CN101359024A - 电子装置显示面板的测试电路 - Google Patents

Abstract

一种电子装置显示面板的测试电路，用以测试像素阵列，测试电路包含：多条测试信号线、多个测试信号传输单元、多条栅极线以及至少一静电防护装置。测试信号传输单元群组各包含多个对应测试信号线的测试信号传输单元，各测试信号传输单元群组分别对应耦接至测试信号线之一，以耦接至测试信号线及像素阵列，其中各测试信号传输单元包含至少一传输门；栅极线耦接至至少一传输门的栅极；以及至少一静电防护装置耦接至栅极线其中二者。

Description

电子装置显示面板的测试电路

技术领域

本发明是有关于一种测试电路，且特别是有关于一种测试显示面板的像素阵列的测试电路。

背景技术

显示面板不论是在计算机、电视、手持通讯装置上都被广泛地使用。其中，除了制造显示面板中的像素电路及驱动电路外，测试电路的设计，亦占了显示器制程中相当重要的一环。如何在不影响像素电路及驱动电路功能的情形下，达到测试显示面板是否可以正常运作，将是测试电路最重要的工作。

以往的测试电路往往将测试信号线直接与像素电路及驱动电路相连，并于测试完成后，再以激光裁切(Laser cut)制程将相连处切开。这样的作法，一方面将使整体制程多增加一道手续而提高成本，另一方面如激光未裁切完全，而使测试电路仍与像素电路或驱动电路相接，将可能造成显示面板工作的不正常。另一种形式的测试电路则在与像素电路及驱动电路相连处各增加单一的晶体管，以作为一个开关。这样的设计虽然可以省去激光裁切制程，但是这些晶体管容易遭受静电效应的冲击，进而损坏内部的像素电路及驱动电路。并且，这些晶体管间彼此因为制程的差异，而造成电路特性的不同，使得测试信号受到影响而在显示面板上产生色度不均(Mura)的现象。

因此，如何设计一个新的测试电路，能够避免静电效应的冲击，并且降低晶体管制程差异所带来的影响，乃为此业界亟待解决的问题。

发明内容

因此本发明的目的就是在于提供一种测试电路，用以测试像素阵列，包含：多条测试信号线、多个测试信号传输单元、多条栅极线以及至少一静电防护装置。测试信号传输单元群组各包含多个对应测试信号线的测试信号传输单元，各测试信号传输单元群组分别对应耦接至测试信号线之一，以耦接至测试信号线及像素阵列，其中各测试信号传输单元包含至少一传输门；栅极线耦接至至少一传输门的栅极；以及至少一静电防护装置耦接至栅极线其中二者。

本发明的另一目的是在于提供一种显示面板，包含：像素阵列以及测试电路。测试电路包含：多条测试信号线、多个测试信号传输单元、多条栅极线以及至少一静电防护装置。测试信号传输单元群组各包含多个对应测试信号线的测试信号传输单元，各测试信号传输单元群组分别对应耦接至测试信号线之一，以耦接至测试信号线及像素阵列，其中各测试信号传输单元包含至少一传输门；栅极线耦接至至少一传输门的栅极；以及至少一静电防护装置耦接至栅极线其中二者。

本发明的优点在于能够利用静电防护装置设置于栅极线而避免静电效应的冲击，并且降低晶体管制程差异所带来的影响，而轻易地达到上述的目的。

在参阅图式及随后描述的实施方式后，本领域技术人员便可了解本发明的目的，以及本发明的技术手段及实施态样。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的详细说明如下：

图1为本发明的第一实施例的显示面板的方块图；

图2为本发明的第一实施例的显示面板的电路图；

图3为本发明的第二实施例的显示面板的电路图；

图4A至图4G为本发明中的静电防护装置于不同实施方式的元件示意图；以及

图5A至图5D为本发明中的测试信号传输单元于不同实施方式的电路图。

[主要元件标号说明]

1：显示面板                  10：像素阵列

100-103：像素单元            11：测试电路

20、21：测试信号线           22、23：两条栅极线

24-27：测试信号传输单元      28：静电防护装置

240-243、250-253：传输门     3：显示面板

30：像素阵列                 300-305：像素单元

31：测试电路                 310、311、312：测试信号线

313-316：栅极线              317、318：静电防护装置

320-325：测试信号传输单元    320a、320b、321a、321b、322a、

50-53：测试信号传输单元      322b：传输门

500：传输门                  501、502：栅极线

503：静电防护装置            504：像素阵列

505：测试信号线              510、511：传输门

512、513：栅极线             514：静电防护装置

515：像素阵列                516：测试信号线

520、521、522：传输门        523、524：栅极线

525：静电防护装置            526：像素阵列

527：测试信号线              530、531、532：传输门

533、534：栅极线             535：静电防护装置

536：像素阵列                537：测试信号线

具体实施方式

请参照图1，为本发明的第一实施例的显示面板1的方块图，显示面板1用于电子装置(未绘示)，其中电子装置包含主机(未绘示)及显示面板1。显示面板1包含：像素阵列10以及测试电路11。请同时参照图2，为本发明的第一实施例的显示面板1更详细的电路图。像素阵列10包含多个像素单元，于图2中仅绘示出像素单元100、101、102、103。测试电路11包含：两条测试信号线20及21、多个测试信号传输单元、两条栅极线22、23以及一静电防护装置28。为方便进行说明，图2仅绘示四个测试信号传输单元24、25、26、27。测试信号线20、21于本实施例中分别为奇栅极测试信号线20及偶栅极测试信号线21，并分别用以接收对应的奇栅极测试信号及偶栅极测试信号。测试信号传输单元24、25、26、27亦对应不同的测试信号而分为两个对应的测试信号传输单元群组。于本实施例中，测试信号传输单元24、26属于第一测试信号传输单元群组，是以虚线框表示之。而测试信号传输单元25、27属于第二测试信号传输单元群组，是以实线框表示之。第一及第二测试信号传输单元群组中的各测试信号传输单元及以上述方式交错排列，其中第一测试信号传输单元群组中的各测试信号传输单元接收奇栅极测试信号，并更进一步耦接至像素阵列10中各奇数列像素单元100、102的栅极。第二测试信号传输单元群组中的各测试信号传输单元则接收偶栅极测试信号，并更进一步耦接至像素阵列10中各偶数列像素单元101、103的栅极。通过奇栅极测试信号线20及偶栅极测试信号线21分别经过第一及第二测试信号传输单元群组传送入像素阵列10的像素单元，测试电路11即可对像素阵列10进行像素单元的栅极的测试。

测试信号传输单元24、25、26、27于本实施例中，各包含四个传输门。以测试信号传输单元24及25为例，测试信号传输单元24包含四个传输门240、241、242、243，测试信号传输单元25包含四个传输门250、251、252、253。栅极线22耦接至传输门240、241、250、251的栅极，而栅极线23则耦接至传输门242、243、252、253的栅极。静电防护装置28形成于栅极线22与栅极线23间。如果静电自外界由栅极线22、23进入，静电将会最后进入静电防护装置28而被消耗掉，而保护测试信号传输单元24、25、26、27及更内部的像素阵列10不受到静电的破坏。

在传输门的制造过程中，常因制程的差异而使得各传输门间的传递参数不同，因此如果仅使用传输门作为测试信号传输单元，容易使各行的测试信号不均而造成影响。因此本实施例中，各测试信号传输单元包含四个传输门的实施方式，可以使整体测试信号传输单元平均化，而使各测试信号传输单元的传递参数近似，而使各行的测试信号较为平均。

图3为本发明的第二实施例的显示面板3的电路图。显示面板3包含：像素阵列30以及测试电路31。像素阵列30包含多个像素单元，于图3中仅绘示出像素单元300-305。测试电路31包含：三条测试信号线310、311、312、多个测试信号传输单元、四条栅极线313、314、315、316以及二静电防护装置317、318。为方便进行说明，图2仅绘示六个测试信号传输单元320-325。测试信号线310、311、312于本实施例中分别为红色像素测试信号线310、绿色像素测试信号线311以及蓝色像素测试信号线312，并分别用以接收对应的红色像素测试信号、绿色像素测试信号及蓝色像素测试信号。

测试信号传输单元320-325亦对应不同的测试信号而分为三个对应的测试信号传输单元群组。于本实施例中，测试信号传输单元320、323属于第一测试信号传输单元群组，测试信号传输单元321、324属于第二测试信号传输单元群组，而测试信号传输单元322、325属于第三测试信号传输单元群组。第一、第二及第三测试信号传输单元群组中的各测试信号传输单元及以上述方式交错排列，其中第一、第二及第三测试信号传输单元群组中的各测试信号传输单元分别接收红色、绿色及蓝色像素测试信号，并更进一步分别耦接至像素阵列30中各列像素单元300及303、301及303、302及305。通过红色、绿色及蓝色像素测试信号线310、311、312分别经过第一、第二及第三测试信号传输单元群组传送入像素阵列30的像素单元，测试电路31即可对像素阵列30进行像素单元的像素显示测试。

测试信号传输单元320-325于本实施例中，各包含两个串联的传输门。以测试信号传输单元320-322为例，分别包含两个传输门320a及320b、321a及321b、322a及322b。栅极线313及314如图3所示，耦接至传输门320a、321a、322a的栅极，而栅极线315及316则耦接至传输门320b、321b、322b的栅极。静电防护装置317及318分别形成于栅极线313、314间与栅极线315、316间。如果静电自外界由栅极线313、314、315或进入，通过耦接于313、314间与栅极线315、316间的静电防护装置317及318，静电将会被消耗掉，而保护测试信号传输单元320-322及更内部的像素阵列30不受到静电的破坏。

上述实施例中的静电防护装置，于其它实施例中，可由不同的电路元件实现。如图4A所示，静电防护装置可为电容，以储存电荷的方式，将进入测试电路内的静电吸收。图4B为另一实施例中，利用尖端放电装置作为静电防护装置，可将电荷以放电的方式排出。图4C是以电感作为静电防护装置，亦如电容般具有储存电荷的功效。图4D是以二反向并联的二极管作为静电防护装置，以使静电不论自何方向进入，都可为二极管所吸收。图4E、图4F及图4G为将电容、电感、电阻做排列组合的实施方式，分别为阻容电路、阻感电路及感容电路，兼具储存及消耗静电电荷的功效。于其它实施例中，还可以静电防护集成电路作为静电防护装置，以达到对静电电荷更有效率的消耗或吸收。

于其它实施例中，测试信号传输单元的数目及串并联的方式，可根据需求而做调整。如图5A所示，测试信号传输单元50可仅包含传输门500，并通过二栅极线501、502，更进一步耦接至静电防护装置503，其中传输门500亦与像素阵列504及测试信号线505相耦接。当测试信号传输单元包含二传输门，除如上述第二实施例中的串联方式，亦可以如图5B所示的传输门510、511，以并联方式相耦接，并通过二栅极线512、513，更进一步耦接至静电防护装置514，其中传输门510、511亦与像素阵列515及测试信号线516相耦接。图5C为一实施例中，包含三个传输门520、521、522的测试信号传输单元52，其中传输门520、521是先并联后，再与传输门522进行串联。传输门520、521、522通过二栅极线523、524，更进一步耦接至静电防护装置525，其中传输门520、521与像素阵列526相耦接，传输门522与测试信号线527相耦接。图5D亦为包含三个传输门530、531、532的测试信号传输单元53的实施例，其中传输门530、531是先串联后，再与传输门532进行并联。传输门530、531、532通过二栅极线533、534，更进一步耦接至静电防护装置535，其中传输门530、532与像素阵列536相耦接，传输门531、532与测试信号线537相耦接。采用多个传输门串联及并联的设计，可以在某个传输门遭到例如静电损伤时，测试信号传输单元仍能工作。而当测试信号传输单元所包含的传输门是有四个以上时，其结构可为上述的并联结构及串联结构排列组合，故在此不再赘述。

本发明的优点在于能够利用静电防护装置设置于栅极线而避免静电效应的冲击，并且降低晶体管制程差异所带来的影响。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。

Claims (14)

1.一种测试电路，用以测试像素阵列，包含：

多条测试信号线；

多个测试信号传输单元群组，该测试信号传输群组包含多个对应该等测试信号线的测试信号传输单元，各该等测试信号传输单元群组分别对应耦接至该等测试信号线之一，以耦接至该等测试信号线及该像素阵列，其中各该等测试信号传输单元包含至少一传输门；

多条栅极线，各该等栅极线耦接至该至少一传输门的栅极；以及

至少一静电防护装置，耦接至该等栅极线其中二者。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其中各该等栅极线是与一个测试信号传输单元群组中各该测试信号传输单元中至少一该传输门的栅极耦接。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其中各该等测试信号传输单元包含至少二传输门，各该等栅极线是与该测试信号传输单元群组中各该测试信号传输单元中该至少二传输门的栅极耦接，与同一栅极线相耦接的各该等测试信号传输单元中的该二传输门之间相互并联。

4.根据权利要求1所述的测试电路，其中各该等测试信号传输单元包含至少二传输门，该至少二传输门为至少一并联结构或至少一串联结构。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其中各该等测试信号传输单元包含至少三传输门，该至少三传输门为至少一并联结构及至少一串联结构的组合。

6.根据权利要求1所述的测试电路，其中该等测试信号线为红色像素测试信号线、绿色像素测试信号线及蓝色像素测试信号线，该等测试信号传输单元被分为三个测试信号传输单元群组，分别耦接至该红色像素测试信号线、该绿色像素测试信号线及该蓝色像素测试信号线。

7.根据权利要求1所述的测试电路，其中该像素阵列包含多条数据线，各该等测试信号传输单元对应耦接至该等数据线之一。

8.根据权利要求1所述的测试电路，其中该等测试信号线为奇栅极测试信号线以及偶栅极测试信号线，该等测试信号传输单元被分为两个测试信号传输单元群组，分别耦接至该奇栅极测试信号线以及该偶栅极测试信号线。

9.根据权利要求1所述的测试电路，其中该像素阵列包含多条栅极线，各该等测试信号传输单元对应耦接至该等栅极线之一。

10.根据权利要求1所述的测试电路，其中该静电防护装置为电容或电感或尖端放电装置。

11.根据权利要求1所述的测试电路，其中该静电防护装置为二个反向并联的二极管。

12.根据权利要求1所述的测试电路，其中该静电防护装置为阻容电路、阻感电路或感容电路。

13.根据权利要求1所述的测试电路，其中该静电防护装置为静电防护集成电路。

14.一种显示面板，包含：

像素阵列；以及

测试电路，包含：

多条测试信号线；

多个测试信号传输单元群组，该测试信号传输群组包含多个对应该等测试信号线的测试信号传输单元，各该等测试信号传输单元群组分别对应耦接至该等测试信号线之一，以耦接至该等测试信号线及该像素阵列，其中各该等测试信号传输单元包含至少一传输门；

多条栅极线，各该等栅极线耦接至该至少一传输门的栅极；以及

至少一静电防护装置，耦接至该等栅极线其中二者。

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