CN106935166B - 显示面板及其检查方法 - Google Patents

显示面板及其检查方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106935166B
CN106935166B CN201611178111.7A CN201611178111A CN106935166B CN 106935166 B CN106935166 B CN 106935166B CN 201611178111 A CN201611178111 A CN 201611178111A CN 106935166 B CN106935166 B CN 106935166B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
display panel
inspection
output pad
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201611178111.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106935166A (zh
Inventor
李俊烨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Display Co Ltd
Original Assignee
LG Display Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Display Co Ltd filed Critical LG Display Co Ltd
Publication of CN106935166A publication Critical patent/CN106935166A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106935166B publication Critical patent/CN106935166B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2003—Display of colours
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0439—Pixel structures
    • G09G2300/0452—Details of colour pixel setup, e.g. pixel composed of a red, a blue and two green components
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0297—Special arrangements with multiplexing or demultiplexing of display data in the drivers for data electrodes, in a pre-processing circuitry delivering display data to said drivers or in the matrix panel, e.g. multiplexing plural data signals to one D/A converter or demultiplexing the D/A converter output to multiple columns
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0223—Compensation for problems related to R-C delay and attenuation in electrodes of matrix panels, e.g. in gate electrodes or on-substrate video signal electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0233—Improving the luminance or brightness uniformity across the screen
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

显示面板及其检查方法。根据实施方式的显示面板包括：驱动器集成电路(IC)；数据线，所述数据线被设置在显示区域中；输入焊盘，所述输入焊盘被设置在焊盘区域中；输出焊盘，所述输出焊盘被设置在包括在所述焊盘区域中的第一检查电路中；以及第一开关电路，该第一开关电路被设置在所述第一检查电路中并且连接至所述输出焊盘。所述第一开关电路被配置为向所述数据线供应第一信号。所述显示面板还包括：第一信号线，该第一信号线被配置为向所述输出焊盘输出所述第一信号；第二开关电路，该第二开关电路被设置在第二检查电路中并且连接至所述显示区域中的所述数据线；以及第二信号线，该第二信号线被配置为向所述第二开关电路供应第二信号。

Description

显示面板及其检查方法
技术领域
本发明涉及显示面板及其检查方法。
背景技术
近来，已经使用多种类型的制造工序来制造诸如液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)显示装置、等离子体显示面板(PDP)和电泳显示器(EPD)这样的显示装置。在使用这些制造工序完成显示面板之后，执行确定在形成在显示面板上的信号线(例如，数据线)和子像素SP中是否存在缺陷的自动探测(auto-probe)检查工序。
在显示装置中，显示面板具有显示图像的功能。还被称为照明测试的自动探测检查工序是将检查信号输入到显示面板以响应于该检查信号而确定显示面板是否正常地操作的工序。为了执行这种自动探测检查工序，用于供应检查信号的检查部以及用于从外部系统接收信号的输入焊盘部形成在显示面板的焊盘区域中。多个输出焊盘被布置在检查部的输出焊盘部上，并且连接至显示区域中的数据线。自动探测检查工序通过将检查信号从输出焊盘部供应到数据线来确定例如在设置在显示区域中的数据线中是否存在缺陷、在子像素中是否存在缺陷或者是否存在亮度方面的缺陷。
然而，根据显示装置的模型或分辨率安装在焊盘区域上的驱动集成电路(IC)不使用设置在输出焊盘部上的输出焊盘中的全部。非使用的输出焊盘是存在于被使用的有源输出焊盘之间的虚设焊盘。当输出焊盘部的输出焊盘中的全部未被使用时，设置在显示区域中的数据线与非使用的输出焊盘断开，使得在自动探测检查工序期间通过非使用的输出焊盘形成电阻差ΔR。
因此，当特定灰度级图案或白色图案被显示在显示面板上以使用自动探测检查工序来确定在显示区域中是否存在缺陷时，由于通过非使用的焊盘形成的电阻差而在非使用焊盘的区域中形成亮度缺陷(例如，暗淡区域)。换句话说，尽管显示面板是完全可操作的，然而可能在自动探测检查工序中发生根据相关技术的显示面板中的亮度缺陷，因此降低了检查工序的精度。
发明内容
本发明的各个方面提供了一种显示面板及其检查方法，在该显示面板及其检查方法中提供了能够在显示面板上执行自动探测检查工序的第一检查电路和第二检查电路。因此能够通过将通过第一检查电路显示在显示面板上的图案与通过第二检查电路显示在显示面板上的图案进行比较来执行更精确的缺陷检查。
根据本发明的方面，一种显示面板可以包括：显示区域(例如，显示部位)，该显示区域包括多个子像素；焊盘区域，该焊盘区域具有设置在其中的第一检查电路以向显示区域供应第一检查信号，以便确定在显示区域中是否存在缺陷；以及第二检查电路，该第二检查电路面对所述第一检查电路，所述显示区域位于第一检查电路与第二检查电路之间。第一检查电路包括连接至设置在显示区域中的数据线的多个输出焊盘、向所述多个输出焊盘供应第一检查信号的第一开关电路、以及用来将第一检查信号供应到第一开关电路的第一信号线。第二检查电路包括连接至显示区域中的数据线的第二开关电路和用来将第二检查信号供应到第二开关电路的第二信号线。
根据本发明的另一方面，一种显示面板包括：包括多个子像素的显示区域、具有设置在其中的第一检查电路以向显示区域供应第一检查信号的焊盘区域、以及面对第一检查电路的第二检查电路，所述显示区域位于第一检查电路与第二检查电路之间。一种显示面板的检查方法包括以下步骤：通过使用第一检查电路向显示区域中的数据线供应第一检查信号来显示第一灰度级图案；通过使用第二检查电路向所述显示面板的显示区域中的数据线供应第二检查信号来显示第二灰度级图案；以及通过将显示在显示面板上的第一灰度级图案和第二灰度级图案进行比较来确定是否存在缺陷。
在根据本发明的显示面板及其检查方法中，第一检查电路和第二检查电路能够在显示面板上执行自动探测检查工序。因此能够通过将通过第一检查电路显示在显示面板上的图案与通过第二检查电路显示在显示面板上的图案进行比较来执行显示面板的更精确的缺陷检查处理。
附图说明
图1是示意性地例示了根据示例性实施方式的显示装置的配置图；
图2是例示了根据示例性实施方式的显示装置的显示面板的俯视图；
图3是图2中的焊盘区域P/A的放大图；
图4A例示了显示面板的焊盘结构和匹配区域的电阻特性；
图4B例示了当对显示面板执行自动探测检查工序时发生的亮度缺陷；
图5A和图5B例示了对根据示例性实施方式的显示装置的显示面板执行的第一自动探测检查工序；
图6A和图6B例示了对根据示例性实施方式的显示装置的显示面板执行的第二自动探测检查工序；
图7例示了根据未发生亮度缺陷的示例性实施方式的第二自动探测检查工序；以及
图8是例示了根据示例性实施方式的自动探测缺陷检查方法的流程图。
具体实施方式
本发明的以上及其它目的、特征和优点以及获得它们的方法将从实施方式的当与附图相结合地进行时的以下详细描述中被更清楚地理解。然而，本发明可以按照许多不同的形式来具体实现，并且不应该被解释为限于本文中所阐述的实施方式。相反，这些实施方式被提供为使得此发明将是彻底且完整的，并且将完全地将本发明的范围传达给本领域技术人员。应该理解的是，本发明的范围仅由所附的权利要求来限定。
在附图上被例示来描述实施方式的形状、大小、比率、角度、数字等仅是例示性的，并且本发明决不限于此。在整个文件中，相同的参考标号和符号指定相同或相似的组件。在本发明的以下描述中，并入到本文中的已知功能和组件的详细描述在可能因此致使本发明的主题不清楚的情况下将被省去。
将理解的是，除非使用了诸如“仅”或“排他地”这样的排他性术语，否则本文中使用的术语“包括”、“包含”、“具有”及其任何变化旨在涵盖非排他包含。如本文中所使用的，除非显式地描述为相反，否则单数形式也旨在包括复数形式。
除非显式地描述为相反，否则组件将被解释为包括容差。在位置关系的描述中，例如，当两个部分之间的位置关系使用诸如“在...上”、“在...之上”、“在...下方”或“在...的面上”这样的术语来限定时，除非使用了诸如“直接”或“间接”这样的术语，否则至少一个中间元件可以被设置在两个部分之间。在时间关系的描述中，例如，当两个操作之间的时间顺序关系使用诸如“在...之后”、“继...之后”、“然后”、或“在...之前”这样的术语来描述时，除非使用了诸如“直接”或“紧接”这样的术语，否则这两个操作可能不是连续的。
尽管诸如“第一”和“第二”这样的术语可以在本文中用于描述各种组件，然而这些组件不受这些术语限制。然而，应该理解的是，这些术语仅用于将一个组件和另一组件区分开。因此，在本发明的原理内在下文中作为第一组件提及的组件可以是第二组件。
本发明的各种实施方式的特征分别可以被部分地或整个地组合或者混合，并且各种技术交互和操作可以是可能的。实施方式分别可以被按照彼此独立或交互的方式执行。
在下文中，将结合附图详细地参考本发明的实施方式。在附图中，为了简洁起见而可以放大元件的大小和厚度。在整个文件中，相同的参考标号和符号将用于指定相同或相似的组件。
图1是示意性地例示了根据示例性实施方式的显示装置100的配置视图。根据本实施方式的显示装置100包括显示面板110、源极驱动器120、扫描驱动器130和定时控制器140。显示面板110具有设置在其上的多条数据线DL、多条选通线GL和多个子像素SP。源极驱动器120驱动多条数据线DL。扫描驱动器130驱动多条选通线GL。定时控制器140控制源极驱动器120和扫描驱动器130。
定时控制器140通过向其供应多个控制信号来控制源极驱动器120和扫描驱动器130。定时控制器140基于由每个帧实现的定时开始扫描，将从外部源输入的图像数据转换成可由源极驱动器120读取的数据信号格式，输出经转换的图像数据，并且在适合的时间点，响应于扫描而对数据处理进行管理。
源极驱动器120通过向其供应驱动数据电压Vdata来驱动多条数据线DL。源极驱动器120也被称为“数据驱动器”。
扫描驱动器130通过依次向其供应扫描信号来依次驱动多条选通线GL。扫描驱动器130也被称为“选通驱动器”。扫描驱动器130在定时控制器140的控制下向多条选通线GL依次供应分别具有on或off电压的扫描信号。当特定选通线由扫描驱动器130打开时，源极驱动器120将从定时控制器140接收到的图像数据转换成模拟数据电压并且将这些模拟数据电压供应给多条数据线DL。
如图1中所例示，能够将源极驱动器120设置在显示面板110的一侧(例如，上侧或下侧)上。另选地，可以根据面板的驱动系统或设计将源极驱动器120设置在显示面板110的两侧(例如，上侧和下侧二者)上。
如图1中所例示，扫描驱动器130被设置在显示面板110的一侧(例如，左侧或右侧)上。另选地，可以根据例如面板的驱动系统或设计将扫描驱动器130设置在显示面板110的两侧(例如，左侧和右侧二者)上。
定时控制器140从外部源(例如，外部主机系统)接收包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、输入数据使能(DE)信号和时钟信号的各种定时信号以及输入图像数据。定时控制器140不仅将从外部源输入的图像数据转换成可由源极驱动器120读取的数据信号格式并且输出经转换的图像数据，而且通过接收包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、输入DE信号和时钟信号的各种接收到的定时信号来产生各种控制信号。定时控制器140将所述各种控制信号输出给源极驱动器120和扫描驱动器130，以便控制源极驱动器120和扫描驱动器130。例如，定时控制器140输出包括选通起始脉冲(GSP)、选通移位时钟(GSC)信号和选通输出使能(GOE)信号的各种选通控制信号(GCS)以便控制扫描驱动器130。
这里，GSP用于控制扫描驱动器130的一个或更多个选通驱动器集成电路(GDIC)的操作开始定时。GSC信号是共同地输入到GDIC以控制扫描信号(例如，选通脉冲)的移位定时的时钟信号。GOE信号指定一个或更多个GDIC的定时信息。
另外，定时控制器140输出包括源极起始脉冲(SSP)、源极采样时钟(SSC)信号和源极输出使能(SOE)信号的各种数据控制信号(DCS)以便控制源极驱动器120。这里，SSP用于控制源极驱动器120的一个或更多个SDIC的数据采样开始定时。SSC信号是控制SDIC中的每一个的数据采样定时的时钟信号。SOE信号用于控制源极驱动器120的输出定时。
源极驱动器120可以包括一个或更多个源极驱动器集成电路(SDIC)以驱动多条数据线。这些SDIC中的每一个可以包括移位寄存器、锁存电路、数模转换器(DAC)、输出缓冲器和伽玛电压发生器。在一些情况下，这些SDIC中的每一个还可以包括模数转换器(ADC)。
扫描驱动器130可以包括一个或更多个选通驱动器集成电路(GDIC)。这些GDIC中的每一个可以包括移位寄存器和电平移位器。
设置在显示面板110上的子像素SP中的每一个可以包括电路元件，诸如晶体管。例如，在显示面板110中，子像素SP中的每一个包括电路元件，诸如有机发光二极管(OLED)以及用于驱动该OLED的驱动晶体管DRT。
子像素SP中的每一个的电路元件的类型和数目可以根据由此提供的功能及其设计被不同地确定。另外，子像素SP可以是平板显示装置(诸如液晶显示器(LCD)或等离子体显示装置)的分别具有开关晶体管、像素电极和公共电极的子像素。
接下来，图2是例示了根据示例性实施方式的显示装置的显示面板110的俯视图，并且图3是图2中的焊盘区域P/A的放大视图。根据该示例性实施方式的显示装置的显示面板110包括用于显示图像的显示区域A/A(例如，显示部位)、包围该显示区域A/A的非显示区域N/A(例如，非显示部位)以及具有上面设置有例如驱动器集成电路(IC)的驱动器集成电路(IC)安装区域200的焊盘区域P/A。
驱动器IC可以作为被设计来向设置在显示面板110上的数据线输出数据电压并且向设置在显示面板110上的选通线GL输出扫描脉冲的IC被实现。驱动器IC可以包括来自源极驱动器、扫描驱动器和定时控制器中所使用的驱动器IC当中的一个或更多个IC。
在焊盘区域P/A的IC安装区域200中，设置了输入焊盘部310、输出焊盘部320、用来向红色、绿色和蓝色(RGB)子像素供应信号的第一信号线R、G和B以及连接到所述第一信号线的开关电路。在附图中通过面板内选通信号线(GIP_SL)指定的一部分指示用来向设置在显示面板110上的扫描驱动器(例如，选通驱动器)供应时钟信号的GIP信号线。
另外，输出焊盘部320、用来向RGB子像素供应信号的第一信号线以及开关电路300能够用作第一检查电路X以执行自动探测检查工序。输入焊盘部310包括设置在其上的多个输入焊盘，通过所述多个输入焊盘从外部源接收到的信号被供应给驱动器IC。输出焊盘部320包括用来在自动探测检查工序期间向显示区域A/A输出从驱动器IC供应的多个信号或者向显示区域A/A输出通过第一信号线R、G和B供应的检查信号的多个输出焊盘。输出焊盘连接到与显示区域A/A的信号线(例如，数据线)连接的链接线330。
当显示面板110的形成完成时，在驱动器IC被设置在驱动器IC安装区域200上之前，执行自动探测检查工序。自动探测检查工序被执行以确定在设置在显示区域A/A中的数据线DL中是否存在开路缺陷或短路缺陷、在子像素SP中是否存在缺陷、是否存在亮度(例如，灰度级)缺陷以及是否存在混色缺陷。
接下来，图4A例示了显示面板的焊盘结构和匹配区域的电阻特性，并且图4B例示了当对显示面板执行自动探测检查工序时发生的亮度缺陷。第一检查电路X被设置在显示面板的焊盘区域P/A中以执行自动探测检查工序(与图3一起参照图4A和图4B)。
在自动探测检查工序中，检查信号通过第一检查电路X中的用来向RGB子像素供应信号的第一信号线R、G和B被供应给显示区域A/A。检查信号可以是RGB检查信号，或者可以是用于显示特定灰度级图案或白色图案的检查信号。
供应给第一检查电路X的检查信号响应于第一开关电路300(参照图4A)的操作而通过输出焊盘部320和链接线330被供应给设置在显示区域A/A中的数据线DL。第一开关电路300可以包括多个晶体管。数据使能(DE)信号被供应以使得能实现晶体管的开关操作。
因此，自动探测检查工序通过数据线DL依次供应RGB检查信号以确定在数据线DL中是否存在开路缺陷、在数据线DL中是否存在短路缺陷以及在子像素当中是否存在混色缺陷。另外，通过数据线来供应能够显示特定灰度级图案或白色图案的检查信号以确定是否存在亮度缺陷。尽管设置在显示面板110的第一检查电路X上的输出焊盘中的全部可以按需连接到数据线，然而来自这些输出焊盘当中的预定输出焊盘被形成为虚设焊盘，即，非使用焊盘。
具体地，设置在第一检查电路X的输出焊盘部320上的输出焊盘包括以预定距离设置的虚设焊盘区域，使得非使用输出焊盘针对第一输出焊盘组320a、第二输出焊盘组320b、第三输出焊盘组320c和第四输出焊盘组320d被交替地设置。因此，当从第一检查电路X供应检查信号时，检查信号仅通过第一输出焊盘组320a、第二输出焊盘组320b、第三输出焊盘组320c和第四输出焊盘组320d被供应给数据线，使得与在输出焊盘当中相比在第一输出焊盘组320a、第二输出焊盘组320b、第三输出焊盘组320c和第四输出焊盘组320d当中存在显著地更大的电阻差ΔR。
另外，在自动探测检查工序中通过第一信号线R、G和B的一个外围区域来供应RGB检查信号(参照图4A)。在第一信号线R、G和B的外围区域处的信号线中的电阻差比在第一信号线R、G和B的中心处的电阻差小(例如，信号线中的电阻差在从第一信号线R、G和B的外围到中心的方向上增加)。另外，在第一信号线R、G和B的外围区域处的RGB检查信号的电压比在第一信号线R、G和B的中心处的RGB检查信号的电压大(参照图4A；例如，关于第一信号线R、G和B的电阻特性以及RGB检查信号的电压特性，线电阻增加，但是RGB检查信号的电压在从第一信号线R、G和B的外围到中心的方向上变得更低)。
大电阻差ΔR导致在第一输出焊盘组320a、第二输出焊盘组320b、第三输出焊盘组320c和第四输出焊盘组320d当中的检查信号的阻力和电压方面的显著改变。如上所述，根据显示装置的要求，来自设置在焊盘区域P/A中的输出焊盘当中的预定输出焊盘被形成为虚设焊盘或非使用焊盘。换句话说，具有较大的电阻差ΔR的区域被形成为包括被形成为虚设焊盘或非使用焊盘的预定输出焊盘。设置在输出焊盘部320上的输出焊盘未按照一一对应关系与设置在显示区域A/A中的数据线匹配。
因此，在根据相关技术的显示装置中，在自动探测检查工序中形成亮度(例如，暗淡)缺陷。也就是说，当特定灰度级图案或白色图案被显示在显示面板上时，由于结构电阻差，即使在显示面板110不具有有缺陷的子像素的情况下，也会在根据相关技术的显示装置中发生亮度缺陷。
在根据本发明的显示面板及其检查方法中，第一检查电路和第二检查电路被设置在显示区域的两侧上以对显示面板执行缺陷检查工序。第一检查电路用来确定数据线DL中的开路缺陷、短路缺陷、亮度缺陷或混色缺陷。能够通过使得显示面板的第一检查电路和第二检查电路能够显示特定灰度级图案或白色图案以用于将由第一检查电路形成的灰度级图案与由第二检查电路形成的灰度级图案进行比较的缺陷检查，来执行更精确的缺陷检查工序。
接下来，图5A和图5B例示了对根据本实施方式的显示装置的显示面板执行的第一自动探测检查工序，并且图6A和图6B例示了对根据本实施方式的显示装置的显示面板执行的第二自动探测检查工序。根据本实施方式的显示面板装置包括：显示区域A/A，该显示区域A/A包括多个子像素；焊盘区域P/A，该焊盘区域P/A具有设置在其中的第一检查电路X以向显示区域A/A供应第一检查信号以便执行第一自动探测(AP)缺陷检查工序以确定在显示区域A/A中是否存在缺陷；以及面对第一检查电路X的第二检查电路Y，显示区域A/A位于第一检查电路X与第二检查电路Y之间(参照图5A和图5B)。
第一检查电路X包括连接到设置在显示区域A/A中的数据线的多个输出焊盘、将第一检查信号供应给所述多个输出焊盘的第一开关电路300以及用来将第一检查信号供应给第一开关电路300的第一信号线R、G和B(参照图5B)。连接到设置在显示区域A/A中的数据线的多个输出焊盘处在输出焊盘部320中。第一数据线连接到显示区域A/A的红色(R)子像素，第二数据线连接到显示区域A/A的绿色(G)子像素，并且第三数据线连接到显示区域A/A的蓝色(B)子像素。第二检查电路Y包括连接到显示区域A/A中的数据线的第二开关电路400以及用来向第二开关电路400供应第二检查信号的第二信号线SSL。使得第二开关电路400启用的选通信号线GSL是通过与显示区域A/A中的多条选通线GL相同的工序而形成的。选通信号线GSL用于检查经由第一信号线R、G和B供应的RGB数据信号。
尽管在附图中例示了用来向RGB子像素供应信号的第一信号线，然而当显示面板110包括白色(W)子像素时，第一检查电路X还可以包括用来连接W子像素的四条数据线以及用向这四条数据线供应检查信号的W条信号线。当存在W子像素时，能够按照相同的方式应用基于RGB子像素所描述的检查工序。
在根据本发明的显示面板及其检查方法中，使用第一检查电路X来执行第一自动探测缺陷检查工序。包括RGB检查信号的第一检查信号被供应给设置在第一检查电路X中的第一信号线R、G和B中并且随后供应给数据线，由此能够做出关于在数据线中是否存在开路缺陷或短路缺陷的确定。
因此，第一检查信号可以包括通过第一数据线供应给R子像素的R检查信号、通过第二数据线供应给G子像素的G检查信号以及通过第三数据线供应给B子像素的B检查信号。因为第一信号线R、G和B通过第一开关电路300的操作分别连接到第一数据线至第三数据线，所以RGB检查信号(即，第一检查信号)被分别独立地供应给第一数据线至第三数据线。
也就是说，RGB检查信号可以被同时供应给第一数据线至第三数据线，或者可以被在不同的时间点依次供应给第一数据线至第三数据线。另外，第一检查信号可以是用于显示特定灰度级图案或白色图案的检查信号。在这种情况下，RGB检查信号被供应给RGB子像素以形成特定灰度级图案，或者被组合以显示白色图案。当第一检查信号是用于显示特定灰度级图案或白色图案的检查信号时，该特定灰度级图案或白色图案被显示在显示面板的显示区域上以便确定是否存在亮度缺陷。
在第一自动探测缺陷检查工序中，第一检查信号是从焊盘区域P/A的第一检查电路X沿着显示区域A/A的方向供应的(参照图5A)。这里，第一数据使能信号DE1被供应给第一检查电路X的第一开关电路300，使得第一检查信号通过第一开关电路300被供应给输出焊盘部320的连接到第一数据线至第三数据线的输出焊盘。
来自这些输出焊盘当中的预定输出焊盘被用作虚设焊盘或非使用焊盘。
参照图6A和图6B，第二检查电路Y被设置在显示面板110上以面对第一检查电路X。换句话说，显示区域A/A位于第一检查电路X与第二检查电路Y之间(例如，之间位于有显示区域A/A的第一检查电路X和第二检查电路Y被设置为彼此面对)。
第二检查电路Y具有设置在其上的第二开关电路400和第二信号线SSL。第二开关电路400连接到显示区域A/A的数据线。第二信号线SSL使得第二检查信号能够经由其被供应给第二开关电路400以形成特定灰度级图案或白色图案。第二信号线SSL向显示区域A/A供应灰度级信号。
第二检查部Y的第二开关电路400按照一一对应关系连接到显示区域A/A的数据线。因此，第二检查部Y的第二开关电路400与第一检查电路X不同，因为第二检查部Y的第二开关电路400不包括与数据线DL交替的虚设数据线。换句话说，与在第一检查电路X不同，第二检查部Y的第二开关电路400中的虚设数据线不与数据线DL交替。
在第二检查电路Y中，第二检查信号被供应给相邻数据线中的全部。因此，与在图4A中所例示的显示面板中不同，图6A和图6B中所例示的显示面板中的区域不包括与数据线交替的大电阻差。
当使用第二检查电路Y来执行第二自动探测缺陷检查工序时，第二检查信号沿着与第一自动探测缺陷检查工序中的第一检查信号被供应的方向相反的方向被供应给显示区域A/A。
第二检查信号通过第二信号线SSL被供应给第二开关电路400，然后通过第二开关电路400被同时供应给数据线。这时，第二数据使能信号DE2被供应给第二开关电路400。显示区域A/A的第二信号线SSL和数据线通过第二数据使能信号DE2共同地连接。另外，因为供应给第二信号线SSL的第二检查信号在被供应给第二开关电路400之后被共同地供应给数据线，所以相同的第二检查信号被供应给数据线中的每一条。
根据如上所述的本发明，由第一检查电路X供应给显示面板的第一检查信号以及由第二检查电路Y供应给显示面板的第二检查信号是用于显示相同的灰度级图案的信号。结果，存在在由第二检查电路显示的灰度级图案中未形成由电阻差导致的亮度缺陷的优点。
接下来，图7例示了根据未发生亮度缺陷的本实施方式的第二自动探测检查。根据本实施方式的第二自动探测缺陷检查工序在显示特定灰度级图案或白色图案时未形成由于电阻差而导致的亮度缺陷。换句话说，当相同的第二检查信号通过连接到显示区域A/A中的数据线的第二开关电路400按照一一对应关系被供应给数据线时不存在亮度缺陷(参照图6A和图6B)。
具体地，根据本实施方式的显示面板的检查方法可以包括第一自动探测缺陷检查工序和第二自动探测缺陷检查工序。第一自动探测检查工序确定在数据线(第一数据线至第三数据线)中的每一条中是否存在缺陷(开路或短路缺陷)或者在子像素当中是否存在混色方面的缺陷。
另外，第一自动探测缺陷检查工序可以通过同时供应具有特定灰度级的RGB检查信号以显示特定灰度级图案或白色图案来确定是否存在亮度缺陷。具体地，在第一自动探测缺陷检查工序中，即使在显示面板中不存在缺陷的情况下，也由于第一检查电路X与数据线之间的连接结构而导致亮度缺陷(例如，暗淡区域)。
相反，根据本实施方式的第二自动探测缺陷检查工序能够使用第二检查电路Y来在显示面板上显示特定灰度级图案或白色图案，在该第二检查电路Y上与第一检查电路X不同地未设置虚设焊盘。因此，除非在显示面板中存在缺陷，否则在第二自动探测检查工序期间没有由于电阻差而形成亮度缺陷。
因此能够通过将通过第一自动探测缺陷检查工序而获得的第一灰度级图案与通过第二自动探测缺陷检查工序而获得的第二灰度级图案进行比较来对显示器执行更精确的缺陷检查工序。当在第二自动探测缺陷检查工序中尚未发生亮度缺陷时，与在已经发生亮度缺陷的第一自动探测缺陷检查工序中不同，能够确定在第一自动探测缺陷检查工序中发生的亮度缺陷是否是真实缺陷。即，能够做出在第一自动探测缺陷检查工序中发生的亮度缺陷是否不是由真实缺陷导致的而是替代地由通过虚设输出焊盘(参照图4A)形成的电阻差导致的确定。
当已经在第一自动探测缺陷检查工序和第二自动探测缺陷检查工序二者中检测到亮度缺陷时，能够确定显示面板是有缺陷的。第一自动探测缺陷检查工序和第二自动探测缺陷检查工序的多个类型的序列能够被用于确定显示面板是否是有缺陷的。即，可以在第一自动探测缺陷检查工序之后执行第二自动探测缺陷检查工序，或者可以在第二自动探测缺陷检查工序之后执行第一自动探测缺陷检查工序。
在如以上所阐述的根据本发明的显示面板及其检查方法中，提供了能够对显示面板执行自动探测检查工序的第一检查电路和第二检查电路。因此，能够通过将由第一检查电路显示在显示面板上的图案与由第二检查电路显示在显示面板上的图案进行比较来执行更精确的缺陷检查工序。
接下来，图8是例示了根据示例性实施方式的自动探测缺陷检查方法的流程图。根据本实施方式的自动探测缺陷检查方法是显示面板的检查方法。该显示面板包括：显示区域，该显示区域包括多个子像素；焊盘区域，该焊盘区域具有设置在其中的第一检查电路以向显示区域供应第一检查信号；以及面对第一检查电路的第二检查电路，显示区域位于第一检查电路与第二检查电路之间。该方法包括：通过使用第一检查电路将第一检查信号供应给显示面板的显示区域来显示第一灰度级图案的步骤S801；通过使用第二检查电路向显示面板的显示区域供应第二检查信号来显示第二灰度级图案的步骤S802；以及通过将通过第一检查信号显示的第一灰度级图案与通过第二检查信号显示的第二灰度级图案进行比较来确定是否存在缺陷的步骤S803。
第一灰度级图案和第二灰度级图案可以是相同的特定灰度级图案或相同的白色图案。当在第一灰度级图案和第二灰度级图案二者中已经发生亮度缺陷时，显示面板被确定为是有缺陷的。当在第一灰度级图案中已经发生亮度缺陷而在第二灰度级图案中尚未发生亮度缺陷时，显示面板被确定为是无缺陷的。
在如以上所阐述的根据本发明的显示面板及其检查方法中，第一检查电路和第二检查电路被用于对显示面板执行自动探测检查工序。因此能够由于通过将由第一检查电路显示在显示面板上的图案与由第二检查电路显示在显示面板上的图案进行比较来执行比在根据相关技术的显示面板中更精确的缺陷检查工序。
上述描述和附图已被提供以说明本发明的特定原理。本发明所涉及的领域中的技术人员能够在不脱离本发明的原理的情况下通过组合、划分、替换或者改变元件来做出许多修改和变化。本文中所公开的上述实施方式将被解释为仅例示性的，而未被解释为限制本发明的原理和范围。本发明的范围不限于上述实施方式。应该理解的是，本发明的范围将由所附的权利要求及其落入本发明的范围内的所有等同物来限定。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2015年12月31日提交的韩国专利申请No.10-2015-0191865的优先权，该韩国专利申请出于所有目的通过引用方式被并入到本文中，如同在本文中充分地阐述一样。

Claims (19)

1.一种显示面板，该显示面板包括：
驱动器IC；
多条数据线，所述多条数据线被设置在显示区域中；
多个输入焊盘，所述多个输入焊盘被设置在焊盘区域中并且被配置为向所述驱动器IC供应多个第一信号；
多个输出焊盘，所述多个输出焊盘包括分别电连接至所述多条数据线当中的第一数据线的第一输出焊盘以及与所述多条数据线中的全部数据线电断开的第二输出焊盘，其中，所述多个输出焊盘被设置在包括在所述焊盘区域中的第一检查电路中，所述第一输出焊盘经由所述驱动器IC从所述多个输入焊盘接收所述多个第一信号；
第一开关电路，该第一开关电路被设置在包括在所述焊盘区域中的所述第一检查电路中并且连接至所述第一输出焊盘，其中，所述第一开关电路被配置为经由所述第一输出焊盘向所述第一数据线供应所述多个第一信号；
多条第一信号线，所述多条第一信号线被配置为经由所述第一开关电路向所述第一输出焊盘供应所述多个第一信号；
第二开关电路，该第二开关电路被设置在第二检查电路中并且连接至所述显示区域中的所述多条数据线中的全部数据线；以及
第二信号线，该第二信号线被配置为向所述第二开关电路供应多个第二信号，
其中，所述第一检查电路的所述第一输出焊盘被分组为多个输出焊盘组，并且在所述第二输出焊盘当中的至少一个第二输出焊盘被设置在所述多个输出焊盘组当中的相邻的输出焊盘组之间，并且
其中，所述多个第一信号被分别供应到少于所述多条数据线中的全部数据线的所述第一数据线，并且所述第二信号被供应到所述多条数据线中的全部数据线。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个输出焊盘经由链接线连接至所述多条数据线。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述第一开关电路被设置在所述显示区域的底侧处，并且所述第二开关电路被设置在所述显示区域的左侧、右侧或顶侧处。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其中，由所述第二开关电路供应的所述第二信号沿着与由所述第一开关电路供应的所述多个第一信号被供应的方向相反的方向被供应。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个输出焊盘当中的预定输出焊盘被用作虚设输出焊盘。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述第二开关电路从所述第二信号线接收所述第二信号并向所述多条数据线中的全部数据线供应所述第二信号。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个第一信号包括供应到所述多条第一信号线的用于分别显示红色图案、绿色图案和蓝色图案中的每一个的红色信号、绿色信号和蓝色信号。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其中，供应到所述第二信号线的所述第二信号包括用于显示灰度级图案的红色信号、绿色信号和蓝色信号。
9.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个第一信号被依次供应到所述多条数据线。
10.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述多个输出焊盘组当中的第一输出焊盘组与第二输出焊盘组之间的电阻差与所述多个输出焊盘组当中的第三输出焊盘组与所述第二输出焊盘组之间的电阻差不同。
11.根据权利要求1所述的显示面板，该显示面板还包括：
第一焊盘，该第一焊盘在非显示区域中连接至被配置为经由所述第一输出焊盘向所述第一数据线供应所述多个第一信号的第一数据使能电路；
第二焊盘，该第二焊盘在所述非显示区域中连接至被配置为向所述多条数据线中的全部数据线供应所述多个第二信号的第二数据使能电路；以及
多个第三焊盘，所述多个第三焊盘在所述非显示区域中分别连接至所述多条第一信号线。
12.一种显示面板，该显示面板包括：
多条数据线和多条选通线，所述多条数据线和所述多条选通线被设置在显示区域中，所述多条数据线与所述多条选通线交叉以限定像素区域；
多个输入焊盘，所述多个输入焊盘被设置在非显示区域中；
多个输出焊盘，所述多个输出焊盘包括分别电连接至所述多条数据线当中的第一数据线的第一输出焊盘以及与所述多条数据线中的全部数据线电断开的第二输出焊盘，其中，所述第一输出焊盘被配置为从所述多个输入焊盘接收多个第一信号；
第一数据使能电路，该第一数据使能电路被设置在第一区域中并且被配置为经由所述第一输出焊盘向所述第一数据线供应所述多个第一信号；以及
第二数据使能电路，该第二数据使能电路被设置在第二区域中并且被配置为向所述多条数据线中的全部数据线供应多个第二信号，
其中，所述多个第一信号包括用于分别显示红色图案、绿色图案和蓝色图案中的每一个的红色信号、绿色信号和蓝色信号，并且
其中，所述多个第二信号包括用于显示灰度级图案的红色信号、绿色信号和蓝色信号，
其中，所述第一输出焊盘被分组为多个输出焊盘组，并且在所述第二输出焊盘当中的至少一个第二输出焊盘被设置在所述多个输出焊盘组当中的相邻的输出焊盘组之间，并且
其中，所述多个第一信号被分别供应到少于所述多条数据线中的全部数据线的所述第一数据线，并且所述第二信号被供应到所述多条数据线中的全部数据线。
13.根据权利要求12所述的显示面板，该显示面板还包括：
多条第一信号线，所述多条第一信号线被配置为经由所述第一数据使能电路向所述第一输出焊盘供应所述多个第一信号；以及
多条第二信号线，所述多条第二信号线被配置为向所述第二数据使能电路供应所述多个第二信号。
14.根据权利要求13所述的显示面板，其中，所述多条第一信号线和所述多条第二信号线按照分别连接至所述第一数据使能电路和所述第二数据使能电路的方式被设置在与所述多条选通线相同的层上。
15.根据权利要求12所述的显示面板，其中，所述第一数据使能电路被设置在所述显示区域的底侧处，并且所述第二数据使能电路被设置在所述显示区域的左侧、右侧或顶侧处。
16.根据权利要求15所述的显示面板，其中，由所述第二数据使能电路供应的所述多个第二信号沿着与由所述第一数据使能电路供应的所述多个第一信号被供应的方向相反的方向被供应。
17.根据权利要求12所述的显示面板，其中，所述多个输出焊盘组当中的第一输出焊盘组与第二输出焊盘组之间的电阻差与所述多个输出焊盘组当中的第三输出焊盘组与所述第二输出焊盘组之间的电阻差不同。
18.根据权利要求13所述的显示面板，该显示面板还包括：
第一焊盘，该第一焊盘在所述非显示区域中连接至所述第一数据使能电路；
第二焊盘，该第二焊盘在所述非显示区域中连接至所述第二数据使能电路；以及
多个第三焊盘，所述多个第三焊盘在所述非显示区域中分别连接至所述多条第一信号线。
19.一种用于根据权利要求1至18中的任一项所述的显示面板的检查方法，该检查方法包括以下步骤：
通过使用第一检查电路将第一检查信号供应给所述显示面板的显示区域来显示第一灰度级图案；
通过使用第二检查电路向所述显示面板的所述显示区域供应第二检查信号来显示第二灰度级图案；以及
通过将通过所述第一检查信号显示的所述第一灰度级图案与通过所述第二检查信号显示的所述第二灰度级图案进行比较来确定所述显示面板是否存在缺陷。
CN201611178111.7A 2015-12-31 2016-12-19 显示面板及其检查方法 Active CN106935166B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150191865A KR102462070B1 (ko) 2015-12-31 2015-12-31 디스플레이패널 및 그 검사 방법
KR10-2015-0191865 2015-12-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106935166A CN106935166A (zh) 2017-07-07
CN106935166B true CN106935166B (zh) 2020-10-23

Family

ID=57867969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611178111.7A Active CN106935166B (zh) 2015-12-31 2016-12-19 显示面板及其检查方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10068510B2 (zh)
EP (1) EP3188168A1 (zh)
KR (1) KR102462070B1 (zh)
CN (1) CN106935166B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6698369B2 (ja) * 2016-02-10 2020-05-27 シナプティクス・ジャパン合同会社 表示ドライバ及び表示パネルモジュール
KR20180024081A (ko) * 2016-08-25 2018-03-08 엘지디스플레이 주식회사 표시패널 및 표시장치
KR102484450B1 (ko) * 2018-03-19 2023-01-05 삼성디스플레이 주식회사 평판표시장치
JP6988725B2 (ja) * 2018-07-30 2022-01-05 株式会社Ｊｖｃケンウッド 液晶表示装置及びその画素検査方法
TWI682182B (zh) * 2019-03-07 2020-01-11 緯創資通股份有限公司 檢測設備及其檢測方法
CN112415431A (zh) * 2019-08-22 2021-02-26 遂宁立讯精密工业有限公司 一种数据线短接不良的检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101221958A (zh) * 2001-10-11 2008-07-16 三星电子株式会社 具有视觉检查装置的薄膜晶体管阵列面板及其检查方法
CN101377897A (zh) * 2007-08-30 2009-03-04 索尼株式会社 显示设备
CN103996383A (zh) * 2013-02-18 2014-08-20 三星显示有限公司 显示设备
CN104614909A (zh) * 2015-02-06 2015-05-13 京东方科技集团股份有限公司 显示面板以及显示装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6255130B1 (en) * 1998-11-19 2001-07-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Thin film transistor array panel and a method for manufacturing the same
KR101783953B1 (ko) * 2010-12-27 2017-10-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 검사 방법
KR101943069B1 (ko) 2011-12-01 2019-04-18 삼성디스플레이 주식회사 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널
KR102028978B1 (ko) * 2013-01-31 2019-10-07 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법
KR102047005B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102054849B1 (ko) 2013-06-03 2019-12-12 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
JP6209434B2 (ja) * 2013-12-06 2017-10-04 株式会社ジャパンディスプレイ 配線基板及び表示装置
KR102174368B1 (ko) 2014-02-25 2020-11-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101221958A (zh) * 2001-10-11 2008-07-16 三星电子株式会社 具有视觉检查装置的薄膜晶体管阵列面板及其检查方法
CN101377897A (zh) * 2007-08-30 2009-03-04 索尼株式会社 显示设备
CN103996383A (zh) * 2013-02-18 2014-08-20 三星显示有限公司 显示设备
CN104614909A (zh) * 2015-02-06 2015-05-13 京东方科技集团股份有限公司 显示面板以及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170080363A (ko) 2017-07-10
US10068510B2 (en) 2018-09-04
KR102462070B1 (ko) 2022-11-01
EP3188168A1 (en) 2017-07-05
US20170193872A1 (en) 2017-07-06
CN106935166A (zh) 2017-07-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106935166B (zh) 显示面板及其检查方法
KR101403127B1 (ko) 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법
TWI433104B (zh) 雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法
KR101943000B1 (ko) 검사회로를 포함하는 액정표시장치 및 이의 검사방법
US7728810B2 (en) Display device and method for driving the same
TWI377545B (en) Display device, display panel therefor, and inspection method thereof
CN101196662B (zh) 显示装置和制造显示装置的方法
US20070080913A1 (en) Display device and testing method for display device
CN109697947B (zh) 显示装置及裂纹感测的方法
WO2015056444A9 (en) Electro-optical device, driving method of electro-optical device, and electronic apparatus
WO2013127234A1 (zh) 检测液晶显示面板交叉串扰的方法
US20080179592A1 (en) Display device
KR20080070918A (ko) 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법
KR20160067250A (ko) 표시패널 및 표시패널의 검사 방법
KR101066495B1 (ko) 액정표시장치 및 이의 검사방법
KR101862048B1 (ko) 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스
KR102056276B1 (ko) 점등 검사 장치 및 방법
KR20110025539A (ko) 액정표시장치와 그 제조방법 및 점등검사방법
KR20110052279A (ko) 오토 프로브 검사 장치 및 오토 프로브 검사 방법
CN113994310A (zh) 触控驱动方法、触控显示装置及电子设备
JP2016085269A (ja) 電気光学基板、電気光学装置及び電子機器
KR102170549B1 (ko) 표시장치
KR102264474B1 (ko) 게이트 구동부 및 이를 이용한 액정표시장치
JP4790641B2 (ja) γ特性検査方法
KR20180103684A (ko) 화소 데이터 기입 방법 및 화상 표시 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant