CN113112940A - 一种显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种显示面板,包括:显示区和包围在所述显示区四周的非显示区;所述显示面板沿第一方向上划分为至少两个检测区域;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边指向第二边的方向;所述非显示区设置多个裂纹检测线;所述裂纹检测线对应设置在所述非显示区的两侧;所述裂纹检测线沿所述第一方向延伸;所述非显示区一侧的各个所述裂纹检测线搭接的所述检测区域的个数递减;所述非显示区一侧的所述裂纹检测线的数量与所述检测区域的数量相同。在本发明实施例中,将显示面板划分为多个检测区域,对应设置多个裂纹检测线,能缩小发生的区域,更方便的定位裂纹发生的位置,降低人工检测时间,提高裂纹检测的效率。

Description

一种显示面板
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板。
背景技术
参照图1,为目前使用的显示面板的结构示意图,包括非显示区01、显示区02和裂纹检测线L;其中,裂纹检测线L围绕一圈设置在显示面板的非显示区01;对裂纹检测线L的电阻进行检测,当电阻异常时,得出显示面板具有裂纹的结论。
但是,上述显示面板检测裂纹的方式存在以下问题,只能检测出显示面板存在裂纹,但是对显示面板存在裂纹的位置无法定位,需要人为在显微镜下进行排查,定位裂纹;此外当对出现大量的裂纹进行定位时,还需要耗时排查不同位置的裂纹,进而影响裂纹检测的进程。
发明内容
本发明提供一种显示面板,以解决现有的显示面板无法定位裂纹,影响裂纹检测的进程的问题。
本发明第一方面提供一种显示面板,包括:显示区和包围在所述显示区四周的非显示区;
所述显示面板沿第一方向上划分为至少两个检测区域;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边指向第二边的方向;
所述非显示区设置多个裂纹检测线;所述裂纹检测线对应设置在所述非显示区的两侧;
所述裂纹检测线沿所述第一方向延伸;所述非显示区一侧的各个所述裂纹检测线搭接的所述检测区域的个数递减;所述非显示区一侧的所述裂纹检测线的数量与所述检测区域的数量相同。
可选地,所述显示面板包括:基板和薄膜晶体管层;
所述薄膜晶体管层设置在所述基板上;所述裂纹检测线设置在所述薄膜晶体管层中。
可选地,所述显示面板还包括:触控层;所述触控层设置在所述基板与所述薄膜晶体管层之间;所述裂纹检测线设置在所述触控层中。
可选地,所述裂纹检测线包括:并列设置的第一段检测线和第二段检测线;所述第一段检测线在所述第一边处的第一端,与所述第二段检测线在所述第一边处的第一端连接;所述第一段检测线在所述第二边处的第二端为第一检测端,所述第二段检测线在所述第二边处的第二端为第二检测端。
可选地,,通过测试第一检测端与第二检测端之间的电阻值,确定对应的所述裂纹检测线是否断裂。
可选地,所述显示区包括多个像素模块;所述非显示区对应设置多个驱动电路模块;所述像素模块与所述驱动电路模块一一对应连接;所述第一检测端用于接收检测信号;所述第二检测端与所述驱动电路模块一一对应连接;在所述裂纹检测线断裂时,对应的所述像素模块显示异常。
可选地,还包括开关、信号线;所述像素模块包括:四列像素单元;所述驱动电路模块包括:第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管;
所述开关分别与所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的栅极连接;
所述第二检测端与所述第一薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管的源极连接;所述第一薄膜晶体管的漏极与第一列像素单元连接;所述第三薄膜晶体管的漏极与第三列像素单元连接;
所述信号线与所述第二薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管的源极连接;所述第二薄膜晶体管的漏极与第二列像素单元连接;所述第四薄膜晶体管的漏极与第四列像素单元连接。
可选地,还包括:移位寄存器;所述移位寄存器和各行所述像素单元连接。
可选地,各个所述裂纹检测线的第一检测端互相连接。
可选地,所述非显示区两侧的所述裂纹检测线对称设置。
本发明实施例提供一种显示面板,包括:显示区和包围在所述显示区四周的非显示区;所述显示面板沿第一方向上划分为至少两个检测区域;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边指向第二边的方向;所述非显示区设置多个裂纹检测线;所述裂纹检测线对应设置在所述非显示区的两侧;所述裂纹检测线沿所述第一方向延伸;所述非显示区一侧的各个所述裂纹检测线搭接的所述检测区域的个数递减;所述非显示区一侧的所述裂纹检测线的数量与所述检测区域的数量相同。在本发明实施例中,将显示面板划分为多个检测区域,对应设置多个裂纹检测线,能缩小发生的区域,更方便的定位裂纹发生的位置,降低人工检测时间,提高裂纹检测的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是现有技术一种显示面板的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的一种显示面板的截面示意图;
图4是本发明实施例提供的另一种显示面板的截面示意图;
图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的再一种显示面板的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
参照图2示出本发明提供一种显示面板10的结构示意图,该显示面板包括:显示区10和包围在所述显示区四周的非显示区20;所述显示面板沿第一方向X上划分为至少两个检测区域Q;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边S1指向第二边S2的方向;所述非显示区20设置多个裂纹检测线21;所述裂纹检测线21对应设置在所述非显示区20的两侧;所述裂纹检测线21沿所述第一方向X延伸;所述非显示区20一侧的各个所述裂纹检测线21搭接的所述检测区域Q的个数递减;所述非显示区20一侧的所述裂纹检测线21的数量与所述检测区域Q{Q(a)-Q(d)}的数量相同。
参照图2,显示面板第一边S1和第二边S2相对设置;裂纹检测线21设置在非显示区20的两侧,能够分别对两侧的裂纹进行测试。具体而言,是通过测试各个裂纹检测线21是否断裂,来确定显示面板的对应位置是否有裂纹。
例如,在图2中,将显示面板沿第一方向X划分成Q(a)-Q(d)四个检测区域,则在非显示区20的一侧设置四个裂纹检测线21{21(a)-21(d)或21(e)-21(h)}。其中,一侧的四个裂纹检测线21{21(a)-21(d)或21(e)-21(h)}搭接的检测区域的个数递减,裂纹检测线21(a)搭接四个检测区域Q{Q(a)至Q(d)},裂纹检测线21(b)搭接三个检测区域Q{Q(b)至Q(d)},裂纹检测线21(c)搭接二个检测区域Q{Q(c)至Q(d)},裂纹检测线21(d)搭接一个检测区域Q(d)。另一侧的四个裂纹检测线21{21(e)-21(h)}搭接方式与{21(a)-21(d)}相同,在此不再赘述。
具体的,在测试过程中,对应的测试结果如表一,为检测到非显示区20一侧的各个裂纹检测线21的断裂或者正常时,对应的检测结果。可见,本发明实施例通过将显示面板分为多个区域,能够缩小定位出现裂纹的范围。
在本发明实施例中,裂纹检测线21可根据非显示区的形状有一些弯折,在此不加以限定。
此外,通常情况下,相邻的裂纹检测线21之间的距离较小,因此,如果在一个检测区域21一侧出现裂纹,则这这一检测区域21这一侧的所有裂纹检测线21均断裂。例如,检测区域Q(d)左侧出现裂纹,则裂纹检测线21(a)-21(d)均会发生断裂。其中,表一中,能够确定具体的裂纹发生的检测区域,对于有可能有裂纹的检测区域,可以后续人工进行排查,但是排查的区域较图1现有技术的方式减少。此外,当是微小裂纹时,在一个检测区域21一侧的一个裂纹检测线出现裂纹,则只会有一个裂纹检测线检测到断裂,即可以准确定位到裂纹发生的区域。
Figure BDA0003022312790000051
表一
在本发明实施例中,可根据需要将显示面板划分为N(N≥2)个检测区域Q,则对应一侧设置N个裂纹检测线,在此对于具体的检测区域的个数不加以限定。
此外,对于非显示区域另一侧的裂纹检测参照表一,在此不加以限定。
参照图3,是图2垂直第一方向X的部分非显示区的截面图,所述显示面板包括:基板100和薄膜晶体管层200;所述薄膜晶体管层200设置在所述基板100上;所述裂纹检测线21设置在所述薄膜晶体管层200中。
其中,薄膜晶体管层200包括:缓冲层210;第一绝缘层220,所述第一绝缘层220设置在所述缓冲层30背离所述基板100的一面;第二绝缘层230,所述第二绝缘层230设置在所述第一绝缘层220背离所述缓冲层210的一面;介质层240,所述介质层240设置在所述第二绝缘层230背离所述第一绝缘层220的一面;钝化层250,所述钝化层250设置在所述介质层240背离所述第二绝缘层230的一面。多晶硅层260,所述多晶硅层260设置在所述缓冲层210背离所述基板100的一面,所述第一绝缘层220包围所述多晶硅层260;栅极层G,所述栅极层G设置在所述第一绝缘层220背离所述缓冲层210的一面;源极层S,所述源极层S设置在所述介质层240背离所述第二绝缘层230的一面,并且通过所述介质层240的第一通孔与所述多晶硅层260连接;漏极层D,所述漏极层D设置在所述介质层240背离所述第二绝缘层230的一面,并且通过所述介质层240的第二通孔与所述多晶硅层260连接。
其中,裂纹检测线21是设置在薄膜晶体管层200中的,在图3中是设置在缓冲层210中的,此外也可以设置在第一绝缘层220、第二绝缘层230、介质层240或钝化层260中任意一层中或者任意相邻两层之间。图3所示的裂纹检测线能够对薄膜晶体管层200中的裂纹进行检测。
此外,参照图4,所述显示面板还包括:触控层300;所述触控层300设置在所述基板100与所述薄膜晶体管层200之间;所述裂纹检测线21设置在所述触控层300中。
其中,触控层300包括:第一电极层310,设置在第一电极层310背离基板100的一面的第三绝缘层320,以及设置在所述第三绝缘层320背离第一电极层310的第二电极层330;其中第一电极层310包括多排第一电极,第二电极层330包括多排第二电极;第一电极的延伸方向与第二电极的延伸方向垂直;相邻第一电极之间,以及相邻第二电极之间填充与第三绝缘层320一体的绝缘材料。
在图4中,图2所示的裂纹检测线21可以是设置在第三绝缘层320中,用于对触控层300的裂纹进行检测,此外,也可以同时在薄膜晶体管层200和触控层300中设置图2所示的裂纹检测线21,实现对显示面板不同层的裂纹进行检测,提高了裂纹定位的效率。
参照图2,所述裂纹检测线21包括:并列设置的第一段检测线211和第二段检测线212;所述第一段检测线211在所述第一边S1处的第一端,与所述第二段检测线212在所述第一边S1处的第一端连接;所述第一段检测线在所述第二边S2处的第二端为第一检测端K1,所述第二段检测线212在所述第二边S2处的第二端为第二检测端K2。
具体的,设置第一检测端K1和第二检测端K2可以是裂纹检测线外接检测装置,对裂纹检测线是否断裂进行检测。
其中一种检测方式是通过测试第一检测端与第二检测端之间的电阻值,确定对应的所述裂纹检测线是否断裂。
具体的,在显示面板的非显示区内置检测模块;所述检测模块与所述第一检测端以及第二检测端连接;用于测量对应裂纹检测线21的电阻值,根据电阻值判断裂纹检测线21是否断裂;例如,当测量到的电阻值远远大于裂纹检测线21本身的电阻值时,则说明裂纹检测线21断裂。
在本发明实施例中,裂纹检测线21为导线,具体材料可以是钼或者钛合金材料。
此外,另一种检测方式可通过显示区10的画面进行检测,参照图5,所述显示区10包括多个像素模块11;所述非显示区20对应设置多个驱动电路模块22;所述像素模块11与所述驱动电路模块22一一对应连接;所述第一检测端K1用于接收检测信号;所述第二检测端K2与所述驱动电路模块22一一对应连接;在所述裂纹检测线断裂21时,对应的所述像素模块11显示异常。
参照图6,其中图6是图5左边的具体结构示意图,图5右边的具体结构示意图以及控制方式也可参照图5,在此不再赘述。
具体的,显示面板,还包括开关SW_D、信号线VGH;所述像素模块11包括:四列像素单元111;所述驱动电路模块21包括:第一薄膜晶体管T1、第二薄膜晶体管T2、第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4;所述开关SW_D分别与所述第一薄膜晶体管T1、所述第二薄膜晶体管T2、所述第三薄膜晶体管T3和所述第四薄膜晶体管T4的栅极连接;所述第二检测端K2与所述第一薄膜晶体管T1、所述第三薄膜晶体管T3的源极连接;所述第一薄膜晶体管T1的漏极与第一列像素单元111连接;所述第三薄膜晶体管T3的漏极与第三列像素单元111连接;所述信号线VGH与所述第二薄膜晶体管T2以及所述第四薄膜晶体管T4的源极连接;所述第二薄膜晶体管T2的漏极与第二列像素单元111连接;所述第四薄膜晶体管T4的漏极与第四列像素单元111连接。
其中,图6中G是指绿色像素单元,B是指蓝色像素单元,R是指红色像素单元。
此外,图3中,对薄膜晶体管层200进行打孔,使各个裂纹检测线的第一检测端K1实现相互连接。图4中,对薄膜晶体管层200和触控层300进行打孔,使各个裂纹检测线的第一检测端K1实现相互连接。
其中,还包括:移位寄存器GOA;所述移位寄存器GOA和各行所述像素单元111连接。移位寄存器GOA实现对各行像素单元111的驱动控制。
图6所示的具体检测方式为,以裂纹检测线21(a)为例,在开关SW_D开启后,第一薄膜晶体管T1-第四薄膜晶体管T4均开启,信号线VGH给第二薄膜晶体管T2和第四薄膜晶体管T4输送信号,第二检测端K2用于将第一检测端K1接收的信号传输给第一薄膜晶体管T1和第三薄膜晶体管T3,当裂纹检测线21(a)正常时,对应的像素模块11正常发光;当裂纹检测线21(a)断裂时,像素模块11中只有第二薄膜晶体管T2和第四薄膜晶体管T4对应的第二列像素单元111和第四列像素单元111正常发光,在屏幕上显示为两条亮线,像素模块11为显示异常,进而可以判断出断裂的裂纹检测线。
此外,其他裂纹检测线的检测原理与裂纹检测线21(a)的检测原理相同,在此不再赘述。
在本发明实施例中,各个所述裂纹检测线21的第一检测端K1互相连接。所述非显示区两侧的所述裂纹检测线对称设置。
具体的,各个所述裂纹检测线21的第一检测端K1互相连接,方便只需要一个第一检测端K1与输入信号端连接,来接收输入信号。此外,非显示区两侧的所述裂纹检测线对称设置,能够提高对裂纹发生的位置确定的效率。
本发明实施例提供一种显示面板,包括:显示区和包围在所述显示区四周的非显示区;所述显示面板沿第一方向上划分为至少两个检测区域;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边指向第二边的方向;所述非显示区设置多个裂纹检测线;所述裂纹检测线对应设置在所述非显示区的两侧;所述裂纹检测线沿所述第一方向延伸;所述非显示区一侧的各个所述裂纹检测线搭接的所述检测区域的个数递减;所述非显示区一侧的所述裂纹检测线的数量与所述检测区域的数量相同。在本发明实施例中,将显示面板划分为多个检测区域,对应设置多个裂纹检测线,能缩小发生的区域,更方便的定位裂纹发生的位置,降低人工检测时间,提高裂纹检测的效率。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的模块和单元的具体工作过程,可以参考前述具体实施例中的对应过程,在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板,其特征在于,包括:显示区和包围在所述显示区四周的非显示区;
所述显示面板沿第一方向上划分为至少两个检测区域;所述第一方向包括:所述显示面板的第一边指向第二边的方向;
所述非显示区设置多个裂纹检测线;所述裂纹检测线对应设置在所述非显示区的两侧;
所述裂纹检测线沿所述第一方向延伸;所述非显示区一侧的各个所述裂纹检测线搭接的所述检测区域的个数递减;所述非显示区一侧的所述裂纹检测线的数量与所述检测区域的数量相同。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板包括:基板和薄膜晶体管层;
所述薄膜晶体管层设置在所述基板上;所述裂纹检测线设置在所述薄膜晶体管层中。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板还包括:触控层;所述触控层设置在所述基板与所述薄膜晶体管层之间;所述裂纹检测线设置在所述触控层中。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述裂纹检测线包括:并列设置的第一段检测线和第二段检测线;所述第一段检测线在所述第一边处的第一端,与所述第二段检测线在所述第一边处的第一端连接;所述第一段检测线在所述第二边处的第二端为第一检测端,所述第二段检测线在所述第二边处的第二端为第二检测端。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,通过测试第一检测端与第二检测端之间的电阻值,确定对应的所述裂纹检测线是否断裂。
6.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述显示区包括多个像素模块;所述非显示区对应设置多个驱动电路模块;所述像素模块与所述驱动电路模块一一对应连接;所述第一检测端用于接收检测信号;所述第二检测端与所述驱动电路模块一一对应连接;在所述裂纹检测线断裂时,对应的所述像素模块显示异常。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,还包括开关、信号线;所述像素模块包括:四列像素单元;所述驱动电路模块包括:第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管;
所述开关分别与所述第一薄膜晶体管、所述第二薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的栅极连接;
所述第二检测端与所述第一薄膜晶体管、所述第三薄膜晶体管的源极连接;所述第一薄膜晶体管的漏极与第一列像素单元连接;所述第三薄膜晶体管的漏极与第三列像素单元连接;
所述信号线与所述第二薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管的源极连接;所述第二薄膜晶体管的漏极与第二列像素单元连接;所述第四薄膜晶体管的漏极与第四列像素单元连接。
8.根据权利要求7所述的显示面板,其特征在于,还包括:移位寄存器;所述移位寄存器和各行所述像素单元连接。
9.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,各个所述裂纹检测线的第一检测端互相连接。
10.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述非显示区两侧的所述裂纹检测线对称设置。
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