CN208954988U - 显示装置及显示装置母板 - Google Patents

Abstract

公开了一种显示装置及显示装置母板，显示装置包括：基板，具有显示区、在显示区外周侧分布的非显示区及沿非显示区外周形成的外轮廓线；多个像素，位于基板的显示区内；多条数据线，与多个像素连接；测试电压线；以及裂纹检测线，裂纹检测线的一端连接至测试电压线，裂纹检测线的另一端通过开关元件与多条数据线中的至少一条连接，其中，裂纹检测线的至少一部分位于基板的非显示区内，裂纹检测线包括最靠近外轮廓线的第一段，第一段与外轮廓线的间距为110微米至500微米。分割显示装置母板得到显示装置后，裂纹检测线与外轮廓线即分割线的间距能够保证裂纹检测线在面板产生裂纹时及时断裂或阻值改变，从而更高效及时检测到面板从分割边内延的裂纹。

Description

显示装置及显示装置母板

技术领域

本实用新型涉及显示领域，具体涉及一种显示装置及显示装置母板。

背景技术

显示装置广泛应用于移动电话、可穿戴设备、电子阅读器等领域，主流的显示装置大致包括液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)以及有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)显示装置。

上述显示装置的制作通常需要经过在公共的衬底基板上进行多个制程，然后切割或剥离得到单个的显示装置。在切割或剥离过程中，显示装置不断受到蹂躏，容易产生屏体裂纹。

现有技术通常采用面板裂纹检测(panel crack detection，PCD)电路来检测面板裂纹，合理的PCD电路设计，能够快速有效地检测出面板裂纹，从而能够及时调整工艺，避免切割及剥离之后的成本浪费。

实用新型内容

面板裂纹通常是从切割边开始内延，因此，期望一种显示装置及显示装置母板，对应切割边进行PCD电路的优化设计，来提高裂纹检测效率。

本实用新型提供一种显示装置及显示装置母板，对应显示装置边缘进行优化设计，提高裂纹检测效率。

一方面，本实用新型实施例提供一种显示装置，其包括：基板，具有显示区、在显示区外周侧分布的非显示区及沿非显示区外周形成的外轮廓线；多个像素，位于基板的显示区内；多条数据线，与多个像素连接；测试电压线；以及裂纹检测线，裂纹检测线的一端连接至测试电压线，裂纹检测线的另一端通过开关元件与多条数据线中的至少一条连接，其中，裂纹检测线的至少一部分位于基板的非显示区内，裂纹检测线包括最靠近外轮廓线的第一段，第一段与外轮廓线的间距为110微米至500微米。

根据本实用新型实施例的一个方面，所述第一段与所述外轮廓线的间距为120微米至280微米。

根据本实用新型实施例的一个方面，所述第一段与所述外轮廓线的间距为130微米至150微米。

根据本实用新型实施例的一个方面，第一段与基板的部分外轮廓线平行，裂纹检测线还包括与第一段连接的第二段，第二段位于第一段靠近显示区的一侧，第二段与第一段平行。

根据本实用新型实施例的一个方面，测试电压线以及开关元件位于基板的非显示区内的同一侧，裂纹检测线的图案为对折线。

根据本实用新型实施例的一个方面，显示装置还包括：封装层，设置于基板上；以及触控层，设置于封装层上，其中，裂纹检测线的其中一段设置于基板内，裂纹检测线的其中另一段设置于触控层内。

根据本实用新型实施例的一个方面，基板以及触控层均包括至少一层布线层，每层布线层内设有布线，位于基板内的一段裂纹检测线与基板的至少一层布线层同层设置；位于触控层内的一段裂纹检测线与触控层的至少一层布线层同层设置。

根据本实用新型实施例的一个方面，裂纹检测线的线宽与同层的布线层内的布线的线宽之差小于或等于3微米，裂纹检测线的线距与同层的布线层内的布线的线距之差小于或等于3微米。

根据本实用新型实施例的一个方面，开关元件为晶体管，晶体管包括源极、漏极以及栅极，裂纹检测线连接至晶体管的源极、漏极中的其中一个，数据线连接至晶体管的源极、漏极中的另一个，显示装置还包括：测试控制线，连接至晶体管的栅极。

另一方面，本实用新型实施例提供一种显示装置母板，其包括多个上述任一项的显示装置，任意相邻显示装置之间设有分割线，分割线与基板的外轮廓线对应。

根据本实用新型实施例的显示装置及显示装置母板，裂纹检测线包括最靠近外轮廓线的第一段，裂纹检测线的第一段与外轮廓线的间距为110微米至500微米，使得分割显示装置母板得到显示装置的过程后，裂纹检测线与外轮廓线即分割线的间距能够保证裂纹检测线在面板产生裂纹时及时断裂或阻值改变，从而更高效及时检测到面板从分割边内延的裂纹。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1示出根据本实用新型实施例的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本实用新型的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本实用新型进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本实用新型，并不被配置为限定本实用新型。对于本领域技术人员来说，本实用新型可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本实用新型的示例来提供对本实用新型更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

图1示出根据本实用新型实施例的显示装置的结构示意图，本实施例的显示装置可以是OLED显示装置，或者包括但不限于LCD等其他显示装置。显示装置包括基板110、多个像素P、多条数据线D1、D2、D3、…、D(i-1)、Di、D(i+1)、…、D(m-2)、D(m-1)、Dm、测试电压线TD以及裂纹检测线CD。

基板110可以是刚性的，例如玻璃等，也可以是柔性的，例如聚酰亚胺(Polyimide，PI)薄膜等聚合物衬底或者包含PI等聚合物材料的衬底。基板110包括显示区111、在显示区111外周侧分布的非显示区112及沿非显示区112外周形成的外轮廓线113。

像素P是用于显示图像的最小单元，每个像素P例如可以是用于显示红、绿、蓝等任意一种颜色(也可以是白、青等其他颜色)的子像素，也可以是包括多个子像素的像素单元。多个像素P设置在基板110的显示区111内。多个像素P可以在显示区111内按阵列排布，例如在行方向或列方向上等间距排布，从而形成多行或多列。

多条数据线D1至Dm(m≥2)与多个像素P连接，本实施例中多条数据线D1至Dm大致均沿列方向延伸，并且与多列像素P一一对应，每列像素P连接至对应的一条数据线上。

需要说明的是，显示装置还可以包括例如多个扫描线、多个电源线等其它公知的线结构，以及例如时序控制器、与扫描线连接的栅极驱动装置、与数据线连接的源极驱动装置等公知的装置，图中没有示出上述公知部分。

测试电压线TD可以设置于非显示区112内，当然在一些实施例中也可以设置在基板110外。

裂纹检测线CD的一端连接至测试电压线TD，裂纹检测线CD的另一端通过开关元件与多条数据线D1至Dm中的至少一条连接，其中，裂纹检测线CD的全部或至少一部分位于基板110的非显示区112内。

在本实施例中，裂纹检测线CD与数据线之间的开关元件为第一晶体管T1，第一晶体管T1中包括源极、漏极以及栅极，第一晶体管T1的源极、漏极中的其中一个连接至裂纹检测线CD，第一晶体管T1的源极、漏极中的另一个连接至多条数据线D1至Dm中的其中一条，显示装置还包括测试控制线TG，多个第一晶体管T1的栅极连接至测试控制线TG，使得测试控制线TG给到第一晶体管T1的栅极的电位信号可以控制裂纹检测线CD与对应数据线之间的通断。

在本实施例中，裂纹检测线CD例如是两条，两条裂纹检测线CD在基板110上对称布置。其中一条裂纹检测线CD通过开关元件连接至数据线D2，另一条裂纹检测线CD通过开关元件连接至数据线D(m-1)。可以理解的是，裂纹检测线CD的数量不限于此，并且与多条数据线D1至Dm的对应关系也可以根据实际需要设置。

在一些实施例中，多条数据线D1至Dm中的除上述与裂纹检测线CD连接的数据线D2、数据线D(m-1)外，其它数据线均可以通过开关元件连接至测试电压线TD。其它数据线与测试电压线TD之间的开关元件可以为第二晶体管T2，第二晶体管T2中包括源极、漏极以及栅极，第二晶体管T2的源极、漏极中的其中一个连接至测试电压线TD，第二晶体管T2的源极、漏极中的另一个连接至上述其它数据线中的其中一条。第二晶体管T2的栅极也可以连接至测试控制线TG，使得测试控制线TG给到第二晶体管T2的栅极的电位信号可以控制测试电压线TD与对应数据线之间的通断。

本实用新型实施例的检测过程可以在面板测试(Cell Test)过程中同时进行，从而及早发现裂纹，避免后续工艺资源的浪费。

检测过程中，测试控制线TG将预定的电位信号提供至第一晶体管T1的栅极、第二晶体管T2的栅极，使得裂纹检测线CD与对应数据线、测试电压线TD与对应数据线分别导通。测试电压线TD提供预定的显示信号，第一晶体管T1导通、第二晶体管T2导通时，各数据线连接的列像素P根据测试电压线TD提供的预定显示信号正常显示。当显示区111内出现缺陷使得其中一个数据线断裂或阻值变化时，与该数据线连接的列像素P(例如一部分列像素P)显示异常；当非显示区112内出现例如裂纹等缺陷使得裂纹检测线CD断裂或阻值变化时，与该裂纹检测线CD对应的数据线所连接的列像素P(例如整列像素P)显示异常。根据上述各数据线对应列像素P的显示情况，可以及时判断显示区111和非显示区112内是否出现缺陷。

测试电压线TD的数量可以是一个也可以是两个以上，测试控制线TG可以是一个也可以是两个以上，例如在本实施例中，包括两条测试电压线TD以及两条测试控制线TG(例如，晶体管T1和T2的栅极可以分别连接不同的测试控制线，使得晶体管T1和T2可以分开控制)，数据线D1至Dm可以分别与多个测试电压线TD和/或多个测试控制线TG分散对应，从而提高检测效率。

根据本实用新型实施例的显示装置，裂纹检测线CD的全部或至少一部分位于基板110的非显示区112内，裂纹检测线CD包括最靠近外轮廓线113的第一段CDa，第一段CDa与外轮廓线113的间距d为110微米至500微米，可以是140微米，或者200微米，或者320微米，或者480微米。

上述关于裂纹检测线CD的设计使得分割显示装置母板得到显示装置的过程后，裂纹检测线CD与外轮廓线113即分割线的间距能够保证裂纹检测线CD在面板产生裂纹时及时断裂或阻值改变，从而更高效及时检测到面板从分割边内延的裂纹。

进一步地，第一段CDa与外轮廓线113的间距d可以设置为120微米至280微米。在进一步地，第一段CDa与外轮廓线113的间距d可以设置为130微米至150微米，例如是130微米、或者140微米、或者150微米，使得裂纹检测线CD能检测非显示区裂纹的同时，裂纹检测线CD与外轮廓线113之间处于较近的距离，便于实现显示装置的窄边框设计。

本实施例中，第一段CDa与基板110的部分外轮廓线113平行。在一些实施例中，裂纹检测线CD还可以包括与第一段CDa连接的第二段CDb，第二段CDb位于第一段CDa靠近显示区111的一侧，第二段CDb可以与第一段CDa平行。

本实施例的测试电压线TD以及开关元件位于基板110的非显示区112内的同一侧(例如位于屏体或基板110的下台阶区域)，使得裂纹检测线CD的两端位于基板110的同一侧，裂纹检测线CD的图案可以为对折线。

进一步地，在一些实施例中，显示装置还可以包括封装层以及触控层。其中，封装层设置于基板110上，触控层设置于封装层上。裂纹检测线CD的其中一段设置于基板110内，裂纹检测线CD的其中另一段设置于触控层内。例如，裂纹检测线CD的第一段CDa设置于基板110内，裂纹检测线CD的第二段CDb设置于触控层内，当然在其它实施例中，裂纹检测线CD的各段也可以是其它布置方式。

根据上述实施例的显示装置，裂纹检测线CD可以在基板110、触控层均布置走线，使得基板110、封装层、触控层的任意层出现裂纹缺陷时，显示装置的裂纹检测线CD均能有效检测到，进一步提高裂纹检测效率。

裂纹检测线CD可以采用阵列(array)段金属，例如钼(Mo)、Ti-Al-Ti材料等，主要以钼(Mo)金属为主。裂纹检测线CD也可以采用触控(TP)段金属，例如钼(mo)、Ti-Al-Ti材料等，主要以Ti-Al-Ti材料为主。采用触控段金属可以容易地检测TFE(薄膜封装)封装引起的裂纹。

在一些实施例中，基板110以及触控层均包括至少一层布线层，每层布线层内设有布线，位于基板110内的一段裂纹检测线CD与基板110的至少一层布线层同层设置；位于触控层内的一段裂纹检测线CD与触控层的至少一层布线层同层设置。

裂纹检测线CD可以采用柔韧性较差的金属制成，例如采用钼金属。其中，裂纹检测线CD的线宽与同层的布线层内的布线的线宽之差小于或者等于3微米。裂纹检测线CD的线距与同层的布线层内的布线的线距之差小于或者等于3微米。从而能够保持裂纹检测线CD的断裂灵敏度以及与各布线层的匹配度。

本实用新型实施例还提供一种显示装置母板，其例如包括多个上述实施例的显示装置，任意相邻显示装置之间设有分割线，分割线与基板110的外轮廓线113对应。根据该实施例的显示装置母板，裂纹检测线CD的至少一部分位于基板110的非显示区112内，裂纹检测线CD包括最靠近外轮廓线113即分割线的第一段CDa，第一段CDa与外轮廓线113的间距d为110微米至500微米。上述关于裂纹检测线CD的设计使得采用切割等分割方式分割显示装置母板得到显示装置后，裂纹检测线CD与外轮廓线113即分割线的间距能够保证裂纹检测线CD在面板产生裂纹时及时断裂或阻值改变，从而更高效及时检测到面板从切割边内延的裂纹。

依照本实用新型如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种显示装置，其特征在于，包括：

基板，具有显示区、在所述显示区外周侧分布的非显示区及沿所述非显示区外周形成的外轮廓线；

多个像素，位于所述基板的显示区内；

多条数据线，与所述多个像素连接；

测试电压线；以及

裂纹检测线，所述裂纹检测线的一端连接至所述测试电压线，所述裂纹检测线的另一端通过开关元件与所述多条数据线中的至少一条连接，

其中，所述裂纹检测线的至少一部分位于所述基板的非显示区内，所述裂纹检测线包括最靠近所述外轮廓线的第一段，所述第一段与所述外轮廓线的间距为110微米至500微米。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一段与所述外轮廓线的间距为120微米至280微米。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一段与所述外轮廓线的间距为130微米至150微米。

4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述第一段与所述基板的部分外轮廓线平行，所述裂纹检测线还包括与所述第一段连接的第二段，所述第二段位于所述第一段靠近所述显示区的一侧，所述第二段与所述第一段平行。

5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述测试电压线以及所述开关元件位于所述基板的非显示区内的同一侧，所述裂纹检测线的图案为对折线。

6.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括：

封装层，设置于所述基板上；以及

触控层，设置于所述封装层上，

其中，所述裂纹检测线的其中一段设置于所述基板内，所述裂纹检测线的其中另一段设置于所述触控层内。

7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述基板以及所述触控层均包括至少一层布线层，每层布线层内设有布线，

位于所述基板内的一段所述裂纹检测线与所述基板的至少一层布线层同层设置；

位于所述触控层内的一段所述裂纹检测线与所述触控层的至少一层布线层同层设置。

8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述裂纹检测线的线宽与同层的布线层内的布线的线宽之差小于或等于3微米；所述裂纹检测线的线距与同层的布线层内的布线的线距之差小于或等于3微米。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述开关元件为晶体管，所述晶体管包括源极、漏极以及栅极，所述裂纹检测线连接至所述晶体管的源极、漏极中的其中一个，所述数据线连接至所述晶体管的源极、漏极中的另一个，

所述显示装置还包括：

测试控制线，连接至所述晶体管的栅极。

10.一种显示装置母板，其特征在于，包括多个根据权利要求1至9中任一项所述的显示装置，任意相邻所述显示装置之间设有分割线，所述分割线与所述基板的所述外轮廓线对应。