KR20080070918A - 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법 - Google Patents

표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 소정 패턴으로 배치된 표시 패널의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 턴온 전압을 인가하고, 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소에 선택적으로 테스트용 데이터 신호를 인가하여 표시 패널의 비주얼 불량을 검사할 수 있는 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법을 제공한다.
Figure P1020070008797
표시 패널, 비주얼 검사, 단위 화소

Description

표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법{MODULE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 불량 검사 모듈을 설명하기 위한 개념도.
도 2 내지 도 5는 일 실시예에 따른 표시 패널의 단색 비주얼 검사를 설명하기 위한 신호 파형도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 표시 패널
111, 112 : 게이트 라인
121, 122, 123, 124 : 데이터 라인
201, 202 : 게이트 구동부
300 : 검사 패드부
본 발명은 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법에 관한 것으로, 인접한 단위 화소 간의 컬러 색상이 서로 다른 표시 장치의 비주얼 불량을 검사할 수 있는 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법에 관한 것이다.
평판 표시 장치 중 하나인 액정 표시 장치는 매트릭스 형태로 배열된 복수의 적색, 녹색 및 청색 단위 화소를 구비하는 액정 표시 패널과, 상기 단위 화소에 소정의 전기적 신호를 인가하여 화상을 표현하는 구동부를 포함한다.
기존의 액정 표시 패널에는 적색, 녹색 및 청색 단위 화소의 색 조합을 통해 하나의 색 화소의 색상을 나타내었다. 이때, 각 단위 화소는 동일 색상의 단위 화소들이 열 방향 또는 행 방향으로 연속하여 마련되었다. 예를 들어 제 1 열방향으로는 적색을 나타내는 적색 단위 화소가 마련되고, 제 2 열방향으로 녹색을 나타내는 녹색 단위 화소가 마련되고, 제 3 열 방향으로 청색을 나타내는 청색 단위 화소가 마련된다. 이러한 액정 표시 패널은 제작후에 열 방향 또는 행 방향으로 인가되는 신호를 조절하여 백색은 물론 적색, 녹색 및 청색 각각의 단색상을 자유롭게 검사 할 수 있었다.
하지만, 최근의 액정 표시 패널은 적색, 녹색 및 청색 단위 화소가 행 방향 또는 열 방향으로 연속하여 배치되지 않고, 인접하는 단위 화소 별로 그 표시 색상이 서로 다르게 단위 화소를 배치하였다. 이를 통해 행 방향 또는 열 방향으로 소정의 신호를 인가할 경우 단색상을 자유롭게 검사할 수 없는 문제가 발생하였다.
따라서, 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 복수의 스테이지부를 통해 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 턴온 전압을 인가하고, 4개의 검사 패드에 순차적으로 접속된 복수의 데이터 라인에 클럭 파형 형태의 해당 검사 신호를 제공하여 적색, 녹색 및 청색 단위 화소가 행방향 또는 열방향으로 배치되지 않은 표시 패널의 비주얼 검사를 수행할 수 있는 표시 패널의 불량 검사 모듈 및 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명에 따른 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하고, 상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법에 있어서, 상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인 중 적어도 어느 하나의 데이터 라인에 테스트용 데이터 신호를 인가하여 상기 제 1 게이트 라인에 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 적어도 어느 하나의 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호를 제공하는 단계 및 상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소 중 상기 제 1 게이트 라인에 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 상기 테스트용 데이터 신호가 제공된 단위 화소와 동일 색상을 갖는 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호가 제공되도록 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인 중 적어도 어느 하나의 데이터 라인에 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법을 제공한다.
상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 3 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 것이 바람직하다.
상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 3 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 것이 바람직하다.
상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 4 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 것이 바람직하다.
상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 4 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 것이 바람직하다.
상기의 단위 화소는 박막 트랜지스터와, 액정을 구비하는 액정 커패시터를 포함하고, 상기 테스트용 데이터 신호는 상기 액정의 광 투과율이 최대가 되도록 하는 전압 레벨을 갖는 것이 효과적이다.
상기 테스트용 데이터 신호가 제공되지 않는 나머지 단위 화소에는 상기 액정의 광 투과율이 최소가 되도록 하는 전압 레벨의 신호가 제공되는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행과, 복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행을 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법에 있어서, 상기 제 1 화소행의 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 적어도 어느 하나의 단위 화소에 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계 및 상기 테스트용 데이터 신호가 인가된 상기 제 1 화소행의 단위 화소의 색상과 동일 한 색상을 갖는 상기 제 2 화소행의 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법을 제공한다.
상기 단위 화소는 박막 트랜지스터와, 액정을 구비하는 액정 커패시터를 포 함하고, 상기 테스트용 데이터 신호는 상기 액정의 광 투과율이 최대가 되도록 하는 전압 레벨을 갖는 것이 바람직하다.
상기 테스트용 데이터 신호가 제공되지 않는 나머지 단위 화소에는 상기 액정의 광 투과율이 최소가 되도록 하는 전압 레벨의 신호가 제공되는 것이 효과적이다.
또한, 본 발명에 따른 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하는 표시 패널의 불량 검사 모듈로서, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부 및 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 제 1 내지 제 4 검사 패드를 구비하고, 상기 표시 패널의 상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 패널 불량 검사 모듈을 제공한다.
상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 구동 신호를 제공하여 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 제공하고, 상기 제 1 내지 제 4 검사 패드 중 적어도 어느 하나의 패드에 테스트용 데이터 신호를 제공하는 검사부를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행과, 복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행과, 행 방향으로 연장되어 상기 제 1 및 제 2 화소행의 단위 화소들에 각기 접속된 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 적색 단위 화소와 제 2 화소행의 청색 단위 화소에 접속된 제 1 데이터 라인과, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 녹색 단위 화소와 제 2 화소행의 백색 단위 화소에 접속된 제 2 데이터 라인과, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 청색 단위 화소와 제 2 화소행의 적색 단위 화소에 접속된 제 3 데이터 라인과, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 백색 단위 화소와 제 2 화소행의 녹색 단위 화소에 접속된 제 4 데이터 라인을 포함하는 표시 패널의 불량 검사 모듈로서, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부; 및 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 제 1 내지 제 4 검사 패드를 구비하는 표시 패널 불량 검사 모듈을 제공한다.
또한, 본 발명에 따른 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하는 표시 패널 및 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부를 구비하고, 상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속 된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행과, 복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행과, 행 방향으로 연장되어 상기 제 1 및 제 2 화소행의 단위 화소들에 각기 접속된 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 적색 단위 화소와 제 2 화소행의 청색 단위 화소에 접속된 제 1 데이터 라인과, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 녹색 단위 화소와 제 2 화소행의 백색 단위 화소에 접속된 제 2 데이터 라인과, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 청색 단위 화소와 제 2 화소행의 적색 단위 화소에 접속된 제 3 데이터 라인 및 상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 백색 단위 화소와 제 2 화소행의 녹색 단위 화소에 접속된 제 4 데이터 라인을 포함하는 표시 장치를 제공한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 불량 검사 모듈을 설명하기 위한 개념도이다.
도 2 내지 도 5는 일 실시예에 따른 표시 패널의 단색 비주얼 검사를 설명하기 위한 신호 파형도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 패널의 불량 검사 모듈은 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm) 및 매트릭스 배열된 복수의 화소를 포함하는 표시 패널(100)과, 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 접속된 게이트 구동부(201, 202)와, 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 접속된 검사 패드부(300)를 포함한다. 물론 도시되지 않았지만, 테스트용 게이트 구동 신호를 생성하여 게이트 구동부(201, 202)에 제공하고, 테스트용 데이터 신호를 생성하여 검사 패드부(300)에 제공하는 검사부를 더 포함한다.
표시 패널(100)은 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)과, 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112) 그리고 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하되, 상기 복수의 단위 화소는 제 1 게이트 라인(111)과 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소(R, G, B, W) 그리고, 제 2 게이트 라인(112)과 제 1 내지 제 4 데 이터 라인(121, 122,123, 124)에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소(B, W, R, G)를 포함한다.
이와 같이 표시 패널(100)은 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 교차 영역에 단위 화소가 매트릭스 배열된다. 이러한 화소 매트릭스는 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소(R, G, B, W)를 포함하는 복수의 제 1 단위 화소 그룹을 갖는 제 1 화소행과, 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소(B, W, R, G)를 포함하는 복수의 제 2 단위 화소 그룹을 갖는 제 2 화소행을 포함한다.
즉, 화소 매트릭스의 제 1 행방향으로는 적색 단위 화소(R), 녹색 단위 화소(G), 청색 단위 화소(B) 및 백색 단위 화소(W)가 순차적으로 배치되고, 제 2 행 방향으로는 청색 단위 화소(B), 백색 단위 화소(W), 적색 단위 화소(R) 및 녹색 단위 화소(G)가 순차적으로 배치된다. 화소 매트릭스의 제 1 열 방향으로는 적색 단위 화소(R)와 청색 단위 화소(B)가 순차적으로 배치되고, 제 2 열 방향으로는 녹색 단위 화소(G)와 백색 단위 화소(W)가 순차적으로 배치되고, 제 3 열 방향으로는 청색 단위 화소(B)와 적색 단위 화소(R)가 순차적으로 배치되며 제 4 열 방향으로는 백색 단위 화소(W)와 녹색 단위 화소(G)가 순차적으로 배치된다. 여기서, 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)은 행 방향으로 연장되어 제 1 및 제 2 화소행의 제 1 및 제 2 단위 화소 그룹에 각기 접속된다. 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)은 열 방향으로 연장되어 제 1 및 제 2 단위 화소 그룹내의 각 단위 화소에 각기 접속된다.
상술한 설명에서는 설명의 편의를 위해 게이트 라인(G1 내지 Gn)으로 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)을 설명하였다. 본 실시예의 게이트 라인은 도 1에 도시된 바와 같이 제 1 내지 제 n 개의 게이트 라인(G1 내지 Gn)을 포함한다. 따라서, 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)은 두개의 게이트 라인이 연속하여 배치됨을 의미하는 것으로 이를 통해 표시 패널(100)은 전체적으로는 제 1 내지 제 n 개의 게이트 라인(G1 내지 Gn)을 갖게 된다. 즉, 제 1 게이트 라인(111)은 홀수 번째 게이트 라인을 제 2 게이트 라인(112)은 짝수 번째 게이트 라인을 의미한다. 또한, 데이터 라인으로 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)을 설명하였다. 본 실시예의 데이터 라인은 도 1에 도시된 바와 같이 제 1 내지 제 m 개의 데이터 라인(D1 내지 Dm)을 포함한다. 따라서, 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)은 4개의 데이터 라인이 연속 배치됨을 의미하는 것으로 이를 통해 표시 패널은 전체적으로 제 1 내지 제 m 개의 데이터 라인(D1 내지 Dm)을 갖게 된다.
게이트 구동부(201, 202)는 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)를 포함한다. 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)은 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 접속된다. 상기의 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)는 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 각기 접속된 복수의 스테이지부를 구비한다. 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)는 테스트용 게이트 구동 신호에 따라 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 게이트 턴온 전압을 제공한다. 테스트용 게이트 구동 신호(STVP, CKV, CKVB, VSS)는 시작 신호(STVP), 제 1 클럭 신호(CKV), 제 2 클럭 신호(CKVB) 및 접지 신호(VSS)를 포함한다. 상기에서는 두개의 게이트 구동부에 관해 설명하였지만 단일의 게이트 구동부를 구비할 수 있다.
검사 패드부(300)는 제 1 내지 제 4 검사 패드(301, 302, 303, 304)를 포함한다. 제 1 내지 제 4 검사 패드(301, 302, 303, 304)는 각기 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)에 접속된다.
상기 표시 패널 불량 검사 모듈은 절단 영역(C)과 패널 영역(E)으로 분리된다. 패널 영역(E)은 표시 영역(D)과 주변 영역(P)으로 분리된다. 상기 표시 패널(100)과 검사 패드부(300)는 단일 기판 상에 제작되는 것이 바람직하다.
패널 영역(E)의 표시 영역(D)에 표시 패널(100)이 마련된다. 주변 영역(P)에는 표시 패널(100)의 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)과 접속된 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)가 마련된다. 그리고, 주변 영역(P)에는 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인(121, 122, 123, 124)에 접속된 제 1 내지 제 4 데이터 패드(401, 402, 403, 404)가 마련된다. 상기 절단 영역(C)에는 제 1 내지 제 4 데이터 패드(401, 402, 403, 404)에 각기 접속된 제 1 내지 제 4 검사 패드(301, 302, 303, 304)가 마련된다. 본 실시예에서는 검사 패드부(300)를 이용한 패널 영역(E)의 표시 패널(100)의 불량 검사를 완료한 다음 절단 영역(C)을 절단(검사 패드부(300)를 분리)하여 표시 패널(100)을 제작한다. 물론 이에 한정되지 않고, 상기 절단 영역(C), 패널 영역(E)을 각기 서로 다른 기판 상에서 제작한 다음 절단 영역(C)의 제 1 내지 제 4 검사 패드(301, 302, 303, 304)와, 패널 영역(E)의 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 패드(401, 402, 403, 404)를 전기적으로 연결할 수도 있다.
여기서, 상기의 단위 화소 각각은 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 접속된 박막 트랜지스터(T)와, 박막 트랜지스터(T)에 접속된 화소 커패시터(Clc) 및 유지 커패시터(Cst)를 구비한다. 박막 트랜지스터(T)는 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 인가된 게이트 턴온 전압에 따라 구동하여 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 데이터 신호(계조 전압)을 화소 커패시터(Clc) 및 유지 커패시터(Cst)에 제공한다. 화소 커패시터(Clc)는 도시되지 않았지만 화소 전극과 공통 전극 그리고, 화소 전극과 공통 전극 사이에 마련된 액정을 포함한다. 적색 단위 화소(R)는 적색 컬러 필터를 포함하고, 녹색 단위 화소(G)는 녹색 컬러 필터를 포함하고, 청색 단위 화소(B)는 청색 컬러 필터를 포함한다.
하기에서는 상술한 구조를 갖는 본 실시예의 표시 패널의 비주얼 검사 방법에 관해 설명한다. 설명에 앞서 비주얼 검사는 표시 패널(100)에 검사 모듈을 통해 소정의 신호를 인가하여 표시 패널(100)이 색상 표현 능력(즉, 시연되는 색상)을 검사하는 것이다. 즉, 표시 패널(100)에 소정의 신호를 인가하여 화이트 또는 블랙을 검사하고, 적색, 녹색, 청색과 같은 단색의 색상 표현 능력을 검사함은 물론 원활한 색상을 표현하지 못하는 불량 화소 또한 검사하게 된다. 후술되는 설명은 단색 표현 능력을 검사하는 방법을 설명한다.
먼저, 도 2에 도시된 바와 같이 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 1 게이트 라인(111)에 게이트 턴온 전압이 인가되고, 제 1 패드(301)에 테스트용 데이터 신호를 인가한다. 이를 통해, 제 1 게이트 라인(111)에 접속된 모든 단위 화소의 박막 트랜지스터(T)가 턴온되지만, 제 1 패드(301)에 접속된 복수의 제 1 데이터 라인(121)에만 테스트용 데이터 신호가 인가됨으로 인해 적색 단위 화소(R)만이 그 색상을 표현하게 된다. 즉, 제 1 화소행 내의 첫번째 열의 적색 단위 화소(R)가 적색을 표현한다.
상기 테스트용 데이터 신호는 액정 커패시터(Clc) 내의 액정의 광 투과율이 최대가 되도록 하는 전압 레벨을 갖는 신호를 사용한다. 즉, 이를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가된 단위 화소는 하부에서 제공된 광이 투과되어 단위 화소에 마련된 컬러 필터에 의해 해상 색상을 표현하게 된다. 나머지 화소에는 액정의 광 투과율이 최소가 되도록 하는 전압 레벨의 신호를 제공하는 것이 바람직하다. 이때, 물론 이에 한정되지 않고, 나머지 패드에는 신호를 제공하지 않을 수도 있다.
다음으로 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 2 게이트 라인(112)에 게이트 턴온 전압이 인가되고, 제 3 패드(303)에 테스트용 데이터 신호를 인가한다. 이를 통해 제 2 화소행 내의 세번째 열의 적색 단위 화소(R)가 적색을 표현하게 된다.
계속하여 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 모든 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)에 순차적으로 게이트 턴온 전압이 제공되고, 제 1 게이트 라인(111)이 턴온되는 경우 제 1 패드(301)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되고, 제 2 게이트 라인(112)이 턴온되는 경우 제 3 패드(303)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되어 매트릭스 형태로 배열된 화소 매트릭스 내의 적색 단위 화소(R)만을 구동시켜 표시 패널의 적색 패턴을 검사할 수 있게 된다.
또한, 도 3에 도시된 바와 같이 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의 해 제 1 게이트 라인(111)에 게이트 턴온 전압이 인가되고, 제 3 패드(303)에 테스트용 데이터 신호를 인가한다. 이를 통해, 제 1 게이트 라인(111)에 접속된 모든 단위 화소의 박막 트랜지스터가 턴온되지만, 제 3 패드(303)에 접속된 복수의 제 3 데이터 라인(123)에만 테스트용 데이터 신호가 인가됨으로 인해 청색 단위 화소(B)의 액정 커패시터(Clc)에만 테스트용 데이터 신호가 인가된다. 이를 통해 제 1 화소행 내의 세번째 열의 청색 단위 화소(B)가 청색을 표현(방출)한다.
다음으로 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 2 게이트 라인(112)에 게이트 턴온 전압이 인가될 경우, 제 1 패드(301)에 테스트용 데이터 신호를 인가하여 제 1 데이터 라인(121)에 접속된 청색 단위 화소(B)를 구동시킨다. 이를 통해 제 2 화소행 내의 세번째 열의 청색 단위 화소(B)가 청색을 표현하게 된다.
계속하여 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 모든 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)에 순차적으로 게이트 턴온 전압이 제공되고, 제 1 게이트 라인(111)이 턴온되는 경우 제 3 패드(303)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되고, 제 2 게이트 라인(112)이 턴온되는 경우 제 1 패드(301)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되어 매트릭스 형태로 배열된 화소 매트릭스 내의 청색 단위 화소(B)만을 구동시켜 표시 패널(100)의 청색 패턴을 검사할 수 있게 된다.
또한, 도 4에 도시된 바와 같이 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 1 게이트 라인(111)에 게이트 턴온 전압이 인가되고, 제 2 패드(302)에 테스트용 데이터 신호를 인가한다. 이를 통해, 제 1 게이트 라인(111)에 접속된 모든 단위 화소의 박막 트랜지스터(T)가 턴온되지만, 제 2 패드(302)에 접속된 복수의 제 2 데이터 라인(121)에만 테스트용 데이터 신호가 인가됨으로 인해 녹색 단위 화소(G)의 액정 커패시터(Clc)에만 테스트용 데이터 신호가 인가된다. 이를 통해 제 1 화소행 내의 두번째 열의 녹색 단위 화소(G)가 녹색을 표현(방출)한다.
다음으로 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 2 게이트 라인(112)에 게이트 턴온 전압이 인가될 경우, 제 4 패드(304)에 테스트용 데이터 신호를 인가하여 제 4 데이터 라인(124)에 접속된 녹색 단위 화소(G)를 구동시킨다. 이를 통해 제 2 화소행 내의 네번째 열의 녹색 단위 화소(G)가 녹색을 표현하게 된다.
계속하여 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 모든 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)에 순차적으로 게이트 턴온 전압이 제공되고, 제 1 게이트 라인(111)이 턴온되는 경우 제 2 패드(302)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되고, 제 2 게이트 라인(112)이 턴온되는 경우 제 4 패드(304)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되어 매트릭스 형태로 배열된 화소 매트릭스 내의 녹색 단위 화소(G)만을 구동시켜 표시 패널(100)의 녹색 패턴을 검사할 수 있게 된다.
또한, 도 5에 도시된 바와 같이 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 1 게이트 라인(111, 112)에 게이트 턴온 전압이 인가되고, 제 4 패드(304)에 테스트용 데이터 신호를 인가한다. 이를 통해, 제 1 게이트 라인(111)에 접속된 모든 단위 화소의 박막 트랜지스터(T)가 턴온되지만, 제 4 패드(304)에 접속된 복수의 제 4 데이터 라인(124)에만 테스트용 데이터 신호가 인가됨으로 인해 백색 단위 화소(W)의 액정 커패시터(Clc)에만 테스트용 데이터 신호가 인가된다. 이를 통해 제 1 화소행 내의 네번째 열의 백색 단위 화소(W)가 백색을 표현(방출)한다.
다음으로 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 제 2 게이트 라인(112)에 게이트 턴온 전압이 인가될 경우, 제 2 패드(302)에 테스트용 데이터 신호를 인가하여 제 2 데이터 라인(122)에 접속된 백색 단위 화소(W)를 구동시킨다. 이를 통해 제 2 화소행 내의 두번째 열의 백색 단위 화소(W)가 백색을 표현하게 된다.
계속하여 제 1 및 제 2 게이트 구동부(201, 202)에 의해 모든 제 1 및 제 2 게이트 라인(111, 112)에 순차적으로 게이트 턴온 전압이 제공되고, 제 1 게이트 라인(111)이 턴온되는 경우 제 4 패드(304)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되고, 제 2 게이트 라인(112)이 턴온되는 경우 제 2 패드(302)를 통해 테스트용 데이터 신호가 인가되어 매트릭스 형태로 배열된 화소 매트릭스 내의 백색 단위 화소(W)만을 구동시켜 표시 패널(100)의 백색 패턴을 검사할 수 있게 된다.
물론 본 발명은 이에 한정되지 않고, 상기 제 1 내지 제 4 패드(301, 302, 303, 304)에 제공되는 테스트용 데이터 신호의 조합을 통해 총 천연색을 표현하는 것이 가능 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 소정 패턴으로 배치된 표시 패널의 게이트 라인에 순차 적으로 게이트 턴온 전압을 인가하고, 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소에 선택적으로 테스트용 데이터 신호를 인가하여 표시 패널의 비주얼 불량을 검사할 수 있다.
본 발명을 첨부 도면과 전술된 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 후술되는 특허청구범위의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 변형 및 수정할 수 있다.

Claims (15)

  1. 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과,
    상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과,
    상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하고,
    상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법에 있어서,
    상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인 중 적어도 어느 하나의 데이터 라인에 테스트용 데이터 신호를 인가하여 상기 제 1 게이트 라인에 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 적어도 어느 하나의 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호를 제공하는 단계; 및
    상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 게이트 라인에 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소 중 상기 제 1 게이트 라인에 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 상기 테스트용 데이터 신호가 제공된 단위 화소와 동일 색상을 갖는 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호가 제공 되도록 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인 중 적어도 어느 하나의 데이터 라인에 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고,
    상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 3 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 3 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고,
    상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 1 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고,
    상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 4 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 제 1 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 4 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하고,
    상기 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 인가하고, 상기 제 2 데이터 라인에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  6. 청구항에 1있어서,
    상기 단위 화소는 박막 트랜지스터와, 액정을 구비하는 액정 커패시터를 포함하고,
    상기 테스트용 데이터 신호는 상기 액정의 광 투과율이 최대가 되도록 하는 전압 레벨을 갖는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 테스트용 데이터 신호가 제공되지 않는 나머지 단위 화소에는 상기 액 정의 광 투과율이 최소가 되도록 하는 전압 레벨의 신호가 제공되는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  8. 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행과,
    복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행을 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법에 있어서,
    상기 제 1 화소행의 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소 중 적어도 어느 하나의 단위 화소에 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계; 및
    상기 테스트용 데이터 신호가 인가된 상기 제 1 화소행의 단위 화소의 색상과 동일 한 색상을 갖는 상기 제 2 화소행의 단위 화소에 상기 테스트용 데이터 신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 단위 화소는 박막 트랜지스터와, 액정을 구비하는 액정 커패시터를 포함하고,
    상기 테스트용 데이터 신호는 상기 액정의 광 투과율이 최대가 되도록 하는 전압 레벨을 갖는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 테스트용 데이터 신호가 제공되지 않는 나머지 단위 화소에는 상기 액정의 광 투과율이 최소가 되도록 하는 전압 레벨의 신호가 제공되는 표시 패널의 불량 검사 방법.
  11. 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하는 표시 패널의 불량 검사 모듈로서,
    상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부; 및
    상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 제 1 내지 제 4 검사 패드를 구비하고,
    상기 표시 패널의 상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 패널 불량 검사 모듈.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 구동 신호를 제공하여 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 게이트 턴온 전압을 제공하고, 상기 제 1 내지 제 4 검사 패드 중 적어도 어느 하나의 패드에 테스트용 데이터 신호를 제공하는 검사부를 더 포함하는 표시 패널 불량 검사 모듈.
  13. 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행과,
    복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행과,
    행 방향으로 연장되어 상기 제 1 및 제 2 화소행의 단위 화소들에 각기 접속된 제 1 및 제 2 게이트 라인과,
    열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 적색 단위 화소와 제 2 화소행의 청색 단위 화소에 접속된 제 1 데이터 라인과,
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 녹색 단위 화소와 제 2 화소행의 백색 단위 화소에 접속된 제 2 데이터 라인과,
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 청색 단위 화소와 제 2 화소 행의 적색 단위 화소에 접속된 제 3 데이터 라인과,
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 백색 단위 화소와 제 2 화소행의 녹색 단위 화소에 접속된 제 4 데이터 라인을 포함하는 표시 패널의 불량 검사 모듈로서,
    상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부; 및
    상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 제 1 내지 제 4 검사 패드를 구비하는 표시 패널 불량 검사 모듈.
  14. 제 1 방향으로 연장된 복수의 제 1 및 제 2 게이트 라인과, 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 연장된 복수의 제 1 내지 제 4 데이터 라인과, 상기 제 1 및 제 2 게이트 라인과 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인의 교차 영역에 마련된 복수의 단위 화소를 구비하는 표시 패널; 및
    상기 제 1 및 제 2 게이트 라인에 접속된 게이트 구동부를 구비하고,
    상기 복수의 단위 화소는 상기 제 1 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 적색, 녹색, 청색 및 백색 단위 화소와, 상기 제 2 게이트 라인에 접속되고, 상기 제 1 내지 제 4 데이터 라인에 각기 접속된 청색, 백색, 적색 및 녹색 단위 화소를 포함하는 표시 장치.
  15. 복수의 적색 단위 화소, 녹색 단위 화소, 청색 단위 화소 및 백색 단위 화소가 순차적을 배치된 제 1 화소행;
    복수의 청색 단위 화소, 백색 단위 화소, 적색 단위 화소 및 녹색 단위 화소가 순차적으로 배치된 제 2 화소행;
    행 방향으로 연장되어 상기 제 1 및 제 2 화소행의 단위 화소들에 각기 접속된 제 1 및 제 2 게이트 라인;
    열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 적색 단위 화소와 제 2 화소행의 청색 단위 화소에 접속된 제 1 데이터 라인;
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 녹색 단위 화소와 제 2 화소행의 백색 단위 화소에 접속된 제 2 데이터 라인;
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 청색 단위 화소와 제 2 화소행의 적색 단위 화소에 접속된 제 3 데이터 라인; 및
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 제 1 화소행의 백색 단위 화소와 제 2 화소행의 녹색 단위 화소에 접속된 제 4 데이터 라인을 포함하는 표시 장치.
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