CN112331118B - 一种显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板和显示装置，显示面板包括显示区和非显示区；非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，驱动芯片绑定区设置有多个输出绑定端子；短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，多路输出选择电路包括显示信号接收端，输出绑定端子分别与测试信号输出端和显示信号接收端电连接；显示面板还包括阻断模块；在显示测试阶段，阻断模块用于控制测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径导通；在显示阶段，阻断模块用于控制测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径阻断，如此可以实现COG面板的正常测试和正常显示，且通过增设阻断模块，在测试过程完成后无需切除短路棒电路，节省面板制备工艺。

Description

一种显示面板和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术

现有设计中，在显示面板出厂之前会对显示面板进行点屏测试(VT检测)，只有画面显示正常的显示面板才会进行下一工序。在VT测试时，需要通过短路棒将显示同一种颜色光线的子像素的数据信号线短接在一起，从而实现单色画面的显示。

覆晶薄膜(Chip On Film，COF)技术是将驱动芯片固定在柔性线路板上，如此可以降低显示面板的下边框，有利于实现窄边框显示。但是COF技术会使用两个柔性电路板，柔性电路板的开模费较高，增加显示面板的整体成本；并且在COF显示面板中，在完成点屏测试后还需要将短路棒电路切除，增加工艺。

发明内容

本发明提供一种显示面板和显示装置，采用玻璃上芯片(Chip On Glass，COG)类型的显示面板，降低显示面板成本；并且通过增设阻断模块避免切除短路棒电路，节省显示面板制备工艺。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

显示区和位于所述显示区一侧的非显示区；

所述非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，所述驱动芯片绑定区包括输出绑定端子设置区，所述输出绑定端子设置区设置有多个输出绑定端子；

所述短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，所述多路输出选择电路包括显示信号接收端，所述输出绑定端子分别与所述测试信号输出端和所述显示信号接收端电连接；

所述显示面板还包括阻断模块；

在显示测试阶段，所述阻断模块用于控制所述测试信号输入端与所述输出绑定端子之间的传输路径导通；

在显示阶段，所述阻断模块用于控制所述测试信号输入端与所述输出绑定端子之间的传输路径阻断。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括第一方面提供的显示面板。

本发明实施例提供的显示面板和显示装置，显示面板为COG类型的显示面板，驱动芯片直接绑定在面板的玻璃衬底上，降低显示面板的柔性电路板开模费，降低显示面板的整体费用。进一步的，显示面板的非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，驱动芯片绑定区设置有多个输出绑定端子，短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，多路输出选择电路包括显示信号接收端，通过设置输出绑定端子分别与测试信号输出端和显示信号接收端电连接，同时增设阻断模块，阻断模块用于在显示阶段阻断测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径，保证显示信号可以直接经驱动芯片传输至多路输出选择电路，如此不必对短路棒电路进行切割，节省显示面板的制备工艺，提升制备效率；且不会对其他结构造成损伤，保证显示面板结构完整，确保可以正常工作。

附图说明

图1是相关技术中一种显示面板的结构示意图；

图2为图1提供的显示面板中A区域的放大结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图4为图3提供的显示面板中B区域的一种放大结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种第一开关控制信号线以及阻断控制信号线的控制时序示意图；

图7为图3提供的显示面板中B区域的另一种放大结构示意图；

图8是本发明实施例提供的另一种第一开关控制信号线以及阻断控制信号线的控制时序示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图10是图9提供的显示面板中C区域的一种放大结构示意图；

图11是图9提供的显示面板中C区域的另一种放大结构示意图；

图12是图9提供的显示面板中C区域的另一种放大结构示意图；

图13是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是相关技术中一种显示面板的结构示意图，图2为图1提供的显示面板中A区域的放大结构示意图，结合图1和图2所示，显示面板10包括显示区AA和位于显示区AA一侧的非显示区NAA，图1中的显示面板对应为COF类型的显示面板。如图1所示，显示面板10的非显示区NAA包括短路棒电路11、多路输出选择电路12和柔性电路板绑定位置13，驱动芯片绑定在柔性电路板中(图中未示出)，柔性电路板与显示面板10的衬底在柔性电路板绑定位置13进行绑定，驱动芯片并未直接绑定在非显示区NAA。短路棒电路11的输出端与多路输出选择电路12的输入端电连接。在显示测试阶段，短路棒电路11输出显示测试信号，显示测试信号经多路输出选择电路12传输至显示区AA中的数据线14中，实现各个子像素的显示测试。在显示测试结束后，沿切割线切割去除短路棒电路，实现显示面板的窄边框设计。由于驱动芯片绑定在柔性电路板中，因此针对驱动芯片需要增加一次柔性电路板的开模费用，导致显示面板的整体费用增加。并且在显示测试阶段完成之后，为了实现显示面板的窄边框设计，需要将短路棒电路11切割去除，如此会增加一道切割制程，不仅增加面板制备工艺，且切割制程可能损伤其他结构，影响显示面板正常使用。

基于上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板和显示装置，显示面板包括显示区和位于显示区一侧的非显示区；非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，驱动芯片绑定区包括输出绑定端子设置区，输出绑定端子设置区设置有多个输出绑定端子；短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，多路输出选择电路包括显示信号接收端，输出绑定端子分别与测试信号输出端和显示信号接收端电连接；显示面板还包括阻断模块；在显示测试阶段，阻断模块用于控制测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径导通；在显示阶段，阻断模块用于控制测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径阻断。综上所述，本发明实施例提供的显示面板，在显示面板的非显示区设置有驱动芯片绑定区，驱动芯片直接绑定在显示面板的衬底上，实现COG类型的显示面板，降低显示面板的柔性电路板开模费，降低显示面板的整体费用。进一步的，显示面板的非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，驱动芯片绑定区设置有多个输出绑定端子，短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，多路输出选择电路包括显示信号接收端，通过设置输出绑定端子分别与测试信号输出端和显示信号接收端电连接，同时增设阻断模块，阻断模块用于在显示阶段阻断测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径，保证显示信号可以直接经驱动芯片传输至多路输出选择电路，如此不必对短路棒电路进行切割，节省显示面板的制备工艺，提升制备效率；且不会对其他结构造成损伤，保证显示面板结构完整，确保可以正常工作。

以上是发明实施例的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图3是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图4为图3提供的显示面板中B区域的一种放大结构示意图，结合图3和图4所示，本发明实施例提供的显示面板20包括显示区AA和位于显示区AA一侧的非显示区NAA；非显示区NAA包括短路棒电路21、多路输出选择电路22和驱动芯片绑定区23，驱动芯片绑定区23包括输出绑定端子设置区231，输出绑定端子设置区231设置有多个输出绑定端子2311；短路棒电路21包括测试信号输入端21a和测试信号输出端21b，多路输出选择电路22包括显示信号接收端22a，输出绑定端子2311分别与测试信号输出端21b和显示信号接收端22a电连接；显示面板20还包括阻断模块24；在显示测试阶段，阻断模块24用于控制测试信号输入端21a与输出绑定端子2311之间的传输路径导通；在显示阶段，阻断模块24用于控制测试信号输入端21a与输出绑定端子2311之间的传输路径阻断。

示例性的，本发明实施例提供的显示面板20为COG形式的显示面板，在显示面板20的非显示区NAA直接设置有驱动芯片绑定区24，用于绑定驱动芯片，即驱动芯片直接绑定在显示面板的非显示区，而非通过柔性电路板绑定在显示面板中，如此可以节省一个柔性电路板的开模费，降低显示面板的整体费用。

进一步的，显示面板20的非显示区NAA包括短路棒电路21、多路输出选择电路22和驱动芯片绑定区23，驱动芯片与显示面板20的衬底(玻璃衬底)在驱动芯片绑定区23绑定。进一步的，短路棒电路21包括测试信号输入端21a和测试信号输出端21b，多路输出选择电路22包括显示信号接收端22a，驱动芯片绑定区23包括输出绑定端子设置区231，输出绑定端子设置区231设置有多个输出绑定端子2311，输出绑定端子2311分别与显示信号接收端22a和测试信号输出端21b电连接，如此在显示测试阶段，显示测试信号依次经短路棒电路21、输出绑定端子2311和多路输出选择电路22传输至显示区AA中的多条数据线25，即显示测试信号的输出路径为短路棒电路——输出绑定端子——多路输出选择电路——数据线，保证显示测试过程正常进行。现有技术中的COG显示面板，在非显示区也会设置短路棒电路、多路输出选择电路和输出绑定端子，但是显示测试信号的输出路径为输出绑定端子——多路输出选择电路——短路棒电路——数据线，本发明实施例中显示面板的非显示区设计与现有技术不同，便于后续进一步设计短路棒的设置区域，实现显示面板的窄边框设计。

需要说明的是，输出绑定端子2311分别与显示信号接收端22a和测试信号输出端21b电连接，图3和图4中仅以沿第一方向(如图中所示的X方向)输出绑定端子2311(输出绑定端子设置区231)设置于短路棒电路21与多路输出选择电路22之间为例进行说明，可以理解的是，本发明实施例对输出绑定端子设置区231、短路棒电路21以及多路输出选择电路22的具体位置关系不进行限定，只需满足输出绑定端子2311分别与显示信号接收端22a和测试信号输出端21b电连接即可。

进一步的，继续参考图3和图4所示，本发明实施例提供的显示面板20中增设有阻断模块24，在显示测试阶段，阻断模块24用于控制测试信号输入端21a与输出绑定端子2311之间的传输路径导通；在显示阶段，阻断模块24用于控制测试信号输入端21a与输出绑定端子2311之间的传输路径阻断，如此在显示测试阶段完成之后，无需对短路棒电路21进行切割去除，节省显示面板的制备工艺，提升制备效率；且不会对其他结构造成损伤，保证显示面板结构完整，确保可以正常工作。

需要说明的是，阻断模块24可以独立设置，也可以集成设置在驱动芯片中，本发明实施例对此不进行限定，在后续的说明中将对阻断模块24进行详细说明，图3和图4仅以阻断模块24独立设置为例说明了阻断模块24的一种可行的实施方式，而非限定，其他阻断模块24的实施方式也属于本发明实施例的保护范围。

综上所述，本发明实施例提供的显示面板，通过在显示面板的非显示区设置有驱动芯片绑定区，驱动芯片直接绑定在显示面板的衬底上，实现COG类型的显示面板，区别于COF类型的显示面板，可以降低显示面板的柔性电路板开模费，降低显示面板的整体费用。进一步的，显示面板的非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，驱动芯片绑定区设置有多个输出绑定端子，短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，多路输出选择电路包括显示信号接收端，通过设置输出绑定端子分别与测试信号输出端和显示信号接收端电连接，同时增设阻断模块，阻断模块用于在显示阶段阻断测试信号输入端与输出绑定端子之间的传输路径，保证显示信号可以直接经驱动芯片传输至多路输出选择电路，如此不必对短路棒电路进行切割，节省显示面板的制备工艺，提升制备效率；且不会对其他结构造成损伤，保证显示面板结构完整，确保可以正常工作。

在上述实施例的基础上，图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，如图5所示，驱动芯片绑定区23还包括输入绑定端子设置区232，输入绑定端子设置区232设置有多个输入绑定端子2321；沿第一方向(如图中所示的X方向)，输出绑定端子2311设置区位于靠近显示区AA的一侧，第一方向与非显示区NAA指向显示区AA的方向平行；沿第一方向，短路棒电路21设置于输入绑定端子设置区232与输出绑定端子设置区231之间，多路输出选择电路22设置于输出绑定端子设置区231靠近显示区的一侧。

示例性的，如图5所示，驱动芯片绑定区23还包括输入绑定端子设置区232，输入绑定端子设置区232设置有多个输入绑定端子2321，输入绑定端子2321和输出绑定端子2311均与驱动芯片绑定连接。沿第一方向，短路棒电路21设置于输入绑定端子设置区232与输出绑定端子设置区231之间，即当输入绑定端子2321和输出绑定端子2311与驱动芯片绑定连接时，在垂直显示面板的方向上，驱动芯片覆盖短路棒电路21，也就是说短路棒电路21与驱动芯片叠层设置，如此短路棒电路21的设置不用额外占用非显示区NAA的位置，即使在完成显示测试过程之后，不对短路棒电路21进行切除，也不会增加非显示区NAA的面积，有利于实现显示面板20的窄边框设计。

进一步的，继续参考图5所示，当阻断模块24独立设置时，阻断模块24同样可以设置于绑定端子设置区232与输出绑定端子设置区231之间，即当输入绑定端子2321和输出绑定端子2311与驱动芯片绑定连接时，在垂直显示面板的方向上驱动芯片覆盖阻断模块24，也就是说阻断模块24与驱动芯片叠层设置，如此阻断模块24的设置不用额外占用非显示区NAA的位置，有利于实现显示面板20的窄边框设计。

在上述实施例的基础上，下面对阻断模块24的具体设置方式进行详细说明。

首先对阻断模块24独立设置进行说明。

作为一种可行的实施方式，继续参考图4所示，短路棒电路21包括多组第一开关单元211、多条第一开关控制信号线212以及多条显示测试信号线213；第一开关单元211包括多个第一开关晶体管2111；第一开关晶体管2111的栅极与第一开关控制信号线212电连接，第一开关晶体管2111的第一端与显示测试信号线213电连接，第一开关晶体管2111的第二端作为测试信号输出端21b；阻断模块24包括阻断晶体管241和阻断控制信号线242，阻断晶体管241的栅极与阻断控制信号线242的栅极电连接，阻断晶体管241的第一端与测试信号输出端21b(第一开关晶体管2111的第二端)电连接，阻断晶体管241的第二端与输出绑定端子2311电连接；在显示测试阶段，第一开关晶体管2111接收使能信号；阻断控制信号线242用于向阻断晶体管241传输使能信号，控制阻断晶体管241导通；在显示阶段，阻断控制信号线242用于向阻断晶体管241传输非使能信号，控制阻断晶体管241截止。

示例性的，如图4所示，短路棒电路21包括多组第一开关单元211、多条第一开关控制信号线212以及多条显示测试信号线213；第一开关单元211包括多个第一开关晶体管2111；阻断模块24包括阻断晶体管241和阻断控制信号线242，图4以第一开关晶体管2111和阻断晶体管241均为P型晶体管为例进行说明。图6是本发明实施例提供的一种第一开关控制信号线以及阻断控制信号线的控制时序示意图，图6所示的第一开关控制信号线以及阻断控制信号线的控制时序与图4示出的P型晶体对应。结合图4和图6所示，在显示测试阶段，第一开关控制信号线212向第一开关晶体管2111传输使能信号，第一开关晶体管2111导通，此时显示测试信号线213中的显示测试信号可以传输至第一开关晶体管2111的第二端，即测试信号输出端21b；与此同时，阻断控制信号线242用于向阻断晶体管241传输使能信号，控制阻断晶体管241导通，此时显示测试信号可以经阻挡晶体管241传输至绑定输出端子2311，然后经绑定输出端子23311和多路输出选择电路22传输至数据线25，实现显示测试。在显示测试阶段完成之后的正常显示阶段，阻断控制信号线242用于向阻断晶体管241传输非使能信号，控制阻断晶体管241截止，如此显示测试信号被阻断模块24阻断，此时驱动芯片提供的正常显示信号可以经绑定输出端子2333和多路输出选择电路22传输至数据线25，实现正常显示。综上，通过合理设置短路棒电路21和阻断模块24的结构、连接关系以及驱动时序，在确保无需对短路棒电路21进行切割去除的同时，保证实现正常的显示测试以及显示，在保证工艺简单的同时，保证显示面板正常工作。

需要说明的，在显示阶段，由于阻断控制信号线242向阻断晶体管241传输非使能信号，控制阻断晶体管241截止，此时显示测试信号被阻断模块24阻断，因此在显示阶段，第一开关晶体管2111接收的是使能信号还是非使能信号可以不用限定，图6仅以显示阶段，第一开关控制信号线212传输非使能信号为例进行说明。无论显示测试信号是否从测试信号输入端21a传输至测试信号输出端21b，显示测试信号均无法通过阻断模块24，此时显示测试信号不会对正常显示进行造成影响，不会影响正常显示。

在上述实施例的基础上，继续参考图6所示，在显示阶段，可以设置第一开关晶体管2111接收非使能信号，如此第一开关晶体管2111关断，进一步加强显示测试信号的阻断效果，避免因晶体管存在漏流造成一部分显示测试信号传出，保证显示测试信号的阻断良好，完全避免或者减小因显示测试信号造成的显示干扰，保障显示面板的显示效果。

作为一种可行的实施方式，图7为图3提供的显示面板中B区域的另一种放大结构示意图，如图7所示，阻断晶体管241为氧化物半导体晶体管。

示例性的，阻断晶体管241为氧化物半导体晶体管，例如可以为氧化铟锡(IndiumGallium Zinc Oxide，IGZO)晶体管，由于氧化物半导体晶体管的漏流较小，因此设置阻断晶体管241为氧化物半导体晶体管可以增强阻断晶体管241的阻断效果，避免因晶体管存在漏流造成一部分显示测试信号传出，保证显示测试信号的阻断良好，完全避免或者减小因显示测试信号造成的显示干扰，保障显示面板的显示效果良好。

在上述实施例的基础上，结合图4和图7所示，阻断晶体管241与第一开关晶体管2111均为P型晶体管或者均为N型晶体管，阻断晶体管241与第一开关晶体管2111形成双栅晶体管。

示例性的，图4以阻断晶体管241与第一开关晶体管2111均为P型晶体管为例进行说明，图7以阻断晶体管241与第一开关晶体管2111均为N型晶体管为例进行说明。设置阻断晶体管241与第一开关晶体管2111为相同类型的晶体管，如此阻断晶体管241与第一开关晶体管2111可以形成双栅晶体管，由于双栅晶体管相比于单栅晶体管来说漏流较小，因此在显示阶段，形成双栅晶体管的阻断晶体管241与第一开关晶体管2111可以增强显示测试信号的阻断效果，避免因晶体管存在漏流造成一部分显示测试信号传出，保证显示测试信号的阻断良好，完全避免或者减小因显示测试信号造成的显示干扰，保障显示面板的显示效果良好

进一步的，结合图4和图6所示，阻断晶体管241与第一开关晶体管2111均为P型晶体管。对应的，在显示测试阶段，阻断控制信号线242和第一开关控制信号线212输入低电平的使能信号，保证显示测试信号可以经短路棒电路21和阻断模块24后依次经输出绑定端子2311和多路输出选择电路22传输至数据线25，实现显示测试；在显示阶段，至少阻断控制信号线242输入高电平的非使能信号，至少保证显示测试信号无法经阻断模块24，显示测试信号不会对正常显示信号造成干扰，实现正常显示。

进一步的，图8是本发明实施例提供的另一种第一开关控制信号线以及阻断控制信号线的控制时序示意图，结合图7和图8所示，阻断晶体管241与第一开关晶体管2111均为N型晶体管，例如氧化物半导体晶体管。对应的，在显示测试阶段，阻断控制信号线242和第一开关控制信号线212输入高电平的使能信号，保证显示测试信号可以经短路棒电路21和阻断模块24后依次经输出绑定端子2311和多路输出选择电路22传输至数据线25，实现显示测试；在显示阶段，至少阻断控制信号线242输入低电平的非使能信号，至少保证显示测试信号无法经阻断模块24，显示测试信号不会对正常显示信号造成干扰，实现正常显示。进一步的，图8以阻断控制信号线242和第一开关控制信号线212在显示阶段均输入低电平的非使能信号，保证显示测试信号无法经过第一开关晶体管2111和阻断模块24，显示测试信号阻断效果良好，保证显示测试信号不会对正常显示信号造成干扰，实现正常显示。

上述以阻断模块24独立设置为例说明了如何实现显示测试和显示，下面以阻断模块24集成设置于驱动芯片中为例，说明如何实现显示测试和显示。

图9是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图10是图9提供的显示面板中C区域的一种放大结构示意图，结合图9和图10所示，短路棒电路21包括多组第一开关单元211、多条第一开关控制信号线212以及多条显示测试信号线213；第一开关单元211包括多个第一开关晶体管2111；第一开关晶体管2111的栅极与第一开关控制信号线212电连接，第一开关晶体管2111的第一端与显示测试信号线213电连接，第一开关晶体管2111的第二端作为测试信号输出端21b；在显示测试阶段，阻断模块用于向第一开关控制信号线212传输使能信号，控制第一开关晶体管2111导通；在显示阶段，阻断模块用于向第一开关控制信号线212传输非使能信号，控制第一开关晶体管2111截止。

示例性的，阻断模块可以为集成设置在驱动芯片中的模块(图中未示出)，在显示测试阶段，阻断模块用于向第一开关控制信号线212传输使能信号，控制第一开关晶体管2111导通，如此显示测试信号可以从测试信号输入端21a传输至测试信号输出端21b，显示测试信号进一步通过输出绑定端子2311和多路输出选择电路22传输至数据线25，保证实现显示测试；在显示阶段，阻断模块用于向第一开关控制信号线212传输非使能信号，控制第一开关晶体管2111截止，如此显示测试信号无法从测试信号输入端21a传输至测试信号输出端21b，显示测试信号不会对显示信号造成干扰，保证正常显示。

需要说明的是，本发明实施例对第一开关晶体管2111的类型不进行限定，可以为P型晶体管，也可以为N型晶体管，本发明实施例对此不进行限定。

作为一种可行的实施方式，图11是图9提供的显示面板中C区域的另一种放大结构示意图，如图11所示，第一开关晶体管2111可以包括氧化物半导体晶体管，例如为IGZO晶体管，由于氧化物半导体晶体管的漏流较小，因此设置第一开关晶体管2111为氧化物半导体晶体管可以增强第一开关晶体管2111的阻断效果，避免因晶体管存在漏流造成一部分显示测试信号传出，保证显示测试信号的阻断良好，完全避免或者减小因显示测试信号造成的显示干扰，保障显示面板的显示效果良好。

作为一种可行的实施方式，图12是图9提供的显示面板中C区域的另一种放大结构示意图，如图12所示，第一开关晶体管2111可以包括第一双栅开关晶体管，由于双栅晶体管相比于单栅晶体管来说漏流较小，因此在显示阶段，作为双栅晶体管的第一开关晶体管2111可以增强显示测试信号的阻断效果，避免因晶体管存在漏流造成一部分显示测试信号传出，保证显示测试信号的阻断良好，完全避免或者减小因显示测试信号造成的显示干扰，保障显示面板的显示效果良好。

在上述实施例的基础上，继续参考图4所示，在显示阶段，显示测试信号线213电悬浮设置。

示例性的，由于在显示阶段，驱动芯片向子像素提供显示信号，显示测试信号无需也不能传输至子像素，因此在显示阶段可以设置显示测试信号线213电悬浮设置，此时可以不必向显示测试信号线213提供显示测试信号，降低显示面板的功耗，提升显示面板的使用寿命。

在上述实施例的基础上，继续参考图4所示，多路输出选择电路22包括多组第二开关单元221和多条第二开关控制信号线222，第二开关单元221包括多个第二开关晶体管2211，第二开关晶体管2211的栅极与第二开关控制信号线222电连接，第二开光晶体管2211的第一端作为显示信号接收端22a，第二开光晶体管2211的第二端与显示区AA的数据线25电连接；第二开关控制信号线222与第一开关控制信号212线绝缘设置；在显示测试阶段，第一开关控制信号线212和第二开关控制信号线222接收显示测试装置提供的使能信号；在显示阶段，第二开关控制信号线222接收驱动芯片提供的使能信号。

示例性的，如图4所示，多路输出选择电路22包括多组第二开关单元221和多条第二开关控制信号线222，第二开关单元221包括多个第二开关晶体管2211，区别于现有显示面板中第二开关控制信号线222与第一开关控制信号212线电连接的设置方式，本发明实施例中设置第二开关控制信号线222与第一开关控制信号212线绝缘设置，多路输出选择电路22与短路棒电路21独立工作，如此在完成显示测试之后，不切除短路棒电路21，也不会造成第二开关控制信号线222与第一开关控制信号212线上的信号相同连通，不会相互干扰。具体的，在显示测试阶段，第一开关控制信号线212和第二开关控制信号线222接收显示测试装置提供的使能信号，保证第一开关晶体管2111和第二开关晶体管2211正常导通，显示测试信号可以经第一开关晶体管2111和第二开关晶体管2211传输至显示区AA中的数据线25，完成显示测试；在显示阶段，第二开关控制信号线222接收驱动芯片提供的使能信号，保证显示信号可以经第二开关晶体管2211传输至显示区AA中的数据线25，完成正常显示。

基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述实施方式提供的任一种显示面板。示例性的，参照图13，该显示装置100包括显示面板20。因此，该显示装置也具有上述实施方式中的显示面板所具有的有益效果，相同之处可参照上文对显示面板的解释说明进行理解，下文不再赘述。

本发明实施例提供的显示装置100可以为图13所示的手机，也可以为任何具有显示功能的电子产品，包括但不限于以下类别：电视机、笔记本电脑、桌上型显示器、平板电脑、数码相机、智能手环、智能眼镜、车载显示器、工控设备、医用显示屏、触摸交互终端等，本发明实施例对此不作特殊限定。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板为采用玻璃上芯片类型的显示面板，包括显示区和位于所述显示区一侧的非显示区；

所述非显示区包括短路棒电路、多路输出选择电路和驱动芯片绑定区，所述驱动芯片绑定区包括输出绑定端子设置区，所述输出绑定端子设置区设置有多个输出绑定端子；

所述短路棒电路包括测试信号输入端和测试信号输出端，所述多路输出选择电路包括显示信号接收端，所述输出绑定端子分别与所述测试信号输出端和所述显示信号接收端电连接；

所述显示面板还包括阻断模块；

所述阻断模块包括阻断晶体管和阻断控制信号线，所述阻断晶体管的栅极与所述阻断控制信号线的栅极电连接，所述阻断晶体管的第一端与所述测试信号输出端电连接，所述阻断晶体管的第二端与所述输出绑定端子电连接；在显示测试阶段，所述阻断模块用于控制所述测试信号输入端与所述输出绑定端子之间的传输路径导通；

在显示阶段，所述阻断模块用于控制所述测试信号输入端与所述输出绑定端子之间的传输路径阻断；

所述驱动芯片绑定区还包括输入绑定端子设置区，所述输入绑定端子设置区设置有多个输入绑定端子；沿第一方向，所述输出绑定端子设置区位于靠近所述显示区的一侧，所述第一方向与所述非显示区指向所述显示区的方向平行；

沿所述第一方向，所述短路棒电路设置于所述输入绑定端子设置区与所述输出绑定端子设置区之间，所述多路输出选择电路设置于所述输出绑定端子设置区靠近所述显示区的一侧。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述短路棒电路包括多组第一开关单元、多条第一开关控制信号线以及多条显示测试信号线；所述第一开关单元包括多个第一开关晶体管；

所述第一开关晶体管的栅极与所述第一开关控制信号线电连接，所述第一开关晶体管的第一端与所述显示测试信号线电连接，所述第一开关晶体管的第二端作为所述测试信号输出端；

在所述显示测试阶段，所述阻断模块用于向所述第一开关控制信号线传输使能信号，控制所述第一开关晶体管导通；

在所述显示阶段，所述阻断模块用于向所述第一开关控制信号线传输非使能信号，控制所述第一开关晶体管截止。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关晶体管包括氧化物半导体晶体管。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关晶体管包括第一双栅开关晶体管。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述短路棒电路包括多组第一开关单元、多条第一开关控制信号线以及多条显示测试信号线；所述第一开关单元包括多个第一开关晶体管；

所述第一开关晶体管的栅极与所述第一开关控制信号线电连接，所述第一开关晶体管的第一端与所述显示测试信号线电连接，所述第一开关晶体管的第二端作为所述测试信号输出端；

在所述显示测试阶段，所述第一开关晶体管接收使能信号；所述阻断控制信号线用于向所述阻断晶体管传输使能信号，控制所述阻断晶体管导通；

在所述显示阶段，所述阻断控制信号线用于向所述阻断晶体管传输非使能信号，控制所述阻断晶体管截止。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，在所述显示阶段，所述第一开关晶体管接收非使能信号。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述阻断晶体管为氧化物半导体晶体管。

8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述阻断晶体管与所述第一开关晶体管均为P型晶体管或者均为N型晶体管，所述阻断晶体管与所述第一开关晶体管形成双栅晶体管。

9.根据权利要求2或5所述的显示面板，其特征在于，在所述显示阶段，所述显示测试信号线电悬浮设置。

10.根据权利要求2或5所述的显示面板，其特征在于，所述多路输出选择电路包括多组第二开关单元和多条第二开关控制信号线，所述第二开关单元包括多个第二开关晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与所述第二开关控制信号线电连接，所述第二开关晶体管的第一端作为所述显示信号接收端，所述第二开关晶体管的第二端与所述显示区的数据线电连接；

所述第二开关控制信号线与所述第一开关控制信号线绝缘设置；

在所述显示测试阶段，所述第一开关控制信号线和所述第二开关控制信号线接收显示测试装置提供的使能信号；

在所述显示阶段，所述第二开关控制信号线接收驱动芯片提供的使能信号。

11.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的显示面板。