KR100632680B1 - 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판은, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 형태로 구성되며 상기 서브픽셀을 통해 빛이 선택적으로 투과되는 표시영역과, 상기 표시영역의 외곽부에 형성되어 빛이 불투과되는 비표시영역으로 나뉘어지는 액정표시장치의 어레이 기판에 있어서, 상기 비표시영역에 다수의 박막트랜지스터로 구성된 더미픽셀이 다수 형성됨을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 광을 이용해 라인의 단선 유무를 검사하여 기판과 직접 접촉하지 않으므로 불량 발생의 우려를 감소시키며, 라인의 단선 유무를 쉽고 효율적으로 검사할 수 있는 장점이 있다.

Description

액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법{array circuit board of Liquid Crystal Display Device and test method of thereof}
도 1은 종래의 액정표시장치의 어레이 기판을 개략적으로 나타내는 도면.
도 2는 도 1에 도시된 박막트랜지스터의 단면도.
도 3은 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판을 개략적으로 나타내는 도면.
도 4는 도 3에 도시된 본 발명의 일 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10 : 서브픽셀 13 : 게이트 라인
14 : 게이트 패드 15 : 데이터 라인
16 : 데이터 패드 20 : 표시영역
21 : 비표시영역 22, 22' : 어레이 기판
30, 40, 50, 60 : 더미픽셀 41, 51, 61 : 제 1박막트랜지스터
42, 52, 62 : 제 2박막트랜지스터 43, 54, 65 : 출력단
53, 63 : 제 3박막트랜지스터 64 : 캐패시터
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 어레이 기판의 외곽부에 다수의 박막트랜지스터로 형성된 다수의 더미 픽셀이 구비되는 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치의 구동원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용한다. 상기 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 가지고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자배열의 방향을 제어할 수 있다.
이에 따라, 상기 액정의 분자배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자배열이 변하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 편광된 빛이 임의로 변조되어 화상정보를 표현할 수 있는 것이다. 이러한 상기 액정은 전기적인 특성 분류에 따라 유전율 이방성이 양(+)인 포지티브 액정과 음(-)인 네거티브 액정으로 구분될 수 있으며, 유전율 이방성이 양인 액정분자는 전기장이 인가되는 방향으로 액정분자의 장축이 평행하게 배열하고, 유전율 이방성이 음인 액정분자는 전기장이 인가되는 방향과 액정분자의 장축이 수직하게 배열한다.
현재에는 박막트랜지스터와 상기 박막트랜지스터에 연결된 화소전극이 행렬방식으로 배열된 액티브 매트릭스형 액정표시장치(Active Matrix LCD)가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 일반적으로 사용되고 있다.
도 1은 종래의 액정표시장치의 어레이 기판을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 종래의 액정표시장치의 어레이 기판(22)은 각각의 서브픽셀(10)이 매트릭스 형태로 이루어져 화상을 표현하는 영역 즉, 어레이부인 표시영역(20)과, 상기 서브픽셀(10)이 형성되지 않은 상기 어레이 기판(22)의 외곽부인 비표시영역(21)으로 나뉘어진다.
이 때, 상기 표시영역(20)에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터(T)가 매트릭스 형태로 위치하고, 이러한 다수의 박막트랜지스터(T)를 교차하여 지나가는 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 형성된다.
또한, 상기 서브픽셀(10)은 상기 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 교차되는 영역에 정의되어 박막트랜지스터(T) 및 화소전극(미도시), 스토리지 캐패시터(11)로 구성되며, 상기 서브픽셀(10) 상에 형성되는 화소전극은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 전도성 금속을 사용한다.
도 2는 도 1에 도시된 박막트랜지스터의 단면도이다.
도 2를 참조하면, 상기 박막트랜지스터는 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo) 등의 금속으로 된 게이트전극(30)과 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo) 등의 금속으로 된 소스전극(32)과 드레인전극(33) 및 반도체층(34)과 불순물 반도체층(36)으로 구성되어 있다. 도 2의 설명되지 않은 도면 부호 31은 게이트절연막, 35는 보호막, 37은 화소전극을 나타낸다.
또한, 상기 게이트전극(30)은 도 1의 게이트 라인(13)에 연결되어 있고, 상기 소스전극(32)은 도 1의 데이터 라인(15)에 연결되어 있으며, 상기 드레인전극(33)은 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)으로 둘러싸인 영역에 형성되는 화소전극과 접촉되어 있다.
이와 같은 구조를 가지는 박막트랜지스터는 게이트 라인(13)을 통해 게이트 전압이 게이트전극(30)에 인가되면, 상기 데이터 라인(15)에 흐르는 신호전압이 소스전극(32)에서 드레인전극(33)으로 오믹접촉층(36) 및 반도체층(34)을 통해 인가되도록 동작한다.
상기 소스전극(32)에 신호전압이 인가되면, 드레인전극(32)과 연결된 화소전극에 전압이 인가됨으로써, 상기 화소전극과 공통전극 사이에 전압차가 발생한다. 이러한 상기 화소전극과 공통전극의 전압 차이로 인해 그 사에에 개재되어 있는 액정의 분자배열이 변화되는데, 그 액정의 분자배열이 변화되므로 인하여 화소의 광투과량이 변하게 되어 신호전압이 인가된 화소와 인가되지 않은 화소의 색상 차이가 발생하며, 이러한 색상차이를 이용하여 표시장치의 화면을 컨트롤하게 된다.
또한, 상기 표시영역에 배치된 각각의 게이트 라인(13) 및 데이터 라인(15)과 각각 연결되어 접속된 게이트 패드(14)들 및 데이터 패드(16)들은 상기 비표시영역(21)에 배치되어 있으며, 이는 앞서 설명한 상기 게이트 라인(13) 및 데이터 라인(15)에 게이트전압 및 신호전압을 공급하는 역할을 한다.
상기와 같은 어레이 기판(22)이 형성되면, 컬러필터 기판과의 합착, 액정 주입 등의 공정을 거쳐 액정표시장치를 완성하게 되는데, 상기 공정에 앞서 상기 어레이 기판(22) 상에 형성된 게이트 라인(13) 및 데이터 라인(15)의 불량 여부를 확 인하는 검사가 선행된다.
종래의 경우 상기 라인 불량을 검사하기 위해 상기 각각의 게이트 패드(14) 및 데이터 패드(15)에 어레이 테스트 장비의 게이트 핀 및 데이터 핀을 각각 연결하고, 상기 어레이 테스트 장비는 각 게이트 핀 및 데이터 핀에 각각 AC 전압을 인가하여 각 라인에 연결된 각 화소의 전하의 양에 따라 라인 단선(open) 결함을 판단하였다.
그러나, 이러한 종래의 라인 오픈 검사 방식은 상기 각 화소의 전하의 양이 상대적으로 아주 작기 때문에 검사를 위한 측정 시간이 길어지고, 또한 노이즈(noise)에 대해 취약하다는 단점이 있다.
본 발명은 어레이 기판의 외곽부에 다수의 박막트랜지스터로 형성된 더미 픽셀들을 구비하고, 상기 박막트랜지스터에 광을 조사하여 광전류(photo current)를 발생시킴으로써 어레이부의 게이트 라인 및 데이터 라인의 단선 여부를 검사하는 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판은, 다수의 서브픽셀이 매트릭스 형태로 구성되며 상기 서브픽셀을 통해 빛이 선택적으로 투과되는 표시영역과, 상기 표시영역의 외곽부에 형성되어 빛이 불투과되는 비표시영역으로 나뉘어지는 액정표시장치의 어레이 기판에 있어서, 상기 비표시영역에 다수의 박막트랜지스터로 구성된 더미픽셀이 다수 형성됨을 특징으로 한다.
여기서, 상기 서브픽셀들은 상기 어레이 기판 상에 형성된 다수의 게이트 라인 및 데이터 라인에 의해 둘러싸여 정의되며, 상기 더미픽셀들은 상기 비표시영역 중 게이트 라인 및/ 또는 데이터 라인에 신호를 공급하는 패드부가 형성된 영역의 반대 영역에 형성되고, 상기 더미픽셀들은 상기 표시영역 내의 서브픽셀들과 동일한 게이트 라인에 의해 연결되거나, 또는 동일한 데이터 라인에 의해 연결된다.
또한, 상기 더미픽셀은 제 1 및 제 2박막트랜지스터로 구성되며, 상기 어레이 기판 상에 형성된 게이트 라인 또는 데이터 라인이 상기 제 1박막트랜지스터의 게이트전극으로 연결되고, 상기 제 1박막트랜지스터의 드레인전극이 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극으로 연결되며, 상기 제 1박막트랜지스터의 소스전극을 출력단으로 함을 특징으로 한다.
또한, 상기 제 1박막트랜지스터와 제 2박막트랜지스터 사이에 제 3박막트랜지스터가 더 구비되며, 이 때 상기 제 1박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 드레인전극이 연결되고, 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 게이트전극이 연결되고, 상기 제 3박막트랜지스터의 소스전극이 제 2 박막트랜지스터의 소스전극과 연결됨을 특징으로 한다.
또한, 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 게이트전극 사이에 캐패시터가 삽입됨을 특징으로 한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판 검사방법은, 상기 설명한 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판에 있어 상기 더미픽셀 내에 구비된 제 2박막트랜지스터에 빛을 비추는 단계와, 상기 더미 픽셀 내에 구비된 제 1박막트랜지스터의 소스전극으로 출력되는 신호를 측정하는 단계가 포함되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 단계를 상기 어레이 기판에 형성된 모든 더미픽셀에 대해 순차적으로 실시하며, 상기 제 1박막트랜지스터의 소스전극으로 출력되는 신호는 상기 제 2박막트랜지스터에 빛을 비추어 발생되는 광전류 또는 소정의 양의 직류 전압에 의한 신호임을 특징으로 한다.
또한, 상기 더미픽셀 내에 구비된 제 1박막트랜지스터의 게이트전극에는 상기 제 1박막트랜지스터가 항상 온 되도록 고전압을 인가하고, 상기 제 2박막트랜지스터의 게이트 전극에는 상기 제 2박막트랜지스터가 항상 오프되도록 저전압을 인가하는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 광을 이용해 라인의 단선 유무를 검사하여 기판과 직접 접촉하지 않으므로 불량 발생의 우려를 감소시키며, 라인의 단선 유무를 쉽고 효율적으로 검사할 수 있는 장점이 있다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판(22')은 다수의 서브픽셀(10)이 매트릭스 형태로 구성되고 상기 서브픽셀(10)을 통해 빛이 선택적으로 투과되는 표시영역(20)과, 상기 표시영역(20)의 외곽부에 형성되어 빛이 불 투과되는 비표시영역(21)으로 나뉘어지며, 특히 상기 비표시영역(21)에 다수의 박막트랜지스터로 구성된 더미픽셀(30)이 다수 형성됨을 특징으로 한다.
이 때, 상기 표시영역(20)에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터(T)가 매트릭스 형태로 위치하고, 이러한 다수의 박막트랜지스터를 교차하여 지나가는 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 형성된다.
또한, 상기 서브픽셀(10)은 상기 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 교차되는 영역에 정의되어 박막트랜지스터(T) 및 화소전극(미도시), 스토리지 캐패시터(11)로 구성되며, 상기 서브픽셀(10) 상에 형성되는 화소전극은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 전도성 금속을 사용한다.
또한, 상기 표시영역(20)에 배치된 게이트 라인(13)들 및 데이터 라인(15)들과 각각 연결되는 게이트 패드(14)들 및 데이터 패드(16)들은 상기 비표시영역(21) 중 일부에 배치되어 있으며, 이는 상기 게이트 라인(13) 및 데이터 라인(15)에 게이트전압 및 신호전압을 공급하는 역할을 한다.
또한, 상기 더미픽셀(30)들은 상기 비표시영역(21) 중 상기 게이트 라인(13) 및/ 또는 데이터 라인(15)에 신호를 공급하는 패드(14, 16)가 형성된 영역의 반대 영역에 형성되고, 상기 더미픽셀(30)들은 상기 표시영역(20) 내의 서브픽셀(10)들과 동일한 게이트 라인(13)에 의해 연결되거나, 또는 동일한 데이터 라인(15)에 의해 연결된다.
상기와 같이 본 발명에 의한 어레이 기판(22')에 있어서 다수의 더미픽셀(30)을 형성하는 것은 이를 통해 상기 어레이 기판(22')의 게이트/ 데이터 라인(13, 15)의 단선여부를 쉽고 효율적으로 검사할 수 있기 때문이며, 이하 상기 더미픽셀(30)의 구조 및 동작에 대한 설명을 통해 이를 설명하도록 한다.
도 4는 도 3에 도시된 본 발명의 일 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하여 상기 더미픽셀의 구조 및 동작에 대해 설명하면, 상기 더미픽셀(40)은 제 1 및 제 2박막트랜지스터(41, 42)로 구성되며, 도 3에서의 상기 어레이 기판(22') 상에 형성된 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)이 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 게이트전극(G1)으로 연결되고, 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 드레인전극(D1)이 상기 제 2박막트랜지스터(42)의 드레인전극(D2)으로 연결되며, 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 소스전극(S1)을 출력단(43)으로 함을 특징으로 한다.
여기서, 상기 더미픽셀(40) 내에 구비된 제 1박막트랜지스터(41)의 게이트전극(G1)에는 상기 제 1박막트랜지스터(41)가 항상 온(on) 되도록 고전압을 인가하고, 상기 제 2박막트랜지스터(42)의 게이트전극(G2)에는 상기 제 2박막트랜지스터(42)가 항상 오프(off) 되도록 저전압을 인가한다.
즉, 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 게이트 전극(G1)과 연결된 상기 게이트 라인(도 3의 13) 또는 데이터 라인(도 3의 15)에 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 게이트전극(G1)의 게이트 하이전압(Vgh) 이상에 해당하는 양(+)의 DC 전압을 인가하고, 상기 제 2박막트랜지스터(42)의 게이트 전극(G2)에는 상기 게이트전극(42)의 게이트 로우전압(Vgl) 이하에 해당하는 음(-)의 DC 전압을 인가한다. 또한, 상기 제 2박막트랜지스터(42)의 소스전극(S2)에는 소정의 양(+)의 DC 전압(Vds)을 인가한다.
이와 같이 전압을 인가한 경우 상기 제 1박막트랜지스터(41)는 상기 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)의 단선되어 전압이 끊기지 않는 한 항상 온(on)인 상태를 유지하게 되고, 상기 제 2박막트랜지스터(42)는 항상 오프(off) 상태를 유지하게 된다.
이 때 상기 제 2박막트랜지스터(42) 영역에 빛을 비추게 되면 상기 제 2박막트랜지스터(42) 내의 반도체층 예컨데 비결정 실리콘 물질에서 빛 흡수(light absorption)현상이 나타나고 결국 이로 인한 광전류(photo current)가 발생된다.
이에 따라 상기 제 2박막트랜지스터(42)는 비록 오프(off)상태에 있음에도 불구하고 제 2박막트랜지스터(42)의 드레인 전극(D2)으로 상기 광전류가 흐르게 되고 이는 결국 제 1박막트랜지스터(41)의 출력단(43)인 소스전극(S1)으로 출력되는 것이다.
즉, 상기 제 2박막트랜지스터(42)의 드레인 전극(D2)은 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 드레인 전극(D1)과 연결되어 있어 상기 광전류는 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 드레인전극(D1)으로 유입되며, 또한, 상기 제 1박막트랜지스터(41)는 항상 온(on) 상태에 있으므로 결국 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 드레인 전극(D1)으로 유입된 광전류는 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 소스전극(S1)으로 출력된다.
따라서, 상기 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)이 단선되지 않은 경우 에는 상기 제 2박막트랜지스터(42)에 빛을 비추면 반드시 광전류가 상기 제 1박막트랜지스터(41)의 소스전극(S1)으로부터 검출되어야 한다.
이에 따라 상기 더미픽셀(40)을 통해 각 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)의 단선여부를 쉽고, 효율적으로 검사할 수 있는 것이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 이는 도 4에 도시된 더미픽셀(40)의 구조 즉, 제 1박막트랜지스터 및 제 2트랜지스터에 대해서, 상기 제 1박막트랜지스터와 제 2박막트랜지스터 사이에 제 3박막트랜지스터가 더 구비됨을 그 특징으로 한다.
이 때 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 드레인전극(D1)과 제 3박막트랜지스터(53)의 드레인전극(D3)이 연결되고, 상기 제 2박막트랜지스터(52)의 드레인전극(D2)과 제 3박막트랜지스터(53)의 게이트전극(G3)이 연결되고, 상기 제 3박막트랜지스터(53)의 소스전극(S3)이 제 2 박막트랜지스터(52)의 소스전극(S2)과 연결된다.
이와 같이 제 3박막트랜지스터(53)를 추가적으로 구비하는 것은 상기 광전류의 세기가 미약하여 이를 출력신호로 할 경우 측정시 검출능력이 저하되는 것을 극복하기 위함이다.
즉, 이와 같은 구조의 경우 상기 제 2박막트랜지스터(52)에 빛을 비추면 이에 의한 광전류가 발생되어 제 2박막트랜지스터(52)의 드레인 전극(D2)으로 유입되며, 상기 드레인 전극(D2)은 상기 제 3박막트랜지스터(53)의 게이트전극(G3)과 연 결되어 있으므로 상기 제 3박막트랜지스터(53)는 상기 광전류에 의해 온(on)이 된다.
따라서, 상기 제 2박막트랜지스터(52)의 소스전극(S2) 및 제 3박막트랜지스터(53)의 소스전극(S3)에 동일하게 입력되는 소정의 양(+)의 DC 전압(Vds)이 상기 제 3박막트랜지스터(53)의 온(on)에 의해 상기 제 3박막트랜지스터(53)의 드레인 전극(D3)으로 유입되고, 이는 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 드레인 전극(D1)으로 유입되어 결국 출력단(54)인 제 1박막트랜지스터(51)의 소스전극(S1)으로 출력된다.
즉, 상기 제 3박막트랜지스터(53)의 드레인 전극(D3)은 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 드레인 전극(D1)과 연결되어 있어 상기 소정의 양(+)의 DC 전압(Vds)는 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 드레인전극(D1)으로 유입되며, 또한, 상기 제 1박막트랜지스터(51)는 항상 온(on) 상태에 있으므로 결국 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 드레인 전극(D1)으로 유입된 소정의 양(+)의 전압(Vds)는 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 소스전극(S1)으로 출력된다.
따라서, 상기 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)이 단선되지 않은 경우에는 상기 제 2박막트랜지스터(52)에 빛을 비추면 반드시 Vds가 상기 제 1박막트랜지스터(51)의 소스전극(S1)으로부터 검출되어야 한다.
이에 따라 상기 더미픽셀(50)을 통해 각 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)의 단선여부를 쉽고, 효율적으로 검사할 수 있는 것이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 더미픽셀의 구조를 나타내는 도면 이다.
도 6을 참조하면, 이는 도 5에 도시된 더미픽셀의 구조 즉, 제 1박막트랜지스터(61), 제 2트랜지스터(62) 및 제 3박막트랜지스터(63)가 구비된 구조에서 상기 제 2박막트랜지스터(62)의 드레인전극(D2)과 제 3박막트랜지스터(63)의 게이트전극(G3) 사이에 캐패시터(64)가 삽입됨을 특징으로 한다.
이는 상기 제 3박막트랜지스터(63)의 게이트(G3)가 온(on) 상태가 될 때까지 전압축적(voltage accumulation)을 할 수 있도록 하며, 이를 통해 더욱 안정적으로 작동할 수 있게 된다.
도 6에 도시된 더미픽셀(60)의 동작은 도 5에 도시된 더미픽셀(50)의 동작과 동일하므로 그 설명은 생략하기로 한다.
도 3 내지 도 6을 참조하면, 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이기판(22 )은 상기 더미픽셀(30, 40, 50, 60)에 빛을 비춤으로써 상기 더미픽셀(30, 40, 50, 60)에 연결된 게이트 라인(13) 또는 데이터 라인(15)의 단선 여부를 검사할 수 있다.
즉, 상기 더미픽셀 내에 구비된 제 2박막트랜지스터에 빛을 비추고, 그 다음 상기 더미픽셀 내에 구비된 제 1박막트랜지스터의 소스전극으로 출력되는 신호를 측정하는 것을 상기 어레이 기판에 형성된 모든 더미픽셀에 대해 순차적으로 실시함으로써 상기 어레이 기판의 게이트 라인 및 데이터 라인의 단선 여부를 효율적으로 검사할 수 있는 것이다.
이상의 설명에서와 같이 본 발명에 의한 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법에 의하면, 광을 이용해 라인의 단선 유무를 검사하여 기판과 직접 접촉하지 않으므로 불량 발생의 우려를 감소시키며, 라인의 단선 유무를 쉽고 효율적으로 검사할 수 있는 장점이 있다.

Claims (10)

  1. 다수의 게이트 라인 및 데이터 라인에 의해 구획되는 다수의 서브픽셀이 매트릭스 형태로 구성되며 상기 서브픽셀을 통해 빛이 선택적으로 투과되는 표시영역과, 상기 표시영역의 외곽부에 형성되어 빛이 불투과되는 비표시영역으로 나뉘어지는 액정표시장치의 어레이 기판에 있어서,
    상기 비표시영역 중 게이트 라인 및/ 또는 데이터 라인에 신호를 공급하는 패드부가 형성된 영역의 반대 영역에 더미픽셀이 다수 형성되며,
    상기 더미픽셀은 제 1 및 제 2박막트랜지스터로 구성되고, 상기 게이트 라인 또는 데이터 라인이 상기 제 1박막트랜지스터의 게이트전극으로 연결되고, 상기 제 1박막트랜지스터의 드레인전극이 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극으로 연결되며, 상기 제 1박막트랜지스터의 소스전극을 출력단으로 함을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1박막트랜지스터와 제 2박막트랜지스터 사이에 제 3박막트랜지스터가 더 구비되며, 이 때 상기 제 1박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 드레인전극이 연결되고, 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 게이트전극이 연결되고, 상기 제 3박막트랜지스터의 소스전극이 제 2 박막트랜지스터의 소스전극과 연결됨을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극과 제 3박막트랜지스터의 게이트전극 사이에 캐패시터가 삽입됨을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
  7. 표시영역 및 비표시영역으로 구분되고, 상기 비표시영역에 제 1 및 제 2박막트랜지스터를 포함하여 구성되는 다수의 더미픽셀이 형성된 액정표시장치의 어레이 기판의 검사방법에 있어서,
    상기 제 1박막트랜지스터의 게이트전극은 표시영역을 통과하는 게이트 라인 또는 데이터 라인이 연결되고, 상기 제 1박막트랜지스터의 드레인전극이 상기 제 2박막트랜지스터의 드레인전극으로 연결하는 단계와;
    상기 더미픽셀 내에 구비된 제 2박막트랜지스터에 빛을 비추는 단계와;
    상기 더미픽셀 내에 구비된 제 1박막트랜지스터의 소스전극으로 상기 제 2 박막트랜지스터에 빛을 비추어 발생된 광전류 또는 직류 전압에 의한 신호를 측정하는 단계가 포함되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판 검사방법.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 검사방법을 상기 어레이 기판에 형성된 모든 더미픽셀에 대해 순차적으로 실시하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판 검사방법.
  9. 삭제
  10. 제 7항에 있어서,
    상기 더미픽셀 내에 구비된 제 1박막트랜지스터의 게이트전극에는 상기 제 1박막트랜지스터가 항상 온 되도록 고전압을 인가하고, 상기 제 2박막트랜지스터의 게이트 전극에는 상기 제 2박막트랜지스터가 항상 오프되도록 저전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판 검사방법.
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