CN105976785B - Goa电路及液晶显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种GOA电路，其包括GOA驱动芯片、GOA驱动信号线、阵列基板测试芯片、测试信号线以及GOA保护电路；GOA驱动芯片用于生成扫描驱动信号；GOA驱动信号线用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片用于生成阵列基板测试信号；测试信号线用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；GOA保护电路设置在GOA驱动信号线和测试信号线之间，用于防止测试信号线上的静电信号传输至GOA驱动信号线。本发明还提供一种液晶显示面板，本发明的GOA电路及液晶显示面板可有效阻止静电通过测试信号线进入到GOA电路，从而避免GOA电路造成静电损伤。

Description

GOA电路及液晶显示面板
技术领域
本发明涉及显示屏驱动领域，特别是涉及一种GOA电路及液晶显示面板。
背景技术
随着科技的发展，越来越多的用户使用各种各样的液晶显示面板进行工作、学习以及娱乐活动。因此用户对液晶显示面板的要求也越来越高，如高分辨率、高亮度以及高反应速率等。
GOA(gate on array)电路是一种液晶显示器中用于驱动液晶显示面板的重要电路，用于实现扫描线(gate)的逐行驱动，以实现液晶显示面板的正常显示。阵列基板测试(array test)电路是一种用于测试GOA电路的电性连接情况的电路。
在现有的液晶显示面板的设计方案中，GOA电路的信号线，如STV(启动信号线),U2D(正向扫描信号线),D2U(反向扫描信号线)等，与阵列基板测试电路上的对应的测试信号线通过导线连接。这样当该液晶显示面板进行正常显示或进行静电测试时，静电可能通过阵列基板测试电路的测试信号线进入到GOA电路，对GOA电路造成损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作。
故，有必要提供一种GOA电路及液晶显示面板，以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可有效避免GOA电路造成静电损伤的GOA电路及液晶显示面板；以解决现有的GOA电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。
本发明实施例提供一种GOA电路，其包括：
GOA驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
GOA驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；
阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；
测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及
GOA保护电路，设置在所述GOA驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述GOA驱动信号线。
在本发明所述的GOA电路中，所述GOA保护电路为传输门电路。
在本发明所述的GOA电路中，所述传输门电路包括NMOS晶体管以及PMOS晶体管；
所述NMOS晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述NMOS晶体管的输出端与所述GOA驱动信号线连接，所述NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；
所述PMOS晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述PMOS晶体管的输出端与所述GOA驱动信号线连接，所述PMOS管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接。
在本发明所述的GOA电路中，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导通所述测试信号线与所述GOA驱动信号线。
在本发明所述的GOA电路中，所述GOA保护电路为反相器电路。
在本发明所述的GOA电路中，所述反相器电路包括第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第一PMOS晶体管以及第二PMOS晶体管；
所述第一NMOS晶体管的输入端与低电平源连接，所述第一NMOS晶体管的输出端与所述第二NMOS晶体管的输入端连接，所述第一NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；
所述第二NMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二NMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接；
所述第一PMOS晶体管的输入端与高电平源连接，所述第一PMOS晶体管的输出端与所述第二PMOS晶体管的输入端连接，所述第一PMOS晶体管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接；
所述第二PMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二PMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接。
在本发明所述的GOA电路中，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导通所述测试信号线与所述GOA驱动信号线。
在本发明所述的GOA电路中，所述GOA驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。
本发明实施例还提供一种液晶显示面板，其包括GOA电路，其中所述GOA电路包括：
GOA驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
GOA驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；
阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；
测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及
GOA保护电路，设置在所述GOA驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述GOA驱动信号线。
在本发明所述的液晶显示面板中，所述GOA保护电路为传输门电路或反相器电路。
相较于现有的GOA电路及液晶显示面板，本发明的GOA电路及液晶显示面板通过GOA保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对GOA电路造成静电损伤；解决了现有的GOA电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
附图说明
图1为本发明的GOA电路的优选实施例的结构示意图；
图2为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为传输门电路时的具体电路图；
图3为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为反相器电路时的具体电路图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图1，图1为本发明的GOA电路的优选实施例的结构示意图，本优选实施例的GOA电路用于给相应的液晶显示面板提供扫描驱动信号，该GOA电路10包括GOA驱动芯片11、GOA驱动信号线12、阵列基板测试芯片13、测试信号线14以及GOA保护电路15。
GOA驱动芯片11用于生成扫描驱动信号；GOA驱动信号线12用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线16；阵列基板测试芯片13用于生成阵列基板测试信号；测试信号线14用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线16；GOA保护电路15设置在GOA驱动信号线12和测试信号线14之间，用于防止测试信号线14上的静电信号传输至GOA驱动信号线12。
这里的GOA驱动信号线12包括但不限于启动信号线STV1、正向扫描信号线U2D1、反向扫描信号线D2U1、时钟信号线CK1、高电平信号线VGH1、低电平信号线VGL1以及使能信号线GRST1中一个或多个。
这里的测试信号线14包括但不限于启动信号线STV2、正向扫描信号线U2D2、反向扫描信号线D2U2、时钟信号线CK2、高电平信号线VGH2、低电平信号线VGL2以及使能信号线GRST2中一个或多个。
请参照图2，图2为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为传输门电路时的具体电路图。图2为传输门电路的具体电路图，该传输门电路包括NMOS晶体管21以及PMOS晶体管22，NMOS晶体管21的输入端与测试信号线连接，NMOS晶体管21的输出端与GOA驱动信号线连接，NMOS晶体管21的控制端与保护控制信号源ATEN1连接；PMOS晶体管22的输入端与测试信号线连接，PMOS晶体管22的输出端与GOA驱动信号线连接，PMOS管22的控制端通过非门与保护控制信号源ATEN1连接。
本优选实施例的GOA电路10工作时，当相应的液晶显示面板进行画面显示，保护控制信号源ATEN1输出低电平信号，这样NMOS晶体管21的控制端输入低电平信号，NMOS晶体管21处于断开状态，PMOS晶体管22的控制端输入高电平信号，PMOS晶体管22也处于断开状态，测试信号线与相应的GOA驱动信号线处于隔断状态，从而可以有效的避免测试信号线的静电信号传输至GOA电路上，防止GOA电路10产生静电损伤。
当相应的液晶显示面板使用测试信号线进行画面测试时，保护控制信号源ATEN1输出高电平信号，这样NMOS晶体管21的控制端输入高电平信号，NMOS晶体管21处于导通状态；PMOS晶体管22的控制端输入低电平信号，PMOS晶体管22也处于导通状态，测试信号线与相应的GOA驱动信号线处于导通状态；从而可使用测试信号线对GOA电路10进行有效的信号测试。
请参照图3，图3为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为反相器电路时的具体电路图。图3为反相器电路的具体电路图，该反相器电路包括第一NMOS晶体管31、第二NMOS晶体管32、第一PMOS晶体管33以及第二PMOS晶体管34。
第一NMOS晶体管31的输入端与低电平源VGL连接，第一NMOS晶体管31的输出端与第二NMOS晶体管32的输入端连接，第一NMOS晶体管31的控制端与保护控制信号源ATEN2连接；第二NMOS晶体管32的输出端通过非门与GOA驱动信号线连接，第二NMOS晶体管32的控制端与测试信号线连接；第一PMOS晶体管33的输入端与高电平源VGH连接，第一PMOS晶体管33的输出端与第二PMOS晶体管34的输入端连接，第一PMOS晶体管33的控制端通过非门与保护控制信号源ATEN2连接；第二PMOS晶体管34的输出端通过非门与GOA驱动信号线连接，第二PMOS晶体管34的控制端与测试信号线连接。
本优选实施例的GOA电路10工作时，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源ATEN2输出低电平信号，这样第一NMOS晶体管31的控制端输入低电平信号，第一NMOS晶体管31处于断开状态，第一PMOS晶体管33的控制端输入高电平信号，第一PMOS晶体管33处于断开状态，这样第二NMOS晶体管32和第二PMOS晶体管34的输入端均没有信号，因此测试信号线与相应的GOA驱动信号线处于隔断状态，从而可以有效的避免测试信号线的静电信号传输至GOA电路上，防止GOA电路10产生静电损伤。
当相应的液晶显示面板使用测试信号线进行画面测试时，保护控制信号源ATEN2输出高电平信号，这样第一NMOS晶体管31的控制端输入高电平信号，第一NMOS晶体管31处于导通状态，第一PMOS晶体管33的控制端输入低电平信号，第一PMOS晶体管33处于导通状态，这样第二NMOS晶体管32通过第一NMOS晶体管31输入低电平信号，第二PMOS晶体管34通过第一PMOS晶体管33输入高电平信号。
当测试信号线为高电平时，第二NMOS晶体管32导通，第二PMOS晶体管34断开，GOA驱动信号线输出高电平信号；当测试信号线为低电平时，第二PMOS晶体管34导通，第二NMOS晶体管32断开，GOA驱动信号线输出低电平信号。从而可使用测试信号线对GOA电路10进行有效的信号测试。
这样即完成了本优选实施例的GOA电路10的画面显示驱动以及画面测试驱动过程。
本优选实施例的GOA电路通过GOA保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对GOA电路造成静电损伤。
本发明实施例还提供一种液晶显示面板，该液晶显示面板包括GOA电路、扫描线、数据线以及相应的像素单元。其中GOA电路包括GOA驱动芯片、GOA驱动信号线、阵列基板测试芯片、测试信号线以及GOA保护电路。
GOA驱动芯片用于生成扫描驱动信号；GOA驱动信号线用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片用于生成阵列基板测试信号；测试信号线用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；GOA保护电路设置在GOA驱动信号线和测试信号线之间，用于防止测试信号线上的静电信号传输至GOA驱动信号线。
优选的，GOA保护电路为传输门电路。
优选的，传输门电路包括NMOS晶体管以及PMOS晶体管；NMOS晶体管的输入端与测试信号线连接，NMOS晶体管的输出端与GOA驱动信号线连接，NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；PMOS晶体管的输入端与测试信号线连接，PMOS晶体管的输出端与GOA驱动信号线连接，PMOS管的控制端通过非门与保护控制信号源连接。
优选的，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断测试信号线与GOA驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，保护控制信号源输出高电平信号，以导通测试信号线与所述GOA驱动信号线。
优选的，GOA保护电路为反相器电路。
优选的，反相器电路包括第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第一PMOS晶体管以及第二PMOS晶体管；第一NMOS晶体管输入端与低电平源连接，第一NMOS晶体管的输出端与第二NMOS晶体管的输入端连接，第一NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；第二NMOS晶体管的输出端通过非门与GOA驱动信号线连接，第二NMOS晶体管的控制端与测试信号线连接；第一PMOS晶体管的输入端与高电平源连接，第一PMOS晶体管的输出端与第二PMOS晶体管的输入端连接，第一PMOS晶体管的控制端通过非门与保护控制信号源连接；第二PMOS晶体管的输出端通过非门与GOA驱动信号线连接，第二PMOS晶体管的控制端与测试信号线连接。
优选的，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断测试信号线与GOA驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，保护控制信号源输出高电平信号，以导通测试信号线与GOA驱动信号线。
优选的，GOA驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。
本发明的液晶显示面板的具体工作原理与上述的GOA电路的优选实施例中的描述相同或相似，具体请参见上述GOA电路的优选实施例中的相关描述。
本发明的GOA电路及液晶显示面板通过GOA保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对GOA电路造成静电损伤；解决了现有的GOA电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (4)

1.一种GOA电路，其特征在于，包括：
GOA驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
GOA驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；
阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；
测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及
GOA保护电路，设置在所述GOA驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述GOA驱动信号线；
其中当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
其中当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导通所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
其中，所述GOA保护电路为反相器电路，所述反相器电路包括第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第一PMOS晶体管以及第二PMOS晶体管；
所述第一NMOS晶体管的输入端与低电平源连接，所述第一NMOS晶体管的输出端与所述第二NMOS晶体管的输入端连接，所述第一NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；
所述第二NMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二NMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接；
所述第一PMOS晶体管的输入端与高电平源连接，所述第一PMOS晶体管的输出端与所述第二PMOS晶体管的输入端连接，所述第一PMOS晶体管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接；
所述第二PMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二PMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接。
2.根据权利要求1所述的GOA电路，其特征在于，所述GOA驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。
3.一种液晶显示面板，其特征在于，包括GOA电路，其中所述GOA电路包括：
GOA驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
GOA驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；
阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；
测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及
GOA保护电路，设置在所述GOA驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述GOA驱动信号线；
其中当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
其中当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导通所述测试信号线与所述GOA驱动信号线；
其中，所述GOA保护电路为反相器电路，所述反相器电路包括第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第一PMOS晶体管以及第二PMOS晶体管；
所述第一NMOS晶体管的输入端与低电平源连接，所述第一NMOS晶体管的输出端与所述第二NMOS晶体管的输入端连接，所述第一NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接；
所述第二NMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二NMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接；
所述第一PMOS晶体管的输入端与高电平源连接，所述第一PMOS晶体管的输出端与所述第二PMOS晶体管的输入端连接，所述第一PMOS晶体管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接；
所述第二PMOS晶体管的输出端通过非门与所述GOA驱动信号线连接，所述第二PMOS晶体管的控制端与所述测试信号线连接。
4.根据权利要求3所述的液晶显示面板，其特征在于，所述GOA驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。
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