CN112860115A - 显示面板及其测试系统和测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述非显示区包括：触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；显示测试区，包括间隔排列的多个显示测试端子；所述多个触控测试端子设置为至少两行，和/或所述多个显示测试端子设置为至少两行；至少一行所述触控测试端子与所述显示测试端子位于同一行。本申请通过将显示面板上的部分测试端子设置为至少两行分布以实现窄边框设计，同时将触控测试端子和显示测试端子同行设置，并重新设计了测试所需的柔性测试电路板和测试压头，实现了通过一次测试压头的压合同时完成触控测试和显示测试，提高了测试效率。

Description

显示面板及其测试系统和测试方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及其测试系统和测试方法。

背景技术

现有的显示面板具有显示区与非显示区。非显示区上设有测试端子。测试端子用于在量产中的点亮测试制程里向显示面板输入外部测试信号。现有的显示面板的非显示区包括多个触控测试端子和多个显示测试端子。多个触控测试端子和多个显示测试端子均采用单行间隔设置的方式分布。这样导致触控测试端子和显示测试端子沿显示面板边长方向所占的边长空间比例较大，不利于面板的窄边框设计。

此外，现有技术的点亮测试制程中，触控测试电路装置与显示测试电路装置是相互独立的，导致触控测试与显示测试需要分时进行假压连接，这样也大大降低了显示面板的测试效率，影响了量产产能。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示面板及其测试系统和测试方法，以实现显示面板窄边框化的同时实现触控测试与显示测试的同步进行，有效提升产能。

本申请实施例提供一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述非显示区包括：触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；显示测试区，包括间隔排列的多个显示测试端子；所述多个触控测试端子设置为至少两行，和/或所述多个显示测试端子设置为至少两行；至少一行所述触控测试端子与所述显示测试端子位于同一行。

可选的，在本申请的一些实施例中，每一行所述多个触控测试端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示测试端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控测试端子的中心点与多个所述显示测试端子的中心点位于同一水平线上。

可选的，在本申请的一些实施例中，每一行所述触控测试端子均与多个所述显示测试端子同行设置，每一行所述显示测试端子均与多个所述触控测试端子同行设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述多个触控测试端子设置为至少两行，所述触控测试区内的至少一行所述触控测试端子与多个所述显示测试端子位于同一行；相邻两行触控测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述触控测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述多个显示测试端子设置为至少两行，所述显示测试区内的至少一行所述显示测试端子与多个所述触控测试端子位于同一行；相邻两行显示测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述显示测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。

本申请实施例还提供一种显示面板的测试系统，包括如前所述的显示面板、测试压头以及柔性测试电路板；所述测试压头包括本体、至少两根压条以及限位件，其中，所述本体上开设有用于固定所述压条的凹槽；所述压条位于所述凹槽内，所述压条沿所述凹槽深度方向的厚度大于所述凹槽的深度；所述限位件与所述本体可拆卸连接；相邻两根所述压条中心线之间的距离与相邻两行所述触控测试端子的中心线之间的距离或相邻两行所述显示测试端子的中心线之间的距离相等；所述柔性测试电路板上对应所述触控测试区设置有触控信号输出区，所述触控信号输出区设置有用于电连接所述触控测试端子的触控信号输出端子；所述柔性测试电路板上对应所述显示测试区设置有显示信号输出区，所述显示信号输出区设置有用于电连接所述显示测试端子的显示信号输出端子；所述柔性测试电路板上还设置有用于输入外部触控信号的触控信号输入端子以及用于输入外部显示信号的显示信号输入端子；所述多个触控信号输出端子设置为至少两行，和/或所述多个显示信号输出端子设置为至少两行；至少一行所述触控信号输出端子与所述显示信号输出端子位于同一行。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述本体上开设有用于与所述显示面板对位的第一对位孔，所述限位件上开设有用于与所述柔性测试电路板对位的第二对位孔；所述显示面板的非显示区设置有用于与所述第一对位孔对位的第一对位标志，所述柔性测试电路板上设置有用于与所述第二对位孔对位的第二对位标志。

可选的，在本申请的一些实施例中，每一行所述多个触控测试端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示测试端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控测试端子的中心点与多个所述显示测试端子的中心点位于同一水平线上；每一行所述多个触控信号输出端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示信号输出端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控信号输出端子的中心点与多个所述显示信号输出端子的中心点位于同一水平线上；相邻两行所述触控测试端子的中心点所在的中心线之间的距离为L1，相邻两行所述触控信号输出端子的中心点所在的中心线之间的距离为L2，相邻两根所述压条的中心线之间的距离为L3，则L1、L2和L3相等。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述多个触控测试端子设置为至少两行，所述触控测试区内的至少一行所述触控测试端子与多个所述显示测试端子位于同一行；相邻两行触控测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述触控测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间，相邻两根所述压条的间距范围在3mm至5mm之间。

本申请实施例还提供一种前述显示面板的测试系统的测试方法，包括：

B1、通过所述限位件将所述柔性测试电路板固定在所述测试压头的本体上，使所述柔性测试电路板上的每一行所述触控信号输出端子以及每一行所述显示信号输出端子分别与任一根所述压条在所述凹槽深度方向上重叠；

B2、将所述柔性测试电路板上的触控信号输入端子与外部触控信号产生电路电性连接，并将所述柔性测试电路板上的显示信号输入端子与外部显示信号产生电路电性连接；

B3、移动所述测试压头，使所述柔性测试电路板上的所述触控信号输出区与所述显示面板上的所述触控测试区相对，同时使所述柔性测试电路板上的所述显示信号输出区与所述显示面板上的所述显示测试区相对；

B4、所述测试压头向靠近所述显示面板的方向移动，所述压条将所述柔性测试电路板与所述显示面板压紧，使所述触控信号输出端子与所述触控测试端子电连接，同时使所述显示信号输出端子与所述显示测试端子电连接；

B5、同时加载外部所述触控信号产生电路所产生的触控信号和外部所述显示信号产生电路所产生的显示信号，完成显示面板的触控测试和显示测试。

本申请的有益效果：本申请通过将显示面板上的触控测试端子和/或显示测试端子设置为至少两行分布可以显著减小测试端子在显示面板边长方向上所占的空间，有利于窄边框设计。同时，本申请将显示面板上的触控测试端子和显示测试端子同行设置，并重新设计了测试所需的柔性测试电路板和测试压头，实现了在点灯制程中通过一次测试压头的压合同时完成触控测试和显示测试，从而简化了测试流程和设备，提高了测试效率，有利于量产产能的提升。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请提供的显示面板一具体实施例的结构示意图；

图2是本申请提供的显示面板的测试系统一具体实施例中的柔性测试电路板的结构示意图；

图3是本申请提供的显示面板的测试系统一具体实施例中的测试压头的立体结构示意图；

图4是图3中测试压头的俯视结构示意图；

图5是图3中测试压头的侧视结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请提供的显示面板的具体实施例如图1所示，提供一种显示面板1包括显示区11和非显示区12。显示区11内设有像素(图中未示出)和信号线(图中未示出)等结构。非显示区12上设置有多个测试端子。多个测试端子所在区域根据其具体功能可划分为触控测试区121、显示测试区122以及显示信号区123等。其中，触控测试区121包括间隔排列的多个触控测试端子121a，用于在点灯测试制程中向显示面板1输入触控测试信号。显示测试区122包括间隔排列的多个显示测试端子122a，用于在点灯测试制程中向显示面板1输入显示测试信号。显示信号区123包括间隔排列的多个显示信号端子123a，用于在显示面板1的实际使用过程中向显示面板1输入显示信号。触控测试区121位于显示测试区122上远离显示信号区123的一侧。

触控测试端子121a和显示测试端子122a都仅在点灯测试这一生产制程中调试显示面板性能时使用。在实际使用时，为提高显示面板1的显示稳定性，需要将触控测试端子121a和显示测试端子122a与显示区11之间的连接线路切断。因此，在窄边框化设计中，沿显示面板1的边长方向上适当减小触控测试端子121a和显示测试端子122a所占的长度比例不会对显示面板1的实际使用产生不良影响。

为减小触控测试端子121a和显示测试端子122a在沿显示面板1的边长方向上所占用的空间，本申请提出将触控测试端子121a和/或显示测试端子122a设置为至少两行分布。通过将单行的触控测试端子121a或单行的显示测试端子122a调整为上下两行分布，可以充分利用非显示区12上靠近显示区11处的空间，显著减小测试端子在显示面板1边长方向上所占的空间。

具体如图1所示，本实施例中示出了将触控测试端子121a设置为两行分布且显示测试端子122a设置为单行分布的示例。

每一行多个触控测试端子121a的中心点都位于同一水平线上。图示第一行触控测试端子121a的中心点都位于第一水平线X1上。第二行触控测试端子121a的中心点都位于第二水平线X2上。相邻两行触控测试端子121a之间的间距范围在2mm至6mm之间，具体可以是3mm、3.5mm、4mm或5.5mm等。每一行的相邻两列触控测试端子121a之间的间距范围在2mm至5mm之间，具体可以是3mm、3.5mm或4mm。

每一行多个显示测试端子122a的中心点位于同一水平线上。单行分布的多个显示测试端子122a与第二行触控测试端子121a位于同一行。具体的，所述多个显示测试端子122a的中心点与第二行触控测试端子121a同样都位于第二水平线X2上。相邻两个显示测试端子122a之间的间距范围在2mm至5mm之间，具体可以是3mm、3.5mm或4mm。

可以理解的是，在本申请的另一具体实施例中，可以将多个显示测试端子122a设置为至少两行，显示测试区122内的至少一行显示测试端子122a与多个触控测试端子121a位于同一行。相邻两行显示测试端子122a之间的间距范围在2mm至6mm之间，具体可以是3mm、3.5mm、4mm或5.5mm等。

可以理解的是，在其他具体实施例中，也可以将触控测试端子121a和显示测试端子122a均设置为多行分布。每一行触控测试端子121a与多个显示测试端子122a同行设置。此外，触控测试端子121a的行数与显示测试端子122a的行数也可以相同。具体的，每一行触控测试端子121a均与多个显示测试端子122a同行设置，每一行显示测试端子122a均与多个触控测试端子121a同行设置。上述方案都可以实现减小测试端子在显示面板1边长方向上所占空间的设计目的，本申请对此不作具体限定。

为在显示面板量产过程中的点灯制程中实现触控测试与显示测试的同步进行，本申请还对应前述显示面板1提供了一种显示面板的测试系统，包括如前所述的显示面板1、柔性测试电路板2以及测试压头3。

结合图2，柔性测试电路板2上对应显示面板1的触控测试区121设置有触控信号输出区21。触控信号输出区21内设置有用于电连接触控测试端子121a的触控信号输出端子21a。触控信号输出区21内的多个触控信号输出端子21a的分布样式与触控测试区121内的多个触控测试端子121a的分布样式相同，以确保触控测试端子121a与触控信号输出端子21a能在测试过程中通过压合稳定准确的实现电连接。这里的分布样式包括多个端子所在位置所形成的行数、列数、行间距以及列间距等具体特征，这里并不一一具体限定。

在本实施例中，触控信号输出端子21a对应触控测试端子121a设置为两行分布。每一行多个触控信号输出端子21a的中心点都位于同一水平线上。图示第一行触控信号输出端子21a的中心点都位于第三水平线X3上。第二行触控信号输出端子21a的中心点都位于第四水平线X4上。相邻两行触控信号输出端子21a之间的间距与相邻两行触控测试端子121a之间的间距相同。相邻两列触控信号输出端子21a之间的间距与相邻两列触控测试端子121a之间的间距相同。在通过测试压头3实现触控信号输出端子21a与触控测试端子121a之间的压合电连接时，第三水平线X3与第一水平线X1在显示面板1所在平面上的投影重合，第四水平线X4与第二水平线X2在显示面板1所在平面上的投影重合。

柔性测试电路板2上对应显示面板1的显示测试区122还设置有显示信号输出区22。显示信号输出区22内设置有用于电连接显示测试端子122a的显示信号输出端子22a。显示信号输出区22内的多个显示信号输出端子22a的分布样式与显示测试区122内的多个显示测试端子122a的分布样式相同，以确保显示测试端子122a与显示信号输出端子22a能在测试过程中通过压合稳定准确的实现电连接。这里的分布样式包括多个端子所在位置所形成的行数、列数、行间距以及列间距等具体特征，这里并不一一具体限定。

在本实施例中，显示信号输出端子22a对应显示测试端子122a设置为单行分布。多个显示信号输出端子22a的中心点都位于同一水平线上。图示显示信号输出端子22a的中心点都位于第四水平线X4上。相邻两个显示信号输出端子22a之间的间距与相邻两个显示测试端子122a之间的间距相同。

柔性测试电路板2上还设置有用于输入外部触控信号的触控信号输入端子24b以及用于输入外部显示信号的显示信号输入端子25b。触控信号输入端子24b设置在柔性测试电路2的第一端24边沿。显示信号输入端子25b设置在柔性测试电路2的第二端25边沿。触控信号输入端子24b与触控信号输出端子21a通过柔性测试电路板2上的电路(图中未示出)电性连接。显示信号输入端子25b与显示信号输出端子22a通过柔性测试电路板2上的电路(图中未示出)电性连接。

在点灯测试制程中，将柔性测试电路板2的第一端24与内置有触控信号产生电路(图中未示出)的触控测试电路装置(图中未示出)电连接，使触控信号产生电路产生的触控信号通过触控信号输入端子24b传输至触控信号输出端子21a上。此外，同时还将柔性测试电路板2的第二端25与内置有显示信号产生电路(图中未示出)的显示测试电路装置(图中未示出)电连接，使显示信号产生电路产生的显示信号通过显示信号输入端子25b传输至显示信号输出端子22a上。

如图3所示，测试压头3包括本体31、至少两根压条32以及限位件33。其中，本体31上开设有用于容纳和固定压条32的凹槽311。压条32位于凹槽311内。压条32沿凹槽311深度方向的厚度大于凹槽311的深度。换句话说，压条32的一部分从凹槽311的开口侧突出于本体31的表面。限位件33与本体31可拆卸连接。

压条32的数量由触控测试端子121a和显示测试端子122a的行数决定。触控测试端子121a的行数与显示测试端子122a的行数中的较大值小于或等于压条32的数量。在本实施例中，多个触控测试端子121a分布为两行，则压条32为两条。

此外，显示面板1上相邻两行触控测试端子121a的中心线之间的距离为L1。柔性测试电路板2上相邻两行触控信号输出端子21a的中心线之间的距离为L2。测试压头3上相邻两根压条32中心线之间的距离为L3。为确保触控测试端子121a与触控信号输出端子21a能在测试过程中通过压合稳定准确的实现电连接，L1与L2和L3相等。

本体31上开设有用于与显示面板1对位的第一对位孔312。显示面板1的非显示区设置有用于与第一对位孔312对位的第一对位标志(图中未示出)。限位件33上开设有用于与柔性测试电路板2对位的第二对位孔331。柔性测试电路板2上对应设置有用于与第二对位孔331对位的第二对位标志26。可以理解的是，为增加对位准确度，上述对位孔可以是多个。

本体31上还开设有用于与限位件33可拆卸连接的第一安装孔313。对应的，限位件33上也开设有第二安装孔332。本体31与限位件33通过第一安装孔313和第二安装孔332实现螺纹连接固定。可以理解的是，在本申请的其他实施例中，本体31与限位件33也可以通过磁性吸附、卡扣连接等方式实现可拆卸连接，这里不作具体限定。

可以理解的是，在本申请的另一具体实施例中，可以将显示面板1上的多个显示测试端子122a设置为至少两行。显示测试区122内的至少一行显示测试端子122a与多个触控测试端子121a位于同一行。对应的，柔性测试电路板2上的多个显示信号输出端子22a也分布为至少两行。至少一行显示信号输出端子22a与多个触控信号输出端子21a位于同一行。对应的，测试压头3上的压条32的数量也为至少两个。触控测试端子121a的行数与显示测试端子122a的行数中的较大值可与压条32的数量相等。

可以理解的是，在其他具体实施例中，也可以将显示面板1上的触控测试端子121a和显示测试端子122a均设置为多行分布。每一行触控测试端子121a与多个显示测试端子122a同行设置。对应的，柔性测试电路板2上的多个触控信号输出端子21a和显示信号输出端子22a均设置为多行分布。每一行触控信号输出端子21a与多个显示信号输出端子22a位于同一行。对应的，测试压头3上的压条32的数量也为多个。触控测试端子121a的行数与显示测试端子122a的行数中的较大值可与压条32的数量相等。

可以理解的是，为实现显示测试与触控测试同步进行，需要将触控测试端子121a与显示测试端子122a尽量同行设置，以便于减少对应测试压头3中的压条数量，简化测试压头3的结构和测试难度。

可以理解的是，受实际生产设备加工精度或对位精度的限制，测试端子的中心点可在所述水平线的合理精度范围内浮动。在部分具体实施例中，多个测试端子位于同一行，若其中部分测试端子的中心点因为实际生产的限制而略微偏离于其他测试端子的中心点所处的水平线，也适用于本申请。

在本申请中，将点灯测试制程中触控测试所需的触控信号输出端子21a和触控信号输入端子24b与显示测试中所需的显示信号输出端子22a和显示信号输入端子25b整合在同一个柔性测试电路板2上，确保在测试过程中可将触控测试电路装置和显示测试电路装置同时与柔性测试电路板2的两端电性连接。

此外，将显示面板1上的触控测试端子121a与显示测试端子122a同行设置，并对应的将柔性测试电路板2上的触控信号输出端子21a与显示信号输出端子22a同行设置，确保在测试过程中可通过测试压头3的一次压合同时实现触控测试端子121a与触控信号输出端子21a的电连接以及显示测试端子122a与显示信号输出端子22a的电连接。

因此，本申请所提供的这一显示面板1的测试系统能在测试压头3的一次压合过程中同时完成触控测试和显示测试，简化了测试流程和设备，提高了测试效率，有利于量产产能的提升。

本申请还提供了一种显示面板1的测试系统的测试方法，具体包括：

B1、通过限位件33将柔性测试电路板2固定在测试压头3的本体31上，使柔性测试电路板2上的每一行触控信号输出端子21a以及每一行显示信号输出端子22a分别与任一根压条32在凹槽311的深度方向上重叠设置。

柔性测试电路板2经过第二定位孔331和第二对位标志26的对位后固定在限位件33与本体31之间。每一行触控信号输出端子21a的中心线以及每一行显示信号输出端子22a的中心线在本体31上的投影分别与任一跟压条32的中心线在本体31上的投影重叠。

B2、将柔性测试电路板2上的触控信号输入端子24b与外部触控信号产生电路(图中未示出)电性连接，并将柔性测试电路板2上的显示信号输入端子25b与外部显示信号产生电路(图中未示出)电性连接。

B3、移动测试压头3，使柔性测试电路板2上的触控信号输出区21与显示面板1上的触控测试区121相对，同时使柔性测试电路板2上的显示信号输出区22与显示面板1上的显示测试区122相对。

B4、测试压头3向靠近显示面板1的方向移动。压条32将柔性测试电路板2与显示面板1压紧，使触控信号输出端子21a与触控测试端子121a电连接，同时使显示信号输出端子22a与显示测试端子122a电连接。

B5、同时加载外部触控信号产生电路所产生的触控信号和外部显示信号产生电路所产生的显示信号，完成显示面板1的触控测试和显示测试。

本申请通过将显示面板上的触控测试端子和/或显示测试端子设置为至少两行分布可以显著减小测试端子在显示面板边长方向上所占的空间，有利于窄边框设计。同时，本申请将显示面板上的触控测试端子和显示测试端子同行设置，并重新设计了测试所需的柔性测试电路板和测试压头，实现了在点灯制程中通过一次测试压头的压合同时完成触控测试和显示测试，从而简化了测试流程和设备，提高了测试效率，有利于量产产能的提升。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板及其测试系统和测试方法进行了详细的介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括显示区和非显示区，其特征在于，所述非显示区包括：

触控测试区，包括间隔排列的多个触控测试端子；

显示测试区，包括间隔排列的多个显示测试端子；

所述多个触控测试端子设置为至少两行，和/或所述多个显示测试端子设置为至少两行；至少一行所述触控测试端子与所述显示测试端子位于同一行。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一行所述多个触控测试端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示测试端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控测试端子的中心点与多个所述显示测试端子的中心点位于同一水平线上。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一行所述触控测试端子均与多个所述显示测试端子同行设置，每一行所述显示测试端子均与多个所述触控测试端子同行设置。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个触控测试端子设置为至少两行，所述触控测试区内的至少一行所述触控测试端子与多个所述显示测试端子位于同一行；

相邻两行触控测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述触控测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多个显示测试端子设置为至少两行，所述显示测试区内的至少一行所述显示测试端子与多个所述触控测试端子位于同一行；

相邻两行显示测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述显示测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间。

6.一种显示面板的测试系统，其特征在于，包括如权利要求1所述的显示面板、测试压头以及柔性测试电路板；

所述测试压头包括本体、至少两根压条以及限位件，其中，所述本体上开设有用于固定所述压条的凹槽；所述压条位于所述凹槽内，所述压条沿所述凹槽深度方向的厚度大于所述凹槽的深度；所述限位件与所述本体可拆卸连接；相邻两根所述压条中心线之间的距离与相邻两行所述触控测试端子的中心线之间的距离或相邻两行所述显示测试端子的中心线之间的距离相等；

所述柔性测试电路板上对应所述触控测试区设置有触控信号输出区，所述触控信号输出区设置有用于电连接所述触控测试端子的触控信号输出端子；所述柔性测试电路板上对应所述显示测试区设置有显示信号输出区，所述显示信号输出区设置有用于电连接所述显示测试端子的显示信号输出端子；所述柔性测试电路板上还设置有用于输入外部触控信号的触控信号输入端子以及用于输入外部显示信号的显示信号输入端子；

所述多个触控信号输出端子设置为至少两行，和/或所述多个显示信号输出端子设置为至少两行；至少一行所述触控信号输出端子与所述显示信号输出端子位于同一行。

7.根据权利要求6所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述本体上开设有用于与所述显示面板对位的第一对位孔，所述限位件上开设有用于与所述柔性测试电路板对位的第二对位孔；

所述显示面板的非显示区设置有用于与所述第一对位孔对位的第一对位标志，所述柔性测试电路板上设置有用于与所述第二对位孔对位的第二对位标志。

8.根据权利要求6所述的显示面板的测试系统，其特征在于，每一行所述多个触控测试端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示测试端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控测试端子的中心点与多个所述显示测试端子的中心点位于同一水平线上；

每一行所述多个触控信号输出端子的中心点位于同一水平线上，每一行所述多个显示信号输出端子的中心点位于同一水平线上，多个所述触控信号输出端子的中心点与多个所述显示信号输出端子的中心点位于同一水平线上；

相邻两行所述触控测试端子的中心点所在的中心线之间的距离为L1，相邻两行所述触控信号输出端子的中心点所在的中心线之间的距离为L2，相邻两根所述压条的中心线之间的距离为L3，则L1、L2和L3相等。

9.根据权利要求6所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述多个触控测试端子设置为至少两行，所述触控测试区内的至少一行所述触控测试端子与多个所述显示测试端子位于同一行；

相邻两行触控测试端子之间的间距范围在2mm至6mm之间，每一行的相邻两个所述触控测试端子之间的间距范围在2mm至5mm之间，相邻两根所述压条的间距范围在3mm至5mm之间。

10.一种如权利要求6所述的显示面板的测试系统的测试方法，其特征在于，包括：

B1、通过所述限位件将所述柔性测试电路板固定在所述测试压头的本体上，使所述柔性测试电路板上的每一行所述触控信号输出端子以及每一行所述显示信号输出端子分别与任一根所述压条在所述凹槽深度方向上重叠；

B2、将所述柔性测试电路板上的触控信号输入端子与外部触控信号产生电路电性连接，并将所述柔性测试电路板上的显示信号输入端子与外部显示信号产生电路电性连接；

B3、移动所述测试压头，使所述柔性测试电路板上的所述触控信号输出区与所述显示面板上的所述触控测试区相对，同时使所述柔性测试电路板上的所述显示信号输出区与所述显示面板上的所述显示测试区相对；

B4、所述测试压头向靠近所述显示面板的方向移动，所述压条将所述柔性测试电路板与所述显示面板压紧，使所述触控信号输出端子与所述触控测试端子电连接，同时使所述显示信号输出端子与所述显示测试端子电连接；

B5、同时加载外部所述触控信号产生电路所产生的触控信号和外部所述显示信号产生电路所产生的显示信号，完成显示面板的触控测试和显示测试。

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