CN113535003A - 显示面板 - Google Patents

显示面板 Download PDF

Info

Publication number
CN113535003A
CN113535003A CN202110868268.7A CN202110868268A CN113535003A CN 113535003 A CN113535003 A CN 113535003A CN 202110868268 A CN202110868268 A CN 202110868268A CN 113535003 A CN113535003 A CN 113535003A
Authority
CN
China
Prior art keywords
touch
pins
control
multiplexing
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110868268.7A
Other languages
English (en)
Inventor
许祖钊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Original Assignee
Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd filed Critical Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority to CN202110868268.7A priority Critical patent/CN113535003A/zh
Priority to PCT/CN2021/116636 priority patent/WO2023004932A1/zh
Priority to US17/611,556 priority patent/US20240045545A1/en
Publication of CN113535003A publication Critical patent/CN113535003A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2891—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04164—Connections between sensors and controllers, e.g. routing lines between electrodes and connection pads
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • H01L27/1244—
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0404—Matrix technologies
    • G09G2300/0413—Details of dummy pixels or dummy lines in flat panels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0297—Special arrangements with multiplexing or demultiplexing of display data in the drivers for data electrodes, in a pre-processing circuitry delivering display data to said drivers or in the matrix panel, e.g. multiplexing plural data signals to one D/A converter or demultiplexing the D/A converter output to multiple columns

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供了显示面板，该显示面板包括显示区和位于显示区一侧的端子区，端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，驱动芯片区内设有多条触控引线，多条触控引线的第一端电性连接于显示区内的多个触控电极，本发明将用于传输测试信号的、电性连接于多条触控引线的第二端的多个测试引脚也设于驱动芯片区内，以使测试信号传输至多个触控电极，即可以规避在端子区中的走线区内排列数目较多的多个测试引脚，降低了因测试引脚数量较多而无法排列于端子区中的走线区所导致的无法进行触控测试的风险，提高了产品的良率，降低了产品的成本。

Description

显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及显示器件的制造，具体涉及显示面板。
背景技术
自电容式的触控显示面板具有整体厚度较小、较轻薄的特点，每个感应块通过走线接收或者发送触控信号，实现触控功能。
目前，SDOT(Self-capacitance Direct On Cell Touch,自容oncell触摸显示屏)产品中，由于采用自容式触摸方式，面板内的连接多个触控电极的多条走线的数目较多，较多的走线无法直接排列于走线区以加载测试信号，故目前的SDOT产品没有触控测试的方案，导致产品的良率较低，增加了产品的成本。
因此，有必要提供可以实现对SDOT面板进行触控测试以提高产品良率、降低产品成本的显示面板。
发明内容
本发明的目的在于提供显示面板，解决了现有技术中因面板的走线区的尺寸有限，较多的走线无法直接排列于走线区以加载测试信号，而导致的无法进行触控测试的问题。
本发明实施例提供显示面板，所述显示面板包括显示区和至少位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述显示区内设有：
多条触控引线和多个触控电极，多条所述触控引线的第一端电性连接于多个所述触控电极；
所述驱动芯片区内设有：
多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。
在一实施例中，多条所述触控引线沿第一方向排列，多个所述测试引脚沿所述第一方向排列，所述第一方向平行于所述显示区靠近所述驱动芯片区的一侧。
在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
复用电路，所述复用电路包括多个复用输入端和多个复用输出端；
其中，所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚一一对应，多个所述复用输出端和多个所述触控引线一一对应，每一所述复用输入端电性连接于对应的所述测试引脚，每一所述复用输出端电性连接于对应的所述触控引线。
在一实施例中，所述复用电路位于多个所述测试引脚和多条所述触控引线之间，多个所述复用输入端沿所述第一方向排列，多个所述复用输出端沿所述第一方向排列。
在一实施例中，所述端子区包括围绕所述驱动芯片区设置的走线区，所述走线区内设有：
多个第一控制引脚，多个所述第一控制引脚用于传输第一控制信号；
其中，所述复用电路还包括多个控制端，多个所述控制端电性连接于多个所述第一控制引脚，以使所述第一控制信号传输至多个所述控制端，以控制多个所述复用输入端和多个所述复用输出端之间的导通状态。
在一实施例中，多个所述第一控制引脚沿所述第一方向排列，多个所述第一控制引脚在所述第一方向上的对称轴和多个所述测试引脚在所述第一方向上的对称轴重合。
在一实施例中，所述走线区内还设有：
多个第二控制引脚，多个所述第二控制引脚用于传输第二控制信号；
其中，多个所述第二控制引脚和多个所述第一控制引脚一一对应，每一所述第二控制引脚电性连接于对应的所述第一控制引脚，以使所述第二控制信号传输至多个所述控制端，以电性断开多个所述复用输入端和多个所述复用输出端。
在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
多个触控引脚，多个所述触控引脚用于传输触控信号；
其中，多个所述触控引脚和多条所述触控引线一一对应，多个所述触控引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述触控信号传输至多个所述触控电极。
在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
多个数据引脚组，每一所述数据引脚组包括多个数据引脚，所述数据引脚用于传输数据信号；
其中，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组沿所述第一方向交替排列，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组通过绑定至同一所述驱动芯片以进行所述触控信号和所述数据信号的传输。
在一实施例中，所述驱动芯片区内还设有：
多个虚拟引脚，多个所述虚拟引脚位于多个所述测试引脚和所述复用电路靠近多个所述第一控制引脚的一侧，多个所述虚拟引脚沿第二方向排布，所述第二方向垂直于所述第一方向；
其中，相邻两所述虚拟引脚之间设有连接于一所述控制端和对应的所述第一控制引脚的连接线。
本发明提供了显示面板，所述显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述驱动芯片区内设有：多条触控引线，多条所述触控引线的第一端电性连接于所述显示区内的多个触控电极；多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号；其中，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。本发明通过将用于传输测试信号的多个所述测试引脚也设于所述驱动芯片区内，避免将数量较多的多个所述测试引脚引出至排列于所述走线区内，降低了因测试引脚数量较多而无法排列于端子区中的走线区所导致的无法进行触控测试的风险，提高了产品的良率，降低了产品的成本。
附图说明
下面通过附图来对本发明进行进一步说明。需要说明的是，下面描述中的附图仅仅是用于解释说明本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的显示面板的第一种实施例的俯视示意图。
图2为本发明实施例提供的显示面板的第二种实施例的俯视示意图。
图3为本发明实施例提供的显示面板的第三种实施例的俯视示意图。
图4为本发明实施例提供的复用电路的等效电路图。
图5为本发明实施例提供的显示面板的第四种实施例的俯视示意图。
图6为本发明实施例提供的显示面板的第五种实施例的俯视示意图。
图7为本发明实施例提供的显示面板的第六种实施例的俯视示意图。
图8为本发明实施例提供的显示面板的第七种实施例的俯视示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“靠近”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，例如，“上”只是表面在物体上方，具体指代正上方、斜上方、上表面都可以，只要居于物体水平之上即可，以上方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
另外，还需要说明的是，附图提供的仅仅是和本发明关系比较密切的结构和步骤，省略了一些与发明关系不大的细节，目的在于简化附图，使发明点一目了然，而不是表明实际中装置和方法就是和附图一模一样，不作为实际中装置和方法的限制。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。另外，还需要说明的是，附图提供的仅仅是和本发明关系比较密切的结构，省略了一些与发明关系不大的细节，目的在于简化附图，使发明点一目了然，而不是表明实际中装置就是和附图一模一样，不作为实际中装置的限制。
本发明提供显示面板，所述显示面板包括但不限于以下实施例以及以下实施例的组合。
在一实施例中，如图1所示，所述显示面板100包括显示区01和至少位于所述显示区01一侧的端子区02，所述端子区02包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区03，所述显示区01内设有多条触控引线10和多个触控电极，多条所述触控引线10的第一端电性连接于多个所述触控电极；所述驱动芯片区03内设有多个测试引脚20，多个所述测试引脚20用于传输测试信号；其中，多个所述测试引脚20电性连接于多条所述触控引线10的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。
其中，所述显示区01可以呈矩形，所述端子区02可以围绕所述显示区01的左侧，下侧和右侧排布，图1中展示的为自所述显示区01的左下角至对应的所述端子区02的部分区域的俯视图。进一步的，所述驱动芯片区03可以至少位于所述显示区01的下侧，所述驱动芯片区03上可以设置有多个面板引脚，所述驱动芯片上也可以设置有多个芯片引脚，所述驱动芯片可以通过绑定至所述端子区02中上的所述驱动芯片区03，以使部分所述面板引脚和部分所述芯片引脚电性连接。
具体的，多个所述触控电极可以成行、成列或者矩阵排布于所述显示区01，多个所述触控电极可以通过自容或者互容的方式实现触控功能。特别的，当多个所述触控电极通过自容的方式实现触控功能时，所述触控电极的数目较多，无法分别引出至所述端子区02中的除去所述驱动芯片区03外的区域以加载相应的触控测试信号，造成无法进行触控测试。
在一实施例中，如图2所示，多条所述触控引线10沿第一方向001排列，多个所述测试引脚20沿所述第一方向001排列，所述第一方向001平行于所述显示区01靠近所述驱动芯片区03的一侧。可以理解的，多条所述触控引线10和多个所述测试引脚20的排列方向相同，并且均为所述第一方向001，可以便于多条所述触控引线10和多个所述测试引脚20之间的对位；其中，多条所述触控引线10的数目可以等于或者不等于多个所述测试引脚20的数目，进一步的，多条所述触控引线10在第二方向002上的对称轴和多个所述测试引脚20在所述第二方向002上的对称轴可以重合，以缩短多条所述触控引线10和多个所述测试引脚20之间的距离，所述第二方向002可以垂直于所述第一方向001。
在一实施例中，如图1所示，所述驱动芯片区03内还设有：复用电路30，所述复用电路30包括多个复用输入端和多个复用输出端；其中，所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚20一一对应，多个所述复用输出端和多个所述触控引线10一一对应，每一所述复用输入端电性连接于对应的所述测试引脚20，每一所述复用输出端电性连接于对应的所述触控引线10。
可以理解的，由于所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，即所述测试引脚20的数目小于所述触控引线10，即数目较多的多条所述触控引线10可以通过所述复用电路30电性连接至数目较少的多个所述测试引脚20以实现将所述测试信号传输至多个所述触控电极，极大地节省了用于设置多个所述测试引脚20的空间。
在一实施例中，如图2所示，所述复用电路30位于多个所述测试引脚20和多条所述触控引线10之间，多个所述复用输入端沿所述第一方向001排列，多个所述复用输出端沿所述第一方向001排列。可以理解的，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚20的排列方向相同，并且均为所述第一方向001，便于多个所述复用输入端和多个所述测试引脚20的对位和连接；同理，本实施例也便于多个所述复用输出端和多条所述触控引线10的对位和连接。并且，在所述复用电路30位于多个所述测试引脚20和多条所述触控引线10之间的基础上，将多个所述复用输入端设于靠近多个所述测试引脚20的一侧，将多个所述复用输出端设于靠近多个所述触控引线10的一侧，可以缩短所述复用电路30和多个所述测试引脚20、多条所述触控引线10的连接距离，提高电性连接的可靠性。
其中，如图3所示，所述复用电路30可以包括第一复用电路301和第二复用电路302，所述第一复用电路301连接于多个所述复用输入端和所述第二复用电路302之间，所述第二复用电路302连接于所述第一复用电路301和多个所述复用输出端之间，所述第一复用电路301和所述第二复用电路302可以相同或者不同。具体的，如图3所示，此处以所述测试引脚20的数目为6、所述第一复用电路301为1to3复用电路、所述第二复用电路302为1to4复用电路为例进行说明。
其中，如图4所示，所述第一复用电路301可以包括多个第一单元3011，每一所述第一单元3011可以具有一个第一输入端和三个第一输出端，所述第二复用电路302可以包括多个第二单元3021，每一所述第二单元3021可以具有一个第二输入端和四个第二输出端。具体的，每一所述第一单元3011的所述第一输入端可以电性连接至对应的所述测试引脚20，每一所述第一单元3011的其中一所述第一输出端可以电性连接至一所述第二单元3021的所述第二输入端，每一所述第二单元3021的所述第二输出端可以电性连接至对应的所述触控引线10。进一步的，每一所述第一单元3011中，每一所述第一输入端和每一所述第一输出端之间设有第一晶体管3012，结合图5所示，所述第一晶体管3012的源极3013和漏极3014分别连接至对应的所述第一输入端和所述第一输出端；每一所述第二单元3021中，每一所述第二输入端和每一所述第二输出端之间设有第二晶体管3022，结合图6所示，所述第二晶体管3022的源极3023和漏极3024分别连接至对应的所述第二输入端和所述第二输出端。
需要注意的是，每一所述第一单元3011中的多个所述第一晶体管3012的开启时间段不重叠，即每一所述第一单元3011在每一时刻只有其中一所述第一晶体管3012开启以将所述第一输入端与其中一所述第一输出端电性连接；同理，每一所述第二单元3021中的多个所述第二晶体管3022的开启时间段不重叠，即每一所述第二单元3021在每一时刻只有其中一所述第二晶体管3022开启以将所述第二输入端与其中一所述第二输出端电性连接。因此，对于每一所述测试引脚20而言，虽然所述测试引脚20通过连接至一个所述第一单元3011和三个所述第二单元3021连接至十二条所述触控引线10，但是在每一时刻，所述第一单元3011中的其中一所述第一晶体管3012开启使得所述测试引脚20电性连接至对应的所述第二单元3021的所述第一输入端，并且对应的所述第二单元3021中的其中一所述第二晶体管3022开启使得所述测试引脚20通过所述第二晶体管3022电性连接至对应的所述触控引线10。
进一步的，如图3和图4所示，所述第一复用电路301和所述第二复用电路302之间可以设有防静电电路304，所述防静电电路304的两端分别电性连接于所述第一复用电路301和所述第二复用电路302。具体的，如图4所示，所述防静电电路304可以包括多个防静电单元3041，每一所述防静电单元3041包括一个防静电输入端和一个防静电输出端，所述防静电输入端电性连接于对应的一个所述第一晶体管3012的漏极3014，所述防静电输出端电性连接于对应的四个所述第二晶体管3022的源极3023。
在一实施例中，如图1所示，所述端子区02包括围绕所述驱动芯片区03设置的走线区04，所述走线区04内设有：多个第一控制引脚40，多个所述第一控制引脚40用于传输第一控制信号；其中，结合图5至图6所示，所述复用电路30还包括多个控制端303，多个所述控制端303电性连接于多个所述第一控制引脚40，以使所述第一控制信号传输至多个所述控制端303，以控制多个所述复用输入端和多个所述复用输出端之间的导通状态。
其中，如图4至图6所示，多个所述控制端303可以包括多个所述第一晶体管3012中的多个栅极和多个所述第二晶体管3022中的多个栅极，每一所述第一单元3011中的三个所述第一晶体管3012中的三个栅极可以电性连接至不同的所述第一控制引脚40以保证三个所述第一晶体管3012在不同的时刻开启，每一所述第二单元3021中的四个所述第二晶体管3022中的四个栅极可以电性连接至不同的所述第一控制引脚40以保证四个所述第二晶体管3022在不同的时刻开启。需要注意的是，由于所述驱动芯片区03的空间有限，多个所述第一控制引脚40可以设置于所述走线区04，再通过走线连接至所述复用电路30中的多个所述控制端303。可以理解的，将多个所述第一控制引脚40设置在所述走线区04，可以避免占用所述驱动芯片区03的空间，降低了所述驱动芯片区03中线路接触而干扰甚至短路的风险，提高了线路传输信号的可靠性。
进一步的，结合图4和图5所示，由于不同的所述第一单元3011的所述第一输入端电性连接于不同的所述测试引脚20，即不同的所述第一单元3011的所述源极3013中接收的测试信号不同，或者不同时接收到测试信号，那么位于不同的所述第一单元3011的不同的所述控制端303可以通过同一条第一引线3031电性连接于同一所述第一控制引脚40；同理，结合图4和图6所示，由于不同的第二单元3021的所述第二输入端电性连接于不同的所述第一单元3011的所述第一输出端，即不同的第二单元3021中的所述第二晶体管3022不同时开启，或者接收的测试信号不同，那么位于不同的所述第二单元3021的不同的所述控制端303可以通过同一条第二引线3032电性连接于同一所述第一控制引脚40。
具体的，此处以所述测试引脚20的数目为6进行说明。结合图4和图5所示，每一所述第一单元3011中的三个所述第一晶体管3012可以分别位于三行，三个所述第一晶体管3012的源极3013电性连接以作为对应的所述第一输入端，所述第一输入端电性连接至对应的所述测试引脚20，进一步的，如图3所示，六个所述测试引脚20分别连接于所述第一复用电路301中对应的六个所述第一单元3011的所述第一输入端；同时，如图5所示，在所述第一复用电路301中，位于同一行的多个所述第一晶体管3012对应的多个所述控制端303可以通过同一条所述第一引线3031电性连接于同一所述第一控制引脚40。结合图4和图6所示，每一所述第二单元3021中的四个所述第二晶体管3022也可以分别位于四行，四个所述第二晶体管3022的源极3023电性连接以作为对应的所述第二输入端，所述第二输入端电性连接于对应的所述第一输出端，进一步的，如图3所示，十八个所述第一输出端分别连接于所述第二复用电路302中对应的十八个所述第二单元3021的所述第二输入端；同时，如图6所示，在所述第二复用电路302中，位于同一行的多个所述第二晶体管3022对应的多个所述控制端303可以通过同一条所述第二引线3032电性连接于同一所述第一控制引脚40。
在一实施例中，如图1和图7所示，多个所述第一控制引脚40沿所述第一方向001排列，多个所述第一控制引脚40在所述第一方向001上的对称轴和多个所述测试引脚20在所述第一方向001上的对称轴重合。其中，结合图4和图6可知，所述第一引线3031的数目等于同一所述第一单元3011中的所述第一晶体管3012的数目，即为3，所述第二引线3032的数目等于同一所述第二单元3021中的所述第二晶体管3022的数目，即为4；进一步的，如图7所示，部分所述第一控制引脚40还可以通过多条第三引线3033电性连接于多个所述第一晶体管3012和多个所述第二晶体管3022，可以理解的，当多个所述第一晶体管3012、多个所述第二晶体管3022中的至少一者电性连接于对应的所述测试引脚20时，为降低其它未电性连接于对应的所述测试引脚20的多个所述第一晶体管3012、多个所述第二晶体管3022对触控测试的影响，可以通过多条所述第三引线3033向未电性连接于对应的所述测试引脚20的多个所述第一晶体管3012、多个所述第二晶体管3022输入特定电压的电信号。
具体的，在进行触控测试阶段，可以向多个第一控制引脚40输入所述第一控制信号以控制至少一所述复用输入端和至少一所述复用输出端之间导通以形成至少一电流通道，以及向多个所述测试引脚20输入所述测试信号以通过所述至少一电流通道向对应的至少一所述触控电极输入所述测试信号，以实现触控测试。需要明白的是，由于所述走线区04的空间足够大，有利于多个所述第一控制引脚40的排布，因此将多个所述第一控制引脚40可以设置于所述走线区04，可以实现本实施例中的多个所述第一控制引脚40沿所述第一方向001排列，结合上文论述，可以采用扎针的方式将多个探针分别扎到对应的所述第一控制引脚40和对应的所述测试引脚20，因此，将多个所述第一控制引脚40在所述第一方向001上的对称轴和多个所述测试引脚20在所述第一方向001上的对称轴设置为重合，可以便于多个所述探针同时和多个所述第一控制引脚40、多个所述测试引脚20进行对位，也便于厂家将多个所述探针沿同一方向设置。
在一实施例中，所述走线区04内还设有：多个定位标记90，多个所述定位标记90可以位于多个所述第一控制引脚40远离多个所述测试引脚20的一侧，多个定位标记90用于将多个所述第一控制引脚40和多个探针进行定位。具体的，沿所述第一方向001排布的多个所述定位标记90在所述第一方向001上的对称轴可以和多个所述第一控制引脚40在所述第一方向001上的对称轴重合，多个所述定位标记90还可以沿所述第二方向002排布。
在一实施例中，如图1和图8所示，所述走线区04内还设有：多个第二控制引脚50，多个所述第二控制引脚50用于传输第二控制信号；其中，多个所述第二控制引脚50和多个所述第一控制引脚40一一对应，每一所述第二控制引脚50电性连接于对应的所述第一控制引脚40，如图5和图6所示，以使所述第二控制信号传输至多个所述控制端303，以电性断开多个所述复用输入端和多个所述复用输出端。
可以理解的，当多个所述第一晶体管3012和多个所述第二晶体管3022均为P型晶体管时，即低电位导通，此时每一所述第二控制引脚50上加载的所述第二控制信号均可以为高电位电压，所述高电位电压的电压值大于所述低电位的电压值，以使得多个所述第一晶体管3012和多个所述第二晶体管3022均关闭。
具体的，当触控测试阶段结束后，可以向多个所述第二控制引脚50输入所述第二控制信号以控制至少任一所述复用输入端和任一所述复用输出端之间均电性断开以避免形成任一电流通道，避免所述复用电路30漏电造成显示异常。其中，可以采用绑定的方式将具有多个端子的柔性电路板绑定至多个所述第二控制引脚50上，通过向柔性电路板加载所述第二控制信号，以通过柔性电路板上的多个端子将所述第二控制信号传输至多个所述第二控制引脚50。
其中，如图1所示，在所述第二方向002上，多个所述第二控制引脚50可以位于多个所述第一控制引脚40远离所述显示区01的一侧，多个所述第二控制引脚50可以沿所述第一方向001排列。可以理解的，将多个所述第二控制引脚50设于靠近所述显示面板的边缘区域不仅有利于多个所述第二控制引脚50进行绑定处理，而且所述显示面板的边缘区在所述第一方向001上的尺寸较大，便于设置尺寸较大的多个所述第二控制引脚50。进一步的，多个所述第二控制引脚50在所述第二方向002上的对称轴和多个所述第一控制引脚40在所述第二方向002上的对称轴可以重合，可以进一步缩短多个所述第二控制引脚50和多个所述第一控制引脚40连接的距离，提高电性连接的可靠性。进一步的，多个所述第一控制引脚40和多个所述第二控制引脚50之间也可以设置防静电电路以提高电路的可靠性。
在一实施例中，如图1和图2所示，所述驱动芯片区03内还设有：多个触控引脚组60，每一所述触控引脚组60包括多个触控引脚，所述触控引脚用于传输触控信号；其中，多个触控引脚组60中的多个所述触控引脚和多条所述触控引线10一一对应，多个所述触控引脚电性连接于多条所述触控引线10的第二端，以使多个所述触控信号传输至多个所述触控电极。
具体的，如图1和图2所示，靠近所述驱动芯片区03边缘处的所述触控引脚组60可以位于多条所述触控引线10和所述复用电路30之间。需要注意的是，在进行触控测试阶段，所述触控引脚60组并未进行扎针或者绑定处理，所述触控引脚组60的两端分别连接于所述复用电路30的多个所述复用输出端和多条所述触控引线10，即所述测试信号依次经过多个所述测试引脚20、所述复用电路30、所述触控引脚组60和多条所述触控引线10传输至多个所述触控电极。当然，当触控测试阶段结束后，根据上文论述可知，任一所述复用输入端和任一所述复用输出端之间均电性断开，此时可以向所述触控引脚输入对应的所述触控信号以通过所述触控引线10传输至多个所述触控电极，以实现触控识别。
在一实施例中，如图1所示，所述驱动芯片区03内还设有：多个数据引脚组11，每一所述数据引脚组11包括多个数据引脚，所述数据引脚用于传输数据信号；其中，多个所述数据引脚组11和多个所述触控引脚组60沿所述第一方向001交替排列，多个所述数据引脚组11和多个所述触控引脚组60通过绑定至同一所述驱动芯片以进行所述触控信号和所述数据信号的传输。
具体的，如图1所示，所述显示区01内还设有多条数据引线12和多个显示单元，每一所述数据引线12的第一端电性连接于对应的多个所述显示单元，每一所述数据引线12的第一端电性连接于对应的数据引脚，以使所述数据信号传输至多个所述显示单元。可以理解的，所述驱动芯片上可以设有沿一方向交替排布的多个数据端子组和多个触控端子组，进一步的，数据端子组的数目可以等于数据引脚组11的数目，触控端子组的数目可以等于触控引脚组60的数目，使得将多个所述数据引脚组11和多个所述触控引脚组60绑定至所述驱动芯片时，每一所述数据引脚组11可以和对应的所述数据端子组电性连接，且每一所述触控引脚组60可以和对应的所述触控端子组电性连接。其中，包括如上文的交替排列的多个所述数据引脚组11和多个所述触控引脚组60、交替排列的多个所述数据端子组和多个所述触控端子组形成的TDDI(Touch Display Diver Integrated,触控驱动芯片与显示驱动芯片合二为一)产品也适用于本申请中的各个实施例以及多个实施例的组合。
在一实施例中，如图1和图2所示，所述驱动芯片区03内还设有：多个虚拟引脚70，多个所述虚拟引脚70位于多个所述测试引脚20和所述复用电路30靠近多个所述第一控制引脚40的一侧，多个所述虚拟引脚70沿所述第二方向002排布；其中，结合图1至图3、图5至图6所示，相邻两所述虚拟引脚70之间设有连接于一所述控制端303和对应的所述第一控制引脚40的连接线80。可以理解的，多个所述虚拟引脚70可以用于分隔多个所述连接线80，以防止多个所述连接线80距离过近而发生信号干扰。
需要注意的是，所述驱动芯片上可以设有多个端子，多个所述端子可以至少与多个所述触控引脚60、多个所述虚拟引脚70一一对应，当触控测试结束后，多个所述端子可以至少与多个所述触控引脚60、多个所述虚拟引脚70绑定，并且所述驱动芯片可以覆盖所述驱动芯片区03，需要注意的是，所述驱动芯片上与多个所述测试引脚20和所述复用电路30对应的区域可以做留白处理，即不设置任何端子。
本发明还提供测试治具，所述测试治具用于对如上文任一所述的显示面板进行触控检测，所述测试治具包括但不限于以下实施例以及以下实施例的组合。
在一实施例中，所述测试治具包括：多个第一探针，多个所述第一探针用于传输所述测试信号；其中，多个所述第一探针和多个所述测试引脚一一对应，多个所述第一探针用于扎针至多个所述测试引脚，以向多个所述测试引脚传输所述测试信号。具体的，由于多个所述测试引脚的尺寸和距离都过小，不便于直接将信号通过导线直接加载于所述测试引脚上，可以将信号源产生的所述测试信号加载在至少一所述第一探针上，从而传输到位于所述显示面板上的至少一所述测试引脚上。
在一实施例中，所述显示面板包括如上文所述的多个第一控制引脚，所述测试治具还包括：多个第二探针，多个所述第二探针用于传输第一控制信号；其中，多个所述第二探针和多个所述第一控制引脚一一对应，多个所述第二探针用于扎针至多个所述第一控制引脚，以向多个所述第一控制引脚传输所述第一控制信号；其中，在多个所述第一探针和多个所述第二探针排列的方向上，多个所述第一探针的对称轴和多个所述第二探针的对称轴重合。
结合上文分析可知，将多个所述第一控制引脚40在所述第一方向001上的对称轴和多个所述测试引脚20在所述第一方向001上的对称轴设置为重合，可以便于多个所述第一探针和多个所述第一控制引脚40进行对位的同时，多个所述第二探针也可以和多个所述测试引脚20进行对位，便于厂家将多个所述第一探针和多个所述第二探针沿同一方向设置，节省成本和降低对位难度。
本发明提供了显示面板和测试治具，所述显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述驱动芯片区内设有：多条触控引线，多条所述触控引线的第一端电性连接于所述显示区内的多个触控电极；多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号；其中，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。本发明通过将用于传输测试信号的多个所述测试引脚也设于所述驱动芯片区内，避免将数量较多的多个所述测试引脚引出至排列于所述走线区内，降低了因测试引脚数量较多而无法排列于端子区中的走线区所导致的无法进行触控测试的风险，提高了产品的良率，降低了产品的成本。
以上对本发明实施例所提供的显示面板和测试治具进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和至少位于所述显示区一侧的端子区，所述端子区包括与驱动芯片绑定的驱动芯片区，所述显示区内设有：
多条触控引线和多个触控电极，多条所述触控引线的第一端电性连接于多个所述触控电极；
所述驱动芯片区内设有：
多个测试引脚，多个所述测试引脚用于传输测试信号，多个所述测试引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述测试信号传输至多个所述触控电极。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多条所述触控引线沿第一方向排列，多个所述测试引脚沿所述第一方向排列，所述第一方向平行于所述显示区靠近所述驱动芯片区的一侧。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片区内还设有：
复用电路，所述复用电路包括多个复用输入端和多个复用输出端；
其中，所述复用输入端的数目小于所述复用输出端的数目，多个所述复用输入端和多个所述测试引脚一一对应，多个所述复用输出端和多个所述触控引线一一对应，每一所述复用输入端电性连接于对应的所述测试引脚，每一所述复用输出端电性连接于对应的所述触控引线。
4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述复用电路位于多个所述测试引脚和多条所述触控引线之间，多个所述复用输入端沿所述第一方向排列，多个所述复用输出端沿所述第一方向排列。
5.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述端子区包括围绕所述驱动芯片区设置的走线区，所述走线区内设有：
多个第一控制引脚，多个所述第一控制引脚用于传输第一控制信号；
其中，所述复用电路还包括多个控制端，多个所述控制端电性连接于多个所述第一控制引脚，以使所述第一控制信号传输至多个所述控制端，以控制多个所述复用输入端和多个所述复用输出端之间的导通状态。
6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，多个所述第一控制引脚沿所述第一方向排列，多个所述第一控制引脚在所述第一方向上的对称轴和多个所述测试引脚在所述第一方向上的对称轴重合。
7.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述走线区内还设有：
多个第二控制引脚，多个所述第二控制引脚用于传输第二控制信号；
其中，多个所述第二控制引脚和多个所述第一控制引脚一一对应，每一所述第二控制引脚电性连接于对应的所述第一控制引脚，以使所述第二控制信号传输至多个所述控制端，以电性断开多个所述复用输入端和多个所述复用输出端。
8.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片区内还设有：
多个触控引脚，多个所述触控引脚用于传输触控信号；
其中，多个所述触控引脚和多条所述触控引线一一对应，多个所述触控引脚电性连接于多条所述触控引线的第二端，以使所述触控信号传输至多个所述触控电极。
9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片区内还设有：
多个数据引脚组，每一所述数据引脚组包括多个数据引脚，所述数据引脚用于传输数据信号；
其中，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组沿所述第一方向交替排列，多个所述数据引脚组和多个所述触控引脚组通过绑定至同一所述驱动芯片以进行所述触控信号和所述数据信号的传输。
10.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述驱动芯片区内还设有：
多个虚拟引脚，多个所述虚拟引脚位于多个所述测试引脚和所述复用电路靠近多个所述第一控制引脚的一侧，多个所述虚拟引脚沿第二方向排布，所述第二方向垂直于所述第一方向；
其中，相邻两所述虚拟引脚之间设有连接于一所述控制端和对应的所述第一控制引脚的连接线。
CN202110868268.7A 2021-07-30 2021-07-30 显示面板 Pending CN113535003A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110868268.7A CN113535003A (zh) 2021-07-30 2021-07-30 显示面板
PCT/CN2021/116636 WO2023004932A1 (zh) 2021-07-30 2021-09-06 显示面板
US17/611,556 US20240045545A1 (en) 2021-07-30 2021-09-06 Display panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110868268.7A CN113535003A (zh) 2021-07-30 2021-07-30 显示面板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113535003A true CN113535003A (zh) 2021-10-22

Family

ID=78121719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110868268.7A Pending CN113535003A (zh) 2021-07-30 2021-07-30 显示面板

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20240045545A1 (zh)
CN (1) CN113535003A (zh)
WO (1) WO2023004932A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023197360A1 (zh) * 2022-04-15 2023-10-19 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 触控显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106997249A (zh) * 2017-03-15 2017-08-01 武汉华星光电技术有限公司 一种具有触控功能的显示面板及其故障测试方法
CN108874236A (zh) * 2018-08-29 2018-11-23 武汉华星光电技术有限公司 触控面板及显示触控装置
CN112071253A (zh) * 2020-09-15 2020-12-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及其驱动方法、显示装置
CN112684945A (zh) * 2021-01-08 2021-04-20 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板、触控测试方法及电子设备

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI244553B (en) * 2004-08-04 2005-12-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Testing method for LCD panel
CN105093025B (zh) * 2015-08-18 2019-01-22 深圳市华星光电技术有限公司 In Cell触控显示面板的检测电路及检测方法
KR20180069365A (ko) * 2016-12-15 2018-06-25 주식회사 지2터치 터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법
US11211710B2 (en) * 2017-03-17 2021-12-28 Mitsubishi Electric Corporation Array antenna apparatus and method for fabricating same
KR102397411B1 (ko) * 2017-09-28 2022-05-16 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN210429262U (zh) * 2019-10-10 2020-04-28 北京京东方显示技术有限公司 显示面板驱动电路、显示面板及显示装置
CN113410149A (zh) * 2020-03-16 2021-09-17 三星显示有限公司 显示装置
CN111696460B (zh) * 2020-06-30 2022-07-22 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及其测试方法、显示装置
US11839018B2 (en) * 2020-12-17 2023-12-05 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Flexible printed circuit board and display touch apparatus
CN113076028A (zh) * 2021-03-31 2021-07-06 上海天马微电子有限公司 显示面板以及电子设备

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106997249A (zh) * 2017-03-15 2017-08-01 武汉华星光电技术有限公司 一种具有触控功能的显示面板及其故障测试方法
CN108874236A (zh) * 2018-08-29 2018-11-23 武汉华星光电技术有限公司 触控面板及显示触控装置
CN112071253A (zh) * 2020-09-15 2020-12-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及其驱动方法、显示装置
CN112684945A (zh) * 2021-01-08 2021-04-20 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板、触控测试方法及电子设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023197360A1 (zh) * 2022-04-15 2023-10-19 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 触控显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20240045545A1 (en) 2024-02-08
WO2023004932A1 (zh) 2023-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113963622B (zh) 一种显示面板和显示装置
CN111919164B (zh) 具有窄下边框的显示面板及电子设备
US10176737B2 (en) Array substrate, and display panel and test method therefor
CN109658855B (zh) 阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板
CN106919287B (zh) 一种触控显示面板和触控显示装置
CN111308815B (zh) 阵列基板及显示面板
CN106055160B (zh) 一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置
CN105319787A (zh) 液晶显示模组
TW445617B (en) Semiconductor chip, semiconductor device package, probe card and package testing method
US10101365B2 (en) Semiconductor module, electrical connector, and inspection apparatus
US9153154B2 (en) Display panel and testing method thereof
CN113535003A (zh) 显示面板
KR101989232B1 (ko) 테스트 회로기판 및 이를 구동하기 위한 방법
JP4115484B2 (ja) 液晶パネル用検査装置
CN101718803B (zh) 用于线路板测试机的组合式底座及治具
CN207781147U (zh) 用于显示装置测试的连接器及显示装置测试设备
CN114860110A (zh) 触控显示面板及显示装置
CN113986036B (zh) 触控面板母板及其检测方法
CN101556958B (zh) 薄膜晶体管基板和液晶显示装置
CN104280954B (zh) 一种液晶显示器及其液晶显示器下基板组件
WO2023097737A1 (zh) 触控显示面板及显示装置
CN105607325B (zh) 触控屏及显示装置
CN202423782U (zh) 一种保护电缆线接口的转接装置和电缆线接口装置
CN210377439U (zh) 测试装置
CN219759134U (zh) 显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination