CN112017543B - 显示面板及其短路测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板及其短路测试方法和显示装置。显示面板包括：多个像素单元和多条数据线，像素单元连接对应的数据线，多条数据线包括交替排列的第一数据线和第二数据线；第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线和第四控制信号线；第二数据线通过第三开关连接第三测试信号线，第4k+1和4k+2条第二数据线所连接的第三开关的控制端连接第三控制信号线，第4k+3和4k+4条第二数据线所连接的第三开关的控制端连接第四控制线，第三开关用于响应第三控制信号线或者第四控制信号线的控制信号，导通或断开第三测试信号线和第二数据线。本发明的技术方案，实现了检测数据线的短路情况。

Description

显示面板及其短路测试方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其短路测试方法和显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展，显示装置的应用在人们的日常生活中占据的比例越来越大，人们对于显示装置的分辨率要求也越来越高。显示分辨率的提高，使得显示面板中的信号线的密度也随之增加，有可能带来信号线短路的问题，影响产品良率。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其短路测试方法和显示装置，以实现检测数据线是否存在短路情况，提升显示装置的良率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个像素单元和多条数据线，所述像素单元连接对应的所述数据线，多条数据线包括交替排列的第一数据线和第二数据线；

第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线和第四控制信号线；每条所述第一数据线通过一第一开关连接所述第一测试信号线，并通过一第二开关连接所述第二测试信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，用于响应所述第一控制信号线的控制信号导通或断开所述第一测试信号线和所述第一数据线；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，用于响应所述第二控制信号线的控制信号导通或断开所述第二测试信号线和所述数据线；

所述第二数据线通过第三开关连接所述第三测试信号线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第四控制线，k≥0且k为整数，所述第三开关用于响应所述第三控制信号线或者所述第四控制信号线的控制信号，导通或断开所述第三测试信号线和所述第二数据线。

可选地，多个所述像素单元包括第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元连接所述第一数据线，所述第二像素单元连接所述第二数据线；

所述第一像素单元包括第一子像素和第二子像素，所述第一子像素和所述第二子像素沿列方向交替排列；所述第二像素单元包括第三子像素；所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素的发光颜色不同。

可选地，相邻所述数据线设置于所述显示面板的不同膜层。

可选地，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述第一测试信号线、所述第二测试信号线、所述第三测试信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线、所述第三控制信号线、所述第四控制信号线、所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关均位于所述非显示区。

可选地，第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接所述第一测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接所述第一数据线；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接所述第二控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述第二测试信号线，所述第二晶体管的第二极连接所述第一数据线；

所述第三开关包括第三晶体管，所述第三晶体管的第一极连接所述第三测试信号线，所述第三晶体管的第二极连接所述第二数据线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三晶体管的栅极连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三晶体管的栅极连接所述第四控制线。

可选地，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述非显示区设置有焊盘，第k+1条所述第一数据线和第k+1条所述第二数据线对应于第k+1个所述焊盘；

所述显示面板还包括：

第一数据连接线、第二数据连接线、第一选择信号线和第二选择信号线；所述第一数据连接线的一端连接所述第一数据线，另一端通过一第四开关连接所述第一数据线对应的所述焊盘，所述第四开关的控制端连接所述第一选择信号线，用于响应于所述第一选择信号线的选择信号导通或断开所述第一数据连接线和所述焊盘；所述第二数据连接线的一端连接所述第二数据线，另一端通过一第五开关连接所述第二数据线对应的所述焊盘，所述第五开关的控制端连接所述第二选择信号线，用于响应于所述第二选择信号线的选择信号导通或断开所述第二数据连接线和所述焊盘。

可选地，所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第一选择信号线，所述第四晶体管的第一极连接所述焊盘，所述第四晶体管的第二极连接所述第一数据连接线；

所述第五开关包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极连接所述第二选择信号线，所述第五晶体管的第一极连接所述焊盘，所述第五晶体管的第二极连接所述第二数据连接线。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的短路测试方法，所述显示面板包括：多个像素单元和多条数据线，所述像素单元连接对应的所述数据线，多条数据线包括交替排列的第一数据线和第二数据线；第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线和第四控制信号线；每条所述第一数据线通过一第一开关连接所述第一测试信号线，并通过一第二开关连接所述第二测试信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，用于响应所述第一控制信号线的控制信号导通或断开所述第一测试信号线和所述第一数据线；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，用于响应所述第二控制信号线的控制信号导通或断开所述第二测试信号线和所述数据线；所述第二数据线通过第三开关连接所述第三测试信号线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第四控制线，k≥0且k为整数，所述第三开关用于响应所述第三控制信号线或者所述第四控制信号线的控制信号，导通或断开所述第三测试信号线和所述第二数据线；

所述显示面板的短路测试方法包括：

分时向所述第三控制信号线和所述第四控制信号线施加控制信号，以控制所述第三控制信号线和所述第四控制信号线所连接的所述第三开关交替导通；

根据所述第三开关连接的所述像素单元的发光情况，确定所述数据线的短路情况。

可选地，若第4k+1条所述第二数据线所连接的所述像素单元和第4k+3条所述第二数据线所连接的所述像素单元同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个所述像素单元所连接的数据线发生短路；

若第4k+2条所述第二数据线所连接的所述像素单元和第4k+4条所述第二数据线所连接的所述像素单元同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个所述像素单元所连接的数据线发生短路。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如第一方面所述的显示面板。

本发明实施例的技术方案，在对显示面板中第二数据线所连接的像素单元进行测试时，通过分时向第三控制信号线和第四控制信号线施加控制信号，使第三控制信号线和第四控制信号线所连接的第三开关交替导通，以使显示面板中每四个与第二数据线所连接的像素单元中，第一、二列像素单元同时点亮或熄灭，第三、四列像素单元同时熄灭或点亮，且第一、二列像素单元被点亮时，第三、四列像素单元被熄灭。这样，当数据线无短路情况出现时，显示面板能够呈现两列亮线与两列暗线交替出现的特定检测画面；当数据线中出现短路时，检测画面将出现异常亮线或暗线，根据检测画面中是否出现异常亮线或暗线，即可实现数据线的短路检测，且根据异常亮线或暗线的位置，能够实现短路数据线位置的确定。应用本实施例的技术方案，能够在显示面板的检测阶段可靠检测出数据线存在的短路情况，避免了现有技术中，存在数据线短路问题的缺陷产品留到后段制作工艺，从而影响显示装置良率的问题，实现了显示面板中数据线的短路检测，有助于提升显示装置的良率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种信号波形图；

图5是本发明实施例提供的显示面板的短路测试方法的流程示意图；

图6是本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术所述，显示面板中的信号线的密度较大，有可能带来信号线短路的问题，影响产品良率。经发明人研究发现，出现上述问题的具体原因如下：显示装置包括显示面板和驱动芯片，显示面板可划分为显示区和非显示区，显示装置还包括向显示区中的像素电路传输数据信号的数据线，例如设置于非显示区，且与像素电路和驱动芯片连接的扇出型数据线(即source fanout信号线)。扇出型数据线的数量较多，并且，随着显示分辨率的提高，扇出型数据线的数量和密度也随之增加，这有可能带来信号线短路的问题，从而影响产品良率。

基于上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图1所示，该显示面板包括：多个像素单元PX和多条数据线DL；第一测试信号线DR、第二测试信号线DB、第三测试信号线DG、第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2、第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4；第一开关10、第二开关20、第三开关30和第四开关40；像素单元PX连接对应的数据线DL，多条数据线DL包括交替排列的第一数据线DL1和第二数据线DL2；每条第一数据线DL1通过一第一开关10连接第一测试信号线DR，并通过一第二开关20连接第二测试信号线DB；第一开关10的控制端连接第一控制信号线SW1，用于响应第一控制信号线SW1的控制信号导通或断开第一测试信号线DR和第一数据线DL1；第二开关20的控制端连接第二控制信号线SW2，用于响应第二控制信号线SW2的控制信号导通或断开第二测试信号线DB和数据线DL；第二数据线DL2通过第三开关30连接第三测试信号线DG，第4k+1和4k+2条第二数据线DL2所连接的第三开关30的控制端连接第三控制信号线SW3，第4k+3和4k+4条第二数据线DL2所连接的第三开关30的控制端连接第四控制线，k≥0且k为整数，第三开关30用于响应第三控制信号线SW3或者第四控制信号线SW4的控制信号，导通或断开第三测试信号线DG和第二数据线DL2。

图1仅示意性地示出了显示面板中的部分像素单元PX，参考图1，每一像素单元PX可包括多个子像素，例如红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，每个子像素包括发光单元和像素电路。其中，发光单元可以是有机发光二极管。像素电路由多个薄膜晶体管和存储电容构成，例如像素电路可以是2T1C或7T1C等结构的像素电路，其中，T代表薄膜晶体管，C代表存储电容。薄膜晶体管包括驱动晶体管和开关晶体管，像素电路通过开关晶体管连接数据线DL，开关晶体管在导通时，可以将数据线DL上的数据电压传输至存储电容，通过存储电容来存储数据电压，以使驱动晶体管能够根据数据电压产生稳定的驱动电流，进而驱动有机发光二极管发光。

示例性地，参考图1，显示面板靠近驱动芯片的一侧可以设置多个焊盘，每个焊盘分别连接第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2、第三控制信号线SW3、第四控制信号线SW4、第一测试信号线DR、第二测试信号线DB和第三测试信号线DG的信号输入端。对显示面板进行测试时，可以通过多个焊盘连接对应的多个控制信号和测试信号的信号输入管脚，以将多个控制信号和测试信号通过焊盘传输至对应的信号线。其中，第一测试信号线DR、第二测试信号线DB和第三测试信号线DG可以是在对显示面板进行测试时，分别用于向不同子像素中的像素电路传输对应的测试信号的信号线，以使各像素电路中的驱动晶体管能够根据对应的测试信号产生驱动电流，进而驱动发光单元发光。

对显示面板中第一数据线DL1所连接的像素单元PX进行测试时，第一控制信号线SW1上的控制信号能够控制第一开关10导通或断开，以使第一开关10在导通时，将第一测试信号线DR上的第一测试信号传输至像素单元PX中对应的子像素，使得该子像素的像素电路中的驱动晶体管根据第一测试信号驱动发光单元发光。第二控制信号线SW2上的控制信号能够控制第二开关20导通或断开，以使第二开关20在导通时，将第二测试信号线DB上的第二测试信号传输至像素单元PX中对应的子像素，使得该子像素的像素电路中的驱动晶体管根据第二测试信号驱动发光单元发光。向第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2提供时序不同的控制信号，可以控制第一开关10和第二开关20交替导通，以实现分时测试第一数据线DL1所连接的像素单元PX中的两种不同子像素。

对显示面板中第二数据线DL2所连接的像素单元PX进行测试时，以k＝0为例进行说明，图1示出的四条第二数据线DL2从左至右分别为显示面板中的第一条、第二条、第三条和第四条第二数据线DL2，即序号依次为(1)至(4)的第二数据线DL2。第三控制信号线SW3所连接的第三开关30，与第一条和第二条第二数据线DL2连接，第三控制信号线SW3上的控制信号能够控制对应的第三开关30导通或断开，以使第三开关30在导通时，将第三测试信号线DG上的第三测试信号传输至第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的子像素，使得该子像素的像素电路中的驱动晶体管根据第一测试信号驱动发光单元发光。第四控制信号线SW4所连接的第三开关30，与第三条和第四条第二数据线DL2连接，第四控制信号线SW4上的控制信号能够控制对应的第三开关30导通或断开，以使第三开关30在导通时，将第三测试信号线DG上的第三测试信号传输至第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的子像素，使得该子像素的像素电路中的驱动晶体管根据第一测试信号驱动发光单元发光。需要说明的是，本实施例仅以k的取值为0的情况进行了示意性说明，应当理解的是，当k的取值为1、2、3、4等大于零的正整数时，上述测试原理依然适用。

向第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4提供时序不同的控制信号，可以控制第一条和第二条第二数据线DL2连接的第三开关30，和第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三开关30交替导通，以实现分时测试第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，以及第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，即在控制第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX点亮的同时，控制第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX熄灭，或者控制第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX熄灭的同时，控制第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX点亮。

参考图1，应用本发明实施例所提供的显示面板对像素单元PX进行测试时，能够在测试的同时确定数据线的短路情况。示例性地，分时向第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4施加控制信号，以控制第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所连接的第三开关30交替导通；根据第三开关30连接的像素单元PX的发光情况，确定数据线DL的短路情况。

示例性地，第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所输入的控制信号中，控制第三开关30导通的有效信号的时序不同，以使第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所连接的第三开关30交替导通。当数据线DL无短路情况时，若控制第三控制信号线SW3所连接的第三开关30导通，则第四控制信号线SW4所连接的第三开关30关断，此时第三测试信号线DG上的第三测试信号通过第三开关30传输至第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的像素电路根据第三测试信号驱动像素单元PX发光，第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX由于无法接收第三测试信号而熄灭，即显示面板中呈现的显示画面至少包括分别连接第一条和第二条第二数据线DL2的两列亮线，以及分别连接第三条和第四条第二数据线DL2的两列暗线。若控制第四控制信号线SW4所连接的第三开关30导通，则第三控制信号线SW3所连接的第三开关30关断，此时第三测试信号线DG上的第三测试信号通过第三开关30传输至第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的像素电路根据第三测试信号驱动像素单元PX发光，第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX由于无法接收第三测试信号而熄灭，即显示面板中呈现的显示画面至少包括分别连接第一条和第二条第二数据线DL2的两列暗线，以及分别连接第三条和第四条第二数据线DL2的两列亮线。

综上所述，对显示面板中第二数据线DL2所连接的像素单元PX进行测试时，若数据线DL无短路情况，则显示面板可呈现出两列亮线和两列暗线交替出现的画面，且两列亮线和两列暗线等间距出现。若数据线DL存在短路情况，例如相邻的若干条第二数据线DL2由于互相搭接而短路，将会导致导通的第三开关30所连接的第二数据线DL2，将第三测试信号传输至关断的第三开关30所连接的第二数据线DL2的情况，使得本应该被熄灭的像素单元PX由于短路而接收到第三测试信号，从而被误点亮。这样，显示面板呈现的画面将至少包括三列连续的亮线，至少三列连续的亮线与暗线交替出现。根据至少三列连续的亮线所在的位置，即可确定发生短路的第二数据线DL2的位置，实现了显示面板的短路检测。

本实施例的技术方案，在对显示面板中第二数据线DL2所连接的像素单元PX进行测试时，通过分时向第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4施加控制信号，使第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所连接的第三开关30交替导通，以使显示面板中每四个与第二数据线DL2所连接的像素单元PX中，第一、二列像素单元PX同时点亮或熄灭，第三、四列像素单元PX同时熄灭或点亮，且第一、二列像素单元PX被点亮时，第三、四列像素单元PX被熄灭。这样，当数据线无短路情况出现时，显示面板能够呈现两列亮线与两列暗线交替出现的特定检测画面；当数据线中出现短路时，检测画面将出现异常亮线或暗线，根据检测画面中是否出现异常亮线或暗线，即可实现数据线的短路检测，且根据异常亮线或暗线的位置，能够实现短路数据线位置的确定。应用本实施例的技术方案，能够在显示面板的检测阶段可靠检测出数据线存在的短路情况，避免了现有技术中，存在数据线短路问题的缺陷产品留到后段制作工艺，从而影响显示装置良率的问题，实现了显示面板中数据线的短路检测，有助于提升显示装置的良率。

图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，如图2所示，示例性地，多个像素单元PX包括第一像素单元PX1和第二像素单元PX2，第一像素单元PX1连接第一数据线DL1，第二像素单元PX2连接第二数据线DL2；第一像素单元PX1包括第一子像素R和第二子像素B，第一子像素R和第二子像素B沿列方向交替排列；第二像素单元PX2包括第三子像素G；第一子像素R、第二子像素B和第三子像素G的发光颜色不同。

具体地，参考图2，第一子像素R可以是红色子像素、第二子像素B可以是蓝色子像素，第三子像素G可以是绿色子像素。第一像素单元PX1所在的像素列，形成多个第一子像素R和第二子像素B沿列方向交替排列的一列子像素，第二像素单元PX2所在的像素列，形成多个第三子像素G沿列方向排列的一列子像素。相应地，第一测试信号线DR用于向第一像素单元PX1中的第一子像素R传输测试信号，第二测试信号线DB用于向第一像素单元PX1中的第二子像素B传输测试信号，第三测试信号线DG用于向第二像素单元PX2中的第三子像素G传输测试信号。

示例性地，参考图2，对显示面板中的第一像素单元PX1进行测试时，可以通过第一控制信号线SW1和第二控制信号线SW2上的控制信号，控制第一开关10和第二开关20分时导通，以在两个时段分别完成第一子像素R和第二子像素B的测试。对第一子像素R进行测试时，通过第一开关10将第一测试信号线DR上的第一测试信号传输至第一子像素R连接的第一数据线DL1，并通过第一子像素R所连接的扫描线上的扫描信号控制第一子像素R所在的像素行被选中，以使第一数据线DL1将第一测试信号传输至第一子像素R，通过第一子像素R中的像素电路根据第一测试信号驱动第一子像素R发光。对第二子像素B进行测试时，通过第二开关20将第二测试信号线DB上的第二测试信号传输至第二子像素B连接的第一数据线DL1，并通过第二子像素B所连接的扫描线上的扫描信号控制第二子像素B所在的像素行被选中，以使第一数据线DL1将第二测试信号传输至第二子像素B，通过第二子像素B中的像素电路根据第二测试信号驱动第二子像素B发光。

示例性地，继续参考图2，对显示面板中的第二像素单元PX2进行测试时，向第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4提供时序不同的控制信号，可以控制显示面板中，每四条第二数据线DL2中的第一条和第二条第二数据线DL2连接的第三开关30，和第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三开关30交替导通，以实现分时点亮第一列和第二列第三子像素G，以及第三列和第四列第三子像素G。其中，第一列、第二列、第三列和第四列第三子像素G可分别对应为图2中，序号依次为(1)至(4)的第三子像素G所构成的像素列。本实施例这样设置的好处在于，能够在对显示面板中的绿色子像素进行检测时，根据绿色子像素的发光情况，确定数据线的短路情况。当数据线无短路情况时，若第一、二列第三子像素G点亮，则第三、四列第三子像素G熄灭，或第一、二列第三子像素G熄灭，则第三、四列第三子像素G点亮。如果第一条和第三条第二数据线DL2发生短路，或者第二条和第四条第二数据线DL2发生短路，则在第一、二列第三子像素G点亮时，第三或第四列第三子像素G也会点亮，测试画面中将出现异常绿色亮线。因此，根据检测画面中是否出现异常绿色亮线，以及异常绿色亮线的位置，即可确定数据线是否发生短路，以及出现短路的数据线的位置。

参考图2，示例性地，本实施例中设置相邻数据线DL设置于显示面板的不同膜层。具体地，数据线DL包括第一数据线DL1和第二数据线DL2，相邻数据线DL设置于显示面板的不同膜层是指，例如，第一条第一数据线DL1和第一条第二数据线DL2所构成的数据线组，与第二条第一数据线DL1和第二条第二数据线DL2所构成的数据线组，位于显示面板的不同膜层，且第二条第一数据线DL1和第二条第二数据线DL2所构成的数据线组，与第三条第一数据线DL1和第三条第二数据线DL2所构成的数据线组，位于显示面板的不同膜层。实际应用中，可以将第一条第一数据线DL1和第一条第二数据线DL2所构成的数据线组，与第三条第一数据线DL1和第三条第二数据线DL2所构成的数据线组，设置于显示面板中的一个金属层中，将第二条第一数据线DL1和第二条第二数据线DL2所构成的数据线组，与第四条第一数据线DL1和第四条第二数据线DL2所构成的数据线组，设置于显示面板中的另一个金属层中，以降低显示面板中设置有数据线的金属层的走线密度，从而降低每层金属层中数据线出现短路的概率。其中，数据线位于的金属层，可以是薄膜晶体管的栅极、源极和漏极以及存储电容的两个电极板等中间的任意膜层。本实施例设置相邻数据线位于显示面板的不同膜层的好处还在于，对显示面板中第二数据线DL2所连接的第三子像素G进行测试时，还能够根据检测画面中是否出现异常绿色亮线，以及异常绿色亮线所在的位置，确定具体是位于显示面板中的哪个膜层的第二条第二数据线DL2出现短路，以及短路的第二数据线DL2的具体位置，从而及时排查具有短路缺陷的显示装置，防止缺陷产品影响显示装置的良率。

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，结合图2和图3，示例性地，显示面板具有显示区AA和非显示区NAA，第一测试信号线DR、第二测试信号线DB、第三测试信号线DG、第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2、第三控制信号线SW3、第四控制信号线SW4、第一开关10、第二开关20和第三开关30均位于非显示区NAA。具体地，非显示区NAA，可以围绕显示区AA设置，非显示区NAA中还包括第一区域D，第一区域D可以是数据线的分布密集的区域，第一开关10、第二开关20和第三开关30可与第一区域D中对应的数据线连接，第一测试信号线DR、第二测试信号线DB、第三测试信号线DG、第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2、第三控制信号线SW3、第四控制信号线SW4、第一开关10、第二开关20和第三开关30可设置于非显示区NAA中的第一区域D，或者设置于非显示区NAA中，显示区AA与数据线DL之间的位置。上述各测试信号线、控制信号线和开关，构成了显示面板的测试电路，以通过该测试电路向扇出型的第一数据线DL1和第二数据线DL2传输测试信号，通过第一数据线DL1和第二数据线DL2输出测试信号至各子像素中的像素电路，根据子像素的发光情况即可实现对显示面板的测试，同时根据检测画面中是否出现异常绿色亮线，实现了检测扇出型数据线DL(source fanout信号线)的短路情况的功能。

参考图2，示例性地，第一开关10包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的栅极连接第一控制信号线SW1，第一晶体管T1的第一极连接第一测试信号线DR，第一晶体管T1的第二极连接第一数据线DL1；第二开关20包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的栅极连接第二控制信号线SW2，第二晶体管T2的第一极连接第二测试信号线DB，第二晶体管T2的第二极连接第一数据线DL1；第三开关30包括第三晶体管T3，第三晶体管T3的第一极连接第三测试信号线DG，第三晶体管T3的第二极连接第二数据线DL2，第4k+1和4k+2条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3的栅极连接第三控制信号线SW3，第4k+3和4k+4条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3的栅极连接第四控制线。

图4是本发明实施例提供的一种信号波形图，具体可对应于图2所示显示面板中的第三测试信号线DG、第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4分别输入的信号的波形示意图。结合图2和图4，以第一晶体管T1、第二晶体管T2和第三晶体管T3均为P沟道的薄膜晶体管为例，对显示面板的短路测试方法进行示意性说明。示例性地，对显示面板中的第三子像素G进行检测时，检测过程至少包括t1阶段和t2阶段。

在t1阶段，第三测试信号线DG输入低电平的第三测试信号。第三控制信号线SW3输入低电平的控制信号，第4k+1和4k+2条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3导通，例如第一条和第二条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3导通。第四控制信号线SW4输入高电平的控制信号，第4k+3和4k+4条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3关断，例如第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3关断。第三测试信号通过第一条和第二条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3分别输入第一列和第二列的第三子像素G，使得第一列和第二列的第三子像素G中的像素电路根据第三测试信号驱动第一列和第二列的第三子像素G发光，第一列和第二列的第三子像素G被点亮。第三列和第四列的第三子像素G由于无法接收第三测试信号而不进行发光，第三列和第四列的第三子像素G熄灭。

在t2阶段，第三测试信号线DG输入低电平的第三测试信号。第三控制信号线SW3输入高电平的控制信号，第4k+1和4k+2条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3关断，例如第一条和第二条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3关断。第四控制信号线SW4输入低电平的控制信号，第4k+3和4k+4条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3导通，例如第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3导通。第三测试信号通过第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三晶体管T3分别输入第三列和第四列的第三子像素G，使得第三列和第四列的第三子像素G中的像素电路根据第三测试信号驱动第三列和第四列的第三子像素G发光，第三列和第四列的第三子像素G被点亮。第一列和第二列的第三子像素G由于无法接收第三测试信号而不进行发光，第一列和第二列的第三子像素G熄灭。

综上所述，本实施例通过第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4控制第一、二列和第三、四列的第二数据线DL2分时向对应的第三子像素G传输第三测试信号，若数据线DL无短路情况，则检测画面呈现规律的绿色亮线，例如第一、二列第三子像素G被同时点亮时，第三、四列第三子像素G被同时熄灭。若第一条和第三条第二数据线DL2短路，则第一、二列第三子像素G被点亮时，第三列第三子像素G也被点亮；若第二条和第四条第二数据线DL2短路，则第一、二列第三子像素G被点亮时，第四列第三子像素G也被点亮。如此，显示面板中的数据线出现短路时，将会出现异常绿色亮线，根据检测画面是否出现异常绿色亮线，即可确定数据线的短路情况，根据异常绿色亮线出现的位置，即可确定短路的数据线的位置，从而实现了数据线的短路检测。

继续参考图2，示例性地，显示面板具有显示区和非显示区，非显示区设置有焊盘M；第k+1条第一数据线DL1和第k+1条第二数据线DL2对应于第k+1个焊盘M；显示面板还包括：第一数据连接线L1、第二数据连接线L2、第一选择信号线D_MUX1和第二选择信号线D_MUX2；第一数据连接线L1的一端连接第一数据线DL1，第一数据连接线L1的另一端通过一第四开关40连接第一数据线DL1对应的焊盘M，第四开关40的控制端连接第一选择信号线D_MUX1，用于响应于第一选择信号线D_MUX1的选择信号导通或断开第一数据连接线L1和焊盘M；第二数据连接线L2的一端连接第二数据线DL2，第二数据连接线L2的另一端通过一第五开关50连接第二数据线DL2对应的焊盘，第五开关50的控制端连接第二选择信号线D_MUX2，用于响应于第二选择信号线D_MUX2的选择信号导通或断开第二数据连接线L2和焊盘M。

示例性地，第一数据连接线L1是指图2中第一数据线DL1和对应的焊盘M之间的连接线，第二数据连接线L2是指图2中第二数据线DL2和对应的焊盘M之间的连接线。k≥0且k为整数，当k＝0时，第1条第一数据线DL1和第1条第二数据线DL2对应于第1个焊盘M；当k＝1时，第2条第一数据线DL1和第2条第二数据线DL2对应于第2个焊盘M；当k＝2时，第3条第一数据线DL1和第3条第二数据线DL2对应于第3个焊盘M；当k＝3时，第4条第一数据线DL1和第4条第二数据线DL2对应于第4个焊盘M；当k为大于3的正整数时，第一数据线DL1、第二数据线DL2和焊盘M之间的对应关系同上，不再赘述。其中，第1至4条第一数据线DL1是指图2中序号为(1)至(4)的第一数据线DL1，第1至4条第二数据线DL2是指图2中为序号为(1)至(4)的第二数据线DL2，第1至4个焊盘M是指图2中为序号为(1)至(4)的焊盘M。

参考图2，显示面板在正常显示时，显示装置中的驱动芯片的数据电压信号输出端可与焊盘M对应连接，第一选择信号线D_MUX1上的第一选择信号能够控制第四开关40导通或断开，以使第四开关40在导通时，连通焊盘M、第一数据连接线L1和第一数据线DL1，将驱动芯片输出的数据电压信号通过焊盘M和第一数据连接线L1传输至第一数据线DL1，使得第一数据线DL1连接的像素单元PX中的像素电路根据接收到的数据电压信号驱动像素单元PX中的子像素发光。第二选择信号线D_MUX2上的第二选择信号能够控制第五开关50导通或断开，以使第五开关50在导通时，连通焊盘M、第二数据连接线L2和第二数据线DL2，将驱动芯片输出的数据电压信号通过焊盘M和第二数据连接线L2传输至第二数据线DL2，使得第二数据线DL2连接的像素单元PX中的像素电路根据接收到的数据电压信号驱动像素单元PX中的子像素发光。第四开关40和第五开关50构成了多路选择器，以使驱动芯片传输至焊盘M的数据电压信号，能够分时输出至第一数据线DL1和第二数据线DL2，一个焊盘M分时向两条数据线传输数据电压信号，减少了显示面板中连接数据线和驱动芯片的焊盘的数量，从而节约了显示面板的布线空间，避免信号走线过于密集而容易出现短路现象。

继续参考图2，示例性地，第四开关40包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极连接第一选择信号线D_MUX1，第四晶体管T4的第一极连接焊盘M，第四晶体管T4的第二极连接第一数据连接线L1；第五开关50包括第五晶体管T5，第五晶体管T5的栅极连接第二选择信号线D_MUX2，第五晶体管T5的第一极连接焊盘M，第五晶体管T5的第二极连接第二数据连接线L2。

具体地，以第四晶体管T4和第五晶体管T5均为P沟道的薄膜晶体管为例对二者的工作原理进行说明。第一选择信号线D_MUX1上的第一选择信号为低电平信号时，第四晶体管T4导通，驱动芯片输出的数据电压信号通过焊盘M和第一数据连接线L1传输至第一数据线DL1，使得第一数据线DL1连接的像素单元PX中的像素电路根据接收到的数据电压信号驱动像素单元PX中的子像素发光。第二选择信号线D_MUX2上的第二选择信号为低电平信号时，第五晶体管T5导通，驱动芯片输出的数据电压信号通过焊盘M和第二数据连接线L2传输至第二数据线DL2，使得第二数据线DL2连接的像素单元PX中的像素电路根据接收到的数据电压信号驱动像素单元PX中的子像素发光。

本发明实施例还提供了一种显示面板的短路测试方法，该短路测试方法用于对本发明上述任意实施例所提供的显示面板进行短路测试，如图1所示，该显示面板包括：多个像素单元PX和多条数据线DL，像素单元PX连接对应的数据线DL，多条数据线DL包括交替排列的第一数据线DL1和第二数据线DL2；第一测试信号线DR、第二测试信号线DB、第三测试信号线DG、第一控制信号线SW1、第二控制信号线SW2、第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4；每条第一数据线DL1通过一第一开关10连接第一测试信号线DR，并通过一第二开关20连接第二测试信号线DB；第一开关10的控制端连接第一控制信号线SW1，用于响应第一控制信号线SW1的控制信号导通或断开第一测试信号线DR和第一数据线DL1；第二开关20的控制端连接第二控制信号线SW2，用于响应第二控制信号线SW2的控制信号导通或断开第二测试信号线DB和数据线DL；第二数据线DL2通过第三开关30连接第三测试信号线DG，第4k+1和4k+2条第二数据线DL2所连接的第三开关30的控制端连接第三控制信号线SW3，第4k+3和4k+4条第二数据线DL2所连接的第三开关30的控制端连接第四控制线，k≥0且k为整数，第三开关30用于响应第三控制信号线SW3或者第四控制信号线SW4的控制信号，导通或断开第三测试信号线DG和第二数据线DL2。

图5是本发明实施例提供的显示面板的短路测试方法的流程示意图，如图5所示，显示面板的短路测试方法包括：

S110、分时向第三控制信号线和第四控制信号线施加控制信号，以控制第三控制信号线和第四控制信号线所连接的第三开关交替导通。

示例性地，参考图1，第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所输入的控制信号中，控制第三开关30导通的有效信号的时序不同，以使第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4所连接的第三开关30交替导通。当数据线DL无短路情况时，若控制第三控制信号线SW3所连接的第三开关30导通，则第四控制信号线SW4所连接的第三开关30关断，此时第三测试信号线DG上的第三测试信号通过第三开关30传输至第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的像素电路根据第三测试信号驱动像素单元PX发光，第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX由于无法接收第三测试信号而熄灭，即显示面板中呈现的显示画面至少包括分别连接第一条和第二条第二数据线DL2的两列亮线，以及分别连接第三条和第四条第二数据线DL2的两列暗线。若控制第四控制信号线SW4所连接的第三开关30导通，则第三控制信号线SW3所连接的第三开关30关断，此时第三测试信号线DG上的第三测试信号通过第三开关30传输至第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX，第三条和第四条第二数据线DL2所连接的像素单元PX中的像素电路根据第三测试信号驱动像素单元PX发光，第一条和第二条第二数据线DL2所连接的像素单元PX由于无法接收第三测试信号而熄灭，即显示面板中呈现的显示画面至少包括分别连接第一条和第二条第二数据线DL2的两列暗线，以及分别连接第三条和第四条第二数据线DL2的两列亮线。

S120、根据第三开关连接的像素单元的发光情况，确定数据线的短路情况。

综上所述，对显示面板中第二数据线DL2所连接的像素单元PX进行测试时，若数据线DL无短路情况，则显示面板可呈现出两列亮线和两列暗线交替出现的画面，且两列亮线和两列暗线等间距出现。若数据线DL存在短路情况，例如相邻的若干条第二数据线DL2由于互相搭接而短路，将会导致导通的第三开关30所连接的第二数据线DL2，将第三测试信号传输至关断的第三开关30所连接的第二数据线DL2的情况，使得本应该被熄灭的像素单元PX由于短路而接收到第三测试信号，从而被误点亮。这样，显示面板呈现的画面将至少包括三列连续的亮线，至少三列连续的亮线与暗线交替出现。根据至少三列连续的亮线所在的位置，即可确定发生短路的第二数据线DL2的位置，实现了显示面板的短路检测。

在上述实施例的基础上，参考图2，若第4k+1条第二数据线DL2所连接的像素单元PX2和第4k+3条第二数据线DL2所连接的像素单元PX2同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个像素单元所连接的数据线发生短路；若第4k+2条第二数据线DL2所连接的像素单元PX2和第4k+4条第二数据线DL2所连接的像素单元PX2同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个像素单元所连接的数据线发生短路。

继续参考图2，以第二像素单元PX2包括第三子像素G，第二像素单元PX2所在的像素列，形成多个第三子像素G沿列方向排列的一列子像素为例，对上述短路检测方法进行进一步说明。示例性地，向第三控制信号线SW3和第四控制信号线SW4提供时序不同的控制信号，可以控制显示面板中，每四条第二数据线DL2中的第一条和第二条第二数据线DL2连接的第三开关30，和第三条和第四条第二数据线DL2所连接的第三开关30交替导通，以实现分时点亮每四列第三子像素G中的第一列和第二列第三子像素G，以及第三列和第四列第三子像素G。对于显示面板中的每四条第二数据线DL2，若第一和第二条第二数据线DL2所连接的第三子像素G同时点亮或熄灭，第三和第四条第二数据线DL2所连接的第三子像素G同时点亮或熄灭，且第一和第二条第二数据线DL2所连接的第三子像素G点亮时，第三和第四条第二数据线DL2所连接的第三子像素G熄灭，则可确定数据线无短路情况。如果第一条和第三条第二数据线DL2发生短路，或者第二条和第四条第二数据线DL2发生短路，则在第一条和第三条第二数据线DL2连接的第三子像素G点亮时，第三条或第四条第二数据线DL2连接的第三子像素G也会点亮，测试画面中将出现异常绿色亮线。因此，根据检测画面中是否出现异常绿色亮线，以及异常绿色亮线的位置，即可确定数据线是否发生短路，以及出现短路的数据线的位置。

本发明实施例还提供了一种显示装置，图6是本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。图6示意性地示出了显示装置1为手机的情况，实际应用中，该显示装置1还可以是电脑或平板电脑等具有显示功能的设备。本发明实施例所提供的显示装置，包括本发明上述任意实施例所提供的显示面板100。因此，本发明实施例所提供的显示装置具有本发明上述任意实施例所提供的显示面板的功能结构及有益效果，这里不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (9)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多个像素单元和多条数据线，所述像素单元连接对应的所述数据线，多条数据线包括交替排列的第一数据线和第二数据线；

第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线和第四控制信号线；每条所述第一数据线通过一第一开关连接所述第一测试信号线，并通过一第二开关连接所述第二测试信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，用于响应所述第一控制信号线的控制信号导通或断开所述第一测试信号线和所述第一数据线；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，用于响应所述第二控制信号线的控制信号导通或断开所述第二测试信号线和所述数据线；

所述第二数据线通过第三开关连接所述第三测试信号线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第四控制线，k≥0且k为整数，所述第三开关用于响应所述第三控制信号线或者所述第四控制信号线的控制信号，导通或断开所述第三测试信号线和所述第二数据线；

多个所述像素单元包括第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元连接所述第一数据线，所述第二像素单元连接所述第二数据线；

所述第一像素单元包括第一子像素和第二子像素，所述第一子像素和所述第二子像素沿列方向交替排列；所述第二像素单元包括第三子像素；所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素的发光颜色不同。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，相邻所述数据线设置于所述显示面板的不同膜层。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述第一测试信号线、所述第二测试信号线、所述第三测试信号线、所述第一控制信号线、所述第二控制信号线、所述第三控制信号线、所述第四控制信号线、所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关均位于所述非显示区。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接所述第一测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接所述第一数据线；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接所述第二控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述第二测试信号线，所述第二晶体管的第二极连接所述第一数据线；

所述第三开关包括第三晶体管，所述第三晶体管的第一极连接所述第三测试信号线，所述第三晶体管的第二极连接所述第二数据线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三晶体管的栅极连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三晶体管的栅极连接所述第四控制线。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和非显示区，所述非显示区设置有焊盘，第k+1条所述第一数据线和第k+1条所述第二数据线对应于第k+1个所述焊盘；

所述显示面板还包括：

第一数据连接线、第二数据连接线、第一选择信号线和第二选择信号线；所述第一数据连接线的一端连接所述第一数据线，另一端通过一第四开关连接所述第一数据线对应的所述焊盘，所述第四开关的控制端连接所述第一选择信号线，用于响应于所述第一选择信号线的选择信号导通或断开所述第一数据连接线和所述焊盘；所述第二数据连接线的一端连接所述第二数据线，另一端通过一第五开关连接所述第二数据线对应的所述焊盘，所述第五开关的控制端连接所述第二选择信号线，用于响应于所述第二选择信号线的选择信号导通或断开所述第二数据连接线和所述焊盘。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第一选择信号线，所述第四晶体管的第一极连接所述焊盘，所述第四晶体管的第二极连接所述第一数据连接线；

所述第五开关包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极连接所述第二选择信号线，所述第五晶体管的第一极连接所述焊盘，所述第五晶体管的第二极连接所述第二数据连接线。

7.一种显示面板的短路测试方法，其特征在于，所述显示面板包括：多个像素单元和多条数据线，所述像素单元连接对应的所述数据线，多条数据线包括交替排列的第一数据线和第二数据线；第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线、第一控制信号线、第二控制信号线、第三控制信号线和第四控制信号线；每条所述第一数据线通过一第一开关连接所述第一测试信号线，并通过一第二开关连接所述第二测试信号线；所述第一开关的控制端连接所述第一控制信号线，用于响应所述第一控制信号线的控制信号导通或断开所述第一测试信号线和所述第一数据线；所述第二开关的控制端连接所述第二控制信号线，用于响应所述第二控制信号线的控制信号导通或断开所述第二测试信号线和所述数据线；所述第二数据线通过第三开关连接所述第三测试信号线，第4k+1和4k+2条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第三控制信号线，第4k+3和4k+4条所述第二数据线所连接的所述第三开关的控制端连接所述第四控制线，k≥0且k为整数，所述第三开关用于响应所述第三控制信号线或者所述第四控制信号线的控制信号，导通或断开所述第三测试信号线和所述第二数据线；

所述显示面板的短路测试方法包括：

分时向所述第三控制信号线和所述第四控制信号线施加控制信号，以控制所述第三控制信号线和所述第四控制信号线所连接的所述第三开关交替导通；

根据所述第三开关连接的所述像素单元的发光情况，确定所述数据线的短路情况。

8.根据权利要求7所述的显示面板的短路测试方法，其特征在于，若第4k+1条所述第二数据线所连接的所述像素单元和第4k+3条所述第二数据线所连接的所述像素单元同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个所述像素单元所连接的数据线发生短路；

若第4k+2条所述第二数据线所连接的所述像素单元和第4k+4条所述第二数据线所连接的所述像素单元同时被点亮或同时被熄灭，则确定该两个所述像素单元所连接的数据线发生短路。

9.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-6中任一所述的显示面板。

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