KR101091694B1 - 터치패널의 검사장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 터치패널의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사할 수 있다.

Description

터치패널의 검사장치{INSPECTION APPARATUS OF TOUCH PANEL}
본 발명은 터치패널의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사하는 터치 패널의 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 개인용 컴퓨터, 휴대용 전송 장치 등 개인용 정보처리장치 등은 키보드(keyboard), 마우스(mouse), 디지타이저(digitizer) 등 다양한 입력장치(Input device)를 이용하여 문자(text) 및 그래픽(Graphic) 처리 등을 수행한다.
또한, 각종 전자기기를 효율적으로 사용하기 위하여, 리모콘이나 상술한 입력 장치를 사용하지 않고 표시장치의 표시면에서 신호를 입력하기 위한 터치패널이 널리 사용되고 있다. 즉, 전자수첩과, 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electroluminescence) 등의 평판 디스플레이 장치 및 CRT(Cathode Ray Tube) 등과 같은 화상 표시장치의 표시면에 설치되어 사용자가 화상 표시장치를 보면서 원하는 정보를 선택하도록 하는데 이용되고 있다.
이와 같은 터치패널은 터치를 감지하는 방법에 따라 저항막 방식(resistive type), 정전 용량 방식(capacitive type), 전자 유도 방식(EM) 등으로 구분할 수 있다.
각각의 방식에 따라 신호 증폭의 문제, 해상도 차이, 설계 및 가공 기술의 난이도 차이 등이 다르게 나타나는 특징을 갖고 있기 때문에 장점을 잘 살릴 수 있는 방식을 선택한다. 선택 기준은 광학적 특성, 전기적 특성, 기계적 특성, 내환경 특성 및 입력 특성뿐만 아니라, 내구성 및 경제성도 고려되어야 한다.
그 중, 저항막 방식의 터치패널의 기본 구조는 서로 마주보는 면에 상부 전극이 형성된 상부 투명 기판과, 하부 전극이 형성된 하부 투명 기판이 스페이서(spacer)에 의해 일정 공간을 갖고 합착되어 있다. 따라서, 상부 기판의 표면에 펜 또는 손가락 같은 소정의 입력 수단으로 어느 한 지점을 접촉하게 되면, 상부 기판에 형성된 상부 전극과 하부 기판에 형성된 하부 전극이 상호 통전됨에 따라 그 위치의 저항값에 의하여 출력 전압이 변화되고, 변화된 전압 값을 읽어 들인 후 제어 장치에서 전위차의 변화에 따라 위치 좌표를 찾게 되는 방식이다.
또한, 정전용량 방식의 터치패널의 기본 구조는 하나의 기판에 구동전극과 감지전극의 교차점에 대응되는 매트릭스타입의 터치키 어레이로 구비되어 구동신호가 구동전극에 인가되면 구동신호의 감지전극과의 용량성 커플링(capacitive coupling) 정도는 구동신호에서의 변화에 응답하여 감지전극에 전달된 변화량을 측정함으로써 결정되기 때문에 주어진 키에서 전극들 간의 용량성 커플링 정도는 키 부근에 물체들이 있는지에 따라 결정된다. 따라서, 손가락 또는 도전성 펜이 터치치 어레이에 접촉되면 이들 물체들이 전극들 간에 전기장 패턴을 변경시키기 때문에 이들 위치 좌표를 찾게 되는 방식이다.
위에서 설명한 기술은 본 발명이 속하는 기술분야의 배경기술을 의미하며, 종래기술을 의미하는 것은 아니다.
이러한 터치패널이 사용자가 선택한 지시 내용의 위치를 정확하게 검출하는지를 판단하기 위해 전극패턴의 전기적인 특성을 측정할 필요가 있다.
일반적으로 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위해서는 패드부에 필 프로브를 통해 교류신호를 인가한 후 터치부의 전극패턴 끝단에서 비접촉 센서를 스캔하면서 전기적 변화를 센싱하여 전극패턴의 단선과 단락을 검사한다.
그러나 위와 같이 터치패널을 검사하기 위해 핀 프로브를 통해 터치패널의 패드부와 접촉하여 측정할 경우 다음과 같은 문제점이 있다.
첫째, 핀 프로브는 반복적인 접촉 작업에 의해 핀 프로브의 접촉다리가 변형을 일으켜 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다.
둘째, 터치패널의 해상도가 높아지거나 크기가 커짐에 따라 배선수가 많아질 뿐만 아니라 전극이 협소해져 고해상력의 협소한 전극의 접촉면에 대응하도록 핀 프로브의 직경을 현재보다 아주 작은 것을 사용할 경우 핀 프로브의 강성문제로 굽힘 모멘트에 취약하여 와이어에 굽힘 변형이 생겨 전극의 접촉면에 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다.
셋째, 핀 프로브와 터치패널의 인터페이스 단자와의 가압접촉시 고가이면서도 내구성이 없는 핀 프로브가 가압 접촉시 쉽게 손상될 뿐만 아니라 교체에 따른 많은 비용이 소요되는 문제점이 있다.
넷째, 핀 프로브를 터치패널의 인터페이스 단자에 가압 접촉시켜야 하기 때문에 접촉에 따른 스크래치(scratch)로 인하여 패턴전극의 손상으로 인한 또 다른 불량요인이 발생되는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명은 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사하는 터치 패널의 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
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상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 터치패널의 검사장치는 터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부와 터치부의 패턴전극을 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서; 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브; 터치부의 외측으로 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브; 접촉식 프로브를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 다수의 필터부; 및 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 다수의 필터부를 통해 입력받아 접촉식 프로브에 접촉된 패턴전극이나 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
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본 발명에서 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단의 패턴전극에 각각 대응되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 모든 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같이 본 발명은 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 배치상태를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 형태를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치의 검사원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 6내지 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에 의해 측정되는 결과는 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 터치패널의 검사장치의 실시예를 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 배치상태를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 형태를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치의 검사원리를 설명하기 위한 도면이고, 도 6내지 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에 의해 측정되는 결과는 나타낸 도면이다.
도 2에 도시된 바와 같이 터치패널의 검사장치는 터치패널의 인터페이스 단자부(30)에 접촉되는 접촉식 프로브(40), 터치패널의 패턴전극(15)에 배치되는 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52) 및 제어부(60)를 포함한다.
터치패널은 도 1에 도시된 바와 같이 터치가 이루어지는 터치부(10)에 형성된 패턴전극(15)과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부(30)와 터치부(10)의 패턴전극(15)을 인터페이스 단자부(30)에 연결하기 위한 배선부(20)를 포함한다.
접촉식 프로브(40)는 인터페이스 단자부(30)의 개별적으로 접촉되어 순차적으로 스캔된다.
이때 접촉식 프로브(40)로는 본 출원인이 특허권자인 특허 0458930호(2004.12.03. 공고)의 "LCD 패널 검사용 휠 프로브 모듈과 이를 이용한 LCD 패널의 검사장치 및 방법"에 개시된 디스크 휠 프로브를 사용하거나 본 출원인이 특허권자인 특허 0752938호(2007.08.30. 공고)의 "볼을 이용한 접촉식 프로브"에 개시된 볼 프로브를 사용할 수 있다.
또한, 본 출원인이 2009년 01월 23일에 출원한 출원번호 10-2009-0006075호의 "유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브"에 개시된 스캔하는 스캔방향 관성모멘트가 스캔방향의 수직방향 관성모멘트보다 적은 횡단면을 갖는 유연한 와이어 프로브를 사용할 수도 있다.
정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 터치부(10)의 외측으로 패턴전극(15)의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극(15)에 대응되는 막대형태로 구성되어 비접촉으로 다수 배치된다.
이때 정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 도 2에 도시된 바와 같이 터치부(10)에서 배선부(20)가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)가 각각 배치될 수 있다.
반면, 도 3에 도시된 바와 같이 제 3정전 용량형 비접촉 프로브(53)와 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(54)가 터치부(10)에서 배선부(20)가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치될 수도 있다.
한편, 도 4에 도시된 바와 같이 정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 패턴전극(15)의 끝단에서 끝단의 패턴전극(15)에 각각 대응되도록 비접촉으로 배치된 상태로 서로 연결되어 이루질 수도 있다.
제어부(60)는 접촉식 프로브(40)의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브(40)로 교류신호를 인가하면서 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)를 통해 측정된 적어도 어느 하나 이상의 전압값을 입력받아 접촉식 프로브(40)에 접촉된 패턴전극(15)이나 배선부(20)의 단선 및 단락을 판단한다.
즉, 제어부(60)는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)과 가로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다.
또한, 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)과 세로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다.
한편, 제어부(60)는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 3정전 용량형 비접촉 프로브(53) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단하고, 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)와 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(54) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단한다.
이와 같이 접촉식 프로브(40)를 통해 교류신호를 인가한 후 정전 용량형 비접촉 프로브(50)를 통해 측정되는 전압값을 통해 단선 및 단락을 판단하는 원리를 도 5에 도시된 도면을 통해 설명하면 다음과 같다.
(가)와 같이 정상적인 패턴전극(15)에 접촉식 프로브(40)를 통해 교류전원을 인가한 후 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에서 측정되는 전압값을 정상값으로 볼 때 단선된 경우에는 (나)와 같이 패턴전극(15)의 임피던스가 커지게 되어 패턴전극(15)의 임피던스와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스의 합인 전체 임피던스가 증가하게 되어 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에서 측정되는 전압값은 정상값보다 작은 값이 측정된다.
반면에, (다)와 같이 패턴전극(15)이 인접한 패턴전극(15)과 단락된 경우에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 패턴전극(15)과 단락된 패턴전극(15)이 하나의 패턴전극(15)으로 작용하면서 패턴전극(15)의 표면적이 증가하는 효과를 가져와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스가 작아지게 되고 따라서 패턴전극(15)의 임피던스와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스의 합인 전체 임피던스가 감소하게 되어 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에 의해 측정되는 값은 정상값보다 큰 값이 측정된다.
이와 같은 검사원리에 따라 도 6은 접촉식 프로브(40)를 가로방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 화살표 지점에서 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 패턴전극(15)간 단락이 발생했음을 알 수 있다.
또한, 도 7은 접촉식 프로브(40)를 세로방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 화살표 지점에서 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 패턴전극(15)간 단락이 발생했음을 알 수 있다.
한편, 도 8은 접촉식 프로브(40)가 가로방향이나 세로방향 중 어느 한 방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52) 모두에서 화살표 지점과 같이 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향이나 세로방향의 패턴전극(15)간 교차단락이 발생했음을 알 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 9에 도시된 바와 같이 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치는 도 2와 도 4와 같이 터치패널에 접촉식 프로브(40)와 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)가 배치된다.
또한, 접촉식 프로브(40)를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 제 1내지 제 4필터부(71~74)를 더 포함한다.
따라서, 제어부(60)는 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 접촉식 프로브(40)의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브(40)를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 각각 필터링하는 제 1내지 제 4필터부(71~74)의 전압값을 입력받아 접촉식 프로브(40)에 접촉된 패턴전극(15)이나 배선부(20)의 단선 및 단락을 판단한다.
즉, 제어부(60)는 제 1필터부(71)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 제 2필터부(72)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)과 가로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다.
또한, 제 2필터부(72)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 제 1필터부(71)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)과 세로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다.
한편, 제어부(60)는 제 1필터부(71)와 제 3필터부(73) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단하고, 제 2필터부(72)와 제 4필터부(74) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단한다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.
10 : 터치부
15 : 패턴전극
20 : 배선부
30 : 인터페이스 단자부
40 : 접촉식 프로브
51, 52, 53, 54 : 제 1내지 제 4 비접촉 정전용량 프로브
60 : 제어부
71,72,73,74 : 제 1내지 제 4필터부

Claims (17)

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  9. 터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 상기 인터페이스 단자부와 상기 터치부의 패턴전극을 상기 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서;
    상기 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브;
    상기 터치부의 외측으로 상기 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브;
    상기 접촉식 프로브를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 다수의 필터부; 및
    상기 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 상기 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 상기 접촉식 프로브를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 상기 다수의 필터부를 통해 입력받아 상기 접촉식 프로브에 접촉된 상기 패턴전극이나 상기 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 터치패널의 검사장치.
  10. 삭제
  11. 제 9항에 있어서, 상기 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
  12. 제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
  13. 제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단의 상기 패턴전극에 각각 비접촉으로 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
  14. 제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 터치패널의 검사장치.
  15. 제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
  16. 제 9항에 있어서, 상기 제어부는 상기 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 상기 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
  17. 제 9항에 있어서, 상기 제어부는 상기 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 모든 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 상기 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012238066A (ja) * 2011-05-10 2012-12-06 Japan Display East Co Ltd 静電容量方式のタッチパネル、および表示装置
KR101386118B1 (ko) * 2012-04-09 2014-04-22 (주) 루켄테크놀러지스 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치
TWI448709B (zh) * 2012-05-15 2014-08-11 Elan Microelectronics Corp 以不同電壓刺激訊號進行觸控面板優劣檢測方法及其檢測裝置
KR101311871B1 (ko) * 2012-05-31 2013-09-27 크루셜텍 (주) 터치 집적 회로의 오픈 쇼트 검사 장치 및 방법
KR101387146B1 (ko) * 2012-11-21 2014-05-13 (주)네패스디스플레이 터치패널 검사장치 및 이를 이용한 터치패널 제조방법
KR101366941B1 (ko) * 2013-01-24 2014-02-24 삼성전기주식회사 터치 패널의 파라미터 추출 시스템 및 그의 추출 방법
KR101519556B1 (ko) * 2013-11-12 2015-05-14 마이크로 인스펙션 주식회사 패널의 사선부 검사장치
CN104597391A (zh) * 2015-01-05 2015-05-06 苏州征之魂专利技术服务有限公司 点阵结构体测试机多工位多型号混合测试方法
CN104597342A (zh) * 2015-01-05 2015-05-06 苏州征之魂专利技术服务有限公司 点阵结构体测试机多工位单型号多步骤测试方法
CN106155381B (zh) * 2015-03-31 2024-03-15 安徽精卓光显技术有限责任公司 触摸屏及其导电膜
KR102310245B1 (ko) * 2015-05-04 2021-10-08 엘지이노텍 주식회사 터치 윈도우
CN105301431B (zh) * 2015-11-18 2019-02-01 蓝思科技(东莞)有限公司 一种高频冲击微断路测试方法及测试系统
KR102573208B1 (ko) * 2016-11-30 2023-08-30 엘지디스플레이 주식회사 표시패널
KR102035997B1 (ko) * 2018-08-30 2019-10-25 (주)티에스이 터치 스크린 패널의 터치 감지용 전극 검사 방법
CN109444650B (zh) * 2018-12-28 2021-07-30 深圳市欧珀达科技有限公司 超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法及装置
CN114428569B (zh) * 2022-01-20 2024-02-27 深圳市华科创智技术有限公司 一种纳米银电容屏维修方法及装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005070821A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Digital Electronics Corp 位置検出パネルおよびその検査方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005070821A (ja) * 2003-08-21 2005-03-17 Digital Electronics Corp 位置検出パネルおよびその検査方法

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