CN106773174A - 显示面板的测试方法与测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的测试方法与测试装置，该测试方法包括在数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线；将与显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至第一信号线，将与显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至第二信号线；在数据IC的两侧对称设置测试模块，测试模块能够输出第一测试信号与第二测试信号，将第一测试信号输入到第一信号线，将第二测试信号输入到第二信号线；以第一测试信号与第二测试信号分别驱动显示区中的各数据线，并根据显示的画面来判断显示面板是否存在异常；切断第一信号线与第二信号线与数据IC的信号输出引脚之间的连接。该方法能减小显示面板的体积和功耗，消除画面闪烁。

Description

显示面板的测试方法与测试装置

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板的测试方法与测试装置。

背景技术

目前，液晶显示面板的发展趋势变得多元化，在发展的同时，面临的技术问题也越来越复杂，并进一步导致液晶显示面板的生产的良品率相对降低。为保证成盒(Cell)后液晶显示面板的良品率，一般会在液晶显示面板上设计成盒测试(Cell Test)电路。

但在现有技术中，利用成盒测试电路对液晶显示面板进行成盒测试后会存在如下问题，一方面，由于成盒测试电路中设置有用于测试的薄膜晶体管，因此将使得液晶显示面板的高度增加。且用于驱动上述薄膜晶体管的使能信号线以及测试信号线需要在显示面板的两侧进行布设，因而会增加显示面板的宽度。

另一方面，在完成显示面板的成盒测试后，为了保证显示面板能够接收数据IC的驱动信号来正常显示画面，需要通过使能信号使薄膜晶体管处于关闭状态，而此时上述与薄膜晶体管相连接的各测试信号线将均处于浮置状态，并且由于薄膜晶体管的漏电流不可能完全为零，因此薄膜晶体管之间的耦合作用将导致串扰现象发生。当薄膜晶体管的漏电流比较大或薄膜晶体管的栅极电压(连接使能信号)有浮动时，会导致面板闪烁显著增加。

另外，由于测试时需要向成盒测试区提供使能信号，因此会增加显示面板的功耗。

综上，亟需一种新的测试方式以减小显示面板的体积，降低其功耗以及改善其画面闪烁的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种能够减小显示面板的体积，降低其功耗以及改善其画面闪烁的问题的新的显示面板的测试方式。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该方法包括以下步骤：步骤一、在所述数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线；步骤二、将与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚输入到所述第一信号线，将与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚输入到所述第二信号线；步骤三、在所述数据IC的两侧设置测试模块，所述测试模块能够输出第一测试信号与第二测试信号，将所述第一测试信号连接至所述第一信号线，将所述第二测试信号连接至所述第二信号线；步骤四、以所述第一测试信号与第二测试信号分别驱动所述显示区中的各数据线，并根据显示的画面来判断显示面板是否存在异常；步骤五、切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

优选地，在步骤五中，在切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接时，保留所述第一信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个；保留所述第二信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个。

优选地，在步骤一中，在所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域布设所述第一信号线和第二信号线。

优选地，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

优选地，在步骤五中，利用激光切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

优选地，在步骤五后还包括：步骤六、利用示波器分别连接所述第一信号线与第二信号线以显示所述数据IC的信号输出引脚所输出的数据信号的波形，根据所述波形判断数据IC是否存在故障。

本申请的实施例还提供了一种显示面板的测试装置，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该装置包括：信号传输模块，其包括布设于所述数据IC的绑定区域的第一信号线与第二信号线，所述第一信号线同时与第一测试信号及与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接，所述第二信号线同时与第二测试信号及与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接；测试模块，设置于所述数据IC的两侧，其设置为生成并输出第一测试信号与第二测试信号，所述第一测试信号与第二测试信号用于驱动所述显示区中的各数据线以形成显示画面，根据所述显示画面来判断显示面板是否存在异常；切断模块，其设置为在异常判断结束后切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

优选地，所述第一信号线和第二信号线布设于所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域。

优选地，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

优选地，所述切断模块包括激光切断单元。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

通过在数据IC的绑定区域布设信号走线，进而无需设置薄膜晶体管实现了对显示面板显示区的测试，能够显著减小显示面板的体积。且不需要采用使能信号对薄膜晶体管进行控制，降低了显示面板的功耗。同时解决了因薄膜晶体管漏电和使能信号不稳定而导致的画面闪烁问题。

本发明的其他优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书，权利要求书，以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分。其中，表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，但并不构成对本申请技术方案的限制。

图1a是现有技术中设置有成盒测试电路的液晶显示面板的结构示意图；

图1b是现有技术中薄膜晶体管与测试用信号线及扇区走线之间的连接关系示意图；

图2是根据本发明第一实施例的显示面板的测试方法的流程图；

图3a是根据本发明第一实施例的设置有测试装置的显示面板的结构示意图；

图3b是根据本发明第一实施例的测试方法处理后的显示面板的结构示意图；

图4是根据本发明第二实施例的显示面板的测试方法的流程图；

图5是根据本发明第二实施例的测试方法处理后的显示面板的结构示意图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

图1a是目前使用较为广泛的设置有成盒测试电路的液晶显示面板的结构示意图。如图所示，显示区11由像素单元矩阵构成，用于显示画面。在显示区11的两侧区域集成有GOA驱动电路12，用于生成并输出行扫描信号。在显示区11的下方还设置有解复用电路13，用于解耦复用的控制信号或测试信号。解复用电路13的一端与显示区11中的各条数据线相连接，另一端连接扇区走线14的输出端。

如图1a所示，扇区走线14将数据IC15的电压信号传输至显示区11的对应的数据线中，扇区走线14呈放射状，其一端与解复用电路13相连接，另一端与数据IC15的信号输出引脚相连接。在显示面板进行画面显示时，数据IC15的各信号输出引脚分别输出不同的电压信号，经由扇区走线14和解复用电路13至显示区11的各条数据线，驱动与各数据线对应的像素单元以实现画面的显示。

现有技术中，在对上述显示面板进行成盒测试时，还需要设置成盒测试区16、测试用的多个薄膜晶体管17以及用于连接薄膜晶体管17与成盒测试区16输出的测试信号和控制信号的多条走线。

如图1a所示，成盒测试区16设置于数据IC15的绑定区域的两侧，用于生成并输出测试时需要的控制信号和测试信号。主要的信号走线有三条，分别为使能信号线161，奇数列数据线测试信号线162以及偶数列数据线测试信号线163。三条信号线从成盒测试区16引出后从扇区走线14的外围绕过连接至薄膜晶体管17。

薄膜晶体管17与三条测试信号线以及扇区走线14之间的连接如图1b所示，薄膜晶体管17的源极(或漏极)连接对应的数据线，与显示区11中的奇数列数据线相连接的晶体管的漏极(或源极)均连接至奇数列数据线测试信号线162，与显示区11中的偶数列数据线相连接的晶体管的漏极(或源极)均连接至偶数列数据线测试信号线163。各薄膜晶体管17的栅极与使能信号线161相连接，使能信号线161的另一端与数据IC15的一个输出引脚相连接。

成盒测试一般在将数据IC15进行绑定之前进行。测试的过程如下：数据IC15先向成盒测试区16发出高电平的使能信号，该使能信号可以打开测试薄膜晶体管17，再通过奇数列数据线测试信号线162和偶数列数据线测试信号线163分别向薄膜晶体管17输入测试信号，通过生成的显示画面来判断显示面板是否存在缺陷。测试结束后，数据IC15向成盒测试区16发出低电平使能信号，该使能信号可以关闭测试薄膜晶体管17，奇数列数据线测试信号线162和偶数列数据线测试信号线163被设置并维持为浮置状态。

上述测试方法会导致显示面板的功耗和体积的增加，同时出现画面闪烁的问题。在本发明中提供一种无需设置薄膜晶体管来对显示面板进行测试的方法，下面结合具体的实施例进行说明。

实施例一：

图2是根据本发明第一实施例的显示面板的测试方法的流程图，如图所示，该测试方法包括以下步骤：

在步骤S210中，在数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线。

具体的，数据IC15横向放置于其绑定区域内，芯片的数据信号输入引脚和数据信号输出引脚均沿与显示区11的扫描线平行的方向排列，在数据信号输入引脚与数据信号输出引脚之间的区域内布设第一信号线362与第二信号线363，如图3a所示。由于第一信号线362与第二信号线363利用的是数据IC15的绑定区域，不占用额外的板上空间，有利于减小显示基板的尺寸。

在步骤S220中，将与显示区11中的奇数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚连接至第一信号线362，将与显示区11中的偶数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚连接至第二信号线363，如图3a所示。

在步骤S230中，在数据IC15的两侧对称设置测试模块36，其作用相当于现有的成盒测试区16。该测试模块36能够输出第一测试信号与第二测试信号，将第一测试信号输入至第一信号线362，将第二测试信号输入至第二信号线363，如图3a所示。

在步骤S240中，利用第一测试信号驱动显示区11中的所有奇数列数据线，当该第一测试信号为一灰阶电压信号时，显示画面会呈现条状的灰阶画面，根据显示的灰阶画面是否存在异常可以判断出显示面板是否存在缺陷。同理，利用第二测试信号驱动显示区11中的所有偶数列数据线，当该第二测试信号为一灰阶电压信号时，显示画面会呈现条状的灰阶画面，根据显示的画面判断显示面板是否存在缺陷。

在步骤S250中，在测试结束后，若判断显示面板不存在缺陷，则切断第一信号线362与第二信号线363与数据IC15的信号输出引脚之间的连接，以消除各奇数列数据线之间，以及各偶数列数据线之间的短路状态，保证在显示面板进行图像显示时能够正常工作，切断连接后的显示面板如图3b所示。

在本发明的一个具体的实施例中，可以采用激光切断第一信号线362与第二信号线363与数据IC15的信号输出引脚之间的连接。

本实施例的测试方法无需设置薄膜晶体管，且不用通过使能信号来控制薄膜晶体管的状态，不仅解决了因薄膜晶体管漏电和使能信号不稳定而导致的画面闪烁问题，还降低了显示面板整体的高度，同时也减少了显示面板的功耗。

另外，由于本实施例中的第一信号线362与第二信号线363设置于数据IC15的绑定区域内，无需绕行并占据显示面板上其他的空间，有利于减小显示面板的宽度，进而从整体上减小显示面板的体积。

实施例二：

在显示面板的实际生产中，不仅要对显示区进行成盒测试，也需要对数据IC的输出信号进行检测，为此，本发明的实施例二提供了一种显示面板的测试方法，在实现对显示面板进行成盒测试后还能对显示面板的数据IC进行检测，该测试方法的流程示意图如图4所示，下面仅针对其与实施例一中不同的内容进行说明。

在该实施例的步骤S450中，在切断第一信号线362与第二信号线363与数据IC15的信号输出引脚之间的连接时，保留第一信号线362与一个数据IC15的信号输出引脚之间的连接，该被保留的信号输出引脚为与显示区11中的奇数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚中的任意一个。保留第二信号线363与一个数据IC15的信号输出引脚之间的连接，该被保留的信号输出引脚为与显示区11中的偶数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚中的任意一个。然后将除上述两个引脚以外其余所有数据IC15的信号输出引脚与第一/第二信号线的连接用激光切断。优选的，为方便实际操作，选择保留第一个数据IC15的信号输出引脚与第一信号线362的连接，以及保留最后一个数据IC15的信号输出引脚与第而信号线363的连接。

经步骤S450处理后的显示面板如图5所示。从图中可以看到，只有一个奇数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚与第一信号线362相连，同样只有一个偶数列数据线相对应的数据IC15的信号输出引脚与第二信号线363相连，这样并不会造成数据线之间的短接。

在步骤S460中，利用示波器分别连接第一信号线362与第二信号线363，以显示数据IC15的信号输出引脚所输出的数据信号的波形，根据示波器所显示的波形判断数据IC15是否存在故障。

本实施例中的测试方法不仅能够有效降低显示面板的体积以及减少显示面板所消耗的功耗，还能在不增加测试成本与测试工序的同时地对数据IC15进行故障检测。

实施例三：

在本实施例中提供了一种显示面板的测试装置，显示面板的结构如前所述，包括显示区11，在显示区11的外围设置有解复用电路13、数据IC15和扇区走线14，数据IC15的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线14和解复用电路13与显示区11的各条数据线相连接。

进一步地，本实施例的测试装置包括：

信号传输模块，其包括布设于数据IC的绑定区域的第一信号线与第二信号线，第一信号线同时与第一测试信号及与显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接，第二信号线同时与第二测试信号及与显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接。

测试模块，对称设置于数据IC的两侧，其设置为生成并输出第一测试信号与第二测试信号，第一测试信号与第二测试信号用于驱动显示区中的各数据线以形成显示画面，根据显示画面来判断显示面板是否存在异常。

切断模块，其设置为在异常判断结束后切断第一信号线与第二信号线与数据IC的信号输出引脚之间的连接。

其中，切断模块具体包括激光切断单元。

关于各功能模块的详细的功能可以参见实施例一与实施例二中的测试方法的对应步骤获取，此处不再赘述。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该方法包括以下步骤：

步骤一、在所述数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线；

步骤二、将与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至所述第一信号线，将与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至所述第二信号线；

步骤三、在所述数据IC的两侧设置测试模块，所述测试模块能够输出第一测试信号与第二测试信号，将所述第一测试信号输入到所述第一信号线，将所述第二测试信号输入到所述第二信号线；

步骤四、以所述第一测试信号与第二测试信号分别驱动所述显示区中的各数据线，并根据显示的画面来判断显示面板是否存在异常；

步骤五、切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤五中，在切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接时，

保留所述第一信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个；

保留所述第二信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在步骤一中，在所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域布设所述第一信号线和第二信号线。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤五中，利用激光切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤五后还包括：

步骤六、利用示波器分别连接所述第一信号线与第二信号线以显示所述数据IC的信号输出引脚所输出的数据信号的波形，根据所述波形判断数据IC是否存在故障。

7.一种显示面板的测试装置，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该装置包括：

信号传输模块，其包括布设于所述数据IC的绑定区域的第一信号线与第二信号线，所述第一信号线同时与第一测试信号及与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接，所述第二信号线同时与第二测试信号及与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接；

测试模块，设置于所述数据IC的两侧，其设置为生成并输出第一测试信号与第二测试信号，所述第一测试信号与第二测试信号用于驱动所述显示区中的各数据线以形成显示画面，根据所述显示画面来判断显示面板是否存在异常；

切断模块，其设置为在异常判断结束后切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一信号线和第二信号线布设于所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述切断模块包括激光切断单元。