CN112435619B - 显示模组及显示模组的测试方法 - Google Patents

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CN112435619B CN202011346049.4A CN202011346049A CN112435619B CN 112435619 B CN112435619 B CN 112435619B CN 202011346049 A CN202011346049 A CN 202011346049A CN 112435619 B CN112435619 B CN 112435619B
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Abstract

本发明涉及一种显示模组及显示模组的测试方法,该显示模组包括:第一电路板,包括第一绑定区,第一电路板包括位于第一绑定区沿第一方向排布的多个第一金手指;第二电路板,包括第二绑定区,第二电路板包括位于所述第二绑定区沿第一方向排布的多个第二金手指和至少一个第三金手指,以及第一测试引脚以及第二测试引脚,每个第三金手指包括沿第二方向相对且彼此间隔的第一电连接部和第二电连接部,第一测试引脚与第一电连接部电连接,第二测试引脚与第二电连接部电连接;在第一绑定区与第二绑定区绑定连接状态下,同一第三金手指的第一电连接部和第二电连接部与对应一个第一金手指电连接。

Description

显示模组及显示模组的测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种显示模组及显示模组的测试方法。
背景技术
显示装置中的柔性电路板(Flexible Printed Circuit,FPC)上通常设置有多个整齐排布的金黄色导电触片组成的绑定区域,这些金黄色导电触片即为“金手指”。两个FPC的绑定区域可以通过绑定工艺实现电性连接。
为了检测两个FPC的绑定效果,防止电路板出现短路或断路现象,通常在每个电路板的绑定区域以外额外预留至少两个测试用的金手指,以形成阻抗测试的四个电极。随着显示装置的尺寸越来越小,FPC的尺寸也将随之被压缩,FPC将没有足够的空间再额外布置测试用的电极。
发明内容
本发明的目的是提供一种显示模组及显示模组的测试方法,该显示模组的金手指可以节省电路板的布局空间。
一方面,本发明提出了一种显示模组,包括:第一电路板,包括第一绑定区,第一电路板包括位于第一绑定区沿第一方向排列的多个第一金手指;第二电路板,包括第二绑定区,第二电路板包括多个第二金手指、至少一个第三金手指、第一测试引脚以及第二测试引脚,多个第二金手指以及至少一个第三金手指沿第一方向排列于第二绑定区,每个第三金手指包括沿第二方向相对且彼此间隔的第一电连接部和第二电连接部,第一测试引脚与第一电连接部电连接,第二测试引脚与第二电连接部电连接;在第一绑定区与第二绑定区绑定连接状态下,同一第三金手指的第一电连接部和第二电连接部与对应一个第一金手指电连接。
另一方面,本发明还提出了一种如前所述的显示模组的测试方法,包括第一测试,第一测试包括:将第一电路板的第一绑定区与第二电路板的第二绑定区绑定连接,使得同一第三金手指的第一电连接部和第二电连接部与对应一个第一金手指电连接;通过第一测试引脚以及第二测试引脚测试第一绑定区与第二绑定区的绑定阻抗。
另一方面,本发明还提出了一种显示模组,包括如前所述的电路板组件。
本发明提供的一种显示模组及显示模组的测试方法,该显示模组包括第一电路板和第二电路板,第一电路板的第一绑定区内设置有沿第一方向排布的多个第一金手指;第二电路板的第二绑定区内设置有沿第一方向排布的多个第二金手指和至少一个第三金手指,每个第三金手指包括沿第二方向相对且彼此间隔的第一电连接部和第二电连接部,第二电路板还包括与第一电连接部电连接的第一测试引脚以及与第二电连接部电连接的第二测试引脚;第一电路板、第二电流板中的至少一者为柔性电路板,在第一绑定区与第二绑定区绑定连接状态下,同一第三金手指的第一电连接部和第二电连接部与对应一个第一金手指电连接。第一绑定区与第二绑定区绑定连接用于信号连接与传输。另外,同一第三金手指的第一电连接部和第二电连接部还可以分别复用为测试端进行相关测试。该显示模组的金手指节省电路板的布局空间,有利于减小显示模组的整体尺寸。
附图说明
下面将参考附图来描述本发明示例性实施例的特征、优点和技术效果。在附图中,相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。
图1示出根据本发明实施例提供的一种显示模组的结构示意图;
图2示出根据本发明实施例提供的一种显示模组的第一电路板与第二电路板的结构示意图;
图3示出第一电路板与第二电路板进行绑定阻抗的场景示意图;
图4示出图1所示的显示模组通过第二电路板进行功耗测试的场景示意图;
图5示出根据本发明实施例提供的另一种显示模组的第一电路板与第二电路板的结构示意图;
图6示出根据本发明实施例提供的又一种显示模组的第一电路板与第二电路板的结构示意图;
图7示出根据本发明实施例提供的一种显示模组的测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中,提出了许多具体细节,以便提供对本发明的全面理解。但是,对于本领域技术人员来说很明显的是,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好的理解。在附图和下面的描述中,至少部分的公知结构和技术没有被示出,以便避免对本发明造成不必要的模糊;并且,为了清晰,可能夸大了部分结构的尺寸。此外,下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。
下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向,并不是对本发明的具体结构进行限定。在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸式连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
随着显示技术的发展,各种配置有显示屏的显示装置在生活中越来越普及。显示装置一般包括显示面板、驱动集成电路(Integrated Circuit,IC)和柔性电路板(FlexiblePrinted Circuit,FPC),有些情况下还包括硬质印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)。在制造显示装置的过程中,通常会涉及到显示面板电极端子与FPC之间的连接、FPC与PCB之间的连接、FPC与FPC之间的连接。在这些连接中,广泛采用了各向异性导电粘接剂,将其置于需要被连接的部件之间,然后对其加压加热就形成了部件之间的稳定可靠的机械电气连接,这种热压接的工艺即为绑定(Bonding)工艺。例如,驱动IC位于基板玻璃上(ChipOn Glass,COG)、驱动IC位于柔性电路板上(Chip On FPC,COF)和柔性电路板位于柔性电路板上(FPC On FPC,FOF),这三种连接方式都是通过绑定工艺实现的。
然而,如果绑定不良,显示面板与驱动IC或者显示面板与FPC之间有可能阻抗过大,导致显示面板的画面出现微亮线、亮线等画面显示异常现象,严重影响了画面的显示质量和显示模组的良率,因此在通电之前需要进行绑定阻抗测试。
参阅图1,本发明实施例提供一种显示模组,集成有显示功能与触控功能,该显示模组例如可以为可穿戴的显示装置、智能手机等。具体包括:显示面板10、触控面板20、第一电路板1和第二电路板2。
触控面板20位于显示面板10上,第一电路板1与触控面板20电连接,第二电路板2与显示面板10电连接。第一电路板1和第二电路板2通过绑定工艺实现电性连接。
可选地,第一电路板1和第二电路板2中的至少一者为柔性电路板,柔性电路板具有弯曲程度高、走线密度高、厚度薄、质量小等特点。例如,第一电路板1可以是基板玻璃的下台阶绑定区,第二电路板2为柔性电路板。可选地,第一电路板1和第二电路板2均为柔性电路板。
如图1所示,为了提高屏占比,用于驱动显示面板10的像素发光的驱动IC采用COF封装方式与显示面板10连接,即驱动IC位于覆晶薄膜3上,覆晶薄膜3的一端与显示面板10连接,另一端与第二电路板2连接。可选地,驱动IC还可以直接绑定在显示面板10的电极端子上。
以驱动芯片采用COF封装为例,第一电路板1为触控FPC,第二电路板2为主电路板FPC,第一电路板1和第二电路板2通过绑定工艺实现电性连接,以使驱动芯片通过第二电路板2和第一电路板1可以控制触控面板20。另外,覆晶薄膜3与第二电路板2也通过绑定工艺实现电性连接。
本发明实施例中,第一电路板1和第二电路板2均为采用柔性的绝缘基材制成的印刷线路板,第二电路板2和第一电路板1通过各向异性导电粘接剂绑定连接,可选地,该各向异性导电粘接剂为异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film,ACF)。
在第二电路板2和第一电路板1绑定连接后,通过检测第一电路板1和第二电路板2之间的绑定阻抗来确定绑定效果,确保信号的有效传输。下面结合附图详细描述第一电路板1和第二电路板2的结构。
参阅图2,第一电路板1包括第一绑定区B1,第一电路板1包括位于第一绑定区B1沿第一方向X排布的多个第一金手指11。
第二电路板2包括第二绑定区B2,第二电路板2包括多个第二金手指21、至少一个第三金手指22,以及第一测试引脚23和第二测试引脚24,多个第二金手指21以及至少一个第三金手指22沿第一方向X排布于第二绑定区B2,每个第三金手指22包括沿第二方向Y相对且彼此间隔的第一电连接部221和第二电连接部222,第一测试引脚23与第一电连接部221电连接,第二测试引脚24与第二电连接部222电连接,第一方向X与第二方向Y相交。
在第一绑定区B1与第二绑定区B2绑定连接状态下,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222与对应一个第一金手指11电连接。
如图2所示,第一绑定区B1与第二绑定区B2相对设置,例如第一绑定区B1位于第一电路板1的背面,第二绑定区B2位于第二电路板2的正面。第一绑定区B1与第二绑定区B2绑定连接后,第一金手指11与对应的第二金手指21或者第三金手指22电连接,从而在第一电连接部221电连接与第二电连接部222之间形成通路,故在通电状态下,可以实现两个电路板的正常信号连接与传输。
参阅图3,第一绑定区B1与第二绑定区B2绑定连接后,在通电之前,需要检测第一绑定区B1与第二绑定区B2内的金手指的绑定阻抗大小。具体实施方法如下:
万用表调至欧姆档,将一个表笔与第一测试引脚23电连接,另一个表笔与第二测试引脚24电连接,由于第一测试引脚23与第一电连接部221电连接,第二测试引脚24与第二电连接部222电连接,从而可以测量两个电路板之间的绑定阻抗大小。如果测量的绑定阻抗大小满足阈值范围,则认为绑定效果良好,如果测量的阻抗大小不满足阈值范围,则认为绑定不合格。
进一步地,在第一绑定区B1与第二绑定区B2分离状态下,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222分别复用为测试端。例如,如果驱动芯片设置于第二电路板2上,则显示模组需要通过第二电路板2进行功耗测试。
参阅图4,本发明实施例提供的显示模组的功耗测试方法如下:
准备两个万用表,一个万用表调至安培档,另一个万用表调至伏特档;
在第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2未绑定连接之前,将安培档的万用表的一个表笔与第一测试引脚23电连接,另一个表笔与第二测试引脚24电连接,通电可以测得当前电流大小;
将伏特档的万用表的一个表笔与第一测试引脚23或者第二测试引脚24连接,另一个表笔接地,即可测得当前电压大小;
将电压与电流相乘,即可获得显示模组的功耗。
由于第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222沿第二方向Y相对且彼此间隔设置,沿第一方向X的占用空间与常规金手指的占用空间一致,既可以用于正常的信号连接与传输,又可以用于阻抗测试、功耗测试等,没有额外占用第二绑定区B2的空间,有利于电路板的体积小型化发展。
需要说明的是,第三金手指22的第一测试引脚23和第二测试引脚24还可以用于其他方面的功能测试,具体根据显示模组的实际需要进行选择,不再赘述。
本发明实施例提供的一种显示模组,包括第一电路板1和第二电路板2,第一电路板1的第一绑定区B1内设置有沿第一方向X排布的多个第一金手指11;第二电路板2的第二绑定区B2内设置有沿第一方向X排布的多个第二金手指21和至少一个第三金手指22,每个第三金手指22包括沿第二方向Y相对且彼此间隔的第一电连接部221和第二电连接部222,第二电路板2还包括与第一电连接部221电连接的第一测试引脚23以及与第二电连接部222电连接的第二测试引脚24;在第一绑定区B1与第二绑定区B2绑定连接状态下,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222与对应一个第一金手指11电连接。第一绑定区B1与第二绑定区B2绑定连接用于信号连接与传输。另外,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222还可以分别复用为测试端进行相关测试。该显示模组的金手指节省电路板的布局空间,有利于减小显示模组的整体尺寸。
作为一种可选的实施方式,第三金手指22的数量为两个,两个第三金手指22位于多个第二金手指21沿第一方向X的两侧。第三金手指22如此布置,一方面,可以减少第一测试引脚23和第二测试引脚24在第二绑定区B2的占用空间;另一方面,上述绑定阻抗的测试及显示模组的功耗测试可以分别针对两个第三金手指22的第一测试引脚23和第二测试引脚24进行测试,通过比较两个第三金手指22处的绑定阻抗大小,可以确定绑定阻抗的均匀性。
再次参阅图2,第三金手指22为沿第二方向Y延伸的条状结构,第一电连接部221与第二电连接部222的形状相同,且大小相等。可选地,第一电连接部221与第二电连接部222还可以为其它形状,只要二者彼此间隔绝缘即可。
进一步地,多个第一金手指11沿第一方向X并排设置,第一金手指11和第二金手指21均为沿第二方向Y延伸的条状结构,多个第一金手指11与多个第二金手指21和至少一个第三金手指22在第二方向Y上一一对齐设置。第一金手指11、第二金手指21和第三金手指22如此设置,可以减小第一电路板1和第二电路板2的布局空间。
可选地,第一金手指11、第二金手指21和第三金手指22沿第一方向X的宽度尺寸相等。一方面,可以进一步减小第一电路板1和第二电路板2的布局空间;另一方面,如果第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2在第一方向X出现对位偏差,则绑定阻抗会突然变大,有利于及时该对位偏差并对绑定设备进行调整。因此,本申请将重点关注第一绑定区B1与第二绑定区B2沿第二方向Y的对位精度。
为了提高第一绑定区B1与第二绑定区B2的对位精度,第一电路板1还包括与第一绑定区B1相邻设置的第一对位标记M1,第二电路板2还包括与第二绑定区B2相邻设置的第二对位标记M2,第一对位标记M1与对应的第二对位标记M2彼此重合,且第一对位标记M1或者第二对位标记M2的周侧设置有指引部L。指引部L可以为任意形状,例如箭头、圆点等各种形状。
如图2所示,第一电路板1设置有两个第一对位标记M1,一个位于第一绑定区B1的左上角,另一个位于第一绑定区B1的右下角,两个第一对位标记M1相对于第一绑定区B1非对称设置。第二电路板2对应设置有相对于第二绑定区B2非对称布置的两个第二对位标记M2,便于第一电路板1和第二电路板2在制程中定位放置方向。
其中,第一对位标记M1为空心的矩形框,第二对位标记M2为实心的矩形,在第一绑定区B1与第二绑定区B2对接的过程中,可以从第一电路板1一侧查看第一对位标记M1的矩形框的空心位置与第二对位标记M2的实心矩形是否重合。为了节省对位的时间,第二对位标记M2的周侧还设置有指引部L,例如指引部L以箭头的形式指向第二对位标记M2,便于操作者在绑定设备初次对位时引导操作者快速确定第一电路板1的对位方向,提高对位效率。
图5示出根据本发明实施例提供的另一种显示模组的第一电路板与第二电路板的结构示意图。
参阅图5,本发明实施例提供的显示模组与图2所示的显示模组结构类似,不同之处在于,第一电路板1上的至少一个第一金手指11的结构不同。
如图5所示,第一绑定区B1与第二绑定区B2相对设置,例如第一绑定区B1位于第一电路板1的背面,第二绑定区B2位于第二电路板2的正面。与至少一个第三金手指22对应的第一金手指11包括镂空部111,镂空部11与第三金手指22中第一电连接部221和第二电连接部222的间隔对应设置,且镂空部111沿所述第一方向X的宽度尺寸小于第一金手指11沿第一方向X的宽度尺寸。也就是说,镂空部11并未将第一金手指11分为相互绝缘的两段,整体仍为导通的。可选地,镂空部111位于第一金手指11的中心位置,且与第一电连接部221和第二电连接部222的间隔对应设置。
当第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2绑定连接后,如果第一绑定区B1与第二绑定区B2在第二方向Y的一侧发生较小的对位偏差,例如图5中向上偏移,则第一电连接部221与第一金手指11的对位面积正常,而第二电连接部222与第一金手指11的对位面积减小,导致测试的绑定阻抗相对于真实的绑定阻抗偏大,有可能会被误判为绑定不合格。在第一金手指11上设置镂空部11后,当第一绑定区B1与第二绑定区B2在第二方向Y上发生较小的对位偏差时,由于第一电连接部221与第二电连接部222分别与第一金手指11的接触面积大小相等,测试的绑定阻抗相对于真实的绑定阻抗的偏差也较小,有利于降低误判率。
图6示出根据本发明实施例提供的又一种显示模组的第一电路板与第二电路板的结构示意图。
参阅图6,本发明实施例提供的显示模组与图2所示的显示模组结构类似,不同之处在于,第二电路板2上的第三金手指22及对应的第一电路板1上的第一金手指11的结构不同。
如图6所示,第一绑定区B1与第二绑定区B2相对设置,例如第一绑定区B1位于第一电路板1的背面,第二绑定区B2位于第二电路板2的正面。第二绑定区B2内的第三金手指22的数量为两个,两个第三金手指22位于多个第二金手指21沿第一方向X的两侧。第三金手指22还包括沿第二方向Y与第二电连接部222彼此间隔的第三电连接部223,两个第三金手指22的每个第一测试引脚23分别与第二电连接部222电连接,其中一个第三金手指22的第二测试引脚24与第一电连接部221电连接,对应的第一金手指11沿远离第三电连接部223的方向偏移,如图中左侧箭头所示;另一个第三金手指22的第二测试引脚24与第三电连接部223电连接,对应的第一金手指11沿远离第一电连接部221的方向偏移,如图中右侧箭头所示。
由此,当第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2绑定连接,其中一个第三金手指22对应的第一金手指11与第一电连接部221、第二电连接部222电连接,另一个第三金手指22对应的第一金手指11与第三电连接部223、第二电连接部222电连接。由于两个第一金手指11沿第二方向Y相反的两侧偏移设置,如果左侧第三金手指22测得的绑定阻抗大于右侧第三金手指22测得的绑定阻抗,说明左侧的第一金手指11与对应的第三金手指22的接触面积较大,即第一电路板1相对于第二电路板2沿第一方向Y的上侧发生偏移,反之亦然。如果左侧第三金手指22测得的绑定阻抗与右侧第三金手指22测得的绑定阻抗相差不大,且均在绑定阻抗的阈值范围内,则说明第一电路板1与第二电路板2沿第二方向Y的对位精度较高,满足绑定工艺的设计要求。
本发明实施例中,第三金手指22的第一电连接部221、第二电连接部222和第三电连接部223沿第向Y依次间隔设置,与第二金手指21在第二方向Y上的占用空间相同,因此没有额外增加第二电路板2的占用空间。
另外,第三金手指22与对应的第一金手指11的设计,不仅可以判断绑定阻抗是否满足绑定工艺的设计要求,还可以判断第一电路板1与第二电路板2的对位偏移方向,从而可以为绑定设备提供调整方向,有利于提高后续电路板的绑定工艺的合格率。在对电路板的尺寸要求比较苛刻的情况下,例如手腕上的可穿戴装置,甚至可以取消第一电路板1上的第一对位标记M1和第二电路板2上的对位标记M2,进一步减小了电路板的占用空间。
需要说明的是,本发明实施例提供的显示模组的两个电路板的绑定设计,不仅适用于与触控面板20电连接的第一电路板1、与显示面板10电连接的第二电路板2的绑定,也适用于显示模组中任一柔性电路板与其它基板的绑定,例如COF封装形式中柔性电路板3与第二电路板3之间的绑定连接,或者COG、FOG封装形式的显示模组也可以采用上述绑定设计,不再赘述。
参阅图7,本发明实施例还提供了一种如前所述的任一种显示模组的测试方法,包括第一测试,第一测试包括:
步骤S1:将第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2绑定连接,使得同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222与对应一个第一金手指11电连接;
步骤S2:通过第一测试引脚23以及第二测试引脚24测试第一绑定区B1与第二绑定区B2的绑定阻抗。
第一测试的具体实施方式可参考图3,具体如下:万用表调至欧姆档,将一个表笔与第一测试引脚23电连接,另一个表笔与第二测试引脚24电连接,由于第一测试引脚23与第一电连接部221电连接,第二测试引脚24与第二电连接部222电连接,从而可以测量两个电路板之间的绑定阻抗大小。如果测量的绑定阻抗大小满足阈值范围,则认为绑定效果良好,如果测量的阻抗大小不满足阈值范围,则认为绑定不合格。
进一步地,本发明实施例提供的显示模组的测试方法在进行第一测试之前,还包括第二测试,第二测试包括:
在第一绑定区B1与第二绑定区B2分离状态下,通过第一测试引脚23以及第二测试引脚24对显示模组进行预设测试。该预设测试例如但不限于显示模组的功耗测试。
第二测试的具体实施方式可参考图4,具体如下:
准备两个万用表,一个万用表调至安培档,另一个万用表调至伏特档;
在第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2未绑定连接之前,将安培档的万用表的一个表笔与第一测试引脚23电连接,另一个表笔与第二测试引脚24电连接,通电可以测得当前电流大小;
将伏特档的万用表的一个表笔与第一测试引脚23或者第二测试引脚24连接,另一个表笔接地,即可测得当前电压大小;
将电压与电流相乘,即可获得显示模组的功耗。
本发明实施例提供的一种显示模组的测试方法,在第一电路板1的第一绑定区B1与第二电路板2的第二绑定区B2绑定连接状态下,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222与对应一个第一金手指11电连接,在未通电状态下,通过第一测试引脚23以及第二测试引脚24测试第一绑定区B1与第二绑定区B2的绑定阻抗。在第一绑定区B1与第二绑定区B2处于分离状态下,同一第三金手指22的第一电连接部221和第二电连接部222通过第一测试引脚23以及第二测试引脚24还可以进行显示模组的功耗测试等相关测试。由此,用于测试的第三金手指22既可用于信号连接与传输,也可以复用为测试端,有利于节省电路板的布局空间,进而减小显示模组的整体尺寸。
虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述,但在不脱离本发明的范围的情况下,可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是,只要不存在结构冲突,各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例,而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (12)

1.一种显示模组,其特征在于,包括:
第一电路板,包括第一绑定区,所述第一电路板包括位于所述第一绑定区沿第一方向排布的多个第一金手指;
第二电路板,包括第二绑定区,所述第二电路板包括多个第二金手指、至少一个第三金手指,以及第一测试引脚和第二测试引脚,所述多个第二金手指以及所述至少一个第三金手指沿所述第一方向排布于所述第二绑定区,每个所述第三金手指包括沿第二方向相对且彼此间隔的第一电连接部和第二电连接部,所述第一测试引脚与所述第一电连接部电连接,第二测试引脚与所述第二电连接部电连接;所述第一方向与所述第二方向相交;
在所述第一绑定区与所述第二绑定区绑定连接状态下,同一所述第三金手指的所述第一电连接部和所述第二电连接部与对应一个所述第一金手指电连接;
与至少一个所述第三金手指对应的所述第一金手指包括镂空部,所述镂空部与所述第三金手指中第一电连接部与第二电连接部之间的间隔对应设置,且所述镂空部沿所述第一方向的宽度尺寸小于所述第一金手指沿所述第一方向的宽度尺寸。
2.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述第三金手指为沿所述第二方向延伸的条状结构,所述第一电连接部与所述第二电连接部的形状相同,且大小相等。
3.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,多个所述第一金手指沿所述第一方向并排设置,所述第一金手指和所述第二金手指均为沿第二方向延伸的条状结构,多个所述第一金手指与多个所述第二金手指和至少一个所述第三金手指在所述第二方向上一一对齐设置。
4.根据权利要求3所述的显示模组,其特征在于,所述第一金手指、所述第二金手指和所述第三金手指沿所述第一方向的宽度尺寸相等。
5.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述第一电路板还包括与所述第一绑定区相邻设置的第一对位标记,所述第二电路板还包括与所述第二绑定区相邻设置的第二对位标记,所述第一对位标记与对应的所述第二对位标记彼此重合,且所述第一对位标记或者所述第二对位标记的周侧设置有指引部。
6.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述第三金手指的数量为两个,两个所述第三金手指位于多个所述第二金手指沿所述第一方向的两侧。
7.根据权利要求6所述的显示模组,其特征在于,所述第三金手指还包括沿第二方向与所述第二电连接部彼此间隔的第三电连接部;两个所述第三金手指的所述第一测试引脚均与所述第二电连接部电连接,其中一个所述第三金手指的所述第二测试引脚与所述第一电连接部电连接,对应的所述第一金手指沿远离所述第三电连接部的方向偏移;另一个所述第三金手指的所述第二测试引脚与所述第三电连接部电连接,对应的所述第一金手指沿远离所述第一电连接部的方向偏移。
8.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,在所述第一绑定区与所述第二绑定区分离状态下,同一所述第三金手指的所述第一电连接部和所述第二电连接部分别复用为测试端。
9.根据权利要求1所述的显示模组,其特征在于,所述第一电路板和所述第二电路板中的至少一者为柔性电路板。
10.根据权利要求1至9任一项所述的显示模组,其特征在于,还包括:
显示面板;
触控面板,位于所述显示面板上;
所述第一电路板与所述触控面板电连接,所述第二电路板与所述显示面板电连接。
11.一种如权利要求1至9任一项所述的显示模组的测试方法,其特征在于,包括第一测试,所述第一测试包括:
将第一电路板的第一绑定区与第二电路板的第二绑定区绑定连接,使得同一所述第三金手指的所述第一电连接部和所述第二电连接部与对应一个所述第一金手指电连接;
通过第一测试引脚以及第二测试引脚测试所述第一绑定区与所述第二绑定区的绑定阻抗。
12.根据权利要求11所述的测试方法,其特征在于,在所述第一测试之前,还包括第二测试,所述第二测试包括:
在所述第一绑定区与所述第二绑定区分离状态下,通过第一测试引脚以及第二测试引脚对所述显示模组进行预设测试。
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