CN109841181A - 阵列基板、显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种阵列基板、显示面板和显示装置，该阵列基板包括显示区和围绕所述显示区的周边电路区；所述显示区设置有多条沿第一方向延伸并且沿第二方向排布的扫描线；所述周边电路区设置有至少一个第一开关模块、多个信号输出端子、多个信号输入端子以及位于所述多个信号输出端子和所述多个信号输入端子之间的至少一个第一测试端子；最后一行所述扫描线通过一所述第一开关模块与对应的所述第一测试端子电连接。本发明实施例提供的技术方案，解决第一测试端子和其他端子发生短路，无法正常显示的问题，提高产品的质量。

Description

阵列基板、显示面板和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种阵列基板、显示面板和显示装置。

背景技术

在显示面板生产过程中，一般需要对显示面板进行测试，例如在制作完成阵列基板之后，对显示面板上的电路进行测试，检测阵列基板是否正常

目前由于空间的限制，测试过程中的电路和测试焊盘只能放到驱动芯片绑定区域，测试焊盘一般会靠近用于绑定驱动芯片的焊盘，二者距离比较近。当驱动芯片绑定偏位，或者绑定过程的使用的异性导电胶ACF的粒子聚集会引起测试焊盘和用于绑定驱动芯片的焊盘短路，从而造成显示异常。

发明内容

本发明提供一种阵列基板、显示面板和显示装置，以解决测试端子和其他端子短路，引起显示异常的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板包括：显示区和围绕所述显示区的周边电路区；

所述显示区设置有多条沿第一方向延伸并且沿第二方向排布的扫描线；

所述周边电路区设置有至少一个第一开关模块、多个信号输出端子、多个信号输入端子以及位于所述多个信号输出端子和所述多个信号输入端子之间的至少一个第一测试端子；

最后一行所述扫描线通过一所述第一开关模块与对应的所述第一测试端子电连接。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括本发明任意实施例提供的阵列基板；

所述显示面板还包括驱动芯片，所述驱动芯片通过所述信号输入端子和所述信号输出端子绑定于所述显示面板。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括本发明任意实施例提供的显示面板。

本发明提供的技术方案，最后一行扫描线通过第一开关模块与对应的第一测试端子电连接，在阵列工艺阶段的检测过程中，可通过向第一开关模块的控制端施加控制信号，控制第一开关模块导通。最后一行扫描线上的信号能够传输至第一测试端子，通过检测第一测试端子确定阵列基板是否正常。在模组工艺完成后，正常显示过程，向第一开关模块的控制端施加控制信号，控制第一开关模块关断。此时，即使第一测试端子与信号输出端子和/或信号输入端子之间短路，也不会造成最后一行扫描线与信号输出端子和/或者信号输入端子短路，解决第一测试端子和其他端子发生短路，无法正常显示的问题，提高产品的质量。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1是本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图。参考图1，该阵列基板10包括显示区11和围绕显示区11的周边电路区12；

显示区11设置有多条沿第一方向X延伸并且沿第二方向Y排布的扫描线；例如，显示区11设置n条扫描线G1、G2、……、Gn，n为正整数。

周边电路区12设置有至少一个第一开关模块15、多个信号输出端子13、多个信号输入端子14以及位于多个信号输出端子13和多个信号输入端子14之间的至少一个第一测试端子16；

最后一行扫描线通过一第一开关模块与对应的第一测试端子电连接。例如第n条扫描线Gn通过第一开关模块15与第一测试端子16电连接。

其中，多个信号输出端子13可位于第一区域101，多个信号输入端子14位于第二区域102，第一测试端子16位于第一区域101和第二区域102之间的区域。信号输出端子13和信号输入端子14可以是焊盘，用于绑定驱动芯片。驱动芯片上的端子与信号输出端子13和信号输入端子14对应，驱动芯片被绑定后，驱动芯片上的端子和信号输出端子13和信号输入端子14对应电连接，具体地，信号输入端子14与驱动芯片上的用于信号输入的端子电连接，信号输出端子13与驱动芯片上用于信号输出的端子电连接。最后一行扫描线是指在一帧内，最后输出扫描信号的一行扫描线，在阵列基板10工作过程中，一般是从第一行至最后一行扫描线依次输出扫描信号，每一行扫描线上的扫描信号提供给与该行扫描线电连接的像素内的像素电路，以控制像素电路工作，实现发光显示。上述过程即为逐行扫描的过程。具体实施时，可由扫描驱动电路提供扫描信号至扫描线，扫描线上的扫描信号输出至像素电路。

阵列基板10上设置的第一测试端子16的作用是，通过测试仪器检测第一测试端子16上的信号，检测该信号是否为正常的扫描信号，如果正常，则说明阵列基板10能够实现第一行至最后一行扫描线的逐行扫描，阵列基板10能够正常工作，如果检测到的信号为非正常的扫描信号，则说明阵列基板10上出现了缺陷。上述检测过程一般是在阵列工艺阶段，在未绑定驱动芯片前进行，通过对第一测试端子16进行检测，可提前检测阵列基板10是否正常，可以对阵列基板10上的缺陷进行拦截，及时改善不良，提高良率，降低成本。

但是由于第一测试端子16设置于信号输出端子13和信号输入端子14之间，由于阵列基板10上空间的限制，信号输出端子13和/或信号输入端子14与第一测试端子16的距离可能会比较近，容易发生短路。例如在驱动芯片绑定后，绑定的驱动芯片偏位或者绑定过程使用的ACF粒子聚集会引起端子间短路，进而造成最后一行扫描线与信号输出端子13和/或者信号输入端子14短路，造成显示异常。而本发明实施例通过设置第一开关模块15，最后一行扫描线通过第一开关模块15与对应的第一测试端子16电连接，在阵列工艺阶段的检测过程中，通过向第一开关模块15的控制端施加控制信号，控制第一开关模块15导通。最后一行扫描线上的信号能够传输至第一测试端子16，通过检测第一测试端子16确定阵列基板10是否正常。在模组工艺完成后，正常显示过程，向第一开关模块15的控制端施加控制信号，控制第一开关模块15关断。此时，即使第一测试端子16与信号输出端子13和/或信号输入端子14之间短路，也不会造成最后一行扫描线与信号输出端子13和/或者信号输入端子14短路，解决第一测试端子16和其他端子发生短路，无法正常显示的问题，提高产品的质量。进一步的，第一测试端子16一般距离信号输入端子14的距离更近，第一测试端子16更容易和信号输入端子14之间短路。正常显示过程，最后一行扫描线是输出扫描信号，第一测试端子16为输出信号的端子，信号输入端子14是输入信号的，信号输入端子14为输入信号的端子，如果第一测试端子16和信号输入端子14发生短路，即输出信号的端子和输入信号的端子发生短路，将产生的更严重的问题。本发明实施例提供的技术方案可以防止上述问题发生，提高显示面板工作的可靠性，提高产品的质量。

需要说明的是图1中第一测试端子16、信号输入端子14以及信号输出端子13的个数只是一种示意，并不是对本发明实施的限制。

在发明实施例的一种实施方式中，阵列基板既可实现正向扫描，又可实现反向扫描。例如对于阵列基板上的n条扫描线，正向扫描是指依次向第1条扫描线G1、第2条扫描线G2、……、第n条扫描线Gn输出扫描信号；反向扫描是指依次向第n条扫描线Gn、第n-1条扫描线Gn-1、……、第1条扫描线G1输出扫描信号。第一条扫描线G1至第n条扫描线Gn分别为第一行扫描线至最后一行扫描线，此时，可能需要对第一条扫描线G1上的扫描信号和第n条扫描线Gn上的信号均进行检测，以确定正向扫描和反向扫描是否正常。相应地，图2是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图。参考图2，在上述实施例的基础上，第一行扫描线通过一第一开关模块15与对应的第一测试端子16电连接。通过控制第一开关模块15导通，检测与第一行扫描线电连接的第一测试端子16上的信号，可以确定阵列基板能否实现从最后一行至第一行扫描线的逐行扫描，即确定阵列基板10的反向扫描是否可以正常工作，在检测到阵列基板10出现缺陷时，可以对阵列基板10的缺陷进行拦截，及时改善不良，提高良率。经过模组阶段，阵列基板10形成的显示面板进行显示过程，控制第一开关模块15关断，将第一行扫描线以及最后一行扫描线与对应的第一测试端子16绝缘隔离，即使第一测试端子16与其他端子短路，也不影响显示。

图3是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图，参考图3，在上述实施例的基础上，显示区11还设置有多条沿第一方向X延伸并且沿第二方向Y排布的发光控制信号线；例如发光控制信号线E1、E2、……、和En，分别为第一行发光控制信号线、第二行发光控制信号线、……、最后一行发光控制信号线。最后一行发光控制信号线通过一第二开关模块17与对应的第一测试端子16电连接。

当阵列基板需要实现双向扫描时，可能需要第一行发光控制线上的信号进行检测，进一步的，第一行发光控制信号线可通过一第二开关模块与对应的端子电连接。

继续参考图3，其中，周边电路区12还包括多个级联的扫描驱动单元21和多个级联的发光驱动单元22；多个扫描驱动单元21的扫描信号输出端与多条扫描线一一对应电连接，扫描驱动单元21逐级输出扫描信号；多个发光驱动单元22的发光控制信号输出端与多条发光控制信号线一一对应电连接，发光驱动单元22逐级输出发光控制信号至其电连接的发光控制信号线；扫描驱动单元21和发光驱动单元22可以是移位寄存器。扫描驱动单元21和发光驱动单元22分别位于显示区相对的两侧。

本发明实施例中，在测试阶段，即在阵列工艺的测试阶段，控制第一开关模块15和第二开关模块17导通，以对阵列基板进行检测，检测阵列基板是否出现缺陷，在正常显示阶段，控制第一开关模块15和第二开关模块17关断，即使第一测试端子16和其他端子发生短路，也不影响显示面板的正常显示，提高产品质量。

图4是本发明实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图。参考图4，在上述实施例的基础上，第一开关模块包括第一晶体管T1；

第一晶体管的第一极与一个第一测试端子16电连接，第二极与该第一测试端子对应的第一行扫描线或最后一行扫描线电连接；

第二开关模块包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的第一极与一个第一测试端子16电连接，第二极与该第一测试端子对应的第一行发光控制信号线或最后一行发光控制信号线电连接。

在本发明实施例中，继续参考图3，沿第二方向Y，信号输出端子13和信号输入端子14之间的间距d1为700um～800um。

其中，第一测试端子16和信号输入端子14之间的间距d2小于等于100um。由于第一测试端子16和信号输入端子14之间的间距较小，一般只有几十微米，在将驱动芯片绑定至阵列基板形成的显示面板上时，更容易造成第一测试端子16和信号输入端子14之间发生短路，例如在绑定芯片过程，驱动芯片上的端子需要和信号输入端子14对应，并使用异性导电胶进行连接，在驱动芯片绑定偏位、绑定过程的异性导电胶ACF的离子聚集，容易造成第一测试端子16和信号输入端子14之间短路。第一测试端子16为输出信号的端子，信号输入端子14为输入信号的端子，如果第一测试端子16和信号输入端子14发生短路，即输出信号的端子和输入信号的端子发生短路，将产生的更严重的问题。本发明实施例提供的技术方案可以防止上述问题发生，提高显示面板工作的可靠性，提高产品的质量。

继续参考图4，在本发明实施例中，还包括测试电路区103，测试电路区103设置于第一测试端子16和信号输出端子13之间，测试电路区103设置有多个第三晶体管，测试电路区103和信号输入端子14之间设置有多个第二测试端子18；每个所述第二测试端子18通过一第三晶体管与对应的时钟信号线、触发信号线或数据线电连接。例如第一晶体管T1和第二晶体管T2也可设置于测试电路区103。

第一测试端子16和信号输出端子13之间还设置有测试电路区103，测试电路区103位于第一测试端子16靠近显示区11的一侧。由于测试电路区103的设置造成第一测试端子16和信号输入端子14之间的距离更近，更容易发生短路，而本发明实施例通过第一开关模块，在正常显示阶段第一开关模块关断，将第一测试端子16和扫描线绝缘隔离，即使第一测试端子16和信号输入端子14之间发生短路，也不影响正常显示，提高产品质量。

信号输入端子14和信号输出端子13之间还设置有多个第二测试端子18，每个第二测试端子18通过一第三晶体管与对应的时钟信号线、触发信号线或数据线电连接。其中，显示区设置有多条数据线，多条数据线沿第二反向Y延伸，并沿第一方向X排布，为像素中像素电路提供数据信号。时钟信号线和触发信号线用于向扫描驱动电路和发光驱动电路等电路提供时钟信号和触发信号。在测试过程，由于阵列基板上没有绑定驱动芯片、柔性电路板等器件，无法由驱动芯片和柔性电路板等提供相应的时钟信号、电源信号等驱动扫描驱动电路和发光驱动电路工作，可以控制第三晶体管导通，向第二测试端子输入相应的信号，以向时钟信号线、触发信号线、电源线等提供相应的信号，控制扫描驱动电路和发光驱动电路工作，然后通过检测第一测试端子的信号，驱动扫描驱动电路和发光驱动电路是否能够正常输出信号。以及时检测出这些电路的缺陷，对缺陷进行拦截和修复，提高产品质量。在阵列基板组成模组形成显示面板，显示面板正常显示阶段，可控制第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管关断，解决第一测试端子以及第二测试端子和其他端子发生短路，影响正常显示的问题，提高产品的质量。

本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括本发明任意实施例提供的阵列基板；该显示面板可以是液晶显示面板或者有机发光显示面板。显示面板还包括驱动芯片，驱动芯片通过信号输入端子和信号输出端子绑定于显示面板。

本发明实施例还提供了一种显示装置，参考图5，图5是本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。该显示装置500包括本发明任意实施例提供的显示面板100。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (12)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的周边电路区；

所述显示区设置有多条沿第一方向延伸并且沿第二方向排布的扫描线；

所述周边电路区设置有至少一个第一开关模块、多个信号输出端子、多个信号输入端子、以及位于所述多个信号输出端子和所述多个信号输入端子之间的至少一个第一测试端子；

最后一行所述扫描线通过一所述第一开关模块与对应的所述第一测试端子电连接。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，第一行所述扫描线通过一所述第一开关模块与对应的所述第一测试端子电连接。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述显示区还设置有多条沿第一方向延伸并且沿第二方向排布的发光控制信号线；

最后一行所述发光控制信号线通过一第二开关模块与对应的所述第一测试端子电连接。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，第一行所述发光控制信号线通过一第二开关模块与对应的所述端子电连接。

5.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关模块包括第一晶体管；

所述第一晶体管的第一极与一个所述第一测试端子电连接，第二极与该第一测试端子对应的第一行扫描线或最后一行扫描线电连接；

所述第二开关模块包括第二晶体管，所述第二晶体管的第一极与一个所述第一测试端子电连接，第二极与该第一测试端子对应的第一行发光控制信号线或最后一行发光控制信号线电连接。

6.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述周边电路区还包括多个级联的扫描驱动单元和多个级联的发光驱动单元；

多个所述扫描驱动单元的扫描信号输出端与多条所述扫描线一一对应电连接；

多个所述发光驱动单元的发光控制信号输出端与多条所述发光控制信号线一一对应电连接；

所述扫描驱动单元和所述发光驱动单元分别位于所述显示区相对的两侧。

7.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关模块和所述第二开关模块用于在测试阶段导通，在正常显示阶段关断。

8.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，沿所述第二方向，所述信号输出端子和所述信号输入端子之间的间距为700um～800um。

9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述第一测试端子和所述信号输入端子之间的间距小于等于100um。

10.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括测试电路区，所述测试电路区设置于所述第一测试端子和所述信号输出端子之间，所述测试电路区设置有多个第三晶体管，所述测试电路区和所述信号输入端子之间设置有多个第二测试端子；

每个所述第二测试端子通过一第三晶体管与对应的时钟信号线、触发信号线或数据线电连接。

11.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的阵列基板；

所述显示面板还包括驱动芯片，所述驱动芯片通过所述信号输入端子和所述信号输出端子绑定于所述显示面板。

12.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求11所述的显示面板。