JP4219729B2 - 液晶パネル用検査装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶パネル用アレイガラスにプリントされた端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、TFTの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の液晶パネル用検査装置は、図3および図4に示すように、プローブブロック1のプローブ2を液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4に当接させると共に、端子用導電パターン4からの信号をプローブ2、プローブ2に一端側を接続するフレキシブル基板5、およびフレキシブル基板5の他端側に接続する中継基板6を介してテスター本体7で読み取ることによって端子用導電パターン4のショート状態、オープン状態、TFTの特性、および画素の特性の検査を行うように大略構成されている。
【0003】
このときプローブブロック1は、供試液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4に当接する複数のプローブ2を備えており、端子用導電パターン4のブロック数に対応させて複数個設けられる(図4参照)。複数個のプローブブロック1の各々には、端子用導電パターン4の奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブ2と一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板5aおよび偶数対応フレキシブル基板5bからなるフレキシブル基板5が設けられている。
【0004】
そして、フレキシブル基板5の他端側は、プローブブロック1毎に、奇数対応フレキシブル基板5aおよび偶数対応フレキシブル基板5bの各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板6内の奇数対応アドレス部6aおよび偶数対応アドレス部6bにそれぞれ接続させることによって中継基板6に接続している。
【0005】
テスター本体7は、複数のプローブピンPが設けられており(例えば、1200〜2000本)、このプローブピンPが中継基板6に設けられた同数のランドLに当接して、中継基板6との電気的接続が図られている。なお、図3中、符号21は、プローブブロック1を支持する支持枠である。
【0006】
液晶パネルを構成するTFTアレイ基板3の特性検査の場合には、パネル点灯駆動用LSIとしてのTABおよびPCB(実装プリント基板)を結合する前工程で、液晶パネル用アレイガラス3の画素信号端子用導電パターン4の一本ずつに電圧を印加して特性検査を行っている。
【0007】
この検査は、画素信号端子用導電パターン数と同数のプローブ2を用いるため、複数のプローブ2を有するプローブブロック1を、液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4が設けられた辺に沿って複数個並べてセットする。そして検査では、奇数番目画素端子と偶数番目画素端子とに分けて画素検査信号を送るようにしている。
【0008】
このようなプローブブロックとして、図5に示すプローブブロック1が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【0009】
このプローブブロック1は、液晶パネル用アレイガラス3の画素に配設された複数の端子用導電パターン4の1本ずつに接触させるための複数のプローブ2を板状の絶縁体を積層した本体20により支持することにより大略構成されている。
【0010】
このときプローブ2は、図5に示すように、端子用導電パターン4の奇数番目と偶数番目とにそれぞれ対応する2ラインL1、L2に分けられ(図6参照)、さらに各ラインL1、L2毎に千鳥状に配設されている。その上、プローブ2は、上側に突出する複数の導電性針状体の奇数番目の導電性針状体11aを、偶数番目の導電性針状体11bよりも上側に突出するように長くしており、両者間で突出方向に段違いになっている。プローブ2は、上側の導電性針状体11a、11bの各々と下側の導電性針状体10とを導電性コイルばね14を介して連結することにより構成されている。検査の際は、導電性針状体10の各々が、液晶パネル3の画素に配設された複数の端子用導電パターン4の1本ずつに接触することになる。
【0011】
そして、長い方である奇数番目の導電性針状体11aが、上側絶縁板12の下面に貼着されたフレキシブル基板5aの奇数番目用信号伝送用導電パターン8に接触し、短い方である偶数番目の導電性針状体11bが、下側絶縁板13の下面に貼着されたフレキシブル基板5bの偶数番目用信号伝送用導電パターン9に接触するように、下側絶縁板13の上に上側絶縁板12が重ね合わされる。
【0012】
このようにして構成されたプローブブロック1を使用して液晶パネル用検査装置を構成するには、プローブ2を端子用導電パターン4と同数になるように設けるべく、例えばTABと略同一幅の大きさ(1ブロック)に小ユニット化されたプローブブロック1を、支持枠25(図3参照)に並列に必要数並べてセットし、かつ各プローブブロック1に連結されたフレキシブル基板5aおよび5bを、奇数番目と偶数番目とに振り分けるべく中継基板6の奇数および偶数対応アドレス部6aおよび6bにそれぞれ接続すると共に、この中継基板6を介してテスター本体7に接続することにより全体構成される。
【0013】
【特許文献1】
特開平8−222299号公報(第3頁、第4頁、図1)
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
このように構成された従来の液晶パネル用検査装置においては、プローブ2を、端子用導電パターン4の奇数番目と偶数番目とにそれぞれ対応する2ラインL1、L2に分け、さらに各ラインL1、L2毎に千鳥状に配設したので、端子用導電パターン4の狭ピッチ化に充分対応することができるが、フレキシブル基板5と中継基板6との接続における奇数と偶数の振り分けが、図4に示すように、中継基板6を構成するプリント基板上の配線15により行うものであるから、配線15同士の交差状態が出現する端子用導電パターン4のブロック数の増加、あるいは/および前記パターン4の1ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができない、という課題を有している。
【0015】
また、前記した配線15同士の交差状態は、中継基板6を構成するプリント基板の層数を増加し、かつスルーホールを設ける等して、各層毎に配線15を整理することにより解消することができるが、プリント基板の層数の増加は、製造の困難化、コスト高、および重量増を招く、という課題を有している。
【0016】
因みに、従来の装置では、6〜8層の多層プリント基板により中継基板6を構成している。
【0017】
そこで、本発明は、中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数の増加を伴うことなく、端子用導電パターンのブロック数の増加、あるいは/および前記パターンの1ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができる液晶パネル用検査装置を提供することを目的としている。
【0018】
【課題を解決するための手段】
前記した目的を達成するために、請求項1の発明は、供試液晶パネル用アレイガラスの端子用導電パターンに当接する複数のプローブを備えたプローブブロックが、前記端子用導電パターンのブロック数に対応させて複数個設けられており、前記複数個のプローブブロックの各々には、前記端子用導電パターンの奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブと一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板からなるフレキシブル基板が設けられており、前記フレキシブル基板の他端側が、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板の各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部にそれぞれ接続させることによって前記中継基板に接続しており、前記端子用導電パターンからの信号を前記プローブ、フレキシブル基板、および中継基板を介してテスター本体で読み取ることによって前記端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、TFTの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置において、
前記フレキシブル基板は、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、前記奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部をそれぞれ前記奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続することによって前記中継基板に接続していることを特徴とする。
【0019】
このため、請求項1の発明では、フレキシブル基板は、各プローブブロック毎に、奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けて、その各接続端部をそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続するようにしたので、前記中継基板の層数を低減すると共に、奇数および偶数対応フレキシブル基板の各接続端部と前記奇数および偶数対応アドレス部との接続配線を極力短く設定することができる。
【0020】
また、奇数(偶数)対応フレキシブル基板は、被接続プローブブロックと被接続奇数(偶数)対応アドレス部との間を接続するに足りる充分な長さを有しており、その中間部の折曲により前記振り分けを容易に行うことができ、これにより目的とする被接続奇数(偶数)対応アドレス部へ漸近することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づき説明する。なお、図3〜図6に示すものと同一部材および同一機能を奏する部材は、同一符号を付してある。
【0022】
本発明に係る液晶パネル用検査装置は、フレキシブル基板と中継基板との接続構造を異にするだけで、全体の接続系統は従来装置と同一に構成されている。
【0023】
図1は、本発明の一実施形態としての、フレキシブル基板と中継基板との接続構造を示す。
【0024】
本発明に係る液晶パネル用検査装置の全体の接続系統は、図3に示すように、プローブブロック1のプローブ2を液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4に当接させると共に、端子用導電パターン4からの信号をプローブ2、プローブ2に一端側を接続するフレキシブル基板5、およびフレキシブル基板5の他端側に接続する中継基板6を介してテスター本体7で読み取ることによって端子用導電パターン4のショート状態、オープン状態、TFTの特性、および画素の特性の検査を行うように構成されている。
【0025】
このときプローブブロック1は、供試液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4に当接する複数のプローブ2を備えており、端子用導電パターン4のブロック数(例えば、8ブロック)に対応させて複数個(8ブロックのときは8個)設けられる(図1参照)。複数個のプローブブロック1は、支持枠(図3中の支持枠21参照)に取り付けられて検査装置内に組み込まれる。
【0026】
複数個のプローブブロック1の各々には、端子用導電パターン4の奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブ2と一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板5aおよび偶数対応フレキシブル基板5bからなるフレキシブル基板5が設けられている。
【0027】
そして、フレキシブル基板5の他端側は、プローブブロック1毎に、奇数対応フレキシブル基板5aおよび偶数対応フレキシブル基板5bを、中継基板6内の奇数対応アドレス部6aおよび偶数対応アドレス部6bの設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部5A、5Bをそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部6aおよび6bに漸近させて接続することによって中継基板6に接続している。
【0028】
このとき、フレキシブル基板5を構成する奇数および偶数対応フレキシブル基板5aおよび5bは、被接続プローブブロック1と被接続奇数(偶数)対応アドレス部6a(6b)との間を接続するに足りる充分な長さを有して構成される。前記フレキシブル基板の振り分けは、フレキシブル基板を交差させることにより可能となるが、本実施形態のように、その中間部の折曲部5cにより方向を転換することができ、この方向転換により前記した振り分けをさらに容易に行うことができる。なお、折曲部5cは、被接続プローブブロック1と被接続奇数(偶数)対応アドレス部6a(6b)との位置関係で決められるもので、直線接続が可能の場合には不要であるが、他の場合には2個以上形成することにより振り分けを容易とする。
【0029】
また、奇数および偶数対応フレキシブル基板5aおよび5bの各接続端部5A、5Bは、中継基板6上に配設された配線15によりそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部6aおよび6bに接続している。
【0030】
具体的には、図2に示すように、接続端部5A、5Bがそれぞれ接続されるコネクタが中継基板6上に設けられている。図2では、説明を簡単にするため、2個のプローブブロック1にそれぞれ対応する4個のコネクタC1、C2、C3、C4が設けられていると共に、中継基板6は1枚の両面プリント基板で構成されている。コネクタC1、C3は、各プローブブロック1の奇数対応フレキシブル基板5aが接続する奇数対応コネクタであり、コネクタC2、C4は、各プローブブロック1の偶数対応フレキシブル基板5bが接続する偶数対応コネクタである。
【0031】
なお、図2(a)中、実線は中継基板6の表面に配設された配線15を示しており、破線は中継基板6の裏面に配設された配線15を示しており、数字「1」〜「24」はアドレスを示しており、図2(b)中、中継基板6の厚み方向の実線は表、裏面にそれぞれ配設された配線15同士を電気的に接続するスルーホールhであり、図2(a)、(b)中、符号Lは、中継基板6の裏面に形成される各配線15のランドである。例えば、アドレス「13」の表面側の配線15は、スルーホールhを介して裏面側の配線15に接続しており、アドレス「7」の表面側の配線15は、スルーホールhを介して裏面側の配線15に接続しており、両者は平面的には破線と実線が交差するように見えるが中継基板6の配線の面の違いにより実際の交差を避けることができる。
【0032】
このように構成された中継基板6においては、2個のプローブブロック1の内、一方のプローブブロック1に設けられた奇数および偶数対応フレキシブル基板5aおよび5bはそれぞれコネクタC1およびC2に接続されるようになっており、他方のプローブブロック1に設けられた奇数および偶数対応フレキシブル基板5aおよび5bはそれぞれコネクタC3およびC4に接続されるようになっている。コネクタC1およびC3の配線15は、奇数対応アドレス部6aのランドLに接続しており、コネクタC2およびC4の配線15は、偶数対応アドレス部6bのランドLに接続している。そしてこのランドLがテスター本体7に備えられたプローブピン(図3中のプローブピンP参照)に当接することにより、中継基板6とテスター本体7とが電気的に接続している。
【0033】
実際には、中継基板6は、配線15、及びスルーホールhを適宜配設した複数枚の多層プリント基板を使用すると共に、最上面にコネクタC1、C2、…を設け、かつ最下面にランドLを有するアドレス部6a、6bを設けて構成される。
【0034】
このように構成された液晶パネル用検査装置においては、フレキシブル基板5(5a、5b)同士を振り分けるものであるから、フレキシブル基板5(5a、5b)同士の交差が生じるが、該交差に起因する不都合は生じないばかりか、その接続端部5A、5Bと奇数および偶数対応アドレス部6a、6bとを漸近させてその接続配線15を極力短く設定することができ、ひいては配線15の簡素化を図ることができる。
【0035】
このため中継基板6は、端子用導電パターン4のブロック数の増加、あるいは/および前記パターン4の1ブロック当たりの配線本数の増加に充分に対応することができる。
【0036】
その上、中継基板6は、フレキシブル基板5同士を交差させるようにしたので、従来行われていた各層の配線15の整理を簡素化することが可能となり、これにより極力少ない層数のプリント基板により構成することができる。
【0037】
例えば、液晶パネル用アレイガラス3の端子用導電パターン4のブロック数が8ブロックの場合、従来の装置では6〜8枚のガラス基板の積層を要したのに対して、本装置では、2〜4枚のガラス基板の積層により中継基板6を構成することができる。
【0038】
【発明の効果】
以上説明してきたように、請求項1の発明によれば、各プローブブロック毎に、奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けることによって、奇数および偶数対応フレキシブル基板の各接続端部と奇数および偶数対応アドレス部との接続配線を極力短く設定することができると共に、前記接続配線の交差状態の出現を避けて簡素化を図ることができ、これにより中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数を減ずることができ、ひいては製造の容易化、装置の軽量化、およびコストダウンを図ることができる。
【0039】
その上、中継基板を構成する多層プリント基板の積層枚数が少ない分、端子用導電パターンのブロック数の増加、あるいは/および前記パターンの1ブロック当たりの配線本数の増加にも充分に対応することができる、というメリットがある。
【0040】
さらに、前記各フレキシブル基板を折り曲げて振り分けることにより、振り分けを容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液晶パネル用検査装置における、複数のプローブブロックを介しての液晶パネル用アレイガラスと中継基板との電気的接続状態を説明する模式図である。
【図2】本発明の一実施形態としての中継基板を示しており、(a)はその平面図、(b)はその側面図である。
【図3】液晶パネル用検査装置の全体の電気接続系統を説明するための概略説明図である。
【図4】従来の液晶パネル用検査装置における、複数のプローブブロックを介しての液晶パネル用アレイガラスと中継基板との電気的接続状態を説明する模式図である。
【図5】従来の液晶パネル用検査装置の要部断面図である。
【図6】従来の液晶パネル用検査装置の端子用導電パターンへのプローブの当接状態を説明するための説明図である。
【符号の説明】
1 プローブブロック
2 プローブ
3 供試液晶パネル
4 端子用導電パターン
5 フレキシブル基板
5a 奇数対応フレキシブル基板
5b 偶数対応フレキシブル基板
5A 接続端部(奇数対応フレキシブル基板の)
5B 接続端部(偶数対応フレキシブル基板の)
6 中継基板
6a 奇数対応アドレス部
6b 偶数対応アドレス部
7 テスター本体
15 接続配線
Claims (1)
- 供試液晶パネル用アレイガラスの端子用導電パターンに当接する複数のプローブを備えたプローブブロックが、前記端子用導電パターンのブロック数に対応させて複数個設けられており、前記複数個のプローブブロックの各々には、前記端子用導電パターンの奇数番目および偶数番目の配線にそれぞれ当接するプローブと一端側を電気的に接続する奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板からなるフレキシブル基板が設けられており、前記フレキシブル基板の他端側が、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板の各他端側をアドレス変換機能を備えた中継基板内の奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部にそれぞれ接続させることによって前記中継基板に接続しており、前記端子用導電パターンからの信号を前記プローブ、フレキシブル基板、および中継基板を介してテスター本体で読み取ることによって前記端子用導電パターンのショート状態、オープン状態、TFTの特性、および画素の特性の検査を行う液晶パネル用検査装置において、
前記フレキシブル基板は、前記プローブブロック毎に、前記奇数対応フレキシブル基板および偶数対応フレキシブル基板を、前記奇数対応アドレス部および偶数対応アドレス部の設置位置に応じて相互に振り分けると共に、その各接続端部をそれぞれ前記奇数および偶数対応アドレス部に漸近させて接続することによって前記中継基板に接続していることを特徴とする液晶パネル用検査装置。
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