JP4013503B2

JP4013503B2 - 電気光学パネルの検査方法

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Publication number: JP4013503B2
Application number: JP2001254845A
Authority: JP
Inventors: 重和田中
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2001-08-24
Filing date: 2001-08-24
Publication date: 2007-11-28
Anticipated expiration: 2021-08-24
Also published as: JP2003066870A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置や有機エレクトロルミネッセンス装置（以下、有機ＥＬ装置という。）等を含む電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、携帯電話機、携帯型コンピュータ、ビデオカメラ等といった電子機器の表示部として、液晶表示装置や有機ＥＬ装置等の電気光学パネルが広く用いられている。
【０００３】
例えば、アクティブ・マトリクス方式の液晶パネルには、マトリクス状に配列された画素電極の各々にスイッチング素子が設けられ且つ各スイッチング素子の一端に接続される複数のデータ線を有する素子基板と、走査線やカラーフィルタなどが形成された対向基板と、これら両基板の間に充填された液晶とを備えたものがある。
【０００４】
このような構成では、スイッチング素子として薄膜ダイオード（ＴＦＤ：Thin Film Diode）等の２端子型非線形素子が用いられ、スイッチング素子の閾値電圧を上回る電圧をデータ線と走査線との間に給電すると、スイッチング素子がＯＮ状態となって液晶層に所定の電荷が蓄積される。そして、電荷蓄積後、閾値電圧を下回る電圧を印加してスイッチング素子をＯＦＦ状態としても、液晶層の抵抗が十分に高ければ、この液晶層における電荷の蓄積が維持される。したがって、各スイッチング素子を駆動して、蓄積させる電荷の量を制御すると、画素毎に液晶の配向状態が変化して、所定の情報を表示することが可能となる。この際、各画素毎の液晶層にＯＮ状態となる信号電圧を印加して電荷を蓄積させるのは、一部の期間で良いため、各走査線を時分割に選択することにより、走査線およびデータ線を複数の画素について共通化したマルチプレックス駆動が可能となっている。
【０００５】
なお、このような液晶パネルにおいては、各走査線やデータ線に信号電圧を供給するために、複数の配線が設けられる。これらの配線は各走査線あるいはデータ線毎に設けられる。また、一般に、データ線および走査線の配線の端子は、基板の一辺に一括して配列される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このような液晶パネルは、組立後に、ショートおよび点灯の検査（電気的特性検査）がなされる。この検査では、通常、走査線およびデータ線の各配線の端子に、検査用の信号を入力するプローブが接触される。この場合、走査線の配線端子のそれぞれに、対応する走査線用のプローブ端子を正確に位置合わせするとともに、データ線の配線端子のそれぞれに、対応するデータ線用のプローブ端子を正確に位置合わせしなければならない。
【０００７】
しかしながら、最近のように液晶パネルの小型化および多機能化が進むと、小さな表示部に様々な情報を表示させることが必要となるため、画素数が非常に多くなるとともに、走査線やデータ線の本数も増加し、基板の一辺に一括して配列されるデータ線および走査線の配線端子のピッチも非常に小さくなってくる。そのため、走査線の配線端子とデータ線の配線端子とが近接し、これらの線にそれぞれ対応するプローブ端子を正確に位置合わせすることが困難になってくる。無論、この場合、プローブ端子と配線端子との位置が１ピッチでもずれれば、全回路の検査は不可能となる。
【０００８】
したがって、走査線およびデータ線の配線端子とプローブ端子とを正確に位置合わせする場合、作業者は、例えば、ＣＣＤカメラで画像を取り込んでモニタに映し、モニタを見ながら位置合わせ作業を行なわなければならない。このような位置合わせ作業は、大掛かりで高価なアライメント装置を必要とし、また、位置合わせに時間がかかるとともに、検査作業者に多大な負担を課す。
【０００９】
本発明は、前記事情に着目してなされたものであり、その目的とするところは、プローブ端子と配線端子との正確且つ容易な位置合わせが可能で、安価に電気特性検査を行なうことができる電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明に係る電気光学パネルは、複数の走査線が形成された第１基板と、前記第１基板と一定の間隙を保って対向するとともに、前記走査線と交差して画素を形成する複数のデータ線が形成された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間隙に設けられた電気光学物質とを具備し、前記データ線および前記走査線の配線端子はそれぞれ群を成して、前記基板の一辺に一括して配列され、前記データ線の配線端子の群と、前記走査線の配線端子の群は、複数の配線端子を配列し得る距離だけ、互いに離間して配置されていることを特徴とする。
この発明によれば、プローブのプローブ端子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場合、配線端子とプローブ端子との位置ズレを配線端子群間の間隙によって吸収できるため、電気光学パネルの小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、簡単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合わせすることができる。
【００１１】
ここで、上記構成の電気光学パネルにおいて、前記データ線の配線端子の群と前記走査線の配線端子の群との間は、配線端子が無い領域として形成されていることが望ましい。配線端子群間の間隙に配線端子を設けると、電気光学パネルの実質的な機能に寄与しないこれらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規のショートであると誤判定して、正確なショート検査が損なわれる可能性がある。したがって、配線端子群間の間隙に配線端子を設けないことは有益である。
【００１２】
また、上記構成の電気光学パネルにおいては、前記データ線の配線端子の群の両側にそれぞれ前記走査線の配線端子の群が配置され、前記走査線の配線端子の各群が、前記データ線の配線端子の群から同じ距離だけ離間していることが望ましい。この場合には、プローブ端子の位置合わせを効率的に行なうことができるようになる。
【００１３】
また、本発明は、光透過性および導光性を有する基板上に、陽極と少なくとも１層の発光機能を有する有機層と陰極とからなる有機エレクトロルミネッセンス素子が形成された電気光学パネルにおいて、前記陽極および前記陰極の配線端子はそれぞれ群を成して、前記基板の一辺に一括して配列され、前記陽極の配線端子の群と、前記陰極の配線端子の群は、複数の配線端子を配列し得る距離だけ、互いに離間して配置されていることを特徴とする。
【００１４】
この発明によれば、プローブのプローブ端子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場合、配線端子とプローブ端子との位置ズレを配線端子群間の間隙によって吸収できるため、電気光学パネルの小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、簡単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合わせすることができる。
【００１５】
ここで、上記構成の電気光学パネルにおいて、前記陽極の配線端子の群と前記陰極の配線端子の群との間は、配線端子が無い領域として形成されていることが望ましい。配線端子群間の間隙に配線端子を設けると、電気光学パネルの実質的な機能に寄与しないこれらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規のショートであると誤判定して、正確なショート検査が損なわれる可能性がある。したがって、配線端子群間の間隙に配線端子を設けないことは有益である。
【００１６】
また、上記構成の電気光学パネルにおいては、前記陽極の配線端子の群の両側にそれぞれ前記陰極の配線端子の群が配置され、前記陰極の配線端子の各群が、前記陽極の配線端子の群から同じ距離だけ離間していることが望ましい。この場合には、プローブ端子の位置合わせを効率的に行なうことができるようになる。
【００１７】
なお、上記各構成の電気光学パネルは、各種電子機器の表示部として使用することができる。
【００１８】
また、本発明は、第１および第２電極の交差に対応して設けられた画素を有し、且つ第１および第２電極の配線端子がそれぞれ群を成して基板の一辺に一括して配列されて成る電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記第１電極の配線端子の群と、前記第２電極の配線端子の群とに対して、前記第１および第２電極の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、前記第１電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第１電極用の第１プローブ端子を位置合わせするとともに、第２電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第２電極用の第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で第１及び第２電極の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする。
また、走査線およびデータ線の交差に対応して設けられた画素を有し、且つ走査線及びデータ線の配線端子がそれぞれ群を成して基板の一辺に一括して配列されて成る電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記走査線の配線端子の群と、前記データ線の配線端子の群とに対して、前記走査線およびデータ線の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、前記走査線の各配線端子のそれぞれに対応する第１プローブ端子を位置合わせするとともに、前記データ線の各配線端子のそれぞれに対応する第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で前記走査線及びデータ線の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする。
また、基板上に、陽極と少なくとも１層の発光機能を有する有機層と陰極とからなる有機エレクトロルミネッセンス素子が形成された電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記陽極の配線端子の群と、前記陰極の配線端子の群とに対して、前記陽極および陰極の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、前記陽極の各配線端子のそれぞれに対応する第１プローブ端子を位置合わせするとともに、前記陰極の各配線端子のそれぞれに対応する第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で前記陽極及び陰極の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする。
【００１９】
この発明によれば、プローブのプローブ端子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場合、配線端子とプローブ端子との位置ズレをダミー領域によって吸収できるため、電気光学パネルの小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、簡単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合わせすることができる。
【００２０】
ここで、上記方法においては、前記第１電極の配線端子群の両側に第１プローブ端子に対応する第１ダミープローブ端子が割り当てられ、第２電極の配線端子群の両側に第２プローブ端子に対応する第２ダミープローブ端子が割り当てられ、前記ダミー領域の中央で第１ダミープローブ端子と第２ダミープローブ端子とに分かれるように位置合わせできることが望ましい。また、前記第１電極の配線端子の群の両側にそれぞれ前記第２電極の配線端子の群が配置され、前記第２電極の配線端子の各群が、前記ダミー領域によって、前記第１電極の配線端子の群から同じ距離だけ離間していることが望ましい。これらの場合、プローブ端子の位置合わせを効率的に行なうことができるようになる。
【００２１】
また、上記方法において、前記ダミー領域は、配線端子が無い領域として形成されていることが望ましい。ダミー領域に配線端子を設けると、電気光学パネルの実質的な機能に寄与しないこれらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規のショートであると誤判定して、正確なショート検査が損なわれる可能性がある。したがって、ダミー領域に配線端子を設けないことは有益である。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
【００２３】
図１は、本発明の一実施形態に係る電気光学パネルとしての表示装置の電気的構成を示すブロック図である。この図に示されるように、液晶パネル１００には、複数のデータ線（セグメント電極）２１２が列（Ｙ）方向に延在して形成される一方、複数の走査線（コモン電極）３１２が行（Ｘ）方向に延在して形成されるとともに、データ線２１２と走査線３１２との各交差に対応して画素１１６が形成されている。なお、以下、走査線３１２について、各走査線を区別して説明する場合には、第何番目のものであるかを示す添字を付することにする。例えば、走査線３１２-２は第２番目の走査線を意味する。
【００２４】
また、各画素１１６は、液晶容量１１８と、スイッチング素子の一例であるＴＦＤ（Thi n Film Diode：薄膜ダイオード）２２０との直列接続からなる。このうち、液晶容量１１８は、後述するように、対向電極として機能する走査線３１２と画素電極との間に、電気光学材料の一例たる液晶を挟持した構成となっている。なお、本実施形態にあっては、説明の便宜上、走査線３１２の総数を１６０本とし、データ線２１２の総数を３６０本として、１６０行×３６０列のマトリクス型表示装置として説明するが、本発明をこれに限定する趣旨ではない。
【００２５】
また、本実施形態の液晶パネル１００は半透過型のパネルであり、外光の光量が大きいときには、外光を用いた反射型パネルとして機能し、外光の光量が小さい場合には透過型として機能するようになっている。図１に示すバックライトユニットＢＬは液晶パネル１００を透過型パネルとして用いる場合に光源として機能するものである。
【００２６】
Ｙドライバ３５０は、一般には走査線駆動回路と呼ばれており、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙ２００を、それぞれ対応する走査線３１２に供給するものである。具体的には、本実施形態に係るＹドライバ３５０は、走査線３１２を１水平走査期間毎に１本ずつ順次選択して選択電圧を印加し、非選択期間（保持期間）において非選択電圧（保持電圧）を印加する。
【００２７】
また、Ｘドライバ２５０は、一般には、データ線駆動回路と呼ばれており、Ｙドライバ３５０により選択された走査線３１２に位置する画素１１６に対し、データ信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘ１６０を、表示内容に応じてそれぞれ対応するデータ線２１２を介して供給する。
【００２８】
一方、制御回路４００は、Ｘドライバ２５０およびＹドライバ３５０に対して、各種制御信号やクロック信号などを供給して、両者を制御するものである。また、駆動電圧形成回路５００は、データ信号と走査信号のうちの非選択電圧とで兼用される電圧±ＶＤ／２と、走査信号のうちの選択電圧として用いられる電圧±ＶＳとをそれぞれ生成するものである。ここで、本実施形態では、データ信号と非選択電圧とを兼用する構成とするが、これらの電圧を異ならせても良い。また、電源回路６００は、バックライトユニットＢＬ、制御回路４００および駆動電圧形成回路５００に電力を供給するものである。
【００２９】
なお、本実施形態において、走査線３１２やデータ線２１２に印加される電圧の極性は、データ線２１２に印加される電圧±ＶＤ／２の中間電圧を基準として高電位側を正極とし、低電位側を負極としている。
【００３０】
次に、本実施形態に係る表示装置のうち、液晶パネル１００の機械的な構成について説明する。
【００３１】
図２は、液晶パネル１００の全体構成を示す斜視図である。この図に示すように、液晶パネル１００は、観察者側に素子基板２００が配置され、その対向側に対向基板３００が配置されて構成されている。そして、素子基板２００には、前述したＸドライバ２５０およびＹドライバ３５０がそれぞれＣＯＧ（Chip On Glass）技術により実装されている。特に、本実施形態では、Ｘドライバ２５０とＹドライバ３５０とが１チップの集積回路Ｗとして構成されている。
【００３２】
また、集積回路Ｗが実装される領域の外側近傍には、ＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）基板１５０が接合されており、これにより、制御回路４００や駆動電圧形成回路５００（共に図１参照）による各種信号や電圧信号を、Ｙドライバ３５０およびＸドライバ２５０にそれぞれ供給できるようになっている。
【００３３】
なお、Ｘドライバ２５０およびＹドライバ３５０を、それぞれ素子基板２００にＣＯＧ実装する替わりに、例えば、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）技術を用いて、各ドライバが実装されたＴＣＰ（Tape Carrier Package）を、基板の所定位置に設けられる異方性導電膜により電気的および機械的に接続する構成としても良い。
【００３４】
図３は、液晶パネル１００およびバックライトユニットＢＬをＸ方向に沿って破断した場合の構成を示す部分断面図である。また、図４は、液晶パネル１００の部分斜視図である。なお、図３および図４では、素子基板３００を上側にし、対向基板３００を下側にして示してある。
【００３５】
これらの図に示されるように、液晶パネル１００は、素子基板２００と対向基板３００とが、スペーサを兼ねる導電性粒子（導通材）１１４が混入されたシール材１１０によって一定の間隙を保って貼り合わせられるとともに、この間隙に例えばＳＴＮ（Super Twisted Nematic）型の液晶１６０が封入された構成となっている。なお、シール材１１０は、図２に示されるように、素子基板２００の内周縁に沿っていずれか一方の基板に枠状に形成されるが、液晶１６０を封入するために、その一部が開口している。このため、液晶の封入後に、その開口部分が封止材１１２によって封止される。
【００３６】
図３および図４に示すように、対向基板３００の対向面には、開口部３０２を有する反射板３０１が形成されている。反射板３０１の材料としてはアルミニウムの他、ＡＰＣ（Ag・Pt・Cu）等が用いられる。ＡＰＣは、銀を９８％重量比、残りを白金および銅で占める合金であり、アルミニウムよりも反射率が優れるといった特性を有する。この反射板３０１によって、素子基板２００外側（観測者側）から入射される外光が反射されることになる。
【００３７】
また、反射板３０１の対向面側には、ストライプ状のカラーフィルタ３０３が形成されている。カラーフィルタ３０３は、画素間の混色防止や遮光のため、ブラックマトリクス３０４によって仕切られている。
【００３８】
また、カラーフィルタ３０４の対向面側にはＩＴＯ（Indium Tin Oxide）などの透明導電体からなる走査線３１２が、行（Ｘ）方向に延在して形成されている。走査線３１２の対向面側には配向膜（図示略）が形成されて、ラビング処理が所定の方向に施されている。一方、対向基板３００の外側（バックライト側）には、位相差板３０５と偏光板３０６とが積層されている。偏光板３０６の吸収軸は、配向膜へのラビング処理の方向に対応して設定されている。また、位相差板３０５は色補正のために用いられる。
【００３９】
また、走査線３１２は、シール部１１０において、導電部材１１４によって配線２４０と導通が取られるようになっており、この配線２４０を介して、外部から走査信号が各走査線３１２に供給されるようになっている。また、配線２４０の材料としては、クロムやＩＴＯなどの導電部材を用いることができるが、抵抗値を下げる観点から、この例では金属が用いられている。
【００４０】
また、素子基板２００の対向面には、Ｙ（列）方向に延在して形成されるデータ線２１２に隣接して、矩形状の画素電極２３４が形成される他、それらの上側には配向膜（図示略）が形成されて、ラビング処理が所定の方向に施されている。この画素電極２３４には、ＩＴＯなどの透明導電体が用いられる。
【００４１】
一方、素子基板２００の外側（観察側）には、位相差板２０５と偏光板２０６とが積層されている。偏光板２０６の吸収軸は、配向膜へのラビング処理の方向に対応して設定されている。この他に、対向基板３００の外側には、均一に光を照射するバックライトユニットＢＬが設けられている。
【００４２】
図５は、走査線をＹドライバ３５０に接続するための配線構造を示す概念図である。なお、この図は、図２に示す液晶パネル１００において素子基板２００の左辺を中心軸として右辺を上側に持ち上げて１８０度回転させたものに対応している。
【００４３】
この図に示すように、各走査線３１２は櫛歯状に引き回され、各走査線３１２のうち奇数番目のものは右側から、偶数番目のものは左側から各々引き回されるようになっている。
【００４４】
具体的には、奇数番目の走査線３１２-1、３１２-3、…３１２-159は、シール部１１０の右辺（第１導通部）において第１配線群Ｇ１と接続される。第１配線群Ｇ１は素子基板２００の右辺近傍を通り、集積回路Ｗの右側のＹドライバ３５０に接続されている。一方、偶数番目の走査線３１２-2、３１２-4、…３１２-160は、シール部１１０の左辺（第２導通部）において第２配線群Ｇ２と接続される。第２配線群Ｇ２は素子基板の左辺近傍を通り、集積回路Ｗの左側のＹドライバ３５０に接続されている。なお、集積回路Ｗの左右のＹドライバ３５０，３５０間にはＸドライバ２５０があり、このＸドライバ２５０には、図２に示されるように、データ線２１２の端部２５０（以下、データ線２１２の配線２５０という。）が接続している。
【００４５】
つまり、このように配列されたデータ線２１２および走査線３１２の各配線２４０，２５０の端子は、図２に示されるように、基板の一辺に一括して平行に配列されるようになる。
【００４６】
データ線２１２および走査線３１２の各配線２４０，２５０の端子の配列状態が図６に拡大して示されている。図示のように、素子基板２００の一辺には、奇数番目の８０本の走査線３１２の配線２４０から成る第１の配線群Ｇ１の各端子Com１と、偶数番目の８０本の走査線３１２の配線２４０から成る第２の配線群Ｇ２の各端子Com２との間に、３６０本のデータ線２１２の配線２５０からなる第３の配線群Ｇ３の各端子Segが平行に配列されている。この場合、各端子Com１（Com２）同士は、互いに例えば４２μｍのピッチ間隔で連続的に配列されている。また、各端子Seg同士も、互いに例えば４２μｍのピッチ間隔で連続的に配列されている。
【００４７】
また、第１の配線群Ｇ１の端子Com１と第３の配線群Ｇ３の端子Segとの間、具体的には、第１の配線群Ｇ１を形成する走査線３１２の図中最も右側の端子Com１と、第３の配線群Ｇ３を形成するデータ線２１２の図中最も左側の端子Segとの間には、例えば４２μｍピッチの端子１４個分に相当する間隔が開けられている。この間隔は、端子が存在しない空白領域（以下、ダミー領域という）Ｓによって形成されており、後述する電気的特性検査におけるプローブ端子と配線端子Com1,Com2,Segとの位置合わせを容易にする。
【００４８】
同様に、第２の配線群Ｇ２の端子Com２と第３の配線群Ｇ３の端子Segとの間、具体的には、第２の配線群Ｇ２を形成する走査線３１２の図中最も左側の端子Com２と、第３の配線群Ｇ３を形成するデータ線２１２の図中最も右側の端子Segとの間にも、例えば４２μｍピッチの端子１４個分に相当するダミー領域Ｓが形成されている。すなわち、本実施形態において、左右のダミー領域Ｓの長さは互いに等しく設定されている。なお、左右のダミー領域Ｓの長さは、互いに等しく設定されていることが望ましいが、等しく設定されていなくても構わない。
【００４９】
次に、このように配線端子Com1,Com2,Segが配列されて組立てられた液晶パネル１００のショートおよび点灯の検査（電気的特性検査）について、図７、図８および図９のフローチャートを参照しながら説明する。
【００５０】
この電気的特性検査では、走査線３１２およびデータ線２１２の各配線２４０，２５０の端子Com1,Com2,Segに、検査用の信号を入力するプローブＰが接触される。具体的には、図８に示されるように、走査線３１２の配線端子Com1,Com2のそれぞれに、対応する走査線用のプローブ端子Ｐ１を正確に位置合わせするとともに、データ線２１２の配線端子Segのそれぞれに、対応するデータ線用のプローブ端子Ｐ２を正確に位置合わせする。
【００５１】
図８に示されるように、プローブＰは、ダミー領域Ｓに位置合わせされるべき部位にも、他の部位と全く同様のプローブ端子（ダミープローブ）Ｐ１，Ｐ２を有している。具体的には、プローブＰは、図８に示されるような理想的な状態で位置合わせされた際に、ダミー領域Ｓの中央でプローブ端子Ｐ１とプローブ端子Ｐ２とに分かれるように形成されている。すなわち、図８の理想的な位置合わせ状態においては、ダミー領域Ｓ内で、２種のプローブ端子Ｐ１，Ｐ２がそれぞれ左右に７個ずつ配置されるようになっている。本実施形態では、端子１４個分に相当する間隔をもってダミー領域Ｓが形成されているため、ダミー領域Ｓの中央でプローブ端子Ｐ１とプローブ端子Ｐ２とに分けると、ダミー領域Ｓ内でプローブ端子Ｐ１，Ｐ２がそれぞれ左右に７個ずつ配置されるが、これらの個数は、これに限定されるものではなく、状況に応じて任意に設定できることは言うまでもない。また、プローブ端子Ｐ１とプローブ端子Ｐ２とがダミー領域Ｓの中央で分かれていることが望ましいが、中央で分かれている必要はない。なお、プローブＰは、第１および第２の配線群Ｇ１，Ｇ２の端子Com1,Com2の外側（第１の配線群Ｇ１の図中左側および第２の配線群Ｇ２の図中右側）にも、例えば７個ずつプローブ端子（ダミープローブ）Ｐ１を有している。
【００５２】
電気的特性検査の手順が図９のフローチャートに示されている。図示のように、電気的特性検査を行なう場合には、まず、図示しない案内板上に液晶パネル１００を大まかに位置合わせして載せる（ステップＳ１）。この場合、外形基準で例えば±０．２ｍｍのズレが生じる。
【００５３】
このように案内板上に液晶パネル１００を載せると、プローブＰの各プローブ端子Ｐ１，Ｐ２が、液晶パネル１００の走査線３１２およびデータ線２１２の各配線端子Com1,Com2,Segに略対応して位置される。この時、各プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と、これらに対応する各配線端子Com1,Com2,Segとが正確に位置合わせされているか否かを確認する（ステップＳ２）。このような確認は、液晶パネルの表示を見るだけで容易に行なうことができる。すなわち、図８に示されるように、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２が正確に対応する配線端子Com1,Com2,Segに位置合わせされていれば、液晶画面が鮮明に点灯表示する。また、図７に示されるように、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と対応する配線端子Com1,Com2,Segとがズレていれば、液晶画面は点灯表示しない（部分的に接触している場合には、鮮明に点灯表示しない）。
【００５４】
図７に示されるように、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と対応する配線端子Com1,Com2,Segとがズレていることが点灯状態で確認できたら、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と配線端子Com1,Com2,Segとを左側もしくは右側に相対的にずらして、微調整する（ステップ３）。この時、ダミー領域Ｓが液晶パネル１００側に設けられ且つダミー領域Ｓに対応して位置される複数のプローブ端子（ダミープローブ）Ｐ１，Ｐ２がプローブＰ側に設けられているため、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と配線端子Com1,Com2,Segとを左右どちらにずらしても、あるいは、そのずらし量がある程度過度であっても、ダミー領域Ｓと第１および第２の配線群Ｇ１，Ｇ２の左右端とに割り当てられたダミープローブの個数の範囲内（ダミープローブの個数分の幅内）のずらし量であれば、プローブ端子Ｐ１，Ｐ２と配線端子Com1,Com2,Segとを正確且つ容易に位置合わせすることができる。この場合も、位置合わせができたか否かは、液晶画面の点灯状態を見るだけで確認できる。無論、この場合、図８に示されるようにダミー領域Ｓの中央でプローブ端子Ｐ１とプローブ端子Ｐ２とが等しく分かれる理想的な位置合わせ状態でなくても、ダミープローブの個数分のズレ量であれば、正確な位置合わせを達成できる。また、プローブ側には、ショート（電気的な短絡）を検知する図示しない検知手段が設けられており、ショートが検知されると、例えば、異常を知らせるブザーが鳴るようになっている。
【００５５】
以上説明したように、本実施形態の液晶パネル１００では、走査線３１２の端子Com1,Com2群とデータ線２１２の端子Seg群との間に、配線端子Com1,Com2,Segとプローブ端子Ｐ１，Ｐ２との位置ズレを吸収できるダミー領域Ｓが形成されているため、液晶パネルの小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、液晶の表示画面の点灯表示を見るだけで、つまり、目視だけで、正確にプローブ端子Ｐ１，Ｐ２と配線端子Com1,Com2,Segとを位置合わせすることができる。
【００５６】
なお、本実施形態では、ダミー領域Ｓに配線端子が設けられていないが、これは、ダミー領域Ｓにダミーの配線端子を設けると、表示機能に寄与しないこれらの配線端子でショートが生じた際に、これを正規のショートであると誤判定して、正確なショート検査が損なわれる可能性があるためである。無論、このような可能性を排除する手段を設ける場合には、ダミー領域Ｓに配線端子が配列されていても構わない。
【００５７】
また、本実施形態においては、ダミー領域Ｓを大きく確保して、ダミー領域Ｓに対応するプローブ端子（ダミープローブ）Ｐ１，Ｐ２の数を多くすれば、それだけ、端子同士の位置合わせが容易になるが、あまり過度にダミー領域Ｓを確保すると、チップの長さが長くなり、実用性に欠ける結果となる場合がある。したがって、理想的には、ダミー領域Ｓの長さ（Ｘ方向の長さ…領域幅）は、端子同士の位置合わせをある程度のズレ幅をもって容易に行なえ且つチップ長さを実用外まで大きくしない範囲、例えば、外形公差が±０．２ｍｍである場合には、最小で０．４ｍｍ（０．２×２）、最大で１ｍｍ程度にすることが望ましい。
【００５８】
また、前述した配線端子の配列形態は、図１０および図１１に示される有機ＥＬ装置（素子）にも適用できる。
【００５９】
有機ＥＬ素子は、少なくとも１層の発光性有機層が陰極と陽極に挟まれている構造を特徴とする自発発光性素子であり、３Ｖ程度の直流電圧で駆動させることができ、また、多彩な発光色の素子が作成可能である。さらに、液晶表示素子と比べ応答速度が速く視野角が広いなど、表示素子としての利点を多く持ち合わせている。したがって、表示装置の画素としての利用や光源としての利用など、多種多様な実用化用途が検討されている。
【００６０】
図１０および図１１に示される有機ＥＬ装置では、腕時計用のカバーガラスを透明基板１０１として用いている。透明基板１１０１の第１の面１１０２上に陽極１１０４を形成し、次いで、電極取り出し端子部１１０５を除いた領域全体に黄色に発光する有機層１１０６Ｙを形成し、最後に陰極１１０７を形成し、また、透明基板１１０１の第２の面１１０３上にも陽極１１０４を形成し、次いで、電極取り出し端子部１１０５を除いた領域全体に青色に発光する有機層１１０６Ｂを形成し、最後に陰極１１０７を形成したものである。
【００６１】
この構成において、陽極１１０４の配線端子および陰極１１０７の配線端子の配列形態は、前述したデータ線２１２の配線端子Segおよび走査線３１２の配線端子Com1,Com2の配列形態と同じようになっている。この場合、電極取り出し端子部１１０５が前述した配線２４０に相当し、陽極１１０４の配線端子がデータ線２１２の配線端子Segに相当し、陰極１１０７の配線端子が走査線３１２の配線端子Com1,Com2に相当しており、また、陽極１１０４および陰極１１０７は、前述した走査線３１２およびデータ線２１２と同様、マトリクス構造を成している。
【００６２】
また、この構成において、透明基板１１０１としては、腕時計用のカバーガラスに用いられるサファイアガラスを用いるが、これに限定されるものではない。また、陽極１１０４は、透明電極として一般的に用いられるＩＴＯ（錫ドープ酸化インジウム）をスパッタリング法により形成するが、他にもＩＺＯ（亜鉛ドープ酸化インジウム）、Ｐｔ、Ｉｒ、ＮｉもしくはＰｄ等を用いることができ、例えば７５ｎｍ以下の膜厚で形成することができる。また、膜形成方法もスパッタリング法に限らずエッチング法等を用いることもできる。陽極１１０４の厚さは、一般的に５０〜５００ｎｍであるが、この例のように透明を有する素子に用いる場合、薄い方が望ましい。また、陰極１１０７は、透明性を有する導電性物質であれば良く、本例では、仕事関数が低い材料、例えばＡｌ、Ａｇ，Ｃｕ，Ａｕ等が用いられる。陰極１１０７の膜厚は、透明性が確保できる膜厚であれば特に限定されるものではない。また、前述の通り、透明性を有する材料として、Ｐｔ、Ｉｒ、ＮｉもしくはＰｄ等を用いることができ、例えば７５ｎｍ以下の膜厚で形成することができる。
【００６３】
本例の有機ＥＬ装置を腕時計のカバーガラスとして設置した場合、第１の面１０２に形成されている素子のみを駆動した場合は、黄色の発光が生じ、腕時計の文字盤１０８を前面から黄色に照射する前置式の照明装置として動作する。また、第２の面１０３に形成されている素子のみを駆動した場合は、青色の発光が生じ、腕時計の文字盤を前面から青色に照射する前置式の照明装置として動作する。更に、第１の面１０２に形成されている素子と第２の面１０３に形成されている素子とを同時に駆動した場合は、黄色の発光と青色の発光とが混色されて白色の発光となり、腕時計の文字盤を前面から白色に照射する前置式の照明装置として動作する。
【００６４】
次に、前述した実施形態に係る表示装置を電子機器に用いた例について説明する。
【００６５】
まず、前述した表示装置を、モバイル型のパーソナルコンピュータの表示部に適用した例について説明する。図１２は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図において、コンピュータ２１００は、キーボード２１０２を備えた本体部２１０４と、表示部として用いられる液晶パネル１００とを備えている。なお、この液晶パネル１００の背面には、視認性を高めるためにバックライトユニットＢＬが設けられるが、外観には表れないので、図示を省略している。
続いて、前述した表示装置を、携帯電話の表示部に適用した例について説明する。図１３は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図において、携帯電話２２００は、複数の操作ボタン２２０２の他、受話口２２０４、送話口２２０６とともに、前述した液晶パネル１００を備えるものである。なお、この液晶パネル１００の背面にも、視認性を高めるためのバックライトユニットＢＬが設けられるが、外観には現れないので、図示を省略している。
【００６６】
次に、前述した表示装置をファインダに用いたディジタルスチルカメラについて説明する。図１４は、このディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図であるが、外部機器との接続についても簡易的に示すものである。
【００６７】
通常の銀塩カメラは、被写体の光像によってフィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメラ２３００は、被写体の光像をＣＣＤ（Charge Coupled
Device）などの撮像素子により光電変換して撮像信号を生成するものである。ここで、ディジタルスチルカメラ２３００におけるケース２３０２の背面には、前述した液晶パネル１００が設けられ、ＣＣＤによる撮像信号に基づいて、表示を行う構成となっている。このため、液晶パネル１００は、被写体を表示するファインダとして機能する。また、ケース２３０２の前面側（図１４においては裏面側）には、光学レンズやＣＣＤなどを含んだ受光ユニット２３０４が設けられている。
【００６８】
ここで、撮影者が液晶パネル１００に表示された被写体像を確認して、シャッタボタン２３０６を押下すると、その時点におけるＣＣＤの撮像信号が、回路基板２３０８のメモリに転送・格納される。また、このディジタルスチルカメラ２３００にあっては、ケース２３０２の側面に、ビデオ信号出力端子２３１２と、データ通信用の入出力端子２３１４とが設けられている。そして、図に示されるように、前者のビデオ信号出力端子２３１２にはテレビモニタ２３２０が、また、後者のデータ通信用の入出力端子２３１４にはパーソナルコンピュータ２３３０が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作によって、回路基板２３０８のメモリに格納された撮像信号が、テレビモニタ２３２０や、パーソナルコンピュータ２３３０に出力される構成となっている。
【００６９】
なお、電子機器としては、図１２のパーソナルコンピュータや、図１３の携帯電話、図１４のディジタルスチルカメラの他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した表示装置が適用可能なのは言うまでもない。
【００７０】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、プローブのプローブ端子を用いて電気光学パネルの電気的特性検査を行なう場合、配線端子とプローブ端子との位置ズレを配線端子群間の間隙によって吸収できるため、電気光学パネルの小型化および多機能化に伴って配線端子間のピッチが狭くなっても、大掛かりなアライメント装置を用いることなく、簡単且つ正確にプローブ端子と配線端子とを位置合わせすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】発明の一実施形態に係る電気光学パネルの電気的な構成を示すブロック図である。
【図２】図１の電気光学パネルの構成を示す斜視図である。
【図３】液晶パネルおよびバックライトユニットをＸ方向に沿って破断した場合の構成を示す部分断面図である。
【図４】液晶パネルの要部構成を示す部分破断斜視図である。
【図５】液晶パネルにおける走査線をＹドライバに接続するための配線構造を示す概念図である。
【図６】データ線および走査線の各配線の端子の配列状態を示す拡大図である。
【図７】各配線端子とプローブ端子とが位置ズレを起こした状態を示す拡大図である。
【図８】各配線端子にプローブ端子を正確に位置決めした状態を示す拡大図である。
【図９】電気検査の手順を示すフローチャートである。
【図１０】本発明が適用される有機ＥＬ装置の概略構成断面図である。
【図１１】（ａ）は図１のＡ方向矢視図、（ｂ）は図１のＢ方向矢視図である。
【図１２】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図１３】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
【図１４】実施形態に係る電気光学パネルを適用した電子機器の一例たるディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
１００……液晶パネル
２００……素子基板（第２基板）
２１２……データ線
２４０，２５０……配線端子
３００……対向基板（第１基板）
３１２……走査線
Ｇ１……第１配線群
Ｇ２……第２配線群
Ｇ３……第３配線群
Ｗ……集積回路
Ｓ……ダミー領域
２１００……パーソナルコンピュータ
２２００……携帯電話
２３００……ディジタルスチルカメラ

Claims

第１および第２電極の交差に対応して設けられた画素を有し、且つ第１および第２電極の配線端子がそれぞれ群を成して基板の一辺に一括して配列されて成る電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、
前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記第１電極の配線端子の群と、前記第２電極の配線端子の群とに対して、
前記第１および第２電極の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、
前記第１電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第１電極用の第１プローブ端子を位置合わせするとともに、第２電極の各配線端子のそれぞれに、対応する第２電極用の第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、
前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で第１及び第２電極の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする電気光学パネルの検査方法。
前記第１電極の配線端子群の両側に第１プローブ端子に対応する第１ダミープローブ端子が割り当てられ、第２電極の配線端子群の両側に第２プローブ端子に対応する第２ダミープローブ端子が割り当てられ、前記ダミー領域の中央で第１ダミープローブ端子と第２ダミープローブ端子とに分かれるように位置合わせできることを特徴とする請求項１に記載の電気光学パネルの検査方法。
前記ダミー領域は、配線端子が無い領域として形成されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気光学パネルの検査方法。
前記第１電極の配線端子の群の両側にそれぞれ前記第２電極の配線端子の群が配置され、
前記第２電極の配線端子の各群は、前記ダミー領域によって、前記第１電極の配線端子の群から同じ距離だけ離間していることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の電気光学パネルの検査方法。
走査線およびデータ線の交差に対応して設けられた画素を有し、且つ走査線及びデータ線の配線端子がそれぞれ群を成して基板の一辺に一括して配列されて成る電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、
前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記走査線の配線端子の群と、前記データ線の配線端子の群とに対して、
前記走査線およびデータ線の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、
前記走査線の各配線端子のそれぞれに対応する第１プローブ端子を位置合わせするとともに、前記データ線の各配線端子のそれぞれに対応する第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、
前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で前記走査線及びデータ線の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする電気光学パネルの検査方法。
基板上に、陽極と少なくとも１層の発光機能を有する有機層と陰極とからなる有機エレクトロルミネッセンス素子が形成された電気光学パネルの電気的検査を行なう方法において、
前記基板上に、配線端子を配置し得るダミー領域の分だけ、互いに離間して配置された前記陽極の配線端子の群と、前記陰極の配線端子の群とに対して、
前記陽極および陰極の配線端子に対応する数の検査用のプローブ端子を有するとともに、前記ダミー領域に対応して配置されたダミープローブ端子を有するプローブを用い、
前記陽極の各配線端子のそれぞれに対応する第１プローブ端子を位置合わせするとともに、前記陰極の各配線端子のそれぞれに対応する第２プローブ端子を位置合わせして所定の電気的検査を行ない、
前記配線端子と対応する前記プローブ端子との位置が一方側にずれている場合には、各配線端子群の一方側で前記陽極及び陰極の配線端子群に割り当てられる前記ダミープローブ端子の個数分の幅内で、前記配線端子と前記プローブ端子とを相対的にずらすことにより、前記配線端子と対応する前記プローブ端子とを位置合わせすることを特徴とする電気光学パネルの検査方法。