JP2016218216A - 表示パネル - Google Patents

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Abstract

【課題】表示領域が異形の外形形状を有し、額縁領域に検査用トランジスタ及び検査用配線が配置された表示パネルにおいて、額縁領域の面積を縮小するとともに表示パネルの検査を確実に行う。
【解決手段】異形の外形形状を有する表示領域と、複数のゲート線と、複数のデータ線と、複数のゲート線及び複数のデータ線に接続された複数の第1及び第2検査用トランジスタと、第1及び第2検査用トランジスタをオン又はオフする制御信号を供給する検査用制御信号供給配線と、を含み、複数の第1及び第2検査用トランジスタは、それぞれ、表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されておらず、検査用制御信号供給配線は、複数の第1検査用トランジスタの制御電極に接続される第1検査用制御信号供給配線と、第1検査用制御信号供給配線から分岐し、複数の第2検査用トランジスタの制御電極に接続される第2検査用制御信号供給配線と、を含む。
【選択図】図5

Description

本発明は、表示パネルに関し、特に、異形の外形形状を有する表示パネルに関する。
近年、液晶パネル等の表示パネルは、例えば車両の計器類を表示するパネル(インストルメントパネル)等、様々な用途に用いられている。このような用途の多様化に伴い、外形形状が矩形状とは異なる異形状の表示パネル(あるいは表示領域)が提案されている。異形の外形形状を有する表示パネルとしては、例えば、四隅の角部のうち少なくとも一箇所が円弧状を有する表示パネルや、全体として台形状、楕円状、円状、又は多角形状を有する表示パネルが挙げられる。特許文献1には、異形の外形形状を有する表示パネルが開示されている。
一方、従来、ゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出するための構成を備える表示パネルが提案されている。例えば、表示パネルに、ゲート線及びデータ線に接続された複数の検査用トランジスタが設けられており、表示パネルの検査工程において、検査用トランジスタをオンして検査用信号(検査用ゲート信号、検査用データ信号)を入力し、対応する画素の点灯状態に基づき配線の断線等を検出する。
特開2008−216894号公報
一般的に、検査用トランジスタ及び検査用信号を供給する検査用配線は、表示領域の周囲の額縁領域に配置される。このため、上記検査を行うための構成を備える表示パネルでは、額縁領域が大きくなるという問題ある。特に、異形の外形形状を有する表示パネルに上記検査を行うための構成を採用した場合、検査用トランジスタや検査用配線の配置が複雑になるため、額縁領域が大きくなるばかりでなく、例えば検査用配線同士が接触し正確な検査ができなくなるという問題も生じる。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、表示領域が異形の外形形状を有し、額縁領域に検査用トランジスタ及び検査用配線が配置された表示パネルにおいて、額縁領域の面積を縮小するとともに表示パネルの検査を確実に行うことができる表示パネルを提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明に係る表示パネルは、異形の外形形状を有する表示領域と、行方向に延在する複数のゲート線と、列方向に延在する複数のデータ線と、前記複数のゲート線に接続された複数の第1検査用トランジスタと、前記複数のデータ線に接続された複数の第2検査用トランジスタと、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタをオン又はオフする制御信号を供給する検査用制御信号供給配線と、を含み、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタは、それぞれ、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されておらず、前記検査用制御信号供給配線は、前記複数の第1検査用トランジスタの制御電極に接続される第1検査用制御信号供給配線と、前記第1検査用制御信号供給配線から分岐し、前記複数の第2検査用トランジスタの制御電極に接続される第2検査用制御信号供給配線と、を含む、ことを特徴とする。
本発明に係る表示パネルでは、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において、前記データ線が前記ゲート線よりも長い場合は、前記複数の第2検査用トランジスタが、前記複数の第1検査用トランジスタよりも外側に配置され、前記ゲート線が前記データ線よりも長い場合は、前記複数の第1検査用トランジスタが、前記複数の第2検査用トランジスタよりも外側に配置されてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記第2検査用制御信号供給配線は、前記第1検査用制御信号供給配線よりも外側に配置されてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記第1検査用制御信号供給配線は、前記第2検査用制御信号供給配線よりも外側に配置されてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記複数のゲート線のうち前記表示領域の最端部側に配置される第1ゲート線よりも外側に位置していてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記複数のゲート線のうち前記表示領域の最端部側に配置される第1ゲート線よりも外側に配置される前記複数の第2検査用トランジスタのうち前記第1ゲート線に最も近い第2検査用トランジスタと、前記第1ゲート線との間に位置していてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記複数の第2検査用トランジスタは、複数個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、複数個の第2検査用トランジスタは、行方向に一列に配置されており、前記複数の第2検査用トランジスタの複数のグループは、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されていなくてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記複数の第1検査用トランジスタは、複数個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、複数個の第1検査用トランジスタは、列方向に一列に配置されており、前記複数の第1検査用トランジスタの複数のグループは、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されていなくてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記複数の第2検査用トランジスタの複数のグループは、それぞれ、隣り合う2本の前記ゲート線の間に配置されてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記複数の第1検査用トランジスタの複数のグループは、それぞれ、隣り合う2本の前記データ線の間に配置されてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記第1検査用制御信号供給配線と前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記表示領域の行方向の中心線上に位置していてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタをオフ状態に固定するオフ電圧を、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタの制御電極に供給するオフ電圧伝送配線を含み、前記オフ電圧伝送配線は、前記第1検査用制御信号供給配線に電気的に接続されていてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記オフ電圧伝送配線及び前記第1検査用制御信号供給配線の接続点と、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点とは、前記表示領域における行方向に対称の位置に配置されていてもよい。
本発明に係る表示パネルでは、前記オフ電圧伝送配線及び前記第1検査用制御信号供給配線の接続点と、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点とは、同一の位置に配置されていてもよい。
本発明に係る表示パネルは、異形の外形形状を有する表示領域と、行方向に延在する複数のゲート線と、列方向に延在する複数のデータ線と、前記複数のゲート線に接続された複数の第1検査用トランジスタと、前記複数のデータ線に接続された複数の第2検査用トランジスタと、を含み、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタのうち一方の複数の検査用トランジスタが他方の複数の検査用トランジスタよりも外側に配置されており、前記他方の複数の検査用トランジスタの少なくとも1つは、前記一方の複数の検査用トランジスタに接続された前記複数のゲート線又は前記複数のデータ線における隣り合う2本の配線の間に配置されている、ことを特徴とする。
本発明に係る表示パネルによれば、表示領域が異形の外形形状を有し、額縁領域に検査用トランジスタ及び検査用配線が配置された表示パネルにおいて、額縁領域の面積を縮小するとともに表示パネルの検査を確実に行うことができる。
本実施形態に係る液晶表示装置の概略構成を示す平面図である。 本実施形態に係る液晶表示装置の他の概略構成を示す平面図である。 本実施形態に係る液晶表示装置の他の概略構成を示す平面図である。 本実施形態に係る表示パネルの概略構成を示す等価回路図である。 表示パネルの詳細な構成を示す平面図である。 図5の一部を拡大した等価回路図である。 図5の一部を拡大した平面詳細図である。 表示パネルの他の構成を示す平面図である。 図8の一部を拡大した平面詳細図である。 表示領域が縦長形状の場合の角部を拡大した等価回路図である。 表示パネルの他の構成を示す平面図である。 表示パネルの他の構成を示す平面図である。 図5の表示パネルの変形例を示す平面図である。
本発明の一実施形態について、図面を用いて以下に説明する。本発明の実施形態では、表示装置として、液晶表示装置を例に挙げるが、本発明はこれに限定されず、例えば有機EL表示装置等であってもよい。
図1は、本実施形態に係る液晶表示装置の概略構成を示す平面図である。液晶表示装置100は、表示パネル10、データ線駆動回路30、ゲート線駆動回路40、及び、バックライト装置(図示せず)を含んで構成されている。データ線駆動回路30は、複数のソースドライバICで構成されてもよく、表示パネル10の外部に設けられてもよい。ゲート線駆動回路40は、複数のゲートドライバICで構成されてもよく、表示パネル10の外部に設けられてもよい。図示はしないが、表示パネル10又は外部に、データ線駆動回路30及びゲート線駆動回路40の動作を制御するタイミングコントローラが設けられてもよい。
表示パネル10は、領域で大別すると、画像を表示する表示領域10aと、表示領域10aの周囲の額縁領域とで構成される。表示領域10aは、四隅の角部のうち上側の2箇所が円弧状に形成されている。表示領域10aの外形形状は、図1の形状に限定されず、例えば、台形状、楕円状、円状、多角形状であってもよい。すなわち、表示領域10aの外形形状は、異形状に形成されている。また、表示パネル10の外形形状は、表示領域10aの外形形状に対応して、異形状に形成されている。なお、本実施形態に係る液晶表示装置100では、表示パネル10及び表示領域10aの少なくとも何れか一方が、異形の外形形状を有していればよい。例えば、図2は、表示パネル10が円弧状の2つの角部を有し、表示領域10aが楕円状に形成された液晶表示装置100を示している。図3は、表示パネル10が円弧状の4つの角部を有し、表示領域10aが矩形状に形成され液晶表示装置100を示している。
図4は、表示パネル10の概略構成を示す等価回路図である。表示パネル10には、列方向に延在する複数のデータ線11(DL1,DL2等)と、行方向に延在する複数のゲート線12(GL1,GL2等)とが設けられている。各データ線11と各ゲート線12との各交差部には、薄膜トランジスタ13(TFT)が設けられている。各データ線11はデータ線駆動回路30に接続されている。各ゲート線12はゲート線駆動回路40に接続されている。
表示パネル10には、各データ線11と各ゲート線12との各交差部に対応して、複数の画素14がマトリクス状(行方向及び列方向)に配置されている。なお、図示はしないが、表示パネル10は、薄膜トランジスタ基板(TFT基板)と、カラーフィルタ基板(CF基板)と、両基板間に挟持された液晶層とを含んでいる。TFT基板には、各画素14に対応して、複数の画素電極15が設けられている。CF基板には、各画素14に共通する共通電極16が設けられている。なお、共通電極16はTFT基板に設けられてもよい。
各データ線11には、データ線駆動回路30からデータ信号(データ電圧)が供給される。各ゲート線12には、ゲート線駆動回路40らゲート信号(ゲートオン電圧、ゲートオフ電圧)が供給される。共通電極16には、共通電極駆動回路(図示せず)から共通配線60を介して共通電圧Vcomが供給される。ゲートオン電圧がゲート線12に供給されると、ゲート線12に接続された薄膜トランジスタ13がオンし、薄膜トランジスタ13に接続されたデータ線11を介して、データ電圧が画素電極15に供給される。画素電極15に供給されたデータ電圧と、共通電極16に供給された共通電圧Vcomとの差により電界が生じる。この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。なお、カラー表示を行う場合は、ストライプ状のカラーフィルタで形成された赤色、緑色、青色に対応するそれぞれの画素14の画素電極15に接続されたそれぞれのデータ線11に、所望のデータ電圧を供給することにより実現される。
液晶表示装置100は、表示パネル10における欠陥、例えばデータ線11やゲート線12等の配線の断線等を検出するための構成を備えている。以下、この構成の詳細について説明する。
図5は、表示パネル10の詳細な構成を示す平面図である。図5では、便宜上、データ線駆動回路30及びゲート線駆動回路40を搭載する前の表示パネル10の構成を示している。表示パネル10の額縁領域10bには、導通電極(ソース/ドレイン電極)の一方がゲート線12に接続される複数の検査用トランジスタ17(第1検査用トランジスタ)と、導通電極(ソース/ドレイン電極)の一方がデータ線11に接続される複数の検査用トランジスタ18(第2検査用トランジスタ)と、各検査用トランジスタ17,18のオン/オフを制御する検査用制御信号を制御電極(ゲート電極)に供給する検査用制御信号供給配線19と、偶数行の検査用トランジスタ17の導通電極の他方に検査用ゲート信号GE(ゲートオン電圧、ゲートオフ電圧)を供給する検査用ゲート信号供給配線21と、奇数行の検査用トランジスタ17の導通電極の他方に検査用ゲート信号GO(ゲートオン電圧、ゲートオフ電圧)を供給する検査用ゲート信号供給配線22と、偶数列の検査用トランジスタ18の導通電極の他方に検査用データ信号DEを供給する検査用データ信号供給配線23と、奇数列の検査用トランジスタ18の導通電極の他方に検査用データ信号DOを供給する検査用データ信号供給配線24と、が設けられている。検査用トランジスタ17は、表示領域10aの左側の短辺(左辺)に対応する領域では、短辺に沿って一直線に配列され、短辺から上側の長辺(上辺)に向かう円弧状の角部に対応する領域では、一直線に配列されず階段状に配列されている。検査用トランジスタ17は、各ゲート線12に対して1個ずつ接続されている。検査用トランジスタ18は、表示領域10aの長辺に対応する領域では、長辺に沿って一直線に配列され、長辺から左右の短辺に向かう円弧状の2つの角部に対応する領域では、一直線に配列されず階段状に配列されている。検査用トランジスタ18は、各データ線11に対して1個ずつ接続されている。検査用トランジスタ17,18の配置の詳細は後述する。
短辺側に配置される検査用トランジスタは、長辺側に配置される検査用トランジスタよりも外側に配置されていることが好ましい。図5では、短辺側の検査用トランジスタ17が、長辺側の検査用トランジスタ18よりも外側に配置されている。また、表示パネル10の額縁領域の周縁部(図5では、下辺右側)には、外部から表示パネル10に、検査用トランジスタ17,18をオフするゲートオフ電圧Voffを入力するための端子Voff(オフ電圧入力用端子)が設けられている。なお、ゲートオフ電圧Voffは、表示パネル10に搭載される共通電極駆動回路から出力されてもよい。
検査用制御信号供給配線19は、一端が表示パネル10の下辺左側に設けられた制御信号入力用パッドTRに接続されており、表示パネル10の上辺の角部付近において二股に分岐している。具体的には、検査用制御信号供給配線19は、制御信号入力用パッドTRから表示領域10aの外形形状に沿って、すなわち、左辺、左上側の円弧状の角部、上辺、及び、右上側の円弧状の角部に沿って延在する第1検査用制御信号供給配線19aと、第1検査用制御信号供給配線19aの途中(分岐点S1)で分岐し、分岐点S1で折り返して表示領域10aの外形形状に沿って、すなわち、左上側の円弧状の角部及び左辺に沿って延在する第2検査用制御信号供給配線19bと、で構成されている。第1検査用制御信号供給配線19aは、複数のデータ線11に接続された複数の検査用トランジスタ18の制御電極に接続されている。第2検査用制御信号供給配線19bは、複数のゲート線12に接続された複数の検査用トランジスタ17の制御電極に接続されている。第1検査用制御信号供給配線19a及び第2検査用制御信号供給配線19bは同一層に形成されている。
分岐点S1は、円弧状の角部の頂点(表示面の上側)、具体的には例えば直線状の上辺と円弧状の辺の接続点の近傍に位置していることが好ましい。また、分岐点S1は、図5に示すように、複数のゲート線12のうち表示領域10aの最端部側に配置されるゲート線12(第1ゲート線GL1)よりも外側(ここでは最も上辺側に配置されるゲート線12よりも上側)に位置していることが好ましい。これにより、分岐点S1から引き出される第2検査用制御信号供給配線19bが他の配線と接触することを防止することができる。また、分岐点S1は、図5に示すように、第1ゲート線GL1よりも外側(ここでは上側)に配置される複数の検査用トランジスタ18のうち第1ゲート線GL1に最も近い検査用トランジスタ18と、第1ゲート線GL1との間に位置していることが好ましい。これにより、第2検査用制御信号供給配線19bの長さを最小限に抑えることができる。分岐点S1の位置は、上述した位置に限定されない。
検査用制御信号が外部から制御信号入力用パッドTRを介して検査用制御信号供給配線19に供給されると、検査用トランジスタ17,18は一斉にオン又はオフする。
検査用ゲート信号供給配線21は、表示パネル10の下辺左側に設けられたゲート信号入力用パッドGEに接続され、検査用ゲート信号供給配線22は、表示パネル10の下辺左側に設けられたゲート信号入力用パッドGOに接続されている。検査用ゲート信号供給配線21は、偶数列の複数の検査用トランジスタ17を介して偶数列の複数のゲート線12に電気的に接続されており、検査用ゲート信号供給配線22は、奇数列の複数の検査用トランジスタ17を介して奇数列の複数のゲート線12に電気的に接続されている。検査用トランジスタ17がオンし、検査用ゲート信号が外部からゲート信号入力用パッドGEを介して検査用ゲート信号供給配線21に供給されると、検査用ゲート信号は、偶数列の検査用トランジスタ17を介して偶数列の複数のゲート線12に供給される。また、検査用トランジスタ17がオンし、検査用ゲート信号が外部からゲート信号入力用パッドGOを介して検査用ゲート信号供給配線22に供給されると、検査用ゲート信号は、奇数列の検査用トランジスタ17を介して奇数列の複数のゲート線12に供給される。
検査用データ信号供給配線23は、表示パネル10の下辺左側に設けられたデータ信号入力用パッドDEに接続され、検査用データ信号供給配線24は、表示パネル10の下辺左側に設けられたデータ信号入力用パッドDOに接続されている。検査用データ信号供給配線23は、偶数列の複数の検査用トランジスタ18を介して偶数列の複数のデータ線11に電気的に接続され、検査用データ信号供給配線24は、奇数列の複数の検査用トランジスタ18を介して奇数列の複数のデータ線11に電気的に接続されている。検査用トランジスタ18がオンし、検査用データ信号が外部からデータ信号入力用パッドDEを介して検査用データ信号供給配線23に供給されると、検査用データ信号は、偶数列の検査用トランジスタ18を介して偶数列の複数のデータ線11に供給される。また、検査用トランジスタ18がオンし、検査用データ信号が外部からデータ信号入力用パッドDOを介して検査用データ信号供給配線24に供給されると、検査用データ信号は、奇数列の検査用トランジスタ18を介して奇数列の複数のデータ線11に供給される。
上記各パッドは、検査用信号入力パッド25に含まれ、検査用信号入力パッド25は、表示パネル10の周縁部(図5では、下辺左側)に配置されている。検査用信号入力パッド25の位置及び数量は限定されない。また、検査用信号入力パッド25には、各種の検査用信号を生成して出力する検査用機器(図示せず)が接続される。
図6は、図5の左上側の角部を拡大した等価回路図である。図6では、便宜上、検査用制御信号供給配線19を省略している。図6に示すように、複数の検査用トランジスタ17は、4個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、4個の検査用トランジスタ17は、列方向に一列に配置されている。また、検査用トランジスタ17の複数のグループは、表示領域10aの円弧状の角部に対応する領域において斜め方向に配列されている。複数の検査用トランジスタ18は、6個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、6個の検査用トランジスタ18は、行方向に一列に配置されている。また、検査用トランジスタ18の複数のグループは、表示領域10aの円弧状の角部に対応する領域において斜め方向に配列されている。検査用トランジスタ17の1つのグループに対応する4本のゲート線12は、検査用トランジスタ18の列方向に隣り合う2つのグループの間の領域を通過するように配置される。また、検査用トランジスタ18の1つのグループは、検査用トランジスタ17の列方向に隣り合う2つのグループの間の領域に配置される。検査用トランジスタ17のグループと、検査用トランジスタ18のグループは、列方向に交互に配置されている。各グループに含まれる検査用トランジスタの数量は限定されない。
図7は、図5の左上側の角部を拡大した平面詳細図である。図7に示す構成は、検査用トランジスタ17,18の配置が図6に示す構成とは異なっている。図7に示す構成では、検査用トランジスタ18の1つのグループ(図7では8個の検査用トランジスタ18)が、列方向に隣り合う2つの検査用トランジスタ17に接続される2本のゲート線12の間の領域に配置されている。また、検査用トランジスタ17の列方向に隣り合う2つのグループそれぞれに対応する複数のゲート線12(図7のゲート線12a〜12f)が、検査用トランジスタ18の列方向に隣り合う2つのグループの間の領域に配置されている。
ここで、データ線及びゲート線のうち、短辺側に配置される検査用トランジスタに接続される配線は、長辺側に配置される検査用トランジスタに接続される配線よりも長くなる。この場合、トランジスタのサイズ(チャネル幅)は、当該トランジスタに接続される配線の長さが長い程大きくなる。そして、トランジスタのサイズが大きくなると、配線同士が干渉し易くなる。そこで、本実施形態では、短辺側に配置される検査用トランジスタが、長辺側に配置される検査用トランジスタよりも外側に配置されていることが好ましい。
具体的には、図5に示す構成では、短辺側に配置される検査用トランジスタ17に接続されるゲート線12は、長辺側に配置される検査用トランジスタ18に接続されるデータ線11よりも長くなる。この場合、図7に示すように、検査用トランジスタ17のサイズ(チャネル幅)が、検査用トランジスタ18のサイズ(チャネル幅)よりも大きくなる。そこで、短辺側の検査用トランジスタ17は、長辺側の検査用トランジスタ18よりも外側に配置されていることが好ましい。また、図5の構成では、第2検査用制御信号供給配線19bは、第1検査用制御信号供給配線19aよりも外側に配置されていることが好ましい。
図8は、表示パネル10の他の構成を示す平面図である。図8に示す構成では、表示領域10aが縦長形状であり、検査用トランジスタ17が長辺側に配置され、検査用トランジスタ18が短辺側に配置されている。このため、短辺側に配置される検査用トランジスタ18に接続されるデータ線11が、長辺側に配置される検査用トランジスタ17に接続されるゲート線12よりも長くなる。この場合、図9に示すように、検査用トランジスタ18のサイズ(チャネル幅)が、検査用トランジスタ17のサイズ(チャネル幅)よりも大きくなる。そこで、短辺側の検査用トランジスタ18は、長辺側の検査用トランジスタ17よりも外側に配置されていることが好ましい。また、図8の構成では、第1検査用制御信号供給配線19aは、第2検査用制御信号供給配線19bよりも外側に配置されていることが好ましい。
また、図9に示す構成では、検査用トランジスタ17の1つのグループ(図9では8個の検査用トランジスタ17)が、行方向に隣り合う2つの検査用トランジスタ18に接続される2本のデータ線11の間の領域に配置されている。また、検査用トランジスタ18の行方向に隣り合う2つのグループそれぞれに対応する複数のデータ線11(図9のゲート線11a〜11f)が、検査用トランジスタ17の行方向に隣り合う2つのグループの間の領域に配置されている。
図10は、表示領域10aが縦長形状の場合の角部を拡大した等価回路図である。図10に示すように、複数の検査用トランジスタ17は、6個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、6個の検査用トランジスタ17は、列方向に一列に配置されている。また、検査用トランジスタ17の複数のグループは、表示領域10aの円弧状の角部に対応する領域において斜め方向に配列されている。複数の検査用トランジスタ18は、4個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、4個の検査用トランジスタ18は、行方向に一列に配置されている。また、検査用トランジスタ18の複数のグループは、表示領域10aの円弧状の角部に対応する領域において斜め方向に配列されている。検査用トランジスタ18の1つのグループに対応する4本のデータ線11は、検査用トランジスタ17の行方向に隣り合う2つのグループの間の領域を通過するように配置される。また、検査用トランジスタ17の1つのグループは、検査用トランジスタ18の行方向に隣り合う2つのグループの間の領域に配置される。検査用トランジスタ17のグループと、検査用トランジスタ18のグループは、行方向に交互に配置されている。各グループに含まれる検査用トランジスタの数量は限定されない。
本実施形態に係る表示パネル10によれば、検査用トランジスタ17,18及び各種検査用配線が表示領域の外形形状に対応して配置されており、また検査用制御信号供給配線19が分岐して配置されているため、額縁領域の面積を最小限に抑えることができる。また検査用トランジスタ17,18及び各種検査用配線を効率的に配置することができるため、配線同士の接触を防止することができ、表示パネルの検査を確実に行うことができる。
表示パネル10の検査を行う場合には、例えば、表示パネル10の製造工程に含まれる検査工程において、検査用機器を検査用信号入力パッド25に接続し、各検査用信号を、検査用信号入力パッド25を介して各検査用信号供給配線に供給する。具体的には、検査用機器は、検査用トランジスタ17,18のオン及びオフを制御する検査用制御信号を検査用制御信号供給配線19に供給し、検査用ゲート信号GEを検査用ゲート信号供給配線21に供給し、検査用ゲート信号GOを検査用ゲート信号供給配線22に供給し、検査用データ信号DEを検査用データ信号供給配線23に供給し、検査用データ信号DOを検査用データ信号供給配線24に供給する。
上記検査工程が終了すると、検査用機器は検査用信号入力パッド25から切り離される。ここで表示パネル10から検査用機器が切り離されると、検査用トランジスタ17,18は、電気的にフローティングの状態になる。このため、通常の使用時(表示動作中)に、例えば表示動作に起因して検査用トランジスタ17,18がオン状態になり、画素電位が変動して表示の不具合を引き起こすおそれがある。このような表示の不具合を防止するためには、表示動作中において、フローティング状態の検査用トランジスタ17,18を確実にオフ状態に固定することが必要である。この点、本実施形態における液晶表示装置100は、通常の使用時(表示動作中)に検査用トランジスタ17,18をオフ状態に確実に固定する構成を有している。
具体的には、表示パネル10には、検査用トランジスタ17,18をオフする制御信号(ゲートオフ電圧)を供給するゲートオフ電圧伝送配線20(オフ電圧伝送配線)が設けられている。ゲートオフ電圧伝送配線20は、一端が表示パネル10の周縁部(図5では、下辺右側)に設けられた端子Voffに電気的に接続され、他端が検査用制御信号供給配線19(例えば、第1検査用制御信号供給配線19a)に電気的に接続されている。図5に示すように、ゲートオフ電圧伝送配線20は、表示パネル10の最外縁側に沿って配置されている。また、ゲートオフ電圧伝送配線20と第1検査用制御信号供給配線19aとの接続点T1と、分岐点S1とは、表示領域10aにおける行方向に対称(左右対称)の位置に配置されている。なお、接続点T1の位置は、これに限定されないが、第1ゲート線GL1よりも上側に位置していることが好ましい。
端子Voffには、表示動作中に常時、ゲートオフ電圧が印加される。これにより、表示パネル10にゲートオフ電圧を常時供給することができるため、表示動作を行っている期間は、検査用トランジスタ17,18をオフ状態に固定することができる。よって、表示動作中に検査用トランジスタ17,18がオンすることにより表示の不具合が生じることを防止することができる。
次に、液晶表示装置100における検査方法の一例について簡単に説明する。先ず、表示パネル10の検査用信号入力パッド25に検査用機器を接続する。次に、検査用機器から、制御信号入力用パッドTRを介して検査用制御信号供給配線19に、検査用制御信号(ゲートオン電圧)が入力される。これにより、検査用トランジスタ17,18がオン状態になる。次に、検査用機器から、奇数列の検査用トランジスタ17の導通電極にゲートオン電圧の検査用ゲート信号GOが入力される。これにより、奇数列のゲート線12が選択される。次に、検査用機器から、奇数列のゲート線12に接続された各薄膜トランジスタ13を介して、対応する画素電極15に、検査用データ信号DOが供給される。共通電極16には共通電圧Vcomが供給される。これにより、対応する画素14、ここでは奇数列及び奇数行に位置する画素14の表示状態を検査することにより、対応するゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出することができる。
続いて、検査用機器から、奇数列の検査用トランジスタ17の導通電極にゲートオフ電圧の検査用ゲート信号GOが入力されるとともに、偶数列の検査用トランジスタ17の導通電極にゲートオン電圧の検査用ゲート信号GEが入力される。これにより、奇数列のゲート線12が非選択となり、偶数列のゲート線12が選択される。次に、検査用機器から、偶数列のゲート線12に接続された各薄膜トランジスタ13を介して、対応する画素電極15に、検査用データ信号DEが供給される。共通電極16には共通電圧Vcomが供給される。これにより、対応する画素14、ここでは偶数列及び偶数行に位置する画素14の表示状態を検査することにより、対応するゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出することができる。検査工程が終了すると、表示パネル10の検査用信号入力パッド25から検査用機器を切り離す。
このようにして、検査工程において、表示パネル10の検査が行われる。表示パネル10の検査方法は、上記の方法に限定されず、周知の方法を採用することができる。
表示領域10aの形状、検査用トランジスタ17,18及び各種配線の配置は、上記の構成に限定されない、図11は、表示領域10aの上辺全体が円弧状(半円状)に形成された表示パネル10の構成を示す平面図である。図11の構成では、検査用制御信号供給配線19の分岐点S1と、ゲートオフ電圧伝送配線20と検査用制御信号供給配線19との接続点T1とが同一の位置、ここでは、表示領域10aの行方向(左右方向)の中心線上に配置されている。
図12は、表示領域10aが円状に形成された表示パネル10の構成を示す平面図である。図12の構成では、図11の構成と同様に、検査用制御信号供給配線19の分岐点S1と、ゲートオフ電圧伝送配線20と検査用制御信号供給配線19との接続点T1とが同一の位置に配置されている。
図13は、図5に示す表示パネル10の変形例である。図13の構成では、検査用制御信号供給配線19の分岐点S1は、表示領域10aの短辺(左辺)の下側に位置している。具体的には、第2検査用制御信号供給配線19bは、第1検査用制御信号供給配線19aの分岐点S1から表示領域10aの左辺及び左上側の円弧状の角部に沿って配置されており、複数のゲート線12に接続された複数の検査用トランジスタ17の制御電極に接続されている。
上述した検査用トランジスタ17,18及び各種配線の配置の各構成は、図3等に示す、異形の外形形状を有する表示パネル10にも適用することができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で上記各実施形態から当業者が適宜変更した形態も本発明の技術的範囲に含まれることは言うまでもない。
100 液晶表示装置、10 表示パネル、11 データ線、12 ゲート線、13 薄膜トランジスタ、14 画素、15 画素電極、16 共通電極、17,18 検査用トランジスタ、19 検査用制御信号供給配線、19a 第1検査用制御信号供給配線、19b 第2検査用制御信号供給配線、20 ゲートオフ電圧伝送配線、21,22 検査用ゲート信号供給配線、23,24 検査用データ信号供給配線、25 検査用信号入力パッド、30 データ線駆動回路、40 ゲート線駆動回路、60 共通配線、TR 制御信号入力用パッド、GE,GO ゲート信号入力用パッド、DE,DO データ信号入力用パッド、Voff オフ電圧入力用端子、S1 分岐点、T1 接続点。

Claims (16)

  1. 異形の外形形状を有する表示領域と、
    行方向に延在する複数のゲート線と、
    列方向に延在する複数のデータ線と、
    前記複数のゲート線に接続された複数の第1検査用トランジスタと、
    前記複数のデータ線に接続された複数の第2検査用トランジスタと、
    前記複数の第1及び第2検査用トランジスタをオン又はオフする制御信号を供給する検査用制御信号供給配線と、
    を含み、
    前記複数の第1及び第2検査用トランジスタは、それぞれ、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されておらず、
    前記検査用制御信号供給配線は、前記複数の第1検査用トランジスタの制御電極に接続される第1検査用制御信号供給配線と、前記第1検査用制御信号供給配線から分岐し、前記複数の第2検査用トランジスタの制御電極に接続される第2検査用制御信号供給配線と、を含む、
    ことを特徴とする表示パネル。
  2. 前記表示領域の異形の部分に対応する領域において、
    前記データ線が前記ゲート線よりも長い場合は、前記複数の第2検査用トランジスタが、前記複数の第1検査用トランジスタよりも外側に配置され、
    前記ゲート線が前記データ線よりも長い場合は、前記複数の第1検査用トランジスタが、前記複数の第2検査用トランジスタよりも外側に配置される、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  3. 前記第2検査用制御信号供給配線は、前記第1検査用制御信号供給配線よりも外側に配置されている、
    ことを特徴とする請求項2に記載の表示パネル。
  4. 前記第1検査用制御信号供給配線は、前記第2検査用制御信号供給配線よりも外側に配置されている、
    ことを特徴とする請求項2に記載の表示パネル。
  5. 前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記複数のゲート線のうち前記表示領域の最端部側に配置される第1ゲート線よりも外側に位置している、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  6. 前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記複数のゲート線のうち前記表示領域の最端部側に配置される第1ゲート線よりも外側に配置される前記複数の第2検査用トランジスタのうち前記第1ゲート線に最も近い第2検査用トランジスタと、前記第1ゲート線との間に位置している、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  7. 前記複数の第2検査用トランジスタは、複数個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、複数個の第2検査用トランジスタは、行方向に一列に配置されており、
    前記複数の第2検査用トランジスタの複数のグループは、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されていない、
    ことを特徴とする請求項3に記載の表示パネル。
  8. 前記複数の第1検査用トランジスタは、複数個ずつグループに束ねられており、各グループ内において、複数個の第1検査用トランジスタは、列方向に一列に配置されており、
    前記複数の第1検査用トランジスタの複数のグループは、前記表示領域の異形の部分に対応する領域において一直線に配列されていない、
    ことを特徴とする請求項4に記載の表示パネル。
  9. 前記複数の第2検査用トランジスタの複数のグループは、それぞれ、隣り合う2本の前記ゲート線の間に配置されている、
    ことを特徴とする請求項7に記載の表示パネル。
  10. 前記複数の第1検査用トランジスタの複数のグループは、それぞれ、隣り合う2本の前記データ線の間に配置されている、
    ことを特徴とする請求項8に記載の表示パネル。
  11. 前記第1検査用制御信号供給配線と前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点は、前記表示領域の行方向の中心線上に位置している、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  12. 前記複数の第1及び第2検査用トランジスタをオフ状態に固定するオフ電圧を、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタの制御電極に供給するオフ電圧伝送配線を含み、
    前記オフ電圧伝送配線は、前記第1検査用制御信号供給配線に電気的に接続されている、
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  13. 前記オフ電圧伝送配線及び前記第1検査用制御信号供給配線の接続点と、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点とは、前記表示領域における行方向に対称の位置に配置されている、
    ことを特徴とする請求項12に記載の表示パネル。
  14. 前記オフ電圧伝送配線及び前記第1検査用制御信号供給配線の接続点と、前記第1検査用制御信号供給配線及び前記第2検査用制御信号供給配線の分岐点とは、同一の位置に配置されている、
    ことを特徴とする請求項12に記載の表示パネル。
  15. 異形の外形形状を有する表示領域と、
    行方向に延在する複数のゲート線と、
    列方向に延在する複数のデータ線と、
    前記複数のゲート線に接続された複数の第1検査用トランジスタと、
    前記複数のデータ線に接続された複数の第2検査用トランジスタと、
    を含み、
    前記表示領域の異形の部分に対応する領域において、前記複数の第1及び第2検査用トランジスタのうち一方の複数の検査用トランジスタが他方の複数の検査用トランジスタよりも外側に配置されており、前記他方の複数の検査用トランジスタの少なくとも1つは、前記一方の複数の検査用トランジスタに接続された前記複数のゲート線又は前記複数のデータ線における隣り合う2本の配線の間に配置されている、
    ことを特徴とする表示パネル。
  16. 前記表示領域の異形の部分に対応する領域において、
    前記データ線が前記ゲート線よりも長い場合は、前記複数の第2検査用トランジスタが、前記複数の第1検査用トランジスタよりも外側に配置され、
    前記ゲート線が前記データ線よりも長い場合は、前記複数の第1検査用トランジスタが、前記複数の第2検査用トランジスタよりも外側に配置される、
    ことを特徴とする請求項15に記載の表示パネル。
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