JP2014032322A - 液晶表示装置および配線検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ソースラインに複数の信号線が接続される配線を含む場合であっても、自身の配線を正しく検査できる液晶表示装置を提供する。
【解決手段】配線検査手段８０は、信号線に接続される１本以上の検査信号出力線８１と、検査信号出力線８１の各々に、ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力する検査信号出力部８２と、信号線および検査信号出力線に接続され、その信号線の本数と同数の接続制御線８３と、接続制御線８３の各々に、信号線と検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力する制御信号出力部８４とを含んでいる。信号線は、各々異なる接続制御線８３に接続され、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線８２に接続される。また、検査信号出力部８２は、制御信号出力部８４が制御信号を出力するタイミングに応じて検査信号を出力する。
【選択図】図１６

Description

配線の検査機能を含む液晶表示装置およびその液晶表示装置の配線を検査する配線検査方法に関する。

近年、消費電力を抑えつつ、同極性の画素の連続数が少なくなるように駆動可能な液晶表示装置が提案されている（特許文献１参照）。図１７は、特許文献１に記載された液晶表示装置の概要を示す説明図である。

特許文献１に記載された液晶表示装置では、奇数行の画素電極が左側に配置されたソースライン（Ｓ１〜Ｓ５）に接続され、偶数行の画素電極が右側に配置されたソースラインに接続され、コモン電極電位Ｖ_ＣＯＭより高い電位（図１７における＋）とＶ_ＣＯＭより低い電位（図１７における−）とが各電位出力端（図示せず）から電位出力端の配置順に交互に出力される。そして、特許文献１に記載された液晶表示装置は、Ｖ_ＣＯＭより高い電位出力とＶ_ＣＯＭより低い電位出力とを選択期間毎に切り替えるとともに、隣接する出力端のいずれに入力端を接続させるのかを選択期間毎に切り替える。以下、このような構成による駆動方法を、駆動法Ａと記す。

図１７に示す例では、左から奇数番目のソースライン（Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５）は、Ｖ_ＣＯＭより高い電位で維持される。また、左から偶数番目のソースライン（Ｓ２，Ｓ４）は、Ｖ_ＣＯＭより低い電位で維持される。そのため、消費電力を低減することができる。さらに、各画素の極性は、奇数行目では正極性、負極性、正極性・・・となり、偶数行目では負極性、正極性、負極性・・・となり、隣接する画素同士の極性を変えることができる。よって、列毎反転で駆動させつつ、ドット反転の画質を維持できる。

一方、このような液晶表示装置の品質を維持するためにも、ＩＣを実装する前のパネル（例えば、ＣＯＧ（Ｃｈｉｐ ｏｎ Ｇｌａｓｓ）パネル）の状態で行われる検査が重要になる。そのため、パネル状態での検査方法として以下の各種の方法が考えられる。

図１８は、ＩＣ出力部との接続パッド（ＩＣ出力パッド）の全てに検査用のピンをあてて信号を入力することにより配線を検査する方法を示す説明図である。図１８に示す方法では、各ピンにＩＣと同等の信号を入力できるため、高い精度でパネルを検査できる。

図１９は、検査用ＴＦＴ（Thin Film Transistor）を介して配線を検査する方法を示す説明図である。図１９に示す方法では、端子引き出し辺と反対側の辺に検査用ＴＦＴが設けられる（図１９（ａ）参照）。なお、図１９（ａ）の網掛け部分が、検査用ＴＦＴを示す。

図１９（ｂ）は、ゲート側の検査用ＴＦＴの例を示す説明図である。図１９（ｂ）に例示する検査用ＴＦＴは、図１９（ａ）において破線で示す部分に対応する。例えば、検査用ＴＦＴ（スイッチＴＦＴと記すこともある。）のソースがゲート共通端子（以下、Ｇ共通端子と記す。）から伸びる制御線に接続され、検査用ＴＦＴのドレインがパネルの各ゲートラインに接続される。また、検査用ＴＦＴのゲートがスイッチ端子からのびる制御線に接続される。この状態でスイッチ端子をハイレベルに設定することで、ドレインとソースを導通状態にできるため、各ソースラインへ電位が設定されることにより、各画素電極の状態を検査できる。

このように、図１９に示す方法では、検査用ＴＦＴを介して複数の配線を短絡させることにより検査を行うため、図１８に示す方法に比べ、検査信号の入力をはるかに少なくできる。

図２０は、検査用ＴＦＴを介して配線を検査する他の方法を示す説明図である。図２０に示す方法では、ＩＣの下に検査用ＴＦＴが設けられる（図２０（ａ）参照）。

図２０（ｂ）は、ソース側の検査用ＴＦＴの例を示す説明図である。例えば、スイッチＴＦＴのソースが共通端子から伸びる制御線に接続され、スイッチＴＦＴのドレインがパネルの各ソースラインに接続されたＩＣ出力パッドに接続される。また、スイッチＴＦＴのゲートがスイッチ端子からのびる制御線に接続される。この状態でスイッチ端子をハイレベルに設定することでドレインとソースを導通状態にできるため、共通端子に電位を設定することにより各画素電極の状態を検査できる。

このように、図２０に示す方法でも、検査用ＴＦＴを介して複数の配線を短絡させることにより検査を行うため、図１９に示す方法と同様、図１８に示す方法に比べて、検査用信号の入力をはるかに少なくできる。

図２１は、ＩＣ出力パッドと入力端子とを直接接続して配線を検査する方法を示す説明図である。また、図２１（ｂ）は、ソース側の検査部分の例を示している。パネルの各ソースラインに接続された各ＩＣ出力パッドは、共通端子から伸びる制御線に直接接続される。この状態で共通端子に電位を設定することにより各画素電極の状態を検査できる（図２１（ａ）参照）。

このように、図２１に示す方法では、新たなＴＦＴを設ける必要がない。また、図２１に示す方法では、複数の配線を短絡させることにより検査を行うため、図１８に示す方法に比べて、検査用信号の入力をはるかに少なくできる。

特開２０１１−１０７６７９号公報

一方、図１８に示す方法では、検査用ピンの高精細化が必要であり、コストが高くなってしまうという問題がある。

また、図２１に示す方法では、検査後に検査用配線を切断する工程が必要になる。配線はレーザー切断されることが一般的であるが、レーザー切断した場合、切断により生じるパネル表面隆起がＩＣの実装に影響する可能性がある。

また、図１９に示す方法の場合、検査用ＴＦＴが設けられるのは、端子引き出し辺と反対側の辺である。そのため、端子引き出し辺側の配線自体を検査することは困難である。

そのため、コストや、検査効率および配線検査内容を考慮すると、図１８〜図２１に示す方法の中では、図２０に示す方法が一番望ましいと言える。

以下、駆動法Ａが適用される液晶表示装置を図２０に例示する方法を用いて検査する場合について説明する。

図２２は、液晶表示装置の配線を検査する方法の例を示す説明図である。具体的には、図２２は、駆動法Ａが適用される液晶表示装置を検査する方法を例示している。図２２に示す例では、ＲＧＢ単色表示ができるか否かを検査するものとし、パネルの左から１列目の画素がＲ（赤色）であり、２列目の画素がＧ（緑色）であり、３列目の画素がＢ（青色）であるとする。なお、図２２において、赤色表示用画素には「Ｒ」と記し、緑色表示用画素には「Ｇ」と記し、青色表示用画素には「Ｂ」と記している。

図２２に示す例では、スイッチ端子ＳＷから、ゲート側、ソース側それぞれに制御線が配置され、ゲート側の検査用ＴＦＴにおけるゲートおよびソース側の検査用ＴＦＴにおけるゲートが、それぞれの制御線に接続される。なお、検査中、スイッチ端子ＳＷは、制御線をハイレベル（すなわち、オン）の状態に設定する。

また、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏから伸びる制御線に奇数行目の画素の検査用ＴＦＴのソースがそれぞれ接続され、偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅから伸びる制御線に偶数行目の画素の検査用ＴＦＴのソースがそれぞれ接続される。そして、パネルの各ゲートラインは、検査用ＴＦＴのドレインにそれぞれ接続される。なお、パネルの各ゲートラインは、駆動時にはドライバーＩＣとの接続パッドにそれぞれ接続される。

一方、図２２に例示する液晶表示装置では、１つのソースラインに２種類の画素の画素電極が接続される。そのため、図２２に示す例では、青色表示用画素および赤色表示用画素に接続されるソースラインを制御するＢ／Ｒスイッチ端子に接続される制御線、赤色表示用画素および緑色表示用画素に接続されるソースラインを制御するＲ／Ｇスイッチ端子に接続される制御線および緑色表示用画素および青色表示用画素に接続されるソースラインを制御するＧ／Ｂスイッチ端子に接続される制御線をそれぞれ用意する。

そして、Ｂ／Ｒスイッチ端子から伸びる制御線に１列目の画素を検査するＴＦＴのソースが接続され、Ｒ／Ｇスイッチ端子から伸びる制御線に１列目または２列目の画素を検査するＴＦＴのソースが接続され、Ｇ／Ｂスイッチ端子から伸びる制御線に２列目または３列目の画素を検査するＴＦＴのソースが接続される。そして、パネルの各ソースラインは、検査用ＴＦＴのドレインにそれぞれ接続される。なお、以降の列の画素についても同様である。また、パネルの各ソースラインは、駆動時にはドライバーＩＣとの接続パッドにそれぞれ接続される。

スイッチ端子ＳＷは、制御線をハイレベル（すなわち、オン）の状態に設定しており、各スイッチ端子をハイレベルに設定することで検査用ＴＦＴのドレインとソースとを導通状態にできるため、各画素電極の状態を検査できる。

このようなパネルにおいて、ＲＧＢ単色表示ができるか否かを検査する場合の駆動方法を図２３に示す。図２３は、各端子に入力される信号の例を示す説明図である。図２３（ａ）は、白および中間調表示を行う場合に入力される信号を例示し、図２３（ｂ）は、赤色表示（Ｒ表示）を行う場合に入力される信号を例示し、図２３（ｃ）は、緑色表示（Ｇ表示）を行う場合に入力される信号を例示し、図２３（ｄ）は、緑色表示（Ｂ表示）を行う場合に入力される信号を例示している。

図２３において、Ｇ＿Ｏ，Ｇ＿Ｅは、それぞれ、スイッチ端子Ｇ＿Ｏ，Ｇ＿Ｅから入力される信号を示す。また、図２３において、Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂは、それぞれＢ／Ｒスイッチ端子、Ｒ／Ｇスイッチ端子、Ｇ／Ｂスイッチ端子から入力される信号を示す。

例えば、白および中間調表示を行う場合、図２３（ａ）に例示するように、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏまたは偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅにハイレベルの信号を入力するタイミングで、Ｂ／Ｒスイッチ端子、Ｒ／Ｇスイッチ端子およびＧ／Ｂスイッチ端子にハイレベルの信号を入力すればよい。また、赤色表示を行う場合、図２３（ｂ）に例示するように、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏにハイレベルの信号を入力するタイミングで、Ｂ／Ｒスイッチ端子にハイレベルの信号を入力し、Ｒ／Ｇスイッチ端子およびＧ／Ｂスイッチ端子にローレベルの信号を入力すればよい。なお、他の色の表示を行う場合も接続される画素に応じて信号を入力すればよい。

一方、図２０に例示する方法では配線の状態を検査できない場合も存在する。図２４は、ソース側の配線の例を示す説明図である。一般に、複数のＩＣとパネルとが接続される場合、図２４に例示するように、異なるＩＣに接続される各信号線が一つのソースラインに接続されることがある。以下、１本のソースラインに複数の信号線が接続される場合における各信号線の配線を斜め配線と記すこともある。

例えば、図２４に例示する斜め配線Ｍ，Ｎのうち、一方の斜め配線Ｎが正常である場合、他方の斜め配線Ｍが断線している状態でも各画素に給電されてしまう。斜め配線Ｍが断線したままの場合、ＩＣを実装したモジュール状態では、線状の欠陥が現れてしまうことになる。すなわち、このような斜め配線が存在する場合、図２０に例示する方法では、配線を正しく検査できないという問題がある。

そこで、本発明は、ソースラインに複数の信号線が接続される配線を含む場合であっても、自身の配線を正しく検査できる液晶表示装置およびその液晶表示装置の配線を検査する配線検査方法を提供することを目的とする。

本発明による液晶表示装置は、１本のソースラインに接続される複数の信号線の配線を検査する配線検査手段を備え、配線検査手段が、信号線に接続される１本以上の検査信号出力線と、検査信号出力線の各々に、ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力する検査信号出力部と、信号線および検査信号出力線に接続され、信号線の本数と同数の接続制御線と、接続制御線の各々に、信号線と検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力する制御信号出力部とを含み、信号線が、各々異なる接続制御線に接続され、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続され、検査信号出力部が、制御信号出力部が制御信号を出力するタイミングに応じて検査信号を出力することを特徴とする。

具体的には、制御信号出力部は、各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号を出力するように制御信号を切り替える。

また、配線検査手段が、１本のソースラインに接続される複数の信号線の配線および１本のソースラインに接続される１本の信号線の配線を検査し、配線検査手段が、複数の信号線および１本の信号線に接続される１本以上の検査信号出力線と、複数の信号線または１本の信号線と、検査信号出力線とに接続され、その複数の信号線の本数と同数の接続制御線を含み、制御信号出力部が、接続制御線の各々に、複数の信号線または１本の信号線と、検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力し、複数の信号線が、各々異なる接続制御線に接続され、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続され、１本の信号線が、いずれの接続制御線にも接続され、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続されるようにしてもよい。

また、配線検査手段が、１本のソースラインに接続される２本の信号線の配線を検査し、配線検査手段が、信号線に接続される３本の検査信号出力線と、２本の接続制御線とを含み、検査信号出力部が、３本の検査信号出力線のうち、ソースラインに接続された青色表示用画素および赤色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第１の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された赤色表示用画素および緑色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第２の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された緑色表示用画素および青色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第３の検査信号出力線に出力し、信号線が、ソースラインが青色表示用画素および赤色表示用画素に接続されている場合には第１の検査信号出力線に接続され、ソースラインが赤色表示用画素および緑色表示用画素に接続されている場合には第２の検査信号出力線に接続され、ソースラインが緑色表示用画素および青色表示用画素に接続されている場合には第３の検査信号出力線に接続されるようにしてもよい。

他にも、配線検査手段が、１本のソースラインに接続される２本の信号線の配線を検査し、配線検査手段が、信号線に接続される３本の検査信号出力線と、２本の接続制御線とを含み、検査信号出力部が、３本の検査信号出力線のうち、ソースラインに接続された青色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第１の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された赤色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第２の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された緑色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第３の検査信号出力線に出力し、ソースラインが青色表示用画素および赤色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第１の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第２の検査信号出力線に接続され、ソースラインが赤色表示用画素および緑色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第２の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第３の検査信号出力線に接続され、ソースラインが緑色表示用画素および青色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第３の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第１の検査信号出力線に接続されるようにしてもよい。

また、接続制御線および検査信号出力線は、ＩＣからの入力端子と表示領域との間に配置されることが好ましい。

例えば、１本のソースラインに接続される複数の信号線におけるその信号線の各々は、異なるＩＣの出力部に接続される。

また、本発明による配線検査方法は、１本のソースラインに接続される複数の信号線の配線を検査する配線検査方法であって、１本以上の検査信号出力線を信号線に接続し、検査信号出力線の各々に、ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力し、信号線の本数と同数の接続制御線を、その信号線および検査信号出力線に接続し、接続制御線の各々に、信号線と検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力し、信号線を、各々異なる接続制御線に接続し、信号線を、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続し、制御信号を出力するタイミングに応じて検査信号を出力することを特徴とする。

本発明によれば、液晶表示装置においてソースラインに複数の信号線が接続される配線を含む場合であっても、自身の配線を正しく検査できる。

本発明による液晶表示装置の一実施形態を示す説明図。 配線検査部２の例を示す説明図。 制御信号および検査信号の出力例を示す説明図。 画素の表示結果例を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 本発明による液晶表示装置の変形例を示す説明図。 配線検査部２の例を示す説明図である。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図。 本発明による液晶表示装置の概要を示す説明図。 特許文献１に記載された液晶表示装置の概要を示す説明図。 検査用ピンをあてて配線を検査する方法を示す説明図。 検査用ＴＦＴを介して配線を検査する方法を示す説明図。 検査用ＴＦＴを介して配線を検査する他の方法を示す説明図。 配線を検査する方法を示す説明図。 液晶表示装置の配線を検査する方法の例を示す説明図。 各端子に入力される信号の例を示す説明図。 ソース側の配線の例を示す説明図。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。

図１は、本発明による液晶表示装置の一実施形態を示す説明図である。本発明の液晶表示装置は、液晶表示パネル１と、配線検査部２とを備えている。本実施形態では、液晶表示パネル１は、上述する駆動法Ａで駆動するものとする。

図１に示す例では、液晶表示パネル１の左側から順に、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の画素が繰り返し配置されているものとする。なお、図１において、赤色表示用画素には「Ｒ」と記し、緑色表示用画素には「Ｇ」と記し、青色表示用画素には「Ｂ」と記している。例えば、図１に示す画素集合Ｓは、奇数行目と偶数行目それぞれに２組のＲＧＢの画素の組を有する、合計４組のＲＧＢの画素の集合である。

配線検査部２は、スイッチ端子ＳＷと、そのスイッチ端子ＳＷから伸びる制御線ＣＬ１とを含む。スイッチ端子ＳＷと制御線ＣＬ１とは、液晶表示パネル１のゲート側に配置される。制御線ＣＬ１には、検査用ＴＦＴにおけるゲートが接続される。また、検査中、スイッチ端子ＳＷから、ハイレベル（すなわち、オンの状態）の信号が出力される。

なお、各スイッチ端子から出力される信号の制御は、例えば、信号制御部（図示せず）により行われ、信号制御部の指示に応じて各スイッチ端子から信号が出力される。以下の説明では、信号制御部の指示に応じて各スイッチ端子が信号を出力することを、単に、各スイッチ端子から信号が出力されると記す。

また、配線検査部２は、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏと、そのスイッチ端子Ｇ＿Ｏから伸びる制御線ＣＬ２、および、偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅと、そのスイッチ端子Ｇ＿Ｅから伸びる制御線ＣＬ３を含む。奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏ、偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅ、制御線ＣＬ２および制御線ＣＬ３も、液晶表示パネル１のゲート側に配置される。

制御線ＣＬ２には、奇数行目の画素の検査用ＴＦＴのソースが接続される。また、制御線ＣＬ３には、偶数行目の画素の検査用ＴＦＴのソースが接続される。そして、液晶表示パネル１の各ゲートラインは、検査用ＴＦＴのドレインにそれぞれ接続される。

なお、本実施形態では、検査用ＴＦＴのソースが接続される制御線として、制御線ＣＬ２，ＣＬ３の２つの制御線を配置しているが、この制御線の本数は２本に限られない。検査用ＴＦＴのソースが接続される制御線の本数は、１本であってもよく、３本以上であってもよい。本実施形態の配線検査部２では、この制御線の本数に関わらず斜め配線の断線を検出できるため、検査用ＴＦＴのソースが接続される制御線の集約数は任意である。

また、配線検査部２は、２つのスイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２と、各スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２から伸びる接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２とを含む。スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２は、それぞれ、接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２に制御信号を出力する。制御信号は、後述する検査信号出力線とソースラインが接続された信号線との導通を制御するための信号である。具体的には、接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２には、ソース側の検査用ＴＦＴにおけるゲートが接続される。

図１に示す例では、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２および接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２は、液晶表示パネル１のソース側に配置される。ただし、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２が配置される位置は、液晶表示パネル１のソース側に限られない。接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２に制御信号を出力できる位置であれば、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２は、他の位置に配置されていてもよい。

また、液晶表示パネル１では、１本のソースラインに２種類の画素の画素電極が接続される。例えば、図１に示す例では、左から２本目のソースラインには、１列目の赤色表示用画素と２列目の緑色表示用画素が接続される。

そこで、配線検査部２は、３つの検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂと、各検査用スイッチ端子から伸びる検査信号出力線ＩＬ１，ＩＬ２，ＩＬ３とを含む。検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂから、それぞれ、検査信号出力線ＩＬ１，ＩＬ２，ＩＬ３に検査信号を出力する。検査信号は、ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる信号である。

検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒは、青色表示用画素または赤色表示用画素を検査するために用いられるスイッチ端子である。具体的には、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒから、検査信号として、コモン電極電位Ｖ_ＣＯＭより高い電位（正極性）、Ｖ_ＣＯＭより低い電位（負極性）またはＶ_ＣＯＭ等価な電位を示す検査信号が検査信号出力線ＩＬ１に出力される。

液晶表示パネル１のソースラインのうち、青色表示用画素または赤色表示用画素の電極に接続されたソースラインは、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒから伸びる検査信号出力線ＩＬ１に接続される。具体的には、液晶表示パネル１の各ソースラインがソース側の検査用ＴＦＴのドレインに接続され、検査信号出力線ＩＬ１がソース側の検査用ＴＦＴのソースに接続されることで、ソースラインと検査信号出力線とが検査用ＴＦＴを介して接続されることになる。

したがって、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２がハイレベル（すなわち、オンの状態）に設定された場合、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒから出力された検査信号は、検査用ＴＦＴを介して各画素に出力されるため、青色表示用画素または赤色表示用画素の電極に電位を設定することが可能になる。

検査用スイッチ端子Ｒ／Ｇは、赤色表示用画素または緑色表示用画素を検査するために用いられるスイッチ端子であり、検査用スイッチ端子Ｇ／Ｂは、緑色表示用画素または青色表示用画素を検査するために用いられるスイッチ端子である。なお、これらの端子から出力される検査信号の内容および検査用ＴＦＴの接続態様は、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒの場合と同様である。

検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂおよび検査信号出力線ＩＬ１，ＩＬ２，ＩＬ３は、液晶表示パネル１のソース側に配置される。ただし、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂが配置される位置は、液晶表示パネル１のソース側に限られない。検査信号出力線ＩＬ１，ＩＬ２，ＩＬ３に検査信号を出力できる位置であれば、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂは、他の位置に配置されていてもよい。

また、本実施形態では、液晶表示パネル１のソースラインの一部が、異なるＩＣの出力部から出力される２本の信号線に接続されるものとする。すなわち、本実施形態の液晶表示パネル１は、２本の斜め配線Ｄ１，Ｄ２を含む。なお、斜め配線Ｄ１，Ｄ２は引き出し信号線Ｄ１，Ｄ２と言い換えることもできる。

２本の斜め配線は、同一のソースラインに接続されているため、検査の対象とする画素は同一である。２本の斜め配線は、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線にそれぞれ接続される。具体的には、２本の斜め配線は、ソースラインに接続される表示用画素の検査に用いられる検査信号が出力される検査信号出力線に接続される。

本実施形態では、配線検査部２は、ソースラインに接続される２色の表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線を含んでいる。そのため、２本の斜め配線それぞれは、同一の検査信号出力線に接続される。一方、２本の斜め配線は、それぞれ異なる接続制御線に接続される。

例えば、図１に例示するソースラインＳ１は、２本の斜め配線Ｄ１，Ｄ２に接続される。ソースラインＳ１は、青色表示用画素または赤色表示用画素の電極に接続されているため、２本の斜め配線Ｄ１，Ｄ２は、いずれも検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒから伸びる検査信号出力線ＩＬ１に接続される。一方、斜め配線Ｄ１は、スイッチ端子ＳＷ１から伸びる接続制御線ＣＣＬ１に接続され、斜め配線Ｄ２は、スイッチ端子ＳＷ２から伸びる接続制御線ＣＣＬ２に接続される。

図２は、配線検査部２の例を示す説明図である。なお、図２では、液晶表示パネル１の部分は、各列の表示用画素およびソースラインが接続される表示用画素を模式的に示している。具体的には、各列の表示用画素を点線の枠で示し、点線の枠内のＲ、Ｇ、Ｂがそれぞれ赤色表示用画素、緑色表示用画素、青色表示用画素を示す。また、ソースラインが接続される表示用画素として、Ｇ／Ｂが緑色表示用画素および青色表示用画素、Ｂ／Ｒが青色表示用画素および赤色表示用画素、Ｒ／Ｇが赤色表示用画素および緑色表示用画素をそれぞれ示している。

各列の表示用画素は、ＲＧＢの繰り返しで配置される。そのため、図２の破線で囲まれた単位で、検査用ＴＦＴの組合せが繰り返される。また、図２に例示するように、信号線と検査信号出力線と接続制御線とはＴＦＴなどのアクティブ素子を介して相互に接続される。具体的には、接続制御線がＴＦＴのゲートに接続され、検査信号出力線がＴＦＴのソースに接続され、信号線がＴＦＴのドレインに接続される。

このように接続された状態で、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２から制御信号が出力されるタイミングに応じて各検査用スイッチ端子から検査信号が出力される。制御信号および検査信号が出力されるタイミングは、検査内容によって予め定められる。以下、この信号の組合せに応じて配線を検査する方法を具体的に説明する。

図３は、制御信号および検査信号の出力例を示す説明図である。以下の説明では、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏから制御線ＣＬ２にハイレベル、ローレベルの順で信号が出力され、偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅから制御線ＣＬ３にローレベル、ハイレベルの順で信号が出力されるものとする。すなわち、検査対象の画素として、奇数行の画素と偶数行の画素が交互に選択されるものとする。

また、ここでは、液晶表示パネル１に白または中間調を表示するものとする。そこで、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂから、検査信号として、正極性を示す検査信号が第１選択期間と第２選択期間に、負極性を示す検査信号が第３選択期間と第４選択期間に、それぞれ検査信号出力線ＩＬ１に出力されるものとする。以下、図において第１〜４選択期間を、それぞれ（１）〜（４）で示すものとする。

さらに、各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替える。具体的には、スイッチ端子ＳＷ１から、第１選択期間および第３選択期間にハイレベルの制御信号が出力され、第２選択期間および第４選択期間にローレベルの制御信号が出力される。一方、スイッチ端子ＳＷ２から、第１選択期間および第３選択期間にローレベルの制御信号が出力され、第２選択期間および第４選択期間にハイレベルの制御信号が出力される。

図４は、図１における画素集合Ｓ（図１参照）部分の表示結果例を示す説明図である。ここで、図４において、赤色表示用画素には「Ｒ」と記し、緑色表示用画素には「Ｇ」と記し、青色表示用画素には「Ｂ」と記している。また、図４において、正極性に設定された画素には「＋」と記し、負極性に設定された画素には「−」と記し、コモン電極と電位が等価な画素については「０」と記す。

まず、ソースラインＳＬ１、斜め配線Ｄ１，Ｄ２のいずれにも断線がない場合の表示結果を図Ｓ２（ａ）に記す。この場合、いずれの配線にも断線がないことから、すべての画素が問題なく表示される。

次に、斜め配線Ｄ１，Ｄ２には断線がなく、ソースラインＳＬ１に断線がある場合の表示結果を図４（ｂ）に記す。この場合、ソースラインＳＬ１には給電されないため、ソースラインＳＬ１に接続された画素（具体的には、奇数行目のソースラインＳＬ１の右側の画素、および、偶数行目のソースラインＳＬ１の左側の画素）は表示されない。

次に、ソースラインＳＬ１および斜め配線Ｄ２には断線がなく、斜め配線Ｄ１に断線がある場合の表示結果を図４（ｃ）に記す。この場合、スイッチ端子ＳＷ２がハイレベルに設定され、かつ、スイッチ端子ＳＷ１がローレベルに設定されている場合、ソースラインＳＬ１には給電される。一方、スイッチ端子ＳＷ１がハイレベルに設定され、かつ、スイッチ端子ＳＷ２がローレベルに設定されている場合、ソースラインＳＬ１には給電されない。

したがって、図４（ｃ）に示すように、奇数行目のソースラインＳＬ１の右側の画素は表示されないが、偶数行目のソースラインＳＬ１の左側の画素は表示されることになる。

このように、各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替えることで、ハイレベルの制御信号が出力された接続制御線に接続される信号線の配線が断線しているか否かを検査できる。

図５は、制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図である。具体的には、図５は、液晶表示パネル１に白または中間調を表示する場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図１における画素集合Ｓ（図１参照）部分の出力結果例との関係を示している。なお、図５（ａ）、図５（ｂ）および図５（ｃ）で示す記号の内容は、図３および図４で示す記号の内容と同様である。ただし、両者は、制御信号および検査信号が出力されるタイミングが異なる。

しかし、図５（ａ）、図５（ｂ）および図５（ｃ）に例示するいずれのタイミングであっても各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替えるため、いずれの場合も斜め配線の断線を検査できる。

図６〜図８は、制御信号および検査信号と表示結果との他の関係を示す説明図である。具体的には、図６は、液晶表示パネル１に赤色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図１における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。図７は、液晶表示パネル１に青色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図１における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。図８は、液晶表示パネル１に緑色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図１における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。なお、図６〜図８で示す記号の内容は、図３および図４で示す記号の内容と同様である。

図６および図８に例示するいずれのタイミングであっても各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替えるため、いずれの場合も斜め配線の断線を検査できる。

なお、図１に示す例では、複数の斜め配線が接続されるソースラインには、緑色表示用画素の電極が接続されていないため、図７に例示する制御信号および検査信号を出力しても斜め配線の断線は検査できない。しかし、緑色表示用画素の電極と他の色を表示する画素の電極とが接続されているソースラインに複数の斜め配線が接続されている場合には、同様に断線の有無を検査可能である。

以上のように、本実施形態では、１本のソースラインに接続される複数の信号線の配線（斜め配線）を検査する配線検査方法も示している。具体的には、１本以上の検査信号出力線ＩＬ１〜ＩＬ３を斜め配線Ｄ１，Ｄ２に接続し、検査信号出力線ＩＬ１〜ＩＬ３の各々に検査信号を出力する。また、斜め配線の数と同数の接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２を、その信号線および検査信号出力線ＩＬ１〜ＩＬ３に接続し、接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２の各々に制御信号を出力する。さらに、各々異なる接続制御線に信号線を接続し、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に信号線を接続する。そして、制御信号を出力するタイミングに応じて検査信号を出力する。

このようにすることで、ソースラインに複数の信号線が接続される配線を含む場合であっても、液晶表示装置の配線を正しく検査できる。

次に、本実施形態の変形例を説明する。上記実施形態では、青色表示用画素または赤色表示用画素を検査するための検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ、赤色表示用画素または緑色表示用画素を検査するための検査用スイッチ端子Ｒ／Ｇおよび緑色表示用画素または青色表示用画素を検査するための検査用スイッチ端子Ｇ／Ｂの３つの検査用スイッチ端子を用いていた。

本実施例では、各色単体を検査するための３つの検査用スイッチ端子Ｓ＿Ｒ，Ｓ＿Ｇ，Ｓ＿Ｂを用いる場合について説明する。図９は、本発明による液晶表示装置の変形例を示す説明図である。本変形例では、上記実施形態と比較して、検査用スイッチ端子の内容および検査用ＴＦＴの接続態様が異なる。それ以外の構成は、図１と同様である。

すなわち、上記実施形態と同様、２本の斜め配線は、同一のソースラインに接続されているため、検査の対象とする画素は同一である。また、２本の斜め配線は、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線にそれぞれ接続される。

ただし、本変形例では、配線検査部２に含まれる検査用スイッチ端子は、それぞれ単色用のスイッチである。そこで、２本の斜め配線のうち、一方の斜め配線は、ソースラインに接続される２種類の色のうちのいずれかの表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続される。また、２本の斜め配線のうち、他方の斜め配線は、ソースラインに接続される２種類の色うち、接続されていない色の表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続される。

例えば、図９に例示するソースラインＳ１は、２本の斜め配線Ｄ１，Ｄ２に接続される。ソースラインＳ１は、赤色表示用画素または緑色表示用画素の電極に接続されているため、一方の斜め配線Ｄ１は、検査用スイッチ端子Ｒから伸びる検査信号出力線ＩＬ１に接続される。また、他方の斜め配線Ｄ２は、検査用スイッチ端子Ｂから伸びる検査信号出力線ＩＬ３に接続される。一方、斜め配線Ｄ１は、スイッチ端子ＳＷ１から伸びる接続制御線ＣＣＬ１に接続され、斜め配線Ｄ２は、スイッチ端子ＳＷ２から伸びる接続制御線ＣＣＬ２に接続される。

図１０は、配線検査部２の他の例を示す説明図である。なお、図１０に例示する各列の表示用画素およびソースラインが接続される表示用画素の内容は、図２に例示する内容と同様である。図１０に示す例でも、各列の表示用画素は、ＲＧＢの繰り返しで配置される。そのため、図１０の破線で囲まれた単位で、検査用ＴＦＴの組合せが繰り返される。

以下、本実施例において制御信号と検査信号の組合せに応じて配線を検査する方法を具体的に説明する。本実施例の検査方法も、奇数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｏから制御線ＣＬ２にハイレベル、ローレベルの順で信号が出力され、偶数行用スイッチ端子Ｇ＿Ｅから制御線ＣＬ３にローレベル、ハイレベルの順で信号が出力されるものとする。すなわち、検査対象の画素として、奇数行の画素と偶数行の画素が交互に選択されるものとする。

また、各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替える。具体的には、スイッチ端子ＳＷ１から、第１選択期間および第３選択期間にハイレベルの制御信号が出力され、第２選択期間および第４選択期間にローレベルの制御信号が出力される。一方、スイッチ端子ＳＷ２から、第１選択期間および第３選択期間にローレベルの制御信号が出力され、第２選択期間および第４選択期間にハイレベルの制御信号が出力される。

図１１および図１２は、本実施例における制御信号および検査信号と表示結果との関係を示す説明図である。具体的には、図１１および図１２は、液晶表示パネル１に白または中間調を表示する場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図９における画素集合Ｓ（図９参照）部分の表示結果例との関係を示している。なお、図１１および図１２で示す記号の内容は、図３および図４で示す記号の内容と同様である。

図１１および図１２に例示するいずれの信号の組み合わせでも、配線に断線がない場合には、全ての画素を表示することが可能である。一方、ソースラインまたは斜め配線に断線が生じている場合、一部の画素が表示されなくなる。このことから、どの配線に断線が生じているか検査することが可能になる。

また、図１３〜図１５は、本実施例における制御信号および検査信号と表示結果との他の関係を示す説明図である。具体的には、図１３は、液晶表示パネル１に赤色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図９における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。図１４は、液晶表示パネル１に緑色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図９における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。図１５は、液晶表示パネル１に青色単色表示を行う場合における制御信号および検査信号が出力されるタイミングと、図９における画素集合Ｓ部分の表示結果例との関係を示している。なお、図１３〜図１５で示す記号の内容は、図３および図４で示す記号の内容と同様である。

図１３および図１５に例示するいずれのタイミングであっても各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号が出力されるように制御信号を切り替えるため、いずれの場合も斜め配線の断線を検査できる。

なお、図９に示す例では、斜め配線が接続されるソースラインには、緑色表示用画素の電極が接続されていないため、図１４に例示する制御信号および検査信号を出力しても斜め配線の断線は検査できない。しかし、緑色表示用画素の電極に接続されているソースラインに斜め配線が接続されている場合には、同様に断線の有無を検査可能である。

以上に示す実施形態および実施例では、配線検査部２が検査用スイッチ端子を３つ含む場合について説明した。ただし、検査用スイッチ端子の数は３つに限られない。検査用スイッチ端子の数は、１本または２本であってもよく、４本以上であってもよい。すなわち、スイッチ端子によってソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号を出力できれば、その数は任意である。

次に、本発明による液晶表示装置の概要を説明する。図１６は、本発明による液晶表示装置の概要を示す説明図である。本発明による液晶表示装置は、液晶表示パネル７０（例えば、液晶表示パネル１）における１本のソースライン（例えば、ソースラインＳ１）に接続される複数の信号線（例えば、斜め配線Ｄ１，Ｄ２）の配線を検査する配線検査手段８０（例えば、配線検査部２）を備えている。

配線検査手段８０は、信号線に接続される１本以上の検査信号出力線８１（例えば、検査信号出力線ＩＬ１〜ＩＬ３）と、検査信号出力線８１の各々に、ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力する検査信号出力部８２（例えば、検査用スイッチ端子Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂ）と、信号線および検査信号出力線に接続され、その信号線の本数と同数の接続制御線８３（例えば、接続制御線ＣＣＬ１，ＣＣＬ２）と、接続制御線８３の各々に、信号線と検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力する制御信号出力部８４（例えば、スイッチ端子ＳＷ１，ＳＷ２）とを含んでいる。

信号線は、各々異なる接続制御線８３に（例えば、ＴＦＴを介して）接続され、かつ、ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線８２に（例えば、ＴＦＴを介して）接続される。また、検査信号出力部８２は、制御信号出力部８４が制御信号を出力するタイミングに応じて検査信号を出力する。

そのような構成により、ソースラインに複数の信号線が接続される配線を含む場合であっても、液晶表示装置自身の配線を正しく検査できる。具体的には、検査信号を出力して、液晶表示パネル７０における各画素の表示結果を確認することで、液晶表示パネル７０の配線状態を検査できる。

１ 液晶表示パネル
２ 配線検査部
ＣＬ１ 制御線
ＣＬ２，ＣＬ３ 制御線
ＣＣＬ１，ＣＣＬ２ 接続制御線
ＩＬ１〜ＩＬ３ 検査信号出力線
Ｓ１ ソースライン
ＳＷ，ＳＷ１，ＳＷ２ スイッチ端子
Ｂ／Ｒ，Ｒ／Ｇ，Ｇ／Ｂ 検査用スイッチ端子
Ｒ，Ｇ，Ｂ 検査用スイッチ端子
Ｇ＿Ｏ 奇数行用スイッチ端子
Ｇ＿Ｅ 偶数行用スイッチ端子

Claims (8)

1. １本のソースラインに接続される複数の信号線の配線を検査する配線検査手段を備え、
   前記配線検査手段は、
   前記信号線に接続される１本以上の検査信号出力線と、
   前記検査信号出力線の各々に、前記ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力する検査信号出力部と、
   前記信号線および前記検査信号出力線に接続され、当該信号線の本数と同数の接続制御線と、
   前記接続制御線の各々に、前記信号線と前記検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力する制御信号出力部とを含み、
   前記信号線は、各々異なる接続制御線に接続され、かつ、前記ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続され、
   前記検査信号出力部は、前記制御信号出力部が前記制御信号を出力するタイミングに応じて前記検査信号を出力する
   ことを特徴とする液晶表示装置。
2. 制御信号出力部は、各接続制御線のうちのいずれか１本にハイレベルの制御信号を出力するように当該制御信号を切り替える
   請求項１記載の液晶表示装置。
3. 配線検査手段は、１本のソースラインに接続される複数の信号線の配線および１本のソースラインに接続される１本の信号線の配線を検査し、
   前記配線検査手段は、
   前記複数の信号線および前記１本の信号線に接続される１本以上の検査信号出力線と、
   前記複数の信号線または前記１本の信号線と、前記検査信号出力線とに接続され、当該複数の信号線の本数と同数の接続制御線を含み、
   制御信号出力部は、接続制御線の各々に、前記複数の信号線または前記１本の信号線と、前記検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力し、
   前記複数の信号線は、各々異なる接続制御線に接続され、かつ、前記ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続され、
   前記１本の信号線は、いずれの接続制御線にも接続され、かつ、前記ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続される
   請求項１または請求項２記載の液晶表示装置。
4. 配線検査手段は、１本のソースラインに接続される２本の信号線の配線を検査し、
   前記配線検査手段は、
   前記信号線に接続される３本の検査信号出力線と、
   ２本の接続制御線とを含み、
   検査信号出力部は、前記３本の検査信号出力線のうち、ソースラインに接続された青色表示用画素および赤色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第１の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された赤色表示用画素および緑色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第２の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された緑色表示用画素および青色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第３の検査信号出力線に出力し、
   前記信号線は、前記ソースラインが青色表示用画素および赤色表示用画素に接続されている場合には前記第１の検査信号出力線に接続され、前記ソースラインが赤色表示用画素および緑色表示用画素に接続されている場合には前記第２の検査信号出力線に接続され、前記ソースラインが緑色表示用画素および青色表示用画素に接続されている場合には前記第３の検査信号出力線に接続される
   請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の液晶表示装置。
5. 配線検査手段は、１本のソースラインに接続される２本の信号線の配線を検査し、
   前記配線検査手段は、
   前記信号線に接続される３本の検査信号出力線と、
   ２本の接続制御線とを含み、
   検査信号出力部は、前記３本の検査信号出力線のうち、ソースラインに接続された青色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第１の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された赤色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第２の検査信号出力線に出力し、ソースラインに接続された緑色表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を第３の検査信号出力線に出力し、
   前記ソースラインが青色表示用画素および赤色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第１の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第２の検査信号出力線に接続され、
   前記ソースラインが赤色表示用画素および緑色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第２の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第３の検査信号出力線に接続され、
   前記ソースラインが緑色表示用画素および青色表示用画素に接続されている場合には一方の信号線が第３の検査信号出力線に接続され、他方の信号線が第１の検査信号出力線に接続される
   請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の液晶表示装置。
6. 接続制御線および検査信号出力線は、ＩＣからの入力端子と表示領域との間に配置される
   請求項１から請求項５のうちのいずれか１項に記載の液晶表示装置。
7. １本のソースラインに接続される複数の信号線における当該信号線の各々は、異なるＩＣの出力部に接続される
   請求項１から請求項６のうちのいずれか１項に記載の液晶表示装置。
8. １本のソースラインに接続される複数の信号線の配線を検査する配線検査方法であって、
   １本以上の検査信号出力線を前記信号線に接続し、
   前記検査信号出力線の各々に、前記ソースラインに接続された表示用画素までの導通の検査に用いられる検査信号を出力し、
   前記信号線の本数と同数の接続制御線を、当該信号線および前記検査信号出力線に接続し、
   前記接続制御線の各々に、前記信号線と前記検査信号出力線との導通を制御するための制御信号を出力し、
   前記信号線を、各々異なる接続制御線に接続し、
   前記信号線を、前記ソースラインに接続される表示用画素に対応する検査信号が出力される検査信号出力線に接続し、
   前記制御信号を出力するタイミングに応じて前記検査信号を出力する
   ことを特徴とする配線検査方法。

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