CN111048021A - 显示装置、显示面板及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本公开提供一种显示装置、显示面板及其检测方法,涉及显示技术领域。该显示面板包括:显示模组具有显示区和围绕显示区的外围区,显示区具有能响应检测信号而关闭的子像素,子像素包括第一子像素和第二子像素;外围区包括的第一区、第二区和第三区,第一区包括走线区和绑定区;第一检测线包括第一段、第二段以及第一弯折段,第一段和第二段设于走线区,第一弯折段延伸至第二区内;第二检测线包括第三段、第四段以及第二弯折段,第三段和第四段设于走线区,第二弯折段延伸至第三区内,第二段通过连接线与第三段连接;第一开关元件连接第二段和第一子像素,用于响应控制信号而导通;第二开关元件连接第四段和第二子像素,用于响应控制信号而导通。
Description
技术领域
本公开涉及显示技术领域,具体而言,涉及一种显示装置、显示面板及显示面板的检测方法。
背景技术
显示面板在制造过程中容易在边缘区域产生细小的裂纹,不易察觉,其中,裂纹的产生主要来源于激光切割等工艺,这些裂纹可能会向显示区延伸,从而影响显示面板的正常工作。因此,为了提高产品良率,需要对显示面板的裂纹进行检测。目前,一般是通过盘绕在显示面板边缘的检测线路,通过检测电阻或者利用子像素进行亮线检测的方式确定检测线路是否存在断裂,从而判断显示面板是否存在裂纹。但是,现有检测方式的检测精度较低,且结构复杂,设计和工艺难度较高。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种显示装置、显示面板及显示面板的检测方法,可提高检测精度,简化结构,降低设计和工艺难度较高。
根据本公开的一个方面,提供一种显示面板,包括:
显示模组,具有显示区和围绕所述显示区的外围区,所述显示区具有能响应检测信号而关闭的子像素,所述子像素包括第一子像素和第二子像素;所述外围区包括围绕所述显示区分布的第一区、第二区和第三区,所述第一区包括走线区和位于所述走线区远离所述显示区一侧的绑定区,所述第二区与所述第三区相对设置于所述第一区的两端;
第一检测线,包括第一段、第二段以及连接所述第一段和第二段的第一弯折段,所述第一段和第二段设于所述走线区,且所述第一段位于所述第二段远离所述显示区的一侧,所述第一弯折段延伸至所述第二区内;
第二检测线,包括第三段、第四段以及连接所述第三段和第四段的第二弯折段,所述第三段和第四段设于所述走线区,且所述第三段位于所述第四段远离所述显示区的一侧,所述第二弯折段延伸至所述第三区内,所述第二段通过连接线与所述第三段连接;
第一开关元件,连接所述第二段和所述第一子像素,用于响应控制信号而导通;
第二开关元件,连接所述第四段和所述第二子像素,用于响应所述控制信号而导通。
在本公开的一种示例性实施例中,所述外围区还包括与所述第一区相对的第四区,所述第一弯折段经所述第二区延伸至所述第四区内,所述第二弯折段经所述第三区延伸至所述第四区内。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一开关元件和所述第二开关元件均为晶体管;
所述第一开关元件的第一端与所述第二段连接,第二端与所述第一子像素连接,控制端用于接收所述控制信号;
所述第二开关元件的第一端与所述第四段连接,第二端与所述第二子像素连接,控制端用于接收所述控制信号。
在本公开的一种示例性实施例中,所述绑定区设有第一检测引脚、第二检测引脚、第一控制引脚和第二控制引脚,所述第一检测引脚与所述第一段连接,所述第二检测引脚与所述第四段连接,所述第一检测引脚和第二检测引脚用于输入所述检测信号;
所述第一控制引脚与所述第一开关元件的控制端连接,所述第二控制引脚与所述第二开关元件的控制端连接,所述第一控制引脚和第二控制引脚用于输入所述控制信号。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一子像素和第二子像素的数量均为多个,且均排布为多列;
所述第一开关元件和第二开关元件数量为多个,每个所述第一开关元件与一列所述第一子像素连接,每个所述第二开关元件与一列所述第二子像素连接;
各所述第一开关元件和所述第二开关元件的控制端串联。
在本公开的一种示例性实施例中,所述子像素还包括第三子像素和第四子像素;
所述绑定区具有第一引脚区以及分隔于所述第一引脚区两侧的第二引脚区和第三引脚区;所述第一检测引脚和第二检测引脚位于所述第一引脚区,所述第一控制引脚位于所述第二引脚区,所述第二控制引脚位于所述第三引脚区;所述第一引脚区设有第一驱动引脚和第二驱动引脚,所述第三引脚区设有第三驱动引脚和第四驱动引脚;
所述显示面板还包括:
第一驱动线,连接所述第一驱动引脚和第三驱动引脚;
第二驱动线,连接所述第二驱动引脚和第四驱动引脚;
多个第三开关元件,一部分所述第三开关元件连接所述第一驱动线和所述第三子像素,另一部分所述第三开关元连接所述第二驱动线和所述第三子像素;各所述第三开关元件与所述第一控制引脚连接,用于响应所述控制信号而导通;
多个第四开关元件,一部分所述第四开关元件连接所述第一驱动线和所述第四子像素,另一部分所述第四开关元连接所述第二驱动线和第四子像素;各所述第四开关元件与所述第二控制引脚连接,用于响应所述控制信号而导通。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一检测线、第二检测线和连接线为同一金属线的不同区域。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一开关元件、第二开关元件、第三开关元件和第四开关元件的控制端串联。
根据本公开的一个方面,提供一种显示面板的检测方法,所述显示面板为上述任意一项所述的显示面板,所述检测方法包括:
驱动所述第一子像素和第二子像素发光;
向所述第一开关元件和第二开关元件输入所述控制信号;同时,向所述第一段输入所述检测信号,并将所述第四段浮接;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区无裂纹;若所述第一子像素关闭,而所述第二子像素发光,则判定所述第二区无裂纹,所述第三区有裂纹;
若所述第一子像素和第二子像素发光,则将所述第一段浮接,向所述第四段输入所述检测信号;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区有裂纹,所述第三区无裂纹;若所述第一子像素发光,而所述第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区有裂纹。
根据本公开的一个方面,提供一种显示装置,包括上述任意一项所述的显示面板。
本公开的显示装置、显示面板及其检测方法,第一检测线和第二检测线通过连接线串联成一个位于外围区的检测走线,该检测走线的一端为第一检测线的第一段,另一端为第二检测线的第三段。一方面,可通过检测第一段和第三段之间的电阻判断检测走线是否断裂,从而确定显示模组的外围区是否存在裂纹。另一方面,可通过向第一段和第三段之一施加检测信号,并通过控制信号控制第一开关元件和第二开关元件导通,通过观察第一子像素和第二子像素发光还是关闭判断是否存在裂纹,以及裂纹位于第二区还是第三区,从而精确判断裂纹的位置,以便检修,且检测走线只有第一段和第二段这两端用于输入信号,引脚较少,有利于简化绑定区的结构,便于进行跳线,使设计及工艺难度降低。由此,可通过两种方式检测显示模组的裂纹,并可确定裂纹的位置,使检测精度得以提升,并能简化结构,降低设计及工艺难度。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为相关技术中一种显示面板的示意图。
图2为相关技术中另一种显示面板的示意图。
图3为本公开显示面板一实施方式的示意图。
图4为本公开显示面板一实施方式中显示面板的示意图。
图5为本公开显示面板一实施方式中第一检测线、第二检测线及连接线的示意图。
图6为本公开显示面板一实施方式的局部放大图。
图7为本公开显示面板一实施方式的工作原理图。
图8为本公开显示面板一实施方式中第一子像素关闭,第二子像素发光的示意图。
图9为本公开显示面板一实施方式中第一子像素和第二子像素发光的示意图。
图10为本公开显示面板一实施方式中第一子像素发光,第二子像素关闭的示意图。
附图标记说明:
1a、显示模组;101a、显示区;102a、外围区;2a、检测线;P1a、第一引脚;P2a、第二引脚;
1b、显示模组;101b、显示区;102b、外围区;2b、检测线;P1b、第一引脚;P2b、第二引脚;
1、显示模组;101、显示区;102、外围区;1021、第一区;10211、走线区;10212、绑定区;102121、第一引脚区;102122、第二引脚区;102123、第三引脚区;1022、第二区;1023、第三区;1024、第四区;
2、第一检测线;21、第一段;22、第二段;23、第一弯折段;
3、第二检测线;31、第三段;32、第四段;33、第二弯折段;
4、连接线;5、第一驱动线;6、第二驱动线;
X1、第一子像素;X2、第二子像素;X3、第三子像素;X4、第四子像素;T1、第一开关元件;T2、第二开关元件;T3、第三开关元件;T4、第四开关元件;P1、第一检测引脚;P2、第二检测引脚;S1、第一控制引脚;S2、第二控制引脚;D1、第一驱动引脚;D2、第二驱动引脚;
D3、第三驱动引脚;D4、第四驱动引脚。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施方式;相反,提供这些实施方式使得本公开将全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构,因而将省略它们的详细描述。此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。
虽然本说明书中使用相对性的用语,例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系,但是这些术语用于本说明书中仅出于方便,例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是,如果将图标的装置翻转使其上下颠倒,则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。当某结构在其它结构“上”时,有可能是指某结构一体形成于其它结构上,或指某结构“直接”设置在其它结构上,或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。
用语“一个”、“一”、“该”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等;用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等;用语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”仅作为标记使用,不是对其对象的数量限制。
在一种相关技术中,如图1所示,显示模组1a具有显示区101a和围绕显示区101a的外围区102a,显示区101a具有可发光的子像素。通过在外围区102a进行绕线,形成用于检测裂纹的检测线2a,通过检测检测线2a两端(P1a和P2a)之间的电阻,可判断检测线2a是否断裂,从而判断显示模组1a是否存在裂纹。但此种方式只能判断是否存在裂纹,而无法判断裂纹的位置,因而检测精度较低。
在另一相关技术中,如图2所示,通过在外围区102b进行绕线,形成用于检测裂纹的两个独立的检测线,即第一检测线2b和第二检测线3b,两个检测线位于显示区101b的两侧。可将第一检测线2b和第二检测线3b通过开关元件与显示区101b的子像素连接,在检测时,可向每个检测线施加检测信号,并向开关元件施加控制信号,通过观察与两个检测线连接的子像素是否发光,来判断两个检测线是否断裂,从而判断显示模组1b的边缘是否存在裂纹。但是,相互独立的两个检测线形成的检测线具有四端,需要在驱动电路上设置四个引脚(P1b、P2b、P3b和P4b),以便输入信号,但结构复杂,引脚占用较多走线空间,使跳线难度较大,增加了设计及工艺难度。
本公开实施方式提供了一种显示面板,如图3-图6所示,该显示面板包括显示模组1、第一检测线2、第二检测线3、第一开关元件T1和第二开关元件T2,其中:
显示模组1具有显示区101和围绕显示区101的外围区102,显示区101具有能响应检测信号而关闭的子像素,子像素包括第一子像素X1和第二子像素X2,外围区102包括围绕显示区101分布的第一区1021、第二区1022和第三区1023,第二区1022与第三区1023相对设置于第一区1021的两侧。第二区1022与第三区1023相对设置于第一区1021的两端。第一区1021包括走线区10211和位于走线区10211远离显示区101一侧的绑定区10212。
第一检测线2包括第一段21、第二段22以及连接第一段21和第二段22的第一弯折段23,第一段21和第二段22设于走线区10211,且第一段21位于第二段22远离第一区1021的一侧,第一弯折段23延伸至第二区1022内。
第二检测线3包括第三段31、第四段32以及连接第三段31和第四段32的第二弯折段33,第三段31和第四段32设于走线区,且第三段位于第四段32远离第一区1021的一侧,第二弯折段33延伸至第三区1023内,第二段22通过连接线4与第三段31连接。
第一开关元件T1连接第二段22和第一子像素X1,用于响应控制信号而导通。第二开关元件T2连接第四段32和第二子像素X2,用于响应控制信号而导通。
本公开实施方式的显示面板,第一检测线2和第二检测线3通过连接线4串联成一个位于显示模组1的外围区102的检测走线,该检测走线的一端为第一检测线2的第一段21,另一端为第二检测线3的第三段31。
一方面,可通过检测第一段21和第三段31之间的电阻判断检测走线是否断裂,从而确定显示模组1的外围区102是否存在裂纹,具体而言,显示模组1的第二区1022和第三区1023不存在裂纹,则第一段21和第三段31之间短路,电阻较小;若显示模组1的第二区1022和第三区1023中至少一个存在裂纹,则检测走线对应的位置会断裂,此时,第一段21和第三段31之间的电阻断路,电阻较大。
另一方面,如图6所示,可通过向第一段21和第三段31之一施加检测信号,并通过控制信号控制第一开关元件T1和第二开关元件T2导通,通过观察第一子像素X1和第二子像素X2发光还是关闭判断是否存在裂纹,以及裂纹位于第二区1022还是第三区1023,从而精确判断裂纹的位置,以便检修。具体而言:如图7所示,在检测时,可向第一子像素X1和第二子像素X2施加能使二者发光的驱动信号,同时,向第一开关元件T1和第二开关元件T2输出控制信号,并向第一段21施加检测信号,浮接第四段32;此时,若所述第一子像素X1和第二子像素X2关闭,则判定第二区1022和第三区1023无裂纹;若第一子像素X1关闭,而第二子像素X2发光,则判定第二区1022无裂纹,第三区1023有裂纹。
如图7所示,若第一子像素X1和第二子像素X2发光,则将第一段21浮接,向第四段32输入检测信号,此时,若第一子像素X1和第二子像素X2关闭,则判定第二区1022有裂纹,第三区1023无裂纹;若第一子像素X1发光,而第二子像素X2关闭,则判定第二区1022和第三区1023有裂纹。由此,不仅可检测是否存在裂纹,还可确定裂纹的位置,从而提高检测精度。
此外,由于第一检测线2和第二检测线3通过连接线4串联,使得检测走线只有第一段21和第二段22这两端用于输入信号,引脚较少,有利于简化结构,便于降低设计和工艺难度。
下面对本公开实施方式显示面板的各部分进行详细说明:
如图1和图2所示,显示模组1可以是OLED(organic light-emitting diode,有机发光二极管)显示模组,例如AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode,主动矩阵有机发光二极管)显示模组。
显示模组1的显示区101具有阵列分布的多个像素,每个像素包括多个颜色不同的子像素,所有子像素阵列分布成多行和多列。每个子像素至少包括发光单元和用于驱动发光单元发光或关闭的驱动电路,驱动电路的具体元件及连接关系在此不做特殊限定。
每个子像素可响应一检测信号而关闭,即不发光,举例而言:每个子像素的驱动电路包括一晶体管,可向该晶体管的控制端施加驱动信号,使该晶体管导通,以便向发光单元传输数据信号,使发光单元发光。但在晶体管的控制端接收到检测信号时,可使该晶体管关闭,从而使发光单元停止发光,即子像素关闭。
需要说明的是,在检测时,可仅向部分子像素施加驱动信号和数据信号,其它子像素可保持关闭状态。
具体而言,如图6所示,显示模组1的所有子像素中包括第一像素和第二子像素X2,在进行检测时,可仅向第一子像素X1和第二子像素X2施加上述的驱动信号和数据信号,使得第一子像素X1和第二子像素X2未接收到检测信号,则第一子像素X1和第二子像素X2发光;若接收到检测信号,则第一子像素X1和第二子像素X2关闭,即不发光。
如图2所示,显示模组1的外围区102围绕显示区101,且包括围绕显示区101分布的第一区1021、第二区1022和第三区1023,其中:
第二区1022与第三区1023相对设置于第一区1021的两端,且第二区1022和第三区1023可关于显示模组1沿列方向延伸的中心线对称。第一区1021包括走线区10211和绑定区10212,绑定区10212位于走线区10211远离显示区101一侧。
绑定区10212可用于与驱动电路板绑定,以便通过驱动电路板驱动显示面板显示图像。驱动电路板设于显示模组1外,且与第一区1021正对且相接,显示模组1的驱动电路可至少部分位于该驱动电路板上。驱动电路板可以是柔性电路板,可弯折至显示模组1的背侧,以便减小显示模组1的边框宽度,驱动电路板可采用COP(Chip On Pi)工艺封装,当然也可以采用其它封装工艺。
进一步的,如图2所示,显示模组1的外围区102还包括第四区1024,第四区1024与第一区1021相对设置,且位于第二区1022和第三区1023之间。第一区1021和第四区1024可关于显示模组1沿行方向延伸的中心线对称。
需要说明的是,本文中的行方向及和列方向仅表示相交的两个不同方向,虽然在各附图中当前的视角它们分别为横向和纵向,但并不代表在实际的产品中,行方向必定为横向,而列方向必定为纵向。
如图1、图3和图6所示,第一检测线2包括第一段21、第二段22以及第一弯折段23,其中:
第一段21和第二段22设于走线区10211,且通过第一弯折段23连接,具体而言,第一段21的一端与第一弯折段23的一端连接,第一段21的一端为自由端,第一弯折段23的另一端与第二段22的一端连接,第二段22的一端为自由端。同时,第一段21位于第二段22远离显示区101的一侧,且第一段21可与第二段22平行设置。
第一弯折段23延伸至第二区1022内,若第一弯折段23断裂,则第一检测线2断裂,第一段21与第二段22断路,第一弯折段23的形状在此不做特殊限定。
如图1、图3和图6所示,第二检测线3包括第三段31、第四段32以及第二弯折段33,其中:
第三段31和第四段32设于走线区10211,且通过第二弯折段33连接,具体而言,第三段31的一端与第二弯折段33的一端连接,第三段31的一端为自由端,第二弯折段33的另一端与第四段32的一端连接,第四段32的一端为自由端。第三段31位于第四段32远离显示区101的一侧。
第二弯折段33延伸至第三区1023内,若第二弯折段33断裂,则第二检测线3断裂,第三段31与第四段32断路,第二弯折段33的形状在此不做特殊限定。
如图1、图3和图6所示,上述的第二段22通过连接线4与第三段31连接,将第一检测线2和第二检测线3串联成一检测走线,第一段21为检测走线的一端,第四段32为检测走线的另一端。其中,第一检测线2、第二检测线3和连接线4为同一金属线的不同区域,在制造时,可通过一次构图工艺形成。
如图1和图3所示,进一步的,在本公开的一些实施方式中,为了扩大检测范围,可使第一弯折段23经第二区1022延伸至第四区1024内,并使第二弯折段33经第三区1023延伸至第四区1024内,从扩大第一弯折段23第二弯折段33的范围,减小裂纹位于第一弯折段23和第二弯折段33以外,而无法检测的风险。
进一步的,在本公开的一些实施方式中,第一检测线2和第二检测线3关于显示区101在第二区1022和第三区1023之间的中心线对称设置,即第一检测线2和第二检测线3关于沿列方向延伸的显示模组1的中心线对称。
需要说明的是,第一检测线2、第二检测线3和连接线4可同层设置,即通过一次构图工艺形成,或者,也可以形成于不同膜层,并通过过孔连接,只要能形成检测走线即可。
如图6所示,第一开关元件T1连接第二段22和第一子像素X1,第二开关元件T2连接第四段32和第二子像素X2。第一开关元件T1和第二开关元件T2均可响应控制信号而导通,且在第一开关元件T1和第二开关元件T2导通时,若第一段21或第四段32施加检测信号,第一检测线2、第二检测线3和连接线4未出现断裂,则检测信号可通过第一开关元件T1传输至第一子像素X1,使第一子像素X1关闭,通过第二开关元件T2传输至第二子像素X2,使第二子像素X2关闭,也就是说,第一子像素X1和第二子像素X2未发光,说明第二区1022和第三区1023不存在裂纹。
第一开关元件T1和第二开关元件T2均可采用晶体管,其具有控制端、第一端和第二端,第一开关元件T1的第一端与第二段22连接,第二端与第一子像素X1连接,控制端可接收控制信号。第二开关元件T2的第一端与第四段32连接,第二端与第二子像素X2连接,控制端用于接收控制信号。
以第一开关元件T1和第二开关元件T2为薄膜晶体管为例,其控制端为栅极,第一端为源极,第二端为漏极,第一开关元件T1的源极与第二段22连接,漏极与第一子像素X1连接。第二开关元件T2的源极与第四段32连接,漏极与第二子像素X2连接。
在本公开的一些实施方式中,如图6所示,第一子像素X1和第二子像素X2的数量均为多个,且各第一子像素X1排布为多列,各第二子像素X2也排布为多列,同一列第一子像素X1可同时发光或关闭,同一列第二子像素X2可同时发光或关闭。不同列的第一子像素X1的颜色可以相同,也可以不同;不同列的第二子像素X2的颜色可以相同,也可以不同;第一子像素X1和第二子像素X2的发光颜色可以相同也可以不同。同时,第一开关元件T1和第二开关元件T2数量为多个,每个第一开关元件T1与一列第一子像素X1连接,每个第二开关元件T2与一列第二子像素X2连接;也就是说,可通过每个第一开关元件T1一一对应的控制各列第一子像素X1,可通过每个第二开关元件T2一一对应的控制各列第二子像素X2。
此外,如图6所示,各第一开关元件T1的控制端和各第二开关元件T2的控制端串联,从而可同步控制各第一开关元件T1和各第二开关元件T2的导通和关闭。
在本公开的一些实施方式中,如图6所示,为了便于输入信号,绑定区10212可设置有第一检测引脚P1、第二检测引脚P2、第一控制引脚S1和第二控制引脚S2,其中:
第一检测引脚P1与第一段21连接,第一检测引脚P1的具体结构在此不做特殊限定。第二检测引脚P2与第四段32连接。第一检测引脚P1和第二检测引脚P2均可用于向第一段21输入检测信号,也可浮接。
第一控制引脚S1与第一开关元件T1的控制端连接,第二控制引脚S2与第二开关元件T2的控制端连接,第一控制引脚S1和第二控制引脚S2用于输入控制信号。
进一步的,如图6所示,绑定区10212具有第一引脚区102121、第二引脚区102122和第三引脚区102123,其中:
第二引脚区102122和第三引脚区102123分隔于第一引脚区102121两侧,且第一检测引脚P1和第二检测引脚P2可位于第一引脚区102121,第一控制引脚S1位于第二引脚区102122,第二控制引脚P2位于第三引脚区102123。
如图6所示,为了便于对显示区101内的子像素进行检测,在本公开的一些实施方式中,显示区101内的多个子像素中,还包括第三子像素X3和第四子像素X4,其发光颜色在此不做特殊限定。第三子像素X3和第四子像素X4的数量可为多个,且二者均可分布为多列,形成多列第三子像素X3和多列第四子像素X4。第三子像素X3和第四子像素X4也可在接收到上述的检测信号时关闭,即不发光。
上述的第一引脚区102121设有第一驱动引脚D1和第二驱动引脚D2,第三引脚区102123设有第三驱动引脚D3和第四驱动引脚D4;
同时,本实施方式的显示面板还包括第一驱动线5、第二驱动线6、第三开关元件T3和第四开关元件T4,其中:
第一驱动线5连接第一驱动引脚D1和第三驱动引脚D3,第二驱动线6连接第二驱动引脚D2和第四驱动引脚D4。
第三开关元件T3的数量为多个,且分为两部分,其中一部分第三开关元件T3连接第一驱动线5和第三子像素X3,另一部分第三开关元T3连接第二驱动线6和第三子像素X3。各第三开关元件T3与第一控制引脚S1连接,且每个第三开关元件T3均能响应上述的控制信号而导通。
第四开关元件T4的数量为多个,且分为两部分,其中一部分第四开关元件T4连接第一驱动线5和第四子像素X4,另一部分第四开关元件T4连接第二驱动线6和第四子像素X4。各第四开关元件T4与第二控制引脚S2连接,且每个第四开关元件T4均能响应上述的控制信号而导通。
可将第一段21和第四段32均浮接,并通过第三开关元件T3和第四开关元件T4控制第三子像素X3和第四子像素X4是否发光对显示区101是否正常发光进行检测,具体而言,可通过第一控制引脚S1和第二控制引脚S2输入控制信号,将第三开关元件T3和第四开关元件T4导通,同时,通过第一驱动引脚D1、第二驱动引脚D2、第三驱动引脚D3和第四驱动引脚D4向第三子像素X3和第四子像素X4输入驱动信号,以便检测第三子像素X3和第四子像素X4是否能够正常发光。
需要说明的是,在检测外围区102是否存在裂纹时,可向第一驱动引脚D1、第二驱动引脚D2、第三驱动引脚D3和第四驱动引脚D4输入检测信号,从而使第三子像素X3和第四子像素X4保持关闭,以便影响观察第一子像素X1和第二子像素X2。
进一步的,如图6所示,第一开关元件T1的控制端、第二开关元件T2的控制端、第三开关元件T3的控制端和第四开关元件T3的控制端可串联于第一控制引脚S1和第二控制引脚S2之间,从而可通过第一控制引脚S1和第二控制引脚S2输入控制信号,使第一开关元件T1、第二开关元件T2、第三开关元件T3和第四开关元件T4同时导通或关闭。
举例而言,若上述子像素的驱动电路的晶体管为P型晶体管,则驱动信号为低电平信号,而检测信号为高电平信号;若上述子像素的驱动电路的晶体管为N型晶体管,则驱动信号为高电平信号,而检测信号为低电平信号。
若上述的第一开关元件T1、第二开关元件T2、第三开关元件T3和第四开关元件T4均为P型晶体管,则控制信号为低电平信号;若第一开关元件T1、第二开关元件T2、第三开关元件T3和第四开关元件T4均为N型晶体管,则控制信号为高电平信号。
下面对显示面板的检测过程进行详细说明:
在进行电阻检测时:
可直接检测第一检测引脚P1和第二检测引脚P2之间的电阻,若显示模组1的第二区1022和第三区1023不存在裂纹,则第一段21和第三段31之间短路,电阻较小;
若显示模组1的第二区1022和第三区1023中至少一个存在裂纹,则检测走线对应的位置会断裂,此时,第一段21和第三段31之间的电阻断路,电阻较大。
在进行亮线检测时:
如图7所示,可向第一控制引脚P1和第二控制引脚P2施加控制信号,使第一开关元件T1、第二开关元件T2、第三开关元件T3和第四开关元件T4均导通;同时,向第一检测引脚P1输入检测信号,并将第二检测引脚P2浮接。并且,向第一驱动引脚D1、第二驱动引脚D2、第三驱动引脚D3和第四驱动引脚D4输入检测信号,从而使第三子像素X3和第四子像素X4保持关闭。以及,向第一子像素X1和第二子像素X2施加能使二者发光的驱动信号。
如图3所示,若第一子像素X1和第二子像素X2关闭,则判定第二区1022和第三区1023无裂纹;若第一子像素X1关闭,而第二子像素X2发光,如图8所示,图8中示出了第二子像素X2发光形成的亮线,则判定第二区1022无裂纹,第三区1023有裂纹。
若第一子像素X1和第二子像素X2都发光,如图9所示,图9中示出了第一像素X1和第二子像素X2发光形成的亮线,则将第一检测引脚P1浮接,向第二检测引脚P2输入检测信号;
若第一子像素X1和第二子像素X2关闭,如图3所示,则判定第二区1022有裂纹,第三区1023无裂纹;若第一子像素X1发光,而第二子像素X2关闭,如图10所示,图10中示出了第一子像素X1发光形成的亮线,则判定第二区1022和第三区1023有裂纹。
由此,不仅可检测是否存在裂纹,还可确定裂纹的位置,从而提高检测精度。
本公开实施方式还提供一种显示面板的检测方法,该显示面板上述任意实施方式的显示面板,在此不再详述其结构。本公开实施方式的检测方法包括:
驱动所述第一子像素和第二子像素发光;
向所述第一开关元件和第二开关元件输入所述控制信号;同时,向所述第一段输入所述检测信号,并将所述第四段浮接;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区无裂纹;若所述第一子像素关闭,而所述第二子像素发光,则判定所述第二区无裂纹,所述第三区有裂纹;
若所述第一子像素和第二子像素发光,则将所述第一段浮接,向所述第四段输入所述检测信号;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区有裂纹,所述第三区无裂纹;若所述第一子像素发光,而所述第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区有裂纹。
本公开检测方法的具体细节已在上文中显示面板的检测过程中进行了详细说明,在此不再赘述。
需要说明的是,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
本公开实施方式还提供一种显示装置,包括上述任意实施方式的显示面板,该显示面板的结构在此不再详述。此外,该显示装置还可包括驱动电路板,该驱动电路板可与显示面板的绑定区绑定,以便驱动显示面板显示图像,以及通过执行本公开实施方式的检测方法。本公开实施方式的显示装置可以用于手机、平板电脑、电子纸和电子画板等电子设备,在此不再一一列举。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于,包括:
显示模组,具有显示区和围绕所述显示区的外围区,所述显示区具有能响应检测信号而关闭的子像素,所述子像素包括第一子像素和第二子像素;所述外围区包括围绕所述显示区分布的第一区、第二区和第三区,所述第一区包括走线区和位于所述走线区远离所述显示区一侧的绑定区,所述第二区与所述第三区相对设置于所述第一区的两端;
第一检测线,包括第一段、第二段以及连接所述第一段和第二段的第一弯折段,所述第一段和第二段设于所述走线区,且所述第一段位于所述第二段远离所述显示区的一侧,所述第一弯折段延伸至所述第二区内;
第二检测线,包括第三段、第四段以及连接所述第三段和第四段的第二弯折段,所述第三段和第四段设于所述走线区,且所述第三段位于所述第四段远离所述显示区的一侧,所述第二弯折段延伸至所述第三区内,所述第二段通过连接线与所述第三段连接;
第一开关元件,连接所述第二段和所述第一子像素,用于响应控制信号而导通;
第二开关元件,连接所述第四段和所述第二子像素,用于响应所述控制信号而导通。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述外围区还包括与所述第一区相对的第四区,所述第一弯折段经所述第二区延伸至所述第四区内,所述第二弯折段经所述第三区延伸至所述第四区内。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一开关元件和所述第二开关元件均为晶体管;
所述第一开关元件的第一端与所述第二段连接,第二端与所述第一子像素连接,控制端用于接收所述控制信号;
所述第二开关元件的第一端与所述第四段连接,第二端与所述第二子像素连接,控制端用于接收所述控制信号。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述绑定区设有第一检测引脚、第二检测引脚、第一控制引脚和第二控制引脚,所述第一检测引脚与所述第一段连接,所述第二检测引脚与所述第四段连接,所述第一检测引脚和第二检测引脚用于输入所述检测信号;
所述第一控制引脚与所述第一开关元件的控制端连接,所述第二控制引脚与所述第二开关元件的控制端连接,所述第一控制引脚和第二控制引脚用于输入所述控制信号。
5.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述第一子像素和第二子像素的数量均为多个,且均排布为多列;
所述第一开关元件和第二开关元件数量为多个,每个所述第一开关元件与一列所述第一子像素连接,每个所述第二开关元件与一列所述第二子像素连接;
各所述第一开关元件和所述第二开关元件的控制端串联。
6.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述子像素还包括第三子像素和第四子像素;
所述绑定区具有第一引脚区以及分隔于所述第一引脚区两侧的第二引脚区和第三引脚区;所述第一检测引脚和第二检测引脚位于所述第一引脚区,所述第一控制引脚位于所述第二引脚区,所述第二控制引脚位于所述第三引脚区;所述第一引脚区设有第一驱动引脚和第二驱动引脚,所述第三引脚区设有第三驱动引脚和第四驱动引脚;
所述显示面板还包括:
第一驱动线,连接所述第一驱动引脚和第三驱动引脚;
第二驱动线,连接所述第二驱动引脚和第四驱动引脚;
多个第三开关元件,一部分所述第三开关元件连接所述第一驱动线和所述第三子像素,另一部分所述第三开关元连接所述第二驱动线和所述第三子像素;各所述第三开关元件与所述第一控制引脚连接,用于响应所述控制信号而导通;
多个第四开关元件,一部分所述第四开关元件连接所述第一驱动线和所述第四子像素,另一部分所述第四开关元连接所述第二驱动线和第四子像素;各所述第四开关元件与所述第二控制引脚连接,用于响应所述控制信号而导通。
7.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一检测线、第二检测线和连接线为同一金属线的不同区域。
8.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述第一开关元件、第二开关元件、第三开关元件和第四开关元件的控制端串联。
9.一种显示面板的检测方法,其特征在于,所述显示面板为权利要求1-8任一项所述的显示面板,所述检测方法包括:
驱动所述第一子像素和第二子像素发光;
向所述第一开关元件和第二开关元件输入所述控制信号;同时,向所述第一段输入所述检测信号,并将所述第四段浮接;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区无裂纹;若所述第一子像素关闭,而所述第二子像素发光,则判定所述第二区无裂纹,所述第三区有裂纹;
若所述第一子像素和第二子像素发光,则将所述第一段浮接,向所述第四段输入所述检测信号;
若所述第一子像素和第二子像素关闭,则判定所述第二区有裂纹,所述第三区无裂纹;若所述第一子像素发光,而所述第二子像素关闭,则判定所述第二区和第三区有裂纹。
10.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-8任一项所述的显示面板。
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