KR20180069365A - 터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법 - Google Patents

터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법 Download PDF

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KR20180069365A
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이성호
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    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31724—Test controller, e.g. BIST state machine

Abstract

본 발명은 터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린은, 다수의 컬럼과 로우의 매트릭스 형태로 배열된 다수의 터치 센서들; 상기 다수의 터치 센서들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 센서 신호선들; 상기 다수의 센서 신호선들 중 적어도 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들 중 하나를 선택하는 다수의 먹스들; 상기 다수의 먹스들 각각의 출력 단자에 연결된 다수의 본딩 패드들; 상기 다수의 본딩 패드들 각각에 연결된 다수의 테스트 포인트들; 및 상기 다수의 먹스들을, 검사 기기와 연동하여 제어하는 컨트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 본 발명은 상술한 실시예와 다른 실시예들도 포함한다.

Description

터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법{Touch screen and test method of test equipment thereof}
본 발명은, 예를 들어, 다수의 테스트 포인트(test point)들이 포함된 터치 스크린과, 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법에 관한 것이다.
일반적으로 터치 스크린은, 스마트 폰(Smart Phone), PDA(Personal Digital Assistants), 그리고 PMP(Portable Multimedia Player) 등과 같은 모바일 기기는 물론, 네비게이션, 넷북, 노트북, DID(Digital Information Device), 그리고 IPTV(Internet Protocol TV) 등과 같은 다양한 유형의 전자 기기에 적용된다.
상기 터치 스크린은, LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 그리고 OLED(Organic Light Emitting Diode) 등과 같은 다양한 유형의 디스플레이 위에 부가되거나, 상기 디스플레이 내부에 내장될 수 있다.
상기 터치 스크린은, 다수의 터치 센서(touch sensor)들과 센서 신호선(trace)들, 그리고, 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재되는 다수의 본딩 패드(bonding pad)들을 포함할 수 있고, 상기 터치 센서와 센서 신호선은, 터치 패드와 신호 배선 등으로 다양하게 일컬어질 수 있다.
상기 터치 스크린은, 상기 터치 센서들과 신호선들이, 파손 또는 단선 또는 접선 없이, 정상적으로 작동하는 지를 검사하기 위한 양불 검사를 위해, 다수의 테스트 포인트(test point)들을 더 포함할 수 있고, 상기 다수의 테스트 포인트들은, 상기 다수의 본딩 패드들과 일대일로 대응되어 전기적으로 연결될 수 있다.
도 1은 다수의 터치 포인트들이 포함된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 상기 터치 스크린(100)은, 다수의 터치 센서들(10), 다수의 센서 신호선들(22), 다수의 본딩 패드들(21), 그리고 다수의 테스트 포인트들(23)을 포함할 수 있다.
상기 테스트 포인트들(23)은, 상기 다수의 본딩 패드들(21)과 일대일로 대응되어 전기적으로 연결되고, 상기 다수의 본딩 패드들(23)은, 양불 검사가 완료된 후, 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재될 수 있도록, 소형 크기의 직사각형 패드로서 조밀하게 배열될 수 있다.
상기 테스트 포인트들(23)은, 상기 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재되기 이전에, 양불 검사를 위해, 검사 기기의 테스트용 프로브(probe)들과 일대일로 접속될 수 있도록, 상기 본딩 패드(21) 보다는 상대적으로 큰 크기의 원형 패드로서 상대적으로 덜 조밀하게 배열될 수 있다.
예를 들어, 도 1에 도시한 바와 같이, 상기 본딩 패드들(21)은, 1 열로 나란히 조밀하게 배열되더라도, 상기 테스트 포인트들(23)은, 3 열로 나란히 상대적으로 덜 조밀하게 배열될 수 있다.
그러나, 상기와 같은 배열 구조의 터치 스크린을 제조하기 위해서는, 제조 공정이 복잡해지고, 본딩 패드와 테스트 포인트 간의 연결 선이 파손 또는 단절될 가능성이 높고, 양불 검사 이후, 터치 드라이브 IC를 본딩 패드 위에 탑재하더라도, 테스트 포인트들 중 일부가 외부로 노출되는 등의 문제점들이 야기될 수 있다.
본 발명은, 예를 들어, 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재되지 않은 테스트(test) 모드에서, 터치 스크린의 양불 검사를 정확하게 수행할 수 있고, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용(use) 모드에서, 터치 스크린의 구동 및 제어 동작을 효율적으로 수행할 수 있는 터치 스크린과, 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법을 제공하는 데, 그 목적이다.
본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린은, 다수의 컬럼과 로우의 매트릭스 형태로 배열된 다수의 터치 센서들; 상기 다수의 터치 센서들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 센서 신호선들; 상기 다수의 센서 신호선들 중 적어도 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들 중 하나를 선택하는 다수의 먹스들; 상기 다수의 먹스들 각각의 출력 단자에 연결된 다수의 본딩 패드들; 상기 다수의 본딩 패드들 각각에 연결된 다수의 테스트 포인트들; 및 상기 다수의 먹스들을, 검사 기기와 연동하여 제어하는 컨트롤러를 포함할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트 모드에서, 상기 검사 기기와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 테스트 모드에서, 상기 검사 기기로부터 수신되는 먹스 제어 신호에 의해, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 가로 방향의 스캔 방식으로 제어할 수 있다.
상기 다수의 먹스들과 상기 컨트롤러는, 디스플레이의 비표시 영역에 배치될 수 있다.
상기 다수의 테스트 포인트들은, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되면, 외부 노출이 차단될 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 기수 번째 먹스는, 적어도 2 개의 기수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고, 상기 다수의 먹스들 중 우수 번째 먹스는, 적어도 2 개의 우수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 제1 번째 먹스는, 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제3 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되, 상기 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제3 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 제2 번째 먹스는, 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제4 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되, 상기 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제4 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 기수 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 기수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고, 상기 다수의 먹스들 중 우수 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 우수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 제1 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되, 상기 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
상기 다수의 먹스들 중 제2 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되, 상기 제2 번째 먹스는, 상기 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 검사 기기의 테스트 방법은, 다수의 컬럼과 로우의 매트릭스 형태로 배열된 다수의 터치 센서들; 상기 다수의 터치 센서들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 센서 신호선들; 상기 다수의 센서 신호선들 중 적어도 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들 중 하나를 선택하는 다수의 먹스들; 상기 다수의 먹스들 각각의 출력 단자에 연결된 다수의 본딩 패드들; 상기 다수의 본딩 패드들 각각에 연결된 다수의 테스트 포인트들; 및 상기 다수의 먹스들을 제어하는 컨트롤러를 포함하는 터치 스크린의 양불 테스트를 위한 검사 기기의 테스트 방법에 있어서, 상기 검사 기기의 컨트롤용 프로브를 상기 컨트롤러에 전기적으로 접속시키고, 상기 검사 기기의 테스트용 프로브들을 상기 다수의 테스트 포인트들에 전기적으로 접속시키는 동작; 및 상기 컨트롤용 프로브를 통해 상기 컨트롤러와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하고, 상기 테스트용 프로브들을 통해 수신되는 신호에 기반하여, 상기 터치 스크린의 양불을 검사하는 동작을 포함할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트 모드에서, 상기 검사 기기와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 테스트 모드에서, 상기 검사 기기로부터 수신되는 먹스 제어 신호에 의해, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
상기 컨트롤러는, 상기 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 가로 방향의 스캔 방식으로 제어할 수 있다.
상기 다수의 먹스들과 상기 컨트롤러는, 디스플레이의 비표시 영역에 배치될 수 있다.
상기 다수의 테스트 포인트들은, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되면, 외부 노출이 차단될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 예를 들어, 다수의 먹스들과, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 컨트롤러를 이용하여, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트(test) 모드에서, 터치 스크린의 양불 검사를 정확하게 수행할 수 있고, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용(use) 모드에서, 터치 스크린의 구동 및 제어 동작을 효율적으로 수행할 수 있다.
또한, 본딩 패드의 개수와 테스트 포인트의 개수를 최소화하고, 본딩 패드와 테스트 포인트 간의 연결 선을 간소화할 수 있으며, 양불 검사 이후, 터치 드라이브 IC를 본딩 패드 위에 탑재하는 경우, 테스트 포인트들이 외부로 노출되는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 다수의 터치 포인트들이 포함된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검사 기기의 테스트 방법에 대한 동작 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 드라이브 IC가 탑재된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 드라이브 IC가 탑재된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 제4 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면 및 실시예를 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예에서 언급하는 터치 스크린은, 정전 방식의 터치 스크린이지만, 저항 방식의 터치 스크린일 수도 있으며, 상기 터치 스크린은, LCD, PDP, 또는 OLED 중 어느 하나 이상의 디스플레이 위에 설치되거나, 디스플레이 내부에 내장될 수 있다.
본 발명의 실시예에서 언급하는 검사 기기는, 터치 스크린의 품질이 양호한지 또는 불량한지를 검사하는 다양한 유형의 검사 기기일 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예에서, 터치 센서에 대한 손가락의 터치 행위는 “접근”이라는 용어로 표현될 수 있으며, 이하에서 설명하는 “~부”와 같은 구성들은, 특정 기능을 수행하는 단위 기능 요소(Unit Function Element)들의 집합체로서, “~부”는 더 큰 구성 요소 또는 “~부”에 포함되거나, 더 작은 구성 요소들 및 “~부”들을 포함할 수 있다. 또한, “~부”는 자체적으로 독자적인 CPU를 가질 수도 있다.
본 발명의 실시예에서 언급하는 “신호”는 특별한 언급이 없는 한, 전압 또는 전류를 총칭한다. 또한, 본 발명의 실시예에서 언급하는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다.
또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어일 수 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명의 실시예에서 언급하는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
이하에서는, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 그 이외의 다양한 실시예로 구현될 수 있다. 이하의 도면 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용하였고, 일부 중복되는 기술 내용에 대해서는 편의를 위해 생략하였다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 2를 참조하면, 상기 터치 스크린(200)은, 예를 들어, LCD, PDP, 또는 OLED 중 적어도 어느 하나의 디스플레이 위에 설치되거나, 상기 디스플레이 내부에 내장될 수 있다.
상기 터치 스크린(200)에는, 예를 들어, 다수의 로우(row)와 다수의 컬럼(column)으로 구성된 도트 매트릭스(dot matrix) 방식으로, 다수의 터치 센서들(10)이 배열될 수 있고, 상기 다수의 터치 센서들(10) 각각에는, 다수의 센서 신호선들(22)이 독립적으로 연결될 수 있다.
상기 터치 센서들(10)과 센서 신호선들(22)은, 예를 들어, ITO(Indium Tin Oxide) 또는 ATO(Antimony Tin Oxide) 등과 같은 전도성 투명 물질이거나, 은(Ag) 등과 같이 저항률이 낮은 비투명한 도전성 금속 물질로서 메시(mesh) 패턴 등으로 다양하게 형성될 수 있다.
상기 터치 스크린(200)에는, 검사 기기를 이용하여 양불 검사가 완료된 후, 터치 드라이브 IC(TDI)를 탑재할 수 있도록 하기 위한 본딩 패드들(21)과, 상기 본딩 패드들(21)에 일대일로 대응되어 전기적으로 연결되는 다수의 테스트 포인트들(23)이 포함될 수 있다.
예를 들어, 상기 다수의 본딩 패드들(21)은, 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재될 수 있도록, 소형 크기의 직사각형 패드일 수 있고, 상기 다수의 테스트 포인트들(23)은, 상기 터치 드라이브 IC(TDI)가 탑재되기 이전에, 양불 검사를 위해, 검사 기기의 테스트용 프로브(probe)들과 일대일로 접속될 수 있도록, 상기 본딩 패드(21) 보다는 상대적으로 큰 크기의 원형 패드일 수 있는 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 않는다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 터치 스크린(200)에는, 다수의 먹스들(24)과, 상기 다수의 먹스들을 제어하기 위한 컨트롤러(25)가 추가로 포함될 수 있다. 여기서, 상기 다수의 먹스들(24)과 상기 컨트롤러(25)는, 예를 들어, LCD, PDP 또는 OLED 등과 같은 디스플레이의 비표시 영역에 배치될 수 있다.
도 2에 도시한 바와 같이, 상기 다수의 먹스들(24)은, 각각 하나의 컬럼에 속하는 터치 센서들과 연결된 센서 신호선들 중 어느 하나를 선택하기 위한 것으로, 상기 컨트롤러(25)는, 상기 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트(test) 모드에서, 검사 기기(미도시)와 연동하여, 상기 먹스들(24)의 멀티플렉싱(multiplexing) 동작을 제어할 수 있다.
예를 들어, 상기 컨트롤러(25)는, 상기 검사 기기로부터 수신되는 먹스 제어 신호에 따라, 각 컬럼에 속하는 첫 번째 터치 센서의 감지 신호가, 각 먹스에 의해 선택되어 출력되도록 하고, 이후, 각 컬럼에 속하는 두 번째 터치 센서의 감지 신호가, 각 먹스들에 의해 선택되어 출력되도록 하는 일련의 가로 방향의 스캔 방식으로, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다. 여기서, 상기 컨트롤러(25)는, 상기 검사 기기의 먹스 제어 신호를 상기 먹스들로 전달하는 단순한 인터페이스 또는 커넥터 등으로 대체될 수도 있다.
즉, 상기 터치 스크린(200)에는, 전술한 바와 같이, 각각 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들(22) 중 어느 하나를 선택하기 위한 다수의 먹스들(24)이 포함되기 때문에, 본딩 패드(21)의 개수와 터치 포인트(23)의 개수를 효율적으로 대폭 줄일 수 있다.
또한, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트 모드에서도, 상기 컨트롤러(25)가, 검사 기기와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있기 때문에, 상기 검사 기기가, 테스트용 프로브들과 일대일로 접속된 터치 포인트들을 통해 수신되는 신호에 기반하여, 터치 스크린의 양불 검사를 정상적으로 수행할 수 있다.
상기 컨트롤용 프로브와 상기 테스트용 프로브는, 임의의 다른 명칭으로 일컬어질 수 있으며, 예를 들어, 검침 형상 및 구조 등으로 다양하게 제작될 수 있는 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 않는다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검사 기기의 테스트 방법에 대한 동작 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 단계 S10에서, 검사 기기에는, 컨트롤용 프로브(control probe)와 테스트용 프로브(test probe)가 구비될 수 있으며, 상기 검사 기기의 컨트롤용 프로브는, 도 2를 참조로 전술한 바와 같이, 터치 스크린의 컨트롤러(25)와 전기적으로 접촉되고, 상기 검사 기기의 테스트용 프로브는, 상기 터치 스크린의 테스트 포인트들(23)과 전기적으로 일대일 접촉될 수 있다.
단계 S20에서, 상기 검사 기기는, 연산 및 제어 기능을 수행하는 CPU 등을 포함할 수 있고, 예를 들어, 상기 검사 기기의 CPU는, 상기 컨트롤용 프로브를 통해 접촉된 터치 스크린의 컨트롤러(25)와 연동하여, 상기 터치 스크린의 먹스들(24)을 제어하면서, 상기 테스트용 프로브를 통해 접촉된 터치 스크린의 테스트 포인트들(23)을 통해 신호를 수신할 수 있다.
단계 S30에서, 상기 검사 기기는, 상기 테스트 포인트들을 통해 수신된 신호와, 사전에 설정된 기준 값을 비교하여, 상기 터치 스크린이 양호한지 또는 불량한지를 판단하는 양불 검사를 수행할 수 있다. 예를 들어, 상기 사전에 설정된 기준 값은, 여러 번의 실험 결과들을 통해 측정된 실험 측정 치의 데이터 값으로서, 허용 오차 범위 등에 해당하는 임의의 설정 및 변경 가능한 값일 수 있다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 드라이브 IC가 탑재된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 4를 참조하면, 상기 터치 스크린(200)에는, 도 2를 참조로 전술한 바와 같이, 다수의 터치 센서들(10), 센서 신호선들(22), 본딩 패드들(21), 그리고 테스트 포인트들(23)이 포함되고, 다수의 먹스들(24)과 컨트롤러(25)가 추가로 포함될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 각각 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들(22) 중 어느 하나를 선택하기 위한 다수의 먹스들(24)이 포함되기 때문에, 본딩 패드(21)의 개수와 터치 포인트(23)의 개수를 효율적으로 대폭 줄일 수 있다.
따라서, 도 4에 도시한 바와 같이, 터치 스크린의 양불 검사가 완료된 후, 상기 본딩 패드들(21) 위에 터치 드라이브 IC(30)가 탑재되는 경우, 상기 본딩 패드들(21)에 각각 연결된 터치 포인트들(23)은, 상기 터치 드라이브 IC(30)에 가려져서 외부로 노출되지 않는다.
한편, 상기 본딩 패드들(21) 위에 탑재된 터치 드라이브 IC(30)는, 상용(use) 모드에서, 상기 먹스들(24)의 멀티플렉싱 동작을 제어하고, 상기 먹스들(24)을 통해 선택적으로 수신되는 터치 센서의 감지 신호에 기반하여, 터치 위치 좌표 및 면적 등을 검출하는 일련의 터치 검출 동작을 정상적으로 수행할 수 있다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 드라이브 IC가 탑재된 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 5를 참조하면, 상기 터치 스크린(200)에는, 전술한 바와 같이, 다수의 터치 센서들(10), 센서 신호선들(22), 본딩 패드들(21), 그리고 테스트 포인트들(23)이 포함되고, 다수의 먹스들(24)과 컨트롤러(25)가 추가로 포함될 수 있다.
또한, 각각 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들(22) 중 어느 하나를 선택하기 위한 다수의 먹스들(24)이 포함되기 때문에, 본딩 패드(21)의 개수와 터치 포인트(23)의 개수를 대폭 줄일 수 있으며, 상기 본딩 패드들(21) 위에 터치 드라이브 IC(30)가 탑재되는 경우, 상기 본딩 패드들(21)에 각각 연결된 터치 포인트들(23)은, 상기 터치 드라이브 IC(30)에 가려져서 외부로 노출되지 않는다.
한편, 상기 컨트롤러(25)는, 테스트(test) 모드에서는, 검사 기기와 연동하여, 상기 먹스들(24)의 멀티플렉싱 동작을 제어하고, 이후, 터치 드라이브 IC(30)가 탑재된 상용(use) 모드에서는, 상기 터치 드라이브 IC(30)와 연동하여, 상기 먹스들(24)의 멀티플렉싱 동작을 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 터치 드라이브 IC(30)에는, 상기 컨트롤러(25)와 전기적으로 연결하기 위한 접속 단자(미도시)가 필요하고, 상기 터치 스크린(200)에는, 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 접속 단자와 전기적으로 연결하기 위한, 적어도 하나의 본딩 패드(26)가 추가로 필요하다.
또한, 상기 터치 드라이브 IC(30)는, 상기 컨트롤러(25)와 연동하여, 상기 먹스들을 제어하기 때문에, 상기 먹스들의 멀티플렉싱 동작을 제어하기 위한 회로 또는 로직(logic) 등이, 상기 터치 드라이브 IC(30)에 구비되지 않거나 최소화될 수 있으므로, 상기 터치 드라이브 IC(30)가 보다 간소화될 수 있다.
상기 컨트롤러(25)에는, 상기 터치 드라이브 IC(30)와 연동하기 위한 접속 단자와, 상기 검사 기기와 연동하기 위한 접속 단자가 각각 개별적으로 구비되거나, 상기 터치 드라이브 IC 및 검사 기기와 연동하기 위한 하나의 공통 접속 단자가 구비될 수 있다.
상기 컨트롤러(25)는, 테스트 모드에서 뿐만 아니라, 상용 모드에서도, 상기 터치 드라이브 IC(30)와 연동하여, 각 컬럼에 속하는 첫 번째 터치 센서의 감지 신호가, 각 먹스에 의해 선택되어 출력되도록 하고, 이후, 각 컬럼에 속하는 두 번째 터치 센서의 감지 신호가, 각 먹스들에 의해 선택되어 출력되도록 하는 일련의 가로 방향의 스캔 방식으로, 상기 다수의 먹스들을 제어할 수 있다.
도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 상기 터치 스크린에는, 도 5를 참조로 전술한 바와 같이, 다수의 터치 센서들(10), 센서 신호선들(22), 본딩 패드들(미도시), 그리고 테스트 포인트들(미도시)이 포함되고, 다수의 먹스들(24)과 컨트롤러(25)가 추가로 포함될 수 있다.
또한, 각각 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들(22) 중 어느 하나를 선택하기 위한 다수의 먹스들(24)이 포함되기 때문에, 본딩 패드의 개수와 터치 포인트의 개수를 대폭 줄일 수 있고, 상기 본딩 패드들 위에 터치 드라이브 IC(30)가 탑재되는 경우, 상기 본딩 패드들에 각각 연결된 터치 포인트들은, 상기 터치 드라이브 IC(30)에 가려져서 외부로 노출되지 않는다.
한편, 상기 다수의 먹스들(24)은, 상기 컨트롤러(25)에 의해 멀티플렉싱 동작을 수행하거나, 또는 상기 터치 드라이브 IC(30)에 의해 멀티플렉싱 동작을 수행할 수 있다.
설명의 편의를 위해, 도 6을 참조하면, 상기 다수의 터치 센서(10)들은, 8 개의 컬럼(Col 1~8)과 4 개의 로우(Row 1~4)의 행렬로 배치될 수 있고, 상기 다수의 먹스들(24) 중 기수(odd) 번째 먹스는, 적어도 2 개의 기수(odd) 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고, 상기 다수의 먹스들 중 우수(even) 번째 먹스는, 적어도 2 개의 우수(even) 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
예를 들어, 도 6에 도시한 바와 같이, 기수 번째인 제1 먹스(Mux 1)는, 제1 컬럼(Col 1)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제3 컬럼(Col 3)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제1 먹스(Mux 1)는, 상기 제1 컬럼(Col 1)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제3 컬럼(Co1 3)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
한편, 우수 번째인 제2 먹스(Mux 2)는, 제2 컬럼(Col 2)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제4 컬럼(Col 4)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제2 먹스(Mux 2)는, 상기 제2 컬럼(Col 2)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제4 컬럼(Col 4)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
또한, 기수 번째인 제3 먹스(Mux 3)는, 제5 컬럼(Col 5)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제7 컬럼(Col 7)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제3 먹스(Mux 3)는, 상기 제5 컬럼(Col 5)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제7 컬럼(Co1 7)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
한편, 우수 번째인 제4 먹스(Mux 4)는, 제6 컬럼(Col 6)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제8 컬럼(Col 8)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제4 먹스(Mux 4)는, 상기 제6 컬럼(Col 6)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제8 컬럼(Col 6)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
상기 다수의 먹스들의 개수는, 상기 다수의 터치 센서들이 배치된 컬럼의 개수의 반일 수 있다. 예를 들어, 도 6에 도시한 바와 같이, 상기 컬럼의 개수가 8 개이면, 상기 먹스의 개수는 4 개가 될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 터치 스크린은, 사용자의 손가락 또는 전자 펜 등과 같은 외부 오브젝트가, 상기 터치 스크린에 접촉 또는 접근하는 경우, 도 6에 도시한 바와 같이, 다수의 컬럼과 로우의 교차 지점에 행렬로 배치된 터치 센서들을, 기수 번째 컬럼과 우수 번째 컬럼으로 교번하여 가로 방향으로 스캔할 수 있다.
예를 들어, 스캔 시간 t1에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 1, Col 1), (Row 1, Col 3), (Row 1, Col 5), (Row 1, Col 7)를 출력한 후 (Row 1, Col 2), (Row 1, Col 4), (Row 1, Col 6), (Row 1, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t2에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 2, Col 1), (Row 2, Col 3), (Row 2, Col 5), (Row 2, Col 7)를 출력한 후 (Row 2, Col 2), (Row 2, Col 4), (Row 2, Col 6), (Row 2, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t3에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 3, Col 1), (Row 3, Col 3), (Row 3, Col 5), (Row 3, Col 7)을 출력한 후 (Row 3, Col 2), (Row 3, Col 4), (Row 3, Col 6), (Row 3, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t4에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 4, Col 1), (Row 4, Col 3), (Row 4, Col 5), (Row 4, Col 7)을 출력한 후 (Row 4, Col 2), (Row 4, Col 4), (Row 4, Col 6), (Row 4, Col 8)을 출력할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기와 같이 기수 번째의 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호를 먼저 출력하고, 이후 우수 번째의 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호를 출력할 수 있다.
상기 제1 내지 제4 먹스는, 8 개의 입력 단자와 1 개의 출력 단자를 갖는 8in x 1out 먹스들이 사용될 수 있다. 여기서, 상기 먹스는 회로의 단순화를 위하여 동일한 타입을 사용하는 것이 바람직하며, 상기 먹스는, ADC(Analog to Digital Converter) 또는 증폭기(Amplifier) 등과 함께 소형의 IC 소자로 제작될 수 있다.
상기 다수의 먹스(24)는, 상기 터치 드라이브 IC(30)와 별개로 구성될 수 있다. 예를 들어, 상기 터치 드라이브 IC(30)는, COF 또는 FPC 등과 같은 연성 회로 기판 상에 배치되고, 상기 다수의 먹스(24)는, 상기 연성 회로 기판과는 별개인 디스플레이 기판 상에 배치될 수 있다.
상기 다수의 터치 센서(10)는, 상기 디스플레이 기판의 표시 영역에 배치되고, 상기 다수의 먹스(24)는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역에 배치될 수 있다. 상기 다수의 먹스(24) 중 적어도 하나는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역의 하단 부분에 배치될 수 있다.
상기 다수의 먹스(24) 중 적어도 하나는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역의 측면 부분 등에 다양하게 배치될 수 있다. 상기 다수의 터치 센서(10)는, 상기 디스플레이 기판의 표시 영역 내에, 다수의 컬럼(column)과 로우(row)의 교차 지점에 매트릭스 형태의 행렬로 배치될 수 있다. 상기 터치 센서들과 신호선들은, 전도성 투명 물질이거나, 비투명성 금속 물질일 수 있다.
상기 신호선들은, 디스플레이 기판의 표시 영역과 비표시 영역에 배치되되, 상기 표시 영역 내의 신호선들은, 전도성 투명 물질이고, 상기 비표시 영역 내의 신호선들은, 비투명성 금속 물질일 수 있다. 상기 터치 센서들과 신호선들은, 디스플레이의 화소와 화소 사이인 경계면에 배치될 수 있다.
도 7은 본 발명의 제4 실시예에 따른 터치 스크린을 예시한 도면이다.
도 7을 참조하면, 상기 터치 스크린에는, 전술한 바와 같이, 다수의 터치 센서들(10), 센서 신호선들(22), 본딩 패드들(미도시), 그리고 테스트 포인트들(미도시)이 포함되고, 다수의 먹스들(24)과 컨트롤러(25)가 추가로 포함될 수 있다.
또한, 각각 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들(22) 중 어느 하나를 선택하기 위한 다수의 먹스들(24)이 포함되기 때문에, 본딩 패드의 개수와 터치 포인트의 개수를 대폭 줄일 수 있고, 상기 본딩 패드들 위에 터치 드라이브 IC(30)가 탑재되는 경우, 상기 본딩 패드들에 각각 연결된 터치 포인트들은, 상기 터치 드라이브 IC(30)에 가려져서 외부로 노출되지 않는다.
한편, 상기 다수의 먹스들(24)은, 상기 컨트롤러(25)에 의해 멀티플렉싱 동작을 수행하거나, 또는 상기 터치 드라이브 IC(30)에 의해 멀티플렉싱 동작을 수행할 수 있다.
설명의 편의를 위해, 도 7을 참조하면, 상기 다수의 터치 센서(10)는, 8 개의 컬럼(Col 1~8)과 4 개의 로우(Row 1~4)의 행렬로 배치될 수 있다.
상기 다수의 먹스(24) 중 기수(odd) 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선(예: 도 7의 점선 "S")을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 기수(odd) 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고, 상기 다수의 먹스들 중 우수(even) 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 우수(even) 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
예를 들어, 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 다수의 먹스들 중 제1 먹스(Mux 1)는, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼인 제1 컬럼(Col 1)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼인 제5 컬럼(Col 5)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제1 먹스(Mux 1)는, 상기 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼이 제1 컬럼(Col 1)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼인 제5 컬럼(Col 5)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
한편, 상기 다수의 먹스들 중 제2 먹스(Mux 2)는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼인 제2 컬럼(Col 2)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼인 제6 컬럼(Col 6)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제2 먹스(Mux 2)는, 상기 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼이 제2 컬럼(Col 2)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼인 제6 컬럼(Col 6)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
또한, 상기 다수의 먹스들 중 제3 먹스(Mux 3)는, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 좌 영역에 속하는 제3 번째 컬럼인 제3 컬럼(Col 3)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 우 영역에 속하는 제3 번째 컬럼인 제7 컬럼(Col 7)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제3 먹스(Mux 1)는, 상기 좌 영역에 속하는 제3 번째 컬럼이 제3 컬럼(Col 3)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제3 번째 컬럼인 제7 컬럼(Col 7)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
한편, 상기 다수의 먹스들 중 제4 먹스(Mux 4)는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제4 번째 컬럼인 제4 컬럼(Col 4)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제4 번째 컬럼인 제8 컬럼(Col 8)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속될 수 있다.
상기 제4 먹스(Mux 4)는, 상기 좌 영역에 속하는 제4 번째 컬럼이 제4 컬럼(Col 4)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제4 번째 컬럼인 제8 컬럼(Col 8)에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택할 수 있다.
상기 다수의 먹스들의 개수는, 상기 다수의 터치 센서들이 배치된 컬럼의 개수의 반일 수 있다. 예를 들어, 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 컬럼의 개수가 8 개이면, 상기 먹스의 개수는 4 개가 될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 터치 스크린 패널은, 사용자의 손가락 또는 전자 펜 등과 같은 외부 오브젝트가, 상기 터치 스크린 패널에 접촉 또는 접근하는 경우, 도 7에 도시한 바와 같이, 다수의 컬럼과 로우의 교차 지점에 형렬로 배치된 터치 센서들을, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 각각 좌우 영역으로 교번하여 가로 방향으로 스캔할 수 있다.
예를 들어, 스캔 시간 t1에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 1, Col 1), (Row 1, Col 2), (Row 1, Col 3), (Row 1, Col 4)를 출력한 후 (Row 1, Col 5), (Row 1, Col 6), (Row 1, Col 7), (Row 1, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t2에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 2, Col 1), (Row 2, Col 2), (Row 2, Col 4), (Row 2, Col 4)를 출력한 후 (Row 2, Col 5), (Row 2, Col 6), (Row 2, Col 7), (Row 2, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t3에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 3, Col 1), (Row 3, Col 2), (Row 3, Col 3), (Row 3, Col 4)을 출력한 후 (Row 3, Col 5), (Row 3, Col 6), (Row 3, Col 7), (Row 3, Col 8)을 출력할 수 있다.
스캔 시간 t4에서, 제1 내지 제4 먹스는, (Row 4, Col 1), (Row 4, Col 2), (Row 4, Col 3), (Row 4, Col 4)을 출력한 후 (Row 4, Col 5), (Row 4, Col 6), (Row 4, Col 7), (Row 4, Col 8)을 출력할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 행렬의 수직 중심 선(S)을 기준으로 좌 영역에 속하는 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호를 먼저 출력하고, 이후 우 영역에 속하는 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호를 출력할 수 있다.
상기 제1 내지 제4 먹스는, 8 개의 입력 단자와 1 개의 출력 단자를 갖는 8in x 1out 먹스들이 사용될 수 있다. 여기서, 상기 먹스는 회로의 단순화를 위하여 동일한 타입을 사용하는 것이 바람직하며, 상기 먹스는, ADC(Analog to Digital Converter) 또는 증폭기(Amplifier) 등과 함께 소형의 IC 소자로 제작될 수 있다.
상기 다수의 먹스(24)는, 상기 터치 드라이브 IC(30)와 별개로 구성될 수 있다. 예를 들어, 상기 터치 드라이브 IC(30)는, COF 또는 FPC 등과 같은 연성 회로 기판 상에 배치되고, 상기 다수의 먹스(330)는, 상기 연성 회로 기판과는 별개인 디스플레이 기판 상에 배치될 수 있다.
상기 다수의 터치 센서(10)는, 상기 디스플레이 기판의 표시 영역에 배치되고, 상기 다수의 먹스(24)는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역에 배치될 수 있다. 상기 다수의 먹스(24) 중 적어도 하나는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역의 하단 부분에 배치될 수 있다.
상기 다수의 먹스(24) 중 적어도 하나는, 상기 디스플레이 기판의 비표시 영역의 측면 부분 등에 다양하게 배치될 수 있다. 상기 다수의 터치 센서(10)는, 상기 디스플레이 기판의 표시 영역 내에, 다수의 컬럼(column)과 로우(row)의 교차 지점에 매트릭스 형태로 배치될 수 있다. 상기 터치 센서들과 신호선들은, 전도성 투명 물질이거나, 비투명성 금속 물질일 수 있다.
상기 신호선들은, 디스플레이 기판의 표시 영역과 비표시 영역에 배치되되, 상기 표시 영역 내의 신호선들은, 전도성 투명 물질이고, 상기 비표시 영역 내의 신호선들은, 비투명성 금속 물질일 수 있다. 상기 터치 센서들과 신호선들은, 디스플레이의 화소와 화소 사이인 경계면에 배치될 수 있다.
이상, 상세히 설명한 본 발명의 각 실시예들은, 개별적으로 실시되거나, 또는 서로 결합되어 혼용 실시될 수도 있다. 이와 같이 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다. 이는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
10: 터치 센서 21: 본딩 패드
22: 센서 신호선 23: 테스트 포인트
24: 먹스 25: 컨트롤러
200: 터치 스크린

Claims (20)

  1. 다수의 컬럼과 로우의 매트릭스 형태로 배열된 다수의 터치 센서들;
    상기 다수의 터치 센서들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 센서 신호선들;
    상기 다수의 센서 신호선들 중 적어도 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들 중 하나를 선택하는 다수의 먹스들;
    상기 다수의 먹스들 각각의 출력 단자에 연결된 다수의 본딩 패드들;
    상기 다수의 본딩 패드들 각각에 연결된 다수의 테스트 포인트들; 및
    상기 다수의 먹스들을, 검사 기기와 연동하여 제어하는 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트 모드에서, 상기 검사 기기와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 테스트 모드에서, 상기 검사 기기로부터 수신되는 먹스 제어 신호에 의해, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 가로 방향의 스캔 방식으로 제어하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들과 상기 컨트롤러는, 디스플레이의 비표시 영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 테스트 포인트들은, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되면, 외부 노출이 차단되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 기수 번째 먹스는, 적어도 2 개의 기수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고,
    상기 다수의 먹스들 중 우수 번째 먹스는, 적어도 2 개의 우수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 제1 번째 먹스는, 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제3 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되,
    상기 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제3 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 제2 번째 먹스는, 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 제4 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되,
    상기 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 제4 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 기수 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 기수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되고,
    상기 다수의 먹스들 중 우수 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 각각 좌우 영역에 속하는 적어도 2 개의 우수 번째 컬럼들에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 제1 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되,
    상기 좌 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제1 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 다수의 먹스들 중 제2 번째 먹스는, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과, 상기 행렬의 수직 중심 선을 기준으로 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들과 접속되되,
    상기 제2 번째 먹스는, 상기 좌 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하고, 이후 상기 우 영역에 속하는 제2 번째 컬럼에 대응되는 터치 센서들의 신호선들 중 하나를 선택하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린.
  14. 다수의 컬럼과 로우의 매트릭스 형태로 배열된 다수의 터치 센서들;
    상기 다수의 터치 센서들 각각에 독립적으로 연결된 다수의 센서 신호선들;
    상기 다수의 센서 신호선들 중 적어도 하나의 컬럼에 속하는 센서 신호선들 중 하나를 선택하는 다수의 먹스들;
    상기 다수의 먹스들 각각의 출력 단자에 연결된 다수의 본딩 패드들;
    상기 다수의 본딩 패드들 각각에 연결된 다수의 테스트 포인트들; 및
    상기 다수의 먹스들을 제어하는 컨트롤러를 포함하는 터치 스크린의 양불 테스트를 위한 검사 기기의 테스트 방법에 있어서,
    상기 검사 기기의 컨트롤용 프로브를 상기 컨트롤러에 전기적으로 접속시키고, 상기 검사 기기의 테스트용 프로브들을 상기 다수의 테스트 포인트들에 전기적으로 접속시키는 동작; 및
    상기 컨트롤용 프로브를 통해 상기 컨트롤러와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하고, 상기 테스트용 프로브들을 통해 수신되는 신호에 기반하여, 상기 터치 스크린의 양불을 검사하는 동작을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되지 않은 테스트 모드에서, 상기 검사 기기와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 테스트 모드에서, 상기 검사 기기로부터 수신되는 먹스 제어 신호에 의해, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재된 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 제어하는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 컨트롤러는, 상기 상용 모드에서, 상기 터치 드라이브 IC와 연동하여, 상기 다수의 먹스들을 가로 방향의 스캔 방식으로 제어하는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  19. 제14에 있어서,
    상기 다수의 먹스들과 상기 컨트롤러는, 디스플레이의 비표시 영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
  20. 제14항에 있어서,
    상기 다수의 테스트 포인트들은, 상기 다수의 본딩 패드들 위에, 터치 드라이브 IC가 탑재되면, 외부 노출이 차단되는 것을 특징으로 하는 검사 기기의 테스트 방법.
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WO2023004932A1 (zh) * 2021-07-30 2023-02-02 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板

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