盘设置于所述芯片绑定区靠近所述显示区的一侧；

所述测试开关单元和所述测试线设置于所述输入引脚绑定焊盘和所述输出引脚绑定焊盘之间。

11.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每个所述焊盘组内的焊盘均通过焊盘引线与对应所述测试线连接。

12.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括阵列排布的多个像素单元；所述像素单元包括沿所述第二方向延伸的多个像素单元列；所述像素单元列沿所述第一方向依次排布；

所述像素单元列包括第一像素单元列和第二像素单元列；所述第一像素单元列和第二像素单元列沿所述第一方向交替设置；所述第一像素单元列包括沿所述第二方向交替设置的第一颜色像素单元和第二颜色像素单元；所述第二像素单元列包括第三颜色像素单元；

所述像素单元列与所述数据线一一对应连接。

13.根据权利要求12所述的显示面板，其特征在于，所述测试开关单元包括第一测试开关单元和第二测试开关单元；所述第一测试开关单元与所述第一像素单元列对应的数据线连接；所述第二测试开关单元与所述第二像素单元列对应的数据线连接；

所述测试开关单元包括第一晶体管和第二晶体管；所述第一晶体管的第二端与所述第二晶体管的第二端连接作为所述测试开关单元的输出端；

所述第一测试开关单元的第一晶体管的控制端连接第一控制线，用于获取第一开关信号；所述第一测试开关单元的第一晶体管的第一端连接第一颜色测试线，用于获取第一颜色测试信号；所述第一测试开关单元的所述第二晶体管的控制端连接第二控制线，用于获取第二开关信号；所述第一测试开关单元的所述第二晶体管的第一端连接第二颜色测试线，用于获取第二颜色测试信号；

所述第二测试开关单元的第一晶体管的控制端连接所述第一控制线，用于获取所述第一开关信号；所述第二测试开关单元的所述第二晶体管的控制端连接所述第二控制线，用于获取所述第二开关信号；所述第二测试开关单元的所述第一晶体管和所述第二晶体管的第一端均连接第三颜色测试线，用于获取第三颜色测试信号。

14.根据权利要求12所述的显示面板，其特征在于，所述第一颜色为红色，所述第二颜色为蓝色，所述第三颜色为绿色。

15.一种显示面板的测试方法，其特征在于，用于检测上述权利要求1-14任一项所述的显示面板，所述显示面板的测试方法包括：

在与任一控制线相连的第一端部焊盘组中的第二焊盘上、第二端部焊盘组中的第二焊盘上和中间焊盘组中的第二焊盘上同时输入所述开关信号，使各所述测试开关单元打开，同时在与任一测试线相连的第一端部焊盘组中的第一焊盘上、第二端部焊盘组中的第一焊盘上和中间焊盘组中的第一焊盘上同时输入所述测试信号，使同时来自于所述第一端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号、第二端部焊盘组中的第一焊盘上的测试信号和中间焊盘组中的第一焊盘上的测试信号输入到每条所述数据线上。

16.一种显示装置，其特征在于，包括上述权利要求1-14任一项所述的显示面板。

17.根据权利要求16所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置为曲面显示装置。

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