CN113410149A - 显示装置 - Google Patents
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Abstract
显示装置包括：基板，具有显示区域以及与显示区域相邻设置的非显示区域；多个像素列，配置在基板上的显示区域；以及点亮检查电路部，配置在基板上的非显示区域，包括多个点亮检查晶体管，并且向多个像素列提供点亮检查电压。各个点亮检查晶体管包括：有源图案，配置在基板上的非显示区域，并且具有源极区域、漏极区域以及沟道区域；栅电极，配置在有源图案上的沟道区域；层间绝缘层，覆盖栅电极，并且包括使有源图案的源极区域的一部分露出并从栅电极的第一侧面间隔开7μm以上来设置的第一接触孔；以及源电极，通过第一接触孔而与有源图案的源极区域接触。
Description
技术领域
本发明涉及显示装置。更详细而言，本发明涉及提高了显示品质的显示装置。
背景技术
显示装置可以包括像素，并且可以基于提供至像素的信号以及电压来显示图像。
另一方面，可以通过点亮检查来检测出显示装置是否受损(例如，布线、像素等是否受损等)。在该情况下，在显示装置形成有用于点亮检查中的点亮检查晶体管，但是由于在显示装置的制造工序中产生的静电，可能会在点亮检查晶体管中产生绝缘破坏现象(breakdown)。若产生绝缘破坏现象，则绝缘层会失去绝缘性并具有导电性，在点亮检查晶体管中可能会产生短路(short)现象。在驱动显示装置时，由于通过点亮检查晶体管向像素提供数据电压，因此可能会因所述短路现象而使得显示装置的显示品质下降。
发明内容
本发明的目的在于提供一种提高了显示品质的显示装置。
但是，本发明的目的并不限于上述的目的，在不超出本发明的思想以及领域的范围内可以以各种方式进行扩展。
为了达成本发明的目的，本发明的各实施例涉及的显示装置可以包括：基板，具有显示区域以及与所述显示区域相邻设置的非显示区域；多个像素列，配置在所述基板上的所述显示区域；以及点亮检查电路部，配置在所述基板上的所述非显示区域，包括多个点亮检查晶体管，并且向所述多个像素列提供点亮检查电压，各个所述点亮检查晶体管包括：有源图案，配置在所述基板上的所述非显示区域，并且具有源极区域、漏极区域以及沟道区域；栅电极，配置在所述有源图案上的所述沟道区域；层间绝缘层，覆盖所述栅电极，并且包括使所述有源图案的所述源极区域的一部分露出并从所述栅电极的第一侧面间隔开7μm以上来设置的第一接触孔；以及源电极，通过所述第一接触孔而与所述有源图案的所述源极区域接触。
根据一实施例，可以是，所述层间绝缘层还包括：第二接触孔，使所述有源图案的所述漏极区域的一部分露出，并且从所述栅电极的第二侧面间隔开7μm以上来设置该第二接触孔，各个所述点亮检查晶体管还包括：漏电极，通过所述第二接触孔而与所述有源图案的所述漏极区域接触。
根据一实施例，可以是，所述栅电极的所述第一侧面与所述第一接触孔被间隔开的距离和所述栅电极的所述第二侧面与所述第二接触孔被间隔开的距离相同。
根据一实施例，可以是，所述栅电极的所述第一侧面与所述第二侧面之间的长度是3μm至4μm。
根据一实施例，可以是，所述第一接触孔与所述第二接触孔之间的距离在17μm以上。
根据一实施例，可以是，各个所述点亮检查晶体管还包括：栅极绝缘层，介于所述基板与所述层间绝缘层之间，并且覆盖所述有源图案，所述第一接触孔和所述第二接触孔贯通所述栅极绝缘层来分别使所述有源图案的所述源极区域和所述漏极区域露出。
根据一实施例，可以是，所述显示装置还包括：数据驱动部，配置在所述基板上的所述非显示区域，并且生成数据电压，所述点亮检查电路部配置在所述多个像素列与所述数据驱动部之间。
根据一实施例，可以是，所述显示装置还包括：多路分配器，在所述基板上的所述非显示区域配置在所述点亮检查电路部与所述多个像素列之间，所述多路分配器从所述数据驱动部接收所述数据电压并将所述数据电压提供到所述多个像素列。
根据一实施例，可以是，所述源电极被设置成与所述数据驱动部相邻，所述漏电极被设置成与所述多路分配器相邻。
根据一实施例，可以是，所述显示装置还包括：防静电电路部，配置在所述基板上的所述非显示区域，且与所述点亮检查电路部电连接，并且测量所述点亮检查电压的电压电平，在所述防静电电路部测量出所述点亮检查电压的电压电平高于预设的电压电平的情况下，不向所述点亮检查晶体管提供所述点亮检查电压。
根据一实施例，可以是，与所述预设的电压对应地决定所述栅电极的所述第一侧面与所述第一接触孔被间隔开的最大距离。
根据一实施例，可以是，所述多个像素列包括：第一像素列，反复排列了显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素；第二像素列，排列了显示第三颜色的第三像素；以及第三像素列，反复排列了所述第二像素和所述第一像素。
根据一实施例，可以是，所述点亮检查电路部向所述第一像素列和所述第三像素列所包括的所述第一像素和所述第二像素交替地施加所述点亮检查电压。
根据一实施例，所述多个点亮检查晶体管包括第一点亮检查晶体管、第二点亮检查晶体管以及第三点亮检查晶体管，所述第一点亮检查晶体管和所述第二点亮检查晶体管与所述第一像素列及所述第三像素列电连接，所述第三点亮检查晶体管与所述第二像素列电连接。
根据一实施例，可以是，所述点亮检查电压包括第一点亮检查电压、第二点亮检查电压以及第三点亮检查电压，所述第一点亮检查晶体管响应于第一检查控制信号而向所述第一像素提供所述第一点亮检查电压，所述第二点亮检查晶体管响应于第二检查控制信号而向所述第二像素提供所述第二点亮检查电压，所述第三点亮检查晶体管响应于第三检查控制信号而向所述第三像素提供所述第三点亮检查电压。
根据一实施例，可以是，所述显示装置还包括：数据驱动部，生成提供到所述多个像素列的数据电压；栅极驱动部，生成提供到所述多个像素列的扫描信号；以及时序控制部，生成控制所述数据驱动部和所述栅极驱动部的控制信号。
(发明效果)
本发明的各实施例涉及的显示装置可以包括具有7μm以上的第一距离的点亮检查晶体管。由此，点亮检查晶体管的电荷移动率可以降低，可以不会产生因在所述显示装置的制造工序中产生的静电引起的绝缘破坏现象。因此，所述显示装置可以执行点亮检查，并且通过点亮检查可以检测出所述显示装置是否受损(例如，布线、像素等是否受损等)。另外，由于点亮检查晶体管不会被短路，因此可以在驱动所述显示装置时提高显示品质。
但是，本发明的效果并不限于上述的效果，在不超出本发明的思想以及领域的范围内可以进行各种扩展。
附图说明
图1和图2是用于说明本发明的各实施例涉及的显示装置的制造工序的图。
图3是表示本发明的各实施例涉及的显示装置的图。
图4是表示图3的显示装置的电路图。
图5是用于说明图3的显示装置所包括的点亮检查晶体管的平面图。
图6是沿着图5的I-I’线截取的剖视图。
图7是图3的显示装置的框图。
符号说明：
1000：显示装置；10：母基板；20：掩模；100：基板；110、120、130：第一至第三像素列；200：点亮检查电路部；300：多路分配器；400：数据驱动部；500：防静电电路部；DL：数据线；TR1、TR2、TR3：第一至第三点亮检查晶体管；240：有源图案；260：栅电极；280：源电极；290：漏电极；281：第一接触孔；282：第二接触孔；600：显示面板；700：栅极驱动部；800：时序控制部。
具体实施方式
以下，参照附图，更详细说明本发明的各实施例。对于附图上的相同的构成要素使用相同的符号，并省略对相同的构成要素的重复说明。
图1和图2是用于说明显示装置的制造工序的图。
参照图1和图2，在母基板10可以以格子形状排列将会分别形成图3的显示装置1000的多个单元区域40。在使母基板10和形成有多个开口的掩模20对齐后，沉积物质31从沉积源30通过所述多个开口而被沉积到母基板10的单元区域40。在此，单元区域40可以包括图3的显示区域DA以及图3的非显示区域NDA。例如，沉积物质31可以是配置在显示区域DA的像素(例如，图3的PX)所包括的有机物质。
在一实施例中，在显示区域DA可以配置设置在所述有机物质的下部的多个像素晶体管，在非显示区域NDA可以配置用于所述像素的点亮检查的多个点亮检查晶体管(例如，图4的TR1、TR2或TR3)。此时，在使母基板10和掩模20对齐为一列的过程中，母基板10的中央部A可能会下沉。随着母基板10的中央部A下沉，母基板10的中央部A可能会与掩模20靠近或接触。在该情况下，在与由金属形成的掩模20靠近或接触的母基板10的中央部A可能会产生静电，由此位于中央部A的所述点亮检查晶体管可能会受损。
例如，为了使母基板10和掩模20对齐为一列，可以将母基板10的对齐速度设定为约300mm/s，并且可以将母基板10与掩模20之间的距离设定为约5mm。在该情况下，在母基板10的中央部A，可能会产生具有约500V的电压电平的静电。由此，对于在位于母基板10的中央部A的单元区域40制造出的显示装置1000的所述点亮检查晶体管而言，可能会产生绝缘破坏现象(breakdown)。若产生绝缘破坏现象，则所述点亮检查晶体管所包括的绝缘层(例如，图6的栅极绝缘层250或层间绝缘层270)会失去绝缘性，并且会具有导电性，在所述点亮检查晶体管中可能会产生短路(short)现象。在驱动显示装置1000时，由于通过所述点亮检查晶体管向所述像素提供数据电压，因此显示装置1000的显示品质可能会因所述短路现象而降低。
图3是表示本发明的各实施例涉及的显示装置的图。
参照图3，例如，在图1和图2所示的多个单元区域40分别可以形成显示装置1000，通过执行单元切割，可以从母基板10分离显示装置1000。显示装置1000可以包括基板100、多个数据线DL、多个像素列110、120、130、点亮检查电路部200、多路分配器300、数据驱动部400以及防静电电路部500。
基板100可以具有显示区域DA以及与显示区域DA相邻设置的非显示区域NDA。
多个数据线DL可以配置在基板100上的显示区域DA。例如，多个数据线DL可以在列方向上延伸，并且可以在垂直于所述列方向的行方向上并排排列。多个数据线DL可以分别与像素列110、120、130电连接。
像素列110、120、130可以与多个数据线DL平行地配置。像素列110、120、130分别可以包括多个像素PX，在进行显示装置1000的点亮检查时，各像素PX可以响应于通过多个数据线DL提供的点亮检查电压而发光。
在一实施例中，像素列110、120、130可以包括第一像素列110、第二像素列120以及第三像素列130。第一像素列110可以包括显示第一颜色的第一像素R以及显示第二颜色的第二像素B，在第一像素列110可以反复排列第一像素R和第二像素B。第二像素列120可以包括显示第三颜色的第三像素G，在第二像素列120可以反复排列第三像素G。第三像素列130可以包括第一像素R以及第二像素B，在第三像素列130可以反复排列第一像素R和第二像素B。此时，第三像素列130所包括的第一像素R以及第二像素B被排列成与第一像素列110所包括的第一像素R以及第二像素B相反的顺序。例如，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，第三颜色可以是绿色。
在一实施例中，如图3所示，在基板100上的显示区域DA可以反复配置第一像素列110、第二像素列120、第三像素列130以及第二像素列120。另一方面，配置像素列110、120、130的顺序并不限于此，而且虽然在图3中示出了八个像素列110、120、130，但是配置像素列110、120、130的个数并不限于此。
点亮检查电路部200可以配置在基板100上的非显示区域NDA。点亮检查电路部200可以在进行显示装置1000的点亮检查时通过多个数据线DL向像素列110、120、130提供点亮检查电压。
在一实施例中，点亮检查电路部200可以向第一像素列110和第三像素列130所包括的第一像素R和第二像素B交替地施加点亮检查电压。例如，点亮检查电路部200可以施加使第一像素R发光的第一点亮检查电压，从而检测出第一像素R的点亮不良。然后，点亮检查电路部200可以施加使第二像素B发光的第二点亮检查电压，从而检测出第二像素B的点亮不良。
在一实施例中，点亮检查电路部200可以向第二像素列120所包括的第三像素G施加点亮检查电压。例如，点亮检查电路部200可以施加使第三像素G发光的第三点亮检查电压，从而检测出第三像素G的点亮不良。
另外，点亮检查电路部200可以在驱动显示装置1000时不工作。例如，在显示装置1000被驱动时，显示装置1000可以使点亮检查电路部200所包括的点亮检查晶体管截止。
多路分配器300可以在基板100上的非显示区域NDA配置在点亮检查电路部200与像素列110、120、130之间。多路分配器300可以在驱动显示装置1000时从数据驱动部400接收数据电压，并通过多个数据线DL向像素列110、120、130施加所述数据电压。
数据驱动部400可以生成所述数据电压，并且可以在驱动显示装置1000时通过多路分配器300和多个数据线DL向像素列110、120、130提供所述数据电压。在一实施例中，数据驱动部400可以配置在基板100上的非显示区域NDA。在其他实施例中，数据驱动部400也可以以COF(chip-on-film)形态配置在柔性印刷电路基板(flexible printed circuitboard，FPCB)上。
防静电电路部500可以配置在基板100上的非显示区域NDA。参照图4来详细说明防静电电路部500。
图4是表示图3的显示装置的电路图。
参照图3和图4，点亮检查电路部200可以包括第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3。在进行显示装置1000的点亮检查时，第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3可以向第一像素R至第三像素B提供点亮检查电压。为此，第一点亮检查晶体管TR1和第二点亮检查晶体管TR2可以与第一像素列110及第三像素列130电连接，第三点亮检查晶体管TR3可以与第二像素列120电连接。
第一点亮检查晶体管TR1可以响应于第一检查控制信号LCS_R，向第一像素R提供第一点亮检查电压LS_R。第一检查控制信号LCS_R可以具有使第一点亮检查晶体管TR1导通和截止的电压电平，第一点亮检查电压LS_R可以具有使第一像素R发光的电压电平。例如，第一点亮检查晶体管TR1的栅极端子可以接收第一检查控制信号LCS_R的提供，源极端子可以接收第一点亮检查电压LS_R的提供，并且漏极端子可以向第一像素列110或第三像素列130提供第一点亮检查电压LS_R。
第二点亮检查晶体管TR2可以响应于第二检查控制信号LCS_B，向第二像素B提供第二点亮检查电压LS_B。第二检查控制信号LCS_B可以具有使第二点亮检查晶体管TR2导通和截止的电压电平，第二点亮检查电压LS_B可以具有使第二像素B发光的电压电平。例如，第二点亮检查晶体管TR2的栅极端子可以接收第二检查控制信号LCS_B的提供，源极端子可以接收第二点亮检查电压LS_B的提供，并且漏极端子可以向第一像素列110或第三像素列130提供第二点亮检查电压LS_B。
第一像素R可以接收第一点亮检查电压LS_R的提供而发光，第二像素B可以接收第二点亮检查电压LS_B的提供而发光。例如，第一点亮检查电压LS_R的电压电平可以高于第二点亮检查电压LS_B的电压电平。另外，如上所述，点亮检查电路部200可以向第一像素R和第二像素B交替地施加第一点亮检查电压LS_R和第二点亮检查电压LS_B。为此，第一检查控制信号LCS_R和第二检查控制信号LCS_B可以分别交替地被提供至第一点亮检查晶体管TR1和第二点亮检查晶体管TR2。
第三点亮检查晶体管TR3可以响应于第三检查控制信号LCS_G，向第三像素G提供第三点亮检查电压LS_G。第三检查控制信号LCS_G可以具有使第三点亮检查晶体管TR3导通和截止的电压电平，第三点亮检查电压LS_G可以具有使第三像素G发光的电压电平。例如，第三点亮检查晶体管TR3的栅极端子可以接收第三检查控制信号LCS_G的提供，源极端子可以接收第三点亮检查电压LS_G的提供，并且漏极端子可以向第二像素列120提供第三点亮检查电压LS_G。
多路分配器300可以包括多个控制晶体管。在驱动显示装置1000时，所述多个控制晶体管可以响应于控制信号CS_1、CS_2，向第一像素R至第三像素B提供数据电压。
如上所述，在驱动显示装置1000时，数据驱动部400可以生成数据电压，并且通过多路分配器300和多个数据线DL向第一像素R至第三像素B提供数据电压。
防静电电路部500可以与点亮检查电路部200电连接，并且可以测量提供至点亮检查电路部200的第一点亮检查电压LS_R至第三点亮检查电压LS_G的电压电平。在防静电电路部500测量出第一点亮检查电压LS_R至第三点亮检查电压LS_G中的至少一个的点亮检查电压的电压电平高于预设的电压电平的情况下，所述至少一个的点亮检查电压可以不被提供至第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3。换言之，在传递第一点亮检查电压LS_R至第三点亮检查电压LS_G的多个布线中的至少一个布线上可能产生了静电，防静电电路部500可以不将在所述布线上产生的所述静电提供至第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3。例如，在防静电电路部500中设定的所述预设的电压电平是约6.5V且通过所述至少一个布线传递的电压的电压电平是约7V的情况下，防静电电路部500可以不将所述约7V的电压提供至第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3。
图5是用于说明图3的显示装置所包括的点亮检查晶体管的平面图，图6是沿着图5的I-I’线截取的剖视图。
参照图3、图4、图5和图6，第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3分别可以包括有源图案240、栅极绝缘层250、栅电极260、层间绝缘层270、源电极280和漏电极290。
在基板100上可以依次配置缓冲层230、有源图案240、栅极绝缘层250、栅电极260、层间绝缘层270、源电极280和漏电极290。
缓冲层230可以配置在基板100上。缓冲层230可以防止金属原子或杂质从基板100扩散至有源图案240的现象。另外，缓冲层230可以在用于形成有源图案240的结晶化工序期间调节热的传递速度，从而使得有源图案240形成得均匀。另一方面，在其他实施例中，显示装置1000也可以不包括缓冲层230。
有源图案240可以配置在缓冲层230上。在一实施例中，有源图案240可以包括非晶硅、多晶硅等硅半导体或金属氧化物半导体。
有源图案240可以具有源极区域243、漏极区域245以及源极区域243与漏极区域245之间的沟道区域241。在有源图案240的源极区域243和漏极区域245可以掺杂杂质。由此，有源图案240的沟道区域241可以与源极区域243和漏极区域245相比导电性低且电阻高。
栅极绝缘层250可以介于基板100与层间绝缘层270之间，并且覆盖有源图案240。第一接触孔281和第二接触孔291可以贯通栅极绝缘层250，可以分别使有源图案240的源极区域243和漏极区域245的一部分露出。栅极绝缘层250可以包括绝缘物质。例如，栅极绝缘层250可以由硅氧化物、硅氮化物、钛氧化物、钽氧化物等形成。
栅电极260可以配置在栅极绝缘层250上的沟道区域241。栅电极260可以包括金属、合金、导电性金属氧化物等。例如，栅电极260可以包括金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)、镍(Ni)、铬(Cr)、铝(Al)、钨(W)、钼(Mo)、钛(Ti)、钽(W)或它们的合金，可以具有单层结构或包括彼此不同的金属层的多层结构。另一方面，栅电极260可以对应于参照图4说明的栅极端子。
另一方面，栅电极260可以包括第一侧面以及与所述第一侧面对置的第二侧面。例如，如图5所示，栅电极260可以包括与源电极280相向的所述第一侧面以及与所述第一侧面对置且与漏电极290相向的所述第二侧面。换言之，所述第一侧面与所述第二侧面之间的距离可以等于栅电极260的长度LEN。
层间绝缘层270可以覆盖栅电极260，可以分别形成有第一接触孔281和第二接触孔291的一部分。换言之，可以去除栅极绝缘层250和层间绝缘层270的第一部分来形成第一接触孔281，并且可以去除栅极绝缘层250和层间绝缘层270的第二部分来形成第二接触孔291。即，栅极绝缘层250和层间绝缘层270可以包括第一接触孔281和第二接触孔291。层间绝缘层270可以包括绝缘物质。例如，层间绝缘层270可以由硅氧化物、硅氮化物、钛氧化物、钽氧化物等形成。
第一接触孔281可以使有源图案240的源极区域243的一部分露出并且位于距栅电极260的所述第一侧面间隔开约7μm以上的位置处。换言之，栅电极260与第一接触孔281之间的第一距离DIS_1可以在约7μm以上。
第二接触孔291可以使有源图案240的漏极区域245的一部分露出并且位于距栅电极260的所述第二侧面间隔开约7μm以上的位置处。换言之，栅电极260与第二接触孔291之间的第二距离DIS_2可以在约7μm以上。
在一实施例中，第一接触孔281与第二接触孔291之间的距离可以在约17μm以上。
源电极280可以配置在层间绝缘层270上，并且可以通过第一接触孔281而与有源图案240的源极区域243接触。源电极280可以包括金属、合金、导电金属氧化物等。例如，源电极280可以包括Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Al、W、Mo、Ti、Ta或它们的合金，可以具有单层结构或包括彼此不同的金属层的多层结构。另外，源电极280可以对应于参照图4说明的源极端子。由此，源电极280可以与数据驱动部400相邻地设置，且与数据驱动部400电连接，从而可以从数据驱动部400接收数据电压的提供。
漏电极290可以配置在层间绝缘层270上，且可以通过第二接触孔291而与有源图案240的漏极区域245接触。漏电极290可以包括金属、合金、导电金属氧化物等。在一实施例中，漏电极290可以与源电极280一起形成，因此可以包括与源电极280相同的物质。另外，漏电极290可以对应于参照图4说明的漏极端子。由此，漏电极290可以与多路分配器300相邻地设置，且与多路分配器300电连接，从而可以向多路分配器300提供数据电压。
第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率可以根据形成第一点亮检查晶体管TR1的各构成要素的长度以及各构成要素之间的距离来决定。例如，随着源电极280所填充的第一接触孔281与栅电极260的所述第一侧面之间的第一距离DIS_1以及漏电极290所填充的第二接触孔291与栅电极260的所述第二侧面之间的第二距离DIS_2变长，从源极区域243向漏极区域245移动的电荷的移动距离可以增加。因此，随着第一距离DIS_1和第二距离DIS_2变长，第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率可以下降。另外，电阻比源极区域243和漏极区域245大的沟道区域241的长度LEN越长，第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率可以越下降。
另一方面，如上所述，在显示装置1000的制造工序中，随着母基板(图1和图2的10)的中央部(图1和图2的A)下沉，所述中央部可能会与掩模(图1和图2的20)靠近或接触，由此在所述中央部可能会产生具有约500V的电压电平的静电。为了防止因所述静电引起的第一点亮检查晶体管TR1的绝缘破坏现象，第一点亮检查晶体管TR1的第一距离DIS_1和第二距离DIS_2分别可以在约7μm以上。换言之，设计成第一点亮检查晶体管TR1具有约7μm以上的第一距离DIS_1或第二距离DIS_2，第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率可以下降，由此可以防止第一点亮检查晶体管TR1的绝缘破坏现象。
另外，在一实施例中，栅电极260的长度LEN可以是约3μm至约4μm。第一点亮检查晶体管TR1包括具有约3μm至约4μm的长度LEN的栅电极260，从而可以使第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率下降，由此可以防止第一点亮检查晶体管TR1的绝缘破坏现象。
下述的表1是在栅电极260的长度LEN约为3.5μm的情况下根据第一距离DIS_1和第二距离DIS_2各自的变化表示在第一点亮检查晶体管TR1中是否产生了绝缘破坏现象的表。如下述的表所示，在第一距离DIS_1和第二距离DIS_2分别是约3.2μm、约3.3μm、约3.5μm以及约6μm的情况(即，事件1至事件4的情况)下，在第一点亮检查晶体管TR1中产生了绝缘破坏现象。相反，在第一距离DIS_1和第二距离DIS_2分别是约7μm、约8.7μm以及约11μm的情况(即，事件5至事件7的情况)下，在第一点亮检查晶体管TR1中未产生绝缘破坏现象。
<表1>
在一实施例中，第一点亮检查晶体管TR1的第一距离DIS_1和第二距离DIS_2各自的最大距离可以与在防静电电路部500设定的所述预设的电压对应地决定。例如，第一点亮检查晶体管TR1的第一距离DIS_1和第二距离DIS_2各自的最大距离可以是约11μm。如上所述，在防静电电路部500测量出点亮检查电压的电压电平高于预设的电压电平的情况下，可以不向第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3提供所述点亮检查电压。例如，防静电电路部500的所述预设的电压电平可以是约6.5V。在第一点亮检查晶体管TR1的第一距离DIS_1或第二距离DIS_2大于约11μm的情况下，第一点亮检查晶体管TR1的电荷移动率可能会下降。由此，第一点亮检查晶体管TR1无法传递具有约6.5V以下的电压电平的点亮检查电压，由此显示装置1000可能无法执行点亮检查。
在一实施例中，第一距离DIS_1和第二距离DIS_2可以相同。例如，在第一距离DIS_1比第二距离DIS_2短的情况下，从源极区域243向沟道区域241移动的电荷的移动距离可能会短于从沟道区域241向漏极区域245移动的电荷的移动距离。在该情况下，在显示装置1000的制造工序中产生的静电可能会被集中提供到源极区域243，由此在第一点亮检查晶体管TR1可能会产生绝缘破坏现象。为了防止静电被集中提供至源极区域243或漏极区域245，第一距离DIS_1和第二距离DIS_2可以相同。
另一方面，第二点亮检查晶体管TR2和第三点亮检查晶体管TR3各自的结构可以实质上与上述的第一点亮检查晶体管TR1相同。另外，在源电极280和漏电极290上还可以配置显示层。在一实施例中，在显示装置1000为液晶显示装置的情况下，所述显示层可以包括第一电极、第二电极以及配置在所述第一电极与所述第二电极之间的液晶层。在其他实施例中，在显示装置1000为有机发光显示装置的情况下，所述显示层可以包括第一电极、第二电极以及配置在所述第一电极与所述第二电极之间的有机发光层。
图7是图3的显示装置的框图。
参照图3和图7，显示装置1000可以包括显示面板600、数据驱动部400、栅极驱动部700以及时序控制部800。
显示面板600可以包括多个数据线DL、多个栅极线、与多个数据线DL及所述栅极线连接的多个像素PX、点亮检查电路部200、多路分配器300以及防静电电路部500。显示面板600可以通过多个数据线DL接收数据电压DS的提供，并且可以通过所述多个栅极线接收栅极信号GS的提供。
所述栅极线可以配置在基板100上的显示区域DA。例如，所述多个栅极线可以在行方向上延伸，并且在垂直于所述行方向的列方向上并排排列。在所述多个栅极线与多个数据线DL交叉的区域可以形成多个像素PX。
数据驱动部400可以基于从时序驱动部800提供的图像数据RGB’以及数据控制信号DCTRL生成数据电压DS，并且可以通过多个数据线DL向多个像素PX提供数据电压DS。例如，数据控制信号DCTRL可以包括输出数据选通信号、水平开始信号以及负载信号。
栅极驱动部700可以基于从时序控制部800提供的栅极控制信号GCTRL生成栅极信号GS，并且可以通过所述多个栅极线向多个像素PX提供栅极信号GS。例如，栅极控制信号GCTRL可以包括垂直开始信号、时钟信号等。例如，栅极驱动部700可以直接安装在基板100上的非显示区域NDA。在其他实施例中，栅极驱动部700可以以COF形态配置在FPCB上。
时序控制部800可以从外部接收输入图像数据RGB以及控制信号CTRL。例如，输入图像数据RGB可以是包括红色图像数据、绿色图像数据以及蓝色图像数据的RGB数据。控制信号CTRL可以包括垂直同步信号、水平同步信号、输入数据选通信号、主时钟信号等。时序控制部800可以基于输入图像数据RGB和控制信号CTRL，生成栅极控制信号GCTRL、数据控制信号DCTRL以及图像数据RGB’。另外，时序控制部800可以向栅极驱动部700提供栅极控制信号GCTRL，并且可以向数据驱动部400提供数据控制信号DCTRL和图像数据RGB’。
本发明的各实施例涉及的显示装置1000可以包括具有7μm以上的第一距离DIS_1的第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3。由此，第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3的电荷移动率可以下降，不会因在显示装置1000的制造工序中产生的静电而产生绝缘破坏现象。因此，显示装置1000可以执行点亮检查，并且通过点亮检查可以检测出显示装置1000是否受损(例如，布线、像素PX等是否受损)。另外，第一点亮检查晶体管TR1至第三点亮检查晶体管TR3不会被短路，因此可以在驱动显示装置1000时提高显示品质。
(产业上的可利用性)
本发明可以适用于显示装置以及包括其的电子设备。例如，本发明可以适用于高分辨率智能电话、便携式电话、智能平板、智能手表、平板PC、车辆用导航系统、电视机、计算机显示屏、笔记本电脑等。
以上，参照本发明的例示性实施例进行了说明，但是本领域技术人员应当能够理解在不超出权利要求书所记载的本发明的思想以及领域的范围内可以以各种方式修正和变更本发明。
Claims (16)
1.一种显示装置，包括：
基板，具有显示区域以及与所述显示区域相邻设置的非显示区域；
多个像素列，配置在所述基板上的所述显示区域；以及
点亮检查电路部，配置在所述基板上的所述非显示区域，包括多个点亮检查晶体管，并且向所述多个像素列提供点亮检查电压，
各个所述点亮检查晶体管包括：
有源图案，配置在所述基板上的所述非显示区域，并且具有源极区域、漏极区域以及沟道区域；
栅电极，配置在所述有源图案上的所述沟道区域；
层间绝缘层，覆盖所述栅电极，并且包括使所述有源图案的所述源极区域的一部分露出并从所述栅电极的第一侧面间隔开7μm以上来设置的第一接触孔；以及
源电极，通过所述第一接触孔而与所述有源图案的所述源极区域接触。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述层间绝缘层还包括：第二接触孔，使所述有源图案的所述漏极区域的一部分露出，并且从所述栅电极的第二侧面间隔开7μm以上来设置该第二接触孔，
各个所述点亮检查晶体管还包括：漏电极，通过所述第二接触孔而与所述有源图案的所述漏极区域接触。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，
所述栅电极的所述第一侧面与所述第一接触孔被间隔开的距离和所述栅电极的所述第二侧面与所述第二接触孔被间隔开的距离相同。
4.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，
所述栅电极的所述第一侧面与所述第二侧面之间的长度是3μm至4μm。
5.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，
所述第一接触孔与所述第二接触孔之间的距离在17μm以上。
6.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，
各个所述点亮检查晶体管还包括：
栅极绝缘层，介于所述基板与所述层间绝缘层之间，并且覆盖所述有源图案，
所述第一接触孔和所述第二接触孔贯通所述栅极绝缘层来分别使所述有源图案的所述源极区域和所述漏极区域露出。
7.根据权利要求2所述的显示装置，还包括：
数据驱动部，配置在所述基板上的所述非显示区域，并且生成数据电压，
所述点亮检查电路部配置在所述多个像素列与所述数据驱动部之间。
8.根据权利要求7所述的显示装置，还包括：
多路分配器，在所述基板上的所述非显示区域配置在所述点亮检查电路部与所述多个像素列之间，
所述多路分配器从所述数据驱动部接收所述数据电压并将所述数据电压提供到所述多个像素列。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，
所述源电极被设置成与所述数据驱动部相邻，所述漏电极被设置成与所述多路分配器相邻。
10.根据权利要求1所述的显示装置，还包括：
防静电电路部，配置在所述基板上的所述非显示区域，且与所述点亮检查电路部电连接，并且测量所述点亮检查电压的电压电平，
在所述防静电电路部测量出所述点亮检查电压的电压电平高于预设的电压电平的情况下，不向所述点亮检查晶体管提供所述点亮检查电压。
11.根据权利要求10所述的显示装置，其特征在于，
与所述预设的电压对应地决定所述栅电极的所述第一侧面与所述第一接触孔被间隔开的最大距离。
12.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
所述多个像素列包括：
第一像素列，反复排列了显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素；
第二像素列，排列了显示第三颜色的第三像素；以及
第三像素列，反复排列了所述第二像素和所述第一像素。
13.根据权利要求12所述的显示装置，其特征在于，
所述点亮检查电路部向所述第一像素列和所述第三像素列所包括的所述第一像素和所述第二像素交替地施加所述点亮检查电压。
14.根据权利要求13所述的显示装置，其特征在于，
所述多个点亮检查晶体管包括第一点亮检查晶体管、第二点亮检查晶体管以及第三点亮检查晶体管，
所述第一点亮检查晶体管和所述第二点亮检查晶体管与所述第一像素列及所述第三像素列电连接，
所述第三点亮检查晶体管与所述第二像素列电连接。
15.根据权利要求14所述的显示装置，其特征在于，
所述点亮检查电压包括第一点亮检查电压、第二点亮检查电压以及第三点亮检查电压，
所述第一点亮检查晶体管响应于第一检查控制信号而向所述第一像素提供所述第一点亮检查电压，
所述第二点亮检查晶体管响应于第二检查控制信号而向所述第二像素提供所述第二点亮检查电压，
所述第三点亮检查晶体管响应于第三检查控制信号而向所述第三像素提供所述第三点亮检查电压。
16.根据权利要求1所述的显示装置，还包括：
数据驱动部，生成提供到所述多个像素列的数据电压；
栅极驱动部，生成提供到所述多个像素列的扫描信号；以及
时序控制部，生成控制所述数据驱动部和所述栅极驱动部的控制信号。
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