KR101862048B1 - 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스 - Google Patents

터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스 Download PDF

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이영록
정민재
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Abstract

본 실시예들은, 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 터치스크린 내장형 디스플레이 패널은 제1 방향으로 배치된 다수의 데이터 라인 및 제2 방향으로 배치된 다수의 게이트 라인으로 정의되는 서브픽셀, 적어도 둘 이상의 서브픽셀의 영역에 대응되는 크기를 갖는 각각의 터치전극, 적어도 하나의 터치전극을 통과하는 다수의 신호라인 및 터치전극의 내부에 배치되며, 신호라인과 동일한 방향으로 배치되는 더미라인을 포함하되, 더미라인 및 신호라인은 한 쌍이 터치전극 상에서 반복적인 피치로 배치되고, 피치가 터치전극의 블록보다 작게 형성됨으로써 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다. 게다가 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.

Description

터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스{DISPLAY PANEL WITH A BUILT-IN TOUCH SCREEN AND TOUCH DISPLAY DEVICE}
본 실시예들은 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 디스플레이 디바이스에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 근래에는 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 표시장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등과 같은 여러 가지 디스플레이 디바이스가 활용되고 있다.
이러한 디스플레이 디바이스는, 버튼, 키보드, 마우스 등의 통상적인 입력방식에서 탈피하여, 사용자가 손쉽게 정보 혹은 명령을 직관적이고 편리하게 입력할 수 있도록 해주는 터치 기반의 입력방식을 제공한다.
이러한 터치 기반의 입력 방식을 제공하기 위해서는, 사용자의 터치 유무를 파악하고 터치 좌표를 정확하게 검출할 수 있어야 한다.
이를 위해, 터치스크린 패널에 형성된 다수의 터치 전극(예: 가로 방향 전극, 세로 방향 전극)을 통해 터치 전극 간의 캐패시턴스 또는 터치 전극과 손가락 등의 포인터 간의 캐패시턴스의 변화를 토대로 터치 유무 및 터치 좌표 등을 검출하는 캐패시턴스 터치 방식이 많이 채용되고 있다.
한편, 터치 구동 및 센싱하기 위해 형성되는 전극들은 제조 도중에 터치 전극과 터치배선 등의 패턴의 외관 검사를 해야만 제품의 품질에 대한 신뢰성 등이 향상될 수 있다.
이러한 외관 검사는 육안으로 실시될 수 있는데, 육안으로 완전하게 패턴의 오픈과 쇼트의 여부를 평가하는데 한계가 있기 때문에 도체 패턴을 광학적으로 인식하고, 검사기준이 되는 표준 패턴과 비교하여 검사를 행하는 AOI(자동 외관검사 장치)를 사용하는 경우가 있다.
그러나 복잡한 구조가 적층되는 경우, 상기한 AOI(자동 외관검사 장치)는 한계가 있다. 이러한 문제점은, 터치스크린 패널(TSP: Touch Screen Panel)이 디스플레이 패널에 내장되는 디스플레이 디바이스의 경우, 더욱 제약이 따르게 될 수 있다.
한, 보다 정밀한 패턴의 오픈/쇼트를 검사하기 위해서는 LOS(line open short) 검사를 실시할 수 있으나, 상기한 LOS 검사의 경우는 종래에는 터치배선 즉, 신호배선과 더미배선이 터치전극의 블록 단위로 피치가 형성되어 LOS 검사시 검사에 필요한 피치(pitch)가 너무 커 터치전극의 블록 내에서 단락된 신호라인을 검색해야만 했다. 즉, 블록 단위로 불량이 검출되어 불량 라인을 검색하는데 시간이 많이 소모되는 단점이 존재하였다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 터치 배선인 신호라인 및 더미라인의 구조변경을 통해 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스를 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 다른 목적은, 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스를 제공하는 데 있다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 스크린 내장형 디스플레이 패널은 제1 방향으로 배치된 다수의 데이터 라인 및 제2 방향으로 배치된 다수의 게이트 라인으로 정의되는 서브픽셀, 상기 적어도 둘 이상의 서브픽셀의 영역에 대응되는 크기를 갖는 각각의 터치전극, 상기 적어도 하나의 터치전극을 통과하는 다수의 신호라인 및 상기 터치전극의 내부에 배치되며, 상기 신호라인과 동일한 방향으로 배치되는 더미라인을 포함하되, 상기 더미라인 및 상기 신호라인은 한 쌍이 상기 터치전극 상에서 반복적인 피치로 배치되고, 상기 피치가 상기 터치전극의 블록보다 작게 형성된다.
일 예로, 상기 더미라인은 적어도 둘 이상의 상기 신호라인 사이에 배치될 수 있다.
그리고, 반복적으로 배치되는 상기 신호라인 및 더미라인의 한 세트의 피치는 0.3mm 내지 1.5mm 범위로 배치될 수 있다.
일 예로, 상기 하나의 터치전극의 블록의 시작부에 상기 더미라인이 배치되고, 상기 터치전극의 블록의 끝단부에 동일하게 상기 더미라인이 배치될 수 있다.
다른 예로, 상기 하나의 터치전극의 블록의 시작부에 상기 신호라인이 배치되고, 상기 터치전극의 블록의 끝단부에 동일하게 상기 신호라인이 배치될 수 있다.
상기 신호라인 상에는 상기 터치전극에 연결되는 적어도 하나의 터치홀이 배치될 수 있다.
상기 더미전극 상에는 상기 터치전극과 연결하는 복수의 더미홀이 배치될 수 있다.
상기 신호라인은 디스플레이 시에는 공통전압을 인가하고, 터치 시에는 터치 구동신호를 인가할 수 있다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 디스플레이 디바이스는 제1 방향으로 배치된 다수의 데이터 라인 및 제2 방향으로 배치된 다수의 게이트 라인으로 정의되는 서브픽셀, 상기 둘 이상의 서브픽셀의 영역에 대응되는 크기를 갖는 각각의 터치전극, 상기 적어도 하나의 터치전극을 통과하는 다수의 신호라인 및 상기 터치전극의 내부에 배치되며, 상기 신호라인과 동일한 방향으로 배치되는 더미라인을 포함하되, 상기 더미라인 및 상기 신호라인은 한 쌍이 상기 터치전극 상에서 반복적인 피치로 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 상기 다수의 터치 전극을 구동하여 터치를 센싱하는 터치 회로를 포함하되, 상기 터치스크린 내장형 디스플레이 패널은 상기 피치가 상기 터치전극의 블록보다 작게 형성된다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 터치스크린 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스의 터치배선인 신호라인 및 더미라인의 구조를 변경함으로써 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면, 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)의 시스템 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치배선의 배열을 도시한 평면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치배선의 배열을 도시한 평면도이다.
도 3은 도 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널(110)의 터치배선의 배열을 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 터치배선 배열의 비교예를 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치배선 배열의 평면도 및 이에 대응한 패턴 단락 검사 그래프이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치배선 배열의 평면도 및 이에 대응한 패턴 단락 검사 그래프이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)의 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는, 화상 표시 기능(디스플레이 기능)과 터치 센싱 기능을 제공할 수 있는 디바이스이다.
이러한 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는, 일 예로, 터치 입력에 대한 터치 센싱 기능을 갖는 TV, 모니터 등의 중대형 디바이스이거나, 스마트 폰, 태블릿 등의 모바일 디바이스일 수도 있다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는, 디스플레이 기능을 제공하기 위하여, 디스플레이 패널(110), 데이터 드라이버(120), 게이트 드라이버(130) 및 컨트롤러(140) 등을 포함한다.
디스플레이 패널(110)은, 제1방향(예: 열 방향)으로 배치된 다수의 데이터 라인(DL)과, 제2방향(예: 행 방향)으로 배치된 다수의 게이트 라인(GL)을 포함할 수 있다.
데이터 드라이버(120)는 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다.
게이트 드라이버(130)는 다수의 게이트 라인(GL)을 구동한다.
컨트롤러(140)는 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하는데, 이를 위해, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 각종 제어신호를 공급한다.
이러한 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.
이러한 컨트롤러(140)는 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행하는 제어장치일 수 있다.
데이터 드라이버(120)는, 다수의 데이터 라인(DL)으로 데이터 전압을 공급함으로써, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다. 여기서, 데이터 드라이버(120)는 '소스 드라이버'라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 드라이버(130)는 '스캔 드라이버'라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인(GL)으로 순차적으로 공급한다.
데이터 드라이버(120)는, 게이트 드라이버(130)에 의해 특정 게이트 라인이 열리면, 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL)으로 공급한다.
데이터 드라이버(120)는, 도 1에서는 디스플레이 패널(110)의 일측(예: 상측 또는 하측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 디스플레이 패널(110)의 양측(예: 상측과 하측)에 모두 위치할 수도 있다.
게이트 드라이버(130)는, 도 1에서는 디스플레이 패널(110)의 일 측(예: 좌측 또는 우측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 디스플레이 패널(110)의 양측(예: 좌측과 우측)에 모두 위치할 수도 있다.
전술한 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭 신호 등의 타이밍 신호를 입력 받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 출력한다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(120)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(120)의 출력 타이밍을 제어한다.
데이터 드라이버(120)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터 라인을 구동할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 소스 드라이버 집적회로는, 디스플레이 패널(110)에 연결된 필름 상에 실장 되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
각 소스 드라이버 집적회로는, 쉬프트 레지스터(Shift Register), 래치 회로(Latch Circuit), 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital to Analog Converter), 출력 버퍼(Output Buffer) 등을 포함할 수 있다.
게이트 드라이버(130)는, 적어도 하나의 게이트 드라이버 집적회로(Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 게이트 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 게이트 드라이버 집적회로는 디스플레이 패널(110)과 연결된 필름 상에 실장 되는 칩 온 필름(COF) 방식으로 구현될 수도 있다.
각 게이트 드라이버 집적회로는 쉬프트 레지스터(Shift Register), 레벨 쉬프터(Level Shifter) 등을 포함할 수 있다.
본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로에 대한 회로적인 연결을 위해 필요한 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board)과 제어 부품들과 각종 전기 장치들을 실장 하기 위한 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)을 포함할 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판에는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로가 실장 되거나, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로가 실장 된 필름이 연결될 수 있다.
컨트롤 인쇄회로기판에는, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130) 등의 동작을 제어하는 컨트롤러(140)와, 디스플레이 패널(110), 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 컨트롤러 등이 실장 될 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판과 컨트롤 인쇄회로기판은 가요성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit), 가요성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 등의 적어도 하나의 연결 부재를 통해 회로적으로 연결될 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄회로기판과 컨트롤 인쇄회로기판은 하나의 인쇄회로기판으로 통합되어 구현될 수도 있다.
본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device), 유기발광표시장치(Organic Light Emitting Display Device), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Device) 등의 다양한 타입의 장치일 수 있다.
디스플레이 패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀(SP)은 트랜지스터 등의 회로 소자를 포함하여 구성될 수 있다.
한편, 도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는, 터치 센싱 기능을 제공하기 위한 터치 시스템을 포함할 수 있다.
도 1을 참조하면, 터치 시스템은, 터치 센서(Touch Sensor)로서 역할을 하는 다수의 터치 전극(TE)과, 다수의 터치 전극(TE)을 구동하여 터치를 센싱하는 터치 회로(150) 등을 포함할 수 있다. 여기서, 터치 회로(150)는, 여러 개의 모듈(예: 터치 구동부, 터치 센싱부 등)로 구성될 수 있으며, 그 중의 일부 또는 전체가 데이터 드라이버(120)의 소스 드라이버 집적회로 내 포함되거나 데이터 드라이버 회로와 함께 별도의 집적회로를 구성할 수도 있다.
터치 회로(150)는 터치 구동 신호를 다수의 터치 전극(TE)에 순차적으로 공급함으로써, 다수의 터치 전극(TE)을 순차적으로 구동할 수 있다.
이후, 터치 회로(150)는 터치 구동 신호가 인가된 터치 전극으로부터 터치 센싱 신호를 수신한다.
터치 회로(150)는 다수의 터치 전극(TE) 각각으로부터 수신된 터치 센싱 신호를 토대로 터치 유무 및 터치 좌표를 산출할 수 있다.
여기서, 터치 구동 신호는, 일 예로, 둘 이상의 전압 레벨을 갖는 펄스 변조 신호의 파형을 가질 수 있다.
다수의 터치 전극(TE) 각각으로부터 수신된 터치 센싱 신호는, 해당 터치 전극의 주변에서 손가락, 펜 등의 포인터에 의한 터치 발생 유무에 따라 달라질 수 있다.
터치 회로(150)는 터치 센싱 신호를 토대로 터치 전극(TE)에서의 캐패시턴스 변화량(또는 전압 변화량 또는 전하량 변화) 등을 알아내어 터치 유무 및 터치 좌표를 얻어낼 수 있다.
도 1을 참조하면, 다수의 터치 전극(TE) 각각으로 터치 구동 신호를 공급하기 위하여, 각 터치 전극(TE)에는 신호라인(SL)이 연결되어 있다.
그리고, 다수의 터치 전극(TE) 각각으로 터치 구동 신호를 순차적으로 공급하기 위하여, 터치 시스템은 다수의 터치 전극(TE) 각각에 연결된 신호라인(SL)을 터치회로(150)에 순차적으로 연결해주는 스위치 회로(160)를 더 포함할 수 있다.
이러한 스위치 회로(160)는 적어도 하나의 멀티플렉서(Multiplexer)로 구성될 수 있다.
한편, 도 1을 참조하면, 다수의 터치 전극(TE) 각각은 블록 형태로 되어 있을 수 있다.
또한, 각 터치 전극(TE)은 하나의 서브픽셀(SP)의 영역의 크기와 동일하거나 대응되는 크기일 수도 있다.
이와 다르게, 각 터치 전극(TE)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 서브픽셀(SP)의 영역의 크기보다 큰 크기일 수도 있다.
즉, 각 터치 전극(TE)의 영역은, 둘 이상의 서브픽셀(SP)의 영역과 대응되는 크기를 가질 수 있다.
전술한 바와 같이, 각 터치 전극(TE)의 크기를 하나의 서브픽셀(SP)의 영역보다 크게 함으로써, 터치 센싱을 위해 구동해야 하는 터치 전극 개수가 줄어들 수 있으며, 이에 따라, 터치 구동 및 이를 통한 터치 센싱을 효율적으로 그리고 신속하게 수행할 수 있다.
한편, 도 1을 참조하면, 전술한 다수의 터치 전극(TE)은 디스플레이 패널(110)에 내장되어 배치될 수 있다.
이러한 의미에서, 디스플레이 패널(110)은 터치스크린 또는 터치스크린 패널을 내장한다고 할 수 있다. 즉, 디스플레이 패널(110)은, 인-셀(In-cell) 타입 또는 온-셀(On-cell) 타입의 터치스크린 내장형 디스플레이 패널일 수 있다.
한편, 본 실시예들에 따른 터치 디스플레이 디바이스(100)는, 디스플레이 기능을 제공하기 위하여 디스플레이 모드로 동작할 수도 있고, 터치 센싱 기능을 제공하기 위하여 터치 모드로 동작할 수도 있다.
이와 관련하여, 다수의 터치 전극(TE)은, 터치 모드 구간에서는 터치 센서로서 동작하지만, 디스플레이 모드 구간에서는 디스플레이 모드 전극으로 사용될 수도 있다.
예를 들어, 디스플레이 모드 구간에서, 다수의 터치 전극(TE)은, 디스플레이 모드 전극의 일 예로서, 공통전압(Vcom)이 인가되는 공통전압 전극으로 동작할 수 있다.
여기서, 공통전압(Vcom)은 픽셀 전극에 인가되는 픽셀 전압과 대응되는 전압이다.
구체적으로, 터치 전극(TE)에는 다수의 신호라인(SL)이 통과할 수 있다. 상기한 신호라인(SL)은 터치전극(TE)과 연결되어 터치신호를 터치회로(150)에 제공해줄 수 있다.
즉, 신호라인(SL)은 디스플레이 모드에는 공통전압(Vcom)을 터치전극에 인가해 줄 수 있고, 터치 모드에서는 터치 센싱 신호를 터치회로(150)에 제공할 수 있다.
그리고 신호라인(SL)들 사이에 적어도 하나의 더미배선(DML)이 배치될 수 있다.
아래에서는, 터치 전극(TE) 상에 배치된 신호라인(SL)과 더미라인(DML)의 배치 형태 등의 구조에 대하여 몇 가지 실시예들을 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널에서 터치배선의 배열을 도시한 평면도이다.
여기서 도 2는 중복 설명을 회피하고 용이한 설명을 위해 도 1을 인용하여 설명하기로 한다.
도 2를 참조하면, 본 실시예에서는 효율적인 신호라인의 단락 검사를 위한 신호라인(SL) 및 더미라인(DML)의 배치구조를 개시한다. 이하 신호라인(SL) 및 더미라인(DML)을 "터치배선"이라 통칭한다.
디스플레이 패널(110)에는 둘 이상의 서브픽셀(SP)의 영역에 대응되도록 터치전극(TE)이 배치될 수 있다. 이와 같이, 터치전극(TE)은 디스플레이 패널(110)의 표시 영역에 배치될 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 필요에 따라 비표시 영역에 배치될 수도 있다.
터치전극(TE)은 매트릭스 형상으로 배치될 수 있고, 적어도 하나의 터치전극(TE)을 통과하는 다수의 신호라인(SL)이 배치될 수 있다.
신호라인(SL)은 형상에 따라 터치전극(TE)에 연결되는 영역까지만 배치될 수도 있고, 터치전극(TE)들이 형성된 영역에 모두를 통과하도록 배치될 수도 있다. 여기서는 터치전극(TE)들이 형성된 영역에 모두를 통과한 형상을 예를 들어 설명하기로 한다.
터치전극(TE) 하나에 신호라인(SL) 하나가 연결될 수 있다. 여기서 신호라인(SL)과 터치전극(TE)을 연결시키기 위한 터치홀(TH)이 배치될 수 있다. 터치홀(TH)은 연결의 효율을 향상시키기 위해 복수개가 형성될 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니며 하나의 터치홀(TH)이 배치될 수도 있다. 도면에서는 용이한 설명을 위해 하나의 터치홀(TH)이 형성된 것을 도시하여 설명하기로 한다.
그리고, 더미라인(DML)은 터치전극(TE)의 내부에 복수개가 배치될 수 있다. 더미라인(DML)은 신호라인(SL)의 전압을 안정화시킬 수 있고, 인접한 신호라인(SL) 간의 영향성을 저감시킬 수 있다.
더미라인(DML)은 터치전극(TE)과 연결을 위해 더미홀(DH)이 배치될 수 있다. 더미홀(DH) 또한 연결의 효율을 향상시키기 위해 복수개가 형성될 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 본 도면에서는 복수의 더미홀(DH)이 배치된 것을 도시하여 설명하기로 한다.
신호라인(SL)과 더미라인(DML)은 한 쌍이 터치전극(TE)의 블록 상에서 반복적으로 배치될 수 있다. 신호라인(SL)과 더미라인(DML)의 한 세트가 이루는 반복적으로 배치된 영역을 피치(P1)로 정의한다. 피치(P1)는 0.3mm 내지 1.5mm 범위로 배치될 수 있다.
여기서 피치(P1)가 0.3mm 미만일 경우, 터치배선의 단락 검출을 용이하게 할 수 있으나, 패턴 비교기 등이 너무 소형이어서 고해상도의 장비가 필요하여 검사 장비의 제조비가 증가할 수 있다. 그리고, 1.5mm 초과하는 경우, 피치가 넓어져 터치배선의 단락 검출 범위가 넓어져 터치배선의 단락 검출이 곤란할 수 있다.
신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 한 쌍으로 형성하는 피치(P1)는 터치 전극(TE)의 블록보다 작게 형성될 수 있다. 환언하면, 터치 전극(TE)의 블록 내에는 반복적으로 피치(P1)가 형성될 수 있다.
여기서 신호라인(SL)과 더미라인(DML)의 한 세트는 더미라인(DML) 하나에 신호라인(SL)이 2개가 배치될 수도 있고, 더미라인(DML) 하나에 신호라인(SL)이 3개가 배치될 수도 있고, 더미라인(DML) 하나에 신호라인(SL)이 복수개가 배치될 수도 있다. 환언하면, 더미라인(DML) 하나에 신호라인(SL)의 개수는 피치(P1)의 길이와 관련되어 있기 때문에 피치(P1)를 고려하여 더미라인(DML)과 신호라인(SL)이 이루는 한 세트를 다양한 배열로 형성할 수 있다.
종래에는 터치전극(TE)의 블록에 배치된 신호라인 및 더미라인들이 하나의 피치로 배치되어 피치와 터치전극(TE)의 블록의 크기가 유사하였다. 이에 패턴을 비교하여 검사하는 패턴 검사를 하기 위해서는 블록 단위의 크기를 갖는 패턴 비교기를 새로이 제작하여 패턴 검사를 실시하여야 한다. 환언 하면, 터치전극의 블록 단위와 유사한 크기의 패턴 비교기가 필요하다. 이는 더 큰 해상도를 갖는 카메라로 패턴 비교기를 제작해야 함으로 큰 사이즈의 패턴 비교기를 제작하는 것은 제작비용이 증가할 수 있다.
그리고, LOS(line open short) 검사에서는 터치 전극(TE)의 블록 단위에 더미라인(DML)이 양 끝단에 배치되어 신호라인과 더미라인의 이루는 피치가 너무 크게 형성되어 검출된 불량 영역을 검색하기 곤란하여 LOS(line open short) 검사가 불가능하였다.
그러나 본 발명의 일실시예와 같이, 더미라인(DML)과 신호라인(SL)이 이루는 피치(P1)를 작게 형성함으로써 터치배선의 단락 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다.
구체적으로, 상기한 피치(P1)로 신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 배치되는 경우, 비교 구간이 짧아져 패턴 검사가 용이해질 수 있고, 기존의 패턴 비교기를 사용할 수 있어 고해상도의 패턴 비교기를 제작하지 않기 때문에 비용을 절감할 수 있다.
또한, 상기한 피치(P1)로 신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 배치되는 경우, LOS 검사를 통해 측정 구간이 짧아져 불량이 발생한 영역을 용이하게 검출할 수 있다.
즉, 패턴 검사인 광학적인 비교 검사뿐만 아니라 전기적인 LOS 검사를 통해 보다 정밀한 패턴의 단락 검사를 용이하게 수행할 수 있다.
한편, 하나의 터치전극(TE)의 양 끝단에는 더미라인(DML) 또는 터치전극(TE)을 통과하는 신호라인(SL)이 배치될 수 있다. 본 실시예에서는 하나의 터치전극(TE)의 양 끝단에는 터치전극(TE) 내부에 배치된 더미라인(DML)이 배치된 것을 예를 들어 설명한다.
터치전극(TE)의 블록의 양 끝단에 더미라인(DML)이 배치됨으로써 터치전극(TE)의 블록이 시인되는 것을 방지할 수 있다.
만약에 터치전극(TE)의 양 끝단에 서로 다른 라인이 배치되는 경우, 예를 들어 터치전극(TE)의 블록의 일단부에 신호라인(SL)이 배치되고 타 단부에 더미라인(DML)이 배치되는 경우에 터치전극(TE)의 블록과 블록 사이가 얼룩으로 관찰되는 경우가 발생할 수 있다. 즉, 상기한 터치전극(TE)의 블록들 사이에 얼룩이 시인되어 제품의 질을 저하시키는 요인이 될 수 있다. 따라서 터치전극(TE)의 블록의 양 단부는 시작 단부의 라인과 끝단부의 라인이 동일해야 제품의 질을 향상시킬 수 있다.
또한, 패턴 검사 시에 패턴의 단락의 양부가 검출되지 않을 수 있다. 예를 들어, 시작과 끝이 서로 다른 라인이 배치되어 반복적으로 배치되는 피치(P)가 서로 어긋나 LOS 검사시 패턴의 단락이 검출되지 않는 경우도 발생할 수 있다.
이와 같이, 터치 스크린 내장형 디스플레이 패널(110)에 터치전극(TE)의 블록 내부에서 신호라인(SL)들 사이에 더미라인(DML)을 배치시킴으로써 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다. 또한, 검사장치의 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 3은 도 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널(110)의 터치배선의 배열을 도시한 평면도이다.
여기서 도 3은 중복 설명을 회피하고 용이한 설명을 위해 도 2를 인용하여 설명하기로 한다.
도 3를 참조하면, 본 실시예에서는 효율적인 신호라인의 단락 검사를 위한 신호라인(SL) 및 더미라인(DML)의 배치구조를 개시한다.
신호라인(SL)과 더미라인(DML)은 한 쌍이 상기 터치전극(TE)의 블록 상에서 반복적으로 배치될 수 있다. 신호라인(SL)과 더미라인(DML)의 한 쌍이 이루는 반복적으로 배치된 영역을 피치(P1)로 정의한다. 피치(P1)는 0.3mm 내지 1.5mm 범위로 배치될 수 있다. 신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 한 쌍으로 형성하는 피치(P)는 터치 전극(TE)의 블록보다 작게 형성될 수 있다. 환언하면, 터치 전극(TE)의 블록에는 반복적으로 피치(P1)가 형성될 수 있다.
신호라인(SL)은 터치전극(TE)을 통과하여 배치되며, 터치전극(TE)에 연결되는 라인이다. 그리고, 더미라인(DML)은 터치전극(TE)의 내부에 복수개가 배치될 수 있다. 여기서 더미라인(DML)은 신호라인(SL)의 전압을 안정화시킬 수 있고, 인접한 신호라인(SL) 간의 영향성을 저감시킬 수 있다.
본 실시예에서는 하나의 터치전극(TE)의 블록의 끝단에는 터치전극(TE)을 통과하여 배치되는 신호라인(SL)이 배치된 것을 예를 들어 설명한다.
터치전극(TE)의 블록의 양 끝단에 신호라인(SL)이 배치됨으로써 LOS 검사, 패턴 검사가 실시되었을 경우, 패턴의 불량 검출이 용이해질 수 있다.
터치전극(TE)의 블록의 양 끝단에 더미라인(DML)이 배치됨으로써 터치전극(TE)의 블록이 시인되는 것을 방지할 수 있다.
만약에 터치전극(TE)의 양 끝단에 서로 다른 라인이 배치되는 경우, 예를 들어 터치전극(TE)의 블록의 일단부에 신호라인(SL)이 배치되고 타 단부에 더미라인(DML)이 배치되는 경우에 터치전극(TE)의 블록과 블록 사이가 얼룩으로 관찰되는 경우가 발생할 수 있다. 즉, 상기한 터치전극(TE)의 블록들 사이에 얼룩이 시인되어 제품의 질을 저하시키는 요인이 될 수 있다. 따라서 터치전극(TE)의 블록의 양 단부는 시작 단부의 라인과 끝단부의 라인이 동일해야 제품의 질을 향상시킬 수 있다.
만약에 터치전극(TE)의 양 끝단에 서로 다른 라인이 배치되는 경우, 패턴 검사 시에 패턴의 단락의 양부가 검출되지 않을 수 있다. 예를 들어, 시작과 끝이 서로 다른 라인이 배치되어 반복적으로 배치되는 피치(P)가 서로 어긋나 LOS 검사시 패턴의 단락이 검출되지 않을 수 있다.
이와 같이, 터치 스크린 내장형 디스플레이 패널(110)에 터치전극(TE)의 블록에 신호라인(SL) 사이에 더미라인(DML)을 배치시킴으로써 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다. 또한, 검사장치의 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 터치배선 배열의 비교예를 도시한 평면도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치배선 배열의 평면도 및 이에 대응한 패턴 단락 검사 그래프이고, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치배선 배열의 평면도 및 이에 대응한 패턴 단락 검사 그래프이다.
여기서 용이한 설명을 위해 도 4 내지 도 6은 도 1 내지 3을 인용하여 설명하기로 한다.
도 4를 참조하면, 터치전극(TE)의 블록 상에 터치전극(TE)의 블록을 통과하여 배치되는 신호라인(SL) 및 터치전극(TE) 내부에 배치되는 더미라인(DML)이 배치된다. 여기서 더미라인(DML)은 터치전극(TE)의 블록의 양 단부에 배치된다. 신호라인(SL)은 터치전극(TE)의 블록의 중앙 영역에 복수개가 배치된다.
이에 따라 비교예에서와 같이, 디스플레이 패널(110)에는 터치배선인 신호라인(SL)과 더미라인(DML)의 피치(P2)가 터치전극(TE)의 크기에 대응되도록 배치될 수 있다.
이에 패턴 검사 시에는 터치전극(TE)의 블록 단위로 라인의 결함을 검사하기 위해 터치전극의 블록의 크기와 유사한 패턴 비교기를 제작해야 했다. 즉, 고해상도로 상기 패턴 비교기를 형성하기 위해 고가의 카메라를 사용하기 때문에 제작 비용이 증가할 수 있다.
게다가 비교예에서 LOS 검사 시에는 블록 단위로 피치(P2)가 정해져 피치(P2) 구간이 너무 넓어 한 프레임 안에서 단선 불량을 체크하기 곤란할 수 있다. 더욱이 불량 검출이 가능하다고 하여도 불량이 발생된 구간, 즉 피치(P2)이 너무 넓어 단선 불량을 검색하는데 많은 시간이 소모될 수 있다.
따라서 피치(P2)가 넓게 형성된 비교예에서는 실질적인 라인 결함을 검사하는 것이 불가하였다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 디스플레이 패널(110)은 신호라인(SL) 사이에 더미라인(DML)이 소정의 피치(P1)를 이루며 형성되어 있다.
구체적으로, 도 5는 터치전극(TE)의 블록의 양 끝단에 더미라인(DML)이 배치되어 있고, 신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 한 세트로 이루어진 피치(P1)가 터치전극(TE)보다 적게 형성되어 있다. 여기서 도 5에서는 터치전극(TE) 블럭의 양단부에는 더미라인(DML)이 배치되어 있다.
또한, 도 6은 터치전극(TE)의 블록의 양 끝단에 신호라인(SL)이 배치되어 있고, 신호라인(SL)과 더미라인(DML)이 한 세트로 이루어진 피치(P1)가 터치전극(TE)보다 적게 형성되어 있다. 여기서 도 6에서는 터치전극(TE) 블럭의 양단부에는 신호라인(SL)이 배치되어 있다.
이와 같이, 도 5 및 도 6에서와 같이, 터치전극의 블록의 양단부에 동일한 라인을 배치시킴으로써 터치전극의 블록 사이에 얼룩이 발생되는 것을 방지할 수 있다.
여기서 본 실시예들과 같이 형성된 도전 패턴의 단락 검사를 하는 경우 중 패턴 검사를 할 경우, 피치(P1)가 작게 형성된 본 발명의 경우, 패턴 비교기가 작은 사이즈를 사용할 수 있어 제작비가 절감될 수 있다. 또한 상기한 작은 사이즈의 패턴 비교기는 종래에 사용한 것을 본 실시예에 사용 가능하기 때문에 패턴 비교기의 제작에 따른 비용을 절감할 수 있다.
[13] 그리고, LOS 검사를 실시하게 되는 경우, 신호라인(SL)이 양품으로 가정할 경우, 더미라인(DML)만 단락이 되어 있어 단락 신호가 피치(P)에 대응하여 평균치를 검출하여 LOS 검출은 종합적으로 양품으로 결정될 수 있다.
[14] 구체적으로 반복적인 피치(P1)로 인해 더미라인(DML)에서는 단락이 되어 있으나, 상기한 피치(P1)들을 터치전극(TE)의 블록 단위로 평균치를 계산할 경우, 검출된 신호가 평균치에 대응되어 터치배선(TE)은 양품으로 판정할 수 있다.
[15] 신호라인(SL)이 단선되는 경우, 인접하게 배치된 더미라인(DML)으로 인해 더미라인(DML)의 단락과 신호라인(SL)의 단락이 검출되어 단락된 영역에서는 검출 신호가 요동치게 표시될 수 있어 신호라인(SL)의 단락 여부를 용이하게 검출해 낼 수 있다.
[16] 구체적으로 도 5에서는 A영역에 표시된 영역과, 도 6에 B영역에 표시된 영역에 X로 표시된 라인이 단선된 경우를 예를 들어 설명하면, 더미라인(DML)과 신호라인(SL)이 반복적인 피치(P1)로 형성되어 평균치를 내어 터치배선의 단선의 양부를 검출할 수 있다. 전술한 바와 같이, 신호라인(SL)에 단선이 발생되지 않는 경우 상기한 피치가 평균치가 검출되어 양품임을 검출할 수 있다.
[17] 만약 A영역과 B영역에서와 같이, 신호라인(SL)의 단락이 발생하는 경우, 상기한 피치(P1)가 어긋난 영역을 검출해 낼 수 있다. 즉, 피치(P1)가 어긋난 영역에서는 단락이 발생되어 피치(P1)로 인한 주기가 어긋나도록 표시될 수 있다. 따라서 터치전극(TE)의 블록 내에서 특정 영역에서 발생된 단락을 검출해 낼 수 있다.
[18] 종래에는 피치가 너무 넓어 피치(P2) 구간의 평균치를 구하기 어려웠고, 더욱이 피치 구간이 너무 넓어 불량 라인이 검출이 되더라도 검색할 수 있는 영역이 넓어 단선된 라인을 검출해 내기 곤란하였다.
[19] 그러나 본 실시예에서와 같이, 피치(P1) 구간을 짧게 형성함으로써 단락 불량이 발생한 영역을 용이하게 검출해 낼 수 있어 특정된 영역 내에서 단선된 신호라인(SL)을 검색하기 용이할 수 있다.
[20] 이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 터치스크린 내장형 디스플레이 패널 및 터치 디스플레이 디바이스의 터치배선인 신호라인 및 더미라인의 구조를 변경함으로써 검사 장치의 변경 없이도 검사대응이 가능하며, 검사의 신뢰성 및 제품의 품질에 대한 신뢰성을 높일 수 있다.
[21] 게다가 본 발명의 실시예들에 의하면, 설비 개조 없이 검사가 가능하여 비용 저감과, 제조 수율 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
[22] 이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 터치 디스플레이 디바이스
110: 디스플레이 패널
120: 데이터 드라이버
130: 게이트 드라이버
140: 컨트롤러

Claims (9)

  1. 제1 방향으로 배치된 다수의 데이터 라인 및 제2 방향으로 배치된 다수의 게이트 라인으로 정의되는 서브픽셀;
    상기 적어도 둘 이상의 서브픽셀의 영역에 대응되는 크기를 갖는 각각의 터치전극;
    상기 적어도 하나의 터치전극을 통과하는 다수의 신호라인; 및
    상기 터치전극의 내부에 배치되며, 상기 신호라인과 동일한 방향으로 배치되는 더미라인을 포함하되,
    상기 더미라인 및 상기 신호라인이 소정 피치를 갖는 한 세트를 이루어 상기 터치전극 상에서 반복적으로 배치되고, 상기 피치는 상기 터치전극의 블록보다 작게 형성되며,
    상기 세트는 하나의 더미라인과 적어도 둘 이상의 신호라인으로 이루어지고, 상기 적어도 둘 이상의 신호라인들이 서로 인접하여 배치되며,
    각각의 상기 세트에 포함된 더미라인은, 동일한 세트에 포함된 신호라인과 이웃한 세트에 포함된 신호라인 사이에 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서,
    반복적으로 배치되는 상기 신호라인 및 더미라인의 한 세트의 피치는 0.3mm 내지 1.5mm 범위로 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 하나의 터치전극의 블록의 시작부에 상기 더미라인이 배치되고, 상기 터치전극의 블록의 끝단부에 동일하게 상기 더미라인이 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 하나의 터치전극의 블록의 시작부에 상기 신호라인이 배치되고, 상기 터치전극의 블록의 끝단부에 동일하게 상기 신호라인이 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 신호라인 상에는 상기 터치전극에 연결되는 적어도 하나의 터치홀이 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 더미라인 상에는 상기 터치전극과 연결하는 복수의 더미홀이 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 신호라인은 디스플레이 시에는 공통전압을 인가하고, 터치 시에는 터치 구동신호를 인가하는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널.
  9. 제1 방향으로 배치된 다수의 데이터 라인 및 제2 방향으로 배치된 다수의 게이트 라인으로 정의되는 서브픽셀, 상기 둘 이상의 서브픽셀의 영역에 대응되는 크기를 갖는 각각의 터치전극, 상기 적어도 하나의 터치전극을 통과하는 다수의 신호라인 및 상기 터치전극의 내부에 배치되며, 상기 신호라인과 동일한 방향으로 배치되는 더미라인을 포함하되, 상기 더미라인 및 상기 신호라인이 소정 피치를 갖는 한 세트를 이루어 상기 터치전극 상에서 반복적으로 배치되고, 상기 피치는 상기 터치전극의 블록보다 작게 형성되며, 상기 세트는 하나의 더미라인과 적어도 둘 이상의 신호라인으로 이루어지고, 상기 적어도 둘 이상의 신호라인들이 서로 인접하여 배치되며, 각각의 상기 세트에 포함된 더미라인은, 동일한 세트에 포함된 신호라인과 이웃한 세트에 포함된 신호라인 사이에 배치되는 터치스크린 내장형 디스플레이 패널; 및
    상기 다수의 터치 전극을 구동하여 터치를 센싱하는 터치 회로를 포함하는 터치 디스플레이 디바이스.
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