KR20080055248A - 표시 패널 - Google Patents

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KR20080055248A
KR20080055248A KR1020060128293A KR20060128293A KR20080055248A KR 20080055248 A KR20080055248 A KR 20080055248A KR 1020060128293 A KR1020060128293 A KR 1020060128293A KR 20060128293 A KR20060128293 A KR 20060128293A KR 20080055248 A KR20080055248 A KR 20080055248A
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이현
권선자
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삼성전자주식회사
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Abstract

비쥬얼 검사 공정이 용이한 표시 패널이 개시된다. 표시 패널은 표시 기판, 구동칩 패드부, 더미 박막트랜지스터들 및 데이터 검사부를 포함한다. 표시 기판은 게이트 배선들 및 데이터 배선들에 의해 복수의 화소부가 정의된 표시 영역과, 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역으로 이루어진다. 구동칩 패드부는 데이터 배선들의 일단부에 형성되어 데이터 신호를 인가받는 데이터 패드들을 포함한다. 더미 박막트랜지스터들은 표시 영역과 구동칩 패드부 사이에 형성되며, 데이터 배선들에 소스 전극이 연결된다. 데이터 검사부는 더미 박막트랜지스터들에 테스트 신호를 인가한다. 이에 따라, 비쥬얼 검사 공정이 용이해진다.
비쥬얼 검사, 데이터 배선, 검사 패드, 더미 박막트랜지스터

Description

표시 패널{DISPLAY PANEL}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 게이트 구동부에 대한 상세 블록도이다.
도 3은 도 1에 도시된 더미 스위칭부를 설명하기 위하여 개념적으로 도시한 도면이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100: 표시 패널 110; 어레이 기판
120: 대향 기판 130: 게이트 구동부
131, 132, 133, 134: 제1 내지 제4 입력단자
140: 게이트 검사부 142: 게이트 검사 패드
150: 데이터 검사부 152: 데이터 검사 패드
154: 연결배선 160: 구동칩 패드부
162; 데이터 패드 200: 더미 스위칭부
DA: 표시 영역 PA1, PA2: 주변 영역
본 발명은 표시 패널에 관한 것으로, 보다 상세하게는 비쥬얼 검사 공정이 용이한 표시 패널에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 소정간격 이격하여 대향하는 어레이 기판 및 대향 기판(예컨대 컬러필터 기판)과, 두 기판 사이에 개재되고 이방성 유전율을 갖는 액정층으로 이루어져 영상을 표시하는 표시 패널과, 표시 패널을 구동하기 위한 구동 회로부로 이루어진다.
표시 패널에는 게이트 배선들 및 데이터 배선들에 의해 정의되는 복수의 화소부가 형성되고, 각 화소부에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터와, 박막트랜지스터와 전기적으로 연결되는 액정 커패시터 및 스토리지 커패시터가 형성된다. 표시 패널은 게이트 배선에 인가되는 게이트 신호에 의해 박막트랜지스터가 턴-온(turn-on)되면 데이터 배선에 인가되는 데이터 신호가 액정 커패시터에 인가되고, 데이터 신호에 따라 액정 분자의 배열이 변경되어 광 투과율을 조절함으로써, 원하는 영상을 표시한다.
이러한, 표시 패널은 제조 공정이 완료되면 화소부의 불량을 검사하게 되며, 이를 비쥬얼 검사(Visual Inspection:VI)라고 한다. 비쥬얼 검사는 게이트 배선들 및 데이터 배선들에 테스트 신호를 인가하여 화소부를 구동시켜 검사한다. 비쥬얼 검사를 위해서 게이트 배선들 및 데이터 배선들을 표시 패널 제작시에 그룹화하고 검사가 완료된 후 분리시키는 방법이 일반적이다.
하지만, 이러한 비쥬얼 검사 방식은 그룹화한 배선을 분리하기 위하여 별도의 공정이 추가되는 것이 때문에 검사 공정이 복잡해지는 문제점이 있다.
이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 비쥬얼 검사 공정을 용이하게 하기 위한 표시 패널을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 표시 패널은 표시 기판, 구동칩 패드부, 더미 박막트랜지스터들 및 데이터 검사부를 포함한다. 상기 표시 기판은 게이트 배선들 및 데이터 배선들에 의해 복수의 화소부가 정의된 표시 영역과, 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역으로 이루어진다. 상기 구동칩 패드부는 상기 데이터 배선들의 일단부에 형성되어 데이터 신호를 인가받는 데이터 패드들을 포함한다. 상기 더미 박막트랜지스터들은 상기 표시 영역과 구동칩 패드부 사이에 형성되며, 상기 데이터 배선들에 소스 전극이 연결된다. 상기 데이터 검사부는 상기 더미 박막트랜지스터들에 테스트 신호를 인가한다.
이러한 표시 패널에 의하면, 데이터 배선들에 테스트 신호를 인가하여 비쥬얼 검사 공정을 수행하기 위한 별도의 형성 공정 및 제거 공정이 생략됨으로써, 비쥬얼 검사 공정이 용이해진다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 개략적인 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널(100)은 어레이 기 판(110), 어레이 기판(110)과 소정간격 이격하여 대향하는 대향 기판(120, 예컨대 컬러필터 기판) 및 어레이 기판(110)과 대향 기판(120) 사이에 개재된 액정층(미도시)을 포함한다. 이러한 표시 패널(100)은 영상이 표시되는 표시 영역(DA)과, 표시 영역(DA)을 둘러싸는 주변 영역(PA1, PA2)으로 구분된다.
표시 영역(DA)에는 일방향으로 연장되어 형성된 복수의 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)과, 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)과 교차하는 방향으로 연장되어 형성된 복수의 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)들에 의해 정의되는 복수의 화소부가 형성된다. 각 화소부에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터(TFT)와, 박막트랜지스터(TFT)에 전기적으로 연결되어 액정 커패시터(CLC) 및 스토리지 커패시터(CST)가 형성된다. 구체적으로, 박막트랜지스터(TFT)의 소스 전극은 데이터 배선(DL)에 전기적으로 연결되고, 게이트 전극은 게이트 배선(GL)에 전기적으로 연결되며, 드레인 전극에는 액정 커패시터(CLC) 및 스토리지 커패시터(CST)가 전기적으로 연결된다.
주변 영역(PA1, PA2)은 제1 주변 영역(PA1) 및 제2 주변 영역(PA2)을 포함하며, 제1 주변 영역(PA1)은 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)의 일단부에 위치하는 영역으로 정의되고, 제2 주변 영역(PA2)은 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)의 일단부에 위치하는 영역으로 정의된다.
제1 주변 영역(PA1)에는 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)에 박막트랜지스터(TFT)의 턴-온(turn-on) 구동신호인 게이트 신호를 출력하는 게이트 구동부(130)와, 게이트 구동부(130)를 구동시켜 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)에 테스트용 게이트 신호를 출력하는 게이트 검사부(140)가 형성된다.
게이트 구동부(130)는 화소부의 박막트랜지스터(TFT)가 형성될 때, 함께 형성된 복수의 박막트랜지스터들로 형성된 쉬프트 레지스터로 이루어지며, 제1 입력단자(131), 제2 입력단자(132), 제3 입력단자(134) 및 제4 입력단자(134)를 포함한다.
게이트 검사부(140)는 비쥬얼 검사 공정을 진행시에 게이트 구동부(130)를 구동시키기 위한 테스트 신호가 입력되는 게이트 검사 패드(142)들을 포함한다. 일 예로, 게이트 검사 패드(142)들은 제1 내지 제4 입력단자들(131, 132, 133, 134)에 일대일 대응하여 형성되며, 게이트 검사 패드(142)에 인가되는 테스트 신호는 전원전압(VSS), 제1 클럭 신호(CKV), 제2 클럭 신호(CKVB) 및 수직 개시신호(STV)를 포함한다.
제2 주변 영역(PA2)에는 구동칩 패드부(160), 데이터 검사부(150) 및 더미 스위칭부(200)가 형성된다.
구동칩 패드부(160)는 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동칩(미도시)의 출력단자와 전기적으로 연결되는 복수의 데이터 패드(162)들을 포함하며, 데이터 패드(162)들은 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)의 일단부에 각각 형성된다.
더미 스위칭부(200)는 복수의 화소부가 정의된 표시 영역(DA)과 구동칩 패드부(160) 사이에 형성되며, 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 전기적으로 연결되어 테스트용 데이터 신호를 출력한다. 더미 스위칭부(200)는 표시 영역(DA)에 인접하여 형성하는 것이 바람직하다. 즉, 첫 번째 게이트 배선(GL1)에 인접하도록 더미 스위칭 부(200)를 형성한다.
데이터 검사부(150)는 더미 스위칭부(200)와 전기적으로 연결된 연결배선(154)들과, 연결배선(154)들의 일단부에 형성되어 테스트 신호를 인가 받는 데이터 검사 패드(152)들을 포함한다.
도 2는 도 1에 도시된 게이트 구동부에 대한 상세 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 게이트 구동부(130)는 서로 종속적으로 연결된 복수의 스테이지들(SRC1 ~ SRCn+1)로 이루어진 쉬프트 레지스터를 포함하며, 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)에 대응하는 n개의 구동 스테이지들(SRC1 ~ SRCn)과 하나의 더미 스테이지(SRCn+1)로 정의된다.
각 스테이지는 입력 단자(IN), 출력 단자(OUT), 제어 단자(CL), 클럭 단자(CK) 및 전압 단자(VSS)를 포함한다.
입력 단자(IN)에는 개시신호인 수직 개시신호(STV) 또는 전단 스테이지의 출력신호가 입력된다. 즉, 첫 번째 스테이지(SRC1)의 입력 단자(IN)에는 수직 개시신호(STV)가 입력되고, 나머지 스테이지(SRC2 ~ SRCn+1)의 입력 단자(IN)에는 전단 스테이지의 출력신호가 입력된다.
제어 단자(CL)에는 다음단 스테이지의 출력신호 또는 수직 개시신호(STV)가 입력된다. 즉, 마지막 스테이지의 제어 단자(CL)에는 수직 개시신호(STV)가 입력되고, 나머지 스테이지(SRC1 ~ SRCn)의 제어 단자(CL)에는 다음단 스테이지의 출력신호가 입력된다.
클럭 단자(CK)에는 제1 클럭신호(CKV) 또는 제2 클럭신호(CKVB)가 입력된다. 즉, 홀수 번째 스테이지의 클럭 단자(CK)에는 제1 클럭신호(CKV)가 입력되고, 짝수 번째 스테이지의 클럭 단자(CK)에는 제2 클럭신호(CKVB)가 입력되며, 제1 클럭신호(CKV)와 제2 클럭신호(CKVB)는 서로 반대되는 위상을 갖는다.
출력 단자(OUT)는 제1 클럭신호(CKV) 또는 제2 클럭신호(CKVB)에 동기된 게이트 신호를 출력한다. 즉, 홀수 번째 스테이지들은 제1 클럭신호(CKV)에 동기된 게이트 신호를 출력하고, 짝수 번째 스테이지들은 제2 클럭신호(CKVB)에 동기된 게이트 신호를 출력한다. 여기서, 더미 스테이지(SRCn+1)를 제외한 나머지 스테이지들의 출력 단자(OUT)는 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)에 일대일 대응하여 연결되므로, 게이트 배선들(GL1 ~ GLn)에 게이트 신호를 출력한다.
각 스테이지(SRC1 ~ SRCn+1)의 전압 단자(VSS)에는 오프 전압(VSS)이 공통적으로 입력된다.
한편, 도면에서는 게이트 구동부(130)의 제1 내지 제4 입력단자들(131, 132, 133, 134)들엘 일대일 대응하도록 게이트 검사 패드(142)들을 형성하였으나, 경우에 따라서 제1 내지 제4 입력단자들(131, 132, 133, 134)을 복수개씩 그룹으로 묶어 그룹별로 하나의 게이트 검사 패드(142)에 전기적으로 연결되게 형성할 수도 있다.
도 3은 도 1에 도시된 더미 스위칭부를 설명하기 위하여 개념적으로 도시한 도면이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널(100)에 형성되는 더미 스위칭부(200)는 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 전기적으로 연결된 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들을 포함한다. 더미 스위칭부(200)는 소스 전극이 해당하는 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 전기적으로 연결되는 복수의 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들을 포함하며, 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)마다 적어도 하나 이상 연결되도록 형성된다. 이러한, 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들은 화소부의 박막트랜지스터(TFT)가 형성될 때 함께 형성된다.
한편, 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들의 게이트 전극 및 드레인 전극은 각각 하나로 통합되어 데이터 검사 패드(152)에 인가되는 테스트 신호를 인가 받는다.
구체적으로, 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들의 드레인 전극은 제1 연결배선(154a)을 통해 하나로 묶이며, 제1 연결배선(154a)의 일단부에는 제1 데이터 검사 패드(152a)가 형성되어 제1 테스트 신호를 인가 받는다. 제1 테스트 신호는 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들을 통해 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 출력되는 테스트용 데이터 신호로 정의된다. 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들의 게이트 전극은 제2 연결배선(153b)을 통해 하나로 묶이며, 제2 연결배선(154b)의 일단부에는 제2 게이트 검사 패드(152b)가 형성되어 제2 테스트 신호를 인가 받는다. 제2 테스트 신호는 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들을 턴-온 시키는 스위칭 신호로 정의된다.
이러한, 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들의 동작을 간략하게 설명하며, 제2 데이터 검사 패드(152b)에 제2 테스트 신호가 인가되어 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들이 일제히 턴-온 되면, 제1 데이터 검사 패드(152a)에 인가되는 제1 테스트 신호가 제1 연결배선(154a) 및 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들을 통해 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)에 인가되어 테스트가 수행된다.
이와 같이, 본 발명에 따른 표시 패널(100)은 제2 데이터 검사 패드(154b)에 더미 박막트랜지스터(D_TFT)를 턴-온 하기 위한 제2 테스트 신호를 인가하고, 제1 데이터 검사 패드(152a)에 제1 테스트 신호를 인가하여 비쥬얼 검사 공정을 수행한다. 반면에, 구동부에 의한 정상 구동시에는 제2 데이터 검사 패드(154b)에 더미 박막트랜지스터(D_TFT)를 턴-오프(turn-off)용 제2 테스트 신호를 인가하여 데이터 검사부(150)와 데이터 배선들(DL1 ~ DLm)을 분리함으로써 정상구동을 할 수 있다.
이처럼, 데이터 검사부(150)의 제1 및 제2 데이터 검사 패드(152a, 152b)에 인가되는 제1 및 제2 테스트 신호에 의해 표시 패널(100)을 테스트하여 수평 방향의 크로스토크를 검출한다.
또한, 더미 박막트랜지스터(D_TFT)들은 표시 영역(DA)과 구동칩 패드부(160) 사이에 형성됨에 따라서 제조 공정 진행중에 데이터 패드(162)를 통해 유입되는 정전기를 분산시킴으로써, 정전기에 의한 화소부의 불량을 방지하는 정전기에 의한 불량을 개선하는 역할을 수행한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 표시 영역과 구동칩 패드부 사이에 형성된 더미 박막트랜지스터들을 통해 데이터 검사부에 인가되는 테스트 신호를 데이터 배선들에 제공하여 비쥬얼 검사 공정이 수행되므로써, 비쥬얼 검사를 위한 별도의 소자를 생략하여 비쥬얼 검사 공정이 용이해진다. 또한, 비쥬얼 검사를 위한 소자 형성에 필요한 영역을 생략할 수 있어 패널 영역의 마진을 향상할 수 있다.
이상에서는 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (5)

  1. 게이트 배선들 및 데이터 배선들에 의해 복수의 화소부가 정의된 표시 영역과, 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역으로 이루어진 표시 기판;
    상기 데이터 배선들의 일단부에 형성되어 데이터 신호를 인가받는 데이터 패드들을 포함하는 구동칩 패드부;
    상기 표시 영역과 구동칩 패드부 사이에 형성되며, 상기 데이터 배선들에 소스 전극이 연결된 더미 박막트랜지스터들; 및
    상기 더미 박막트랜지스터들에 테스트 신호를 인가하는 데이터 검사부를 포함하는 표시 패널.
  2. 제1항에 있어서, 상기 데이터 검사부는 상기 주변 영역에 형성되며,
    제1 테스트 신호가 인가되는 제1 데이터 검사 패드;
    제2 테스트 신호가 인가되는 제2 데이터 검사 패드;
    상기 제1 데이터 검사 패드와 상기 더미 박막트랜지스터들의 드레인 전극을 전기적으로 연결하는 제1 연결배선; 및
    상기 제2 데이터 검사 패드와 상기 더미 박막트랜지스터들의 게이트 전극을 전기적으로 연결하는 제2 연결배선을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 테스트 신호는 상기 데이터 배선들에 출력되는 테 스트용 데이터 신호로 정의되고, 상기 제2 테스트 신호는 상기 더미 박막트랜지스터들의 스위칭 신호로 정의되는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  4. 제3항에 있어서, 상기 더미 박막트랜지스터들은 상기 데이터 배선들마다 적어도 하나 이상 형성된 것을 특징으로 하는 표시 패널.
  5. 제4항에 있어서, 상기 주변 영역에 형성되어 상기 게이트 배선들에 게이트 신호를 출력하는 게이트 구동부; 및
    상기 주변 영역에 형성되고, 상기 게이트 구동부를 구동시켜 상기 게이트 배선들에 테스트용 게이트 신호를 출력하기 위한 테스트 신호를 인가하는 게이트 검사부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널.
KR1020060128293A 2006-12-15 2006-12-15 표시 패널 KR20080055248A (ko)

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