KR101981113B1 - 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 오토 프로브(AP: Auto Probe) 검사를 위해 형성된 AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈를 줄인 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인; 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터; 상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및 상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함한다.

Description

액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE SAME}

본 발명은 액정 디스플레이 장치에 관한 것으로, 특히 오토 프로브(AP: Auto Probe) 검사를 위해 형성된 AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈를 줄인 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.

평판 디스플레이 장치 중에서 액정 디스플레이 장치(LCD)는 양산 기술의 발전, 구동수단의 용이성, 저전력 소비, 고화질 구현 및 대화면 구현의 장점이 있어 휴대용으로 기기에 적합하며 적용 분야가 확대되고 있다.

액정 디스플레이 장치는 외부로부터 입력된 영상 신호를 데이터 전압으로 변환하고, 데이터 전압에 따라 복수의 화소(cell)의 액정층을 투과하는 광의 투과율을 조절하여 영상 신호에 따른 화상을 표시하게 된다.

이러한 액정 디스플레이 장치는 TFT 어레이 기판(하부 기판) 상에 박막트랜지스터(TFT)를 포함한 여러 패턴을 형성하는 공정; 컬러필터 어레이 기판 상에 컬러필터층을 포함한 각종 패턴을 형성하는 공정; TFT 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판을 대향 합착하고, 그 사이에 액정을 주입하는 액정셀 공정; 및 상기 TFT 어레이 기판에 구동 회로부를 연결하는 모듈 공정;을 수행하여 제조되게 된다.

여기서, TFT 어레이 기판이 제조된 후, 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인불량과, TFT의 불량 등을 검출하기 위한 신호검사를 수행하게 된다.

최근에는 TFT 어레이 기판의 신호검사를 위해 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 신호 라인 및 데이터 인에이블 TR(transistor)을 형성하고, 게이트 라인과 데이터 라인에 구동 신호를 인가하여 TFT 어레이 기판 상의 라인들 및 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하게 된다.

도 1은 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.

도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치는 화상을 표시하는 액정 패널(10)과 액정 패널(10)을 구동시키는 구동 회로부(20)를 포함한다.

액정 패널(10)은 화상이 표시되는 액티브 영역(12)과 비 표시 영역(14)을 포함한다. 액정 패널(10)의 제조가 완료된 후, AP(Auto Probe) 검사를 수행하기 위한 하나 이상의 AP 니들 컨택부(30, Needle Contact unit)가 액정 패널(10) 하부 비 표시 영역에 형성되어 있다.

액티브 영역(12)에는 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인이 교차하도록 형성되어 복수의 화소가 정의되고, 각 화소에 TFT, 화소 전극, 공통 전극 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다.

도 2는 도 1에 도시된 상측 비 표시 영역의 A부분을 나타낸 것으로, AP 검사를 위한 AP 검사 라인들 및 데이터 인에이블 TR을 나타내는 도면이다.

도 2를 참조하면, 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 중에서 상측의 비 표시 영역(A)에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(42), 복수의 데이터 인에이블 TR(44)이 형성되어 있고, 복수의 데이터 인에이블 TR(44)의 아래에 그라운드 라인, 데이터 패드부(46) 및 복수의 데이터 라인(48)이 형성되어 있다.

도 3은 도 1에 도시된 좌측 비 표시 영역의 B부분을 나타낸 것으로, AP 검사 라인들을 나타내는 도면이다.

도 3을 참조하면, 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 중에서 측면의 비 표시 영역(B)에는 복수의 AP 검사 라인(42)이 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다. 또한, 데이터 인에이블 신호 라인(미도시)도 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다.

AP 검사 시, 복수의 데이터 인에이블 TR(44)에 인에이블 신호가 인가되면 복수의 데이터 인에이블 TR(44)이 복수의 AP 검사 라인(42)을 데이터 패드부(46)에 연결시킨다.

복수의 AP 검사 라인(42)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 데이터 패드부(46)를 경유하여 복수의 데이터 라인(48)에 인가한다. 이를 통해, 화소가 정상적으로 형성되었는지를 확인하는 AP 검사를 수행하게 된다. 이때, 전체 화소를 모드 검사하는 것이 아니라, 검사 샘플로 정해진 몇 개의 화소들을 구동시켜 전체 화소들이 정상적으로 제조되었는지를 판단하게 된다.

도 4는 AP 검사 라인들이 형성됨으로 인해 베젤 사이즈가 증가되는 문제점을 나타내는 도면이다.

도 4를 참조하면, COG(Chip on Glass) 타입의 액정 패널의 경우, COF(Chip on Film) 타입의 액정 패널처럼 쇼팅 바(shorting bar)를 이용한 AP 검사를 수해할 수 없다.

따라서, COG 타입의 액정 패널은 구동 회로부(20, 소스 드라이브 IC)의 반대편에 복수의 AP 검사 라인(42) 및 복수의 데이터 인에이블 TR(44)을 형성한다.

이러한, AP 검사 라인(42)은 액정 패널(10)의 양산 검사를 위해서는 필요하지만, 액정 패널(10)의 제조가 완료된 이후 실제 구동 상태에서는 사용되지 않는 더미 라인이 된다.

액정 패널(10)이 실제로 구동될 때에는 사용되지 않는 AP 검사 라인(42)과 데이터 인에이블 신호 라인이 액정 패널(10)의 좌측 및 우측 비 표시 영역으로 라우팅됨으로 인해 좌측 및 우측의 베젤 사이즈가 증가하는 문제점이 있다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 감소 시킬 수 있는 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 네로우 베젤(narrow bezel)의 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 액정 패널이 실제로 구동될 때에는 사용되지 않는 AP 검사 라인을 다른 용도로 사용할 수 있는 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인; 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터; 상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및 상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치의 구동 방법은, 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 검사 라인이 형성되고, 상기 AP 검사 라인을 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 라인으로 연결시키는 복수의 스위치가 형성된 액정 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, 상기 액정 패널이 화상을 표시할 때, 상기 복수의 스위치를 턴-온시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 한다.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 감소 시켜 네로우 베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있다.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 AP 검사 단계에서는 AP 검사 라인들을 검사 용도로 사용하고, 액정 패널이 실제 구동될 때에는 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 사용할 수 있다.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, 액정 패널 구동 시 공통 전압 라인으로 활용되는 AP 검사 라인들을 액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성하여 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 줄일 수 있다.

이 밖에도, 본 발명의 실시 예들을 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 이점들이 새롭게 파악될 수도 있을 것이다.

도 1은 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 상측 비 표시 영역의 A부분을 나타낸 것으로, AP 검사를 위한 AP 검사 라인들 및 데이터 인에이블 TR을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1에 도시된 좌측 비 표시 영역의 B부분을 나타낸 것으로, AP 검사 라인들을 나타내는 도면이다.
도 4는 AP 검사 라인들이 형성됨으로 인해 베젤 사이즈가 증가되는 문제점을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 6은 도 5에 도시된 측면 비 표시 영역의 C부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.
도 7은 스위치부, AP 검사 라인들, 스위치부, AP 인에이블 신호 라인 및 공통 전압 인에이블 신호 라인을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 5에 도시된 상측 비 표시 영역의 D부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 상측 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.
도 9는 스위치부를 구동시켜 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 나타내는 도면이다.
도 10은 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈가 감소된 효과를 나타내는 도면이다.

도면을 참조한 설명에 앞서, 본 발명은 액정 패널의 하부기판(TFT 어레이 기판)을 제조한 후, 셀 검사에 이용되는 AP 검사 라인을 액정 패널이 구동될 때에 공통 전압 라인으로 활용하는 것을 주요 내용으로 한다.

따라서, 액정 패널의 상부기판(컬러필터 어레이 기판), 백라이트 유닛 및 액정 패널을 구동시키기 위한 구동 회로부에 대한 도시 및 상세한 설명은 생략한다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는, COG 타입의 액정 패널의 AP 검사를 위한 AP 검사 라인들을 AP 검사 시에는 AP 검사의 용도로 사용한다. 그리고, 액정 패널이 실제 구동하여 화상을 표시할 때에는 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하여 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 공통 전압 라인의 선폭을 줄임으로써 베젤 사이즈를 줄일 수 있다.

액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용함으로써, 공통 전압 라인의 선폭이 감소된 부분을 보상할 수 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 대하여 설명하기로 한다.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.

도 5를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 화상을 표시하는 액정 패널(100)과 액정 패널(100)을 구동시키는 구동 회로부(200)를 포함한다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 아몰퍼스 실리콘(a-Si)을 이용하여 액정 패널(100)의 하부 기판(TFT 어레이 기판)에 각 화소들을 구동시키기 위한 박막 트랜지스터(TFT)를 형성함과 아울러, GIP(Gate In Panel) 방식으로 게이트 쉬프트 레지스터를 액정 패널의 하부 기판에 집적화시켰다.

액정 패널(100)은 화상이 표시되는 액티브 영역(110)과 비 표시 영역(120)을 포함한다. 액정 패널(100)의 제조가 완료된 후, AP(Auto Probe) 검사를 수행하기 위한 하나 이상의 AP 니들 컨택부(300, Needle Contact unit)가 액정 패널(100) 하부 비 표시 영역에 형성되어 있다.

액티브 영역(110)에는 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인이 교차하도록 형성되어 복수의 화소가 정의되고, 각 화소에 TFT, 화소 전극, 공통 전극 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다.

도 6은 도 5에 도시된 측면 비 표시 영역의 C부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.

도 6을 참조하면, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(120) 중에서 상측의 비 표시 영역에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 공통 전압 인에이블 신호 라인(144), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146) 및 스위치부(130)가 형성되어 있다.

또한, 스위치부(130)의 아래에는 공통 전압 라인이 형성되어 있고, 비 표시 영역의 측면부 외곽에 게이트 쉬프트 레지스터의 GIP 로직이 형성되어 있다. 공통 전압 라인의 안쪽으로는 액티브 영역(110)이 형성되어 있다.

스위치부(130)를 사이에 두고, 복수의 AP 검사 라인(142)과 공통 전압 라인은 복수의 컨택 라인(148)에 의해 연결되어 있다.

또한, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(120) 중에서 측면의 비 표시 영역에는 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 공통 전압 인에이블 신호 라인(144), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)이 액정 패널(10)의 비 표시 영역(120) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다.

도 7은 스위치부, AP 검사 라인들, 스위치부, AP 인에이블 신호 라인 및 공통 전압 인에이블 신호 라인을 나타내는 도면이다.

도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 AP 검사 라인(142)을 AP 검사의 용도뿐만 아니라, 액정 패널(100)의 구동 시 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용한다.

AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해서, 스위치부(130)는 복수의 스위치(132)로 구성되며, 복수의 스위치(132) 각각은 컨택 라인(148)에 의해 일측이 AP 검사 라인(142)과 연결되고, 타측이 공통 전압 라인과 연결된다.

도 8은 도 5에 도시된 상측 비 표시 영역의 D부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 상측 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.

도 8을 참조하면, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(110) 중에서 액티브 영역의 위쪽에 배치된 상측의 비 표시 영역(D)에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146) 및 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 형성되어 있다.

또한, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)의 아래에 그라운드 라인이 형성되어 있고, 화소들의 AP 검사를 위해 복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가시키기 위한 데이터 패드부(156) 및 복수의 데이터 라인(158)이 형성되어 있다.

AP 검사 시, 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)에 AP 검사 인에이블 신호가 인가되면, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 스위칭되어 복수의 AP 검사 라인(142)을 복수의 데이터 패드에 연결시킨다.

복수의 데이터 패드(156)는 화소 검사를 위한 복수의 데이터 라인(158)과 연결되어 있고, 복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압이 복수의 데이터 라인(158)을 통해 테스트 화소들로 인가시킨다. 이후, 오토 프로브(Auto Probe) 장비를 이용한 VAP(Vision Auto Probe) 검사를 수행하여 각각의 화소들의 불량 유무를 최종 검사한다.

도 9는 스위치부를 구동시켜 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 나타내는 도면이다.

도 7 및 9를 참조하면, 액정 패널(100)이 실제 구동하여 화상을 표시할 때에는 공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호를 인가한다. 이때, AP 검사 인에이블 신호 라인(142)에는 AP 검사 인에이블 신호를 인가하지 않는다.

공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호가 인가되면 스위치부(130)를 구성하는 복수의 스위치(132)가 턴-온(turn-on)된다.

복수의 스위치가 턴-온되면 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인에 연결시킨다. 복수의 AP 검사 라인(142)이 공통 전압 라인에 연결되면, 공통 전압 라인에 공급된 공통 전압(Vcom)이 복수의 AP 검사 라인(142)에도 인가된다. 이를 통해, 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용할 수 있다.

반면, AP 검사 시, 공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호를 인가하지 않는다. 공통 전압 인에이블 신호가 인가되지 않으면 스위치부(130)를 구성하는 복수의 스위치(132)가 턴-오프(turn-off)된다.

복수의 스위치(132)가 턴-오프(turn-off)되면, 도 8을 참조하여 앞에서 설명한 바와 같이, 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)에 AP 검사 인에이블 신호가 인가되고, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 스위칭되어 복수의 AP 검사 라인(142)을 복수의 데이터 패드에 연결시킨다.

복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 복수의 데이터 라인(158)을 통해 테스트 화소들로 인가시켜 AP 검사를 수행한다.

도 10은 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈가 감소된 효과를 나타내는 도면이다.

도 10을 참조하면, 액티브 영역(110)에 공급되는 공통 전압(Vcom)의 로드를 충분히 견딜 수 있도록 공통 전압 라인이 넓은 면적으로 형성되어야 한다.

본 발명의 액정 디스플레이 장치는 종래에는 형성되어 있던 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하였지만, 액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성된 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용하여 공통 전압 라인의 면적을 충분히 확보할 수 있다.

따라서, GIP 로직의 외곽에 형성되던 0.55mm의 폭을 가지는 공통 전압 라인을 삭제하여 액정 패널(100)의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 줄일 수 있다. 이를 통해, 액정 디스플레이 장치가 네로우 베젤(narrow bezel)로 형성되도록 하여 디자인 미감을 높일 수 있다.

본 발명이 속하는 기술분야의 당 업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

100: 액정 패널 110: 액티브 영역
120: 비 표시 영역 130: 스위치부
132: 스위치 142: AP 검사 라인
144: 공통 전압 인에이블 신호 라인
146: AP 검사 인에이블 신호 라인
148: 컨택 라인 154: 데이터 인에이블 TR
156: 데이터 패드부 158: 데이터 라인
200: 구동 회로부 300: AP 니들 컨택부

Claims (10)

1. 액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인;
   오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터;
   상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및
   상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
2. 제1 항에 있어서,
   상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 공통 전압 인에이블 신호 라인에는 공통 전압 인에이블 신호를 인가시키고,
   상기 AP 검사 인에이블 신호 라인에는 AP 검사 인에이블 신호를 인가하지 않는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
3. 제2 항에 있어서,
   상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 공통 전압 인에이블 신호 라인에 인가된 공통 전압 인에이블 신호로 복수의 스위치를 스위칭하여, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
4. 제3 항에 있어서,
   상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인에 공통 전압을 인가시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
5. 제2 항에 있어서,
   오토 프로브 검사 시, 상기 AP 검사 인에이블 신호 라인에 인가된 AP 검사 인에이블 신호로 상기 데이터 인에이블 트랜지스터를 스위칭하여, 상기 AP 검사 라인을 데이터 패드에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
6. 제5 항에 있어서,
   상기 AP 검사 라인에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 상기 데이터 패드와 연결된 데이터 라인에 인가하여,
   상기 R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
7. 제1 항에 있어서,
   COG(Chip on Glass) 방식으로 상기 구동 회로부가 상기 액정 패널에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.
8. 오토 프로브 검사를 위해 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 검사 라인이 형성되고, 상기 AP 검사 라인을 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 라인으로 연결시키는 복수의 스위치가 형성된 액정 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
   상기 액정 패널이 화상을 표시할 때, 상기 복수의 스위치를 턴-온시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.
9. 제8 항에 있어서,
   상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인에 공통 전압을 인가시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.
10. 제9 항에 있어서,
    오토 프로브 검사 시, 상기 AP 검사 라인과 데이터 라인을 연결시키고, R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.

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