CN105096781A - 一种面板检测电路及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种液晶显示面板检测电路，包括液晶显示面板信号线、液晶显示面板测试点和传输门，所述传输门设置在所述液晶显示面板测试点与液晶显示面板信号线之间，所述传输门包括第一控制端和第二控制端，所述第一控制端和所述第二控制端与外部电源相连，用于控制所述传输门的通断，本发明还提供了一种使用上述检测电路的检测方法，通过本发明能够保护液晶显示面板内部架构信息不被泄露，此外，还可以有效防止静电放电和腐蚀延伸至液晶显示面板内部，造成液晶显示面板损毁。

Description

一种面板检测电路及检测方法

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体地说，涉及一种面板检测电路及显示面板。

背景技术

液晶显示面板制造商在液晶显示面板制成后，为了减少后续制程的浪费，一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品。在液晶显示面板的生产领域中，通常要通过点灯检测设备对液晶显示面板进行点灯测试，点灯测试阶段对于液晶显示面板品质的管控相当重要，在此阶段中可以检测出液晶显示面板是否有坏点(例如：亮点或暗点)。

现有技术中液晶显示面板的背光源设置在阵列基板侧，因此在对液晶显示面板进行点灯测试时，用探针部件对液晶显示面板的PAD(走线)区域进行点灯测试，探针部件上设置有与待测液晶显示面板PAD区域匹配的扫描线测试点和数据线测试点，扫描线测试点上设置的扫描线针与待测液晶显示面板PAD区域的扫描线接口对应，数据线测试点上设置的数据线针与待测液晶显示面板PAD区域的数据线接口对应。

在对液晶显示面板进行点灯测试时，待测液晶显示面板的扫描线接口与扫描线测试点的扫描线针连接，待测液晶显示面板的数据线接口与数据线测试点的数据线针连接，点亮背光源，通过扫描线针和数据线针控制待测液晶显示面板，检测待测液晶显示面板是否能够正常工作，是否有光点或亮线。但在采用上述方法进行液晶显示面板测试时，至少存在如下缺点：

在液晶显示面板测试完成后，PAD(走线)区域产生的腐蚀和ESD(静电放电)会通过电路延伸到液晶显示面板内部，造成液晶显示面板的损坏，此外，由于PAD(走线)区域与内部信号连通，这些信号容易被竞争对手侦测到，造成液晶显示面板内部架构信息泄漏。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够保护液晶显示面板内部架构信息并防止PAD(走线)区域产生的腐蚀和ESD传导到液晶显示面板内部的检测电路。

本发明的另一目的在于提供一种采用上述检测电路的检测方法。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

一种液晶显示面板检测电路，包括液晶显示面板信号线、液晶显示面板测试点和传输门，所述传输门设置在所述液晶显示面板测试点与液晶显示面板信号线之间，所述传输门包括第一控制端和第二控制端，所述第一控制端和所述第二控制端与外部电源相连，用于控制所述传输门的通断。

进一步的，所述传输门数量为多个，所述多个传输门的第一控制端连接到一个第一控制点，所述多个传输门的第二控制端连接到一个第二控制点，外部电源电性连接所述第一控制点和所述第二控制点，外部电源控制所述多个传输门通断。

进一步的，测试完成后，所述第一控制点和所述第二控制点电性连接至液晶显示面板内部电路，所述内部电路控制所述传输门的通断。

进一步的，所述第一控制点和所述第二控制点设置于液晶显示面板走线区。

进一步的，所述液晶显示面板测试点位于液晶显示面板走线区。

本发明一种液晶显示面板检测方法，包括提供一液晶显示面板以及测试探针，所述液晶显示面板包括信号线和测试点，所述信号线和所述测试点通过传输门连接，所述测试探针输入一测试信号于所述测试点，并导通所述传输门以传送所述测试信号至所述液晶显示面板以检测所述显示面板。

进一步的，所述传输门包括第一控制端和第二控制端，所述第一控制端和所述第二控制端分别输入高电平和低电平控制所述传输门导通，对液晶显示面板进行检测。

进一步的，检测结束后，所述第一控制端和所述第二控制端电性连接至液晶显示面板内部电路。

进一步的，所述液晶显示面板内部电路为所述第一控制端和所述第二控制端分别输入低电平和高电平控制传输门关断。

本发明实施例具有如下优点或有益效果：

本发明通过在测试点与液晶显示面板信号线之间设置传输门的方法，进行测试时，控制输入电流导通所述传输门导通进行液晶显示面板测试，测试结束后，控制输入电流关闭所述传输门，使得测试信号无法进入所述液晶显示面板，达到了保护液晶显示面板内部架构信息的目的，此外，还可以有效防止静电放电和腐蚀延伸至液晶显示面板内部，造成损毁。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明液晶显示面板检测电路结构示意图；

图2是图1所述的检测电路在液晶显示面板上的示意图；

图3是本发明图检测方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1为本发明的液晶显示面板检测电路的一个优选实施例的结构示意图。液晶显示面板检测电路包括：液晶显示面板信号线1、液晶显示面板测试点2和传输门3，所述传输门3设置在所述液晶显示面板测试点2与液晶显示面板信号线1之间。检测信号从所述测试点2进入后，经所述传输门3后，传输到所述信号线1，从而进入所述液晶显示面板中进行检测。

进一步的，所述传输门3包括第一控制端a和第二控制端b，所述第一控制端a和所述第二控制端b与外部电源(图未示出)相连，通过改变加载在所述第一控制端a和第二控制端b的高、低电平，从而控制所述传输门3的通断。进一步具体的，当所述第一控制端a和所述第二控制端b分别加载高电平和低电平时，所述传输门3处于接通状态，可以进行液晶显示面板的显示检测。

通过在所述测试点2和液晶显示面板信号线1之间设置传输门3的方法，在需要进行液晶显示面板测试时，控制传输门3导通，进行液晶显示面板测试，当测试结束时，传输门3断开，以便中断液晶显示面板信号线1和测试点2的连接，避免由于测试点2被腐蚀向所述液晶显示面板内部延伸或者ESD(静电放电)产生的电流进入液晶显示面板内部，从而影响液晶显示面板的使用寿命和成像品质。

请参阅图2，在本实施例中，所述液晶显示面板信号线1、液晶显示面板测试点2和传输门3的数量均为多个，即每个测试点2对应连接一个传输门3和信号线1，所述多个传输门3之间相互并联，即所述多个传输门3的第一控制端a均连接到一个第一控制点51，所述多个传输门3的第二控制端b均连接到一个的第二控制点52，外部电源(图未示出)电性连接所述第一控制点51和所述第二控制点52，通过外部电源为所述第一控制点51和所述第二控制点52两端分别加载高电平和低电平控制所述多个传输门同时接通，以便对多个测试点2进行测试。

进一步的，所述第一控制点51和所述第二控制点52设置于液晶显示面板50的走线区53。更进一步的，液晶显示面板检测完毕后，将所述第一控制点51和所述第二控制点52电性连接至液晶显示面板50的内部电路(图未示出)，在液晶显示面板正常工作时，液晶显示面板50的内部电路为所述第一控制点51输出低电平，为所述第二控制点52输出高电平，以控制所述多个传输门3处于断开状态，此时即使为所述测试点2输入测试信号，也无法通过传输门3从而进入液晶显示面板50中。

在测试后，将第一控制点51和所述第二控制点52电性连接至液晶显示面板50的内部电路，由内部电路控制传输门3在液晶显示面板工作时处于断开状态，有效的保证了液晶显示面板50内部架构信息不被泄露，提高了液晶显示面板50内部架构信息的安全性。

进一步的，所述液晶显示面板测试点位于液晶显示面板走线区。以便于进行液晶显示面板50的测试。

具体地，如前所述，在现有技术中，常用的液晶显示面板的检测方法是用若干测试线即本实施例所称第一测试线分别将各信号线(数据线或扫描线)短路连接在一起，再通过测试线向液晶显示面板的薄膜晶体管阵列输入测试信号，当测试完成后，用激光将测试线与各信号线的连接切断，以便进行下一步的驱动电路模块组装。

进一步的，本发明所述的液晶显示面板50可为薄膜晶体管液晶显示面板(TFT-LCD，ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay)、有机发光显示面板(OLED，OrganicLightEmittingDisplay)以及高分子发光显示面板(PLED，PolymerLightEmittingDisplay)等。

本发明的液晶显示面板检测电路的结构如上所述，以下介绍液晶显示面板的检测方法。

请参阅图3，测试方法包括下列步骤：首先，如步骤s11所示，提供一液晶显示面板50和测试探针(图未示出)，所述液晶显示面板50包括信号线1和测试点3，所述信号线1和所述测试点2通过传输门3连接；接着，如步骤s12所示，所述测试探针与所述测试点2接触，并输入一测试信号于所述测试点2，再者，如步骤s13所示，导通所述传输门3以传送所述测试信号至所述液晶显示面板50以进行检测。

进一步的，所述传输门2包括第一控制端a和第二控制端b，通过外部电源为所述第一控制端a输入高电平、为所述第二控制端b输入低电平控制传输门3导通，使得测试信号得以进入液晶显示面板进行检测。

进一步优选的，在液晶显示面板50检测完毕之后，将所述第一控制端a和所述第二控制端b电性连接至液晶显示面板50的内部电路(图未示出)，在液晶显示面板正常工作时，液晶显示面板50的内部电路为所述第一控制端a输出低电平，为所述第二控制端b输出高电平，以控制所述多个传输门3处于断开状态，此时即使为所述测试点2输入测试信号，也无法通过传输门3从而进入液晶显示面板50中，有效的保证了液晶显示面板50内部架构信息不被泄露，提高了液晶显示面板50内部架构信息的安全性。

在一个具体的实施例中，上述液晶显示面板检测电路和方法可以用来进行液晶显示面板50“点灯测试”，将测试信号通过测试探针接入测试点2，此时外部电源为第一控制点51和所述第二控制点52分别输入高电平和低电平，以导通传输门3，测试信号依次经测试点1、传输门3、信号线2(即数据线或扫描线)输入至液晶显示面板50显示区54，点亮背光源，通过观察待测液晶显示面板是否能够正常工作，即观察液晶显示面板否有光点或亮线，以尽早发现问题产品，减少后续制程的浪费。

在其他实施例中，上述液晶显示面板检测电路还可以用来进行Data驱动信号的检测，Data驱动信号主要包括Data-R、Data-G、Data-B(将Data信号分成RGB三种，可以实现RGB三种颜色画面)、Data-EVNE、Data-ODD；Gate扫描信号检测：对于非GOA产品，Gate-Even、Gate-ODD，对于GOA产品，信号主要有CKV(时钟控制信号)、STV(触发信号)、Gas(TP扫描控制信号)、VGH(高电平)、VGL(低电平)；信号侦测信号检测：某一级的Gate输出、某一级的Data输出、某一级GOA电路特定输出、Vcom输出等；这些信号的检测的过程与“点灯测试”过程相似，此处不再赘述。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种液晶显示面板检测电路，其特征在于，包括液晶显示面板信号线、液晶显示面板测试点和传输门，所述传输门设置在所述液晶显示面板测试点与液晶显示面板信号线之间，所述传输门包括第一控制端和第二控制端，所述第一控制端和所述第二控制端与外部电源相连，用于控制所述传输门的通断。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板检测电路，其特征在于，所述传输门数量为多个，所述多个传输门的第一控制端连接到一个第一控制点，所述多个传输门的第二控制端连接到一个第二控制点，外部电源电性连接所述第一控制点和所述第二控制点，外部电源控制所述多个传输门通断。

3.如权利要求2所述的液晶显示面板检测电路，其特征在于，测试完成后，所述第一控制点和所述第二控制点电性连接至液晶显示面板内部电路，所述内部电路控制所述传输门的通断。

4.如权利要求2所述的液晶显示面板检测电路，其特征在于，所述液晶显示面板包括走线区，所述第一控制点和所述第二控制点设置于所述液晶显示面板走线区。

5.如权利要求1所述的液晶显示面板检测电路，其特征在于，所述液晶显示面板包括走线区，所述液晶显示面板测试点位于所述液晶显示面板走线区。

6.一种液晶显示面板检测方法，其特征在于，包括提供一液晶显示面板以及测试探针，所述液晶显示面板包括信号线和测试点，所述信号线和所述测试点通过传输门连接，所述测试探针输入一测试信号于所述测试点，并导通所述传输门以传送所述测试信号至所述液晶显示面板以检测所述显示面板。

7.如权利要求6所述的液晶显示面板检测方法，其特征在于，所述传输门包括第一控制端和第二控制端，所述第一控制端和所述第二控制端分别输入高电平和低电平控制所述传输门导通，对液晶显示面板进行检测。

8.如权利要求7所述的液晶显示面板检测方法，其特征在于，检测结束后，所述第一控制端和所述第二控制端电性连接至液晶显示面板内部电路。

9.如权利要求8所述的液晶显示面板检测方法，其特征在于，所述液晶显示面板内部电路为所述第一控制端和所述第二控制端分别输入低电平和高电平控制传输门关断。