KR20050053407A - 액정표시장치용 어레이기판 - Google Patents

액정표시장치용 어레이기판 Download PDF

Info

Publication number
KR20050053407A
KR20050053407A KR1020030086640A KR20030086640A KR20050053407A KR 20050053407 A KR20050053407 A KR 20050053407A KR 1020030086640 A KR1020030086640 A KR 1020030086640A KR 20030086640 A KR20030086640 A KR 20030086640A KR 20050053407 A KR20050053407 A KR 20050053407A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
line
common electrode
numbered
connection
odd
Prior art date
Application number
KR1020030086640A
Other languages
English (en)
Inventor
최종욱
Original Assignee
엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지.필립스 엘시디 주식회사 filed Critical 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority to KR1020030086640A priority Critical patent/KR20050053407A/ko
Publication of KR20050053407A publication Critical patent/KR20050053407A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343—Electrodes
    • G02F1/134309—Electrodes characterised by their geometrical arrangement
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458—Terminal pads
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Geometry (AREA)

Abstract

배선들의 불량을 검출할 수 있는 액정표시장치용 어레이 기판이 개시된다.
본 발명의 액정표시장치용 어레이 기판은, 제1 및 제2 테스트 패드가 구비되고, 각 테스트 패드에 2개씩의 연결배선이 연결되고, 이러한 연결배선은 홀수와 짝수로 구분된 게이트 배선 및 공통전극 배선에 연결된다.
따라서, 본 발명에 의하면, 게이트 배선들 및 공통전극 배선들을 서로 상이한 테스트 패드에 연결되도록 함으로써, 게이트 배선들 사이 그리고 공통전극 배선들 사이의 단락에 따른 불량을 용이하게 검출할 수 있다.

Description

액정표시장치용 어레이기판{Array substrate for Liquid crystal display}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 배선 간에 발생되는 불량을 검출할 수 있는 어레이 기판에 관한 것이다.
화상 정보를 화면에 나타내는 화면 표시 장치들 중에서 해상도가 높고 동화상을 실현하기에 충분할 만큼의 빠른 반응 속도 특성을 갖는 액정표시장치가 가장 주목을 받고 있다.
일반적으로, 액정표시장치는 액정의 광학적 이방성과 분극 성질을 이용하여 화면을 구동시킬 수 있다. 즉, 방향성을 갖고 있는 액정 분자의 배향 방향을 분극성을 이용하여 인위적으로 조절함으로써, 배향 방향에 따른 광학적 이방성으로 빛의 투과, 차단이 가능하게 된다. 이러한 원리를 응용하여 화면표시장치로 사용될 수 있다.
통상적인 액정표시장치의 구조를 살펴보면 다음과 같다.
액정표시장치는 빨강, 파랑, 초록으로 순차적으로 배치된 칼라필터와, 상기 각 칼라 필터 사이에 형성된 블랙 매트릭스와, 상기 칼라필터 및 블랙 매트릭스 상부에 증착된 공통전극으로 이루어지는 상부기판과, 화상이 표시되는 화소 영역 상에 형성된 화소전극, 박막 트랜지스터 및 어레이 배선으로 이루어지는 하부기판(또는 어레이 기판, 이하 어레이 기판이라 한다)으로 구성된다. 이때, 상기 상부기판과 어레이 기판 사이에는 액정이 충진되어 있다. 여기서, 상기 어레이 배선은 게이트 배선과 데이터 배선으로 이루어지고, 상기 게이트 배선은 상기 박막트랜지스터의 게이트전극에 연결되고, 상기 데이터 배선은 상기 박막 트랜지스터의 소스전극에 연결되며, 상기 화소전극은 상기 박막 트랜지스터의 드레인전극과 연결되게 된다. 또한, 상기 화소 영역은 상기 게이트 배선과 상기 데이터 배선이 교차하여 정의되는 영역을 의미한다.
이때, 상기 상부기판과 어레이 기판을 합착하기 전에 상기 어레이 기판 상에 배치된 게이트 배선과 어레이 배선의 단락 등에 의한 불량 여부를 검출하는 단계가 수행될 수 있다. 이를 위해 상기 어레이 기판 상에는 이러한 불량 여부를 검출하도록 하기 위한 테스트 배선 등이 더 배치될 수 있다.
이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 상기 어레이기판의 전체적인 구성을 개략적으로 설명한다.
도 1은 종래의 액정표시장치용 어레이기판을 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 2 내지 도 4는 도 1의 어레이 기판에서 A, B, C 영역을 확대하여 도시한 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 어레이 기판 상에 일 방향으로 다수의 게이트 배선(9)과 데이터 배선(11, 12)이 서로 교차하여 화소영역이 정의되어 형성되고, 상기 게이트 배선(9) 및 데이터 배선(11, 12)의 교차 지점에는 게이트전극(21), 소스전극(22) 및 드레인전극(23)으로 이루어지는 박막 트랜지스터(24)가 형성된다. 또한, 상기 드레인전극(23)에 연결되는 투명한 화소전극(25)이 상기 화소영역 상에 형성된다. 이때, 상기 게이트 배선(9)과 나란하게 공통전극 배선(10)이 배치되고, 상기 공통전극 배선(10)에는 상기 화소전극(25)과 일부분이 오버랩 되도록 공통전극(26)이 연장되어 형성되어 있다. 따라서, 상기 게이트 배선(9)과 상기 공통전극 배선(10) 사이로 상기 화소전극(25)이 배치되고, 상기 게이트 배선(9) 및 상기 공통전극 배선(10)에 수직되도록 상기 데이터 배선(11, 12)이 배치되게 된다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 배선(9), 상기 데이터 배선(11, 12) 및 상기 공통전극 배선(10)의 끝단에는 게이트 패드(13), 데이터 패드(17, 19) 및 공통전극 패드(15)가 각각 연결된다.
한편, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판의 외곽에는 상기 게이트 배선(9), 데이터 배선(11, 12) 및 공통전극 배선(10) 사이의 단락 여부를 확인하기 위한 테스트용 전압이 공급될 수 있는 4개의 테스트 패드(제1 내지 제4 테스트 패드, 1, 2, 3, 4)가 형성되어 있다. 여기서, 상기 제1 테스트 패드(1)는 상기 게이트 배선(9)으로 전압을 인가시키기 위한 패드이고, 상기 제2 테스트 패드(2)는 상기 공통전극 배선(10)으로 전압을 인가시키기 위한 패드이면, 상기 제3 및 제4 테스트 패드(3, 4)는 상기 데이터 배선(11, 12)으로 전압을 인가시키기 위한 패드이다. 이와 같이, 상기 각 테스트 패드(1, 2, 3, 4)로부터 인가된 전압을 각 배선(9, 10, 11, 12)으로 공급하기 위해, 상기 각 테스트 패드(1, 2, 3, 4)와 각 패드(13, 15, 17, 19) 사이에는 연결 배선들(5, 6, 7, 8)이 형성되어 있다.
상기 제1 테스트 패드(1)는 상기 제1 연결 배선(5)을 경유하여 다수의 게이트 배선(9)에 동시에 연결되어 있고, 상기 제2 테스트 패드(2)는 상기 제2 연결 배선(6)을 경유하여 다수의 공통전극 배선(10)에 동시에 연결되어 있다.
또한, 상기 제3 테스트 패드(3)는 제3 연결 배선(7)을 경유하여 홀수번째의 데이터 배선(11)에 연결되어 있고, 상기 제4 테스트 패드(4)는 제4 연결 배선(8)을 경유하여 짝수번째의 데이터 배선(12)에 연결되어 있다.
이와 같이 테스트 패드(1, 2, 3, 4)와 각 배선(9, 10, 11, 12) 사이를 연결함으로써, 각 배선 사이의 단락에 따른 불량 여부를 검출할 수 있다. 예를 들면, 제1 테스트 패드(1)와 제2 테스트 패드(2)에 각각 전압을 인가함으로써, 게이트 배선(9)과 공통전극 배선(10) 사이의 단락 여부를 검출할 수 있고, 제1 테스트 패드(1)와 제3 또는 제4 테스트 패드(3, 4)에 각각 전압을 인가함으로써, 게이트 배선(9)과 데이터 배선(11, 12) 사이의 단락 여부를 검출할 수 있으며, 제2 테스트 패드(2)와 제3 또는 제4 테스트 패드(11, 12)에 각각 전압을 인가함으로써, 공통전극 배선(10)과 데이터 배선(11, 12) 사이의 단락 여부를 검출할 수 있다. 또한, 제3 및 제4 테스트 패드(3, 4)에 전압을 각각 인가함으로써, 데이터 배선들(11, 12) 사이의 단락 여부도 검출할 수 있다.
설명의 편의를 위해 도 1 내지 도 4에서는 게이트 패드(9)들 사이, 공통전극 패드(10)들 사이 그리고 데이터 배선(11, 12)들 사이들이 모두 동일한 간격으로 배치되고 있지만, 실제로는 각 패드들(9, 10, 11, 12)은 수십 개씩 조밀하게 배치되는 패드부가 일정한 간격으로 형성되도록 설계되고 있다. 따라서, 동일 배선이 조밀하게 배치되는 패드부 부근에서 단락이 주로 발생되고 있다. 이러한 경우에 데이터 배선들(11, 12) 간에는 홀수번째와 짝수번째로 각각 제3 테스트 패드(3) 및 제4 테스트 패드(4)로부터 각각 전압이 인가됨으로써, 데이터 배선들(11, 12)간의 단락 여부가 검출될 수 있지만, 게이트 배선(9)들 및 공통전극 배선(10)들은 모두 동시에 제1 테스트 패드(1) 또는 제2 테스트 패드(2)에 연결됨으로써, 단락 여부가 검출될 수 없는 문제점이 있었다. 다시 말해, 상기 제1 테스트 패드(1)에 연결된 제1 연결 배선(5)에 다수의 게이트 배선(9)이 동시에 연결됨으로써, 게이트 배선(9)들 사이의 단락 여부를 검출할 수 없는 문제점이 있었다. 또한, 제2 테스트 패드(2)에 연결된 제2 연결 배선(6)에 다수의 공통전극 배선(10)이 동시에 연결됨으로써, 공통전극 배선(10)들 사이의 단락 여부를 검출할 수 있는 문제점이 있었다.
결국, 게이트 배선(9)과 공통전극 배선(10)은 홀수번째와 짝수번째로 구분하여 서로 다른 테스트 패드(1, 2)에 연결되지 않음으로 해서 게이트 배선(9)들 사이 그리고 공통전극 배선(10)들 사이의 단락 여부는 검출될 수가 없었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 게이트 배선들 그리고 공통전극 배선들을 각각 홀수와 짝수로 구분하여 서로 다른 테스트 패드에 연결함으로써, 용이하게 단락에 의한 불량 여부 등을 검출할 수 있는 액정표시장치용 어레이 기판을 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따르면, 액정표시장치용 어레이 기판은, 게이트 배선 및 공통전극 배선의 불량 검출을 위한 테스트용 전압이 공급되기 위한 제1 및 제2 테스트 패드; 상기 제1 및 제2 테스트 패드 각각에 연결되는 다수의 연결배선; 상기 다수의 연결배선에 짝수 및 홀수로 구분되어 연결되는 다수의 게이트 배선; 및 상기 다수의 게이트 배선 각각에 대해 적어도 화소영역 크기만큼 이격되어 나란하게 배치되고, 상기 다수의 연결배선에 짝수 및 홀수로 구분되어 연결되는 다수의 공통전극 배선을 포함한다.
이와 같이 각 테스트 패드들에 게이트 배선 및 공통전극 배선이 연결됨으로써, 게이트 배선들 사이 그리고 공통전극 배선들 사이의 단락에 따른 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 액정표시장치용 어레이 기판을 설명한다.
본 발명에 있어서 종래와 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 도면 번호를 부여한다.
도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이기판을 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 6은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제1 예시도이고, 도 7은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제2 예시도이고, 도 8은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제3 예시도이며, 도 9는 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제4 예시도이다.
도 5를 참조하면, 액정표시장치용 어레이 기판은 외곽으로 4개의 테스트 패드(3, 4, 31, 32)가 형성되어 있다. 즉, 제1 내지 제4 테스트 패드(3, 4, 31, 32)가 어레이 기판의 상부의 외곽 영역에 나란하게 배치되어 있다. 상기 제1 및 제2 테스트 패드(31, 32)는 게이트 배선(38, 40) 또는 공통전극 배선(37, 39)으로 전압을 인가시키기 위한 패드이고, 제3 및 제4 테스트 패드(3, 4)는 데이터 배선(11, 12)으로 전압을 인가시키기 위한 패드이다. 이때, 상기 데이터 배선(11, 12)은 홀수와 짝수로 구분되어, 홀수번째 데이터 배선(11)은 상기 3 테스트 패드(3)에 연결된 제5 연결배선(7)에 연결되고, 짝수번째 데이터 배선(12)은 상기 제4 테스트 패드(4)에 연결된 제6 연결배선(8)에 연결되게 된다. 여기서, 상기 제3 및 제4 테스트 패드(3, 4)와 상기 데이터 배선(11, 12) 사이의 연결 구조는 종래와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.
본 발명에서는 제1 및 제2 테스트 패드(31, 32)와 게이트 배선(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39)의 연결 구조가 특징인 바, 이하에서 보다 상세히 설명한다.
상기 제1 테스트 패드(31)와 상기 제2 테스트 패드(32)에는 각각 2개씩의 연결배선(33, 34, 35, 36)이 연결되어 있다. 즉, 상기 제1 테스트 패드(31)에는 제1 및 제2 연결배선(33, 34)이 연결되어 있고, 상기 제2 테스트 패드(32)에는 제3 및 제4 연결배선(35, 36)이 연결되어 있다.
이때, 도 6에 도시한 바와 같이, 상기 제1 연결배선(33)은 홀수번째 게이트 배선(38)에 연결되고, 상기 제2 연결배선(34)은 짝수번째 공통전극 배선(39)에 연결될 수 있다. 또한, 제3 연결배선(35)은 짝수번째 게이트 배선(40)에 연결되고, 상기 제4 연결배선(36)은 홀수번째 공통전극 배선(37)에 연결될 수 있다.
이와 같이 각 연결배선(33, 34, 35, 36)과 게이트 전극(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39)이 연결될 때, 상기 제1 테스트 패드(31)로부터 공급된 전압은 제1 연결배선(33)을 경유하여 홀수번째 게이트 배선(38)으로 인가되는 동시에 제2 연결배선(34)을 경유하여 짝수번째 공통전극 배선(39)으로 인가될 수 있다. 또한, 상기 제2 테스트 패드(32)로부터 공급된 전압은 제3 연결배선(35)을 경유하여 짝수번째 게이트 배선(40)으로 인가되는 동시에 상기 제4 연결배선(36)을 경유하여 홀수번째 공통전극 배선(37)으로 인가될 수 있다. 이때, 제1 테스트 패드(31)로부터 제1 전압이 인가되는 한편, 제2 테스트 패드(32)로부터 제2 전압이 인가되지 않는 경우, 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 짝수번째 공통전극 배선(39)으로만 전류가 검출되어야 한다. 만일 상기 홀수번째 게이트 배선(38)뿐만 아니라 짝수번째 게이트 배선(40)으로도 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 게이트 배선(39)과 상기 짝수번째 게이트 배선(40) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다. 마찬가지로, 만일 짝수번째 공통전극 배선(39)뿐만 아니라 홀수번째 공통전극 배선(37)으로도 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)과 상기 짝수번째 공통전극 배선(39) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다.
또는, 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 제1 연결배선(33)은 상기 짝수번째 공통전극 배선(39)에 연결되고, 상기 제2 연결배선(34)은 상기 홀수번째 게이트 배선(38)에 연결될 수 있다. 또한, 상기 제3 연결배선(35)은 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)에 연결되고, 상기 제4 연결배선(36)은 상기 짝수번째 게이트 배선(40)에 연결될 수 있다.
이와 같이 각 연결배선(33, 34, 35, 36)과 게이트 전극(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39)이 연결될 때, 상기 제1 테스트 패드(31)로부터 공급된 전압은 제1 연결배선(33)을 경유하여 짝수번째 공통전극 배선(39)으로 인가되는 동시에 제2 연결배선(34)을 경유하여 홀수번째 게이트 배선(38)으로 인가될 수 있다. 또한, 상기 제2 테스트 패드(32)로부터 공급된 전압은 제3 연결배선(35)을 경유하여 홀수번째 공통전극 배선(37)으로 인가되는 동시에 상기 제4 연결배선(36)을 경유하여 짝수번째 게이트 배선(40)으로 인가될 수 있다. 이때, 제1 테스트 패드(31)로부터 제1 전압이 인가되는 한편, 제2 테스트 패드(32)로부터 제2 전압이 인가되지 않는 경우, 상기 짝수번째 공통전극 배선(39)과 홀수번째 게이트 배선(38)으로만 전류가 검출되어야 한다. 만일 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 짝수번째 게이트 배선(40)에서 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 상기 짝수번째 게이트 배선(40) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다. 마찬가지로, 만일 짝수번째 공통전극 배선(39)과 홀수번째 공통전극 배선(37) 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)과 상기 짝수번째 공통전극 배선(39) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다.
한편, 도 8에 도시한 바와 같이, 상기 제1 연결배선(33)은 짝수번째 게이트 배선(40)에 연결되고, 상기 제2 연결배선(34)은 홀수번째 공통전극 배선(37)에 연결될 수 있다. 상기 제3 연결배선(35)은 홀수번째 게이트 배선(38)에 연결되고, 상기 제4 연결배선(36)은 짝수번째 공통전극 배선(39)에 연결될 수 있다.
이와 같이 각 연결배선(33, 34, 35, 36)과 게이트 전극(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39)이 연결될 때, 상기 제1 테스트 패드(31)로부터 공급된 전압은 제1 연결배선(33)을 경유하여 짝수번째 게이트 배선(40)으로 인가되는 동시에 제2 연결배선(34)을 경유하여 홀수번째 공통전극 배선(37)으로 인가될 수 있다. 또한, 상기 제2 테스트 패드(32)로부터 공급된 전압은 제3 연결배선(35)을 경유하여 홀수번째 게이트 배선(38)으로 인가되는 동시에 상기 제4 연결배선(36)을 경유하여 짝수번째 공통전극 배선(39)으로 인가될 수 있다. 이때, 제1 테스트 패드(31)로부터 제1 전압이 인가되는 한편, 제2 테스트 패드(32)로부터 제2 전압이 인가되지 않는 경우, 상기 짝수번째 게이트 배선(40)과 홀수번째 공통전극 배선(37)으로만 전류가 검출되어야 한다. 만일 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 짝수번째 게이트 배선(40)에서 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 상기 짝수번째 게이트 배선(40) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다. 마찬가지로, 만일 홀수번째 공통전극 배선(37)과 짝수번째 공통전극 배선(39) 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)과 상기 짝수번째 공통전극 배선(39) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다.
또는, 도 9에 도시한 바와 같이, 상기 제1 연결배선(33)은 홀수번째 공통전극 배선(37)에 연결되고, 상기 제2 연결배선(34)은 짝수번째 게이트 배선(40)에 연결될 수 있다. 또한, 상기 제3 연결배선(35)은 짝수번째 공통전극 배선(39)에 연결되고, 상기 제4 연결배선(36)은 상기 홀수번째 게이트 배선(38)에 연결될 수 있다.
이와 같이 각 연결배선(33, 34, 35, 36)과 게이트 전극(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39)이 연결될 때, 상기 제1 테스트 패드(31)로부터 공급된 전압은 제1 연결배선(33)을 경유하여 홀수번째 공통전극 배선(37)으로 인가되는 동시에 제2 연결배선(34)을 경유하여 짝수번째 게이트 배선(40)으로 인가될 수 있다. 또한, 상기 제2 테스트 패드(32)로부터 공급된 전압은 제3 연결배선(35)을 경유하여 짝수번째 공통전극 배선(39)으로 인가되는 동시에 상기 제4 연결배선(36)을 경유하여 홀수번째 게이트 배선(38)으로 인가될 수 있다. 이때, 제1 테스트 패드(31)로부터 제1 전압이 인가되는 한편, 제2 테스트 패드(32)로부터 제2 전압이 인가되지 않는 경우, 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)과 짝수번째 게이트 배선(40)으로만 전류가 검출되어야 한다. 만일 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 짝수번째 게이트 배선(40)에서 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 상기 짝수번째 게이트 배선(40) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다. 마찬가지로, 만일 홀수번째 공통전극 배선(37)과 짝수번째 공통전극 배선(39) 모두에서 전류가 검출된다면, 상기 홀수번째 공통전극 배선(37)과 상기 짝수번째 공통전극 배선(39) 사이에 단락이 발생한 것임을 알 수 있다.
도 6 내지 도 9와 같이 게이트 배선(38, 40)과 공통전극 배선(37, 39)을 각각 홀수와 짝수로 구분하여 서로 상이한 연결배선(31, 32)에 연결함으로써, 게이트 배선들(38, 40) 사이 그리고 공통전극 배선들(37, 39) 사이의 단락에 의한 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
한편, 도 5 내지 도 9에는 도시되지 않았지만, 상기 홀수번째 게이트 배선(38)과 상기 홀수번째 공통전극 배선(37) 사이 그리고 상기 짝수번째 게이트 배선(40)과 상기 짝수번째 공통전극 배선(39) 사이에는 각각 박막 트랜지스터와 화소전극이 배치되게 된다.
또한, 각 연결배선(33, 34, 35, 36)과 게이트 배선(38, 40) 및 공통전극 배선(37, 39) 사이에는 게이트 패드(43, 47) 및 공통전극 패드(41, 45)로 연결될 수 있다.
이와 더불어, 본 발명은 제1 및 제2 테스트 패드(31, 32)에 각각 전압을 인가함으로써, 게이트 배선(38, 40)과 공통전극 배선(37, 39) 사이의 단락 여부를 검출할 수 있다.
또한, 본 발명은 제1 또는 제2 테스트 패드(31, 32) 중 하나에 전압을 인가하고, 제3 및 제4 테스트 패드(3, 4)에 전압을 인가함으로써, 게이트 배선(38, 40)과 데이터 배선(11, 12) 사이, 공통전극 배선(37, 39)과 데이터 배선(11, 12) 사이의 단락 여부를 검출할 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 액정표시장치용 어레이 기판에 의하면, 제1 테스트 패드와 제2 테스트 패드에 각각 2개씩의 연결배선을 연결하고, 각각의 연결배선을 각각 홀수 및 짝수로 구분되는 게이트 배선 및 공통전극 배선에 연결함으로써, 게이트 배선들 사이 그리고 공통전극 배선들 사이의 단락에 따른 불량 여부를 용이하게 검출할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래의 액정표시장치용 어레이기판을 개략적으로 나타낸 도면.
도 2 내지 도 4는 도 1의 어레이 기판에서 A, B, C 영역을 확대하여 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이기판을 개략적으로 나타낸 도면.
도 6은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제1 예시도.
도 7은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제2 예시도.
도 8은 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제3 예시도.
도 9는 도 5의 어레이 기판에서 D 영역을 확대하여 도시한 테스트 패드와 각 배선 간의 연결 구조에 대한 제4 예시도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 명칭>
3, 4, 31, 32 : 테스트 패드 7, 8, 33, 34, 35, 36 : 연결배선
37 : 홀수번째 공통전극 배선 38 : 홀수번째 게이트 배선
39 : 짝수번째 공통전극 배선 40 : 짝수번째 게이트 배선
41, 45 : 공통전극 패드 43, 47 : 게이트 패드

Claims (9)

  1. 각 배선 사이의 불량을 검출하는 액정표시장치용 어레이 기판에 있어서,
    게이트 배선 및 공통전극 배선의 불량 검출을 위한 테스트용 전압이 공급되기 위한 제1 및 제2 테스트 패드;
    상기 제1 및 제2 테스트 패드 각각에 연결되는 다수의 연결배선;
    상기 다수의 연결배선에 짝수 및 홀수로 구분되어 연결되는 다수의 게이트 배선; 및
    상기 다수의 게이트 배선 각각에 대해 적어도 화소영역 크기만큼 이격되어 나란하게 배치되고, 상기 다수의 연결배선에 짝수 및 홀수로 구분되어 연결되는 다수의 공통전극 배선
    을 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 테스트 패드에는 제1 및 제2 연결배선이 연결되고, 상기 제2 테스트 패드에는 제3 및 제4 연결배선이 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 연결배선은 홀수번째 게이트 배선에 연결되고, 상기 제2 연결배선은 짝수번째 공통전극 배선에 연결되고, 상기 제3 연결배선은 짝수번째 게이트 배선에 연결되며, 상기 제4 연결배선은 홀수번째 공통전극 배선에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제1 연결배선은 짝수번째 공통전극 배선에 연결되고, 상기 제2 연결배선은 홀수번째 게이트 배선에 연결되고, 상기 제3 연결배선은 홀수번째 공통전극 배선에 연결되며, 상기 제4 연결배선은 짝수번째 게이트 배선에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  5. 제2항에 있어서, 상기 제1 연결배선은 짝수번째 게이트 배선에 연결되고, 상기 제2 연결배선은 홀수번째 공통전극 배선에 연결되고, 상기 제3 연결배선은 홀수번째 게이트 배선에 연결되고, 상기 제4 연결배선은 짝수번째 공통전극 배선에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  6. 제2항에 있어서, 상기 제1 연결배선은 홀수번째 공통전극 배선에 연결되고, 상기 제2 연결배선은 짝수번째 게이트 배선에 연결되고, 상기 제3 연결배선은 짝수번째 공통전극 배선에 연결되며, 상기 제4 연결배선은 홀수번째 게이트 배선에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 연결배선과 상기 게이트 배선 및 공통전극 배선 사이에 연결되는 게이트 패드 및 공통전극 패드
    를 더 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  8. 제1항에 있어서, 데이터 배선의 불량 검출을 위한 테스트용 전압이 공급되기 위한 제3 및 제4 테스트 패드;
    상기 제3 및 제4 테스트 패드 각각에 연결되는 연결배선; 및
    상기 연결배선에 짝수 및 홀수로 구분되어 연결되는 다수의 데이터 배선
    을 더 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제3 및 제4 테스트 패드에는 하나씩의 연결배선이 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.
KR1020030086640A 2003-12-02 2003-12-02 액정표시장치용 어레이기판 KR20050053407A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030086640A KR20050053407A (ko) 2003-12-02 2003-12-02 액정표시장치용 어레이기판

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030086640A KR20050053407A (ko) 2003-12-02 2003-12-02 액정표시장치용 어레이기판

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20050053407A true KR20050053407A (ko) 2005-06-08

Family

ID=37249081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030086640A KR20050053407A (ko) 2003-12-02 2003-12-02 액정표시장치용 어레이기판

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20050053407A (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731400B1 (ko) * 2004-07-23 2007-06-21 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전기 광학 장치, 전자 기기, 및 실장 구조체
KR101315500B1 (ko) * 2006-11-13 2013-10-14 엘지디스플레이 주식회사 액정패널과 이를 가지는 액정표시장치
CN107025867A (zh) * 2017-04-07 2017-08-08 昆山龙腾光电有限公司 液晶显示装置及其测试方法
US9831138B2 (en) 2014-01-09 2017-11-28 Samsung Display Co., Ltd. Display substrate, method of testing the display substrate and display apparatus having the display substrate

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731400B1 (ko) * 2004-07-23 2007-06-21 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전기 광학 장치, 전자 기기, 및 실장 구조체
KR101315500B1 (ko) * 2006-11-13 2013-10-14 엘지디스플레이 주식회사 액정패널과 이를 가지는 액정표시장치
US9831138B2 (en) 2014-01-09 2017-11-28 Samsung Display Co., Ltd. Display substrate, method of testing the display substrate and display apparatus having the display substrate
CN107025867A (zh) * 2017-04-07 2017-08-08 昆山龙腾光电有限公司 液晶显示装置及其测试方法
CN107025867B (zh) * 2017-04-07 2020-08-04 昆山龙腾光电股份有限公司 液晶显示装置及其测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100353955B1 (ko) 신호라인 검사를 위한 액정표시장치
KR102499175B1 (ko) 표시장치
JP4869807B2 (ja) 表示装置
US20010045997A1 (en) Liquid crystal display device
KR20140094723A (ko) 박막 트랜지스터 기판, 그것의 검사 방법 및 그것을 포함하는 액정 표시 장치
WO2008015808A1 (fr) Substrat de matrice active, afficheur et procédé d&#39;inspection de substrat de matrice active
JP3190238B2 (ja) アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法
KR20060015201A (ko) 어레이 기판과, 이를 갖는 모기판 및 액정표시장치
KR101187200B1 (ko) 스위칭 소자와 연결되는 테스트 라인을 구비하는액정표시장치
KR102010492B1 (ko) 액정표시장치 및 그의 제조방법
US11966132B2 (en) Display device
KR101174156B1 (ko) 평판 표시장치
KR20050053407A (ko) 액정표시장치용 어레이기판
JP7375439B2 (ja) 電気光学装置、および電子機器
KR102037053B1 (ko) 표시패널
US6757047B2 (en) Liquid crystal display device and testing method therefor
KR100632680B1 (ko) 액정표시장치의 어레이 기판 및 그 검사방법
JP2001183614A (ja) 表示素子およびその検査方法
JP3273905B2 (ja) 液晶表示装置のアクティブマトリクス基板及びその検査方法
JP2002277896A (ja) 液晶表示装置及び画面表示応用装置
KR20080055248A (ko) 표시 패널
US11971637B2 (en) Display device and method of inspection
WO2023116106A1 (zh) 显示基板及其测试方法和显示装置
JP7217650B2 (ja) 表示装置
JP2004226931A (ja) 液晶表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination