CN104992651B - 一种amoled面板测试电路 - Google Patents

一种amoled面板测试电路 Download PDF

Info

Publication number
CN104992651B
CN104992651B CN201510443539.9A CN201510443539A CN104992651B CN 104992651 B CN104992651 B CN 104992651B CN 201510443539 A CN201510443539 A CN 201510443539A CN 104992651 B CN104992651 B CN 104992651B
Authority
CN
China
Prior art keywords
data line
transistor
output module
line output
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201510443539.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104992651A (zh
Inventor
周兴雨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EverDisplay Optronics Shanghai Co Ltd
Original Assignee
EverDisplay Optronics Shanghai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EverDisplay Optronics Shanghai Co Ltd filed Critical EverDisplay Optronics Shanghai Co Ltd
Priority to CN201510443539.9A priority Critical patent/CN104992651B/zh
Publication of CN104992651A publication Critical patent/CN104992651A/zh
Priority to US15/214,636 priority patent/US10043429B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN104992651B publication Critical patent/CN104992651B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix

Abstract

本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路，通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。

Description

一种AMOLED面板测试电路
技术领域
本发明涉及电子电路设计技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板测试电路。
背景技术
AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体，简称AMOLED)是目前普遍采用的显示发光设备，随着技术的发展，AMOLED技术逐步走向成熟，同时衍生出很多不同的版本，比如AMOLED、Super AMOLED、Super AMOLED Plus以及Super AMOLED Advanced等等。
随着AMOLED技术的成熟，AMOLED的成本逐步增加，测试，生产过程中的高效率测试变得尤为重要，及时测试问题及时解决，不仅提高产品的良率，同时节省了时间，提高了效率。
而目前的AMOLED中，面板显示测试电路和阵列基板测试电路是分开的：阵列基板测试电路是测量在镀OLED前基板的性能，面板显示测试电路是测量切割成小显示测试电路后的性能。阵列基板测试电路是测量每一根数据线(data)的情况，而面板显示测试电路是测量相同信号(如单色的红或者绿)，采用shorting bar(图形产生器)的方式。而随着PPI(Pixels Per Inch，像所述)越来越高，而且采用rendering的方式，一根数据线上有不同的颜色(如红色和绿色)，那么数据线(data line)的信号就是AC(Alternating Current，连续交流信号)信号，这样面板显示测试电路的负载就不能太大，否则面板显示测试电路就驱动不了，而目前面板显示测试电路要绕到显示面板的尾端，所以走线阻抗很大，面对该问题，如何高效准确测试AMOLED显示面板成为本领域人员面临的一大难题。
发明内容
针对上述存在的问题，本发明提供了一种AMOLED面板测试电路，通过控制单元与数据线测试单元连接完成数据线测试单元的测试，并通过数据线测试单元与显示面板测试单元连接实现显示面板测试单元的测试，该技术方案具体为：
一种AMOLED面板测试电路，其中，所述AMOLED测试电路包括：
数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端耦合在一起，并且所述数据线输出模块中每个所述数据线的未与数据线输出模块中的其他数据线耦合在一起的一段用于提供输出数据；
第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；
第二测试单元，包括若干条输入信号线，每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出单元中的相邻两个数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接，且，
该晶体管位于第二测试单元中。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，在第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段，第二测试单元的输入信号线的输出无效。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，每个数据线输出模块中仅开启一个晶体管以使每个所述数据线输出模块中只提供一个输出数据。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，每个数据线输出模块中的与数据线连接的晶体管均开启，以使每个所述数据线输出模块中的数据线均输出数据时。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，子控制单元关闭，打开所述晶体管以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，打开所述数据线输出模块中的与一所述数据线对连接的一晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一数据线对提供输出数据。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述第二测试单元中晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中的所述数据线均提供输出数据。
一种AMOLED面板测试电路，其中，所述AMOLED测试电路包括：
数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端均耦合在一起，未与其他数据线耦合在一起的一端用以提供输出数据；
第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路与所述数据线输出模块中的一数据线对唯一对应，每条所述支路与之对应的数据线对的所述耦合在一起的一端连接；
第二测试单元，包括若干输入信号线，每条数据线与数据线输出模块中的一数据线对唯一对应，每条所述数据线均通过一晶体管连接到与其唯一对应的数据线对的相互耦合在一起的一端。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出单元一数据线输出模块的一数据线对相互耦合在一起的一端与所述数据线输出模块相邻的数据线输出模块中的一数据线对相互耦合在一起的一端通过一晶体管与一电平线连接，其中，所述电平线控制所述晶体管的打开与关闭的状态。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，第二测试单元的输出无效，以使所述第一测试单元测试所述数据线输出单元。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出模块中打开一个晶体管，以使每个所述数据线输出模块提供一个输出数据。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述数据线输出模块中的与所述数据线连接的晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中数据线均输出数据。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，所述子控制单元关闭，所述输入信号线均输入信号，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元的工作阶段。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，通过控制与所述数据线对连接的电平线打开与所述电平线连接的晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一数据线对提供输出数据。
上述的AMOLED面板测试电路，其中，控制所述第二测试单元中的电平线使所述晶体管均打开，以使所述数据线输出单元中的每个数据线输出模块中的数据线均提供输出数据。
本发明具有的优点及带来的有益效果：
本发明通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明及其特征、外形和优点将会变得更加明显。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未可以按照比例绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。
图1是本发明AMOLED面板测试电路结构图；
图2是本发明AMOLED面板测试电路的另一种结构图。
具体实施方式
下面根据具体的实施例及附图对本发明作进一步的说明，但是不作为本发明的限定。
参见图1所示结构，本发明公开一种AMOLED面板测试电路，其中，AMOLED面板测试电路包括第一测试单元1、数据线输出单元3和第二测试单元2，其中：
数据线输出单元3具有一个或多个数据线输出模块(例如但不仅限于，图1中列举出的数据线输出模块31和数据线输出模块32)，每个数据线输出模块均包括一组或多组数据线对，每对数据线的一端耦合在一起，并且数据线输出模块中每个数据线中未与数据线输出模块中其他数据线相连的另一端用于提供输出数据。
第一测试单元1包括一个或多个子控制单元，每个子控制单元都包括一条或者多条支路，每个支路与一数据线对对应，所述支路连接到与该支路对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。第二测试单元2包括一个或多输入信号线，所述输入信号线与所述数据线输出模块中的数据线对对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。。
作为本发明一个优选实施例，AMOLED面板测试电路的第一测试单元1包括四个子控制单元，每个子控制单元均包括一个晶体管以控制该子控制单元是否打开，每个子控制单元均包括若干个支路，每个支路均包括一个晶体管，通过子控制单元控制可以使数据线输出单元中的所有数据线均输出数据或者通过子控制单元控制使数据线输出单元中的某一根或者某几根数据线输出数据，而在此控制过程中，第二测试单元中的晶体管均关闭；当测试第二测试单元时，控制单元的子控制模块的晶体管和支路中的晶体管均关闭，通过第二测试单元中的晶体管控制可以使数据线输出单元中的数据线均输出或者部分输出数据。
如下列举具体实施例进行说明：
在本发明一个优选实施例中，控制单元的输入信号端PAD1与四个子控制模块的晶体管as21，as22，as23，as24连接，且每个晶体管通过控制三个晶体管来控制与其唯一对应连接是数据线输出模块，即晶体管as21通过控制晶体管M1，晶体管M2，晶体管M3来控制数据线输出模块31；晶体管as22通过控制晶体管M4，晶体管M5，晶体管M6来控制数据线输出模块32等，本发明以第一数据线输出模块31和第二数据线输出模块32进行阐述，后续多个数据线输出模块与第一数据线输出模块31和第二数据线输出模块32原理相同，在此不予赘述。
在本发明一个优选实施例中，数据线输出单元中包含4个数据线输出模块，每个数据线输出模块包含6个数据线，即3个数据线对，每个数据线对与一个支路唯一对应连接，如数据线D1数据线D4组成的数据线对与晶体管M1连接的支路唯一对应连接，晶体管M2所在的支路与数据线D2和数据线D5组成的数据线对连接等。
在本发明的优选实施例中，显示面板测试单元包含的显示输入信号线101,102和103分别输入信号DR，DG和DB，第一数据线输出模块31中的第一个数据线D1和第四个数据线D4与第二数据线输出模块32中的第一个数据线D7和第四个数据线D10之间连接有一晶体管SW2，且该连接在一起的数据线输出模块31和数据线输出模块32中的第一个数据线与第四个数据线连接在输入信号线101上，输入DR信号；同理，连接在一起的数据线D2和数据线D5与第二数据线输出模块的数据线D8和数据线D11之间连接一晶体管SW3，该连接在一起的第二个数据线与第五个数据线连接在输入信号线103上，输入DG信号；而数据线D3和数据线D6与数据线D9和数据线D12之间连接有一晶体管SW1，该连接在一起的第三个数据线与第六个数据线连接在输入信号线103上，输入DB信号。
首先通过信号输入端PAD1输入信号，通过ps1关闭晶体管SW1，通过ps2关闭晶体管SW2和通过ps3关闭晶体管SW3，此时每个数据线上均能获取到输入信号端PAD1的信号并将其输出。
然后控制使每根数据线单独输出获取到的输入信号端PAD1的信号，在此列举几个具体例子进行阐述：
首先，限制数据线D1单独输出信号，由于当前是针对第一测试单元的测试，此时，继续关闭晶体管SW1，晶体管SW2和晶体管SW3，打开晶体管as21，关闭晶体管as22，晶体管as23，晶体管as24，则晶体管as22控制的支路的晶体管M4，晶体管M5，晶体管M6控制的支路关闭；晶体管as23控制的晶体管M7，晶体管M8，晶体管M9控制的支路关闭；晶体管as24控制的晶体管M10，晶体管M11，晶体管M12控制的支路关闭，此时只有第一数据线输出模块中的数据线输出数据，由于只需要得到第一个数据线D1的输出信号，则仅打开第一数据线输出模块中的第一个数据线上连接的晶体管as11，此时，既完成使第一数据线D1单独输出信号；同样，若使第二数据线输出模块中的数据线D8单独输出信号，则打开晶体管as22和晶体管as12，关闭第一测试单元中的其他晶体管，即完成限定，使第二数据线测试模块中第二个数据线D8单独输出信号。
以此类推，即可完成使对数据线输出模块中每个数据线单独输出信号，即可完成对第一测试单元的测试。
继续对第二测试单元进行测试，打开第一测试单元3中的所有晶体管，并关闭第一测试单元的晶体管as21(或者关闭晶体管as21控制的晶体管M1，M2，M3)，晶体管as22(或者关闭晶体管as22控制的晶体管M4，M5，M6)，晶体管as23(或者关闭晶体管as23控制的晶体管M7，M8，M9)，晶体管as24(或者关闭晶体管as24控制的晶体管M10，M11，M12)，打开第二测试单元的晶体管SW1，晶体管SW2和晶体管SW3，此时，输入信号线101与每个数据线测试单元子模块的第一个数据线和第四个数据线连接，如图中101与第一数据线输出模块的第一个数据线D1连接于点NA1，与第一数据线输出模块的第四个数据线D4连接于点NA2，与第二数据线输出模块的第一个数据线D7连接于点NB1，与第二数据线输出模块的第四个数据线D10连接于点NB2，对第二测试单元中的输入信号线101输入信号DR后，则每个数据线输出模块的第一个数据线和第四个数据线可对输入信号线DR进行输出显示。
同理，输入信号线102与第一数据线输出模块的第二个数据线D1连接于点NA3，与第一数据线输出模块的第五个数据线D4连接于点NA4，与第二数据线输出模块的第二个数据线D7连接于点NB3，与第二数据线输出模块的第五个数据线D10连接于点NB4，对第二测试单元中的102输入DG信号后，则每个数据线输出模块的第二个数据线和第五个数据线可对输入信号线102上输入的DG信号进行输出显示。
同理，输入信号线103与第一数据线输出模块的第三个数据线D1连接于点NA5，与第一数据线输出模块的第六根个数据线D4连接于点NA6，与第二数据线输出模块的第三个数据线D7连接于点NB5，与第二数据线输出模块的第六个数据线D10连接于点NB6，对第二测试单元中的103输入DB信号后，则每个数据线输出模块的第三个数据线和第六个数据线可对输入的信号DB进行输出显示。
即，分别在在输入信号线101，输入信号线102和输入信号线103上输入信号DR、DG、DB后，这样具有相同信号的数据线连接在一起(如，D1，D4，D7，D10…连接在一起，D2，D5，D8，D11…连接在一起，D3，D6，D9，D12…连接在一起)，此时，可以达到显示红绿蓝画面，完成对显示面板测试单元的测试。
参照图2所示结构，本发明公开一种与上述实施例能达到相同目的的另一中电路结构，具体的，该电路结构包括第一测试单元1、数据线输出单元3和第二测试单元2，其中：
数据线输出单元3，具有一个或多个数据线输出模块，每个数据线输出模块均包括一组或多组数据线对，每对数据线的一端耦合在一起，并且数据线输出模块中每个数据线的未与数据线输出模块中其他数据线相连的另一端用于提供输出数据。
第一测试单元1包括一个或多个子控制单元，每个子控制单元均包括一条或者多条支路，每个支路与数据线输出模块中的数据线对对应，每个支路均连接到与该支路对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。第二测试单元2包括一个或多输入信号线，每条输入信号线与数据线输出模块中的若干数据线对对应，输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上。
基于本电路结构与上述电路结构优选的实施例中第一测试与数据线输出单元连接完全相同，只是在第二测试单元上做了变化，与前一种电路结构相同的控制单元和数据线输出模块的连接方式在此不予赘述。
如下列举具体实施例进行阐述：
参见图2中所示，第一数据线输出模块31的第一个数据线D1和第四个数据线D4通过一晶体管SW1与输入信号线101连接，第一数据线输出模块的第二个数据线D2和第五个数据线D5通过一晶体管SW2与输入信号线102连接，第一数据线输出模块的第三个数据线D3和第六个数据线D6通过一晶体管SW3与输入信号线103连接；同理，第二数据线输出模块的第一个数据线D7和第四个数据线D10通过一晶体管SW4与输入信号线101连接，第二数据线输出模块的第二个数据线D8和第五个数据线D11通过一晶体管SW5与输入信号线102连接，第二数据线输出模块的第三个数据线D9和第六个数据线D12通过一晶体管SW6与输入信号线103连接，其中，输入信号线101、102、103分别输入信号DR、DG、DB。
首先，信号输入端PAD1给数据线输出单元中24个数据线输入信号，此时，打开第一测试单元的晶体管as21，晶体管as22，晶体管as23和晶体管as24，则该4个晶体管中每个晶体管控制的支路的晶体管也就打开，即晶体管M1，M2，…M11，M12均打开，通过电平线ps1、ps2和ps3关闭位于第二测试单元的晶体管SW1，SW2…SW4，SW5…，数据线输出单元中的所有与数据线连接的晶体管as11，as12…均打开，此时输入信号端PAD1给每个数据线输入信号，则数据线输出单元中的每个数据线均输出信号。
继续信号输入端PAD1给每个数据线输入信号，在此列举一二进行阐释。
首先，信号输入端PAD1给第一数据线输出模块的第二个数据线D2输入单独输入信号，此时，继续关闭位于第二测试单元的晶体管SW1，SW2…SW4，SW5…，打开晶体管as21，关闭晶体管as22，晶体管as23和晶体管as24，晶体管M1，M2，M3均打开，而晶体管M4，M5…M11，M12控制的支路均关闭，此时，只有第一数据线输出模块中的数据线中有输入信号，当关闭第一数据线输出模块31中的晶体管as11，晶体管as13，晶体管as14，晶体管as15和晶体管as16，则只有第一数据线输出模块的第二个数据线D2中有输出信号，同理，若想仅给第二数据线输出模块中的第三个数据线D9输入信号，则打开晶体管as22，关闭晶体管as21，晶体管as23，晶体管as24，则晶体管M4，M5，M6均打开，而晶体管M1，M2，M3，M6，M7…M11，M12控制的支路均关闭，此时，只有第二数据线输出模块中的数据线中有输出信号，当关闭第二数据线输出模块中的晶体管as11，晶体管as12，晶体管as14，晶体管as15和晶体管as16，则只有第二数据线输出模块的第三个数据线D9中有输出信号。
继续对第二测试单元进行测试，对输入信号线101输入信号DR，对输入信号线102输入信号DG，对输入信号线103输入信号DB，若只希望对每个数据线输出模块中的第一个数据线和第四个数据线输出显示信号，则只需要通过电平控制线ps1打开晶体管SW1等与第一个数据线和第四个数据线连接的晶体管SW4，同时通过电平线ps2和ps3控制关闭SW2和SW3等与第二个数据线和第五个数据线连接的晶体管SW5和SW6，此时，只有第一个数据线和第四个数据线输出信号。同理，若只希望对每个数据线输出模块中的第二个数据线和第五个数据线输出显示信号，则只需要通过电平线ps2控制控制打开晶体管SW2等与第二个数据线和第四个数据线连接的输入信号控制晶体管SW5，通过电平线ps1控制关闭SW1等与第一个数据线和第四个数据线连接的晶体管SW4，同时通过电平线ps3控制关闭SW3等与第三个数据线和第六个数据线连接的晶体管SW6；若只希望对每个数据线输出模块中的第三个数据线和第六个数据线输出显示信号，则只需要通过ps3控制打开SW3等与第三个数据线和第六个数据线连接的输入信号控制晶体管SW6，通过电平控制线控制关闭第二测试单元中的其他晶体管；若想同时给数据线输出单元中所有数据线输入显示信号使其输出，只需在个输入信号线101上输入DR信号、输入信号线102上输入DG信号和在输入信号线103上输入DB信号的同时，通过电平控制线ps1控制打开SW1等与第一个数据线和第四个数据线连接的晶体管SW4，通过电平控制线ps2控制打开SW2等与第二个数据线和第五个数据线连接的晶体管SW5，通过电平控制线ps3控制打开SW3等与第三个数据线和第六个数据线连接的晶体管SW6，可以达到显示红绿蓝的画面。
综上所述，本发明通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起，并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试，从而避免了由于当前技术中测试电路不集成，其中一个测试电路要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题，进而增加了检出率，节省了成本。
本领域技术人员应该理解，本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例，在此不予赘述。这样的变化例并不影响本发明的实质内容，在此不予赘述。
以上对本发明的较佳实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本发明的实质内容。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (14)

1.一种AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述AMOLED测试电路包括：
数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端相互耦合，每对所述数据线中未与其他所述数据线耦合在一起的一端用于提供输出数据；
第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应，所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；以及
第二测试单元，包括若干条输入信号线，每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应，所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端；
所述数据线输出单元中的相邻两个所述数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接，且所述晶体管位于第二测试单元中；
在所述第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段，所述第二测试单元的输入信号线的输出无效。
2.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，每个所述数据线输出模块中仅开启一个所述晶体管以使每个所述数据线输出模块中只提供一个输出数据。
3.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，每个所述数据线输出模块中与所述数据线连接的所述晶体管均开启，以使每个所述数据线输出模块中的数据线均输出数据时。
4.如权利要求1所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
5.如权利要求4所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述子控制单元关闭，打开所述晶体管以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
6.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，打开所述数据线输出模块中与一所述数据线对连接的晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一所述数据线对提供输出数据。
7.如权利要求5所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述第二测试单元中晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中的所述数据线均提供输出数据。
8.一种AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述AMOLED测试电路包括：
数据线输出单元，包括若干数据线输出模块，每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对，每对所述数据线的一端相互耦合在一起，未与其他所述数据线耦合在一起的一端用以提供输出数据；
第一测试单元，包括若干子控制单元，每个所述子控制单元均包括若干条支路，每条所述支路与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应，每条所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上；以及
第二测试单元，包括若干输入信号线，每条输入信号线与数据线输出模块中的一组数据线对唯一对应，每条所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的数据线对的相互耦合在一起的一端上；
所述数据线输出单元一数据线输出模块的一数据线对相互耦合在一起的一端与所述数据线输出模块相邻的数据线输出模块中的一数据线对相互耦合在一起的一端通过一晶体管与一电平线连接，其中，所述电平线控制所述晶体管的打开与关闭的状态；
第二测试单元的输出无效，以使所述第一测试单元测试所述数据线输出单元。
9.如权利要求8所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述数据线输出模块中打开一个晶体管，以使每个所述数据线输出模块提供一个输出数据。
10.如权利要求8所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述数据线输出模块中的与所述数据线连接的晶体管均打开，以使所述数据线输出模块中数据线均输出数据。
11.如权利要求8所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述子控制单元关闭，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元。
12.如权利要求11所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，所述子控制单元关闭，所述输入信号线均输入信号，以使所述第二测试单元测试所述数据线输出单元的工作阶段。
13.如权利要求12所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，通过控制与所述数据线对连接的电平线打开与所述电平线连接的晶体管，以使每个所述数据线输出模块中只有一数据线对提供输出数据。
14.如权利要求12所述的AMOLED面板测试电路，其特征在于，控制所述第二测试单元中的电平线使所述晶体管均打开，以使所述数据线输出单元中的每个数据线输出模块中的数据线均提供输出数据。
CN201510443539.9A 2015-07-24 2015-07-24 一种amoled面板测试电路 Active CN104992651B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510443539.9A CN104992651B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 一种amoled面板测试电路
US15/214,636 US10043429B2 (en) 2015-07-24 2016-07-20 AMOLED panel test circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510443539.9A CN104992651B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 一种amoled面板测试电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104992651A CN104992651A (zh) 2015-10-21
CN104992651B true CN104992651B (zh) 2018-09-07

Family

ID=54304456

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510443539.9A Active CN104992651B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 一种amoled面板测试电路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10043429B2 (zh)
CN (1) CN104992651B (zh)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105096786B (zh) * 2015-08-19 2017-08-29 京东方科技集团股份有限公司 阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置
CN105304517B (zh) * 2015-10-23 2019-05-07 信利（惠州）智能显示有限公司 一种有机发光二极管显示基板、检测电路及其隔离电路
CN106782256B (zh) * 2015-11-18 2020-11-03 上海和辉光电有限公司 一种带有面板测试电路的显示装置
TWI576812B (zh) * 2016-04-15 2017-04-01 友達光電股份有限公司 畫素驅動電路
CN106057111B (zh) * 2016-08-09 2019-09-13 武汉华星光电技术有限公司 测试电路及液晶面板
CN107316596B (zh) * 2017-07-24 2019-10-25 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板测试电路
CN109377924A (zh) 2018-11-08 2019-02-22 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种检测电路及显示装置
CN109243350B (zh) * 2018-11-09 2021-10-22 惠科股份有限公司 量测讯号电路及其量测方法
CN109493768B (zh) 2018-11-09 2020-11-06 惠科股份有限公司 量测讯号电路及其量测方法
CN109727563B (zh) * 2019-01-30 2021-06-25 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 下窄边框显示面板
US11043165B2 (en) * 2019-04-29 2021-06-22 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Active-matrix organic light emitting diode (AMOLED) panel cell testing circuit and method for repairing data lines via same
TWI754348B (zh) * 2019-12-06 2022-02-01 群創光電股份有限公司 電子裝置的製造方法以及電子裝置
CN111128063B (zh) 2020-01-20 2021-03-23 云谷（固安）科技有限公司 显示面板的测试电路、方法及显示面板
WO2021195974A1 (zh) * 2020-03-31 2021-10-07 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其测试方法
CN111445834B (zh) * 2020-05-12 2023-04-18 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示面板和显示面板的测试方法
KR20220094300A (ko) * 2020-12-28 2022-07-06 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이를 구비한 표시 장치
CN115050295B (zh) * 2022-06-30 2023-05-26 惠科股份有限公司 测试电路、测试方法及显示装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100456114C (zh) * 2006-01-16 2009-01-28 友达光电股份有限公司 显示装置及其像素测试方法
JP2009211039A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Samsung Mobile Display Co Ltd 有機電界発光表示装置
CN101303462A (zh) * 2008-07-04 2008-11-12 友达光电股份有限公司 液晶显示面板的检测电路与方法
CN101359024B (zh) 2008-09-23 2012-05-30 友达光电（苏州）有限公司 电子装置显示面板的测试电路和显示面板
US9583033B2 (en) * 2011-11-25 2017-02-28 Lg Display Co., Ltd. Display panel for display device and method for detecting defects of signal lines for display devices
CN103186000A (zh) * 2011-12-31 2013-07-03 上海中航光电子有限公司 一种液晶显示装置及其测试方法
CN202736443U (zh) 2012-05-30 2013-02-13 北京京东方光电科技有限公司 一种显示器、阵列基板及阵列基板的测试电路
KR102054849B1 (ko) * 2013-06-03 2019-12-12 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
CN103345914B (zh) 2013-07-19 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于显示面板的检测电路
CN103698915B (zh) * 2013-12-20 2017-04-05 合肥京东方光电科技有限公司 一种阵列基板
CN109036238A (zh) * 2015-04-01 2018-12-18 上海天马微电子有限公司 阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10043429B2 (en) 2018-08-07
US20170046992A1 (en) 2017-02-16
CN104992651A (zh) 2015-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104992651B (zh) 一种amoled面板测试电路
TWI416132B (zh) 於測試板間分配資料以決定測試參數
CN103839503B (zh) 显示面板及用于测试显示面板的方法
CN105741722B (zh) 显示面板及其数据线检测方法
CN106652870A (zh) 一种显示装置、显示面板及其驱动方法
CN107329298A (zh) 点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置
CN106782256A (zh) 一种带有面板测试电路的显示装置
CN112017543B (zh) 显示面板及其短路测试方法和显示装置
KR102634686B1 (ko) 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널
CN103500553B (zh) Led显示屏系统
CN104464587B (zh) 一种阵列基板及其检测电路
CN106898177B (zh) 一种单片机实验硬件在线模拟及自动评价方法
CN103500552A (zh) Led显示屏控制卡
CN104867468A (zh) 显示面板及显示装置
CN103943069A (zh) Led灯板、led显示屏控制卡以及led显示屏系统
CN102288903B (zh) 一种fpga内连线资源的测试结构及方法
CN103983856B (zh) 一种低压差分信号接口匹配电阻自动检测设备及方法
CN103943082B (zh) 一种显示装置及其驱动方法
US11837125B2 (en) Display panel, method for detecting display panel and electronic device
CN109411380A (zh) 一种存储介质及晶圆级集成电路电学参数的测试方法
CN104299559B (zh) 一种三栅型显示面板
CN206864162U (zh) 接插件、接插组件、显示屏控制卡和显示屏系统
CN105068482A (zh) 实现cpld在线编程和离线编程的控制方法和控制电路
CN107025194A (zh) 电子装置供电系统
CN211602285U (zh) 一种压力传感器批量校准电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 201506, building two, building 100, 1, Jinshan Industrial Road, 208, Shanghai, Jinshan District

Patentee after: Shanghai Hehui optoelectronic Co., Ltd

Address before: 201506, building two, building 100, 1, Jinshan Industrial Road, 208, Shanghai, Jinshan District

Patentee before: EverDisplay Optronics (Shanghai) Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder