CN113655646B - 显示面板、显示模组及显示装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 453
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 109
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 26
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 30
- 239000010408 film Substances 0.000 description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 5
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 238000009638 autodisplay Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 210000000707 wrist Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
- G09F9/33—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements being semiconductor devices, e.g. diodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
Abstract
本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示模组及显示装置，用于优化显示装置的设计空间。其中，显示面板包括显示区，及位于显示区一侧的绑定区。显示面板包括设置于绑定区的至少两个第一绑定测试引脚；设置于绑定区的第一测试线，相邻两个第一绑定测试引脚之间通过第一测试线电连接；第一测试线及其电连接的相邻两个第一绑定测试引脚被配置为检测显示面板与电路板之间的绑定是否合格；第二测试线，相邻两个第一绑定测试引脚中的至少一个与第二测试线电连接。上述显示面板用以减少测试引脚的数量，节约整机设计空间。
Description
技术领域
本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示模组及显示装置。
背景技术
随着电子显示设备的不断更新，客户对小型化、窄边框要求越来越高。然而，电子显示设备的功能也在不断增多，这意味着实现对应功能所需要的信号线也在不断增多，相应地信号线与外部连接所需要的引脚数量增多，导致绑定区的面积增大，违背目前窄边框的发展需求。
因此，如何节约设备设计空间，优化整机设计，成为目前有待解决的设计难题。
发明内容
本公开的实施例提供一种显示面板、显示模组及显示装置置，旨在通过对已有的检测引脚进行复用，减少测试引脚的数量，从而节省设备设计空间，缩小设备边框的宽度。
为达到上述目的，本公开的实施例采用如下技术方案：
一方面，提供一种显示面板，包括显示区及位于所述显示区一侧的绑定区。
所述显示面板包括至少两个第一绑定测试引脚、第一测试线以及第二测试线。
其中，至少两个第一绑定测试引脚设置于所述绑定区。第一测试线设置于所述绑定区，相邻两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接，所述第一测试线及其电连接的两个第一绑定测试引脚被配置为检测所述显示面板与电路板之间的绑定是否合格。所述相邻两个第一绑定测试引脚中的至少一个与所述第二测试线电连接。
在一些实施例中，所述显示面板还包括位于所述显示区和所述绑定区之间的弯折区。所述显示面板还包括第一弯折测试引脚，所述第二测试线的一端与所述第一弯折测试引脚电连接，另一端与所述第一绑定测试引脚电连接；所述第二测试线的至少部分线段位于所述弯折区远离所述绑定区的一侧。
在一些实施例中，所述显示面板包括两组测试引脚，每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚和一个第一弯折测试引脚，每组测试引脚的两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接，每组测试引脚的一个第一绑定测试引脚与所述第一弯折测试引脚之间通过所述第二测试线电连接。所述两组测试引脚分别位于所述绑定区沿第一方向的中线的相对两侧。所述第一方向垂直于所述绑定区的长度延伸方向。
在一些实施例中，所述显示面板包括两组测试引脚，所述两组测试引脚分别位于所述绑定区沿第一方向的中线的相对两侧；所述第一方向垂直于所述绑定区的长度延伸方向。每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚，每组测试引脚的两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接。
其中，所述显示面板还包括围绕所述显示区的周边区，所述绑定区位于所述周边区。所述第二测试线由一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚引出，沿所述周边区且围绕所述显示区延伸至另一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚。
在一些实施例中，所述显示面板还包括位于所述显示区和所述绑定区之间的弯折区。所述第一测试线位于所述弯折区靠近所述绑定区的一侧；或者，所述第一测试线的至少部分线段位于所述弯折区远离所述绑定区的一侧。
另一方面，提供一种显示模组，包括电路板和如上任一实施例所述的显示面板，所述电路板与所述显示面板电连接。
在一些实施例中，所述电路板包括至少两个第二绑定测试引脚，与所述显示面板的至少两个第一绑定测试引脚一一对应。
在一些实施例中，所述显示面板包括第一弯折测试引脚。所述电路板还包括第二弯折测试引脚，与所述第一弯折测试引脚一一对应。
在一些实施例中，所述显示模组还包括覆晶薄膜，设置于所述显示面板和所述电路板之间，所述覆晶薄膜分别与所述显示面板和所述电路板电连接。
在一些实施例中，所述覆晶薄膜包括至少两个第三绑定测试引脚和至少两个第四绑定测试引脚，所述至少两个第三绑定测试引脚与所述显示面板的至少两个第一绑定测试引脚一一对应电连接；所述至少两个第四绑定测试引脚与所述至少两个第三绑定测试引脚一一对应电连接，且与所述电路板的第二绑定测试引脚一一对应电连接。
在一些实施例中，所述覆晶薄膜还包括第一薄膜绑定测试引脚和第三测试线。所述第一薄膜绑定测试引脚与所述第四绑定测试引脚相邻设置。相邻设置的第一薄膜绑定测试引脚和第四绑定测试引脚通过所述第三测试线电连接。
在一些实施例中，所述电路板还包括第二薄膜绑定测试引脚，与所述第一薄膜绑定测试引脚一一对应电连接。
在一些实施例中，所述电路板还包括至少两个绑定测试点，与所述至少两个第二绑定测试引脚一一对应电连接；在所述电路板还包括第二弯折测试引脚的情况下，所述电路板还包括：弯折测试点，与所述第二弯折测试引脚一一对应电连接；在所述电路板还包括第二薄膜绑定测试引脚的情况下，所述电路板还包括：薄膜绑定测试点，与所述第二薄膜绑定引脚一一对应电连接。
另一方面，提供一种显示装置，包括如上任一实施例所述的显示模组。
本公开的实施例所提供的显示面板、显示模组及显示装置，具有如下有益效果：
显示面板设置有多种功能的测试线路，每条测试线路均占据显示面板绑定区的两个引脚，本公开通过将绑定测试线路中的引脚复用为其他功能的测试线路，从而节省绑定区中至少一个引脚的设计空间，从而优化设备整机设计空间，缩小设备边框宽度，实现设备小型化、窄边框的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本公开中的技术方案，下面将对本公开一些实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例的附图，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。此外，以下描述中的附图可以视作示意图，并非对本公开实施例所涉及的产品的实际尺寸、方法的实际流程、信号的实际时序等的限制。
图1为根据一些实施例提供的显示装置的俯视图；
图2为根据一些实施例提供的显示模组的一种结构图；
图3为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构图；
图4为根据一些实施例提供的显示模组的一种结构分解图；
图5为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图6A为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图6B为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图7为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图8为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构图；
图9为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构图；
图10为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图11为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图12为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图13为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图14为根据一些实施例提供的显示模组的另一种结构分解图；
图15为根据一些实施例提供的显示面板的一种结构图。
具体实施方式
下面将结合附图，对本公开一些实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开所提供的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非上下文另有要求，否则，在整个说明书和权利要求书中，术语“包括(comprise)”及其其他形式例如第三人称单数形式“包括(comprises)”和现在分词形式“包括(comprising)”被解释为开放、包含的意思，即为“包含，但不限于”。在说明书的描述中，术语“一个实施例(one embodiment)”、“一些实施例(some embodiments)”、“示例性实施例(exemplary embodiments)”、“示例(example)”、“特定示例(specific example)”或“一些示例(some examples)”等旨在表明与该实施例或示例相关的特定特征、结构、材料或特性包括在本公开的至少一个实施例或示例中。上述术语的示意性表示不一定是指同一实施例或示例。此外，所述的特定特征、结构、材料或特点可以以任何适当方式包括在任何一个或多个实施例或示例中。
以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在描述一些实施例时，可能使用了“电连接”和“连接”及其衍伸的表达。例如，描述一些实施例时可能使用了术语“点连接”以表明两个或两个以上部件彼此间有直接物理接触或电接触。这里所公开的实施例并不必然限制于本文内容。
“A和/或B”，包括以下三种组合：仅A，仅B，及A和B的组合。
如本文所使用的那样，“近似”或“大致”包括所阐述的值以及处于特定值的可接受偏差范围内的平均值，其中所述可接受偏差范围如由本领域普通技术人员考虑到正在讨论的测量以及与特定量的测量相关的误差(即，测量系统的局限性)所确定。
本文参照作为理想化示例性附图的剖视图和/或平面图描述了示例性实施方式。在附图中，为了清楚，放大了层和区域的厚度。因此，可设想到由于例如制造技术和/或公差引起的相对于附图的形状的变动。因此，示例性实施方式不应解释为局限于本文示出的区域的形状，而是包括因例如制造而引起的形状偏差。例如，示为矩形的蚀刻区域通常将具有弯曲的特征。因此，附图中所示的区域本质上是示意性的，且它们的形状并非旨在示出设备的区域的实际形状，并且并非旨在限制示例性实施方式的范围。
图1示出了一种显示装置的俯视结构。如图1所示，本公开的一些实施例提供一种显示装置100，该显示装置100可以为电视、手机、电脑、笔记本电脑、平板电脑、个人数字助理(英文：Personal Digital Assistant，简称PDA)、车载电脑等。
其中，显示装置100可以是显示不论运动(例如，视频)还是固定(例如，静止图像)的且不论文字还是的图像的任何装置。更明确地说，预期实施例可实施在多种电子装置中或与多种电子装置关联，多种电子装置例如(但不限于)移动电话、无线装置、个人数据助理(PDA)、手持式或便携式计算机、GPS接收器/导航器、相机、MP4视频播放器、摄像机、游戏控制台、手表、时钟、计算器、电视监视器、平板显示器、计算机监视器、汽车显示器(例如，里程表显示器等)、导航仪、座舱控制器和/或显示器、相机视图的显示器(例如，车辆中后视相机的显示器)、电子相片、电子广告牌或指示牌、投影仪、建筑结构、包装和美学结构(例如，对于一件珠宝的图像的显示器)等。
如图2所示，该显示装置100包括显示模组200。显示模组200集驱动、发光、信号传递于一体，是显示装置100的主体部分，通过对显示模组200进行封装得到该显示装置100。
如图1和图2所示，在一些实施例中，该显示模组200包括显示面板300和电路板400，显示面板300和电路板400电连接。显示模组200还设置有多个测试线路，多个测试线路分别用于显示模组200中不同性能的检测。
例如，如图2所示，绑定测试线路J1’用于检测显示面板300和电路板400之间的绑定是否合格，每个绑定测试线路J1’需要占据绑定区V中两个测试引脚的设计空间。如果需要对显示面板300左右两侧均进行绑定测试，则左右两侧均需设置两个测试引脚，共需占据绑定区V中四个测试引脚的设计空间。
又如，弯折测试线路J2’用于检测显示面板300的弯折区U在弯折(bending)工艺后的电性能，例如弯折后是否存在断线，每个弯折测试线路J2’也需要占据绑定区V中两个测试引脚的空间。如果需要对显示面板300左右两侧均进行弯折性能测试，则左右两侧均需设置两个测试引脚，共需占据绑定区V中四个测试引脚的设计空间。
为了在不增大显示装置100边框尺寸的前提下节省设计空间，本公开提供了一种显示模组200，在不影响原有检测功能实现的同时，节省测试线路所占据的设计空间。
如图3所示，在一些实施例中，显示模组200包括显示面板300和电路板400，显示面板300包括显示区AA，及位于显示区AA一侧的绑定区V，显示面板300和电路板400在绑定区V电连接。显示面板300还包括用于将电路板400弯折至显示面板300背面的弯折区U，弯折区U位于显示区AA和绑定区V之间。
本公开实施例中，通过在测试线路之间复用引脚，实现节省设计空间的目的。例如，通过在绑定测试线路J1与弯折测试线路J2之间复用测试引脚P，从而在保留保证原有检测功能实现的同时，减少测试线路的引脚数量，实现减少测试线路占据空间的目的，减小绑定区V的尺寸，节省整机设计空间，从而为其它结构留出更多的设计空间。
如图4所示，在示例性实施例中，显示面板300包括至少两个第一绑定测试引脚P1、第一测试线L1、第二测试线L2以及弯折测试引脚W1。
其中，至少两个第一绑定测试引脚P1相邻设置于绑定区V，相邻设置的两个第一绑定测试引脚P1之间通过第一测试线L1电连接，弯折测试引脚W1设置于绑定区V，相邻设置的两个第一绑定测试引脚P1中的任意一个第一绑定测试引脚P1与弯折测试引脚W1之间通过第二测试线L2电连接，第二测试线L2的至少部分线段位于弯折区U远离绑定区V的一侧。
第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格；第二测试线L2以及与其电连接的弯折测试引脚W1和一个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300的弯折区U在弯折(bending)工艺后的电性能，例如在弯折后是否存在断线。与第二测试线L2电连接的第一绑定测试引脚P1同时用于绑定测试和弯折性能测试，实现复用，减少了一个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图4所示，在示例性实施例中，电路板400包括相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2，以及第二弯折测试引脚W2。相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2与相邻设置的至少两个第一绑定测试引脚P1一一对应电连接，第二弯折测试引脚W2与第一弯折测试引脚W1一一对应电连接。
可选的，相对应的第二绑定测试引脚P2和第一绑定测试引脚P1之间通过焊接连接在一起，第二弯折测试引脚W2与第一弯折测试引脚W1通过焊接连接在一起。
如图4所示，在示例性实施例中，显示面板300包括两组测试引脚(包括左测试引脚1和右测试引脚2)，每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚P1和一个第一弯折测试引脚W1，每组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间通过第一测试线L1电连接，每组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚P1与第一弯折测试引脚W1之间通过第二测试线L2电连接。两组测试引脚分别位于绑定区V沿第一方向X的中线Li的相对两侧；第一方向X垂直于绑定区V的长度延伸方向。
也即，显示面板300的左右两侧均设置有测试线路，实现对显示面板300性能的均匀检测，左测试引脚1和右测试引脚2中的第一绑定测试引脚P1均同时用于绑定测试和弯折性能测试，此时减少了绑定区V两个引脚大小的空间，节约了整机设计空间。
相应地，电路板400也包括两组测试引脚，以便分别与显示面板300中左测试引脚1和右测试引脚2中的引脚一一对应电连接。
如图4所示，在示例性实施例中，电路板400包括绑定测试点D1和弯折测试点D2。
绑定测试点D1与第二绑定测试引脚P2一一对应电连接，在检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格时，检测装置分别与相邻的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻。由于该电阻可以反映显示面板300上的第一绑定测试引脚P1和电路板400上的第二绑定测试引脚P2之间的接触电阻，因此根据电阻值可以推断显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格。例如，若电阻值过大，超出绑定合格需要符合的设定值，则说明绑定不合格；若电阻值在绑定合格需要符合的设定值以下或等于设定值，则说明绑定合格。
弯折测试点D2与第二弯折测试引脚W2一一对应电连接，在检测显示面板300在弯折过程中是否造成断线时，检测装置分别与一个绑定测试点D1和弯折测试点D2连接，从而检测得到电阻。由于该电阻可以反映显示面板300上经过弯折区V的测试线的电阻，因此，根据电阻值可以推断显示面板300的弯折区U在弯折(bending)工艺后的电性能。例如，若电阻值过大，超出弯折工艺需要符合的设定值，则说明弯折工艺后显示面板300的电性能不合格；若电阻值无限大，则说明弯折工艺后显示面板300经过弯折区U的测试线存在断线，不符合显示面板300电性能要求；反之，若电阻值在需要符合的设定值以下或等于设定值，则说明弯折后的显示面板300电性能合格。
在显示面板300和电路板400设置有两组测试引脚的情况下，测试点也设置有两组，也即，在电路板400的左右两侧均设置有绑定测试点D1和弯折测试点D2，从而实现对显示模组200左右两侧的检测。
如图5所示，在示例性实施例中，显示面板300包括两组测试引脚(包括左测试引脚1和右测试引脚2)，每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚P1，每组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间通过第一测试线L1电连接。两组测试引脚分别位于绑定区V沿第一方向X的中线Li的相对两侧；第一方向X垂直于绑定区V的长度延伸方向。
其中，显示面板300还包括围绕显示区AA的周边区S，绑定区V位于周边区S。第二测试线L2由一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚L1引出，并沿周边区S且围绕显示区AA延伸至另一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚L1。第一测试线L1的至少部分线段位于弯折区U靠近绑定区V的一侧。
第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格；第二测试线L2以及与其电连接的分属于两组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹。与第二测试线L2电连接的分属于两组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1均同时用于绑定测试和裂纹测试，实现复用，减少了两个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图5所示，在示例性实施例中，电路板400包括相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2。相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2与相邻设置的至少两个第一绑定测试引脚P1一一对应电连接。可选的，相对应的第二绑定测试引脚P2和第一绑定测试引脚P1之间通过焊接连接在一起。
如图5所示，在示例性实施例中，电路板400包括绑定测试点D1。绑定测试点D1与第二绑定测试引脚P2一一对应电连接，在检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格时，检测装置分别与一组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，根据电阻值可以推断显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格(参照图4对应的实施例中的检测过程)。在检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹时，检测装置分别与分属于两组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，该电阻可以反映出沿着周边区S布置的第二测试线L2的电阻，因此，根据电阻值可以推断显示面板300的周边区S是否存在裂纹。例如，若电阻值过大，超出第二测试线L2的电阻值，说明周边区S存在裂纹。
如图6A所示，在示例性实施例中，在图5对应的实施例的基础上，显示面板300还包括用于将电路板400弯折至显示面板300背面的弯折区U，弯折区U位于显示区AA和绑定区V之间。第一测试线L1位于弯折区U靠近绑定区V的一侧。
在本公开实施例中，第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格，同时，还被配置为检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹，同时，还被配置为检测显示面板300的弯折区U在弯折过程中是否会造成断线。
检测过程如下：检测一组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，在检测到该电阻合格，也即显示面板300与电路板400之间的绑定合格后，检测一组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚P1与另一组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，从而根据电阻值推断周边区S是否存在裂纹，在检测到周边区S不存在裂纹后，将显示面板300的弯折区U进行弯折，再次检测一组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，若电阻符合弯折工艺需要符合的设定值，则说明弯折工艺后显示面板300的电性能合格。两个第一绑定测试引脚P1同时用于绑定测试、裂纹测试以及弯折测试，实现复用，减少了绑定区V中六个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图6B所示，在示例性实施例中，在图5对应的实施例的基础上，显示面板300还包括用于将电路板400弯折至显示面板300背面的弯折区U，弯折区U位于显示区AA和绑定区V之间。第一测试线L1的至少部分线段位于弯折区U远离绑定区V的一侧。
其中，第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格，同时，还被配置为检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹，同时，还被配置为检测显示面板300的弯折区U在弯折过程中是否会造成断线。
检测过程如下：检测一组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，在检测到该电阻合格，也即显示面板300与电路板400之间的绑定合格后，将显示面板300的弯折区U进行弯折，再次检测一组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，若电阻符合弯折工艺需要符合的设定值，则说明弯折工艺后显示面板300的电性能合格；检测一组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚P1与另一组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，从而根据电阻值推断周边区S是否存在裂纹。两个第一绑定测试引脚P1同时用于绑定测试、裂纹测试以及弯折测试，实现复用，减少了绑定区V中六个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图6A和图6B所示，在示例性实施例中，电路板400包括相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2。相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2与相邻设置的至少两个第一绑定测试引脚P1一一对应电连接。可选的，相对应的第二绑定测试引脚P2和第一绑定测试引脚P1之间通过焊接连接在一起。
如图6A和图6B所示，在示例性实施例中，电路板400包括绑定测试点D1。绑定测试点D1与第二绑定测试引脚P2一一对应电连接。
在显示面板300和电路板400设置有两组测试引脚的情况下，测试点也设置有两组，也即，电路板400的左右两侧均设置有两个绑定测试点D1，从而实现对显示模组200左右两侧的检测。
如图7所示，在示例性实施例中，显示面板300包括至少两个第一绑定测试引脚P1和第一测试线L1。
其中，至少两个第一绑定测试引脚P1相邻设置于绑定区V，相邻设置的两个第一绑定测试引脚P1之间通过第一测试线L1电连接，第一测试线L1的至少部分线段位于弯折区U远离绑定区V的一侧。
本公开实施例中，第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格，同时，还被配置为检测显示面板300的弯折区U在弯折过程中是否会造成断线。
检测过程如下：先检测两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，在检测到该电阻合格后，也即显示面板300与电路板400之间的绑定合格后，将显示面板300的弯折区U进行弯折，再次检测两个第一绑定测试引脚P1之间的电阻，若电阻符合弯折工艺需要符合的设定值，则推断在弯折工艺后显示面板300的电性能合格，例如，弯折后显示面板300不存在断线。两个第一绑定测试引脚P1同时用于绑定测试和弯折测试，实现复用，减少了两个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图7所示，在示例性实施例中，电路板400包括相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2。相邻设置的至少两个第二绑定测试引脚P2与相邻设置的至少两个第一绑定测试引脚P1一一对应电连接。可选的，相对应的第二绑定测试引脚P2和两个第一绑定测试引脚P1之间通过焊接连接在一起。
如图7所示，在示例性实施例中，显示面板300包括两组测试引脚(左测试引脚1和右测试引脚2)，每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚P1，每组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚P1之间通过第一测试线L1电连接。两组测试引脚分别位于绑定区V沿第一方向X的中线的相对两侧；第一方向X垂直于绑定区V的长度延伸方向。也即，显示面板300的左右两侧均设置有测试线路，实现对显示面板300性能的均匀检测，左测试引脚1和右测试引脚2中的第一绑定测试引脚P1均同时用于绑定测试和弯折性能测试，此时减少了绑定区V四个引脚大小的空间，节约了整机设计空间。
在相应地，电路板400也包括两组测试引脚，以便分别与显示面板300中左测试引脚1和右测试引脚2中的引脚一一对应电连接。
如图7所示，在示例性实施例中，电路板400包括绑定测试点D1。绑定测试点D1与第二绑定测试引脚P2一一对应电连接。
在检测显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格时，检测装置分别与相邻的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，根据电阻值可以推断显示面板300与电路板400之间的绑定是否合格。在检测到显示面板300与电路板400之间的绑定合格后，将显示面板300的弯折区U进行弯折，再次将检测装置分别与相邻的两个绑定测试点D1连接，若检测得到的电阻符合弯折工艺需要符合的设定值，则说明弯折工艺后显示面板300的电性能合格。
在一些实施例中，显示模组200中的显示面板300和电路板400之间通过覆晶薄膜500电连接。
如图8所示，在一些实施例中，显示模组200包括显示面板300、电路板400以及覆晶薄膜500，显示面板300和电路板400通过覆晶薄膜500电连接。显示模组200还设置有多个测试线路，多个测试线路分别用于显示模组200中不同的性能检测。
例如，如图8所示，绑定测试线路J1’用于检测显示面板300和覆晶薄膜500之间的绑定是否合格，每个绑定测试线路J1’需要占据绑定区V中两个测试引脚的设计空间；薄膜绑定测试线路J3’用于检测覆晶薄膜500和电路板400之间的绑定是否合格，每个薄膜绑定测试线路J3’需要占据绑定区V中两个测试引脚的设计空间；裂纹测试线路J4’用于检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹，每个裂纹测试线路J4’也需要占据绑定区V中两个测试引脚的空间。
为了节省测试线路所占据的设计空间，本公开提供了一种显示模组200。
如图9所示，显示模组200包括显示面板300、电路板400和覆晶薄膜500，显示面板300包括显示区AA，及位于显示区AA一侧的绑定区V，显示面板300和电路板400在绑定区V电连接。本实施例中，通过在测试线路之间复用引脚，实现节省设计空间的目的。例如，通过在绑定测试线路J1与薄膜绑定测试线路J3之间复用测试引脚Q，在绑定测试线路J1与裂纹测试线路J4之间复用测试引脚R，从而在保留原有检测功能的同时减少测试线路的引脚数量，实现减少测试线路占据空间的目的，节省设计空间。
如图10所示，在示例性实施例中，显示模组200包括显示面板300、电路板400和覆晶薄膜500。显示面板300和电路板400参见图5以及上文中与图5对应的文字描述。
如图10所示，与图5所对应的实施例不同的是，第一测试线L1及其电连接的两个第一绑定测试引脚P1被配置为检测显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。该实施例中，分属于两组测试引脚中且与第二测试线L2电连接的两个第一绑定测试引脚P1同样同时用于绑定测试和裂纹测试，实现复用，减少了绑定区V中两个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图10所示，在示例性实施例中，覆晶薄膜500包括相邻设置的至少两个第三绑定测试引脚P3和相邻设置的至少两个第四绑定测试引脚P4，至少两个第四绑定测试引脚P4与至少两个第三绑定测试引脚P3一一对应电连接。至少两个第三绑定测试引脚P3与显示面板300的至少两个第一绑定测试引脚P1一一对应电连接；至少两个第四绑定测试引脚P4电路板400的至少两个第二绑定测试引脚P2一一对应电连接。
如图10所示，在示例性实施例中，在检测显示面板300和覆晶薄膜500之间的绑定是否合格时，检测装置分别与电路板400上一组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到第一电阻值，该第一电阻值为显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定电阻和电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻之和，该第一电阻值减去电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻，即可得到第二电阻值，根据该第二电阻值可以推断显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。在检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹时，检测装置分别与分属于两组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，根据电阻值可以推断显示面板300的周边区S是否存在裂纹。
如图11所示，在示例性实施例中，在图10对应的前述实施例的基础上，覆晶薄膜500还包括第一薄膜绑定测试引脚B1和第三测试线L3。其中，第一薄膜绑定测试引脚B1与第四绑定测试引脚P4相邻设置，相邻设置的第一薄膜绑定测试引脚B1和第四绑定测试引脚P4通过第三测试线L3电连接。
其中，第三测试线L3以及与其电连接的第一薄膜绑定测试引脚B1和第四绑定测试引脚P4被配置为检测电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。由此可知，第一薄膜绑定测试引脚B1同时被用于电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定测试和显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定测试，实现复用，减少了覆晶薄膜500中两个引脚大小的空间，节约了设计空间。
如图11所示，在示例性实施例中，电路板400还包括第二薄膜绑定测试引脚B2，其与第一薄膜绑定测试引脚B1一一对应电连接。
如图11所示，在示例性实施例中，电路板400还包括薄膜绑定测试点D3，其与第二薄膜绑定引脚B2一一对应电连接。将检测装置分别与相邻的薄膜绑定测试点D3和绑定测试点D1连接，从而检测得到电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻，根据电阻值判断电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。在电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定合格后，将检测装置分别与相邻的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到第一电阻值，第一电阻值减去电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻后得到第二电阻值，根据第二电阻值判断显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。在检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹时，检测装置分别与分属于两组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，根据电阻值可以推断显示面板300的周边区S是否存在裂纹。
在可选地实施例中，通过弯折覆晶薄膜500将电路板400弯折至显示面板300背面。
如图12所示，在示例性实施例中，显示面板300还包括弯折区U，通过弯折区U的弯折将电路板400弯折至显示面板300背面。第一测试线L1的至少部分线段位于弯折区U远离绑定区V的一侧。在该实施例中，绑定区V仅设置四个引脚即可实现对显示面板300和覆晶薄膜500之间的绑定测试、覆晶薄膜500和电路板400之间的绑定测试、弯折测试、裂纹测试等多项检测功能。
例如，将检测装置分别与相邻的薄膜绑定测试点D3和绑定测试点D1连接，从而检测得到电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻，根据电阻值判断电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。在电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定合格后，将检测装置分别与相邻的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到第一电阻值，第一电阻值减去电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定电阻后得到第二电阻值，根据第二电阻值判断显示面板300与覆晶薄膜500之间的绑定是否合格。在检测到显示面板300与覆晶薄膜500之间、电路板400与覆晶薄膜500之间的绑定均合格后，将显示面板300的弯折区U进行弯折，再次将检测装置分别与一组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，若检测得到的电阻符合弯折工艺需要符合的设定值，则说明弯折工艺后显示面板300的电性能合格。在检测显示面板300的周边区S是否存在裂纹时，检测装置分别与分属于两组测试引脚中的两个绑定测试点D1连接，从而检测得到电阻，根据电阻值可以推断显示面板300的周边区S是否存在裂纹。
如图13所示，在示例性实施例中，覆晶薄膜500还包括驱动芯片I，将驱动芯片I直接设置于覆晶薄膜500可以进一步减小显示装置100下边框的宽度。可选地，该驱动芯片I例如是源极驱动芯片(source IC)，用于向显示区AA中的数据线传输数据信号。
如图13所示，在示例性实施例中，电路板400还包括静电阻抗器C，其与电路板400上的一个测试引脚(例如第二绑定测试引脚P2、第二薄膜绑定测试引脚B2)电连接。可选地，静电阻抗器C与驱动芯片I电连接。可选地，静电阻抗器C包括电容器。静电阻抗器C用于对显示装置100进行静电防护，延长显示装置100的使用寿命。
如图13所示，在示例性实施例中，静电阻抗器C可复用为检测时的测试点。例如，静电阻抗器C与一个第二绑定测试引脚P2电连接，此时静电阻抗器C可作为一个绑定测试点D1；再比如，静电阻抗器C与第二薄膜绑定测试引脚B2电连接，此时静电阻抗器C可作为一个薄膜绑定测试点D3。
如图14所示，在示例性实施例中，显示面板300包括至少两组测试引脚；显示模组200包括至少两个覆晶薄膜500，每个覆晶薄膜500与至少两组测试引脚一一对应电连接。每个覆晶薄膜500均设置有驱动芯片I。
图15示出了一种显示面板的俯视结构。如图15所示，本公开的一些实施例提供一种显示面板300，该显示面板300属于上述任一实施例中的显示模组200。
该显示面板300可以为液晶显示面板(Liquid Crystal Display，简称LCD)；该显示面板300也可以为电致发光显示面板或光致发光显示面板。在该显示面板300为电致发光显示面板的情况下，电致发光显示面板可以为有机电致发光(Organic Light-EmittingDiode，简称OLED)显示面板或量子点电致发光(Quantum Dot Light Emitting Diode，简称QLED)显示面板。在该显示面板300为光致发光显示面板的情况下，光致发光显示装置可以为量子点光致发光显示面板。
如图15所示，在一些实施例中，显示面板300包括测试引脚J和功能性引脚，测试引脚J为前述任一实施例中显示面板300上的引脚，功能性引脚设置于显示面板300的绑定区V，用于和电路板400中的功能性引脚一一对应电连接。
如图15所示，在示例性实施例中，功能性引脚包括第一电源线引脚V1、第二电源线引脚V2、数据线引脚、边框信号线引脚G和测试线引脚T等。
其中，第一电源线引脚V1、第二电源线引脚V2和数据线引脚与显示区AA中的像素电路电连接，用于向显示区AA传输电源信号和数据信号；边框信号线引脚G与显示面板300的边框区G’中的驱动电路电连接；测试线引脚T与显示面板300的测试区T’中的测试电路电连接。
在一些实施例中，显示面板300包括多组测试引脚J，每两组测试引脚J之间均设置有功能性引脚。
需要说明的是，图15展示的仅仅是绑定区、边框区和显示区的局部，例如仅仅是显示面板300左下角的结构，在可选的实施例中，显示面板300的其他位置，例如右下角，也设置有功能性引脚、测试引脚以及测试线路，其布置方式可以参照图15。可选地，显示面板300右下角的引脚与显示面板300左下角的引脚呈镜像布置。
以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (13)
1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区、位于所述显示区一侧的绑定区、及位于所述显示区和所述绑定区之间的弯折区；
所述显示面板包括：
设置于所述绑定区的至少两个第一绑定测试引脚；
设置于所述绑定区的第一测试线，相邻两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接，所述第一测试线及其电连接的两个所述第一绑定测试引脚被配置为检测所述显示面板与电路板之间的绑定是否合格；
第二测试线，所述相邻两个第一绑定测试引脚中的至少一个与所述第二测试线电连接；
第一弯折测试引脚，所述第二测试线的一端与所述第一弯折测试引脚电连接，另一端与所述第一绑定测试引脚电连接；
所述第二测试线的至少部分线段位于所述弯折区远离所述绑定区的一侧。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括两组测试引脚，每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚和一个第一弯折测试引脚，每组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接，每组测试引脚中的一个第一绑定测试引脚与所述第一弯折测试引脚之间通过所述第二测试线电连接；
所述两组测试引脚分别位于所述绑定区沿第一方向的中线的相对两侧；所述第一方向垂直于所述绑定区的长度延伸方向。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括两组测试引脚，所述两组测试引脚分别位于所述绑定区沿第一方向的中线的相对两侧；所述第一方向垂直于所述绑定区的长度延伸方向；
每组测试引脚包括两个第一绑定测试引脚，每组测试引脚中的两个第一绑定测试引脚之间通过所述第一测试线电连接；
所述显示面板还包括围绕所述显示区的周边区，所述绑定区位于所述周边区；
所述第二测试线由一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚引出，沿所述周边区且围绕所述显示区延伸至另一组测试引脚中的任一第一绑定测试引脚。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，还包括：位于所述显示区和所述绑定区之间的弯折区；
所述第一测试线位于所述弯折区靠近所述绑定区的一侧；或者，
所述第一测试线的至少部分线段位于所述弯折区远离所述绑定区的一侧。
5.一种显示模组，其特征在于，包括：
如权利要求1～4任一项所述的显示面板；
电路板，与所述显示面板电连接。
6.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，所述电路板包括：
至少两个第二绑定测试引脚，与所述显示面板的至少两个第一绑定测试引脚一一对应。
7.根据权利要求6所述的显示模组，其特征在于，所述显示面板包括第一弯折测试引脚；
所述电路板还包括：
第二弯折测试引脚，与所述第一弯折测试引脚一一对应。
8.根据权利要求6所述的显示模组，其特征在于，还包括：
覆晶薄膜，设置于所述显示面板和所述电路板之间，所述覆晶薄膜分别与所述显示面板和所述电路板电连接。
9.根据权利要求8所述的显示模组，其特征在于，所述覆晶薄膜包括：
至少两个第三绑定测试引脚，与所述显示面板的至少两个第一绑定测试引脚一一对应电连接；
至少两个第四绑定测试引脚，与所述至少两个第三绑定测试引脚一一对应电连接，且与所述电路板的第二绑定测试引脚一一对应电连接。
10.根据权利要求9所述的显示模组，其特征在于，所述覆晶薄膜还包括：
第一薄膜绑定测试引脚，与所述第四绑定测试引脚相邻设置；
第三测试线，相邻设置的第一薄膜绑定测试引脚和第四绑定测试引脚通过所述第三测试线电连接。
11.根据权利要求10所述的显示模组，其特征在于，所述电路板还包括：
第二薄膜绑定测试引脚，与所述第一薄膜绑定测试引脚一一对应电连接。
12.根据权利要求6～11中任一项所述的显示模组，其特征在于，所述电路板还包括：
至少两个绑定测试点，与所述至少两个第二绑定测试引脚一一对应电连接；
在所述电路板还包括第二弯折测试引脚的情况下，所述电路板还包括：弯折测试点，与所述第二弯折测试引脚一一对应电连接；
在所述电路板还包括第二薄膜绑定测试引脚的情况下，所述电路板还包括：薄膜绑定测试点，与所述第二薄膜绑定引脚一一对应电连接。
13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求5～12任一项所述的显示模组。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110939652.1A CN113655646B (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 显示面板、显示模组及显示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110939652.1A CN113655646B (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 显示面板、显示模组及显示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113655646A CN113655646A (zh) | 2021-11-16 |
| CN113655646B true CN113655646B (zh) | 2023-10-24 |
Family
ID=78491197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110939652.1A Active CN113655646B (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 显示面板、显示模组及显示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113655646B (zh) |
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- 2021-08-16 CN CN202110939652.1A patent/CN113655646B/zh active Active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN113655646A (zh) | 2021-11-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |