CN111128064B - 检测电路、显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示技术领域，提出一种检测电路，用于检测显示面板，显示面板包括位于显示区的通孔，检测电路包括第一检测线、第一开关单元、第一检测引脚、第二检测引脚。第一检测线包括第一端、第二端以及位于第一端和第二端之间的第一延伸部，至少部分第一延伸部位于通孔的周围；第一开关单元设置于显示面板的边沿走线区，第一开关单元的第一端连接第一检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；第一检测引脚设置于显示面板的边沿走线区，连接第一检测线的第二端；第二检测引脚设置于显示面板的边沿走线区，连接第一开关单元的控制端。本检测电路能够检测显示面板位于通孔位置处是否出现裂纹。

Description

检测电路、显示面板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路、显示面板。

背景技术

随着手机等显示装置全屏化的发展，如何隐藏前置摄像头成为一亟待解决的问题。相关技术通常采用在显示面板显示区钻孔放置摄像头的方法隐藏摄像头。

然而，在显示面板生产过程中，显示面板上的钻孔位置容易出现裂纹，由于该钻孔位置处还设置有信号线，因此钻孔位置处的裂纹容易造成显示面板中信号线的断裂，从而造成显示异常。

需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测电路、显示面板。该检测电路能够检测钻孔位置处是否出现裂纹。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，提供一种检测电路，用于检测显示面板，所述显示面板包括位于显示区的通孔，所述检测电路包括：第一检测线、第一开关单元、第一检测引脚、第二检测引脚。第一检测线包括第一端、第二端以及位于所述第一端和第二端之间的第一延伸部，至少部分所述第一延伸部位于所述通孔的周围；第一开关单元设置于所述显示面板的边沿走线区，所述第一开关单元的第一端连接所述第一检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；第一检测引脚设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第一检测线的第二端；第二检测引脚设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第一开关单元的控制端。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一检测线还包括第二延伸部和第三延伸部，第二延伸部位于所述显示面板的边沿走线区，所述第一检测线的第一端通过所述第二延伸部与所述第一延伸部的一端连接；第三延伸部位于所述显示面板的边沿走线区，所述第一检测线的第二端通过所述第三延伸部与所述第一延伸部的另一端连接。

本发明的一种示例性实施例中，所述第二延伸部和所述第三延伸部延伸到整个边沿走线区，以环绕所述显示区。

本发明的一种示例性实施例中，所述第二延伸部和所述第三延伸部延伸到部分边沿走线区，所述检测电路还包括：第二检测线、第二开关单元、第三检测引脚、第四检测引脚。第二检测线延伸到其他部分所述边沿走线区；第二开关单元设置于所述显示面板的边沿走线区，所述第二开关单元的第一端连接所述第二检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；第三检测引脚设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第二检测线的第二端；第四检测引脚设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第二开关单元的控制端。

本发明的一种示例性实施例中，所述第二检测线的第二端连接所述第一检测线的第二端；所述第一开关单元的控制端连接所述第二开关单元的控制端。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测电路还包括：多个第三开关单元和至少一个第五检测引脚。多个第三开关单元与所述显示面板剩余的数据线一一对应设置，所述第三开关单元的第一端连接所述数据线，控制端连接所述第一开关单元的控制端；至少一个第五检测引脚连接每个所述第三开关单元的第二端。

本发明的一种示例性实施例中，所述通孔周围设置有环形边框区，所述环形边框区包括由内径向外径依次分布的第一裂纹阻挡坝、第一封装液阻挡坝、环形走线区、所述第一延伸部包括：环形部、第一连接部、第二连接部。环形部设置于所述第一裂纹阻挡坝和第一封装液阻挡坝之间，围绕部分所述通孔设置，且位于所述显示面板的栅极层；第一连接部位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部的一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝、环形走线区、显示区内的像素区、以延伸至边沿走线区；第二连接部位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部的另一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝、环形走线区、显示区内的像素区、以延伸至边沿走线区。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一连接部和所述第二连接部位于所述显示面板像素单元之间。

本发明的一种示例性实施例中，所述边沿走线区包括由内向外依次分布的搭接区、第二封装液阻挡坝、第二裂纹阻挡坝；所述第三延伸部位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第一连接部连接，且通过搭接区、第二封装液阻挡坝延伸至所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间，以连接位于所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间的第一检测端子；所述第一检测端位于所述显示面板的源/漏层，通过过孔连接所述第一检测引脚；所述第三延伸部位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第一连接部连接，且通过搭接区、第二封装液阻挡坝延伸至所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间，以连接第一开关单元的第一端。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板，其特征在于，包括上述的检测电路。

本公开提出一种检测电路，用于检测显示面板，显示面板包括位于显示区的通孔，检测电路包括第一检测线、第一开关单元、第一检测引脚、第二检测引脚。第一检测线包括第一端、第二端以及位于第一端和第二端之间的第一延伸部，至少部分第一延伸部位于通孔的周围；第一开关单元设置于显示面板的边沿走线区，第一开关单元的第一端连接第一检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；第一检测引脚设置于显示面板的边沿走线区，连接第一检测线的第二端；第二检测引脚设置于显示面板的边沿走线区，连接第一开关单元的控制端。本公开提供的检查电路可以向第一检测引脚输入低亮度信号(该显示面板中像素驱动电路的数据信号电平越低像素单元发光强度越高，此处低亮度信号可以为高电平)，向第二检测引脚输入导通信号。当通孔位置未出现裂纹时，第一检测线第一端和第二端导通，第一检测引脚能够通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，以使与该数据线连接的像素单元处于低亮度状态。当通孔位置出现裂纹时，第一检测线的第一端和第二端断开，第一检测引脚不能通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，数据线上的电位下降，从而与该数据线连接的像素单元亮度增高。因此，该检测电路可以通过像素单元的发光亮度判断通孔位置处是否出现裂纹。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图；

图2为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图3为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图4为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图5为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图；

图6为图1中通孔位置处的局部放大图；

图7为图6中A-A处的部分剖视图；

图8为本公开检测电路中第一连接部和第二连接部的分布图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。

本示例性实施例首先提供一种检测电路，如图1所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的结构示意图，该检测电路用于检测显示面板，所述显示面板包括位于显示区1的通孔2，所述检测电路包括：第一检测线、第一开关单元41、第一检测引脚51、第二检测引脚52。第一检测线包括第一端、第二端以及位于所述第一端和第二端之间的第一延伸部31，至少部分所述第一延伸部31位于所述通孔2的周围；第一开关单元41设置于所述显示面板的边沿走线区7，所述第一开关单元41的第一端连接所述第一检测线的第一端，第二端连接一条数据线81；第一检测引脚51设置于所述显示面板的边沿走线区7，连接所述第一检测线的第二端；第二检测引脚52设置于所述显示面板的边沿走线区7，连接所述第一开关单元41的控制端。

本公开提供的检查电路可以向第一检测引脚输入低亮度信号(该显示面板中像素驱动电路的数据信号电平越低像素单元发光强度越高，此处低亮度信号可以为高电平)，向第二检测引脚输入导通信号。当通孔位置未出现裂纹时，第一检测线第一端和第二端导通，第一检测引脚能够通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，以使与该数据线连接的像素单元处于低亮度状态。当通孔位置出现裂纹时，第一检测线的第一端和第二端断开，第一检测引脚不能通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，数据线上的电位下降，从而与该数据线连接的像素单元亮度增高。因此，该检测电路可以通过像素单元的发光亮度判断通孔位置处是否出现裂纹。

本示例性实施例中，通孔可以用于设置摄像头。显示区指显示面板设置有像素单元的区域，边沿走线区指位于显示区周围的区域，边沿走线区通常用于设置显示面板栅极驱动电路、检测电路、信号走线等。第一开关单元41的第二端还可以连接多条数据线。所述第一开关单元用于在显示面板裂纹检测阶段导通，在非检测阶段关断，从而避免了显示面板在正常发光阶段，第一检测引脚电压对像素单元发光造成影响。其中，第一开关单元可以为开关晶体管，例如，开关晶体管可以为N型开关晶体管也可以为P型开关晶体管。第一检测引脚和第二检测引脚可以位于显示面板的表面，从而可以通过外接设备向第检测引脚输入低亮度信号，向第二检测引脚输入导通信号。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第一检测线还可以包括第二延伸部32和第三延伸部33，第二延伸部32位于所述显示面板的边沿走线区7，所述第一检测线的第一端通过所述第二延伸部32与所述第一延伸部的一端连接；第三延伸部33位于所述显示面板的边沿走线区7，所述第一检测线的第二端通过所述第三延伸部33与所述第一延伸部的另一端连接。该检测电路还可以检测显示面板的边沿走线区是否出现裂纹。其中，当边沿走线区未出现裂纹时，第一检测线第一端和第二端导通，第一检测引脚能够通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，以使与该数据线连接的像素单元处于低亮度状态。当边沿走线区出现裂纹时，第二延伸部32和第三延伸部33任意位置发生断裂，第一检测线的第一端和第二端断开，第一检测引脚不能通过第一检测线向数据线发送低亮度信号，从而与该数据线连接的像素单元亮度增高。

本示例性实施例中，如图1所示，所述第二延伸部32和第三延伸部33可以均沿边沿走线区7逆时针延伸，以覆盖左半侧边沿走线区。应该理解的是，在其他示例性实施例中，所述第二延伸部32和第三延伸部33还可以具有更多的延伸方式。例如，如图2所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图，第二延伸部32沿边沿走线区逆时针延伸，第三延伸部33沿边沿走线区顺时针延伸，所述第二延伸部32和所述第三延伸部33延伸到整个边沿走线区7，以环绕所述显示区。图2中的检查电路能够检测整个边沿走线区是否出现裂纹。

本示例性实施例中，如图3所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图，所述第二延伸部32和所述第三延伸部33延伸到部分边沿走线区7。所述检测电路还可以包括：第二检测线6、第二开关单元42、第三检测引脚53、第四检测引脚54。第二检测线6延伸到其他部分所述边沿走线区；第二开关单元42设置于所述显示面板的边沿走线区7，所述第二开关单元42的第一端连接所述第二检测线6的第一端，第二端连接一条数据线82；第三检测引脚53设置于所述显示面板的边沿走线区7，连接所述第二检测线6的第二端；第四检测引脚54设置于所述显示面板的边沿走线区7，连接所述第二开关单元42的控制端。本示例性实施例提供的检查电路可以检测第二检测线6延伸位置处边沿走线区是否出现裂纹。本公开提供的检查电路可以向第三检测引脚输入低亮度信号，向第四检测引脚输入导通信号。当通该边沿走线区未出现裂纹时，第二检测线6第一端和第二端导通，第三检测引脚能够通过第二检测线向数据线发送低亮度信号，以使与该数据线82连接的像素单元处于低亮度状态。当该边沿走线区出现裂纹时，第二检测线6任意位置断裂，第二检测线6的第一端和第二端断开，第三检测引脚不能通过第二检测线向数据线82发送低亮度信号，数据线上的电位下降，从而与该数据线连接的像素单元亮度增高。因此，该检测电路可以通过像素单元的发光亮度判断该边沿走线区是否出现裂纹。

本示例性实施例中，如图4所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图，所述第二检测线6的第二端可以连接所述第一检测线3的第二端；所述第一开关单元41的控制端可以连接所述第二开关单元42的控制端。第一检测引脚51和第三检测引脚53均可以向第一检测线3的第二端和第二检测线6的第二端输入低亮度信号，第一检测引脚51和第三检测引脚53形成冗余设置，从而提高该检测电路的稳定性。第二检测引脚52和第四检测引脚54均可以向第一开关单元和第二开关单元的控制端输入导通信号。第二检测引脚52和第四检测引脚54形成冗余设置，从而提高该检测电路的稳定性。

本示例性实施例中，如图4所示，第一检测引脚51、第三检测引脚53、第二检测引脚52和第四检测引脚54可以设置于显示区的同一侧。第一检测线3和第二检测线6在边沿走线区的分布可以为双线并排延伸，当并排延伸的双线中任意一条断裂时，即可检测出边沿走线区出现裂纹，从而提高了裂纹的检出效率。如图1、2、3、4所示，第一检测线和第二检测线均沿直线延伸，应该理解的是，在其他示例性实施例中，第一检测线和第二检测线还可以弯折延伸，第一检测线和第二检测线弯折延伸可以增加单位面积内第一检测线或第二检测线的长度，当显示面板出现裂纹时，单位面积内第一检测线或第二检测线的长度越长，第一检测线或第二检测线越容易发生断裂，因此将第一检测线和第二检测线弯折设置可以提高了裂纹的检出效率。

本示例性实施例中，如图5所示，为本公开检测电路另一种示例性实施例的结构示意图。所述检测电路还可以包括：多个第三开关单元43和两个第五检测引脚55。多个第三开关单元43与所述显示面板剩余的数据线83一一对应设置，所述第三开关单元43的第一端连接所述数据线83，控制端连接所述第一开关单元41的控制端；两第五检测引脚55连接每个所述第三开关单元的第二端。其中，当检测电路处于检测阶段时，该检测电路可以通过两第五检测引脚55向显示面板中除过数据线81、82以外剩余下的数据线83提供低亮度信号，以使与数据线83连接像素单元处于低亮度状态。在该检测电路检测过程中，显示面板出现裂纹时，与数据线81或82连接的像素单元亮度增高，从而形成明显的黑色条纹。该检测电路能够通过人眼更加清楚的分辨出显示面板是否发生裂纹。其中，第五检测引脚55的个数还可以为其他数量。

本示例性实施例中，如图6、7所示，图6为图1中通孔位置处的局部放大图，图7为图6中A-A处的部分剖视图。所述通孔周围设置有环形边框区，所述环形边框区可以包括由内径向外径依次分布的第一裂纹阻挡坝91、第一封装液阻挡坝92、环形走线区93、所述第一延伸部包括31：环形部311、第一连接部312、第二连接部313。环形部311可以设置于所述第一裂纹阻挡坝91和第一封装液阻挡坝92之间，围绕部分所述通孔2设置，且位于所述显示面板的栅极层；第一连接部312可以位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部311的一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝92、环形走线区93、显示区内的像素区94，以延伸至边沿走线区；第二连接部313可以位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部的另一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝92、环形走线区93、显示区内的像素区94、以延伸至边沿走线区。其中，第一裂纹阻挡坝91用于阻挡显示面板上裂纹延伸，第一封装液阻挡坝92用于阻挡显示面板封装液外流，环形走线区93用于分布栅线和数据线。

本示例性实施例中，第一连接部312、第二连接部313需要穿过环形走线区93，环形走线区93内分布有栅线和数据线，因此将第一连接部312、第二连接部313设置于阳极层可以避免第一连接部312、第二连接部313与栅线、数据线交叉。此外，如图8所示，为本公开检测电路中第一连接部和第二连接部的分布图。其中，由于像素单元位置处存在阳极，因此，为了避免第一连接部312、第二连接部313和像素单元本身的阳极短路，第一连接部312和第二连接部313需要位于所述显示面板像素单元之间。

本示例性实施例中，由于栅极层位于显示面板内部较深位置，环形部311位于所述显示面板的栅极层，从而可以检测显示面板内部较深位置处是否出现裂纹。应该理解的是，环形部311还可以为其他导电层，例如，源漏层。同样的，第一连接部312和第二连接部313还可以位于其他导电层，例如遮光金属层、阴极层等。

本示例性实施例中，如图6、7所示，所述边沿走线区可以包括由内向外依次分布的搭接区71、第二封装液阻挡坝72、第二裂纹阻挡坝73；所述第三延伸部33位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第一连接部312连接，且通过搭接区71、第二封装液阻挡坝72延伸至所述第二封装液阻挡坝72和第二裂纹阻挡坝73之间，以连接位于所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间的第一检测端子(未画出)；所述第一检测端位于所述显示面板的源/漏层，通过过孔连接所述第一检测引脚51；所述第二延伸部32位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第二连接部313连接，且通过搭接区71、第二封装液阻挡坝72延伸至所述第二封装液阻挡坝72和第二裂纹阻挡坝73之间，以连接第一开关单元的第一端。其中，搭接区71用于源漏层、阳极层、阴极层搭接。第二裂纹阻挡坝73用于阻挡显示面板上裂纹延伸，第二封装液阻挡坝72用于阻挡显示面板封装液外流。由于搭接区71内源漏层、阳极层、阴极层会相互搭接，因此，需要将第二延伸部32和第三延伸部33设置于栅极层，以避免第二延伸部32和第三延伸部33与阳极层中其他走线短路。

本示例性实施例还提供一种显示面板，其特征在于，包括上述的检测电路。该显示面板可以应用于手机、平板电脑等显示装置。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (7)

1.一种检测电路，用于检测显示面板，所述显示面板包括位于显示区的通孔，其特征在于，所述检测电路包括：

第一检测线，包括第一端、第二端以及位于所述第一端和第二端之间的第一延伸部，至少部分所述第一延伸部位于所述通孔的周围；

第一开关单元，设置于所述显示面板的边沿走线区，所述第一开关单元的第一端连接所述第一检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；

第一检测引脚，设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第一检测线的第二端；

第二检测引脚，设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第一开关单元的控制端；

所述第一检测线还包括：

第二延伸部，位于所述显示面板的边沿走线区，所述第一检测线的第一端通过所述第二延伸部与所述第一延伸部的一端连接；

第三延伸部，位于所述显示面板的边沿走线区，所述第一检测线的第二端通过所述第三延伸部与所述第一延伸部的另一端连接；

所述通孔周围设置有环形边框区，所述环形边框区包括由内径向外径依次分布的第一裂纹阻挡坝、第一封装液阻挡坝、环形走线区、所述第一延伸部包括：

环形部，设置于所述第一裂纹阻挡坝和第一封装液阻挡坝之间，围绕部分所述通孔设置，且位于所述显示面板的栅极层；

第一连接部，位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部的一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝、环形走线区、显示区内的像素区、以延伸至边沿走线区；

第二连接部，位于所述显示面板阳极层，通过过孔连接所述环形部的另一端，且穿过所述第一封装液阻挡坝、环形走线区、显示区内的像素区、以延伸至边沿走线区；

所述边沿走线区包括由内向外依次分布的搭接区、第二封装液阻挡坝、第二裂纹阻挡坝；

所述第三延伸部位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第一连接部连接，且通过搭接区、第二封装液阻挡坝延伸至所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间，以连接位于所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间的第一检测端子；

所述第一检测端位于所述显示面板的源/漏层，通过过孔连接所述第一检测引脚；

所述第三延伸部位于所述显示面板的栅极层，通过过孔与第一连接部连接，且通过搭接区、第二封装液阻挡坝延伸至所述第二封装液阻挡坝和第二裂纹阻挡坝之间，以连接所述第一开关单元的第一端。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第二延伸部和所述第三延伸部延伸到整个边沿走线区，以环绕所述显示区。

3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第二延伸部和所述第三延伸部延伸到部分边沿走线区，所述检测电路还包括：

第二检测线，延伸到其他部分所述边沿走线区；

第二开关单元，设置于所述显示面板的边沿走线区，所述第二开关单元的第一端连接所述第二检测线的第一端，第二端连接至少一条数据线；

第三检测引脚，设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第二检测线的第二端；

第四检测引脚，设置于所述显示面板的边沿走线区，连接所述第二开关单元的控制端。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第二检测线的第二端连接所述第一检测线的第二端；

所述第一开关单元的控制端连接所述第二开关单元的控制端。

5.根据权利要求1-4任一项所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

多个第三开关单元，与所述显示面板剩余的数据线一一对应设置，所述第三开关单元的第一端连接所述数据线，控制端连接所述第一开关单元的控制端；

至少一个第五检测引脚，连接每个所述第三开关单元的第二端。

6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一连接部和所述第二连接部位于所述显示面板像素单元之间。

7.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的检测电路。

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