CN109697947B - 显示装置及裂纹感测的方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供的显示装置及裂纹感测的方法，通过采用基底包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供，以使可根据利用裂纹感测线的状态控制测试控制开关实现对于显示装置是否存在裂纹的感测。

Description

显示装置及裂纹感测的方法

技术领域

本发明涉及显示技术，尤其涉及一种显示装置及裂纹感测的方法。

背景技术

随着显示技术的发展和柔性显示技术的成熟，包括柔性显示屏在内的显示装置逐步走向人们的生活。

一般来说，在显示装置的制备、运输以及组装等过程中，其屏体电路膜层容易出现裂纹，从而导致屏体的信号线断裂或微断，进而使得屏体功能异常。

因此，如何有效感测屏体电路膜层裂纹成为研究重点。

发明内容

针对上述提及如何有效感测屏体电路膜层裂纹的问题，本发明提供了一种显示装置及裂纹感测的方法。

一方面，本发明提供了一种显示装置，包括：

基底，包括显示区域以及位于显示区域周围的非显示区域，显示区域包括阵列排布的多个子像素；以及

设在非显示区域的一条或多条裂纹感测线，一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，测试控制开关用于控制测试信号向多个子像素的提供。

可选地，非显示区域包括多个子区域，非显示区域设有多条裂纹感测线，每个子区域中设有多条裂纹感测线中的至少一条裂纹感测线。

可选地，每个子区域中所设的至少一条裂纹感测线连接到多个子像素中不同列子像素的测试控制开关。

可选地，每个测试控制开关连接到多个子像素中相同颜色的子像素；并且

各个子区域中所设的至少一条裂纹感测线分别连接到与不同颜色子像素连接的测试控制开关。

可选地，多个子区域位于非显示区域的不同侧边。

可选地，测试引脚用于接收单元测试(cell test)的开关信号，测试信号是用于单元测试的数据信号，其中，

当开关信号使得测试控制开关导通时，测试信号被提供到与测试控制开关连接的子像素。

可选地，测试控制开关为金属-氧化物-半导体(MOS)晶体管或薄膜晶体管，控制端为MOS晶体管或薄膜晶体管的栅极。

另一方面，本发明提供了一种对上述显示装置进行裂纹感测的方法，其特征在于包括以下步骤：

向各测试引脚输入开关信号；向与测试控制开关连接的测试信号线提供第一电位信号；以及

根据子像素的显示状态确定是否出现裂纹。

可选地，根据子像素的显示状态确定是否出现裂纹包括：

检测各颜色亮度；

根据预设的亮度查找表确定是否存在超过预设亮度阈值的颜色亮度；以及

若存在，则确定该颜色亮度相应的裂纹感测线出现裂纹。

再一方面，本发明提供了一种对上述显示装置进行裂纹感测的方法，其特征在于包括以下步骤：

向各测试引脚输入开关信号；

向与测试控制开关连接的测试信号线提供第二电位信号，以使显示装置呈现白画面；以及

根据白画面的色偏度确定所述裂纹感测线是否出现裂纹。

本发明提供的显示装置及裂纹感测的方法，通过采用基底包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供，以使可根据利用裂纹感测线的状态控制测试控制开关实现对于显示装置是否存在裂纹的感测。相比于传统的检测裂纹感测线电阻的方式，本发明的方案可以将测试阶段从模组段提前到单元测试(cell test)段；相比于裂纹感测线与数据线串联连接的方式，无需每根数据线设置电阻补偿，从而避免了设置数据线电阻补偿所造成的功耗增加和数据信号延迟。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1为现有的显示装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种裂纹感测方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种裂纹感测方法的流程示意图。

通过上述附图，已示出本公开明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

下面可以参考附图描述本公开各示例实施例。因此，本领域普通技术人员将认识到，在不背离本公开的范围和精神的情况下，可以对本文描述的各示例实施例进行各种改变、等同和/或替换。在附图描述中，相似的组件可以用相似的附图标记来表示。

本公开中，表述“具有”、“可以具有”、“包括”和“包含”、或者“可以包括”和“可以包含”在本文中可以用于指示存在对应的特征(例如，诸如数值、功能、操作或组件等元素)，但不排除附加特征的存在。

本公开中，这里使用的表述“A或B”、“A和/或B中的至少一个”、或者“A和/或B中的一个或多个”等可以包括相关列出项中一个或多个的所有组合。例如，术语“A或B”、“A和B中的至少一个”、“A或B中的至少一个”可指代以下所有情况：(1)包括至少一个A，(2)包括至少一个B，(3)包括至少一个A和至少一个B。

本公开中使用的术语用于描述本公开示例实施例的目的，而不是为了限制本公开的范围。除非另有指示，否则单数形式的术语可以包括复数形式。除非本文另有定义，本文使用的所有术语(含技术或科学术语)可以具有本领域技术人员通常理解的相同含义。还要理解的是，词典中定义或常用的术语也应被解释为相关技术的惯用方式，而不应理想化或过于正式使用，除非在本公开各示例实施例中明确如此定义。在一些情况下，即使术语是在本公开中定义的术语，该术语也不应解释为排除本公开的实施例。

随着显示技术的发展和柔性显示技术的成熟，包括柔性显示屏在内的显示装置逐步走向人们的生活。一般来说，在显示装置的制备、运输以及组装等过程中，其屏体电路膜层容易出现裂纹，从而导致屏体的信号线断裂或微断，进而使得屏体功能异常。因此，如何有效感测屏体电路膜层裂纹成为研究重点。

图1为现有的显示装置的结构示意图，如图1所示，显示装置具有用于显示的显示区域150，而用于检测屏体是否存在裂纹的裂纹感测线160一般围绕显示区域150设置，该裂纹感测线160的两端还设置有测试引脚161，以便通过该测试引脚161将相应的测试信号输入至裂纹感测线160中。但是，这样的对于屏体裂纹感测的方式存在诸多缺陷。例如，通常是通过测量图1中所示的两个测试引脚161之间的电阻来确定屏体是否存在裂纹；如果不存在裂纹，则裂纹感测线160(即两个测试引脚161之间)的电阻可以是几千欧姆，如果存在裂纹，则断裂感测线160断裂，其电阻可以是几百兆欧姆。通过测量电阻的方式来确定屏体是否存在裂纹，需要配套模组段的相关器件和工艺，因而只能在模组段进行感测，对于存在裂纹的屏体，白白浪费了模组段的成本。

另外，现有技术中还有通过将裂纹感测线与数据线串联连接来感测裂纹的方式，但是在这种方式中，裂纹感测线会增加数据线的电阻，需要针对不连接裂纹感测线的数据线设置电阻补偿，从而增加了功耗并且造成了数据信号延迟。

下面以具体地实施例对本发明的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面的这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本发明的实施例进行描述。

本发明实施例所述显示装置可为仅具备显示功能的显示器，也可为可提供操作交互功能的智能终端设备。显示装置可为具备折叠功能或弯折功能的柔性电子设备，也可为不具备折叠功或不具备弯折功能的传统电子设备。当然，随着技术的发展，该显示装置还可为其他电子设备和新的电子设备。

本发明提供的显示装置，通过采用基底包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供，以使可根据利用裂纹感测线的状态控制测试控制开关实现对于显示装置是否存在裂纹的感测。

图2为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，如图2所示的，在该实施例中，显示装置包括基底100，基底100至少包括显示区域110以及位于显示区域110周围的非显示区域，显示区域110包括阵列排布的多个子像素111a、111b和111c(下面统称子像素111)。该显示装置还包括设在非显示区域的一条或多条裂纹感测线120，裂纹感测线120的一端与测试控制开关130的控制端连接，另一端与测试引脚140连接，测试控制开关130用于控制测试信号向多个子像素111的提供。具体而言，测试控制开关130的一端与多个子像素111(例如，多个子像素111的数据线)相连接，测试控制开关130的另一端与测试信号线相连接，测试信号线用于传输测试信号。

具体来说，基底100可以由各种材料(例如玻璃、塑料等)形成，根据显示装置的类型的差异，其可采用不同的材料构成。例如，当显示装置为柔性电子设备时，该基底可以通过使用柔性材料(例如聚酰亚胺塑料等)形成。

基底100所包括显示区域110的区域尺寸和在基底100上设置的位置可根据实际使用需求或设计需求决定，在显示区域110中包括用于显示的子像素111，子像素111可以呈阵列排布。子像素111可以是显示不同颜色的子像素。这些颜色包括但不限于红色、绿色、蓝色，在其他示例中，这些颜色还可包括白色、黄色等。

基底110还包括非显示区域，该非显示区域位于显示区域110的周围，即基底110中除显示区域110之外的区域。在该非显示区域中包括裂纹感测线120、测试控制开关130、测试引脚140、各种数据信号线以及扫描驱动电路等。

在本示例中，为了对显示装置进行裂纹感测，显示装置中还包括裂纹感测线120，该裂纹感测线120设在前述的非显示区域中，用于对容易出现裂纹的非显示区域中的屏体电路膜层是否出现裂纹进行感测。

一旦设有裂纹感测线120的非显示区域出现裂纹，裂纹感测线120将发生包括形状、位置在内的物理状态的变化，如裂纹感测线120出现弯曲、弯折甚至断裂，其在非显示区域中的埋设的水平位置可能发生偏移，其在非显示区域中所埋设的层位置可能发生变化。此外，裂纹感测线120可为一条或多条，每条裂纹感测线120埋设在非显示区域的具体位置可根据裂纹感测线120的数量或实际感测需求确定。

示例性地，在非显示区域中可包括多个子区域，该非显示区域的每个子区域中埋设有多条裂纹感测线120中的至少一条。其中，多个子区域可以位于非显示区域的不同侧边，如左侧边、右侧边、上侧边等。在另一示例中，多个子区域可以位于同一侧边的不同部位，例如左侧边或右侧边的上部、中部、下部或者上侧边的左部、中部、右部等。在另一示例中，多个子区域可以采用不同侧边与不同部位的组合方式，而且不要求所有子区域的位置均不同，而是只要有至少一个子区域与其他子区域不同即可。

示例性地，在非显示区域中还可埋设一条裂纹感测线120，该裂纹感测线120可根据感测需求设置在非显示区域的至少一个侧边处。

在本示例中，前述的一条或多条裂纹感测线120的一端与测试控制开关130的控制端连接，另一端与测试引脚140连接，测试控制开关130用于控制数据信号向多个子像素111的提供。

具体地，如前所述的，测试控制开关130、测试引脚140均可设置在非显示区域中。

测试控制开关130可为MOS(金属-氧化物-半导体)晶体管或薄膜晶体管(TFT)，测试控制开关130的控制端为MOS晶体管或薄膜晶体管的栅极。当然，测试控制开关130也可以采用其他类型的晶体管或开关元件。

其中，在非显示区域设有多条裂纹感测线120且每个子区域中设有多条裂纹感测线120中的至少一条的情况下，各个子区域中所设的至少一条裂纹感测线120连接到多个子像素111中不同列子像素111(例如分别连接到子像素111a、111b和111c)的测试控制开关130。

具体地，在该示例中，每一列子像素111均对应有一测试控制开关130，该列子像素111(例如，该列子像素111的数据线)与测试控制开关130的一端相连，测试控制开关130的另一端与向该列子像素111提供测试信号的测试信号线相连接。

在一示例中，每个测试控制开关130连接到多个子像素111中相同颜色的子像素111。各个子区域中所设的至少一条裂纹感测线120分别连接到与不同颜色子像素111连接的测试控制开关130。例如，在该示例中，一个测试控制开关130连接到绿色子像素111a，一个测试控制开关130连接到蓝色子像素111b，一个测试控制开关130连接到红色子像素111c。虽然图2示出每个测试控制开关130连接到一列相同颜色的子像素111，但在其他实施例中，每个测试控制开关130可以连接到多列或者以其他方式排列的相同颜色子像素111。在该示例中，测试控制开关130的一端与提供测试信号的测试信号线(如Data_R、Data_B或Data_G)连接。

此外，在该示例中，测试引脚140用于接收单元测试的开关信号，测试信号可以是用于单元测试的数据信号。当开关信号使得测试控制开关130导通时，测试信号被提供到与测试控制开关130连接的子像素111。

需要说明的是，在本领域中，单元测试(cell test)也称作“屏体测试”。在裂纹感测时，当非显示区域出现裂纹时，裂纹感测线120的物理状态发生改变(如断裂)，其电学性质如电阻也将发生变化，此时，若开关信号输入至测试引脚140，则开关信号在经过裂纹感测线120时发生变化(例如无法传送到测试控制开关130)，进而使得测试控制开关130的导通状态发生变化(关断)，子像素111的工作状态(显示状态)发生改变(例如显示异常)，据此判断屏体的非显示区域出现裂纹。若非显示区域未出现裂纹，则测试引脚140接收的开关信号可以正常传送到测试控制开关130，使测试控制开关130导通，从而使得测试信号可以传送到子像素111，正常进行单元测试。

本发明实施例提供的显示装置，通过采用基底包括显示区域以及位于显示区域周围的非显示区域，显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在非显示区域的一条或多条裂纹感测线，一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，测试控制开关用于控制测试信号向多个子像素的提供，以使可根据利用裂纹感测线的状态控制测试控制开关实现对于显示装置是否存在裂纹的感测。

基于前述各结构，图3和图4分别提供了一种裂纹感测的方法。

图3为本发明实施例提供的一种裂纹感测方法的流程示意图，如图3所示，该裂纹感测方法包括步骤101至103。

在步骤101中，向各测试引脚140输入开关信号。开关信号可以是使得测试控制开关130导通的开关信号，不同测试控制开关130的导通和关断可以根据具体情况而变化，例如同时导通和关断或者按照一定顺序依次导通或关断。在一个示例中，优选地可以通过开关信号的控制，依次(例如从左到右或从右到左)点亮与测试控制开关130连接的子像素111。

在步骤102中，向与测试控制开关130连接的测试信号线提供第一电位信号。该第一电位信号例如是低灰阶或者黑画面对应的高电位信号，例如5V的信号，从而通过开关信号的控制和第一电位信号的驱动，依次点亮与测试控制开关130连接的子像素111。

在步骤103中，根据子像素111的显示状态确定是否出现裂纹。例如，如果一条裂纹感测线120断裂，与该裂纹感测线120连接的测试控制开关130关断，使得与测试控制开关130连接的子像素111的数据线悬空，这些子像素111无法写入数据信号，驱动晶体管处于线性工作区，以最大亮度发光，该单色亮度明显提高且不会随着测试信号而变化(即显示异常)，从而判断该裂纹感测线断裂。当然，显示异常也可以是其他情况，只要其能够与正常显示状态区分开即可。

具体地，该实施例所基于的显示装置包括基底，包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供。

针对于该显示装置，首先可向各测试引脚输入第一开关信号，该第一开关信号可设置为具有峰值黑色灰度级电位的信号，如5V的高电位信号。通过开关信号使得与各测试引脚连接的测试控制开关导通，将具有峰值黑色灰度级电位的第一电位信号提供给与所述各测试控制开关连接的子像素，以使所述显示装置呈现黑画面。最后，根据子像素的亮度确定是否出现裂纹。

可选地，在本示例中，根据子像素的显示状态确定是否出现裂纹包括：检测各颜色亮度；根据预设的亮度查找表确定是否存在超过预设亮度阈值的颜色亮度；若存在，则确定该颜色亮度相应的裂纹感测线出现裂纹。

也就是说，在本示例中，当裂纹感测线出现物理状态的改变，如弯折、断裂、偏移等，其无法将开关信号正常提供给测试控制开关的控制端，测试开关无法开启，或者即使开启其开态电阻比正常开启时大，从而使得相应的子像素中无法正常写入第一电位信号，只能写入电位低于第一电位的信号，进而使得该相应子像素将以大于黑色灰度级的亮度发光。可选的，通过针对与不同颜色亮度的确定，从而有效提高对于出现裂纹的裂纹感测线的判断，进而提高对出现裂纹的子区域的位置的判定，实现对于裂纹位置的精准获取，提高裂纹感测精度。

图4为本发明实施例提供的另一种裂纹感测方法的流程示意图，如图4所示，该裂纹感测方法包括步骤201至203。

在步骤201中，向各测试引脚输入开关信号。与步骤101中类似，开关信号可以是使得测试控制开关130导通的开关信号。

在步骤202中，向与测试控制开关连接的测试信号线提供第二电位信号，以使显示装置呈现白画面。

在步骤203中，根据白画面的色偏度确定裂纹感测线是否出现裂纹。

与前述实施例类似的是，该实施例所基于的显示装置包括基底，包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供。

此外，针对于该显示装置，可向各测试信号线输入第二电位信号，该第二电位信号设置为具有中间灰度级电位的信号，如3V电位信号。将各开关信号提供给所述各测试引脚，也就是说，通过开关信号开启与各测试引脚连接的测试控制开关，将具有中间灰度级电位的第二电位信号提供给与所述各测试控制开关连接的子像素，以使所述显示装置呈现具有中等亮度的白画面。最后，根据所述白画面的色偏度确定裂纹感测线是否出现裂纹。

也就是说，在本示例中，当裂纹感测线出现物理状态的改变，如弯折、断裂、偏移等，其无法将开关信号正常提供给测试控制开关的控制端，测试开关无法开启，或者即使开启其开态电阻比正常开启时大，从而使得相应的子像素中无法正常写入第二电位信号，只能写入电位低于第二电位的信号，进而使得该相应子像素将以大于中间灰度级的亮度发光，造成显示装置呈现的白画面发生明显的色偏离。而通过对其色偏离的分析，可对出现裂纹的子区域的位置进行判定，实现对于裂纹位置的精准获取，提高裂纹感测精度。

在本发明中，步骤101和102的顺序并不受限，可以先执行步骤101再执行步骤102，也可以先执行步骤102再执行步骤101；步骤201和202的顺序亦是如此。

虽然在此说明了本发明的示例性实施例，本发明并不限于在此所述的各种优选实施例，而是包括根据本公开将被本领域的人员理解的具有等同要素的任何和所有的实施例、修改、省略、结合(例如，所有各种实施例的方面)、改变和/或替换。权利要求中的限制将根据权利要求中所采用的术语进行广泛的解释，且并不局限于在本说明书中或在本申请的过程期间说明的示例，所述示例解释为非排它性的。例如，在本公开中，术语“优选地”是非排它性的，其表示“优选地，但并不限于”。在本公开中并且在本申请的过程期间，装置加功能或步骤加功能的限制将仅仅用于以下情况，对于特定的权利要求限制，在该限制中所有以下条件存在：a)清楚地陈述了“用于...的装置”或“用于...的步骤”；b)清楚地陈述了相应的功能；以及c)没有陈述结构、支持该结构的材料或行为。在本公开中并且在本申请的过程期间，术语“本发明”或“发明”可用作表示本公开中的一个方面或多个方面。术语本发明或发明不应被不正确地解释为限制，不应被不正确地解释为应用所有方面或实施例(也就是，应理解，本发明具有多个方面和实施例)，且不应被不正确地解释为限制申请或权利要求的范围。在本公开中并且在本申请的过程期间，术语“实施例”可用于说明任何方面、特征、过程或步骤、它们的任何组合和/或它们的任何部分等。在一些示例中，各种实施例可包括重叠的特征。在本公开中并且在本申请的过程期间，可利用以下简写术语：表示“例如”的“e.g.”和表示“注意”的“NB”。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种显示装置，其特征在于，包括：

基底，包括显示区域以及位于所述显示区域周围的非显示区域，所述显示区域包括阵列排布的多个子像素；以及

设在所述非显示区域的一条或多条裂纹感测线，所述一条或多条裂纹感测线的一端与测试控制开关的控制端连接，另一端与测试引脚连接，所述测试控制开关用于控制测试信号向所述多个子像素的提供；

所述非显示区域包括多个子区域，所述非显示区域设有多条裂纹感测线，每个子区域中设有所述多条裂纹感测线中的至少一条裂纹感测线；各个子区域中所设的至少一条裂纹感测线连接到所述多个子像素中不同列子像素的测试控制开关。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，每个所述测试控制开关连接到所述多个子像素中相同颜色的子像素；并且

各个子区域中所设的至少一条裂纹感测线分别连接到与不同颜色子像素连接的测试控制开关。

3.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，所述多个子区域位于所述非显示区域的不同侧边。

4.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，所述测试引脚用于接收单元测试的开关信号，所述测试信号是用于单元测试的数据信号，其中，

当所述开关信号使得所述测试控制开关导通时，所述测试信号被提供到与所述测试控制开关连接的子像素。

5.根据权利要求1或2所述的显示装置，其特征在于，所述测试控制开关为金属-氧化物-半导体MOS晶体管或薄膜晶体管，所述控制端为所述MOS晶体管或薄膜晶体管的栅极。

6.一种对权利要求1-5中任一项所述的显示装置进行裂纹感测的方法，其特征在于包括以下步骤：

向各测试引脚输入开关信号；

向与所述测试控制开关连接的测试信号线提供第一电位信号；以及

根据所述子像素的显示状态确定是否出现裂纹。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述子像素的显示状态确定是否出现裂纹包括：

检测各颜色亮度；

根据预设的亮度查找表确定是否存在超过预设亮度阈值的颜色亮度；以及

若存在，则确定该颜色亮度相应的裂纹感测线出现裂纹。

8.一种对权利要求1-5中任一项所述的显示装置进行裂纹感测的方法，其特征在于包括以下步骤：

向各测试引脚输入开关信号；

向与所述测试控制开关连接的测试信号线提供第二电位信号，以使所述显示装置呈现白画面；以及

根据所述白画面的色偏度确定所述裂纹感测线是否出现裂纹。

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