JP7375439B2 - 電気光学装置、および電子機器 - Google Patents

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Description

本発明は、ブロック化された複数のデータ線から１つを選択する選択信号供給配線が設けられた電気光学装置、および電子機器に関するものである。
デマルチプレクサー方式を採用した液晶装置等の電気光学装置では、基板の表示領域で延在する複数のデータ線をブロック化し、各ブロックに対応して設けられた画像信号配線から供給された画像信号をデマルチプレクサーによってデータ線に分配する。デマルチプレクサーでは、複数の選択信号供給配線から供給される選択信号によって複数のスイッチング素子を制御する。従って、デマルチプレクサー方式の電気光学装置は、シフトレジスターを備えたデータ線駆動回路が形成されていないため、基板の検査の際、複数の選択信号供給配線の各々に電気的に接続する検査用端子に対してプローブを当接させて、検査用の選択信号を選択信号供給配線に印加する（特許文献１参照）。
特開２０１８－１８５４１５号公報
しかしながら、特許文献１に記載の構成では、解析装置によって基板の不良箇所を特定する際に、プローブから複数の選択信号供給配線の全てに同時に解析用の選択信号を容易に供給することができないという課題がある。例えば、表示領域でのデータ線と容量線との短絡箇所を特定する場合、ＥＭＭＩ（ＥＭｉｓｓｉｏｎ ＭＩｃｒｏｓｃｏｐｅ）等を用いる。ＥＭＭＩは短絡箇所を電流が流れる際に発生する赤外線を光学的に検出することで、短絡個所を視覚化できる。ＥＭＭＩで観察するには、選択信号供給配線毎に設けられた複数の検査用端子の全てにプローブを当接させてデマルチプレクサーのスイッチング素子にオンレベルの解析用選択信号を供給することにより、複数のデータ線を画像信号配線と電気的に接続させ、画像信号配線を介して複数のデータ線に通電する。つまり多数のプローブを同時に用いる必要がある。しかしながら、ＥＭＭＩの装置では、単体のプローブが大きいので、多数のプローブを同時に使用することに制約がある。また、特許文献１に記載の構成では、表示領域の一部がプローブの陰になって、表示領域全体を観察することができなくなるため、プローブから複数の選択信号供給配線の全てに同時に解析用の選択信号を供給することが困難である。
上記課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、表示領域に、第１データ線と、平面視において前記第１データ線に沿って延在する第２データ線と、表示領域の外側に、第１画像信号配線と、第１選択信号供給配線と、平面視において前記第１選択信号供給配線に沿って延在する第２選択信号供給配線と、前記第１選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第１データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第１スイッチング素子と、前記第２選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第２データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第２スイッチング素子と、一端が前記第１選択信号供給配線に電気的に接続され、他端が前記第２選択信号供給配線に電気的に接続された抵抗部材と、前記第１選択信号供給配線に電気的に接続され、平面視において前記第１選択信号供給配線と前記第２選択信号供給配線との間に設けられた検査用端子と、を備えることを特徴とする。
また、表示領域に、第１データ線と、平面視において前記第１データ線に沿って延在する第２データ線と、表示領域の外側に、第１画像信号配線と、第１選択信号供給配線と、平面視において前記第１選択信号供給配線に沿って延在する第２選択信号供給配線と、前記第１選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第１データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第１スイッチング素子と、前記第２選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第２データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第２スイッチング素子と、一端が前記第１選択信号供給配線に電気的に接続された第１抵抗部材と、一端が前記第２選択信号供給配線に電気的に接続された第２抵抗部材と、前記第１抵抗部材の他端及び前記第２抵抗部材の他端に電気的に接続された共通配線と、前記共通配線に電気的に接続され、平面視において前記第１選択信号供給配線と基板の一辺との間に設けられた第１検査用端子と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る電気光学装置は、直視型表示装置や投射型表示装置等の各種電子機器に用いることができる。電子機器が投射型表示装置である場合、投射型表示装置は、前記電気光学装置に供給される光を出射する光源部と、前記電気光学装置によって変調された光を投射する投射光学系と、を有している。
本発明を適用した電気光学装置の一態様を示す説明図。 図１に示す電気光学装置の電気的構成を示す説明図。 図２に示す画素、およびデマルチプレクサー等の電気的構成を示す説明図。 図２に示す静電保護回路部の説明図 図２に示す検査回路の説明図。 図２に示す選択信号供給配線の周辺を拡大して示す説明図。 図１に示す電気光学装置において表示を行う際のタイミングチャート。 本発明の実施形態２に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態３に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態４に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態５に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態６に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態７に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態８に係る電気光学装置の説明図。 本発明の実施形態９に係る電気光学装置の説明図。 図１５に示す画像信号配線選択回路の説明図。 本発明を適用した電気光学装置を用いた投射型表示装置の概略構成図。
図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各部材等を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各部材の縮尺を相違させるともに、部材の数を減らしてある。以下、Ｘ軸、Ｙ軸およびＹ軸からなる直交座標系を用いて各方向を表す。Ｚ軸方向は、電気光学装置１の厚さ方向であり、Ｙ軸方向は、配線基板の延在方向であり、Ｘ軸方向は、配線基板の延在方向に対して直交する幅方向である。
［実施形態１］
（全体構成）
図１は、本発明を適用した電気光学装置１の一態様の斜視図である。図１において、電気光学装置１は、後述するライトバルブ等として用いられる液晶装置であり、電気光学パネル１００としての液晶パネルを備えている。電気光学装置１は、第１基板１０に形成された複数の画素電極１１８と、第２基板２０に形成された共通電極（図示せず）と、第１基板１０と第２基板２０との間に設けられた液晶層からなる電気光学層（図示せず）とを備えている。画素電極１１８は、電気光学層を介して共通電極と対向することによって、画素１１０を構成している。電気光学装置１では、第１基板１０に対して、第２基板２０がシール材（図示せず）によって貼り合わされており、シール材で囲まれた領域に電気光学層が設けられている。電気光学装置１において、画素電極１１８（画素１１０）がＸ軸方向およびＹ軸方向に配列されている領域が表示領域１０１である。
本形態の電気光学装置１は、透過型の液晶装置である。従って、第１基板１０の基板本体、および第２基板２０の基板本体は、耐熱ガラスや石英基板等の透光性基板からなる。透過型の電気光学装置１では、例えば、第１基板１０および第２基板２０のうちの一方の基板から入射した照明光が他方の基板の側から出射する間に変調され、表示光として出射される。本形態においては、第２基板２０から入射した照明光が第１基板１０から出射する間に変調され、表示光として出射される。
第１基板１０は、第２基板２０の端部からＹ軸方向の一方側であるＹ１方向に張り出した張出部１０５を有している。張出部１０５には、第１基板１０の幅方向（Ｘ軸方向）に延在する辺に沿って複数の実装端子１９が所定のピッチで配列された端子領域１１が設けられている。電気光学装置１は、端子領域１１に電気的に接続された可撓性の配線基板６０を有しており、配線基板６０は、第１基板１０から離間するようにＹ１方向に延在している。配線基板６０は、第１基板１０側の端部に実装端子１９に対して異方性導電フィルム等を介して電気的に接続される電極６６を有する一方、第１基板１０と電気的に接続されている側とは反対側の端部にボード・ツー・ボードコネクター等の端子６９が形成されている。また、配線基板６０には、延在方向の途中位置に駆動用ＩＣ５０が実装されている。
（電気光学装置１の電気的構成）
図２は、図１に示す電気光学装置１の電気的構成を示す説明図である。図３は、図２に示す画素１１０、およびデマルチプレクサー１５０等の電気的構成を示す説明図である。図４は、図２に示す静電保護回路１８の説明図である。
図２に示すように、第１基板１０には、表示領域１０１においてＸ軸方向に延在する複数行の走査線１１２と、表示領域１０１においてＹ軸方向に延在する複数列のデータ線１１４とが形成されており、複数行の走査線１１２と複数列のデータ線１１４との各交差に対応して画素電極１１８を備えた画素１１０が構成されている。走査線１１２は、表示領域１１０のＸ軸方向の両側に設けられた走査線駆動回路１３０に電気的に接続されている。本実施形態において、走査線１１２はｍ行設けられ、データ線１１４は、例えば１９２０列設けられている。
図３に示すように、複数の画素１１０は各々、Ｎチャネル型の薄膜トランジスター等からなる画素トランジスター１１６を有している。画素トランジスター１１６のゲートは、例えば、ｉ行目の走査線１１２に電気的に接続され、画素トランジスター１１６のソースは、ｊ列目のデータ線１１４に電気的に接続され、画素トランジスター１１６のドレインは、ｉ行目かつｊ列目の画素電極１１８に電気的に接続されている。画素トランジスター１１６のドレインおよび画素電極１１８は、蓄積容量１１７を介して容量線１０９に電気的に接続されている。容量線１０９には、例えば、共通電位ＬＣＣＯＭが印加されている。第２基板２０の第１基板１０と対向する面には共通電極１０８が形成されており、画素電極１１８は、共通電極１０８との間に液晶容量１０７を構成している。共通電極１０８は、全ての画素１１０に対して共通であって、共通電位ＬＣＣＯＭが印加される。
図２および図３において、複数列のデータ線１１４は、複数列毎にｎ個のブロックにブロック化されており、第１基板１０には、表示領域１０１に対してＹ１方向側に、複数のブロックの各々に対応する複数の画像信号配線１５１が設けられている。複数の画像信号配線１５１は各々、画像信号入力端子１９１（実装端子１９）に電気的に接続されている。本実施形態では、８列毎にブロック化された場合を例示してある。従って、複数列のデータ線１１４は、計２４０のブロックにブロック化されており、画像信号配線１５１の数は２４０本である。複数の画像信号配線１５１には、画像を表示する際、図１に示す駆動用ＩＣ５０から画像信号入力端子１９１を介して画像信号ＶＩＤ１～ＶＩＤ２４０が各々、供給される。
第１基板１０には、表示領域１０１に対してＹ１方向側に、各ブロックに属する８列のデータ線１１４のうち、８種類の選択信号ＳＥＬ１～ＳＥＬ８によって指定されたデータ線１１４と画像信号配線１５１とを順次導通させるデマルチプレクサー１５０が構成されている。デマルチプレクサー１５０は、データ線１１４と画像信号配線１５１との間に介在する切り換え用のスイッチング素子１５２と、スイッチング素子１５２を制御する選択信号ＳＥＬ１～ＳＥＬ８を供給する８本の選択信号供給配線１５９とを有しており、８本の選択信号供給配線１５９は各々、選択信号入力端子１９２（実装端子１９）に電気的に接続されている。かかる８本の選択信号供給配線１５９は各々、画像を表示する際、図１に示す駆動用ＩＣ５０から選択信号入力端子１９２を介して選択信号ＳＥＬ１～ＳＥＬ８が供給される。
スイッチング素子１５２は、複数列のデータ線１１４の各々に設けられている。スイッチング素子１５２は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースが画像信号配線１５１に電気的に接続され、ドレインがデータ線１１４に電気的に接続されている。また、スイッチング素子１５２のゲートは、ゲート線１５３を介して選択信号供給配線１５９に電気的に接続されている。ここで、８本の選択信号供給配線１５９は、同一のブロックに属する８本のデータ線１１４に各々電気的に接続された８つのスイッチング素子１５２のうち、異なるスイッチング素子１５２のゲートに電気的に接続されている。例えば、選択信号ＳＥＬ１を供給する選択信号供給配線１５９は、１つのブロックに属する８本のデータ線１１４のうち、Ｘ軸方向の一方側であるＸ１方向側から１番目のデータ線１１４に電気的に接続するスイッチング素子１５２のゲートに電気的に接続されている。選択信号ＳＥＬ２を供給する選択信号供給配線１５９は、１つのブロックに属する４本のデータ線１１４のうち、Ｘ１方向側から２番目のデータ線１１４に電気的に接続するスイッチング素子１５２のゲートに電気的に接続されている。
第１基板１０において、端子領域１１には、選択信号入力端子１９２よりＸ１方向側に、配線基板６０から共通電位ＬＣＣＯＭ、負電源ＶＳＳＹ、正電源ＶＤＤＹが供給される入力端子１９５（実装端子１９）が設けられ、入力端子１９５からは定電位配線１５６が延在している。
また、端子領域１１には、画像信号入力端子１９１よりＸ軸方向の他方側であるＸ２方向側に、配線基板６０からイネーブル信号ＥＮＢＹｎ、クロック信号ＣＬＹ、ＣＬＹＢ、方向信号ＤＩＲＹ、転送開始パルスＤＹが入力される入力端子１９４（実装端子１９）と、正電源ＶＤＤＹ、負電源ＶＳＳＹが入力される入力端子１９４（実装端子１９）とが設けられており、入力端子１９４からは配線１５７が延在している。なお、端子領域１１のＸ軸方向の他方側Ｘ２の端部には、配線基板６０から共通電位ＬＣＣＯＭが供給される入力端子１９７（実装端子１９）が設けられ、入力端子１９７からは定電位配線１５８が延在している。
第１基板１０には、図１に示す第２基板２０との電気的な接続を行うための基板間導通電極１７０が形成されており、基板間導通電極１７０は、定電位配線１５６、１５８を介して共通電位用の入力端子１９５、１９７に電気的に接続されている。
また、第１基板１０には、端子領域１１に沿って、静電保護回路１８の２本の配線（第１保護回路用配線１８１、および第２保護回路用配線１８２）が設けられている。第１保護回路用配線１８１は、負電源ＶＳＳＹ用の定電位配線１５６、および配線１５７に電気的に接続され、第２保護回路用配線１８２は、正電源ＶＤＤＹ用の定電位配線１５６、および配線１５７に電気的に接続されている。
図４に示すように、静電保護回路１８では、例えば、実装端子１９から延在する配線１９０と第１保護回路用配線１８１とに第１トランジスター１８６が電気的に接続され、配線１９０と第２保護回路用配線１８２とに第２トランジスター１８７が電気的に接続されている。第１トランジスター１８６のゲートは、第１保護回路用配線１８１に電気的に接続され、第２トランジスター１８７のゲートは配線１９０に電気的に接続されている。従って、配線１９０に静電気に起因するサージ電流が侵入した際、サージを第１保護回路用配線１８１または第２保護回路用配線１８２に逃がすことができる。
（検査回路１６０の構成）
図５は、図２に示す検査回路１６０の説明図である。図２に示すように、第１基板１０には、表示領域１０１に対してＹ軸方向の他方側であるＹ２方向側（表示領域１０１に対してデマルチプレクサー１５０とは反対側）に検査回路１６０が構成されている。本実施形態において、検査回路１６０は、複数のブロック毎にデータ線１１４の各々を検査するように構成されている。
より具体的には、図５に示すように、検査回路１６０は、ｎ本の検査用配線１６９と、複数列のデータ線１１４の各々に一方端が電気的に接続された複数の検査用のスイッチ１６４（検査用スイッチ）を有しており、複数のスイッチ１６４の他方端は、ｎ本の検査用配線１６９のいずれかに電気的に接続されている。スイッチ１６４は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースおよびドレインのうち、ソース（一方端）がデータ線１１４に電気的に接続され、ドレイン（他方端）が検査用配線１６９に電気的に接続されている。
検査回路１６０は、複数のスイッチ１６４のうち、各ブロックに属するデータ線１１４に電気的に接続する８個のスイッチ１６４を同時に制御するシフト信号を順次出力するシフトレジスター１６２を有している。シフトレジスター１６２は、シフト信号供給配線１６５を介して、８個のスイッチ１６４のゲートの全てにシフト信号を同時に出力する。シフトレジスター１６２は、各段に、クロックドインバーター、インバーター、ＮＡＮＤ回路およびＮＯＴ回路を備えている。
ここで、複数のスイッチ１６４のうち、同一のブロックに属するデータ線１１４に一方端が電気的に接続されたスイッチ１６４は各々、異なる検査用配線１６９に他方端が電気的に接続されている。例えば、いずれのブロックにおいても、Ｘ２方向側から１番目に位置するデータ線１１４に一方端が電気的に接続されたスイッチ１６４の他方端は、後述する検査電圧Ｃｘ１を供給する検査用配線１６９に電気的に接続され、Ｘ２方向側から２番目に位置するデータ線１１４に一方端が電気的に接続されたスイッチ１６４の他方端は、後述する検査電圧Ｃｘ２を供給する検査用配線１６９に電気的に接続されている。
検査回路１６０は、シフトレジスター１６２と検査用配線１６９との間でＸ軸方向に延在する制御配線１６８と、シフト信号供給配線１６５に電気的に接続された制御用のスイッチ１６６とを有している。スイッチ１６６は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースが負電源ＶＳＳＹに電気的に接続され、ドレインがシフト信号供給配線１６５に電気的に接続されている。スイッチ１６６のゲートには制御配線１６８が電気的に接続されている。制御配線１６８は、抵抗１６７を介して正電源ＶＤＤＹに電気的に接続されている。
（検査用端子等の構成）
図６は、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。本形態では、図２等に示す第１基板１０は大型基板の状態で製造される。また、大型基板を第１基板１０に分割する前の状態で電気的な検査を行う。このため、大型基板のうち、第１基板１０として分割される領域には、以下に説明する検査用端子等が設けられている。
まず、図２に示すように、配線１５７のうち、５本の信号線の各々に検査用端子Ｔ０～Ｔ４が電気的に接続されている。また、検査回路１６０から延在する複数の配線には検査用端子Ｔ１９が各々、電気的に接続されている。図５に示すように、検査用端子Ｔ１９は、検査用配線１６９に対して検査電圧ＣＸ１～ＣＸ８を供給するための検査用端子Ｔ１９１と、シフトレジスター１６２に正電源ＶＤＤＸ、転送開始パルスＤＹ、クロック信号ＣＬＫ、ＣＬＫＢを供給する検査用端子Ｔ１９２とを含んでいる。なお、シフトレジスター１６２の負電源ＶＳＳＹは、後述する検査用端子Ｔ６から供給する。
再び図２において、本形態では、大型基板のうち、第１基板１０として分割される領域の外側の除材領域１０２には、複数の画像信号配線１５１のうち、Ｘ２側から奇数番目の画像信号配線１５１が電気的に接続された第１検査用補助配線１７３と、偶数番目の画像信号配線１５１が電気的に接続された第２検査用補助配線１７４とが形成されている。また、第１基板１０として分割される領域には、第２検査用補助配線１７４から延在する配線１７８に電気的に接続された検査用端子Ｔ８と、第１検査用補助配線１７３から延在する配線１７９に電気的に接続された検査用端子Ｔ９とが形成されている。かかる第１検査用補助配線１７３および第２検査用補助配線１７４は、大型基板を分割した際、第１基板１０から分離される。
本形態では、図６に拡大して示すように、第１基板１０には、共通電位ＬＣＣＯＭ用の定電位配線１５６に電気的に接続された検査用端子Ｔ５、負電源ＶＳＳＹ用の定電位配線１５６に電気的に接続された検査用端子Ｔ６、および正電源ＶＤＤＹ用の定電位配線１５６に電気的に接続された検査用端子Ｔ７が形成されている。
さらに、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が形成されている。
さらに、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９のうち、隣り合う選択信号供給配線１５９同士を電気的に接続する計７つの抵抗部材Ｒ１が形成されている。抵抗部材Ｒ１は、第１基板１０に形成された抵抗膜からなり、抵抗部材Ｒ１の抵抗値は、例えば数１００ｋΩ～数ＭΩ程度である。本形態において、抵抗部材Ｒ１は、選択信号供給配線１５９のうち、選択信号入力端子１９２と、検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が電気的に接続している位置との間に電気的に接続されている。従って、検査時には、検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８の各々にプローブを当接させて検査用の選択信号を８本の選択信号供給配線１５９の各々に供給することができる。また、図２に示すように、不良個所の解析時には検査用端子Ｔ１５にプローブＰ２を当接させて計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。
なお、抵抗部材Ｒ１は、Ｘ２方向に延在する選択信号供給配線１５９のＸ２方向側の端部において、隣り合う選択信号供給配線１５９と電気的に接続するように構成してもよい。図２の破線部の表記がそのような場合の変形例の一例であり、選択信号ＳＥＬ７に対応する選択信号供給配線１５９と、選択信号ＳＥＬ８に対応する選択信号供給配線１５９とを電気的に接続する抵抗部材Ｒ１のみを示してある。このような構成によれば、検査時に、例えば検査用端子Ｔ１１に高電位を与え、検査用端子Ｔ１２に低電位を与えると、ＳＥＬ１の選択信号供給配線１５９と抵抗部材Ｒ１とＳＥＬ２の選択信号供給配線１５９を介した電流を検出することで、選択信号供給配線１５９の導通（断線）検査も実施できる。
（第１基板１０の検査工程）
図１に示す電気光学装置１を製造する工程では、第１基板１０より大型基板に対し、図２に示すデータ線１１４、走査線１１２、走査線駆動回路１３０、デマルチプレクサー１５０等を形成した後、データ線１１４等に対する検査工程を行う。従って、検査工程を行う際、第１基板１０には、駆動用ＩＣ５０が実装された配線基板６０が電気的に接続されていない。そして、検査工程を経た大型基板に第２基板２０を貼り合せた後、大型基板は、単品サイズの第１基板１０に分割される。
（検査方法１）
次に、検査回路１６０を用いてデータ線１１４の断線を検査する方法を説明する。まず、全ての検査用端子にプローブカードによってプローブを当接させ、全ての検査用端子に対して電源や信号を印加する。この時、全ての選択信号供給配線１５９にスイッチング素子１５２をオンとする選択信号を印加する。次に、シフトレジスター１６２によって８本のデータ線１１４からなるデータ線ブロックを順次選択させる。検査用端子Ｔ１８または検査用端子Ｔ１９と、検査用端子Ｔ１９１との間に電位差を与えると、データ線１１４に断線がなければ電流が流れるのでデータ線１１４の断線を検査することができる。
（検査方法２）
次に、検査回路１６０を用いてデータ線１１４と容量線１０９との間の短絡検査する方法を説明する。まず、全ての検査用端子にプローブカードによってプローブを当接させ、全ての検査用端子に対して電源や信号を印加する。この時、全ての選択信号供給配線１５９にスイッチング素子１５２をオンとする選択信号を印加する。シフトレジスター１６２の選択信号供給配線１５９は全てのデータ線１１４を非選択とするようにする。簡便には正電源ＶＤＤＸをＨｉｇｈ-Ｚとすればよい。検査用端子Ｔ１８または検査用端子Ｔ１９と、検査用端子Ｔ５（ＬＣＣＯＭ）との間に電位差を与えると、データ線１１４と容量線１０９との間に短絡部があると電流が流れるので、データ線１１４と容量線１０９との間の短絡の有無を検査できる。ただし、この結果からは短絡部の詳細な場所を特定することはできない。従って不良個所解析が必要になる。不良個所を特定し、断面解析等によって不良工程を特定し歩留まりを改善する。
（他の検査方法）
なお、全ての選択信号供給配線１５９にオフの選択信号を供給した状態で、検査用端子Ｔ８、Ｔ９の間に流れる電流を検出すれば、隣り合う画像信号配線１５１の短絡を検査することができる。
（不良個所解析方法）
データ線１１４と容量線１０９との短絡を解析する場合、検査用端子Ｔ８にプローブＰ１を当接させてＸ２方向側から偶数番目の画像信号配線１５１に解析用電位を印加する一方、検査用端子Ｔ１５にプローブＰ２を当接させ、全ての選択信号供給配線１５９にスイッチング素子１５２をオンとする選択信号を印加する。その結果、Ｘ２方向側から偶数番目のブロックに属するデータ線１１４に解析用電位が印加される。また、検査用端子Ｔ５にプローブＰ３を当接させ、共通電位ＬＣＣＯＭ用の定電位配線１５６を介して容量線１０９に共通電位ＬＣＣＯＭを印加する。そして、表示領域１０１をカメラで撮像する。ここで、Ｘ２側から偶数番目のブロックに属するデータ線１１４と容量線１０９との間に短絡が存在する場合、短絡箇所が赤外線を発光するので、カメラでの撮像結果から短絡の有無や短絡箇所を確認することができる。
この状態から、検査用端子Ｔ９にプローブＰ１を当接させてＸ２方向側から奇数番目の画像信号配線１５１に解析用電位を印加する。その結果、Ｘ２側方向から奇数番目のブロックに属するデータ線１１４に解析用電位が印加される。そして、表示領域１０１をカメラで撮像する。ここでＸ２側から奇数番目のブロックに属するデータ線１１４と容量線１０９との間に短絡が存在する場合、短絡箇所が赤外線を発光するので、カメラでの撮像結果から短絡の有無や短絡箇所を確認することができる。
上記の解析を行う際、負電源ＶＳＳＹ用の定電位配線１５６に電気的に接続された検査用端子Ｔ６にプローブＰ４を当接させ、正電源ＶＤＤＹ用の定電位配線１５６に電気的に接続された検査用端子Ｔ７にプローブＰ５を当接させる。なお、走査線駆動回路１３０に関する信号はフローティングであってもよい。
このように本形態では、第１基板１０には、隣り合う選択信号供給配線１５９同士を電気的に接続する抵抗部材Ｒ１が形成されているため、複数の選択信号供給配線１５９は、抵抗部材Ｒ１を介して電気的に接続している。従って、複数の検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８の各々にプローブを当接させなくても、検査用端子Ｔ１５にプローブＰ２を当接させることにより、複数の選択信号供給配線１５９に共通の解析用の選択信号を供給することができる。つまり、解析に必要なプローブ数が減る。従って、表示領域１０１を撮像した結果に基づいて解析を行う場合には、表示領域１０１の一部がプローブの陰になってしまう等の事態が発生しにくい。
（表示動作）
図７は、図１に示す電気光学装置１において表示を行う際のタイミングチャートである。電気光学装置１で表示を行う際には、図１に示すように、第１基板１０に、駆動用ＩＣ５０が実装された配線基板６０が電気的に接続される。この状態では、正電源ＶＤＤＸはＨｉｇｈ-Ｚである。しかしながら、抵抗１６７によって制御配線１６８に正電源ＶＤＤＹが常に供給されるため、スイッチ１６６が常にオン状態となる。従って、シフトレジスター１６２のシフト信号供給配線１６５は、負電源ＶＳＳＹが印加されるので、フローティング状態が解消される。また、全てのスイッチ１６４がオフ状態となるので、検査回路１６０は、表示領域１０１から電気的に切り離される。
図７に示すように、電気光学装置１において表示を行う際、走査線駆動回路１３０は、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに同期した水平同期信号Ｈｓｙｎｃによって規定される１フレーム（Ｎフレーム）期間のうちに、走査信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３・・Ｇ１２００を期間Ｈ毎に順次排他的にＨレベルとする。期間Ｈでは、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４、ＳＥＬ５、ＳＥＬ６、ＳＥＬ７、ＳＥＬ８が順に排他的にＨレベルとなり、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４、ＳＥＬ５、ＳＥＬ６、ＳＥＬ７、ＳＥＬ８に同期して、画像信号配線１５１は、画像信号を含む画像信号ＶＩＤ１、ＶＩＤ２・・・ＶＩＤ２４０を供給する。従って、例えば、走査信号Ｇ１がＨレベルとなる期間において、選択信号ＳＥＬ１がＨレベルとなったときには、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックの各々においてＸ２方向側から第１番目に位置するデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、画像信号ＶＩＤ１、ＶＩＤ２・・・ＶＩＤ２４０に含まれるデータが書き込まれる。
次に、選択信号ＳＥＬ２がＨレベルとなったとき、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックの各々においてＸ２側から第２番目に位置するデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、画像信号ＶＩＤ１、ＶＩＤ２・・・ＶＩＤ２４０に含まれるデータが書き込まれる。選択信号ＳＥＬ３～ＳＥＬ８がＨレベルとなったとき、同様なデータの書き込みが行われる。
なお、期間Ｈでは、選択信号ＳＥＬ１～ＳＥＬ８が同時にＨレベルになるプリチャージ期間が設けられている。
かかる動作は、走査信号Ｇ２、Ｇ３・・・Ｇｍが順にＨレベルとなる期間において同様に行われる。また、次のフレームにおいても、同様な書き込みが行われる。その際、各画素１１０に対する書込極性が入れ替えられることがある。すなわち、直前のＮフレームにおいて正極性書込が行われたのであれば、次の（Ｎ＋１）フレームにおいては、負極性書込が行われる一方、直前のＮフレームにおいて負極性書込が行われたのであれば、次の（Ｎ＋１）フレームにおいては、正極性書込が行われることになる。かかる極性反転を行うことにより、液晶層の劣化を防止することができる。
このような表示動作を行う際、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９のうち、隣り合う選択信号供給配線同士を電気的に接続する計７つの抵抗部材Ｒ１が形成されているが、抵抗部材Ｒ１の抵抗値が十分大きい。このため、８本の選択信号供給配線１５９の各々に選択信号ＳＥＬ１～ＳＥＬ８を適正に供給することができるので、表示動作を適正に行うことができる。
［実施形態２］
図８は、本発明の実施形態２に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。なお、本形態および後述する実施形態はいずれも、基本的な構成が実施形態１と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれらの説明を省略する。
図８に示すように、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が形成されている。また、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９のうち、隣り合う選択信号供給配線１５９同士を電気的に接続する抵抗部材Ｒ１が形成されている。本形態では、第１基板１０には、選択信号供給配線１５９に検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が電気的に接続している位置と選択信号入力端子１９２との間に、Ｘ軸方向に延在する共通配線１２０が設けられており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続している。従って、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および共通配線１２０を介して電気的に接続されている。かかる構成でも、例えば、検査用端子Ｔ１５にプローブＰ２を当接させて解析用の選択信号を印加すれば、計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。また、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続しているため、複数の選択信号供給配線１５９に供給される通常表示時の選択信号の同一性が向上するので表示ムラを抑制する。
［実施形態３］
図９は、本発明の実施形態３に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図９に示すように、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が設けられている。また、第１基板１０には、Ｘ軸方向に延在する共通配線１２０が設けられており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続している。また、第１基板１０には、共通配線１２０に電気的に接続された検査用端子Ｔ１０が設けられている。従って、検査用端子Ｔ１０にプローブＰ２を当接させて選択信号を印加すれば、計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。また、共通配線１２０に検査用端子Ｔ１０が電気的に接続しているため、複数の選択信号供給配線１５９に供給される通常表示時の選択信号の同一性が向上する。また、共通配線１２０に検査用端子Ｔ１０が電気的に接続されているため、検査用端子Ｔ１０を表示領域１０１から離間し、かつ、他の検査用端子Ｔ５～Ｔ７も近接した位置に設けることができる。従って、解析作業の際、プローブＰ２～Ｐ５を集約することができるので、解析装置の拡大鏡視野内にすべてのプローブを見ることができるからプロービング作業が容易となる。
本形態において、第１基板１０には、負電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５に加えて、別の負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５が設けられており、共通配線１２０は、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。従って、共通配線１２０の電位を固定することができるので、表示動作を行う際、選択信号供給配線１５９に意図しないノイズが重畳することを抑制することができる。従って、表示ムラを抑制する。負電源ＶＳＳＹ２は負電源ＶＳＳＹと同じ電位を与えることが好ましい。
負電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５と、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５とが隣り合っているため、負電源ＶＳＳＹ２と負電源ＶＳＳＹとが同じ電位であれば、配線基板６０での配線のレイアウトを簡素化することができる。なお、電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５と、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５との間にダミー端子を設けてもよい。
［実施形態４］
図１０は、本発明の実施形態４に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図１０に示すように、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が設けられている。また、第１基板１０には、Ｘ軸方向に延在する共通配線１２０が設けられており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続している。従って、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および共通配線１２０を介して電気的に接続されている。また、第１基板１０には、共通配線１２０に電気的に接続された検査用端子Ｔ１０が設けられている。
ここで、第１基板１０には、正電源ＶＤＤＹ用の入力端子１９５に加えて、別の正電源ＶＤＤＹ２用の入力端子１９５が設けられており、共通配線１２０は、正電源ＶＤＤＹ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。本形態では、正電源ＶＤＤＹ用の入力端子１９５と、正電源ＶＤＤＹ２用の入力端子１９５とが隣り合っているため、正電源ＶＤＤＹ２と正電源ＶＤＤＹとが同じ電位であれば、配線基板６０での配線のレイアウトを簡素化することができる。なお、正電源ＶＤＤＹ用の入力端子１９５と、正電源ＶＤＤＹ２用の入力端子１９５との間にダミー端子を設けてもよい。
［実施形態５］
図１１は、本発明の実施形態５に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図１１に示すように、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が設けられている。また、第１基板１０には、Ｘ軸方向に延在する共通配線１２０が設けられており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続している。従って、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および共通配線１２０を介して電気的に接続されている。
ここで、第１基板１０には、共通電位ＬＣＣＯＭの入力端子１９５に加えて、別の共通電位ＬＣＣＯＭ２用の入力端子１９５が設けられており、共通配線１２０は、共通電位ＬＣＣＯＭ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。本形態では、共通電位ＬＣＣＯＭ用の入力端子１９５と、共通電位ＬＣＣＯＭ２用の入力端子１９５とが隣り合っているため、共通電位ＬＣＣＯＭ２と共通電位ＬＣＣＯＭとが同じ電位であれば、配線基板６０での配線のレイアウトを簡素化することができる。なお、共通電位ＬＣＣＯＭ用の入力端子１９５と、共通電位ＬＣＣＯＭ２用の入力端子１９５との間にダミー端子を設けてもよい。
［実施形態６］
図１２は、本発明の実施形態６に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図９に示すように、第１基板１０では、Ｘ軸方向に延在する共通配線１２０が設けられており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して共通配線１２０に電気的に接続している。従って、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および共通配線１２０を介して電気的に接続されている。また、第１基板１０には、共通配線１２０に電気的に接続された検査用端子Ｔ１０が設けられている。従って、検査用端子Ｔ１０にプローブＰ２を当接させて選択信号を印加すれば、計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。
ここで、第１基板１０には、負電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５に加えて、別の負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５が設けられており、共通配線１２０は、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。
本形態では、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８（図８参照）が形成されていない。従って、選択信号供給配線１５９に対する容量負荷を低減することができる、また、検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が占めるスペースが不要になるので、第１基板１０を小型化することができる。この場合でも、前記した検査方法１によって、データ線１１４の断線を検査することができる。
［実施形態７］
図１３は、本発明の実施形態７に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図１３に示すように、第１基板１０には、負電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５に加えて、別の負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５が設けられており、第１保護回路用配線１８１は、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。第１保護回路用配線１８１は、途中で分割されており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して、第１保護回路用配線１８１のうち、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に電気的に接続されている部分（共通配線１２０）に電気的に接続している。
かかる構成でも、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および第１保護回路用配線１８１（共通配線１２０）を介して電気的に接続されている。また、第１基板１０には、第１保護回路用配線１８１に電気的に接続された検査用端子Ｔ１０が設けられている。従って、検査用端子Ｔ１０にプローブＰ２を当接させて選択信号を印加すれば、計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。また、共通配線１２０が第１保護回路用配線１８１を兼用するので、効率的なレイアウトを実現することができる。なお、分割された第１保護回路用配線１８１は第１基板１０内で電気的に接続されている。
本形態では、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８（図８参照）が形成されていない。この場合でも、前記した検査方法１によって、データ線１１４の断線を検査することができる。
［実施形態８］
図１４は、本発明の実施形態８に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す選択信号供給配線１５９の周辺を拡大して示す説明図である。図１４に示すように、第１基板１０には、８本の選択信号供給配線１５９の各々に電気的に接続された８つの検査用端子Ｔ１１～Ｔ１８が設けられている。また、第１基板１０には、負電源ＶＳＳＹ用の入力端子１９５に加えて、別の負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５が設けられており、第１保護回路用配線１８１は、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に定電位配線１５６を介して電気的に接続されている。第１保護回路用配線１８１は、途中で分割されており、複数の選択信号供給配線１５９は各々、抵抗部材Ｒ１を介して第１保護回路用配線１８１のうち、負電源ＶＳＳＹ２用の入力端子１９５に電気的に接続されている部分（共通配線１２０）に電気的に接続している。
かかる構成でも、隣り合う選択信号供給配線１５９同士は、抵抗部材Ｒ１および第１保護回路用配線１８１を介して電気的に接続されている。また、第１基板１０には、第１保護回路用配線１８１に電気的に接続された検査用端子Ｔ１０（図９参照）が設けられていないが、例えば、検査用端子Ｔ１５にプローブＰ２を当接させて選択信号を印加すれば、計８本の選択信号供給配線１５９の全てに選択信号を供給することができる。負電源ＶＳＳＹ２と負電源ＶＳＳＹとが同じ電位であっても配線基板６０での配線のレイアウトの簡素化はできないが、共通配線１２０が選択信号供給配線１５９以外と交差しない。従って、選択信号供給配線１５９に異常があった場合に異常部の特定が容易になる。
［実施形態９］
図１５は、本発明の実施形態９に係る電気光学装置１の説明図であり、図２に示す説明図に対応する。図１６は、図１５に示す画像信号配線選択回路１４０の説明図である。上記実施形態では、検査用端子Ｔ８、Ｔ９と各ブロックに対応する画像信号配線１５１との電気的な接続を大型基板のうち、第１基板１０として分割される領域の外側に設けた第１検査用補助配線１７３および第２検査用補助配線１７４を利用したが、本形態では、図１６に示すように、制御信号ＳＧによって制御される画像信号配線選択回路１４０を用いる。画像信号配線選択回路１４０は、ブロック毎に設けられた複数の画像信号配線１５１のいずれかを選択して検査用端子と電気的に接続する。
より具体的には、画像信号配線選択回路１４０は、配線１７７、１７８、１７９、電気的に接続されている。配線１７８には、検査用端子Ｔ８、およびＥＶＥＮ系列用の入力端子１９９が電気的に接続され、配線１７９には、検査用端子Ｔ９、およびＯＤＤ系列用の入力端子１９９が電気的に接続されている。配線１７７には、検査用端子Ｔ２０、およびＳＧ用の入力端子１９９が電気的に接続されている。ここで、ＯＤＤ系列とはＸ２方向側から奇数番目の画像信号配線１５１、すなわちＶＩＤ１、ＶＩＤ３～ＶＩＤ２３９を意味する。同様にＥＶＥＮ系列とは、Ｘ２方向側から偶数番目の画像信号配線１５１、すなわちＶＩＤ２、ＶＩＤ４～ＶＩＤ２４０を意味する。
図１６に示すように、画像信号配線選択回路１４０は、Ｘ２側から奇数番目の複数の画像信号配線１５１と配線１７９との間に電気的に接続されたスイッチＳＷと、Ｘ２方向側から偶数番目の複数の画像信号配線１５１と配線１７８との間に電気的に接続されたスイッチＳＷを有しており、スイッチＳＷは、配線１７７を介して入力される制御信号ＳＧによってオフ・オフが制御される。
従って、検査用端子Ｔ２０にプローブＰ６から供給した制御信号ＳＧによって、Ｘ２方向側から偶数番目の複数の画像信号配線１５１と配線１７８との間に電気的に接続されたスイッチＳＷをオンさせれば、検査用端子Ｔ８に当接させたプローブＰ１、および配線１７８を介して偶数番目の複数の画像信号配線１５１に対する信号の入力や検出を行うことができる。また、検査用端子Ｔ２０にプローブＰ６から供給した制御信号ＳＧによって、Ｘ２方向側から奇数番目の複数の画像信号配線１５１と配線１７９との間に電気的に接続されたスイッチＳＷをオンさせるとともに、検査用端子Ｔ９にプローブＰ１を当接させれば、プローブＰ１および配線１７９を介して奇数番目の複数の画像信号配線１５１に対する信号の入力や検出を行うことができる。なお、表示動作の際には、入力端子１９９の電位が固定されるので、表示に影響を及ぼしにくい。
［他の実施の形態］
上記実施形態では、データ線１１４を８列毎のブロックとしたが、例えば、データ線１１４を１２列毎のブロックとしてもよいなど、ブロック化の態様は制限されない。
上記実施形態では、電気光学装置１として透過型の液晶装置を例示したが、反射型の液晶装置に本発明を適用してもよい。また、デマルチプレクサー方式を採用した電気光学装置１であれば、例えばＥＬ（Electronic Luminescence）素子、電子放出素子、電気泳動素子などを画素１１０に用いた電気光学装置や、プラズマディスプレイ等の電気光学装置等に本発明を適用してもよい。
［電子機器への搭載例］
上述した実施形態に係る電気光学装置１を用いた電子機器について説明する。図１７は、本発明を適用した電気光学装置１を用いた投射型表示装置（電子機器）の概略構成図である。
図１７に示す投射型表示装置２１００は、電気光学装置１を用いた電子機器の一例である。投射型表示装置２１００において、本発明を適用した電気光学装置１がライトバルブとして用いられ、装置を大きくすることなく高精細で明るい表示が可能である。この図に示されるように、投射型表示装置２１００の内部には、ハロゲンランプ等の白色光源を有するランプユニット２１０２（光源部）が設けられている。ランプユニット２１０２から射出された投射光は、内部に配置された３枚のミラー２１０６および２枚のダイクロイックミラー２１０８によってＲ（赤）色、Ｇ（緑）色、Ｂ（青）色の３原色に分離される。分離された投射光は、各原色に対応するライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００Ｂにそれぞれ導かれる。なお、Ｂ色の光は、他のＲ色やＧ色と比較すると光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ２１２２、リレーレンズ２１２３および出射レンズ２１２４を有するリレーレンズ系２１２１を介して導かれる。
投射型表示装置２１００において、電気光学装置１を含む液晶装置が、Ｒ色、Ｇ色、Ｂ色のそれぞれに対応して３組設けられている。ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００Ｂの構成は、上述した電気光学パネル１００と同様であり、配線基板６０を介して投射型表示装置２１００内の上位回路と電気的に接続される。Ｒ色、Ｇ色、Ｂ色のそれぞれの原色成分の階調レベルを指定する画像信号がそれぞれ外部上位回路から供給されて、投射型表示装置２１００内の上位回路で処理され、ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００がそれぞれ駆動される。ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇ、１００Ｂによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム２１１２に３方向から入射する。そして、ダイクロイックプリズム２１１２において、Ｒ色およびＢ色の光は９０度に反射し、Ｇ色の光は透過する。したがって、各原色の画像が合成された後、スクリーン２１２０には、投射レンズ群２１１４（投射光学系）によってカラー画像が投射される。
（他の投射型表示装置）
なお、投射型表示装置については、光源部として、各色の光を出射するＬＥＤ光源等を用い、かかるＬＥＤ光源から出射された色光を各々、別の液晶装置に供給するように構成してもよい。
（他の電子機器）
本発明を適用した電気光学装置１を備えた電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置２１００に限定されない。例えば、投射型のＨＵＤ（ヘッドアップディスプレイ）、ＨＭＤ（ヘッドマウントディスプレイ）、パーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、携帯電話、携帯型情報処理端末、液晶テレビ等の電子機器に用いてもよい。
１…電気光学装置、２…検査方法、１０…第１基板、１１…端子領域、１８…静電保護回路、１９…実装端子、２０…第２基板、５０…駆動用ＩＣ、６０…配線基板、１００…電気光学パネル、１００Ｂ、１００Ｇ、１００Ｒ…ライトバルブ、１０１…表示領域、１０８…共通電極、１０９…容量線、１１０…画素、１１２…走査線、１１４…データ線、１１６…画素トランジスター、１１８…画素電極、１２０…共通配線、１３０…走査線駆動回路、１４０…画像信号配線選択回路、１５０…デマルチプレクサー、１５１…画像信号配線、１５２…スイッチング素子、１５３…ゲート線、１５６、１５８…定電位配線、１５７…配線、１５９…選択信号供給配線、１６０…検査回路、１６２…シフトレジスター、１６５…シフト信号供給配線、１６８…制御配線、１６９…検査用配線、１７３…第１検査用補助配線、１７４…第２検査用補助配線、１８１…第１保護回路用配線、１８２…第２保護回路用配線、１９１…画像信号入力端子、１９２…選択信号入力端子、１９３、１９５、１９９…入力端子、２４０…計、２１００…投射型表示装置、２１０２…ランプユニット（光源部）、２１１４…投射レンズ群（投射光学系）、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６…プローブ、Ｒ１…抵抗部材、Ｔ１１～Ｔ１８…検査用端子、ＶＩＤ１－ＶＩＤ２４０…画像信号、ＳＥＬ１～ＳＥＬ８…選択信号。

Claims (10)

  1. 表示領域に、
    第１データ線と、
    平面視において前記第１データ線に沿って延在する第２データ線と、
    表示領域の外側に、
    第１画像信号配線と、
    第１選択信号供給配線と、
    平面視において前記第１選択信号供給配線に沿って延在する第２選択信号供給配線と、
    前記第１選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第１データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第１スイッチング素子と、
    前記第２選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第２データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第２スイッチング素子と、
    一端が前記第１選択信号供給配線に電気的に接続され、他端が前記第２選択信号供給配線に電気的に接続された抵抗部材と、
    前記第１選択信号供給配線に電気的に接続され、平面視において前記第１選択信号供給配線と前記第２選択信号供給配線との間に設けられた検査用端子と、
    を備えることを特徴とする電気光学装置。
  2. 請求項１に記載の電気光学装置において、
    前記第１選択信号供給配線に電気的に接続された選択信号入力端子を備え、
    前記選択信号入力端子と前記第１選択信号供給配線の前記検査用端子に電気的に接続される部分との間において、前記抵抗部材の一端が前記第１選択信号供給配線と電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
  3. 請求項１に記載の電気光学装置において、
    前記抵抗部材の他端に電気的に接続されるとともに、前記第２選択信号供給配線に電気的に接続された共通配線を備えることを特徴とする電気光学装置。
  4. 表示領域に、
    第１データ線と、
    平面視において前記第１データ線に沿って延在する第２データ線と、
    表示領域の外側に、
    第１画像信号配線と、
    第１選択信号供給配線と、
    平面視において前記第１選択信号供給配線に沿って延在する第２選択信号供給配線と、
    前記第１選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第１データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第１スイッチング素子と、
    前記第２選択信号供給配線に供給された選択信号によって前記第２データ線と前記第１画像信号配線とを導通させる第２スイッチング素子と、
    一端が前記第１選択信号供給配線に電気的に接続された第１抵抗部材と、
    一端が前記第２選択信号供給配線に電気的に接続された第２抵抗部材と、
    前記第１抵抗部材の他端及び前記第２抵抗部材の他端に電気的に接続された共通配線と、
    前記共通配線に電気的に接続され、平面視において前記第１選択信号供給配線と基板の一辺との間に設けられた第１検査用端子と、
    を備えることを特徴とする電気光学装置。
  5. 請求項４に記載の電気光学装置において、
    前記第１選択信号供給配線に電気的に接続され、平面視において前記第１選択信号供給配線と前記第２選択信号供給配線との間に設けられた第２検査用端子と、
    前記第１選択信号供給配線に電気的に接続された選択信号入力端子と、を備え、
    前記選択信号入力端子と前記第１選択信号供給配線の前記第２検査用端子に電気的に接続される部分との間において、前記第１抵抗部材の一端が前記第１選択信号供給配線に電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
  6. 請求項３から５までの何れか一項に記載の電気光学装置において、
    前記共通配線は、定電位が供給されることを特徴とする電気光学装置。
  7. 請求項６に記載の電気光学装置において、
    前記共通配線は、共通電位が供給されることを特徴とする電気光学装置。
  8. 請求項６に記載の電気光学装置において、
    定電位が供給される保護回路用配線を有する保護回路を備え、
    前記保護回路用配線は、前記共通配線に電気的に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
  9. 請求項１から８までの何れか一項の電気光学装置において、
    前記第１画像信号配線に沿って延在する第２画像信号配線と、
    前記第１画像信号配線及び前記第２画像信号配線のいずれかを選択する画像信号配線選択回路と、を備えることを特徴とする電気光学装置。
  10. 請求項１から９までの何れか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。
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