KR100731400B1 - 전기 광학 장치, 전자 기기, 및 실장 구조체 - Google Patents
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Abstract
IC가 직접 또는 배선 기판을 거쳐서 실장된 기판에 균열이 발생되어 있는지의 여부를 용이하게 진단 가능한 전기 광학 장치, 및 이 전기 광학 장치를 구비한 전자 기기를 제공하기 위해서, 전기 광학 장치(1a)에서, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되지 않아, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되지 않은 경우에는, 진단부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(45), 기판 균열 진단용 도전 패턴(83), 패드(46), 범프(56)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되어 있는 경우에, 진단부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는 범프(56)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다.
Description
도 1은 화소 스위칭 소자로서 TFD 소자를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 장치로 이루어지는 전기 광학 장치의 구성을 모식적으로 나타내는 블록도,
도 2(a), 도 2(b)는 본 발명을 적용한 전기 광학 장치를 대향 기판 쪽으로부터 본 개략 사시도, 및 이 전기 광학 장치를 화소 전극을 지나는 부분에서 Y 방향으로 절단했을 때의 단면도,
도 3은 본 발명의 실시예 1에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도,
도 4는 본 발명의 실시예 1에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 평면적으로 나타내는 설명도,
도 5는 본 발명의 실시예 2에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도,
도 6은 본 발명의 실시예 3에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도,
도 7은 화소 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터(TFT)를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 장치로 이루어지는 전기 광학 장치의 구성을 모식적으로 나타내는 블록 도,
도 8은 전기 광학 물질로서 전하 주입형의 유기 박막을 이용한 전계 발광 소자를 구비한 액티브 매트릭스형 표시 장치의 블록도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1a : 전기 광학 장치 5 : 구동용 IC(제 1 IC)
6 : 부가 기능용 IC(제 2 IC) 7 : 가요성 기판(배선 기판)
10 : 소자 기판(제 1 기판, 전기 광학 장치용 기판)
41, 41', 42, 42', 43, 43', 44, 44' : 패드(제 2 접속 상태 진단용 단자쌍)
45, 45', 46, 46' : 패드(제 2 기판 균열 진단용 단자쌍)
51, 52, 53, 54 : 범프(제 1 접속 상태 진단용 단자쌍)
55, 56 : 범프(제 1 기판 균열 진단용 단자쌍)
58 : 진단부(지단 수단)
59 : 진단 결과 출력부(진단 결과 출력 수단)
71, 72, 73, 74 : 단자(제 1 접속 상태 진단용 단자쌍)
81, 82 : 접속 상태 진단용 도전 패턴
83, 86 : 기판 균열 진단용 도전 패턴
84, 85, 87, 88 : 기판간 도통 단자
본 발명은, 전기 광학 장치, 이 전기 광학 장치를 구비한 전자 기기, 실장체가 피실장체에 실장된 실장 구조체에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 전기 광학 장치 및 실장 구조체에 대한 진단 기술에 관한 것이다.
액티브 매트릭스형 액정 장치 등의 전기 광학 장치는, 전기 광학 물질을 유지하는 전기 광학 장치용 기판에 구동용 IC 및 가요성 기판이 실장된 실장 구조체로서 구성되어 있고, 구동용 IC로부터 출력된 신호, 또는 구동용 IC로부터 출력된 신호에 근거하여 생성된 신호로 각 화소를 구동하고 있다(예컨대, 특허 문헌 1 참조).
또한, 전기 광학 장치용 기판 또는 가요성 기판에는 구동용 IC 외에, 전원 IC, EPROM, 백 라이트용의 LED 구동용 IC 등이 실장되는 경우도 있지만, 이들 IC 중 어느 하나에 불량이 발생하더라도, 그 원인을 찾는 데에는 많은 손이 많이 간다. 그래서, IC 내에 자기 진단 기능을 부가하는 것이 제안되어 있다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 2003-57677호 공보
[특허 문헌 2] 일본 특허 공개 평성 5-315418호 공보
특허 문헌 1에 기재된 전기 광학 장치 등에 있어서, 전기 광학 장치용 기판 은 유리 기판 등의 강성 기판으로 구성되어 있고, 이러한 기판에 균열이 발생하면, 각종 신호선이 절단되어 버려, 표시에 불량이 발생한다. 그러나, 이러한 접속 불량은 특허 문헌 2에 기재된 기술과 같이 IC에 자기 진단 기능을 내장시키더라도 발견할 수가 없다고 하는 문제점이 있다.
또한, 전기 광학 장치용 기판 또는 가요성 기판에 복수의 IC가 실장되어 있는 경우, 복수의 IC 각각에 자기 진단 기능을 내장시키면, 복수의 IC 각각으로부터 자기 진단 결과를 출력시킬 필요가 있어, 회로 구성이 현저히 복잡해져 버린다고 하는 문제점이 있다.
이상의 문제점을 감안하여, 본 발명의 과제는, IC가 직접 또는 배선 기판을 거쳐서 실장된 기판에 균열이 발생되어 있는지의 여부를 용이하게 진단 가능한 전기 광학 장치, 이 전기 광학 장치를 구비한 전자 기기, 및 실장 구조체를 제공하는 데 있다.
다음에 본 발명의 과제는, 복수의 IC가 실장되어 있는 경우에도, 간소한 구성으로 복수의 IC의 진단을 용이하게 실행할 수 있는 전기 광학 장치, 이 전기 광학 장치를 구비한 전자 기기, 및 실장 구조체를 제공하는 데 있다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에서는, 전기 광학 물질을 유지하는 제 1 기판과, 상기 제 1 기판에 실장되고 복수의 제 1 단자를 갖는 제 1 IC와, 상기 제 1 기판에 형성되고 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배 선과, 상기 복수의 제 1 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 복수의 제 2 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 당해 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과, 상기 제 1 IC에 마련되어, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는지의 여부를 진단하는 기판 균열 진단 수단과, 상기 제 1 IC에 마련되어, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서는, 제 1 기판에 균열이 발생하여, 기판 균열 진단용 도전 패턴이 절단된 경우에는, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 상태가 된다. 따라서, 기판 균열 진단 수단은, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는 경우에는 기판 균열이 발생되지 않았다고 진단할 수 있고, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 경우에는 기판 균열이 발생되었다고 진단할 수 있어, 그 진단 결과를 기판 균열 진단 결과 출력 수단에 의해 출력할 수 있다. 따라서, 전기 광학 장치에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 제 1 기판의 기판 균열에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
본 발명의 다른 예에서는, 전기 광학 물질을 유지하는 제 1 기판과, 상기 제 1 기판에 실장되어 있고, 복수의 제 1 단자를 가지며 또한 제 1 IC가 실장된 배선 기판과, 상기 제 1 기판에 형성되고, 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선과, 상기 복수의 제 1 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 복수의 제 2 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 당해 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과, 상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는지의 여부를 진단하는 기판 균열 진단 수단과, 상기 제 1 IC에 마련되어, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서는, 제 1 기판에 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴이 절단된 경우에는, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 상태가 된다. 따라서, 기판 균열 진단 수단은, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는 경우에는 기판 균열이 발생되지 않았다고 진단할 수 있고, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 경우에는 기판 균열이 발생되었다고 진단할 수 있어, 그 진단 결과를 기판 균열 진단 결과 출력 수단에 의해 출력할 수 있다. 따라서, 전기 광학 장치에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 제 1 기판의 기판 균열에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 배선 기판은 예컨대 가요성 기판이며, 상기 제 1 기판은 예컨대 강성 기판이다.
본 발명에 있어서, 전기 광학 장치가 액정 장치 등인 경우, 상기 제 1 기판 에 상기 전기 광학 물질을 사이에 두고 대향하는 제 2 기판을 구비하고 있다.
이 경우, 상기 제 1 및 제 2 기판은 각각 기판간 도통 단자를 갖고, 또한 기판간 도전재를 사이에 두고 접합되어 있는 것에 의해, 쌍방의 상기 기판간 도통 단자끼리 전기적으로 접속되어 있고, 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍은 상기 제 1 기판에만 형성되고, 상기 기판 균열 진단용 도전 패턴은 상기 제 1 및 제 2 기판의 양쪽에 형성되고, 상기 제 1 및 제 2 기판에 형성된 상기 기판 균열 진단용 도전 패턴끼리는 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍 사이에서 직렬로 전기적 접속하도록 상기 기판간 도전재 및 상기 기판간 도통 단자에 의해 기판간 도통하고 있는 것이 바람직하다. 이와 같이 구성하면, 접합시킨 2장의 기판의 쌍방에 대하여 기판 균열 유무를 진단할 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 제 1 기판 또는 상기 제 2 기판에는 1개 내지 2개 이상의 제 2 IC가 실장되고, 상기 제 2 IC로부터 상기 제 1 IC로, 상기 제 2 IC가 정상으로 동작 가능한지의 여부에 관계되는 정보가 입력되고, 상기 제 1 IC로부터, 상기 정보 또는 상기 정보에 근거하는 상기 제 2 IC의 진단 결과가 출력되는 것이 바람직하다. 이와 같이 구성하면, 복수의 IC가 실장되어 있는 경우에도, 복수의 IC 각각에 자기 진단 기능을 내장시킬 필요가 없고, 복수의 IC 각각으로부터 자기 진단 결과를 출력시킬 필요가 없다. 그 때문에, 간소한 회로 구성으로 복수의 IC에 대한 진단을 할 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 복수의 배선에는, 예컨대, 상기 IC로부터 출력된 신호가 인가된다.
본 발명을 적용한 전기 광학 장치는, 모바일 컴퓨터나 휴대 전화기 등의 휴대용 전자 기기나, 직시형 표시 장치나 투사형 표시 장치 등의 전자 기기에 이용된다.
본 발명은, 전기 광학 장치 외에, 각종 실장 구조체에 적용할 수 있다. 즉, 본 발명에서는, 복수의 제 1 단자를 갖는 제 1 IC와, 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선을 가지며, 상기 제 1 IC가 실장된 제 1 기판과, 상기 복수의 제 1 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 복수의 제 2 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 당해 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과, 상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는지의 여부를 진단하는 기판 균열 진단 수단과, 상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서는, 제 1 기판에 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴이 절단된 경우에는, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 상태가 된다. 따라서, 기판 균열 진단 수단은, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는 경우에는 기판 균열이 발생되지 않았다고 진단할 수 있고, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 경우에는 기판 균열이 발생되었다고 진단할 수 있어, 그 진단 결과를 기판 균열 진단 결과 출력 수단에 의해 출력할 수 있다. 따라서, 실장 구조체에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 제 1 기판의 기판 균열에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
본 발명의 다른 예에서는, 복수의 제 1 단자를 갖고, 제 1 IC가 실장된 배선 기판과, 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선을 가지며, 상기 배선 기판이 실장된 제 1 기판과, 상기 복수의 제 1 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 복수의 제 2 단자에 포함되어 있고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과, 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 당해 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과, 상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는지의 여부를 진단하는 기판 균열 진단 수단과, 상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서는, 제 1 기판에 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴이 절단된 경우에는, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 상태가 된다. 따라서, 기판 균열 진단 수단은, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되어 있는 경우에는 기판 균열이 발생되지 않았다고 진단할 수 있고, 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍끼리 전기적으로 접속되지 않은 경우에는 기판 균열이 발생되었다고 진단할 수 있어, 그 진단 결과를 기판 균열 진단 결과 출력 수단에 의해 출력할 수 있다. 따라서, 실장 구조체에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 제 1 기판의 기판 균열에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
(실시예 1)
(전기 광학 장치의 전체 구성)
도 1은 전기 광학 장치의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다. 도 2(a), 도 2(b)는, 본 발명을 적용한 전기 광학 장치를 대향 기판 측으로부터 본 개략 사시도, 및 이 전기 광학 장치를 화소 전극을 지나는 부분에서 Y 방향으로 절단했을 때의 단면도이다.
도 1에 나타내는 전기 광학 장치(1a)는, 화소 스위칭 소자로서 TFD(Thin Film Diode/박막 다이오드 소자)를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 장치로서, 교차하는 2 방향을 X 방향 및 Y 방향으로 했을 때, 화상 표시 영역(2)에서는, 복수의 주사선(51a)이 X 방향(행 방향)으로 연장되고, 복수의 데이터선(52a)이 Y 방향(열 방향)으로 연장되어 있다. 전기 광학 장치(1a)의 화상 표시 영역(2)에는, 주사선(51a)과 데이터선(52a)의 각 교차점에 대응하는 각 위치에 화소(53a)가 형성되고, 다수의 화소(53a)가 매트릭스 형상으로 배열되어 있다. 이들 화소(53a)에서는, 액정층(54a)과, 화소 스위칭용의 TFD 소자(56a)가 직렬로 접속되어 있다. 각 주사선(51a)은 주사선 구동 회로(57a)에 의해 구동되고, 각 데이터선(52a)은 데이터선 구동 회로(58a)에 의해 구동된다.
이러한 전기 광학 장치(1a)를 구성하는데 있어서는, 도 2(a), 도 2(b)에 도시하는 바와 같이 소자 기판(10)(전기 광학 장치용 기판/제 1 기판)과 대향 기판(20)(전기 광학 장치용 기판/제 2 기판)을 밀봉재(30)에 의해 접합함과 동시에, 양 기판과 밀봉재(30)를 따라서 둘러싸인 영역 내에 전기 광학 물질로서의 액정(19)을 봉입한다. 밀봉재(30)는, 대향 기판(20)의 바깥 가장자리를 따라 대략 직사각형의 프레임 형상으로 형성되지만, 액정(19)을 봉입하기 위해서 일부가 개구되어 있다. 이 때문에, 액정(19)의 봉입 후에 그 개구 부분이 밀봉재(31)에 의해 밀봉된다.
소자 기판(10) 및 대향 기판(20)은, 유리나 석영 등의 광 투과성을 갖는 판 형상 부재이다. 소자 기판(10)의 내측(액정(19)측) 표면에는, 상술한 복수의 데이터선(52a), 화소 스위칭용의 TFD 소자(도시하지 않음), 화소 전극(34a), 및 배향막(도시하지 않음) 등이 형성된다. 한편, 대향 기판(20)의 내측의 면 상에는 복수의 주사선(51a)이 형성되고, 주사선(51a)의 표면측에 배향막(도시하지 않음)이 형성되어 있다.
또, 실제로는, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20)의 외측의 표면에, 입사광을 편광시키기 위한 편광판이나, 간섭색을 보상하기 위한 위상차판 등이 적절히 점착된다. 또한, 컬러 표시를 하는 경우에는, 대향 기판(20)에 대하여, 화소 전극(34a)과 대향하는 영역에, R(적색), G(녹색), B(청색)의 컬러 필터(도시하지 않음)가 소정의 배열로 형성되고, 화소 전극(34a)에 대향하지 않는 영역에는 블랙 매트릭스(도시하지 않음)가 형성된다. 또한, 컬러 필터 및 블랙 매트릭스를 형성한 표면에는, 그 평탄화 및 보호를 위해 평탄화층이 코팅되고, 이 평탄화층의 표면에 주 사선(51a)이 형성되지만, 본 발명과는 직접적인 관계가 없기 때문에, 그들의 도시 및 설명을 생략한다.
본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 소자 기판(10)과 대향 기판(20)을 밀봉재(30)에 의해 접합한 상태에서, 소자 기판(10)은 밀봉재(30)의 바깥 가장자리로부터 한쪽으로 연장된 연장 영역(10a)을 갖고 있고, 이 연장 영역(10a)에는, 데이터선(52a)과 일체의 배선 패턴(8), 및 기판간 도통을 거쳐서 주사선(51a)에 전기적으로 접속되는 배선 패턴(8)이 연장되어 있다. 기판간 도통을 행하는데 있어서는, 밀봉재(30)로서, 도전성을 갖는 다수의 도통 입자가 분산된 수지가 이용되고 있다. 여기서, 도통 입자는, 예컨대 금속의 도금이 실시된 플라스틱의 입자나, 도전성을 갖는 수지의 입자이며, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20) 각각에 형성된 기판간 도통 단자끼리(배선 패턴의 단부끼리)를 도통시키는 기능을 구비하고 있다. 이 때문에, 본 실시예에서는, 소자 기판(10)에 대해서만, 데이터선(52a)에 대하여 화상 신호를 출력함과 동시에, 주사선(51a)에 주사 신호를 출력하는 구동용 IC(5)(제 1 IC)가 COG 실장되고, 가요성 기판(7)(배선 기판)이 접속되어 있다. 즉, 소자 기판의 연장 영역(10a)에 IC 실장 영역(50)이 형성되고, 이 IC 실장 영역(50)에 대하여 구동용 IC(5)가 실장되어 있다. 또한, 소자 기판(10)의 연장 영역(10a)에서, IC 실장 영역(50)보다도 더 기판 가장자리(11) 쪽에는 기판 접속 영역(70)이 형성되고, 이 기판 접속 영역(70)에 가요성 기판(7)이 접속되어 있다. 또, 가요성 기판(7)에는, 전원 IC, EPROM, 백 라이트용의 LED 구동용 IC 등의 부가 기능용 IC(6)(제 2 IC)가 복수 실장되어 있다. 또한, 가요성 기판(7)에는 전자 기기 본체 와 접속하기 위한 커넥터(9)도 실장되어 있다.
(접속 상태 진단 기능의 구성)
도 3 및 도 4는 각각, 본 발명을 적용한 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도이다.
도 3 및 도 4에 있어서, 전기 광학 장치(1a)에서는, 구동용 IC(5)은 복수의 범프(제 1 단자)를 구비하는 한편, 소자 기판(10)은 IC 실장 영역에 다수의 패드(제 2 단자)를 구비하고 있고, 구동용 IC(5)의 각 범프가 각각 소자 기판(10)의 각 패드에 이방성 도전재를 거쳐 압착 등의 방법으로 접속된다.
본 실시예에서는, 구동용 IC(5)의 복수의 범프 중, 그 능동면(단자 형성면)의 양단부에 위치하는 범프(51, 52, 53, 54)는, 구동용 IC의 범프와 소자 기판(10)의 패드의 접속 상태를 진단하기 위한 범프이며, 범프(51)와 범프(52)는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍을 형성하고, 범프(53)와 범프(54)도 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍을 형성하고 있다.
이에 대하여, 소자 기판(10)에 형성되어 있는 복수의 패드 중, 범프(51) 및 범프(52)로 이루어지는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(41, 42)는 제 2 접속 상태 진단용 단자쌍으로서 구성되고, 범프(53) 및 범프(54)로 이루어지는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(43, 44)도 제 2 접속 상태 진단용 단자쌍으로서 구성되어 있다. 또한, 패드(41, 42)끼리는 소자 기판(10)에 형성된 접속 상태 진단용 도전 패턴(81)으로 접속되고, 패드(43, 44)끼리는 소자 기판 (10)에 형성된 접속 상태 진단용 도전 패턴(82)으로 접속되어 있다. 이러한 접속 상태 진단용 도전 패턴(81, 82)은 데이터선(52a)과 동시에 형성된 것이다.
구동용 IC(5)에는 진단부(58)가 형성되어 있고, 이 진단부(58)는 접속 상태 진단 수단으로서 범프(52, 54)에 소정의 신호를 출력함과 동시에, 범프(51, 53)로부터의 신호가 입력된다. 따라서, 범프(51)와 패드(41) 사이, 및 범프(52)와 패드(42) 사이의 쌍방에서 접속 상태(압착 상태)가 양호하면, 진단부(58)로부터 범프(52)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(42), 접속 상태 진단용 도전 패턴(81), 패드(41), 범프(51)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 범프(51)와 패드(41) 사이, 또는 범프(52)와 패드(42) 사이 중 어느 하나에 접속 불량이 발생되어 있으면, 진단부(58)로부터 범프(52)에 출력된 신호는 범프(51)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다. 마찬가지로, 범프(53)와 패드(43) 사이, 및 범프(54)와 패드(44) 사이의 쌍방에서 접속 상태가 양호하면, 진단부(58)로부터 범프(54)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(44), 접속 상태 진단용 도전 패턴(82), 패드(43), 범프(53)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 범프(53)와 패드(43) 사이, 또는, 범프(54)와 패드(44) 사이 중 어느 하나에 접속 불량이 발생되어 있으면, 진단부(58)로부터 범프(54)에 출력된 신호는 범프(53)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다.
따라서, 진단부(58)는, 범프와 패드의 접속 상태를 진단할 수 있고, 그 진단 결과에 대해서는, 진단 결과 출력부(59)가 접속 상태 진단 결과 출력 수단으로서 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58) 는, 범프와 패드의 접속 상태의 진단 결과를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 소자 기판(10)에 대한 구동용 IC(5)의 실장에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
또한, 본 실시예에서, 구동용 IC(5)는, 그 능동면의 양단부 각각에 제 1 접속 상태 진단용 단자로서의 범프(51, 52, 53, 54)를 구비하고 있기 때문에, 소자 기판(10)에 대한 구동용 IC(5)의 실장 상태를 확실히 진단할 수 있다. 즉, 구동용 IC(5)를 실장한 경우, 그 양단부에서 불량이 발생하기 쉽기 때문에, 이 양단부에 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍(범프(51, 52, 53, 54))을 배치하면, 소자 기판(10)에 대한 구동용 IC(5)의 실장 상태를 확실히 진단할 수 있다.
또, 이러한 접속 상태의 진단 결과는, 소정의 램프를 점등시키는 등의 방법으로 통지할 수 있다. 또한, 접속 상태의 진단은, 사용자의 지시(조작)에 의해 개시하는 구성 외에, 정기적으로 자기 진단을 자동적으로 개시하는 구성을 채용할 수 있다.
(기판 균열 진단 기능의 구성)
본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 소자 기판(10)으로서 유리 기판이 이용되어, 제조 도중, 또는 제조 후, 외부로부터의 충격으로 소자 기판(10)이 깨어지는 경우가 있다. 그래서, 본 실시예에서는, 이하에 설명하는 바와 같이, 소자 기판(10)에 균열이 발생했는지 여부를 자기 진단할 수 있도록 구성하고 있다.
즉, 본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 우선, 구동용 IC(5)의 복수의 범프 중, 그 능동면(단자 형성면)의 양단부에 위치하는 범프(55, 56)는, 소자 기판(10)의 균열을 진단하기 위한 범프이며, 범프(55)와 범프(56)는 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍을 형성하고 있다.
이에 대하여, 소자 기판(10)에 형성되어 있는 복수의 패드 중, 범프(55) 및 범프(56)로 이루어지는 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(45, 46)는, 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍으로서 구성되어 있다. 또한, 패드(45, 46)끼리는 소자 기판(10)의 바깥 가장자리를 따라 형성된 가는 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)으로 접속되어 있다. 이러한 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)은, 데이터선(52a)과 동시에 형성된 것이다.
또한, 구동용 IC(5)의 진단부(58)는, 기판 균열 진단 수단으로서, 범프(55)에 소정의 신호를 출력함과 동시에, 범프(56)로부터의 신호가 입력되게 되어 있다. 따라서, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되지 않아, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되지 않은 경우에는, 진단부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(45), 기판 균열 진단용 도전 패턴(83), 패드(46), 범프(56)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되어 있는 경우에, 진단부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는 범프(56)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다.
따라서, 진단부(58)는, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되어 있는지의 여부에 근거하여, 소자 기판(10)에 균열이 있는지의 여부를 진단할 수 있고, 그 진단 결과에 대해서는, 진단 결과 출력부(59)가 기판 균열 진단 결과 출력 수단으로서 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58)는, 기판 균열의 진단 결과를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 소자 기판(10)의 균열로 인한 데이터선(52a)이나 주사선(51a)의 단선인지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
또, 이러한 기판 균열의 진단 결과는, 소정의 램프를 점등시키는 등의 방법으로 통지할 수 있다. 또한, 기판 균열의 진단은, 사용자의 지시(조작)에 의해 개시하는 구성 외에, 정기적으로 자기 진단을 자동적으로 개시하는 구성을 채용할 수 있다.
(IC의 자기 진단 기능의 구성)
본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 소자 기판(10)에 구동용 IC(5)가 실장되고, 가요성 기판(7)에는, 전원 IC, EPROM, 백 라이트용의 LED 구동용 IC 등의 부가 기능용 IC(6)가 복수 실장되어 있다.
여기서, 구동용 IC(5)에는 진단부(58)가 구성되고, 진단 결과 출력부(59)도 구성되어 있다. 그래서, 본 실시예에서는, 외부로부터 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 구동용 IC(5)에 IC를 진단하라는 취지의 지령이 있었을 때, 구동용 IC(5)의 진단부(58)는, 각 부가 기능용 IC(6)에 대하여, 현재의 동작 상태, 지금까지의 동작 이력 등, 각 부가 기능용 IC(6)가 정상적으로 동작 가능한지의 여부에 관련되는 정보를 구동용 IC(5)에 출력하라는 지령 신호를 출력한다. 그 결과, 부가 기능용 IC(6)는 그들 신호를 구동용 IC(5)에 출력하고, 구동용 IC(5)의 진단부(58)는 그 정보, 또는 이들 정보에 근거하는 부가 기능용 IC(6)의 진단 결과, 및 구동용 IC(5) 자신의 현재의 동작 상태, 지금까지의 동작 이력 등, 정상적으로 동작 가능한지의 여부에 관계되는 정보, 또는 이들 정보에 근거하는 구동용 IC(5) 자신의 진단 결과를 진단 결과 출력부(59)로부터 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58)는, 부가 기능용 IC(6)에 관한 정보를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 부가 기능용 IC(6)에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
또한, 복수의 부가 기능용 IC(6)가 실장되어 있는 경우에도, 복수의 부가 기능용 IC(6) 각각에 자기 진단 기능을 내장시킬 필요가 없고, 또한, 복수의 부가 기능용 IC(6) 각각에 진단 결과를 출력시킬 필요가 없다. 그 때문에, 간소한 회로 구성으로 복수의 IC(5, 6)에 대한 진단을 할 수 있다. 또, 외부와 구동용 IC(5)의 신호 전달은, 종래부터 형성되어 있는 데이터 버스 등을 그대로 이용할 수 있고, 또한, 구동용 IC(5)와 부가 기능용 IC(6)의 신호 전달은, 종래부터 형성되어 있는 신호선 등을 그대로 이용할 수 있기 때문에, 대폭적인 설계 변경을 필요로 하지 않는다는 장점도 있다.
또, IC의 자기 진단 결과는, 소정의 램프를 점등시키는 등의 방법으로 통지할 수 있다. 또한, IC의 자기 진단은, 사용자의 지시(조작)에 의해 개시하는 구성 외에, 정기적으로 자기 진단을 자동적으로 개시하는 구성을 채용할 수 있다.
(실시예 2)
도 5는 본 발명의 실시예 2에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도이다. 또, 본 실시예의 전기 광학 장치는, 기본적인 구성이 실시예 1과 마찬가지기 때문에, 공통된 기능을 갖는 부분에는 동일한 부호를 부여하고 그들의 설명을 생략한다.
도 5에 나타내는 전기 광학 장치(1a)에서는, 실시예 1에서 설명한 바와 같이, 제 1 기판으로서의 소자 기판(10)과, 제 2 기판으로서의 대향 기판(20)이 기판간 도전재를 사이에 두고 접합되어 있는 것에 의해, 쌍방의 기판간 도통 단자끼리 전기적으로 접속되어 있다. 본 실시예에서는, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20) 중 소자 기판(10)에만 구동용 IC(5) 및 가요성 기판(7)이 실장되고, 또한, 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍으로서의 패드(45, 46)가 형성되어 있지만, 대향 기판(20)의 균열도 검출 가능하게 구성하고 있다.
즉, 소자 기판(10)에는, 우선, 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍으로서의 패드(45, 46)가 인접하는 위치에 형성되어 있다. 또한, 소자 기판(10)에는, 그 바깥 가장자리를 따라 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 형성되어 있고, 그 한쪽 단부는 패드(45)에 접속되고, 다른 쪽 단부는 기판간 도통 단자(84)로 되어 있다. 또한, 소자 기판(10)에는, 중계용의 기판 균열 진단용 도전 패턴(89)이 형성되어 있고, 그 한쪽 단부는 패드(46)에 접속되고, 다른 쪽 단부는 기판간 도통 단자(85)로 되어 있다.
이에 대하여, 대향 기판(20)에도, 그 바깥 가장자리를 따라 기판 균열 진단용 도전 패턴(86)이 형성되어 있다. 여기서, 기판 균열 진단용 도전 패턴(86)의 한쪽 단부는 소자 기판(10)의 기판간 도통 단자(84)와 겹치는 위치에서 기판간 도통 단자(87)로 되어 있고, 다른 쪽 단부는 소자 기판(10)의 기판간 도통 단자(85)와 겹치는 위치에서 기판간 도통 단자(88)로 되어 있다.
따라서, 소자 기판(10)과 대향 기판(20)을 기판간 도전재를 사이에 두고 접합했을 때, 대향 기판(20)의 기판간 도통 단자(87, 88)는 각각, 소자 기판(10)의 기판간 도통 단자(84, 85)와 전기적으로 접속된다. 그 결과, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83, 86)끼리는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍으로서의 패드(45, 46) 사이에서 직렬로 전기적 접속되게 된다.
그 때문에, 실시예 1에서 설명한 바와 같이, 구동용 IC(5)의 진단부(58)가 기판 균열 진단 수단으로서 범프(55)에 소정의 신호를 출력했을 때, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20)에 기판 균열이 발생되지 않아, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83, 86) 중 어디에도 절단이 발생되지 않은 경우에, 진단부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(45), 기판 균열 진단용 도전 패턴(83), 기판간 도통 단자(84, 87), 기판 균열 진단용 도전 패턴(86), 기판간 도통 단자(88, 85), 기판 균열 진단용 도전 패턴(89), 패드(46), 범프(56)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 소자 기판(10) 또는 대향 기판(20)에 기판 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83, 86) 중 어느 하나에 절단이 발생되어 있는 경우에, 진단 부(58)로부터 범프(55)에 출력된 신호는, 범프(56)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다. 따라서, 진단부(58)는, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83, 86)이 절단되어 있는지의 여부에 근거하여, 소자 기판(10) 또는 대향 기판(20)에 균열이 있는지의 여부를 진단할 수 있고, 그 진단 결과에 대해서는, 진단 결과 출력부(59)가 기판 균열 진단 결과 출력 수단으로서 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58)는, 기판 균열의 진단 결과를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 소자 기판(10) 또는 대향 기판(20)의 균일로 인한 데이터선(52a)이나 주사선(51a)의 단선인지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다. 그 밖의 구성은 실시예 1과 마찬가지기 때문에 설명을 생략한다.
(실시예 3)
도 6은 본 발명의 실시예 3에 따른 전기 광학 장치의 각 구성 요소 중, 자기 진단을 위한 구성을 발췌하여 나타내는 설명도이다. 또, 실시예 1, 2는 구동용 IC(5)가 소자 기판(10)에 COG 실장되어 있는 예이지만, 본 실시예는 구동용 IC(5)가 가요성 기판(7)에 COF 실장되어 있는 예이다. 단지, 본 실시예의 전기 광학 장치는, 기본적인 구성이 실시예 1과 마찬가지기 때문에, 공통된 기능을 갖는 부분에는 동일한 부호를 부여하고 그들의 설명을 생략한다.
도 6에 도시하는 바와 같이 본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 구동용 IC(5)(제 1 IC), 부가 기능용 IC(6)(제 2 IC), 커넥터(9)가 실장된 가요성 기판 (7)(배선 기판)이 소자 기판(10)(제 1 기판)에 실장되어 있다. 따라서, 가요성 기판(7)에는 소자 기판(10)과의 실장용 단자(제 1 단자)가 복수 형성되고, 소자 기판(10)의 기판 접속 영역(70)에는 가요성 기판(7)과의 접속용 패드(제 2 단자)가 다수 형성되어 있다.
본 실시예에서는, 가요성 기판(7)의 복수의 범프 중, 양단측에 위치하는 단자(71, 72, 73, 74)는, 가요성 기판(7)의 단자와 소자 기판(10)의 패드의 접속 상태를 진단하기 위한 단자이며, 단자(71)와 단자(72)는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍을 형성하고, 단자(73)와 단자(74)도 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍을 형성하고 있다.
이에 대하여, 소자 기판(10)에 형성되어 있는 복수의 패드 중, 단자(71) 및 단자(72)로 이루어지는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(41′, 42′)는 제 2 접속 상태 진단용 단자쌍으로서 구성되고, 단자(73) 및 단자(74)로 이루어지는 제 1 접속 상태 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(43′, 44′)도 제 2 접속 상태 진단용 단자쌍으로서 구성되어 있다. 또한, 패드(41', 42')끼리는 소자 기판(10)에 형성된 접속 상태 진단용 도전 패턴(81')으로 접속되고, 패드(43', 44')끼리는 소자 기판(10)에 형성된 접속 상태 진단용 도전 패턴(82')으로 접속되어 있다. 이와 같은 접속 상태 진단용 도전 패턴(81', 82')은 데이터선(52a)과 동시에 형성된 것이다.
또, 구동용 IC(5)에는, 실시예 1과 마찬가지로, 진단부(58)가 형성되어 있으며, 이 진단부(58)는 저복 상태 진단 수단으로서, 단자(72, 74)에 소정의 신호를 출력하는 동시에, 단자(71, 73)로부터의 신호가 입력된다. 따라서, 단자(71)과 패드(41') 사이, 또 단자 (72)와 패드(42') 사이의 쌍방에서 접속 상태가 양호하면, 진단부(58)로부터 단자(72)에 출력된 신호는, 그대로, 패드(42′), 접속 상태 진단용 도전 패턴(81′), 패드(41′), 단자(71)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 단자(71)와 패드(41′) 사이, 또는, 단자(72)와 패드(42′) 사이 중 어느 하나에 접속 불량이 발생되어 있으면, 진단부(58)로부터 단자(52′)에 출력된 신호는 단자(71)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다. 마찬가지로, 단자(73)와 패드(43′) 사이, 및 단자(74)와 패드(44′) 사이의 쌍방에서 접속 상태가 양호하면, 진단부(58)로부터 단자(74)에 출력된 신호는 그대로, 패드(44′), 접속 상태 진단용 도전 패턴(82′), 패드(43′), 단자(73)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 단자(73)와 패드(43′) 사이, 또는, 단자(74)와 패드(44′) 사이 중 어느 하나에 접속 불량이 발생되어 있으면, 진단부(58)로부터 단자(74)에 출력된 신호는 단자(73)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다.
따라서, 진단부(58)는, 단자와 패드의 접속 상태를 진단할 수 있고, 그 진단 결과에 대해서는, 진단 결과 출력부(59)가 접속 상태 진단 결과 출력 수단으로서 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58)는, 단자와 패드의 접속 상태의 진단 결과를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 소자 기판(10)에 대한 가요성 기판(7)의 실장에 있는지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다. 또, 가요성 기판(7)에 대한 단자(71, 72, 73, 74)(제 1 접속 상태 진단용 단자쌍)의 형성 위치에 대해서는 양단으로 한정되지 않고, 압착 방법에 따라서는 길이 방향의 중앙 영역 등에 형성하더라도 좋다.
이와 같이 구성한 전기 광학 장치(1a)에서도, 소자 기판(10)에 균열이 발생했는지 여부를 자기 진단할 수 있도록 구성하고 있다. 즉, 본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서는, 우선, 가요성 기판(7)의 복수의 단자 중, 양단부에 위치하는 단자(75, 76)는 소자 기판(10)의 균열을 진단하기 위한 범프이며, 단자(75)와 단자(76)는 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍을 형성하고 있다.
이에 대하여, 소자 기판(10)에 형성되어 있는 복수의 패드 중, 단자(75) 및 단자(76)로 이루어지는 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 접속되는 패드(45′, 46′)는, 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍으로서 구성되어 있다. 또한, 패드(45′, 46′)끼리는 소자 기판(10)의 바깥 가장자리를 따라 형성된 가는 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)으로 접속되어 있다. 이러한 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)은 데이터선(52a)과 동시에 형성된 것이다.
또한, 실시예 1과 같이 구동용 IC(5)의 진단부(58)는, 기판 균열 진단 수단으로서, 단자(75)에 소정의 신호를 출력함과 동시에, 단자(76)부터의 신호가 입력되게 되어 있다. 따라서, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되지 않아, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되지 않은 경우에는, 진단부(58)로부터 단자(75)에 출력된 신호는 그대로, 패드(45′), 기판 균열 진단용 도전 패턴(83′), 패드(46′), 단자(76)를 경유하여 진단부(58)에 입력된다. 이에 대하여, 소자 기판(10)에 기판 균열이 발생되어, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되어 있는 경우에는, 진 단부(58)로부터 단자(75)에 출력된 신호는 단자(76)로부터 진단부(58)에 입력되지 않게 된다.
따라서, 진단부(58)는, 기판 균열 진단용 도전 패턴(83)이 절단되어 있는지의 여부에 근거하여, 소자 기판(10)에 균열이 있는지의 여부를 진단할 수 있고, 그 진단 결과에 대해서는, 진단 결과 출력부(59)가 기판 균열 진단 결과 출력 수단으로서 가요성 기판(7)의 커넥터(9)를 거쳐서 외부에 출력할 수 있다. 또한, 진단부(58)는, 기판 균열의 진단 결과를 데이터선(52a)에 출력하여, 화상 표시 영역(2)에 표시할 수도 있다. 그 때문에, 전기 광학 장치(1a)에 불량이 발생했을 때, 그 원인이 소자 기판(10)의 균열로 인한 데이터선(52a)이나 주사선(51a)의 단선인지의 여부를 용이하게 판단할 수 있다.
또, 본 실시예의 전기 광학 장치(1a)에서도, IC의 자기 진단 기능에 대해서는 실시예 1과 마찬가지로 구성할 수 있다.
(기타 실시예)
실시예 1에서는, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20) 중 한쪽에만 구동용 IC(5) 및 가요성 기판(7)이 접속되어 있는 구성이지만, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20)의 쌍방에 구동용 IC 및 가요성 기판이 접속되는 경우가 있어, 이러한 경우에는, 소자 기판(10) 및 대향 기판(20)의 쌍방에 본 발명을 적용하더라도 좋다.
또한, 상기 실시예는, 액티브 매트릭스형 액정 장치에 본 발명을 적용한 예이지만, 패시브 매트릭스형 액정 장치에 본 발명을 적용하더라도 좋다. 또한, 상 기 실시예는, 투과형의 액티브 매트릭스형 액정 장치에 본 발명을 적용한 예이지만, 반사형 또는 반투과 반사형의 액티브 매트릭스형 액정 장치에 본 발명을 적용하더라도 좋다. 또한, 도 7 및 도 8을 참조하여 이하에 나타내는 전기 광학 장치에 본 발명을 적용하더라도 좋다.
도 7은 화소 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터(TFT)를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 장치로 이루어지는 전기 광학 장치의 구성을 모식적으로 나타내는 블록도이다. 도 8은 전기 광학 물질로서 전하 주입형의 유기 박막을 이용한 전계 발광 소자를 구비한 액티브 매트릭스형 전기 광학 장치의 블록도이다.
도 7에 도시하는 바와 같이 화소 스위칭 소자로서 TFT를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 장치로 이루어지는 전기 광학 장치(100b)에서는, 매트릭스 형상으로 형성된 복수의 화소 각각에, 화소 전극(109b)을 제어하기 위한 화소 스위칭용의 TFT(130b)가 형성되어 있고, 화상 신호를 공급하는 데이터선(106b)이 당해 TFT(130b)의 소스에 전기적으로 접속되어 있다. 데이터선(106b)에 기입하는 화상 신호는 데이터선 구동 회로(102b)로부터 공급된다. 또한, TFT(130b)의 게이트에는 주사선(131b)이 전기적으로 접속되어 있고, 소정의 타이밍에서, 주사선(131b)에 펄스식으로 주사 신호가 주사선 구동 회로(103b)로부터 공급된다. 화소 전극(109b)은, TFT(130b)의 드레인에 전기적으로 접속되어 있고, 스위칭 소자인 TFT(130b)를 일정 기간만 온 상태로 하는 것에 의해, 데이터선(106b)으로부터 공급되는 화상 신호를 각 화소에 소정의 타이밍으로 기입한다. 이렇게 하여 화소 전극(109b)을 거쳐서 액정에 기입된 소정 레벨의 서브 화상 신호는, 대향 기판(도시 생략)에 형성 된 대향 전극과의 사이에서 일정 기간동안 유지된다. 여기서, 유지된 서브 화상 신호가 누설되는 것을 막기 위해, 화소 전극(109b)과 대향 전극 사이에 형성되는 액정 용량과 병렬로 축적 용량(170b)(캐패시터)을 부가하는 것이 있다. 이 축적 용량(170b)에 의해, 화소 전극(109b)의 전압은, 예컨대, 소스 전압이 인가된 시간보다도 3자리수 긴 시간만큼 유지된다. 이에 따라, 전하의 유지 특성은 개선되어, 콘트라스트비가 높은 표시를 행할 수 있는 전기 광학 장치를 실현할 수 있다. 또, 축적 용량(170b)을 형성하는 방법으로서는, 용량을 형성하기 위한 배선인 용량선(132b) 사이에 형성하는 경우, 또는 전단의 주사선(131b) 사이에 형성하는 경우도 모두 좋다.
이러한 구성의 액정 장치에서도, 데이터선 구동 회로(102b) 또는 주사선 구동 회로(103b)의 전체 또는 일부가 전기 광학 장치용 기판에 COG 실장 또는 COF 실장된 IC에 내장되는 경우가 있다. 따라서, 이러한 IC의 실장에 본 발명을 적용하더라도 좋다. 또한, 이러한 액정 장치에서도, 유리 기판 등에 각 구성 요소가 구성되기 때문에, 본 발명에 따른 기판 균열 진단을 위한 구성을 적용하더라도 좋다.
도 8에 도시하는 바와 같이 전하 주입형 유기 박막을 이용한 전계 발광 소자를 구비한 액티브 매트릭스형 전기 광학 장치(100p)는, 유기 반도체막에 구동 전류가 흐르는 것에 의해 발광하는 EL(전계 발광) 소자, 또는 LED(발광 다이오드) 소자 등의 발광 소자를 TFT로 구동 제어하는 액티브 매트릭스형의 표시 장치이며, 이 타입의 표시 장치에 이용되는 발광 소자는 모두 자기 발광하기 때문에, 백 라이트를 필요로 하지 않고, 또한, 시야각 의존성이 적다는 등의 이점이 있다.
여기에 나타내는 전기 광학 장치(100p)에서는, 복수의 주사선(103p)과, 이 주사선(103p)의 연장 방향에 대하여 교차하는 방향으로 연장된 복수의 데이터선(106p)과, 이들 데이터선(106p)에 병렬하는 복수의 공통 전원 공급선(123p)과, 데이터선(106p)과 주사선(103p)의 교차점에 대응하는 화소(115p)가 구성되어 있다. 데이터선(106p)에 대해서는, 시프트 레지스터, 레벨 시프터, 비디오 라인, 아날로그 스위치를 구비하는 데이터선 구동 회로(101p)가 구성되어 있다. 주사선(103p)에 대해서는 시프트 레지스터 및 레벨 시프터를 구비하는 주사선 구동 회로(104p)가 구성되어 있다. 또한, 회소(115p)의 각각에는 주사선(103p)을 거쳐서 주사 신호가 게이트 전극에 공급되는 제 1 TFT(131p)와, 이 제 1 TFT(131p)를 거쳐서 데이터선(106p)으로부터 공급되는 화상 신호를 유지하는 유지 용량(133p)과, 이 유지 용량(133p)에 의해서 유지된 화상 신호가 게이트 전극에 공급되는 제 2 TFT(132p)와, 제 2 TFT(132p)를 거쳐서 공통 전원 공급선(123p)에 전기적으로 접속된 경우에 공통 전원 공급선(123p)으로부터 구동 전류가 유입되는 발광 소자(140p)가 구성되어 있다. 발광 소자(140p)는 화소 전극의 상층쪽에는 정공 주입층, 유지 전계 발광 재료층으로서의 유기 반도체막, 리튬 함유 알루미늄, 칼슘 등의 금속막으로 이루어지는 대향 전극이 적층된 구성으로 이루어지며, 대향 전극은 데이터선(106p) 등을 거쳐 복수의 화소(115p)에 걸쳐 형성되어 있다.
이와 같은 구성의 전계 발광형 전기 광학 장치에서도, 데이터선 구동 회로(101p) 또는 주사선 구동 회로(104p)의 전체 또는 일부가 전기 광학 장치용 기판에 COG 실장 또는 COF 실장된 IC에 내장되는 경우가 있다. 따라서, 이와 같은 IC의 실장에 본 발명을 적용해도 좋다. 또한, 이와 같은 전계 발광형 전기 광학 장치에서도, 유리 기판 등에 각 구성 요소가 구성되기 때문에, 본 발명에 따른 기판 균열 진단을 위한 구성을 적용해도 좋다.
또한, 상술한 실시예 이외에도, 전기 광학 장치로서, 플라즈마 디스플레이 장치, FED(Field Emission Display) 장치, LED(발광 다이오드) 표시 장치, 전기 영동 표시 장치, 박형 브라운관, 액정 셔터 등을 이용한 소형 텔레비전, 디지털 마이크로 미러 디바이스(DMD)를 이용한 장치 등의 각 종 전기 광학 장치에 적용할 수 있다.
상기 전기 광학 장치는, 모바일 컴퓨터나 휴대 전화기 등의 휴대용 전자 기기나, 직시형 표시 장치나 투사형 표시 장치 등의 전자 기기에 이용된다.
상술한 본 발명에 의하면, IC가 직접 또는 배선 기판을 거쳐서 실장된 기판에 균열이 발생되어 있는지의 여부를 용이하게 진단 가능한 전기 광학 장치, 이 전기 광학 장치를 구비한 전자 기기, 및 실장 구조체를 제공할 수 있다.
Claims (10)
- 전기 광학 물질을 유지하는 제 1 기판과,상기 제 1 기판에 실장되고 복수의 제 1 단자를 갖는 제 1 IC와,상기 제 1 기판에 형성되고 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선과,상기 복수의 제 1 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 복수의 제 2 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 당해 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍의 한쪽으로 출력된 신호가 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 경유하여 입력되는 기판 균열 진단 수단과,상기 제 1 IC에 마련되어, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 전기 광학 물질을 유지하는 제 1 기판과,상기 제 1 기판에 실장되어 있고, 복수의 제 1 단자를 구비하며 또한 제 1 IC가 실장된 배선 기판과,상기 제 1 기판에 형성되고, 상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선과,상기 복수의 제 1 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 복수의 제 2 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 그 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍의 한쪽으로 출력된 신호가 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 경유하여 입력되는 기판 균열 진단 수단과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 배선 기판은 가요성 기판이며, 상기 제 1 기판은 강성 기판인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 기판에 상기 전기 광학 물질을 사이에 두고 대향하는 제 2 기판을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 기판은 각각 기판간 도통 단자를 갖고, 또한 기판간 도전재를 사이에 두고 접합되어 있는 것에 의해, 쌍방의 상기 기판간 도통 단자끼리 전기적으로 접속되어 있고,상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍은 상기 제 1 기판에만 형성되고,상기 기판 균열 진단용 도전 패턴은 상기 제 1 및 제 2 기판의 양 쪽에 형성되고,상기 제 1 및 제 2 기판에 형성된 상기 기판 균열 진단용 도전 패턴끼리 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍의 사이에서 직렬로 전기적 접속하도록 상기 기판간 도전재 및 상기 기판간 도통 단자에 의해 기판간 도통하고 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 1 기판 또는 상기 제 2 기판에는 1개 내지 2개 이상의 제 2 IC가 실장되고,상기 제 2 IC로부터 상기 제 1 IC로, 상기 제 2 IC가 정상으로 동작 가능한지의 여부에 관계되는 정보가 입력되고,상기 제 1 IC로부터, 상기 정보 또는 상기 정보에 근거하는 상기 제 2 IC의 진단 결과가 출력되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 복수의 배선에는 상기 IC로부터 출력된 신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 기기.
- 복수의 제 1 단자를 갖는 제 1 IC와,상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선을 구비하며, 상기 제 1 IC가 실장된 제 1 기판과,상기 복수의 제 1 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 복수의 제 2 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 그 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍의 한쪽으로 출력된 신호가 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 경유하여 입력되는 기판 균열 진단 수단과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 실장 구조체.
- 복수의 제 1 단자를 갖고, 제 1 IC가 실장된 배선 기판과,상기 제 1 단자가 접속된 복수의 제 2 단자 및 복수의 배선을 구비하며, 상기 배선 기판이 실장된 제 1 기판과,상기 복수의 제 1 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판의 균열 유무를 진단하기 위한 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 복수의 제 2 단자 중 2개의 단자로 구성되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍이 각각 접속되는 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍과,상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 접속하고, 상기 제 1 기판 상에서 그 제 1 기판의 바깥 가장자리를 따라 라우팅된 기판 균열 진단용 도전 패턴과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 제 1 기판 균열 진단용 단자쌍의 한쪽으로 출력된 신호가 상기 제 2 기판 균열 진단용 단자쌍을 경유하여 입력되는 기판 균열 진단 수단과,상기 제 1 IC에 마련되고, 상기 기판 균열 진단 수단에 의한 진단 결과를 출력하는 기판 균열 진단 결과 출력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 실장 구조체.
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