CN114639711A - 显示面板、显示面板测试方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种显示面板及显示面板测试方法。显示装置包括显示面板。显示面板包括衬底、信号线、第一测试模块以及第二测试模块。信号线设置在衬底上。信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线。第一信号线连接第一颜色像素。第二信号线连接第二颜色像素。第一测试模块设置在衬底上且与信号线间隔设置。第一测试模块连接第一信号线和第二信号线。由于第一测试模块连接了第一信号线和第二信号线，因此在进行阵列测试时，不用对第一信号线和第二信号线单独进行测试。由此，可以减少阵列检测设备的扎针数量，并能降低测试针与显示面板的对位要求，避免阵列检测不准确。

Description

显示面板、显示面板测试方法及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板、显示面板测试方法及显示装置。

背景技术

目前大尺寸主动矩阵有机发光半导体(Active-matrix organic light-emittingdiode,AMOLED)面板制造过程中，在阵列模块(array)制程、发光模块(EL)制程、封装制程后，都要有相应的检测制程。目前阵列模块制程后常见有两种检测方式：

第一种阵列测试方式是采用全接触(Fullcontact)的扎针接触方式进行检测。这种检测方式准确性较高，但是因为每个信号线都需要检测设备机构的扎针连接，所以对检测设备扎针对位精度，机构设计提出很高要求，而且仍然有很高风险出现漏针等问题。同时为了满足不同的面板走线，检测设备的扎针设计兼容性也需要额外设计。第二种阵列测试方式是将位于显示面板上的阵列测试焊盘与同样位于显示面板上的面板测试焊盘相连，检测设备扎针不需要采用全接触的方式就可以检测阵列段的缺陷。但是这种检测方式仍需要设计R/G/B三个扎针对应数据信号线。对检测设备的扎针对位数量仍然有较高要求。

在对现有技术的研究和实践过程中，本申请的发明人发现，常见的检测方式检测准确性较低。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板、显示面板测试方法及显示装置，可以提高检测准确性。

本申请实施例提供一种显示面板，所述显示面板包括第一颜色像素和第二颜色像素，所述显示面板包括：

衬底；

信号线，所述信号线设置在所述衬底上，所述信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线，所述第一信号线连接所述第一颜色像素，所述第二信号线连接所述第二颜色像素；

第一测试模块，所述第一测试模块设置在所述衬底上，所述第一测试模块包括第一短路棒和第一焊盘，所述第一短路棒的一端连接所述第一信号线和所述第二信号线，所述第一短路棒的另一端连接所述第一焊盘；其中，所述第一测试模块用于所述显示面板的阵列测试。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括第三颜色像素，所述信号线还包括多条第三信号线，所述第三信号线连接所述第三颜色像素，所述第一短路棒还连接所述第三信号线。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括控制模块，所述控制模块连接所述第一信号线、所述第二信号线以及所述第三信号线，所述控制模块控制所述第一信号线、所述第二信号线和所述第三信号线的通断。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述控制模块包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管；

所述第一薄膜晶体管的栅极接入第一触发信号，所述第一薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第一信号线，所述第二薄膜晶体管的栅极接入第二触发信号，所述第二薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第二信号线，所述第三薄膜晶体管的栅极接入第三触发信号，所述第三薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第三信号线。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括第二测试模块，所述第二测试模块设置在所述衬底上且与所述第一测试模块间隔设置，所述第二测试模块包括第一颜色短路棒、第一颜色测试焊盘、第二颜色短路棒以及第二颜色测试焊盘，所述第一颜色短路棒的一端电性连接多条所述第一信号线，所述第一颜色短路棒的另一端连接所述第一颜色测试焊盘，所述第二短路棒的一端电性连接多条所述第二信号线，所述第二颜色短路棒的另一端连接所述第二颜色测试焊盘，其中，所述第一测试模块设置在所述第二测试模块远离所述第一颜色像素和所述第二颜色像素的一侧。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第二测试模块还包括第三颜色短路棒以及第三颜色测试焊盘，所述第三颜色短路棒的一端电性连接多条所述第三信号线，所述第三颜色短路棒的另一端连接所述第三颜色测试焊盘。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一颜色像素为蓝色像素，第二颜色像素为红色像素，第三颜色像素为绿色像素；

或，所述第一颜色像素为红色像素，第二颜色像素为绿色像素，第三颜色像素为蓝色像素；

或，所述第一颜色像素为绿色像素，第二颜色像素为蓝色像素，第三颜色像素为红色像素。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括第三颜色像素，所述信号线还包括多条第三信号线，所述第三信号线连接所述第三颜色像素，所述第一测试模块还包括第二短路棒和第二焊盘，所述第二短路棒的一端连接所述第三信号线，所述第二短路棒的另一端连接所述第二焊盘。

相应的，本申请实施例还提供一种显示面板测试方法，用于对以上任一项所述的显示面板进行测试，所述显示面板测试方法包括：通过所述第一测试模块中的阵列测试焊盘对所述显示面板进行阵列测试。

相应的，本申请实施例还提供一种显示装置，包括显示面板和封装结构，所述显示面板为以上任一项所述的显示面板，所述封装结构设置在所述显示面板上。

本申请实施例公开了一种显示面板、显示面板测试方法及显示装置。显示装置包括显示面板。显示面板包括衬底、信号线、第一测试模块以及第二测试模块。信号线设置在衬底上。信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线。第一信号线连接第一颜色像素。第二信号线连接第二颜色像素。第一测试模块设置在衬底上且与信号线间隔设置。第一测试模块连接第一信号线和第二信号线。由于第一测试模块连接了第一信号线和第二信号线，因此在进行阵列测试时，不用对第一信号线和第二信号线单独进行测试。由此，可以减少阵列检测设备的扎针数量，并能降低测试针与测试模块的对位要求，避免阵列检测不准确。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的显示面板的第一种结构示意图；

图2是本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图；

图3是本申请实施例提供的显示面板的第三种结构示意图；

图4是本申请实施例提供的显示装置的一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。

本申请实施例提供一种显示面板、显示面板测试方法及显示装置。以下分别进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。

请参阅图1，图1是本申请实施例提供的显示面板的第一种结构示意图。本申请实施例提供的显示面板100包括第一颜色像素10A和第二颜色像素10B。显示面板100包括衬底101、信号线102以及第一测试模块103。信号线102设置在衬底101上。信号线102包括多条第一信号线1021和多条第二信号线1022。第一信号线1021连接第一颜色像素10A。第二信号线1022连接第二颜色像素10B。第一测试模块103设置在衬底101上。第一测试模块103包括第一焊盘P第一短路棒103a和第一焊盘P。第一焊盘P连接第一信号线1021和第二信号线1022。

本申请实施例提供了一种显示面板100。显示面板100上设置有第一测试模块103。由于第一测试模块103连接了第一信号线1021和第二信号线1022，因此在进行阵列测试(Array Test,AT)时，不用对第一信号线1021和第二信号线1022单独进行测试。由此，可以减少AT检测设备的扎针数量，并能降低测试针与测试模块的对位要求，避免AT检测不准确。

为了达到检测设备兼容性及快速检测的目的，第一焊盘P将各个信号线相连。例如，将数据线在基板外围连接在一起。这样设计可以使AT设备在检测的时候无需精确对位每条走线，而是与较大的测试模块接触即可。

可以理解的是，本申请实施例中所述的信号线，可以是显示面板100上需要接受检测的各种信号线，例如，数据线或者测试走线。本申请对信号线的类型不做限制。

需要说明的是，本申请实施例中所述的第一焊盘P同时连接第一信号线1021和第二信号线1022，相比分别连接第一信号线1021和第二信号线1022，可以省去一些第一焊盘P的设置空间。因此，可以增大第一焊盘P的大小，将多条第一信号线1021和多条第二信号线1022同时连到同一第一焊盘P上。或者，采用一连接线连接多条第一信号线1021，采用一连接线连接多条第二信号线1022。然后将连接线同时连到同一第一焊盘P上。

本申请实施例提供的显示面板100可以是以两个颜色像素混色进行显示的显示面板。例如，第一颜色像素为黄色像素、第二颜色像素为蓝色像素。又例如，第一颜色像素为紫色像素，第二颜色像素为绿色像素。或者是，在RGBW型面板上，第一颜色像素为白色像素，第二颜色像素为红色像素、蓝色像素或者绿色像素中的一种。

显示面板100也可以是以三个颜色像素混色进行显示的显示面板。例如，第一颜色像素为红色像素、第二颜色像素为蓝色像素、第三颜色像素为绿色像素。

可选的，请参阅图2。图2是本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图。图2所示的实施例与图1所示的实施例的区别在于，第一测试模块103连接控制这三种颜色像素发光的信号线中的两种。可采用另一第一测试模块103连接控制三种颜色像素发光信号的另一种。

具体的，显示面板100还包括第三颜色像素10C。信号线102还包括多条第三信号线1023。第三信号线1023连接第三颜色像素10C。第一测试模块103还包括第二短路棒103b和第二焊盘D。第二短路棒103b的一端连接第三信号线1023。第二短路棒103b的另一端连接第二焊盘D。

可选的，请继续参阅图1。显示面板100还包括第三颜色像素10C。信号线102还包括多条第三信号线1023。第三信号线1023连接第三颜色像素10C，第一测试模块103连接第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023中的至少两种。

可选的，第一颜色像素10A为蓝色像素，第二颜色像素10B为红色像素，第三颜色像素10C为绿色像素。或，第一颜色像素10A为红色像素，第二颜色像素10B为绿色像素，第三颜色像素10C为蓝色像素。或，第一颜色像素10A为绿色像素，第二颜色像素10B为蓝色像素，第三颜色像素10C为红色像素。第一测试模块103连接第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023中的至少两种，即，第一测试模块103连接控制红色像素、蓝色像素和绿色像素发光的信号线中的至少两种。

以图1为例，第一颜色像素10A为红色像素，第二颜色像素10B为绿色像素，第三颜色像素10C为蓝色像素。相应的，作为示例，第一信号线1021为控制红色像素发光强度的红色像素数据线DR，第二信号线1022为控制绿色像素发光强度的绿色像素数据线DG，第三信号线1023为控制蓝色像素发光强度的蓝色像素数据线DB。

在一种实施例中，第一测试模块103连接第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023。当显示面板100为三个颜色像素混色进行显示的显示面板，例如，RGB型显示面板。第一测试模块103连接控制这三种颜色像素发光的信号线。这种设计避免了AT检测漏针率高，检测速度慢的缺点。将控制RGB像素发光的信号线连接至一个第一测试模块103上，检测效率最高。并且，这样可以减少AT检测设备的扎针数量及对位要求，避免AT检测不准确。

可选的，请继续参阅图1。第一测试模块103还包括一第一短路棒103a。第一短路棒103a的一端电性连接多条第一信号线1021、多条第二信号线1022和多条第三信号线1023。第一短路棒103a的另一端连接第一焊盘P。

用一条短路棒(shorting bar)分别将多条第一信号线1021、多条第二信号线1022和多条第三信号线1023短路连接在一起，再通过短路棒向显示面板100中的薄膜晶体管阵列输入测试信号，测试完成后将短路棒与各信号线的连接切断，以便进行下一步的模块组装。本申请实施例通过一第一短路棒103a将多条第一信号线1021、多条第二信号线1022和多条第三信号线1023短路连接，并连接至一个第一焊盘P(AT Pad)。这样的设计可以降低测试时对检测设备的对位要求，可增大对位准确率，进而增大检测准确性。因此，本申请实施例提供的显示面板100通过一个第一焊盘P即可测试所有的信号线102，检测效率高。

可选的，显示面板100还包括第二测试模块104，第二测试模块104设置在衬底101上且与第一测试模块103、信号线102均间隔设置。第二测试模块104包括第一颜色测试模块1041和第二颜色测试模块1042。第一颜色测试模块1041连接第一信号线1021。第二颜色测试模块1042连接第二信号线1022。其中，第一测试模块103设置在第二测试模块104远离第一颜色像素10A和第二颜色像素10B的一侧。

可选的，如图1所示，第二测试模块104还包括第三颜色测试模块1043。第三颜色测试模块1043连接第三信号线1023。

可选的，第一颜色测试模块1041包括第一颜色短路棒104a以及第一颜色测试焊盘R。第二颜色测试模块1042包括第二颜色短路棒104b以及第二颜色测试焊盘G。第三颜色测试模块1043包括第三颜色短路棒104c以及第三颜色测试焊盘B。

需要说明的是，图1中以第一颜色像素10A为红色像素，第二颜色像素10B为绿色像素，第三颜色像素10C为蓝色像素作为示例。对应将第一颜色测试焊盘标注为R、第二颜色测试焊盘标注为G、第三颜色测试焊盘标注为B。

第一颜色短路棒104a的一端电性连接多条第一信号线1021，第一颜色短路棒104a的另一端连接第一颜色测试焊盘R。第二颜色短路棒104b的一端电性连接多条第二信号线1022，第二颜色短路棒104b的另一端连接第二颜色测试焊盘G。第三颜色短路棒104c的一端电性连接多条第三信号线1023，第三颜色短路棒104c的另一端连接第三颜色测试焊盘B。

在产品生产过程中，为提高产品良率，液晶显示面板需要在阵列基板完成后进行AT，以及在成盒制程后进行面板测试(CellTest,CT)。基于此，结合图1所示，在显示面板100的生产过程中，在未执行切割工艺之前，此时，显示面板100呈阵列排布，每一显示面板100不仅在其外部设有用于AT的第一焊盘P和第一短路棒103a，而且在其自身非显示区设有用于CT的第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B以及对应的第一颜色短路棒104a、第二颜色短路棒104b、第三颜色短路棒104c。即，第一测试模块103设置在第二测试模块104远离第一颜色像素10A和第二颜色像素10B的一侧。

在完成AT后，第一焊盘P和第一短路棒103a被切割去除，而CT的第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B以及对应的第一颜色短路棒104a、第二颜色短路棒104b、第三颜色短路棒104c由于位于显示面板100的非显示区，作为显示面板100的内部结构得以保留。

第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B以及对应的第一颜色短路棒104a、第二颜色短路棒104b、第三颜色短路棒104c分别连接了第一信号线1021、第二信号线1022以及第三信号线1023，则在面板测试中，可以对不同颜色的信号线分别测试。

制程上，在AT和CT两道工艺分别制作测试焊盘。在AT时不用第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B是防止第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B在AT的时候受到损伤，导致后续CT的时候第一颜色测试焊盘R、第二颜色测试焊盘G、第三颜色测试焊盘B接触不良或失效。

可选的，请参阅图3，图3是本申请实施例提供的显示面板的第三种结构示意图。显示面板100还包括控制模块105。控制模块105连接第一信号线1021、第二信号线1022以及第三信号线1023。控制模块105控制第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023的通断。

需要说明的是，与图1所示的实施例相比，图3中省略了一些相同的构件，仅示出了两个实施例主要的区别。

为了保证显示面板100良率，需要在发光模块的制程结束后立即点亮屏幕进行检测，称为发光(EL)检测。此时面板还未进行切割操作，各个显示面板同在一块大板玻璃衬底上，第一短路棒103a并未切割掉，所以各个信号线仍然是连接在一起的。而EL检测需要红色、蓝色、绿色的单色画面分别点亮，以准确检查红色、蓝色、绿色光色及显示不良的情况。因此，本申请实施例提供的显示面板100增加控制模块，在第一短路棒103a未切割断开前，即可进行EL检测。通过控制模块105，控制第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023的通断，从而实现红色、蓝色、绿色的单色可控，以此同时满足AT与EL检测。

具体的，控制模块105包括第一薄膜晶体管T1、第二薄膜晶体管T2以及第三薄膜晶体管T3。

第一薄膜晶体管T1的栅极接入第一触发信号STV R，第一薄膜晶体管T1的源极和漏极连接第一信号线1021。第二薄膜晶体管T2的栅极接入第二触发信号STV G，第二薄膜晶体管T2的源极和漏极连接第二信号线1022。第三薄膜晶体管T3的栅极接入第三触发信号STV B，第三薄膜晶体管T3的源极和漏极连接第三信号线1023。触发信号(STV)，还可称为起始信号、电路启动信号等。本申请实施例中采用STV信号控制第一信号线1021、第二信号线1022和第三信号线1023的通断，以实现显示面板100的红色、蓝色、绿色的单色可控，以此同时满足AT与EL检测。

具体的，第一触发信号STV R、第二触发信号STV G和第三触发信号STV B分时段输入，以此分别打开第一薄膜晶体管T1、第二薄膜晶体管T2以及第三薄膜晶体管T3，进而控制第一颜色像素10A、第二颜色像素B以及第三颜色像素10C的发光。

本申请实施例提供的显示面板100包括控制模块105。通过在信号线102末端设计了一组薄膜晶体管开关，可以在EL检测时，将不需要检测的信号线断路，实现红色、蓝色、绿色的单色点亮，来完成EL检测。这种设计一方面避免了短路棒带来的AT检测漏针率高，检测速度慢的缺点；另一方可以快速地准确的进行阵列检测，同时又不影响制程后段的EL检测，可以实现红色、蓝色、绿色的信号线独立导通，同时满足两段检测需求。

相应的，本申请实施例还提供一种显示装置。请参阅图4，图4是本申请实施例提供的显示装置的一种结构示意图。显示装置1000包括一种显示面板100及封装结构200。显示面板100为以上任一项所述的显示面板100。封装结构200设置在显示面板100上。

需要说明的是，显示装置1000还可以包括其他装置。其他装置及其装配是本领域技术人员所熟知的技术手段，在此不再赘述。

本申请实施例提供的显示装置1000包括一种显示面板100。在显示面板100的制程中，显示面板100包括衬底、信号线、第一测试模块以及第二测试模块。信号线设置在衬底上。信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线。第一信号线连接第一颜色像素。第二信号线连接第二颜色像素。第一测试模块设置在衬底上且与信号线间隔设置。第一测试模块连接第一信号线和第二信号线。由于第一测试模块连接了第一信号线和第二信号线，因此在进行阵列测试时，不用对第一信号线和第二信号线单独进行测试。由此，可以减少AT检测设备的扎针数量，并能降低测试针与测试模块的对位要求，避免AT检测不准确。

相应的，本申请实施例还提供一种显示面板测试方法，用于对以上任一项所述的显示面板进行测试。本申请实施例所述的显示面板测试方法具体包括步骤：通过第一测试模块中的阵列测试焊盘对显示面板进行阵列测试。

具体的，在AT测试时，此时显示面板还在大板上，未进行切割。通过第一焊盘P采用扎针接触的方式进行检测。

显示面板测试方法还包括步骤：通过第一测试模块中的阵列测试焊盘对显示面板进行发光测试。

具体的，在发光层制程结束后，立即控制屏幕点亮进行发光(electroluminescence,EL)测试。此时各个显示面板仍在一个大板上，并未进行切割处理。所以各个信号线仍然是连接在一起的。通过控制模块控制第一信号线、第二信号线和第三信号线1023的通断，使得第一颜色像素、第二颜色像素和第三颜色像素可以分别点亮，并通过阵列测试焊盘进行测试。

显示面板测试方法还包括步骤：通过第二测试模块中的第一颜色测试焊盘、第二颜色测试焊盘以及第三颜色测试焊盘对显示面板进行颜色测试。

本申请实施例提供的显示面板测试方法在进行阵列测试时，不用对第一信号线和第二信号线单独进行测试。由此，可以减少阵列检测设备的扎针数量，并能降低测试针与测试模块的对位要求，避免阵列检测不准确。还能够通过控制模块满足采用阵列测试焊盘进行发光测试的要求，实现面板发光的单色可控，以在第一测试模块未切割前即可进行EL检测，保证AT快速及精准检测的同时不影响后续EL检测。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板、显示面板测试方法及显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板，所述显示面板包括第一颜色像素和第二颜色像素，其特征在于，所述显示面板包括：

衬底；

信号线，所述信号线设置在所述衬底上，所述信号线包括多条第一信号线和多条第二信号线，所述第一信号线连接所述第一颜色像素，所述第二信号线连接所述第二颜色像素；

第一测试模块，所述第一测试模块设置在所述衬底上，所述第一测试模块包括第一短路棒和第一焊盘，所述第一短路棒的一端连接所述第一信号线和所述第二信号线，所述第一短路棒的另一端连接所述第一焊盘；其中，所述第一测试模块用于所述显示面板的阵列测试。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第三颜色像素，所述信号线还包括多条第三信号线，所述第三信号线连接所述第三颜色像素，所述第一短路棒还连接所述第三信号线。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括控制模块，所述控制模块连接所述第一信号线、所述第二信号线以及所述第三信号线，所述控制模块控制所述第一信号线、所述第二信号线和所述第三信号线的通断。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述控制模块包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管；

所述第一薄膜晶体管的栅极接入第一触发信号，所述第一薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第一信号线，所述第二薄膜晶体管的栅极接入第二触发信号，所述第二薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第二信号线，所述第三薄膜晶体管的栅极接入第三触发信号，所述第三薄膜晶体管的源极和漏极连接所述第三信号线。

5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第二测试模块，所述第二测试模块设置在所述衬底上且与所述第一测试模块间隔设置，所述第二测试模块包括第一颜色短路棒、第一颜色测试焊盘、第二颜色短路棒以及第二颜色测试焊盘，所述第一颜色短路棒的一端电性连接多条所述第一信号线，所述第一颜色短路棒的另一端连接所述第一颜色测试焊盘，所述第二短路棒的一端电性连接多条所述第二信号线，所述第二颜色短路棒的另一端连接所述第二颜色测试焊盘，其中，所述第一测试模块设置在所述第二测试模块远离所述第一颜色像素和所述第二颜色像素的一侧。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二测试模块还包括第三颜色短路棒以及第三颜色测试焊盘，所述第三颜色短路棒的一端电性连接多条所述第三信号线，所述第三颜色短路棒的另一端连接所述第三颜色测试焊盘。

7.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一颜色像素为蓝色像素，第二颜色像素为红色像素，第三颜色像素为绿色像素；

或，所述第一颜色像素为红色像素，第二颜色像素为绿色像素，第三颜色像素为蓝色像素；

或，所述第一颜色像素为绿色像素，第二颜色像素为蓝色像素，第三颜色像素为红色像素。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第三颜色像素，所述信号线还包括多条第三信号线，所述第三信号线连接所述第三颜色像素，所述第一测试模块还包括第二短路棒和第二焊盘，所述第二短路棒的一端连接所述第三信号线，所述第二短路棒的另一端连接所述第二焊盘。

9.一种显示面板测试方法，其特征在于，用于对权利要求1至8任一项所述的显示面板进行测试，所述显示面板测试方法包括：通过所述第一测试模块中的阵列测试焊盘对所述显示面板进行阵列测试。

10.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板和封装结构，所述显示面板为权利要求1至8任一项所述的显示面板，所述封装结构设置在所述显示面板上。

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