CN111627366B - 显示面板及显示面板的检测方法 - Google Patents

显示面板及显示面板的检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种显示面板，通过在通孔区周围增加一个检测电路，并且连接子像素，通过观看子像素的差异进而是判定否有裂纹发生，进而可以避免后续制程造成浪费以及提高面板的信赖性。当所述控制电路输入控制信号并开启所述检测薄膜晶体管。若所述第一金属线与所述第二金属线信号无异常，所述第一数据线与所述第二数据线短路，两列像素的数据信号相同，显示相同灰阶画面，则所述通孔区外围电路正常；若所述第一金属线与所述第二金属线信号信号中断，所述第一数据线与所述第二数据线互不干扰，两列像素的数，信号有差异，显示不同灰阶画面，则所述通孔区外围电路异常，则面板报废。

Description

显示面板及显示面板的检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是一种显示面板及显示面板的检测方法。
背景技术
全面屏是OLED显示技术开发的目标之一，屏下摄像头技术可以在现有技术水平上进一步提升屏占比，达到完美的全面屏设计,当前屏下摄像头技术主要为通孔、盲孔结构。通孔设计需要把摄像头区域基板全部切割掉，存在切割裂纹延伸至面板内走线区，影响面板信赖性的风险。
发明内容
本发明的目的是，提供一显示面板，用以检测摄像头通孔区周围是否断线，提高面板的信赖性。
本发明提供一种显示面板，包括:显示区以及围绕所述显示区的通孔区；所述显示区包括第一数据线以及第二数据线，所述第一数据线以及所述第二数据线设置在所述通孔区的两侧；在所述通孔区的边缘设置一检测薄膜晶体管，所述检测薄膜晶体管的栅极连接一控制电路，所述检测薄膜晶体管的源极与漏级分别连接所述第一数据线以及所述第二数据线。
进一步地，所述检测薄膜晶体管的栅极通过一外围走线连接所述控制电路。
进一步地，所述控制电路集成于驱动IC或单片机。
进一步地，所述源极通过第一金属线连接所述第一数据线；所述漏级通过第二金属线连接所述第二数据线。
进一步地，所述第一金属线设于所述第一数据线与所述通孔区之间；所述第二金属线设于所述第二数据线与所述通孔区之间。
进一步地，所述第一金属线与所述第二金属线分别设于所述通孔区的两侧。
进一步地，所述检测薄膜晶体管设于所述显示面板的介电层中。
进一步地，所述第一金属线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述第一数据线；所述第二金属线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述第二数据线。
进一步地，所述外围走线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述控制电路。
本发明还提供一种显示面板的检测方法，包括：提供所述的显示面板；通过所述控制电路输入控制信号并开启所述检测薄膜晶体管；若所述第一金属线与所述第二金属线的信号无异常，所述第一数据线与所述第二数据线短路，两列像素的数据信号相同，显示相同灰阶画面，则所述通孔区外围电路正常；若所述第一金属线与所述第二金属线的信号中断，所述第一数据线与所述第二数据线互不干扰，两列像素的数据信号有差异，显示不同灰阶画面，则所述通孔区外围电路异常。
本发明的有益效果是：本发明提供一种显示面板，通过在通孔区周围增加一个电路设计，并且连接子像素，通过观看子像素的差异进而是判定否有裂纹发生，进而可以避免后续制程造成浪费以及提高面板的信赖性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。
图1为本发明提供显示面板的平面示意图；
图2为本发明提供的显示面板检测电路的电路图；
图3为本发明提供的显示面板的结构示意图；
显示面板100；显示区110；通孔区120；
第一数据线101；第二数据线102；检测薄膜晶体管103；
第一金属线104；第二金属线105；外围走线106；
基板201；缓冲层202；介电层203；
阳极层204；半导体层211；第一栅极212；
第二栅极213；源漏极层214。
具体实施方式
为了更好地理解本发明的内容，下面通过具体的实施例对本发明作进一步说明，但本发明的实施和保护范围不限于此。
以下实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、
「左」、「右」、「顶」、「底」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
如图1以及图2所示，本发明提供一种显示面板100，包括:显示区110以及通孔区120，所述显示区110围绕所述通孔区120。
所述显示区110包括第一数据线101以及第二数据线102，所述第一数据线101以及所述第二数据线102设置在所述通孔区120的两侧。
在走线的时候，第一数据线101以及第二数据线102在所述通孔区120的两侧的形状为半圆形，这是因为通孔区120开设通孔的原因，走线需要避开通孔。
所述第一数据线101以及所述第二数据线102连接相应的子像素，所述第一数据线101以及所述第二数据线102可以使相邻的数据线，也可以为间隔的数据线。
在所述通孔区120的边缘设置一检测薄膜晶体管103，所述检测薄膜晶体管103的栅极连接一控制电路，所述检测薄膜晶体管103的源极与漏级分别连接所述第一数据线101以及所述第二数据线102。
所述检测薄膜晶体管103的栅极通过一外围走线106连接所述控制电路。
所述控制电路集成于驱动IC或单片机。
所述源极通过第一金属线104连接所述第一数据线101；所述漏级通过第二金属线105连接所述第二数据线102。
所述第一金属线104设于所述第一数据线101与所述通孔区120之间；所述第二金属线105设于所述第二数据线102与所述通孔区120之间。
所述第一金属线104与所述第二金属线105分别设于所述通孔区120的两侧。
本发明通过在通孔区120周围设置检测电路，当所述控制电路输入控制信号并开启所述检测薄膜晶体管103。若所述第一金属线104与所述第二金属线105信号无异常，所述第一数据线101与所述第二数据线102短路，两列像素的数据信号相同，显示相同灰阶画面，则所述通孔区120外围电路正常；若所述第一金属线104与所述第二金属线105信号信号中断，所述第一数据线101与所述第二数据线102互不干扰，两列像素的数，信号有差异，显示不同灰阶画面，则所述通孔区120外围电路异常，则面板报废。
如图3所示，所述显示面板100的剖面层状结构包括：基板201、缓冲层202、介电层203以及阳极层204。
所述缓冲层202设于所述基板201上。所述介电层203设于所述缓冲层202上，所述阳极层204设于所述介电层203上。
所述检测薄膜晶体管103设于所述显示面板100的介电层中。所述检测薄膜晶体管103剖面结构包括：半导体层211、第一栅极212、第二栅极213、源漏极层214。
所述介电层203包括：第一栅极绝缘层2031、第二栅极绝缘层2032、层间绝缘层2033以及平坦化层2034。
所述半导体层211设于所述缓冲层202远离所述基板201的一侧；所述半导体层211的材料为多晶硅或单晶硅。
所述第一栅极绝缘层2031设于所述缓冲层202以及所述半导体层211上；所述第一栅极绝缘层2031主要起到将相邻的金属层之间绝缘的作用。
所述第一栅极212设于所述第一栅极绝缘层2031远离所述缓冲层202的一侧；所述第二栅极绝缘层2032设于所述第一栅极212以及所述第一栅极绝缘层2031上；所述第二栅极213设于所述第二栅极绝缘层2032远离所述第一栅极绝缘层2031的一侧。
所述层间绝缘层2033设于所述第二栅极绝缘层2032以及第二栅极213上；所述源漏极层214设于所述层间绝缘层2033远离所述第二栅极绝缘层2032的一侧。
所述平坦化层2034设于所述源漏极层214以及所述层间绝缘层2033上。
所述阳极层204设于所述介电层203远离所述缓冲层202的一侧且连接所述介电层203。
所述像素限定层105，设于所述阳极层204以及所述介电层203上，其中，所述像素限定层205具有一开口206，所述阳极层204暴露于所述开槽206中。
所述第一金属线104通过布线于所述显示面板100的栅极层(第一栅极212或第二栅极213)、源漏极层214或阳极层204的其中一层或多层中连接所述第一数据线。
具体地，所述第一金属线104通过所述显示面板100的栅极层进行走线；或，所述第一金属线104通过所述显示面板100的源漏极层214进行走线；或，所述第一金属线104通过所述显示面板100的阳极层204进行走线；或，所述第一金属线104通过栅极层换线至源漏极层214进行走线；或，所述第一金属线104通过栅极层换线至阳极层204进行走线；或，所述第一金属线104通过源漏极层214换线至阳极层204进行走线；或，所述第一金属线104通过栅极层换线至源漏极层214再换线至阳极层204进行走线。
所述第二金属线105通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层214或阳极层204的其中一层或多层中连接所述第二数据线102。
具体地，所述第二金属线105通过所述显示面板100的栅极层进行走线；或，所述第二金属线105通过所述显示面板100的源漏极层214进行走线；或，所述第二金属线105通过所述显示面板100的阳极层204进行走线；或，所述第二金属线105通过栅极层换线至源漏极层214进行走线；或，所述第二金属线105通过栅极层换线至阳极层204进行走线；或，所述第二金属线105通过源漏极层214换线至阳极层204进行走线。或，所述第二金属线105通过栅极层换线至源漏极层214再换线至阳极层204进行走线。
所述外围走线106通过所述显示面板100的栅极层、源漏极层214或阳极层204一种或多种走线的方式连接所述控制电路。
所述外围走线106通过布线于所述显示面板100的栅极层、源漏极层214或阳极层204的其中一层或多层中连接所述控制电路。
所述外围走线106通过所述显示面板100的栅极层进行走线；或，所述外围走线106通过所述显示面板100的源漏极层214进行走线；或，所述外围走线106通过所述显示面板100的阳极层204进行走线；或，所述外围走线106通过栅极层换线至源漏极层214进行走线；或，所述外围走线106通过栅极层换线至阳极层204进行走线；或，所述外围走线106通过源漏极层214换线至阳极层204进行走线。或，所述外围走线106通过栅极层换线至源漏极层214再换线至阳极层204进行走线。
本发明还提供一种显示面板的检测方法，包括：
S 1、提供所述的显示面板100。
S2、通过所述控制电路输入控制信号并开启所述检测薄膜晶体管103。
若所述第一金属线104与所述第二金属线105的信号无异常，所述第一数据线101与所述第二数据线102短路，两列像素的数据信号相同，显示相同灰阶画面，则所述通孔区120外围电路正常；进行S3步骤。
若所述第一金属线104与所述第二金属线105的信号中断，所述第一数据线101与所述第二数据线102互不干扰，两列像素的数据信号有差异，显示不同灰阶画面，则所述通孔区120外围电路异常，判定通孔周围具有裂纹，则面板报废。
S3、进行面板的弯折以及设置盖板的后续制程。
S4、进行步骤S2操作进行电路监测，若电路正常，则出货；若电路异常，则面板报废。
应当指出，对于经充分说明的本发明来说，还可具有多种变换及改型的实施方案，并不局限于上述实施方式的具体实施例。上述实施例仅仅作为本发明的说明，而不是对本发明的限制。总之，本发明的保护范围应包括那些对于本领域普通技术人员来说显而易见的变换或替代以及改型。

Claims (8)

1.一种显示面板，其特征在于，包括:显示区以及围绕所述显示区的通孔区；
所述显示区包括第一数据线以及第二数据线，所述第一数据线以及所述第二数据线设置在所述通孔区的两侧；
在所述通孔区的边缘设置一检测薄膜晶体管，所述检测薄膜晶体管的栅极连接一控制电路，所述检测薄膜晶体管的源极与漏级分别连接所述第一数据线以及所述第二数据线；
所述源极通过第一金属线连接所述第一数据线；所述第一金属线设于所述第一数据线与所述通孔区之间；
所述漏级通过第二金属线连接所述第二数据线；所述第二金属线设于所述第二数据线与所述通孔区之间。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述检测薄膜晶体管的栅极通过一外围走线连接所述控制电路。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述控制电路集成于驱动IC或单片机。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述第一金属线与所述第二金属线分别设于所述通孔区的两侧。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述检测薄膜晶体管设于所述显示面板的介电层中。
6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述第一金属线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述第一数据线；
所述第二金属线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述第二数据线。
7.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，还包括：
所述外围走线通过布线于所述显示面板的栅极层、源漏极层或阳极层的其中一层或多层中连接所述控制电路。
8.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
提供如权利要求1～7任一项所述的显示面板；
通过所述控制电路输入控制信号并开启所述检测薄膜晶体管；
若所述第一金属线与所述第二金属线的信号无异常，所述第一数据线与所述第二数据线短路，两列像素的数据信号相同，显示相同灰阶画面，则所述通孔区外围电路正常；
若所述第一金属线与所述第二金属线的信号中断，所述第一数据线与所述第二数据线互不干扰，两列像素的数据信号有差异，显示不同灰阶画面，则所述通孔区外围电路异常。
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