CN108922462A - 显示装置和用于显示装置的检测方法 - Google Patents

显示装置和用于显示装置的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108922462A
CN108922462A CN201810801287.6A CN201810801287A CN108922462A CN 108922462 A CN108922462 A CN 108922462A CN 201810801287 A CN201810801287 A CN 201810801287A CN 108922462 A CN108922462 A CN 108922462A
Authority
CN
China
Prior art keywords
area
sub
line
detection line
switching transistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810801287.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108922462B (zh
Inventor
赵德涛
陈亮
肖丽
刘冬妮
王磊
玄明花
陈小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201810801287.6A priority Critical patent/CN108922462B/zh
Publication of CN108922462A publication Critical patent/CN108922462A/zh
Priority to US16/391,833 priority patent/US10948535B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN108922462B publication Critical patent/CN108922462B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2003Display of colours
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426Layout of electrodes and connections
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本公开提供了一种显示装置和用于显示装置的检测方法。显示装置包括基底、多个开关晶体管和至少一个检测线。基底包括显示区域和非显示区域。显示区域包括像素阵列。像素阵列包括多个像素。多个开关晶体管位于非显示区域上。每个开关晶体管与像素阵列的一列像素电连接。该至少一个检测线位于非显示区域上。每个检测线与多个开关晶体管的部分电连接。每个检测线被配置为将接收的电平信号传输到与该检测线电连接的开关晶体管以使得像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素不发光,并在检测线断裂的情况下使得像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素发光以显示出相应颜色的亮线。本公开实现了检测显示装置的非显示区域是否出现裂纹的目的。

Description

显示装置和用于显示装置的检测方法
技术领域
本公开涉及显示技术领域,特别涉及一种显示装置和用于显示装置的检测方法。
背景技术
目前,柔性屏幕(或者称为OLED(Organic Light Emitting Diode,有机发光二极管)屏幕)的成功量产有利于新一代高端智能手机的制造。而且由于柔性屏幕具有低功耗和可弯曲的特性,因而其成功量产对可穿戴式设备的应用也带来了比较大的影响。未来,柔性屏幕将随着个人智能终端的不断发展而广泛应用。OLED很薄,可以安装在塑料或金属箔片等柔性材料上。借助薄膜封装技术,并在面板背面粘贴保护膜,使得面板变得可弯曲。
发明内容
本公开的发明人发现,在柔性屏幕的制造和搬运过程中经常执行将其弯曲等操作。在这些过程中,当柔性屏幕曲率半径过小,超过柔性屏幕的承受范围,该柔性屏幕会出现外层封装材料的断裂,因此在柔性屏幕的非显示区域出现了裂纹。这将导致内部电路的断裂开路,从而影响显示效果,造成OLED柔性屏幕的良率下降。
鉴于此,本公开的实施例提供了一种显示装置,从而可以检测显示装置的非显示区域是否出现裂纹。
根据本公开实施例的一个方面,提供了一种显示装置,包括:基底,包括显示区域和非显示区域,所述显示区域包括像素阵列,所述像素阵列包括多个像素;多个开关晶体管,位于所述非显示区域上,每个开关晶体管与所述像素阵列的一列像素电连接;以及至少一个检测线,位于所述非显示区域上,每个检测线与所述多个开关晶体管的部分开关晶体管电连接,其中,每个检测线被配置为将接收的电平信号传输到与该检测线电连接的开关晶体管以使得所述像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素不发光,以及在所述检测线断裂的情况下使得所述像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素发光以显示出相应颜色的亮线。
在一些实施例中,所述非显示区域包括至少一个子区域;每个检测线包括弯曲部分,其中,每个弯曲部分在对应的子区域上。
在一些实施例中,所述多个开关晶体管包括:对应于红色像素的多个第一开关晶体管、对应于绿色像素的多个第二开关晶体管和对应于蓝色像素的多个第三开关晶体管;所述至少一个检测线包括:第一检测线,电连接至所述多个第一开关晶体管的一部分;第二检测线,电连接至所述多个第二开关晶体管的一部分;第三检测线,电连接至所述多个第三开关晶体管的一部分。
在一些实施例中,所述第一检测线电连接至所述多个第一开关晶体管的一部分第一开关晶体管的第一电极,所述一部分第一开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的红色像素,所述一部分第一开关晶体管的控制电极电连接至开关信号线;所述第二检测线电连接至所述多个第二开关晶体管的一部分第二开关晶体管的第一电极,所述一部分第二开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的绿色像素,所述一部分第二开关晶体管的控制电极电连接至所述开关信号线;所述第三检测线电连接至所述多个第三开关晶体管的一部分第三开关晶体管的第一电极,所述一部分第三开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的蓝色像素,所述一部分第三开关晶体管的控制电极电连接至所述开关信号线。
在一些实施例中,所述至少一个检测线的每一个电连接至所述多个开关晶体管的一部分,其中,与所述至少一个检测线电连接的所有开关晶体管所对应的像素具有相同的发光颜色。
在一些实施例中,所述多个开关晶体管包括对应于红色像素的多个第一开关晶体管、对应于绿色像素的多个第二开关晶体管和对应于蓝色像素的多个第三开关晶体管;所述至少一个检测线包括第一检测线、第二检测线和第三检测线,其中,所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第一开关晶体管;所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第二开关晶体管;或者,所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第三开关晶体管。
在一些实施例中,所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域;所述第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,所述第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、所述第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上。
在一些实施例中,所述显示装置还包括:电源电压线,位于所述非显示区域上,其中,所述至少一个检测线电连接至所述电源电压线,所述电源电压线被配置为提供所述电平信号,所述电平信号为电源电平信号。
在一些实施例中,所述至少一个检测线的一部分设置在所述显示区域的一侧,所述至少一个检测线的另一部分设置在所述显示区域的与所述一侧相对的另一侧。
根据本公开实施例的另一个方面,提供了一种用于如前所述显示装置的检测方法,包括:对多个开关晶体管施加导通信号;利用至少一个检测线接收电平信号;以及在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹。
在一些实施例中,所述检测方法还包括:根据在所述显示画面中所出现的亮线的颜色确定所述裂纹在所述非显示区域中的位置。
在一些实施例中,所述检测方法还包括:根据在所述显示画面中所出现的亮线的位置确定所述裂纹在所述非显示区域中的位置。
根据本公开实施例的另一个方面,提供了一种用于如前所述显示装置的检测方法,包括:对多个开关晶体管施加导通信号;利用至少一个检测线接收电平信号;以及在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹,其中,所述非显示区域包括至少一个子区域,所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域,第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上;其中,在白色画面中出现红色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹;在白色画面中出现绿色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹;在白色画面中出现蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹;在白色画面中出现黄色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹;在白色画面中出现青色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;在白色画面中出现品红色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;在黑色画面中出现白色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
根据本公开实施例的另一个方面,提供了一种用于如前所述显示装置的检测方法,包括:对多个开关晶体管施加导通信号;利用至少一个检测线接收电平信号;以及在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹,其中,所述非显示区域包括至少一个子区域,所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域,第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上;其中,在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹;在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹;在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹;在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹;在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;在黑色画面中出现第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线,第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上述显示装置中,由于检测线被设置在非显示区域上,因此在非显示区域出现裂纹的情况下,在该裂纹处的检测线会发生断裂。这将使得与该检测线对应的一列或多列像素发光,从而显示出相应颜色的亮线。因此,通过在显示区域的画面中显示出相应颜色的亮线,就可以确定显示装置的非显示区域出现了裂纹。
通过以下参照附图对本公开的示例性实施例的详细描述,本公开的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
构成说明书的一部分的附图描述了本公开的实施例,并且连同说明书一起用于解释本公开的原理。
参照附图,根据下面的详细描述,可以更加清楚地理解本公开,其中:
图1是示出根据本公开一些实施例的显示装置的电路连接示意图;
图2是示出根据本公开一些实施例的显示装置中检测线与检测单元的电路连接示意图;
图3是示出根据本公开另一些实施例的显示装置中检测线与检测单元的电路连接示意图;
图4是示出根据本公开另一些实施例的显示装置的电路连接示意图;
图5是示出根据本公开一些实施例的用于显示装置的检测方法的流程图。
应当明白,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。此外,相同或类似的参考标号表示相同或类似的构件。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。对示例性实施例的描述仅仅是说明性的,决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。本公开可以以许多不同的形式实现,不限于这里所述的实施例。提供这些实施例是为了使本公开透彻且完整,并且向本领域技术人员充分表达本公开的范围。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、材料的组分、数字表达式和数值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。
本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素,并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
在本公开中,当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时,在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件,也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时,该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件,也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。
本公开使用的所有术语(包括技术术语或者科学术语)与本公开所属领域的普通技术人员理解的含义相同,除非另外特别定义。还应当理解,在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义,而不应用理想化或极度形式化的意义来解释,除非这里明确地这样定义。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
本公开的发明人发现,在柔性屏幕的制造和搬运过程中经常执行将其弯曲等操作。例如对于一些曲面手机,均在其屏幕的侧边进行弯曲设计。在这些过程中,当柔性屏幕曲率半径过小,超过柔性屏幕的承受范围,该柔性屏幕会出现外层封装材料的断裂,因此在柔性屏幕的非显示区域出现了裂纹。这将导致内部电路的断裂开路,从而影响显示效果,造成OLED柔性屏幕的良率下降。
鉴于此,本公开的实施例提供了一种显示装置,从而可以检测显示装置的非显示区域是否出现断裂。下面结合附图详细描述根据本公开一些实施例的显示装置。
图1是示出根据本公开一些实施例的显示装置的电路连接示意图。如图1所示,该显示装置可以包括基底100、多个开关晶体管和至少一个检测线。例如,如图1所示,该至少一个检测线包括第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143。
如图1所示,该基底100可以包括显示区域110和非显示区域120。该显示区域110可以包括像素阵列130。该像素阵列130可以包括多个像素131。每个像素用于在显示时发出相应颜色的光。
例如,如图1所示,该显示装置可以包括检测单元160。该检测单元160可以包括前面所述的多个开关晶体管(图1中未示出)。该检测单元160位于非显示区域120上。因此,该多个开关晶体管位于非显示区域120上。每个开关晶体管与像素阵列130的一列像素131电连接。关于检测单元的具体电路结构将在后面结合图2和图3进行详细描述。
如图1所示,所述至少一个检测线(例如,第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143)位于非显示区域120上。每个检测线与所述多个开关晶体管的部分开关晶体管电连接。每个检测线被配置为将接收的电平信号传输到与该检测线电连接的开关晶体管以使得该像素阵列130的与该开关晶体管电连接的像素131不发光,以及在检测线断裂的情况下使得该像素阵列130的与该开关晶体管(该开关晶体管与该检测线电连接)电连接的像素131发光以显示出相应颜色的亮线。
在上述实施例中,提供了一种显示装置。该显示装置包括基底、多个开关晶体管和至少一个检测线。每个开关晶体管与像素阵列的一列像素电连接。每个检测线被配置为将接收的电平信号传输到与该检测线电连接的开关晶体管以使得像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素不发光,以及在检测线断裂的情况下使得该像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素发光以显示出相应颜色的亮线。由于检测线被设置在非显示区域上,因此在非显示区域出现裂纹的情况下,在该裂纹处的检测线会发生断裂。这将使得与该检测线对应的一列或多列像素发光,从而显示出相应颜色的亮线。因此,通过在显示区域的画面中显示出相应颜色的亮线,就可以确定显示装置的非显示区域出现了裂纹。这可以有效准确地检测到屏幕过弯等情况。
在一些实施例中,非显示区域可以包括至少一个子区域。例如,如图1所示,所述至少一个子区域可以包括第一子区域121、第二子区域122和第三子区域123。
在一些实施例中,如图1所示,每个检测线包括弯曲部分150。每个弯曲部分150在对应的子区域上。例如,第一检测线141的弯曲部分在第一子区域121上,第二检测线142的弯曲部分在第二子区域122上,第三检测线143的弯曲部分在第三子区域123上。
通过在检测线中设置弯曲部分,使得检测线能够更多地盘绕在非显示区域上,从而更容易检测到非显示区域的裂纹。将每个弯曲部分设置在对应的子区域上,这样当显示区域出现与不同检测线对应的亮线时,就可以确定裂纹的位置。即确定非显示区域的裂纹位于哪个或哪些子区域。这有助于工程师更快的定位过弯位置并及时改善弯曲制备工艺,有效的提高柔性OLED良率。
例如,与第一检测线对应的一列或多列像素发光,在显示区域出现亮线,则可以确定非显示区域的裂纹位于第一子区域,这样确定了裂纹的位置。
需要说明的是,虽然图1示出了三个子区域,但是本公开实施例的范围并不仅限于这里所示出的子区域的个数。例如子区域的数量可以多于三个(例如四个、五个、六个等)或少于三个(例如两个、一个等)。
在另一些实施例中,每个检测线除了弯曲部分之外,还可以包括非弯曲部分。例如,如图1所示,第一检测线141的非弯曲部分的一部分可以位于第二子区域122和第三子区域123上,第二检测线142的非弯曲部分的一部分可以位于第三子区域123上,等等。
在一些实施例中,如图1所示,该显示装置还可以包括电源电压线111。该电源电压线111位于非显示区域120上。该电源电压线111可以围绕在显示区域110的周围。所述至少一个检测线电连接至该电源电压线111。例如,第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143均电连接至该电源电压线。该电源电压线111被配置为提供电平信号。该电平信号为电源电平信号VDD。例如,该电源电压线可以向检测线提供电源电平信号VDD。这样检测线可以将接收的电源电平信号VDD传输到对应的开关晶体管,使得与该开关晶体管对应的像素不发光。另外,该电源电压线也可以向像素阵列提供电源电平信号。
图2是示出根据本公开一些实施例的显示装置中检测线与检测单元的电路连接示意图。
如图2所示,该检测单元160可以包括多个开关晶体管。例如,所述多个开关晶体管可以包括:对应于红色像素的多个第一开关晶体管161、对应于绿色像素的多个第二开关晶体管162和对应于蓝色像素的多个第三开关晶体管163。例如,如图2所示,在所述多个开关晶体管中,第一行的开关晶体管均为第一开关晶体管,第二行的开关晶体管均为第二开关晶体管,第三行的开关晶体管均为第三开关晶体管。在一些实施例中,开关晶体管可以包括NOMS晶体管或PMOS晶体管。
需要说明的是,图2中所示的开关晶体管的数量仅是示例性的。本领域技术人员应该明白,检测单元可以包括更多的开关晶体管,只是图中未示出。
另外,在图2中,R表示红色像素,G表示绿色像素,B表示蓝色像素,其他附图类似。
如图2所示,每个开关晶体管与像素阵列的对应列的像素电连接。例如,第一开关晶体管161与像素阵列的对应列的红色像素R电连接,第二开关晶体管162与像素阵列的对应列的绿色像素G电连接,第三开关晶体管163与像素阵列的对应列的蓝色像素B电连接。
在一些实施例中,如图2所示,所述至少一个检测线包括第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143。该第一检测线141电连接至所述多个第一开关晶体管161的一部分。例如,如图2所示,该第一检测线141电连接至三个第一开关晶体管161。该第二检测线142电连接至所述多个第二开关晶体管162的一部分。例如,如图2所示,该第二检测线142电连接至三个第二开关晶体管162。该第三检测线143电连接至所述多个第三开关晶体管163的一部分。例如,如图2所示,该第三检测线143电连接至三个第三开关晶体管163。
如图2所示,该第一检测线141电连接至所述多个第一开关晶体管161的一部分第一开关晶体管(例如三个第一开关晶体管161)的第一电极。该一部分第一开关晶体管161的第二电极电连接至像素阵列的对应列的红色像素R(即与该第一开关晶体管电连接的红色像素)。该一部分第一开关晶体管161的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
如图2所示,所述多个第一开关晶体管161的另一部分第一开关晶体管的第一电极电连接至第一驱动线281。该另一部分第一开关晶体管161的第二电极电连接至像素阵列的对应列的红色像素R。该另一部分第一开关晶体管161的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
类似地,如图2所示,该第二检测线142电连接至所述多个第二开关晶体管162的一部分第二开关晶体管(例如三个第二开关晶体管162)的第一电极。该一部分第二开关晶体管162的第二电极电连接至像素阵列的对应列的绿色像素G(即与该第二开关晶体管电连接的绿色像素)。该一部分第二开关晶体管162的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
如图2所示,所述多个第二开关晶体管162的另一部分第二开关晶体管的第一电极电连接至第二驱动线282。该另一部分第二开关晶体管162的第二电极电连接至像素阵列的对应列的绿色像素G。该另一部分第二开关晶体管162的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
类似地,如图2所示,该第三检测线143电连接至所述多个第三开关晶体管163的一部分第三开关晶体管(例如三个第三开关晶体管163)的第一电极。该一部分第三开关晶体管163的第二电极电连接至像素阵列的对应列的蓝色像素B(即与该第三开关晶体管电连接的蓝色像素)。该一部分第三开关晶体管163的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
如图2所示,所述多个第三开关晶体管163的另一部分第三开关晶体管的第一电极电连接至第三驱动线283。该另一部分第三开关晶体管163的第二电极电连接至像素阵列的对应列的蓝色像素B。该另一部分第三开关晶体管163的控制电极(例如栅极)电连接至开关信号线270。
下面结合图1和图2详细描述根据本公开一些实施例的检测非显示区域的裂纹的过程。
在本公开的实施例中,在开关信号线270输出导通信号(例如对于PMOS晶体管,导通信号为低电平信号;对于NMOS晶体管,导通信号为高电平信号)的情况下,检测单元160的所有开关晶体管均导通。在第一驱动线281、第二驱动线282和第三驱动线283分别输出相应的数据信号(作为驱动信号)的情况下,分别使得对应列的像素发光。
在检测线未断裂的情况下,该检测线将接收的电源电平信号传输到对应的开关晶体管。该电源电平信号可以作为数据电平通过该开关晶体管传输到对应列的像素。由于像素内的驱动晶体管的栅源电压为数据电平与电源电平信号的差值,因此,此时的栅源电压几乎为0V,从而使得该驱动晶体管不向对应的发光器件输出驱动电流,导致发光器件不发光。因此,在检测线不断裂的情况下,与每个检测线对应的像素不发光。因此,在非显示区域未出现裂纹(相应地,检测线没有发生断裂)的情况下,在白色画面下出现黑色线。
这里需要说明的是,在检测非显示区域没有出现裂纹的情况下,当正常使用显示装置进行显示画面时,开关信号线270输出截止信号(例如对于PMOS晶体管,截止信号为高电平信号;对于NMOS晶体管,截止信号为低电平信号)的情况下,检测单元160的所有开关晶体管均截止。可以通过已知的其他电路路径向像素阵列传输数据电平以显示图案。
在检测线断裂的情况下,该断裂的检测线不再将电源电平信号传输到对应的开关晶体管。因而该开关晶体管的第一电极可以看做被施加0V左右的数据电平,从而使得与该开关晶体管对应的一列像素发光。
例如,当第一子区域出现裂纹时,第一检测线的弯曲部分可能会发生断裂,这使得与第一检测线对应的红色像素发光,从而在显示区域出现红色亮线。因此,在白色画面中出现红色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
类似地,在白色画面中出现绿色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。在白色画面中出现蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
另外,在非显示区域发生多处断裂或断裂程度严重(例如,损伤了在同一子区域的多条检测线)的情况下,在白色画面下会出现黄色亮线或青色亮线,或者黑色画面下出现白色亮线。
例如,当第一子区域和第二子区域均出现裂纹时,第一检测线和第二检测线断裂,使得与第一开关晶体管对应的红色像素和与第二开关晶体管对应的绿色像素发光,从而在显示区域的白色画面中会出现黄色(即红色与绿色的混合色)亮线。这样,在白色画面中出现黄色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹。
在另一些实施例中,由于第一检测线的一部分(例如非弯曲部分)和第二检测线的一部分位于非显示区域的相同区域(例如第二子区域或第三子区域,如图1所示),因此在第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹的情况下,在白色画面中也会出现黄色亮线。因此,在白色画面中出现黄色亮线的情况下,可以确定第一检测线和第二检测线均所在的相同区域(例如第二子区域内的某一区域)出现裂纹。
类似地,在白色画面中出现青色(绿色与蓝色的混合色)亮线的情况下,确定第二子区域和所述第三子区域均出现裂纹,或者第二检测线和第三检测线均所在的相同区域(例如第三子区域内的某一区域)出现裂纹。在白色画面中出现品红色(红色与蓝色的混合色)亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域(例如第三子区域内的某一区域)出现裂纹。
在一些实施例中,第一驱动线、第二驱动线和第三驱动线分别输出电源电平信号作为驱动信号。这使得相应的像素不发光,从而使得显示区域显示出黑色画面。在第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹的情况下,第一检测线、第二检测线和第三检测线均断裂,使得对应列的红色像素、绿色像素和蓝色像素均发光,从而在黑色画面中出现白色亮线。因此,在黑色画面中出现白色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹。在另一些实施例中,在黑色画面中出现白色亮线的情况下,确定第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上面的实施例中,根据在显示画面中所出现的亮线的颜色确定裂纹在非显示区域中的位置。
需要说明的是,上面的实施例描述了根据在白色画面或黑色画面中亮线的颜色确定裂纹的位置。本领域技术人员应该理解,可以根据在其他颜色的画面中亮线的颜色确定裂纹的位置。例如可以在红色画面中出现绿色的亮线确定第二子区域出现裂纹。因此本公开实施例的范围并不仅限于此。
图3是示出根据本公开另一些实施例的显示装置中检测线与检测单元的电路连接示意图。
与图2所示的检测单元类似地,图3所示的检测单元160包括多个开关晶体管。例如,所述多个开关晶体管包括对应于红色像素R的多个第一开关晶体管161、对应于绿色像素G的多个第二开关晶体管162和对应于蓝色像素B的多个第三开关晶体管163。例如,如图3所示,在所述多个开关晶体管中,第一行的开关晶体管均为第一开关晶体管161,第二行的开关晶体管均为第二开关晶体管162,第三行的开关晶体管均为第三开关晶体管163。
在一些实施例中,如图3所示,所述至少一个检测线可以包括第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143。另外,图3中还示出了开关信号线270、第一驱动线281、第二驱动线282和第三驱动线283。
在一些实施例中,所述至少一个检测线的每一个电连接至所述多个开关晶体管的一部分。与所述至少一个检测线电连接的所有开关晶体管所对应的像素具有相同的发光颜色。
在一些实施例中,如图3所示,第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143分别电连接到不同的第一开关晶体管161。
例如,如图3所示,第一检测线141电连接到一个第一开关晶体管161的第一电极,第二检测线142电连接到另一个第一开关晶体管161的第一电极,第三检测线143电连接到另一个第一开关晶体管161的第一电极。第一驱动线281电连接至剩余第一开关晶体管161的第一电极。第一开关晶体管161的第二电极电连接至对应列的红色像素R。第二驱动线282电连接至第二开关晶体管162的第一电极。第二开关晶体管162的第二电极电连接至对应列的绿色像素G。第三驱动线283电连接至第三开关晶体管163的第一电极。第三开关晶体管163的第二电极电连接至对应列的蓝色像素B。开关信号线270电连接至所有开关晶体管的控制电极(例如栅极)。
下面结合图1和图3详细描述根据本公开一些实施例的检测非显示区域的裂纹的过程。
在开关信号线270输出导通信号的情况下,检测单元160的所有开关晶体管均导通。在非显示区域未出现裂纹的情况下,第一检测线、第二检测线和第三检测线将电源电平信号VDD传输到对应的开关晶体管,使得对应的红色像素不发光。而第一驱动线、第二驱动线和第三驱动线分别将数据电平(作为驱动信号)传输到对应的开关晶体管,使得对应的像素发光。这些发光的像素包括与不发光的红色像素相邻的绿色像素和蓝色像素。因此,在白色画面下出现青色(绿色和蓝色的混合色)亮线的情况下,确定非显示区域未出现裂纹。
第一驱动线281、第二驱动线282和第三驱动线283分别输出电源电平信号作为驱动信号以使得对应列的像素不发光。另外,电源电平信号线111分别通过第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143向对应的第一开关晶体管的第一电极提供电源电平信号VDD,这使得对应列的红色像素不发光。因此,显示区域显示出黑色画面。
在第一子区域出现裂纹的情况下,第一检测线断裂。与前面的分析类似,第一检测线断裂可以使得对应列的红色像素发光,从而在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条红色亮线。因此,在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条红色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
类似地,在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条红色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条红色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
另外,在非显示区域发生多处断裂或断裂程度严重(例如,损伤了同一子区域多条检测线)的情况下,在黑色画面下会出现多条亮线。
例如,在黑色画面中出现第一条红色亮线和第二条红色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹。
又例如,在黑色画面中出现第一条红色亮线和第三条红色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
又例如,在黑色画面中出现第二条红色亮线和第三条红色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
又例如,在黑色画面中出现第一条红色亮线、第二条红色亮线和第三条红色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上面的实施例中,描述了第一检测线、第二检测线和第三检测线分别电连接至至少一个第一开关晶体管的实施方式。但是本公开实施例的范围并不仅限于此。
在另一些实施例中,第一检测线、第二检测线和第三检测线分别电连接到不同的第二开关晶体管。在这样的情况下,检测裂纹位置的步骤包括如下步骤:
(1)在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条绿色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
(2)在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条绿色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。
(3)在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条绿色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
(4)在黑色画面中出现第一条绿色亮线和第二条绿色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(5)在黑色画面中出现第一条绿色亮线和第三条绿色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(6)在黑色画面中出现第二条绿色亮线和第三条绿色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(7)在黑色画面中出现第一条绿色亮线,第二条绿色亮线和第三条绿色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在另一些实施例中,第一检测线、第二检测线和第三检测线分别电连接到不同的第三开关晶体管。在这样的情况下,检测裂纹位置的步骤包括如下步骤:
(1)在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条蓝色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
(2)在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条蓝色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。
(3)在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
(4)在黑色画面中出现第一条蓝色亮线和第二条蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(5)在黑色画面中出现第一条蓝色亮线和第三条蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(6)在黑色画面中出现第二条蓝色亮线和第三条蓝色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(7)在黑色画面中出现第一条蓝色亮线、第二条蓝色亮线和第三条蓝色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上面的实施例中,根据在显示画面中所出现的亮线的位置确定裂纹在非显示区域中的位置。
在一些实施例中,所述至少一个检测线的一部分设置在显示区域的一侧,所述至少一个检测线的另一部分设置在显示区域的与该一侧相对的另一侧。下面结合图4详细描述这样的实施例。
图4是示出根据本公开另一些实施例的显示装置的电路连接示意图。
例如,如图4所示,所述至少一个检测线可以包括第一检测线141、第二检测线142、第三检测线143、第四检测线144、第五检测线145和第六检测线146。所述至少一个子区域可以包括第一子区域121、第二子区域122、第三子区域123、第四子区域124、第五子区域125和第六子区域126。第一检测线141的弯曲部分在第一子区域121上。第二检测线142的弯曲部分在第二子区域122上。第三检测线143的弯曲部分在第三子区域123上。第四检测线144的弯曲部分在第四子区域124上。第五检测线145的弯曲部分在第五子区域125上。第六检测线146的弯曲部分在第六子区域126上。
第一子区域121、第二子区域122和第三子区域123在显示区域110的一侧。第四子区域124、第五子区域125和第六子区域126在显示区域的与该侧相对的另一侧。因此,第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143在显示区域110的一侧,第四检测线144、第五检测线145和第六检测线146在显示区域的与该侧相对的另一侧。
该第四检测线144、第五检测线145和第六检测线146可以采取与图2或图3中第一检测线141、第二检测线142和第三检测线143类似的连接方式电连接至检测单元160的一部分开关晶体管。这样,可以通过与上面所述类似的检测裂纹的方法,利用该第四检测线144、第五检测线145和第六检测线146分别确定第四子区域124、第五子区域125和第六子区域126是否出现裂纹。本领域技术人员根据前面的描述,可以理解这里的检测过程,因此这里不再赘述。
在一些实施例中,所述至少一个检测线可以在显示区域的两侧对称设置。例如,如图4所示,第一检测线141、第二检测线142、第三检测线143、第四检测线144、第五检测线145和第六检测线146分别在显示区域110两侧对称设置。这样方便检测出裂纹的位置。
需要说明的是,这里的对称设置可以是指检测线的数量在显示区域两侧是对称设置的,也可以是指检测线的盘绕形状在显示区域两侧是对称设置的。
在一些实施例中,所述至少一个检测线可以在显示区域的两侧非对称设置。例如,在显示区域的一侧设置三条检测线,在显示区域的另一侧设置两条检测线,等等。
需要说明的是,本公开实施例中的检测线的数量仅是示例性的。本领域技术人员可以理解,可以根据实际需要设置检测线的数量。因此,本公开实施例的范围并不仅限于这里所公开的检测线的数量。
图5是示出根据本公开一些实施例的用于显示装置的检测方法的流程图。如图5所示,该方法包括步骤S502~S506。
在步骤S502,对多个开关晶体管施加导通信号。这使得所述多个开关晶体管均导通。
在步骤S504,利用至少一个检测线接收电平信号。例如,该电平信号为电源电平信号。
每个检测线将电平信号向对应的开关晶体管传输。在检测线未断裂的情况下,检测线将电平信号传输到对应的开关晶体管,使得对应列的像素不发光。在某个检测线断裂的情况下,该检测线没有将电平信号传输到对应的开关晶体管,使得对应列的像素发光,从而在显示区域的显示画面中出现相应颜色的亮线。
在步骤S506,在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹。
在上述实施例的方法中,通过在显示区域的显示画面中显示出亮线来确定显示装置的非显示区域出现了裂纹。这可以有效准确地检测到屏幕过弯等情况。
在一些实施例中,非显示区域包括至少一个子区域。该至少一个子区域可以包括第一子区域、第二子区域和第三子区域。第一检测线的弯曲部分在该第一子区域上,第二检测线的弯曲部分在该第二子区域上、第三检测线的弯曲部分在该第三子区域上。
在一些实施例中,所述检测方法还包括:根据在显示画面中所出现的亮线的颜色确定裂纹在非显示区域中的位置。例如,可以根据亮线的颜色确定裂纹位于哪个或哪些子区域中。
例如,根据亮线的颜色确定裂纹的位置的步骤可以包括如下步骤中的至少一个:
(1)在白色画面中出现红色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
(2)在白色画面中出现绿色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。
(3)在白色画面中出现蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
(4)在白色画面中出现黄色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(5)在白色画面中出现青色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(6)在白色画面中出现品红色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(7)在黑色画面中出现白色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上述实施例中,当出现上面所述的(4)~(7)的情况之一时,表明非显示区域的断裂程度比较严重。
在另一些实施例中,所述方法还包括:根据在显示画面中所出现的亮线的位置确定裂纹在非显示区域中的位置。例如,可以根据亮线的位置确定裂纹位于哪个或哪些子区域中。
例如,根据亮线的位置确定裂纹的位置的步骤可以包括如下步骤中的至少一个:
(1)在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹。
(2)在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹。
(3)在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹。
(4)在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(5)在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(6)在黑色画面中出现第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
(7)在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线,第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
在上述实施例中,当出现上面所述的(4)~(7)的情况之一时,表明非显示区域的断裂程度比较严重。
本公开实施例的检测方法可以实现柔性屏幕的裂纹检测和裂纹位置定位,有效提高柔性屏幕的良率。
该检测方法可以在单元测试(Cell Test)阶段及时地检测裂纹、裂纹位置和断裂程度,方便工程师及时调整弯曲设备,规范弯曲操作,从而有效提高产品良率。该检测方法对柔性屏幕的分辨率、显示色彩、产品边框基板没有影响。而且该检测方法对原有OLED的制作工艺改动小,对发光层特性基本没有影响。
至此,已经详细描述了本公开的各实施例。为了避免遮蔽本公开的构思,没有描述本领域所公知的一些细节。本领域技术人员根据上面的描述,完全可以明白如何实施这里公开的技术方案。
虽然已经通过示例对本公开的一些特定实施例进行了详细说明,但是本领域的技术人员应该理解,以上示例仅是为了进行说明,而不是为了限制本公开的范围。本领域的技术人员应该理解,可在不脱离本公开的范围和精神的情况下,对以上实施例进行修改或者对部分技术特征进行等同替换。本公开的范围由所附权利要求来限定。

Claims (14)

1.一种显示装置,包括:
基底,包括显示区域和非显示区域,所述显示区域包括像素阵列,所述像素阵列包括多个像素;
多个开关晶体管,位于所述非显示区域上,每个开关晶体管与所述像素阵列的一列像素电连接;以及
至少一个检测线,位于所述非显示区域上,每个检测线与所述多个开关晶体管的部分开关晶体管电连接,其中,每个检测线被配置为将接收的电平信号传输到与该检测线电连接的开关晶体管以使得所述像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素不发光,以及在所述检测线断裂的情况下使得所述像素阵列的与该开关晶体管电连接的像素发光以显示出相应颜色的亮线。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,
所述非显示区域包括至少一个子区域;
每个检测线包括弯曲部分,其中,每个弯曲部分在对应的子区域上。
3.根据权利要求2所述的显示装置,其中,
所述多个开关晶体管包括:对应于红色像素的多个第一开关晶体管、对应于绿色像素的多个第二开关晶体管和对应于蓝色像素的多个第三开关晶体管;
所述至少一个检测线包括:
第一检测线,电连接至所述多个第一开关晶体管的一部分;
第二检测线,电连接至所述多个第二开关晶体管的一部分;
第三检测线,电连接至所述多个第三开关晶体管的一部分。
4.根据权利要求3所述的显示装置,其中,
所述第一检测线电连接至所述多个第一开关晶体管的一部分第一开关晶体管的第一电极,所述一部分第一开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的红色像素,所述一部分第一开关晶体管的控制电极电连接至开关信号线;
所述第二检测线电连接至所述多个第二开关晶体管的一部分第二开关晶体管的第一电极,所述一部分第二开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的绿色像素,所述一部分第二开关晶体管的控制电极电连接至所述开关信号线;
所述第三检测线电连接至所述多个第三开关晶体管的一部分第三开关晶体管的第一电极,所述一部分第三开关晶体管的第二电极电连接至所述像素阵列的对应列的蓝色像素,所述一部分第三开关晶体管的控制电极电连接至所述开关信号线。
5.根据权利要求2所述的显示装置,其中,
所述至少一个检测线的每一个电连接至所述多个开关晶体管的一部分,其中,与所述至少一个检测线电连接的所有开关晶体管所对应的像素具有相同的发光颜色。
6.根据权利要求5所述的显示装置,其中,
所述多个开关晶体管包括对应于红色像素的多个第一开关晶体管、对应于绿色像素的多个第二开关晶体管和对应于蓝色像素的多个第三开关晶体管;
所述至少一个检测线包括第一检测线、第二检测线和第三检测线,其中,
所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第一开关晶体管;
所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第二开关晶体管;或者,
所述第一检测线、所述第二检测线和所述第三检测线分别电连接到不同的第三开关晶体管。
7.根据权利要求3或6所述的显示装置,其中,
所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域;
所述第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,所述第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、所述第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上。
8.根据权利要求1所述的显示装置,还包括:
电源电压线,位于所述非显示区域上,其中,所述至少一个检测线电连接至所述电源电压线,所述电源电压线被配置为提供所述电平信号,所述电平信号为电源电平信号。
9.根据权利要求1所述的显示装置,其中,
所述至少一个检测线的一部分设置在所述显示区域的一侧,所述至少一个检测线的另一部分设置在所述显示区域的与所述一侧相对的另一侧。
10.一种用于如权利要求1至9任意一项所述显示装置的检测方法,包括:
对多个开关晶体管施加导通信号;
利用至少一个检测线接收电平信号;以及
在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹。
11.根据权利要求10所述的检测方法,还包括:
根据在所述显示画面中所出现的亮线的颜色确定所述裂纹在所述非显示区域中的位置。
12.根据权利要求10所述的检测方法,还包括:
根据在所述显示画面中所出现的亮线的位置确定所述裂纹在所述非显示区域中的位置。
13.一种用于如权利要求3所述显示装置的检测方法,包括:
对多个开关晶体管施加导通信号;
利用至少一个检测线接收电平信号;以及
在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹,其中,所述非显示区域包括至少一个子区域,所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域,第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上;
其中,在白色画面中出现红色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹;
在白色画面中出现绿色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹;
在白色画面中出现蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹;
在白色画面中出现黄色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在白色画面中出现青色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在白色画面中出现品红色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在黑色画面中出现白色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
14.一种用于如权利要求6所述显示装置的检测方法,包括:
对多个开关晶体管施加导通信号;
利用至少一个检测线接收电平信号;以及
在显示区域的显示画面中出现亮线的情况下,确定非显示区域出现裂纹,其中,所述非显示区域包括至少一个子区域,所述至少一个子区域包括第一子区域、第二子区域和第三子区域,第一检测线的弯曲部分在所述第一子区域上,第二检测线的弯曲部分在所述第二子区域上、第三检测线的弯曲部分在所述第三子区域上;
其中,在黑色画面中出现对应于第一检测线的第一条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域出现裂纹;
在黑色画面中出现对应于第二检测线的第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域出现裂纹;
在黑色画面中出现对应于第三检测线的第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第三子区域出现裂纹;
在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第二条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第二子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第二检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在黑色画面中出现第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者在第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹;
在黑色画面中出现第一条红色、绿色或蓝色亮线,第二条红色、绿色或蓝色亮线和第三条红色、绿色或蓝色亮线的情况下,确定第一子区域、第二子区域和第三子区域均出现裂纹,或者第一检测线、第二检测线和第三检测线均所在的相同区域出现裂纹。
CN201810801287.6A 2018-07-20 2018-07-20 显示装置和用于显示装置的检测方法 Active CN108922462B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810801287.6A CN108922462B (zh) 2018-07-20 2018-07-20 显示装置和用于显示装置的检测方法
US16/391,833 US10948535B2 (en) 2018-07-20 2019-04-23 Display device and detection method for the display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810801287.6A CN108922462B (zh) 2018-07-20 2018-07-20 显示装置和用于显示装置的检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108922462A true CN108922462A (zh) 2018-11-30
CN108922462B CN108922462B (zh) 2022-05-24

Family

ID=64415389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810801287.6A Active CN108922462B (zh) 2018-07-20 2018-07-20 显示装置和用于显示装置的检测方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10948535B2 (zh)
CN (1) CN108922462B (zh)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109697947A (zh) * 2019-02-26 2019-04-30 昆山国显光电有限公司 显示装置及裂纹感测的方法
CN109859672A (zh) * 2019-04-08 2019-06-07 京东方科技集团股份有限公司 显示面板组件、显示装置以及显示面板组件的驱动方法
CN109872634A (zh) * 2019-03-28 2019-06-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板
CN109950286A (zh) * 2019-03-28 2019-06-28 昆山国显光电有限公司 显示面板
CN110070811A (zh) * 2019-03-29 2019-07-30 昆山国显光电有限公司 显示面板
CN110164344A (zh) * 2019-06-06 2019-08-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及显示装置
CN110211493A (zh) * 2019-04-12 2019-09-06 上海天马微电子有限公司 柔性显示面板和柔性显示装置
CN110648618A (zh) * 2019-10-08 2020-01-03 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测裂纹电路及显示面板
CN110718577A (zh) * 2019-10-23 2020-01-21 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及显示装置
CN111044578A (zh) * 2019-12-31 2020-04-21 厦门天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹位置定位方法、显示装置
CN111398355A (zh) * 2020-03-25 2020-07-10 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板检测电路及显示装置
CN111490083A (zh) * 2020-04-20 2020-08-04 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制备方法、边缘裂纹检测方法、显示装置
CN111583842A (zh) * 2020-05-29 2020-08-25 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置及其断线检测方法
CN111667784A (zh) * 2020-06-09 2020-09-15 昆山国显光电有限公司 显示面板、显示面板的驱动方法和显示装置
CN112150920A (zh) * 2020-08-27 2020-12-29 昆山国显光电有限公司 一种显示面板及显示装置
CN113112940A (zh) * 2021-04-15 2021-07-13 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板
CN113450652A (zh) * 2021-06-29 2021-09-28 京东方科技集团股份有限公司 面板裂纹检测组件、显示面板和显示装置
WO2021223080A1 (zh) * 2020-05-06 2021-11-11 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
CN113971906A (zh) * 2020-03-25 2022-01-25 武汉天马微电子有限公司 显示装置及其驱动方法
WO2023000122A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10950186B2 (en) * 2019-07-26 2021-03-16 Novatek Microelectronics Corp. Display apparatus and method thereof
KR20210029396A (ko) * 2019-09-06 2021-03-16 삼성전자주식회사 크랙 검출 구조물을 포함하는 반도체 장치 및 비휘발성 메모리 장치
KR20210044356A (ko) * 2019-10-14 2021-04-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102651587B1 (ko) * 2020-01-22 2024-03-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 표시 장치
CN115956220A (zh) * 2021-07-20 2023-04-11 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示面板和测试阵列基板的方法
CN114093289B (zh) * 2021-11-19 2023-12-12 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN115763431A (zh) * 2022-11-17 2023-03-07 武汉天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107195249A (zh) * 2016-03-15 2017-09-22 三星显示有限公司 显示装置
US20180053466A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
CN107767801A (zh) * 2016-08-22 2018-03-06 三星显示有限公司 显示设备
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
US20180182274A1 (en) * 2016-12-27 2018-06-28 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and method for detecting cracks in display panel

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9370075B2 (en) * 2008-12-09 2016-06-14 Ignis Innovation Inc. System and method for fast compensation programming of pixels in a display
KR101783953B1 (ko) * 2010-12-27 2017-10-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
KR102409454B1 (ko) * 2015-02-02 2022-06-15 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
KR102561277B1 (ko) * 2016-08-01 2023-07-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20180065061A (ko) * 2016-12-06 2018-06-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107195249A (zh) * 2016-03-15 2017-09-22 三星显示有限公司 显示装置
US20180053466A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
CN107767801A (zh) * 2016-08-22 2018-03-06 三星显示有限公司 显示设备
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
US20180182274A1 (en) * 2016-12-27 2018-06-28 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and method for detecting cracks in display panel

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109697947A (zh) * 2019-02-26 2019-04-30 昆山国显光电有限公司 显示装置及裂纹感测的方法
US11062630B2 (en) 2019-03-28 2021-07-13 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Display panel
CN109872634A (zh) * 2019-03-28 2019-06-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板
CN109950286A (zh) * 2019-03-28 2019-06-28 昆山国显光电有限公司 显示面板
CN110070811A (zh) * 2019-03-29 2019-07-30 昆山国显光电有限公司 显示面板
CN109859672A (zh) * 2019-04-08 2019-06-07 京东方科技集团股份有限公司 显示面板组件、显示装置以及显示面板组件的驱动方法
CN110211493A (zh) * 2019-04-12 2019-09-06 上海天马微电子有限公司 柔性显示面板和柔性显示装置
CN110164344A (zh) * 2019-06-06 2019-08-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及显示装置
CN110164344B (zh) * 2019-06-06 2022-09-16 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及显示装置
US11415621B2 (en) 2019-10-08 2022-08-16 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Crack detecting circuit and display panel
CN110648618A (zh) * 2019-10-08 2020-01-03 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 检测裂纹电路及显示面板
CN110718577B (zh) * 2019-10-23 2022-11-15 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及显示装置
CN110718577A (zh) * 2019-10-23 2020-01-21 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及显示装置
CN111044578A (zh) * 2019-12-31 2020-04-21 厦门天马微电子有限公司 显示面板及其裂纹位置定位方法、显示装置
CN113971906A (zh) * 2020-03-25 2022-01-25 武汉天马微电子有限公司 显示装置及其驱动方法
CN111398355A (zh) * 2020-03-25 2020-07-10 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板检测电路及显示装置
CN113971906B (zh) * 2020-03-25 2023-06-09 武汉天马微电子有限公司 显示装置及其驱动方法
CN111398355B (zh) * 2020-03-25 2022-08-23 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板检测电路及显示装置
CN111490083A (zh) * 2020-04-20 2020-08-04 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制备方法、边缘裂纹检测方法、显示装置
CN113939912A (zh) * 2020-05-06 2022-01-14 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
WO2021223080A1 (zh) * 2020-05-06 2021-11-11 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
CN113939912B (zh) * 2020-05-06 2023-02-17 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置
US11751464B2 (en) 2020-05-06 2023-09-05 Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display substrate and display device
CN111583842A (zh) * 2020-05-29 2020-08-25 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置及其断线检测方法
CN111667784A (zh) * 2020-06-09 2020-09-15 昆山国显光电有限公司 显示面板、显示面板的驱动方法和显示装置
CN112150920A (zh) * 2020-08-27 2020-12-29 昆山国显光电有限公司 一种显示面板及显示装置
CN113112940A (zh) * 2021-04-15 2021-07-13 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板
CN113112940B (zh) * 2021-04-15 2023-12-05 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板
CN113450652A (zh) * 2021-06-29 2021-09-28 京东方科技集团股份有限公司 面板裂纹检测组件、显示面板和显示装置
WO2023000122A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示装置
GB2618025A (en) * 2021-07-19 2023-10-25 Boe Technology Group Co Ltd Display substrate and display device

Also Published As

Publication number Publication date
US10948535B2 (en) 2021-03-16
CN108922462B (zh) 2022-05-24
US20200025820A1 (en) 2020-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108922462B (zh) 显示装置和用于显示装置的检测方法
US12020995B2 (en) Display device
AU2019261689B2 (en) Display panel and crack detecting method thereof, display apparatus
EP3648087B1 (en) Display device and method for inspection thereof
US10861361B2 (en) Display device
CN111540294B (zh) 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN103779382A (zh) 有机发光显示装置及其测试方法
US10852571B2 (en) Display module and method of testing the same
CN109697947B (zh) 显示装置及裂纹感测的方法
US20230245605A1 (en) Display device
CN112289837A (zh) 显示基板及其检测方法和显示装置
US12016217B2 (en) Display panel and display device including crack detection line electrically connecting first and second pins
CN112419947B (zh) 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US20240049538A1 (en) Display panel and display device
US20230230517A1 (en) Display device and method of inspecting the same
CN117750838A (zh) 显示装置以及用于检查显示装置的方法
CN116076067A (zh) 显示面板及显示装置
JP2019045594A (ja) 発光素子基板の検査方法および発光素子基板

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant